XRD,以及晶体结构的相关基础知识
XRD(2-晶体学基础)(1)
1．倒易点阵的定义？ 2．倒易点阵的重要性质？
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<100>等效晶向
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（三）晶面和晶面间距 1、晶面
➢ 在布拉菲格子中作一簇平行的平面，这些相互平行、 等间距的平面可以将所有的格点包括无遗。
➢ 这些相互平行的平面称为晶体的晶面 ➢ 同一布拉菲格子中可以存在位相不同的的晶面
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（hkl）：表示一组相互平行的晶面， 称为晶面指数或米勒指数。
（hkl）是平面在三个坐标轴上截距倒数的互质比。 晶格中一组晶面不仅平行，并且等距；
一组晶面必包含了所有格点而无遗漏。
同一个格子，两组不同的晶面
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例
以晶胞参数a,b,c为三个对应晶轴的度量单位，晶面ABC在 坐标轴上的截距分别为2、3、6； 其倒数为1/2、 1/3 、 1/6，
h:k:l = 1/2 :1/3 : 1/6
=3:2:1
故: 该晶面的晶面指数 （hkl）为(321)。
带轴。
凡属于[uvw]晶带的晶面，其面指数（hkl）必符合关系：
hu+kv+lw=0
晶带定律
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二、倒易点阵（倒点阵）
倒点阵可以直观地解释衍射图的成因， 它是虚拟的、抽象的教学工具。
晶体学中的正点阵（空间点阵），通过某种联系，将其 抽象出另外一套结点的集合，得到倒点阵。
➢ 晶体点阵中的一个晶面（hkl），在倒点阵中将用 一个点Phkl表示。该点与其对应的晶面有倒易关系。
E、当晶面指数中某个位置上的指数为0时， 表示该晶面与对应的晶轴平行。 如（100）(001）。
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2、晶面间距dhkl
晶面间距是指两个相邻的平行晶面间的垂直距离。 通常用dhkl 或简写为d来表示。
材料表征-XRD分析实验
材料表征-XRD分析实验目的1、了解X衍射的基本原理以及粉末X衍射测试的基本目的；2、掌握晶体和非晶体、单晶和多晶的区别；3、了解使用相关软件处理XRD测试结果的基本方法。
实验原理1、晶体化学基本概念晶体的基本特点与概念：①质点（结构单元）沿三维空间周期性排列（晶体定义），并有对称性。
②空间点阵：实际晶体中的几何点，其所处几何环境和物质环境均同，这些“点集”称空间点阵。
③晶体结构=空间点阵+结构单元。
非晶部分主要为无定形态区域，其内部原子不形成排列整齐有规律的晶格。
对于大多数晶体化合物来说，其晶体在冷却结晶过程中受环境应力或晶核数目、成核方式等条件的影响，晶格易发生畸变。
分子链段的排列与缠绕受结晶条件的影响易发生改变。
晶体的形成过程可分为以下几步：初级成核、分子链段的表面延伸、链松弛、链的重吸收结晶、表面成核、分子间成核、晶体生长、晶体生长完善。
Bravais提出了点阵空间这一概念，将其解释为点阵中选取能反映空间点阵周期性与对称性的单胞，并要求单胞相等棱与角数最多。
晶体内分子的排列方式使晶体具有不同的晶型。
通常在结晶完成后的晶体中，不止含有一种晶型的晶体，因此为多晶化合物。
反之，若严格控制结晶条件可得单一晶型的晶体，则为单晶。
2、X衍射的测试基本目的与原理X射线是电磁波,入射晶体时基于晶体结构的周期性，晶体中各个电子的散射波可相互干涉。
散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向。
衍射方向取决于晶体的周期或晶胞的大小,衍射强度是由晶胞中各个原子及其位置决定的。
由倒易点阵概念导入X射线衍射理论, 倒易点落在Ewald球上是产生衍射必要条件。
1912年劳埃等人根据理论预见，并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象，证明了X射线具有电磁波的性质，成为X射线衍射学的第一个里程碑。
当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。
XRD晶体结构分析
XRD晶体结构分析X射线衍射（XRD）是一种常用的晶体结构分析技术，通过测量固体样品对入射X射线的散射模式，可以获得样品的晶体结构信息。
本文将详细介绍XRD晶体结构分析的原理、仪器以及应用。
首先，我们来看一下XRD晶体结构分析的原理。
当入射X射线遇到晶体样品时，它们会与晶体中的原子发生相互作用，散射出来。
这个散射过程可以分为布拉格衍射和多普勒散射两个部分。
布拉格衍射是由于入射X射线与晶体中的原子发生相互作用后，形成反射或折射。
根据布拉格衍射定律，n\lambda=2dsinθ，其中n是整数，λ是入射X射线的波长，d是晶体的晶面间距，θ是衍射角。
通过测量衍射角，我们可以计算出晶面间距，从而了解晶体的结构。
多普勒散射是由于入射X射线与晶体中电子的相互作用而发生的。
相比于布拉格衍射，多普勒散射更加复杂，并且难以精确计算。
因此，在XRD晶体结构分析中，我们通常只考虑布拉格衍射。
为了实现XRD晶体结构分析，我们需要使用X射线衍射仪器。
X射线衍射仪器主要包括X射线发生器、样品支撑装置、X射线探测器以及数据处理系统。
X射线发生器是产生入射X射线的设备。
常见的X射线发生器包括X 射线管和同步辐射装置。
X射线管通过加热阴极来产生电子，这些电子在阳极上产生高速冲击，从而产生X射线。
同步辐射装置则利用高能电子加速器，使电子在加速过程中释放出X射线。
样品支撑装置用于将晶体样品放置在入射X射线路径上。
在XRD晶体结构分析中，我们通常使用平行面支撑法来固定样品，以确保样品的位置稳定和精确。
X射线探测器用于测量样品对入射X射线的散射情况。
常用的X射线探测器有点式探测器和面阵探测器。
点式探测器将散射X射线聚焦到一个小面积上，以获得高空间分辨率的数据。
而面阵探测器则可以同时收集多个数据点，加快数据采集速度。
数据处理系统是将X射线衍射的散射数据转换为晶体结构信息的关键部分。
一般来说，我们会使用计算机软件对数据进行处理和分析。
常见的软件包括XDS、CCP4、PHENIX等。
XRD数据与晶体结构分析
XRD数据与晶体结构分析X射线衍射(XRD)是一种常用的技术工具，用于确定晶体结构。
它相关的理论基础是布拉格定律，即X射线会被晶体中的原子散射，形成衍射图样。
通过分析这些衍射数据，可以揭示晶体的结构信息，如晶胞参数、晶体的对称性以及原子间的排列方式等。
本文将介绍XRD数据的分析方法以及如何利用这些数据进行晶体结构分析。
首先，进行XRD实验时，需要使用X射线源照射样品，并收集散射到不同角度的X射线。
这些散射射线会形成一个特定的衍射图样，被称为XRD图谱。
一般来说，XRD图谱的横坐标表示散射角度，即2θ角，纵坐标则表示散射强度。
通过测量不同晶面的衍射角度，我们可以确定晶胞的长度和夹角，进而推断晶体的结构。
对于XRD数据的分析，首先需要解析衍射峰的位置和强度。
理论上，当X射线照射到晶体上时，会产生一系列的衍射峰，每个峰对应着一组晶面的衍射。
通过测量衍射角度2θ，可以计算出晶面间的距离d，利用布拉格定律nλ=2dsinθ（其中n是整数，λ是入射X射线波长），我们可以得到晶胞参数。
对于多晶样品，可能会产生很多衍射峰，需要通过谱峰匹配和定量分析来解析这些峰。
其次，对于详细的晶体结构分析，需要将实验衍射数据与已知的参考模式进行比较。
许多晶体结构数据库都会提供XRD图谱的参考模式，包括峰位和强度等信息。
通过比较实验数据和参考模式，我们可以确定晶胞参数和晶体的对称性。
同时，利用Rietveld法和结构拟合技术，可以进一步优化模型，得到更准确的晶体结构信息。
总结起来，XRD数据分析是一种强大的手段，用于确定晶体的结构信息。
通过解析衍射峰的位置和强度，比较实验数据与参考模式，并利用结构拟合技术，可以得到准确的晶体结构。
然而，需要注意的是，XRD数据分析也存在一些挑战和误差，需要结合实际情况进行判断和修正。
因此，在进行XRD数据分析时，需要有扎实的理论基础和丰富的实验经验，才能得到可靠的结果。
XRD分析方法与原理
XRD分析方法与原理XRD（X射线衍射）是一种常用的材料表征方法，主要用于分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体质量、相变、畸变等信息。
本文将重点介绍XRD分析方法和原理。
一、XRD分析方法1．样品制备样品制备是XRD分析的第一步，在分析前需要制备符合要求的样品。
对于晶体实验，需要制备单晶样品，通常通过溶液法、溶剂挥发法、梳子法等方法产生单晶样品。
对于非晶体实验，需要制备适当粒度的多晶粉末样品，通常通过高温煅烧、溶剂挥发、凝胶法、机械研磨等方法制备。
2．仪器调试在进行XRD分析之前，需要对X射线衍射仪进行仪器调试。
主要包括对X射线源、样品台、X射线管、光学路径、X射线探测器等进行调节和优化，以保证仪器的性能和准确性。
其中，X射线源的选择和强度的调节对实验结果有重要影响。
3．X射线衍射数据采集在XRD分析中，可以通过改变探测器固定角度和旋转样品台的方式来获取衍射强度与入射角度的关系。
常用的采集方式有传统的扫描模式（2θ扫描或θ/θ扫描）和快速模式（2D探测器或0D点探测器）。
根据样品的特征和所需分析结果选择合适的采集方式。
同时，为了提高信噪比，通常要对衍射强度进行积分或定标。
4．数据处理和解析XRD数据处理和解析是对原始数据进行整理、滤波、相峰识别、数据拟合和解析的过程。
数据处理主要包括基线校正、噪声过滤和峰识别等，以提高数据质量。
数据解析主要是通过拟合方法获得样品的晶体结构参数（晶格常数、晶胞参数）、相对晶粒尺寸、晶体缺陷等信息。
二、XRD分析原理XRD分析原理基于X射线与晶体原子间的相互作用。
当X射线通过物质时，会与物质中的原子发生散射。
其中，由于X射线与晶体中的周期性排列的原子发生构型相吻合的散射，形成相干衍射。
X射线由晶体平面散射后的干涉衍射，在探测器上形成强度峰，峰强度与晶胞架构和原子排布有关。
1．布拉格方程布拉格方程是XRD分析的基本原理之一、它描述了X射线与晶体平面的相互作用。
布拉格方程为：nλ = 2dsinθ，其中n为整数，λ为入射X射线波长，d为晶胞面间距，θ为衍射角度。
晶体结构的xrd原理应用
晶体结构的XRD原理应用1. X射线衍射（XRD）的基本原理X射线衍射是一种常用的材料结构分析技术，通过将X射线束打到材料上并观察衍射图样来确定晶体结构信息。
它基于X射线与晶体原子间的相互作用，利用晶体中的原子阵列对X射线入射角度的特殊衍射效应进行分析。
2. XRD在晶体结构研究中的应用•晶体结构的确定：XRD技术可以用来确定晶体的晶格参数（晶胞常数、晶胞体积等），从而获得晶体的结构信息。
•晶体质量评估：通过比较实验观测的衍射图样和标准晶体的衍射数据，可以评估晶体的质量、纯度和完整性。
•材料的相变研究：XRD可以用来研究材料的相变过程、相图以及各相的稳定性等。
•应力应变分析：通过对材料进行XRD测量，可以获得材料表面的晶体应变信息，从而评估材料的机械性能和结构强度。
•纳米材料表征：XRD可以用来研究纳米材料的结晶度、晶体尺寸和偏应力等。
3. X射线衍射的实验步骤1.样品制备：将待测样品制备成粉末或块状，并保证样品呈现出均匀的粒度和形貌。
2.样品安装：将样品固定在X射线衍射仪的样品台上，并调整样品位置以使其与X射线束垂直。
3.探测器和X射线源的选择：选择适当的探测器和X射线源，以满足实验需求。
4.调整实验参数：根据样品的性质和实验目的，调整X射线入射角度、扫描范围、扫描速度等参数。
5.扫描样品：开始扫描样品，记录X射线衍射图样。
6.数据分析：对得到的衍射图样进行数据分析，包括峰位分析、峰形分析和峰面积分析等，以获取晶体结构信息。
4. XRD技术的优点和局限性•优点：–非破坏性：XRD技术不需要对样品进行化学处理或物理变换，避免了对样品的破坏。
–高灵敏度：X射线与晶体原子的相互作用非常强，因此可以在很低的浓度下进行检测。
–高分辨率：XRD技术可以提供高分辨率的晶体结构分析结果。
•局限性：–样品要求高：样品必须为单晶或高质量的晶体粉末，且晶体尺寸要足够大。
–无法确定原子的位置：XRD只能确定晶格参数和晶胞结构，无法提供原子位置的精确信息。
XRD讲义
第七章：固体X射线衍射7.1基础知识7.1.1 晶体结构和Bravais晶体晶体中的原子是周期性排列的。
为了描述这种高度的有序结构，总可以选取适当的结构单元，整个晶体结构可以看成是由结构单元在空间中的周期性重复排列而成，相互间既无空隙有无交叠。
这种结构单元称为基元。
基元可以是一个原子，分子或原子团。
为了描述晶体结构的几何规律，可以把基元用一个几何点表示。
这些点的无限集合形成空间点阵，可以看成是空间格子，称为晶格。
显然，这些点在空间是周期性排列的，并且与晶体的周期性相同。
这种由基元代表点在空间周期性排列所形成的晶格成为Bravais晶格。
这样，晶体的结构就是将基元放在Bravais晶格中每一个格点上构成的。
图1－1为NaCl晶体的晶胞，如果将一个Na离子和一个Cl离子看成一个基元，其Bravais晶格变成如图1－2所示的结构，称为面心立方结构。
图1－1 NaCl晶体的晶胞结构图1－2 NaCl的Bravais晶格的晶胞结构，Na， ClBravais晶格的格点都是周期性排列的，所有格点可以用数学公式来统一表示。
如图1－3所示，以任一格点为原点，沿三个不共面的方向连接最近邻的格点作为基矢a1、a2、a3，矢量的长度为该方向的格点周期。
则任一格点的位置矢量R都可以表示为：图1－3，Bravais晶格R=n1a1+n2a2+n3a3(1－1) 其中n1, n2, n3为整数根据点群的旋转对称操作，所有Bravais晶格可分为7大类，称作7大晶系：三斜晶系，单斜晶系，正交晶系，四方晶系，三方晶系，六方晶系和立方晶系。
立方的对称性最高。
反映每一晶系对称性特点的晶胞形状也不相同，每个晶系按其晶胞在面心或体心是否有格点又可分为几种不同的形式。
这样，7个晶系共有14种类型的Bravais晶胞，如图1－4所示。
图1－4，十四种Bravais晶格（1）简单三斜，（2）简单单斜，（3）底心单斜，（4）简单正交，（5）底心正交，（6）体心正交，（7）面心正交，（8）简单四方，（9）体心四方，（10）六方，（11）三方，（12）简单立方，（13）体心立方，（14）面心立方。
《晶体结构画XRD》课件
欢迎来到《晶体结构画XRD》PPT课件！本课程将介绍X射线衍射的基本原理以 及晶体结构研究中的应用。我们还将学习如何采集和处理XRD数据，并用这些 数据画出晶体结构。让我们开始探索这一有趣的领域吧！
介绍X射线衍射（XRD）
• X射线衍射的基本原理和技术 • XRD在晶体结构研究中的重要性和应用
指导读者使用XRD数据来绘制3D晶体结构图
3 实例分析
通过一个实际的案例来演示晶体结构画XRD的步骤
问题与解答
常见问题解答
回答读者经常提出的关于晶体结构画XRD的问题
讨论与交流
为读者提供与其他学习者的互动和交流机会
结束语
总调重要概念
展望未来发展方向
探讨晶体结构画XRD在未来的研究和应用前景
数据处理
采集XRD数据的基本 步骤
从样品制备到使用XRD仪器进行 数据采集的详细步骤
如何处理XRD数据
介绍常用的数据处理方法和软 件工具
数据处理中的注意事 项
提醒读者避免常见的数据处理 误区和错误
晶体结构画XRD
1 晶体结构的表示方法
解释如何用符号和图示来表示晶体结构
2 如何根据XRD数据画出晶体结构
XRD晶体结构分析.ppt
矿物学研究
XRD技术应用
地质学研究
添加标题
添加标题
化学分析
添加标题
添加标题
材料科学
XRD晶体结构分析基本 原理
晶体结构基本概念
晶体定义：具有长程有序、长程有序长程有序结构的固体 晶体结构特点：长程有序、长程有序长程有序、长程有序 晶体结构分类：单晶、多晶、非晶 晶体结构分析方法：X射线衍射、中子衍射、电子显微镜等
生物组织XRD分析的原理
添加标题
添加标题
生物组织XRD分析的应用前景
医学影像学XRD分析
XRD晶体结构分 析在医学影像学 中的应用
XRD晶体结构分 析在医学影像学 中的优势
XRD晶体结构分 析在医学影像学 中的局限性
XRD晶体结构分 析在医学影像学 中的未来发展
XRD晶体结构分析在环 境科学中的应用
添加 标题
药物晶体结构分析的方法：采用XRD技术对药物 晶体进行衍射分析，通过测量衍射角度与强度， 推导出药物晶体的晶格常数、原子间距等信息。
添加 标题
药物晶体结构分析在医学中的应用：在医学领域， XRD技术可用于研究药物的生物活性、药代动力 学和药物相互作用等方面，为新药研发、药物疗 效评估和药物安全性评价提供支持。
晶体材料XRD分析
XRD晶体结构分析在材料科学中的应用 XRD晶体结构分析在材料科学中的应用 XRD晶体结构分析在材料科学中的应用 XRD晶体结构分析在材料科学中的应用
XRD晶体结构分析在地 质学中的应用
矿物学XRD分析
XRD在矿物学中的应用：通过X射线衍射技术对矿物进行结构分析，确定矿物的成分、 晶体结构和物理性质。
XRD实验操作流程
数据收集：记录衍射角度与强 度之间的关系，形成衍射图谱
XRD 晶体学
复习X射线晶体学要点（一）晶体和空间点阵（1）什么是晶体？晶体是由原子或分子在空间按一定规律、周期重复地排列所构成的固体物质。
晶体内部原子或分子按周期性规律排列的结构，是晶体结构最基本的特征。
晶体具有下列共同特性：•对称性：晶体的理想外形和内部结构都具有特定的对称性。
•均匀性：晶体内部各个部分的宏观性质是相同的。
•各向异性：晶体种不同的方向上具有不同的物理性质。
•固定熔点：晶体在熔化时，各部分需要同样的温度。
•规则外形：理想环境中生长的晶体自发形成凸多面体外形。
•使X射线产生衍射。
¾晶体相关的基本概念：1.单晶：构成固体的原子作周期性有规则排列的固体。
2.多晶：由细微小单晶无规排列的固体。
3.非晶：至少在微米尺度内作周期性排列称为长程有序。
原子作长程无序排列的固体称为非晶态。
¾单晶体的几个概念：1.晶棱：晶体的外部晶面的交线。
2.晶带：如果晶面间的晶棱相互平行，构成这些晶棱的晶面称为一个晶带。
晶棱的方向称为带轴。
3.晶面（夹）角守恒定律：同一种晶体，不论其外形如何，两个确定晶面的夹角的大小恒定不变。
（2）点阵和结构基元1912年Lave等首次用X射线衍射测定晶体结构，标志现代晶体学的创立。
晶体内部原子、分子结构的基本单元，在三维空间作周期性重复排列，我们可用一种数学抽象——点阵来研究它。
若晶体内部结构的基本单元可抽象为一个或几个点，则整个晶体可用一个三维点阵来表示。
点阵是一组无限的点，点阵中每个点都具有完全相同的周围环境。
在平移的对称操作下,（连结点阵中任意两点的矢量,按此矢量平移）,所有点都能复原,满足以上条件的一组点称为点阵。
晶系•原子（或者分子）在三维空间中周期性的排列就形成晶体。
排列的周期单元就是结构基元。
能够填满整个三维空间的排列单元首先必须是一个平行六面体。
•表示一个平行六面体需要6个参数：三个轴的长度a, b, c 和三个轴的夹角α, β, γ。
•考虑到这个平行六面体还会存在其他的对称性，所以一共有14种不同的平行六面体，就是14种布拉菲点阵，按照对称元素来划分，有7种晶系。
xrd晶格常数
xrd晶格常数X射线衍射（XRD）是一种广泛应用于材料科学、化学和物理领域的分析技术，通过测量物质的晶格常数，可以对晶体结构进行详细分析。
本文将从XRD的基本原理、晶格常数的计算方法、测量重要性等方面进行讨论，并介绍常用的测量方法以及影响测量准确性的因素。
1.X射线衍射（XRD）的基本原理X射线具有较高的能量和穿透能力，当X射线通过晶体时，会在晶体内部产生衍射现象。
根据布拉格定律，晶体中的原子层间距与X射线波长之间存在一定关系，通过测量衍射峰的位置，可以获得晶体内部的结构信息。
2.晶格常数的概念及计算方法晶格常数是指晶体中相邻原子之间的平均距离，通常用（埃）作为单位。
通过XRD测量晶格常数，可以获得晶体结构的基本参数。
晶格常数的计算方法是根据布拉格定律，利用衍射峰的位置和入射X射线的波长，计算出晶格常数。
3.XRD晶格常数测量的重要性测量XRD晶格常数对于研究晶体结构、相变、晶体生长等方面具有重要意义。
晶格常数的不确定性会影响到晶体结构的准确分析，进而影响到材料性能的评估和应用。
4.测量XRD晶格常数的常用方法常用的XRD晶格常数测量方法有三种：最小二乘法、指标化法和空间群分析法。
最小二乘法通过拟合衍射峰的位置和入射X射线的波长，计算晶格常数；指标化法是通过测量特定晶面的衍射峰面积，计算晶格常数；空间群分析法是将衍射数据与已知晶体结构进行比对，确定晶格常数。
5.影响XRD晶格常数测量的因素影响XRD晶格常数测量的因素主要有：样品质量、晶体取向、衍射仪的分辨率、测量角度范围等。
为提高测量准确性，需要对这些因素进行严格控制。
6.提高XRD晶格常数测量准确性的措施提高XRD晶格常数测量准确性的措施有：选用高质量样品、优化晶体取向、提高衍射仪的分辨率、扩大测量角度范围、重复测量求平均值等。
通过以上分析，我们可以了解到XRD晶格常数测量在材料科学等领域的重要性，以及如何提高测量准确性的方法。
XRD数据与晶体结构分析
辅助设备： 冷却系统、 安全防护 系统、检 测系统等
X-射线产生
原子序数越大，X射线波长越短， 能量越大，穿透能力越强。
焦斑——阳极靶面被电子束轰击的区域
X-射线从焦斑区域出发 焦斑的形状对X-射线衍射图的形状、清晰度、分辨率有较大影响
较小的焦斑 & 较强的强度
在与靶面成 出射角为 3°~6° 处接受X-射线
在人类没有能力测试晶体结构的条件下，从数学
的角度对晶体结构的规律建立的数学模型。
二、X-射线衍射基本原理
X-射线的发现
1895年，德国物理学家伦琴在研究阴极射线过程中偶然发 现了X-射线，为物质结构研究打开了一扇大门，获得首届 诺贝尔物理学奖（1901年）。
Wilhelm Conrad Roentgen
电离； 能透过可见光不能透过的物体； X-射线沿直线传播，在电场与磁场中不偏转， 通过物体时不发生反射、折射现象，
通过普通光栅亦不引起衍射；
能够杀死生物细胞组织，对生物有很厉害的生理作用。
X-射线的产生
X- 射 线 光管 ， 真空度10-4Pa
30~60kV的加 速电子流，冲击金 属靶面产生 常用Mo-Kα射线，包括Kα1和Kα2两种射线 （强度2:1），波长0.71073 Å Cu-Kα射线的波长为1.5418 Å
XRD数据与晶体结构分析
Crystal Structure Analysis
主要内容
晶体的概念 X-射线衍射基本原理
1 2
3 晶体结构测试解析及晶体学参数
4
晶体结构表达及常用软件简介
一、晶体的概念
晶体学基础——什么是晶体？
晶体是一种原子有规律地重复排列的固体物质
A crystal is a solid in which the constituent
XRD的基本应用、物相分析和晶体分析
材料研究方法
哈 那 瓦 特 索 引 的 形 式
x 射线衍射分析
材料研究方法
x 射线衍射分析
哈那瓦特索引的形式
面网间距及相对强度
物相
Fiche No
2.34x 2.025 1.222 1.432 0.931 0.91 0.831 1.171
A1 4-787 I-16-E2
哈那瓦特索引的使用
材料研究方法
x 射线衍射分析
X射线物相定性分析的思路：比对
X射线物相定性分析的思路是： 用待测物质的衍射数据——衍射线的相对强 度（I/I1）和衍射面的面网间距（d）与已 知物质的标准衍射数据进行对比。
如果被测物质的衍射数据（I/I1－d 值）与某一已知物相的标准衍射数据相同， 则被测物质就是该已知物相。
2020/4/28
材料研究方法
x 射线衍射分析
一、X射线物相定性分析的原理
特定的结晶物质 （萤石、石英、方解石）
特定的晶体结构
（晶格类型、晶胞大小、晶 胞中原子、离子或分子的数 目和位置总有一些与其它晶 体不同的地方）
特定的衍射花样 （位置、强度和数量固定的衍
射线组合）
而对于多相样品的衍射峰是各物相的机械叠加。
材料分析： 化学成分分析： 如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或 SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% FeO 4%等。 物相分析： 如一材料C，是由金刚石还是由石墨 组成。 一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定 的。 X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相 的。
2020/4/28
材料研究方法
x 射线衍射分析
电子版PDF卡式样
材料研究方法
XRD的基本知识
X射线发生器
X射线多晶衍射仪的X射线发生器由X射线管、高压发生器、管 压和管流稳定电路以及各种保护电路部分组成。 现代衍射用的X射线管都属于热电子二极管，有密封式和转靶 式两种。前者最大功率在2.5kw以内，视靶材料的不同而异； 后者是为了获得高强度X射线而设计的，一般功率在10kw以上， 目前常用的有9kw、12kw和18kw几种。 X射线管实质上是一个真空二极管，给阴极加上一定的电流被 加热时，便能放出热辐射电子。在数万伏特高压电场的作用下， 这些电子被加速并轰击阳极。阳极又称为靶，是使电子突然减 速和发射X射线的地方。常用的阳极材料有Cr、Fe、Co、Ni、 Cu、Mo、Ag、W等。现在最常用的是Cu靶。
多晶X射线衍射仪的基本原理与构造
X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪 的被测对象为单晶体试样，主要用于确定未知晶体材料的晶体 结构。多晶衍射仪也称粉末衍射仪，被测对象通常为粉末、多 晶体金属或高聚物等块体材料。 多晶衍射仪主要有4部分组成： ①X射线发生器——产生X射线的装置 ②测角仪——测量角度2θ的装置 ③X射线探测器——测量X射线强度的计数装置 ④X射线系统控制装置——数据采集系统和各种电气系统、保 护系统。
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X射线的产生
X射线的产生可以有多种方式。常规X射线衍射仪器所 配备的X射线发生器，都是通过高速电子流轰击金属靶 的方式获得X射线，对于那些特殊的研究工作可以利用 同步辐射X射线源。
XRD的基本原理
当一束X射线照射到晶体上时，首先被电子所散射，每个 电子都是一个新的辐射波源，向空间辐射出与入射波同频 率的电磁波。在一个原子系统中主要是考虑电子间的相互 干涉作用，所有电子的散射波都可以近似看作是由原子中 心发出的。因此，把每个晶体中每个原子都看成是一个新 的散射波源，它们各自向空间辐射与入射波同频率的电磁 波。由于这些散射波之间的干涉作用，使得空间某些方向 的波始终保持相互叠加，于是在这个方向可以观测到衍射 线，而在另一些方向上的波始终是相互抵消的，于是就没 有衍射线产生。所以，X射线在晶体中的衍射现象，实质 上是大量的原子散射波相互干扰的结果。
XRD测试晶体结构
XRD测试晶体结构X射线衍射（XRD）是一种常用的测试方法，用于研究材料的晶体结构和晶体学性质。
它以X射线与材料晶体相互作用而产生衍射现象为基础，通过测量和分析衍射图样，可以推导出晶体的结构信息。
X射线衍射理论基础来自于布拉格方程（Bragg's Law），即2dsinθ = nλ，其中d代表晶面间距，θ代表入射角，λ代表X射线波长，n代表衍射级数。
当入射角和波长已知时，可以通过观察到的衍射角，计算出晶面间距。
对于单晶，XRD测试可以确定晶体的晶格结构、晶胞参数和晶面索引。
首先，通过旋转晶体和测量一系列衍射角，可以得到不同衍射级数的峰位。
然后，通过布拉格方程，可以计算得到晶面间距。
最后，通过多个晶面间距的组合和比对，可以推导出晶体的晶格结构和晶胞参数。
对于多晶或非晶材料，XRD测试可以通过分析衍射图样中的峰位、峰形和峰强等信息，得到材料的晶体学性质。
例如，通过观察峰位的位置，可以推测晶体结构的对称性。
通过分析峰形和峰强，可以获得晶体的晶粒尺寸、晶体变形和晶体缺陷等信息。
XRD测试仪通常由X射线发生器、样品台、X射线检测器和数据处理软件等组成。
X射线发生器通常使用射线管产生X射线，样品台用于固定和调整样品的位置和朝向。
X射线检测器可以记录和测量入射光和衍射光的强度。
数据处理软件可以分析和处理测量到的数据，生成衍射图样和模拟晶格结构。
XRD测试可以应用于许多领域，如材料科学、地质学、生物学和化学等。
在材料科学中，XRD测试可以用于研究晶体材料的相变、晶体生长和材料性能等。
在地质学中，它可以用于确定岩石和矿物的晶体结构和成分。
在生物学和化学中，它可以用于研究生物大分子和化学分子的结构和构象。
总之，XRD测试是一种非常有用的技术，可以用于研究材料的晶体结构和晶体学性质。
通过分析衍射图样，可以推导出晶体的结构信息，这对于材料科学、地质学、生物学和化学等领域具有重要的应用价值。
XRD,以及晶体结构的相关基础知识.doc
XRD,以及晶体结构的相关基础知讽ZZ）Theory 2009-10-25 17:55:42 阅读355 评论0 字号-：大中小做XRD有什么用途啊，能看出其纯度？还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD （X射线衍射）是目前研究晶体结构（如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等）最有力的方法。
XRD特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数H、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与己知的晶态物质的X射线衍射漕图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在［技术资料］栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何山XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的“晶态”物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的”尖峰”（其半高度处的20宽度在0.1。
~0.2。
左右，这一宽度可以视为山实验条件决定的晶体衍射峰的”最小宽度如果这些“峰”明显地变宽.则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm, 可以称之为”微晶“。
XRD晶体结构分析
XRD晶体结构分析XRD（X射线衍射）是一种广泛应用于材料科学领域的仪器，可以用来研究晶体结构。
晶体结构分析是一个关键的研究领域，它对于理解和解释材料的性质和行为至关重要。
晶体结构分析可以通过多种技术来实现，其中X射线衍射是目前最常用的一种技术。
X射线衍射是通过让材料中的晶体结构与入射的X射线相互作用而产生的一种现象。
当入射的X射线与晶体中的原子相干地散射时，会形成一种特殊的衍射图样。
通过分析这个衍射图样，可以确定晶格的结构以及其中的原子排列方式。
在XRD实验中，首先需要选择合适的单晶样品，通常是由单晶培养技术制备得到的。
然后，通过将单晶样品放置在一束X射线下，可以得到一幅衍射图样。
这个衍射图样是由入射的X射线与晶体中的原子相互作用而形成的，其中包含了晶格的信息。
通过对衍射图样的分析，可以得到关于晶格的结构参数。
一种常见的分析方法是使用布拉格方程，即nλ = 2dsinθ，其中n是衍射阶次，λ是入射X射线的波长，d是晶面间距，θ是衍射角。
通过测量不同的衍射角和计算对应的d值，可以确定晶格的结构参数。
除了单晶样品，X射线衍射还可以用于分析多晶样品。
对于多晶样品，由于存在许多晶粒和晶界的存在，其衍射图样会比较复杂。
为了得到可解释的衍射图样，通常需要进行标准化处理。
一种常见的方法是通过Powder XRD进行分析，即在衍射图样中包含了所有晶粒的信息。
XRD可以用于确定许多材料的晶体结构，包括金属、陶瓷、半导体等。
在材料科学领域，晶体结构分析对于理解材料的物理和化学性质至关重要。
通过了解材料的晶体结构，可以预测其电学、磁学、光学等性质，并为设计新的功能材料提供指导。
总之，XRD是一种广泛应用于材料科学领域的晶体结构分析技术。
通过对材料中的晶体结构进行分析，可以得到关于晶体结构的信息，这对于理解和解释材料的性质和行为具有重要意义。
XRD可以用于分析单晶和多晶样品，并可以用于研究各种材料的结构。
XRD结构解析基础
F fe
2i ( 0 )
fe
2i ( h / 2 k / 2 )
f [1 e
i ( h k )
]
(h+k)一定是整数，分两种情况：
（1）如果h和k均为偶数或均为奇数，则和为偶数
F = 2f F2 = 4f2 （2）如果h和k一奇一偶，则和为奇数， F = 0 F2 = 0 不论哪种情况，l值对F均无影响。111,112,113或021,022,023的F 值均为2f。011，012，013或101，102，103的F值均为0。
体心晶胞，两原子坐标分别是（0,0,0）和（1/2,1/2,1/2）
F fe2 i 0 fe2 i h / 2k / 2l / 2 f 1 ei hk l
e ni 1
n
∴当（h+k+l）为偶数，F = 2f ，F2 = 4f 2
• 相对强度: I相对=F2P（1+cos22θ /sin2θ cosθ ）e-2M 1/u 式 中：F——结构因子； P——多重性因子； 分式为角因子，其中θ 为衍射线的布拉格角； e-2M ——温度因子； 1/u-吸收因子。
以下重点介绍结构因子F
1 一个电子的散射
O点处有一电子，被强度I0的X射线照射发生受迫振
X-ray beam lth level
Reciprocal lattice rotates here c
Zeroth level
O*
的方向。同理， kh0 衍
射和hk-1衍射也如此。
Sphere of reflection
c* Sphere of reflection
lth level
XRD及其晶体结构的相关知识
XRD及其晶体结构的相关知识X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。
按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。
较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。
根据色散方式不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。
激发单元的作用是产生初级X射线。
它由高压发生器和X光管组成。
后者功率较大，用水和油同时冷却。
色散单元的作用是分出想要波长的X射线。
它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。
通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。
探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。
记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。
通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。
X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。
X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。
能量色散用脉冲幅度分析器。
探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。
前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。
对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。
后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级，灵敏度高。
可以对能量范围很宽的X 射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。
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XRD,以及晶体结构的相关基础知识(ZZ)Theory 2009-10-25 17:55:42 阅读355 评论0 字号：大中小做XRD有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD（X射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析；XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的织构）...等等，应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物，对于有机物应用较少。
关于XRD的应用，在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章，不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度"）。
如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为"微晶"。
晶体的X射线衍射理论中有一个Scherrer公式，可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。
非晶质衍射图的特征是：在整个扫描角度范围内（从2θ 1°~2°开始到几十度）只观察到被散射的X 射线强度的平缓的变化，其间可能有一到几个最大值；开始处因为接近直射光束强度较大，随着角度的增加强度迅速下降，到高角度强度慢慢地趋向仪器的本底值。
从Scherrer公式的观点看，这个现象可以视为由于晶粒极限地细小下去而导致晶体的衍射峰极大地宽化、相互重叠而模糊化的结果。
晶粒细碎化的极限就是只剩下原子或离子这些粒子间的"近程有序"了，这就是我们所设想的"非晶质"微观结构的场景。
非晶质衍射图上的一个最大值相对应的是该非晶质中一种常发生的粒子间距离。
介于这两种典型之间而偏一些"非晶质"的过渡情况便是"准晶"态了。
在做Ｘ射线衍射时，如果用不同的靶，例如用铜靶或者Cr靶，两者的谱图会一样吗？如果不同的话，峰的位置和强度有啥变化吗？有规律吗？不同的靶，其特征波长不同。
衍射角（又常称为Bragg角或2θ角）决定于实验使用的波长（Bragg 方程）。
使用不同的靶也就是所用的X射线的波长不同，根据Bragg方程，某一间距为d的晶面族其衍射角将不同, 各间距值的晶面族的衍射角将表现出有规律的改变。
因此，使用不同靶材的X射线管所得到的衍射图上的衍射峰的位置是不相同的，衍射峰位置的变化是有规律的。
而一种晶体自有的一套d值是其结构固有的、可以作为该晶体物质的标志性参数。
因此，不管使用何种靶材的X射线管，从所得到的衍射图获得的某样品的一套d值，与靶材无关。
衍射图上衍射峰间的相对强度主要决定于晶体的结构，但是由于样品的吸收性质也和入射线的波长有关。
因此同一样品用不同靶所取得的图谱上衍射峰间的相对强度会稍有差别，与靶材有关。
重温一下布拉格公式和衍射的强度公式，您的问题答案全都有了。
我想知道不同衍射角对应的晶面，怎么办？如果你的图能够找到对应的粉末衍射数据卡，那么问题就简单了。
多数的粉末衍射数据卡上面都给出了各衍射线的衍射指标，也就可以知道对应的晶面了。
如果是未知晶体结构的图，就需要求解各衍射线的衍射指标，这一步工作叫做"衍射图的指标化"。
如自己解决需要具备基础的晶体学知识，然后学会一两个指标化的工具软件（如treaor90）进行尝试。
对于正交晶系的晶胞参数，其中a、b、c代表晶胞的三个棱的长度。
但我不清楚如何定义a、b、c 的方向，也就是说按照什么依据确定这三条棱的方向？是否有明确的规定还是可以任意自定义？一般来说可以用a < b < c的定向原则，其实，用什么方向都可以，它们可以通过矩阵来转换。
晶胞中的a，b，c，分别是三个晶轴方向上的单位平移向量的长度，称为轴长，不是"三个棱"的长度。
轴长符号也常用a0，b0，c0表示。
轴长单位常用? （埃，Angstrom，=10-10米）或纳米（nm，=10-9米）。
在晶体结构中没有"棱"这样一种说法，只有晶体坐标系，而这个坐标系是用a，b，c，α，β，γ 六个参数来表示的，α，β，γ 分别代表三个轴间的夹角。
而"晶棱"是指晶体的外形的棱边。
所以说"a、b、c代表晶胞的三个棱的长度"是错误的。
如何计算晶胞体积？比如说我想计算二氧化锆四方晶相的晶胞体积，甚至是各个晶胞参数，怎么用这个软件来具体处理一下呢？首先，你要有相应的晶体学方面的知识。
这些软件是为我们处理一些晶体学上的一些问题服务，所以，你不能抛开晶体学去使用软件。
有了一些必要的晶体学知识之后，你再去学习使用这些软件，这样你才能看懂help里的内容。
对于你现在所讲的这个晶胞体积的问题，实际上也就是晶胞参数精确测定的问题，因为晶胞参数精确测定了之后，晶胞体积自然就知道了。
有什么软件能根据分数坐标画出晶体的空间结构？就是有八面体或者四面体的那种。
根据晶体的结构结构数据，用diamond或atoms等专业的晶体结构绘图软件便可画出晶体的空间结构。
六角结构的晶体在生长时它的内在的优先生长方向是哪一个？一般来说晶体沿短轴方向生长速度快,垂直于长轴方向的晶面密度较大，从能量的角度说，当晶体生长时，这样的格位更稳定一些。
在X射线测量中（三方晶系）通常给出的都是六方的晶格常数例如a=b=5.741, c=7.141,夹角分别为120°，120°，90°。
现在我想把它换算成三方结构的晶格常数a=b=c=? , 夹角a=?你是通过对衍射数据指标化得出的六方晶格常数，还是从文献得到的？如果你的晶胞是菱方格子，那么用六方定向和菱方定向是一样的梁敬魁的《粉末衍射法测定晶体结构》中有公式可以由三方转六方，或六方转三方。
如何知道晶体中原子坐标?做单晶X－射线衍射才能得到原子的坐标。
除了四圆外，CCD也可进行单晶X－射线衍射。
如何根据X射线衍射数据计算晶粒尺寸晶格常数和畸变，用什么理论和公式？根据衍射峰的峰形数据可以计算晶粒尺寸晶格常数和畸变。
在衍射峰的宽化仅由于晶粒的细小产生的情况下，根据衍射峰的宽化量应用Scherrer公式便可以估算晶粒在该衍射方向上的厚度。
你如果需要做这方面的计算，需要增加一些入门知识，在本网页上你就能够找到一些有关资料的。
[X射线小角衍射和X射线小角散射]小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering)和小角X射线衍射(Small angle x-ray diffraction)是一回事吗？早期小角X射线散射仅指超细颗粒在低角度范围（常指2θ<20°）上的X射线散射，而现在，小角X 射线散射通指在低角度范围（常指2θ<10°~20°）的X射线散射。
X -射线照射到晶体上发生相干散射（存在位相关系）的物理现象叫衍射，即使发生在低角度也是衍射。
例如，某相的d值为31.5A，相应衍射角为2.80°（Cu-Kα），如果该相有很高的结晶度，31.5A峰还是十分尖锐的。
薄膜也能产生取决于薄膜厚度与薄膜微观结构的、集中在小角范围内的X射线衍射。
在这些情况下，样品的小角X射线散射强度主要来自样品的衍射，称之为小角X射线衍射。
对这类样品，人们关心的是其最大的d值或者是薄膜厚度与结构，必须研究其小角X射线衍射。
X-射线照射到超细粉末颗粒（粒径小于几百埃，不管其是晶体还是非晶体）也会发生相干散射现象，也发生在低角度区。
但是由微细颗粒产生的相干散射图的特征与上述的由超大晶面间距或薄膜产生的小角X射线衍射图的特征完全不同。
小角衍射，一般应用于测定超大晶面间距或薄膜厚度以及薄膜的微观周期结构、周期排列的孔分布等问题；小角散射则是应用于测定超细粉体或疏松多孔材料孔分布的有关性质。
X-射线照射到样品上还会发生非相干散射，其强度分别也主要集中在在低角度范围，康普顿散射就属于此类，其结果是增加背景。
哪里能得到小角X射线衍射的系统理论包括书、文献、技术、软件？1. 张晉远等, X 射线小角散射. 高等教育出版社, 北京, 19902. Y. Xiang, et al. Materials Characterization, 2000, 44(4-5): 435-9我现在做介孔材料。
介孔(孔径2-50nm)在材料中成有序排列，象晶格一样的排列在材料中，孔壁、材料为非晶相。
为什么XRD能粗测孔与孔的间距？我了解到的是,孔成有序排列，所以在小角度会有衍射峰,(001)面的峰值和孔径有关。
但我不知道为什么?跟长周期有关：大的孔需要大的周期，或者说是"孔面"间距，类似于"晶面间距"。
"孔"意味晶体中该区域没有原子填充，没有填充原子就无衍射峰。
而孔洞的边界是原子紧密排列的，原子密度相对较高，对应产生较强的衍射，强度较大。
大孔孔径大，空间重复周期大（即长周期），对应的晶面距大，产生的衍射在小角区。
所说的（001）有强线对应的材料的晶体C轴较长，如果第一线是（100）则A轴较长。
[关于粉末衍射数据库的问题]PDF2卡片与JCPDS 卡有什么区别？是同一个东西！PDF2是ICDD (International Centre for Diffraction Data)的产品，ICDD的前身为JCPDS (Joint Committee on Poder Diffraction Standards) 。