现代材料测试技术作业--新版

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现代材料测试技术(1)-作业与思考题

现代材料测试技术(1)-作业与思考题
(7)何谓德拜相机的分辨本领?它与θ角、相机半径R、X射线波长λ之间有何关系?
(8)用Cu Kα(=0.154 nm)射线和Cr Kα(=0.229 nm)射线分别摄取α-Fe多晶体(体心立方点阵,点阵常数a = 0.286 nm)的衍射花样,问两者中将各有几对衍射线出现?并写出其指数.
第5章X射线物相分析
第7章电子光学基础
1.电磁透镜的像差是怎样产生的,如何来消除和减少像差?
2.电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响?说明电磁透镜的景深大、焦长长,是什么因素影响的结果?假设电磁透镜没有像差,也没有衍射Airy斑,即分辨率极高,此时它的景深和焦长如何?
第8章电子束与材料的相互作用
1.电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?
(1)简述X射线物相定性分析的基本步骤.
(2)请说明物相定性分析所用的三种索引(字母索引、哈氏索引、芬克索引)的特点。
(3)JCPDS粉末衍射卡片包含晶体物质的哪些基本信息?
(3)简述X射线物相定量分析的基本原理。
(4)分别说明外标法和内标法是如何对试样进行物相定量分析的。
(5)某种黄铜试样为α+β双相组织,采用Cu Kα射线照射试样测得其α相的200衍射线强度为484(任意单位),在相同条件下对一个纯α相试样测得200衍射线的强度为760(任意单位),据此求试样中α相的含量。假设α相和β相对Cu Kα射线的质量吸收系数近似相等。
Cu
0.15418
0.13922
Mn
0.18964
Mo
0.07107
0.06323
V
0.22690
Ag
0.05609
0.04970
Zr
0.06888

现代材料测试技术习题1精选全文

现代材料测试技术习题1精选全文

可编辑修改精选全文完整版习题1-1 试计算当管电压为50kV时,X射线管中电子击靶时的速度与动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少?1-2 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

1-3 X射线实验室用防护铅屏,其厚度通常至少为1mm,试计算这种铅屏对CuKα、M oKα辐射的透射因子(I投射/I入射)各为多少?1-4 试计算含w c=0.8%,w Cr=4%,w w=18%的高速钢对MoKɑ辐射的质量吸收系数。

1-5 欲使钼靶X射线管发射的X射线能激发放置在光束中的铜样品发射K系荧光辐射,问需加的最低的管压值是多少?所发射出的荧光辐射波长是多少?2-1试画出下列晶向及晶面(均属立方晶系):[111],[121],[221],(010),(110),(123),(121)。

2-2 下面是某立方晶系物质的几个面间距,试将它们按大小次序重新排列。

(312),(100),(200),(311),(121),(111),(210),(220),(130),(030),(221),(110)。

2-3 当X射线在原子列中衍射时,相邻原子散射线在某个方向上的程差若不为波长的整数倍,则此方向必然不存在衍射线,这是为什么?2-4 当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的程差是多少?相邻两个(HKL)发射线的程差又是多少?2-5 画出Fe2B在平行于(010)上的部分倒易点。

Fe2B属正方晶系,点阵参数a=b=5.10Å,c=4.24Å。

2-6 判别下列哪些晶面属于[111]晶带:(110),(231),(231),(211),(101),(133),(112),(132),(011),(212)。

2-7 试计算(311)及(132)的共同晶带轴。

22春“冶金工程”专业《现代材料测试技术》在线作业一答案参考6

22春“冶金工程”专业《现代材料测试技术》在线作业一答案参考6

22春“冶金工程”专业《现代材料测试技术》在线作业答案参考1. 测量氮化层的硬度,一般选择( )。

A.洛氏硬度HRAB.布氏硬度HBSC.洛氏硬度HRCD.维氏硬度HV测量氮化层的硬度,一般选择( )。

A.洛氏硬度HRAB.布氏硬度HBSC.洛氏硬度HRCD.维氏硬度HV正确答案:D2. 在三元相图的变温截面上,四相平衡平面为一水平线,若在水平线以上有一个三相区邻接,水平线以下有三个三相区在三元相图的变温截面上,四相平衡平面为一水平线,若在水平线以上有一个三相区邻接,水平线以下有三个三相区邻接,则可判定该四相平衡转变为包共晶转变。

错误该四相平衡转变为包晶型转变。

3. 石灰在应用时不能单独应用,因为( )。

A.熟化时体积膨胀导致破坏 B.硬化时体积收缩导致破坏 C.过火石灰的石灰在应用时不能单独应用,因为( )。

A.熟化时体积膨胀导致破坏 B.硬化时体积收缩导致破坏 C.过火石灰的危害B4. 试说明离子交换树脂在水的净化和海水淡化方面的应用。

试说明离子交换树脂在水的净化和海水淡化方面的应用。

离子交换树脂可以净化水和使海水淡化,因为当水或溶液通过阳离子交换树脂后,水中的阳离子Na+、Ca2+、Mg2+等进入树脂中,树脂上的H+进入水中或溶液中,因而,水中的阳离子只剩下H+;而后再将水通过阴离子交换树脂,水中的阴离子Cl-、、等进入树脂中,树脂上的-OH进入水中或溶液中,因而水中的阴离子只剩下OH-从而使水净化,海水淡化。

用离子交换树脂处理过的水称为去离子水,它在工业、实验室和锅炉用水中得到广泛应用。

用离子交换树脂处理水比用蒸馏方法效率高,设备简单,节约电能。

5. 电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。

( )A.正确B.错误参考答案:B6. 经______处理能改善低碳钢的切削加工性能,经______处理消除高碳高合金钢中的残余奥氏体。

经______处理能改善低碳钢的切削加工性能,经______处理消除高碳高合金钢中的残余奥氏体。

材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案

现代材料检测技术试题及答案第一章1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。

8. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同?某物质的K 系荧光X 射线波长是否等于它的K 系特征X 射线波长? 9. 连续谱是怎样产生的?其短波限VeV hc 31024.1⨯==λ与某物质的吸收限kk kV eV hc 31024.1⨯==λ有何不同(V 和V K 以kv 为单位)? 10. Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对x 射线分析有何影响?反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同?11. 试计算当管压为50kv 时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少?12. 为什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而L 吸收限有三个?当激发X 系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L 系?当L 系激发时能否伴生K 系?13. 已知钼的λK α=0.71Å,铁的λK α=1。

93Å及钴的λK α=1。

79Å,试求光子的频率和能量。

试计算钼的K 激发电压,已知钼的λK =0。

619Å。

已知钴的K 激发电压V K =7.71kv,试求其λK .14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm,试计算这种铅屏对CuK α、MoK α辐射的透射系数各为多少?15. 如果用1mm 厚的铅作防护屏,试求Cr K α和Mo K α的穿透系数。

现代分析测试技术作业1及答案

现代分析测试技术作业1及答案

现代分析测试技术作业1及答案1 X射线在测试仪器中的应用在X射线荧光分析仪的应用:又称X射线次级发射光谱分析仪。

本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。

在X射线测厚仪中的应用:利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。

在X射线衍射仪中的应用:X射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。

衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。

分析衍射结果,便可获得晶体结构。

2 晶体生长方法1) 提拉法(Czochralski,Cz)所谓提拉法,是指在合理的温场下,将装在籽晶杆上的籽晶下端,下到熔体的原料中,籽晶杆在旋转马达及提升机构的作用下,一边旋转一边缓慢地向上提拉,经过缩颈、扩肩、转肩、等径、收尾、拉脱等几个工艺阶段,生长出几何形状及内在质量都合格单晶的过程。

这种方法的主要优点是:(a) 在生长过程中,可以方便地观察晶体的生长情况;(b) 晶体在熔体的自由表面处生长,而不与坩埚相接触,这样能显著减小晶体的应力并防止坩埚壁上的寄生成核;(c) 可以方便地使用定向籽晶与“缩颈”工艺,得到完整的籽晶和所需取向的晶体。

提拉法的最大优点在于能够以较快的速率生长较高质量的晶体。

提拉法中通常采用高温难熔氧化物,如氧化锆、氧化铝等作保温材料,使炉体内呈弱氧化气氛,对坩埚有氧化作用,并容易对熔体造成污杂,在晶体中形成包裹物等缺陷;对于那些反应性较强或熔点极高的材料,难以找到合适的坩埚来盛装它们,就不得不改用其它生长方法。

2) 热交换法(Heat Exchange Method, HEM)热交换法是由D. Viechnicki和F. Schmid于1974年发明的一种长晶方法。

东北大学2021年9月《现代材料测试技术》作业考核试题及答案参考4

东北大学2021年9月《现代材料测试技术》作业考核试题及答案参考4

东北大学2021年9月《现代材料测试技术》作业考核试题及答案参考1. 下列铁碳合金基本组织中与纯铁的性能相似的是( )。

A.Fe3CB.PC.LdD.F 下列铁碳合金基本组织中与纯铁的性能相似的是( )。

A.Fe3CB.PC.LdD.F正确答案:C2. 在缓慢冷却条件下,ωC=0.77%的钢比ωC=0.45%的钢塑性______,强度______。

在缓慢冷却条件下,ωC=0.77%的钢比ωC=0.45%的钢塑性______,强度______。

差$高3. 试说明离子交换树脂在水的净化和海水淡化方面的应用。

试说明离子交换树脂在水的净化和海水淡化方面的应用。

离子交换树脂可以净化水和使海水淡化,因为当水或溶液通过阳离子交换树脂后,水中的阳离子Na+、Ca2+、Mg2+等进入树脂中,树脂上的H+进入水中或溶液中,因而,水中的阳离子只剩下H+;而后再将水通过阴离子交换树脂,水中的阴离子Cl-、、等进入树脂中,树脂上的-OH进入水中或溶液中,因而水中的阴离子只剩下OH-从而使水净化,海水淡化。

用离子交换树脂处理过的水称为去离子水,它在工业、实验室和锅炉用水中得到广泛应用。

用离子交换树脂处理水比用蒸馏方法效率高,设备简单,节约电能。

4. 试用经典形核理论计算在固态相变中,由n个原子构成立方体晶核时,新相的形状系数η。

试用经典形核理论计算在固态相变中,由n个原子构成立方体晶核时,新相的形状系数η。

按经典形核理论,固态相变时,系统的自由能变化为:△G=n△GV+Sγ+nEs式中△GV——新旧两相每个原子的自由能差;S——晶核表面面积;γ——平均界面能;Es——晶核中每个原子的应变能;n——晶核中的原子数。

假设新相的密度为ρ,相对原子质量为Ar,则每克原子新相物质所占容积为Ar/10;每个新相原子所占的容积为Ar/(ρN0);n个原子的晶核体积为nAr/(ρN0)。

若构成立方体晶核,其边长为[nAr/(ρN0)]1/3,晶核表面积为6[nAr/(ρN0)]2/3。

现代材料测试技术作业讲课稿

现代材料测试技术作业讲课稿

现代材料测试技术作业现代材料测试技术作业第一章 X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种。

2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即、、。

3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是、、。

4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。

5、测量X射线衍射线峰位的方法有六种,它们分别是、、、、、。

6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、、。

7、特征X射线产生的根本原因是。

8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、和字顺索引。

9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。

10、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:和11、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为。

12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、,其中和应用较为普遍。

13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。

15、当X射线照射到物体上时,一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向,造成散射线;另一部分光子可能被原子吸收,产生;再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子,成为。

二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、X-射线的衰减三、问答与计算1、某晶体粉末样品的XRD数据如下,请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。

2、产生特征X射线的根本原因是什么?3、简述特征X-射线谱的特点。

4、推导布拉格公式,画出示意图。

5、回答X射线连续光谱产生的机理。

6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。

7、简述连续X射线谱的特征8. x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9. 测角仪的调整要求?10. 测角仪的工作原理以及各狭缝作用?11. 哈纳瓦特与芬克索引的规则?12. 定性物相分析的注意事项?电子显微分析部分(第2、3、4章)一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,分析试样物质的、和。

现代材料测试技术作业

现代材料测试技术作业

现代材料测试技术作业-标准化文件发布号:(9456-EUATWK-MWUB-WUNN-INNUL-DDQTY-KII现代材料测试技术作业第一章 X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种。

2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即、、。

3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是、、。

4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。

5、测量X射线衍射线峰位的方法有六种,它们分别是、、、、、。

6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、、。

7、特征X射线产生的根本原因是。

8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、和字顺索引。

9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。

10、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:和11、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为。

12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、,其中和应用较为普遍。

13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。

15、当X射线照射到物体上时,一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向,造成散射线;另一部分光子可能被原子吸收,产生;再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子,成为。

二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、X-射线的衰减三、问答与计算1、某晶体粉末样品的XRD数据如下,请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。

2、产生特征X射线的根本原因是什么?3、简述特征X-射线谱的特点。

4、推导布拉格公式,画出示意图。

5、回答X射线连续光谱产生的机理。

6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。

现代材料测试技术习题2

现代材料测试技术习题2

习题一1-1 讨论Mg 的晶体结构、点阵结构(布拉菲点阵)。

按比例尺绘出晶胞,点阵胞的图形。

写出基点原子、基本阵点的数目和坐标。

1-2 Fe 3C 是正交晶系晶体,其点阵常数为:a=0.4518nm ,b=0.5069nm ,c=0.6736nm 。

按比例尺绘出其倒易点阵,并从图上直接测量出(111)晶面的面间距(nm )。

1-3 在一个立方晶系晶体内,确定下列衍射面中那些衍射面属于[011]晶带:(001);(101);(111);(121);(021);(131);(100);(311);(221);(123);(222)。

绘出[011]晶向的零层倒易面,标出上述各共带面的位置。

1-4 证明点阵面(110)、(121)和(312)属于[111]晶带。

1-5 证明在立方晶系中,[HKL]晶向垂直于(HKL )晶面。

在其他晶系中则一定不变。

求出在任意晶系中,(HKL )晶面发现的晶向指数的表达式。

1-6 是找出一个正六面体的全部宏观对称性,写出其全对称组合符号,国际符号。

一个四方棱柱体的情况又如何?1-7 平面A 在极射赤平面投影图上系用通过N 极、S 级和点0°N 、70°W 的大圆来表示。

平面B 的极点位于30°N 、50°W 。

试求此二平面之间的夹角,并绘出平面B 的大圆。

1-8 极点A 的位置为20°N 、50°E 。

经下列旋转操作以后,起最终位置坐标是什么?并描绘出其旋转时的途径。

①从N 向S 看去,以逆时针方向,绕NS 轴旋转100°②对观察者而言,以顺时针方向,绕垂直于投影面的轴旋转60° ③围绕极点坐标为10°S,30°W 的倾斜轴B ,顺时针方向旋转60°1-9 在倒易点阵中是如何表示同一晶带中所有共带面的?在极射赤平面投影图中又是如何表示的?1-10 绘出立方晶系晶体的(111)标准极射赤平面投影图,表明{100}、{110}、{111}所有极点的位置,并描绘出几个低指数晶带圆(把属于同一晶带的晶带面的极点联结而成的大圆)。

东北大学15秋学期《现代材料测试技术》在线作业1答案

东北大学15秋学期《现代材料测试技术》在线作业1答案

东北大学15秋学期《现代材料测试技术》在线作业1答案15秋学期《现代材料测试技术》在线作业1单选题判断题一、单选题(共 10 道试题,共 50 分。

)1.对样品进行表面形貌分析时应使用()。

.X射线衍射(XR).透射电镜(TEM).扫描电镜(SEM)-----------------选择:2.能谱仪的分辨率比波谱仪()。

.高.低.相同-----------------选择:3.塑料一级复型的分辨率一般只能达到()。

.5nm左右.10nm左右.20nm左右-----------------选择:4.在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做()。

.二次电子.背散射电子.俄歇电子-----------------选择:5.具有f结构晶体的(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(311)对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上,而晶面()将出现反射。

.(311).(200).(210).和。

-----------------选择:6.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生()衍射线。

.三条.四条.五条.六条。

-----------------选择:7.把透镜像平面允许的轴向偏差定义为()。

.球差.景深.焦深-----------------选择:8.样品微区成分分析手段包括( ) 。

.WS、ES 和XR.WS、ES和EPM.TEM、WS和XR-----------------选择:9.X射线连续谱中存在一个短波极限,其波长入=()。

. 1.24/V(千伏) nm. 12.4/V(千伏) nm. 12.4/V伏 nm-----------------选择:10.倒易点阵()。

同济大学四平路.是晶体的真实点阵.是实际晶体点阵经一定转化而得到的抽象点阵.中倒易矢量[hkl]*与正空间(hkl)晶面平行.中倒易矢量[hkl]*的模等于正空间(hkl)晶面间距的倒数-----------------选择:15秋学期《现代材料测试技术》在线作业1单选题判断题二、判断题(共 10 道试题,共 50 分。

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现代材料测试技术复习资料第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种。

2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即、、。

3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是、、。

4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。

5、测量X射线衍射线峰位的方法有六种,它们分别是、、、、、。

6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、、。

7、特征X射线产生的根本原因是。

8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、和字顺索引。

9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。

10、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:和11、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为。

12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、,其中和应用较为普遍。

13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。

15、当X射线照射到物体上时,一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向,造成散射线;另一部分光子可能被原子吸收,产生;再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子,成为。

二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、X-射线的衰减三、问答与计算1、某晶体粉末样品的XRD数据如下,请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。

2、产生特征X射线的根本原因是什么?3、简述特征X-射线谱的特点。

4、推导布拉格公式,画出示意图。

5、回答X射线连续光谱产生的机理。

6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。

7、简述连续X射线谱的特征8. x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9. 测角仪的调整要求?10. 测角仪的工作原理以及各狭缝作用?11. 哈纳瓦特与芬克索引的规则?12. 定性物相分析的注意事项?电子显微分析部分(第2、3、4章)一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,分析试样物质的、和。

2、电子显微镜可分为:、等几类。

3、电镜中,用透镜作电子枪,发射电子束;用透镜做会聚透镜,起成像和放大作用。

4、磁透镜和玻璃透镜一样,具有很多缺陷,因此会造成像差,像差包括:、、________________和畸变。

5、当一束聚焦电子束沿一定方向射入试样时,在原子库仑电场作用下,入射电子方向改变,称为散射。

原子对电子的散射可分为散射和散射。

在散射过程中,电子只改变方向,而能量基本无损失。

在散射过程中,电子不但改变方向,能量也有不同程度的减少,转变为、和等。

6、电子与固体物质相互作用过程中产生的各种电子信号,包括、、__________________和等。

7、块状材料是通过减薄的方法(需要先进行机械或化学方法的预减薄)制备成对电子束透明的薄膜样品。

减薄的方法有、、和等。

8、扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像,成像信号可以是、或。

9、透射电子显微镜中高分辨率像有和。

10、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,分析试样物质的、和。

二、名词解释球差、色差、场深、焦深、弛豫、相互作用体积、质厚衬度、衍射衬度、相位衬度、轴上像散、场深、焦深、弹性散射、非弹性散射、驰豫、背散射电子、透射电子、吸收电子、二次电子、背散射电子等。

三、简答题1、为什么现代的透射电镜除电子光源外都用磁透镜做会聚镜?2、为何电子显微镜镜筒必须具有高真空?3、电子衍射谱的特征?4、 扫描电镜在探测二次电子时,为何要在栅网上加250V 电压?而在探测背散射电子时要加-50V 电压?5、 扫描电镜的衬度有哪些?各种衬度的典型衬度像是什么?6、 在电镜上为什么能用能谱仪进行试样的成分分析?7、 电子束做照明源制成电子显微镜具有更高的分辨本领?为什么? 8、 分析电子波长与加速电压间的定量关系。

9、 分析电子在静电场中的运动规律及静电透镜的聚焦成像原理。

10、TEM 薄膜试样制备方法有哪些? 11、质厚衬度原理及物镜光阑的作用?四、问答题1、 试述球差、色差产生的原因。

2、 简述二次电子的特点。

3、 在材料科学中透射电镜的样品有哪几类?在制备每类样品时要注意什么?4、 高速入射的电子与试样物质相互作用后能产生哪些物理信号?这些信号可用于什么分析测试手段上?5、 扫描电镜可用哪些物理信号调制成像?比较这些电子显微像的特点。

6、 TEM 工作原理?7、 SEM 工作原理?8、 背散射电子的主要特点、成像的特征及其信号分离观察的原理。

9、二次电子的主要特点、成像的特征? 10、简述散射衬度像形成原因。

11、简述衍射衬度像形成原因。

12、简述相位衬度像形成原因。

五、 计算题1、 在200kv 加速电压下拍得金的多晶衍射环,从里向外测得环的直径2R1=17.46mm ,2R2=20.06 mm , 2R3=28.64 mm , 2R4=33.48 mm 。

已知各金环对应的晶面间距分别为: d1=2.355Å,d2=2.039,Åd3=1.442Å,d4=1.230Å。

试求透射电镜的相机常数K ?2、 2、在200kv 加速电压下拍得金的多晶衍射环,从里向外测得环的直径2R1=17.46mm ,2R2=20.06 mm , 2R3=28.64 mm , 2R4=33.48 mm 。

已知各金环对应的晶面间距分别为:d1=2.355Å,d2=2.039,Åd3=1.442Å,d4=1.230Å。

试求透射电镜的相机长度l ? ()109785.01(25.126V V -⨯+=λ)在200kv 加速电压下拍得金的多晶衍射环,从里向外测得环的直径2R1=17.46mm ,2R2=20.06 mm , 2R3=28.64 mm , 2R4=33.48 mm 。

已知透射电镜的相机常数K=20.562,试求各衍射环的晶面间距d ?()109785.01(25.126V V -⨯+=λ)光学显微分析部分(第5、6章)一名词解释光率体;一轴晶与二轴晶;光轴面;光性方位;解理;多色性与吸收性;突起;贝克线;四次消光;干涉色;补色法则;双折射率;延性;双晶;光程差;干涉图;分辨率;色散;折射;全反射;二.填空1 光率体的种类有, , ; 其形态分别为, , 。

2.偏光显微镜的调节与校正的内容主要有, , ,。

3.干涉色级序的测定方法有, 。

4.晶体在单偏光镜下可以观察和测定的主要内容有, , ,, , 等。

5.影响光程差的因素有, , 。

6.锥光镜下研究矿物晶体时,可观察和测定的内容有, , ,等。

7.一轴晶光率体的主要切面有, , 三种。

8.二轴晶光率体的主要切面有, , ,,五种。

9.根据薄片中晶体颗粒边棱的规则程度,可将晶体分为, , 三类。

10.具有解理的矿物,根据其解理发育的完善程度,可分为, , 三级。

11.根据薄片中晶体与树胶相对折射率的大小,将晶体的突起分为, , ,, , 六个等级。

12.在正交偏光镜下,矿物晶体的消光类型有, , 三种。

13.干涉色级序的测定方法有, , 三种。

三.问答与计算1. 标准薄片中,同一晶体的不同颗粒为何干涉色不同?晶体在什么切面上干涉色最高?为什么?2.对于一轴晶和二轴晶晶体,利用哪类干涉图可测定其光性正负?如何测定?试举例说明。

3.矿物薄片中晶体的颜色和干涉色在成因上有何不同?影响干涉色的因素有哪些?4.矿物薄片中晶体的边缘、糙面、突起和贝克线是怎样形成的?在偏光显微镜下观测矿物晶体时,它们有何用途?5.通常都是用什么方法测定矿物的干涉色级序?简述其测定方法。

6.透辉石(CaO·MgO·SiO2)其光率体形态如图所示,试根据该图说明以下几个问题:(1)透辉石属什么晶族光率体?(2)该晶体的最大双折射率是多少?(3)确定透辉石的光性方位和光性正负。

(4)绘出(100)、(010)、(001)面上的光率体切面,并标明其折射率。

7.橄榄石晶体(010)面上测得主折射率为1.689和1.670,在(100)面上测得主折射率为1.654和1.670,求橄榄石:(1)最大双折射率;(2)光性正负;(3)光性方位;(用简式表示)(4)光轴面与哪个晶面平行?8.当入射光波为偏光,其振动方向与垂直入射光波的光率体椭圆切面半径之一平行时,光波进入晶体后的情况如何?如果入射光波的振动方向与垂直入射光波的光率体椭圆切面半径斜交时,光波进入晶体后的情况如何?9.设橄榄石晶体薄片厚度为0.03mm,Ng=1.689, Nm=1.670, Np=1.654,其垂直Bxa和垂直Bxo切面上能见到什么样的干涉色?平行AP面的切面上又具有什么样的干涉色?10.已知白云母的三个主折射率分别为Ng=1.601, Nm=1.596, Np=1.563,若要制造干涉色为一级灰白(R=147nm)的试板,在垂直Bxa切面上应取多大厚度?11.欲要制造一级紫红(R=560nm)的石英试板,问平行于石英光轴切面上的切片厚度应为多少?(石英的Ne=1.553, No=1.544)12.在紫苏辉石(010)面上测得主折射率为1.702和1.705 ,在(001)面上测得主折射率为1.702和1.692,求紫苏辉石1)三个主折射率值;2)最大双折射率;3)光性正负:4)光轴面与哪个晶面平行?13..已知橄榄石的Ng=1.689, Nm=1.670, Np=1.654, 试说明:1)光性正负;2)Bxa及Bxo的光率体轴名称;3)⊥Bxa及⊥Bxo的切面上双折射率各是多少?4)最大双折射率各是多少?14.矿物的多色性在什么方向的切面上最明显?要确定一轴晶、二轴晶矿物的多色性公式,需选择什么方向的切片?15.已知黑云母的三个主折射率分别为Ng=1.677, Nm=1.676, Np=1.623, 其相应的多色性为:Ng=深褐色,Nm=深褐色,Np=浅黄色,问:1)黑云母哪一个切面上吸收性最大?哪一个切面上多色性最强?3) 黑云母的哪一个切面上的颜色无变化?为什么?16.普通角闪石⊥Bxa的薄片在单偏光镜下为蓝绿和棕绿色,平行光轴面的薄片在单偏光镜下为亮黄和蓝绿色,已知普通角闪石为负光性,试确定它的多色性。

17.已知普通辉石为正光性。

一薄片在正交偏光镜间观察到‖AP切面的干涉色为二级黄(R=880nm),⊥Bxa切面的干涉色为一级亮灰(R=210nm),设Ng-Nm=0.019,求该薄片的厚度。

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