可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论Word文档
可靠性LED加速老化寿命试验方法概论
一、可靠性理论基础1.可靠度:如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),当N足够大时,产品在t时刻的可靠度可近似表示为:随时间的不断增长,将不断下降。
它是介于1与0之间的数,即。
2.累积失效概率:表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率,用F(t)表示,又称为失效分布函数。
如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),则当N足够大时,产品在该时刻的累积失效概率可近似表示为:3.失效分布密度:表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。
失效分布函数的导函数称为失效分布密度,其表达式如下:•早期失效期;•偶然失效期(或稳定使用期) ;•耗损失效期。
二、寿命老化:LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。
器件老化程度与外加恒流源的大小有关,可描述为:B t为t时间后的亮度,B0为初始亮度。
通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。
1. 平均寿命如果已知总体的失效分布密度f(t),则可得到总体平均寿命的表达式如下:2. 可靠寿命可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时,所经历的工作时间。
T R可由R(T R)=r求解,假如该产品的失效分布属指数分布规律,则:即可求得T R如下:3. 中位寿命中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命,即:对于指数分布情况,可得:二、LED寿命测试方法LED寿命加速试验的目的概括起来有:•在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平•运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度;•在较短时间内提供试验结果,检验工艺;•在较短时间内暴露LED的失效类型及形式,便于对失效机理进行研究,找出失效原因;•淘汰早期失效产品,测定元LED的极限使用条件1. 温度加速寿命测试法由于通常LED寿命达到10万小时左右,因此要测得其常温下的寿命时间太长,因此采用加速寿命的方法。
LED加速寿命和可靠性试验
LED加速寿命和可靠性试验浙江省半导体照明测试系统工程技术研究中心杭州远方光电信息股份有限公司光电科学研究所摘要:LED的寿命和可靠性得到了业界的高度重视,但其试验方法极具挑战。
目前已有关于LED寿命试验的标准相继出台,然而不同区域的标准要求又有所不同。
本文分析了LED可靠性和寿命相关的关键指标,并以北美体系和国际电工委员会(IEC)体系为主线,介绍了LED加速寿命的试验方法。
同时还介绍具有我国自主知识产权的LED加速老化和寿命测试系统能够满足现有各种标准要求,实现方便、快速、精准的智能化试验。
1.概述随着近年来LED光效的不断提升,LED的寿命和可靠性越来越受到业界的重视,它是LED产品最重要的性能之一。
寿命是可靠性的终极表现,然而LED的理论寿命很长,像传统光源采用2h45min开、15min关的循环测试到寿命终了,对LED 产品的测量显然不现实。
因此有必要对LED产品采用加速老化寿命试验[1],同时,也应当测试LED的热学特性、环境耐候性、电磁兼容抗扰度等与寿命和可靠性密切相关的性能,以综合分析LED的寿命。
2.LED可靠性和寿命相关的关键指标LED产品制造中的每一个元件和环节都会对其可靠性和寿命产生影响,例如,LED结和基板的虚焊、LED荧光粉的热猝灭和退化、封装材料的退化以及驱动器的失效等,最后退化的可能才是半导体(PN结)本身。
这些因素导致LED产品失效(退化)的方式也不尽相同,一般可分为缓变退化(gradual degradation)和瞬变退化(abrupt degradation)。
LED的缓变退化(失效)指标主要包括:流明维持率下降,即光衰,一般以初始光通量为100%,当LED产品的流明维持率下降到初始值的70%或50%时,认为LED失效,流明维持寿命相应记为L50或L70;颜色漂移,受到荧光粉或封装材料的变化,LED的颜色会在寿命期间内发生漂移,该漂移应在指定范围以内(如△u’v’≤0.007),超过范围则视为LED失效;电性能变化,电性能变化能更为直观地监测;开关次数,开关可能会对驱动等电路产生一定影响;热阻变化和其它热特性参数曲线,热特性与寿命息息相关,对热特性的测量和分析有助于找出LED可靠性的薄弱环节;LED的瞬变退化(失效)即LED的光输出突然降为0,其主要退化包括:抗电磁干扰能力:静电放电、雷击浪涌、快速群脉冲、周波跌落;高低温冲击耐受性特性;盐雾、耐湿、振动等。
LED照明灯具寿命的两种测试方法
LED照明灯具寿命的两种测试方法LED光源的最大特点就是寿命长,可达到50000~100000小时,长时间的监测其光衰情况是不实际的,因此,本标准将通过一种加速寿命试验的方法来预测LED照明灯具的寿命。
适用范围本标准适用于各类LED照明灯具的寿命测试,不包含灯具的电源部分的测试。
技术要求把LED灯具的光输出为初始光输出的70%作为寿命判断失效的指标。
试验方法一结温是影响LED光衰减的重要原因。
结温的升高会使LED光衰很快。
LED在高电流下工作会产生更多得热量,从而加速老化。
本试验方法采用不同的驱动电流,选取5只LED灯具,在25℃环境温度下,用不同电流进行加速寿命试验,得出光输出衰减的数学模型。
数学模型y=exp(-αt)α=m×exp(nI)其中y表示相对光输出,α表示衰减常数,t为点灯时间,m、n为常数,I为测试电流。
根据不同电流下的得到的关于y和t的测试数据,最终得出关于不同灯具的衰减系数α,从而得出光通维持率在70%的寿命值t70%试验方法二采用温度作为恒定的加速应力,推算出在25℃下LED灯具失效判据70%时的期望寿命。
选取5个相同规格的LED灯具,调节烘箱的温度,分别在50℃、80℃、100℃、120℃、150℃条件下,在额定电流、恒流条件作为恒定加速的条件。
记录5组LED可靠性试验过程的所有参数:光输出(照度或光强或光通量)、试验时间、电流、功率、结温等。
采用阿仑尼斯数学模型P=P0exp(-βt)β=β0IFexp(-Ea/kTj)其中P0为初始光输出,P为加温加电t时间后的光输出,β为某一温度下的衰减系数,t为某一温度下的加电工作时间,β0为常数,Ea为激活能,k为波尔兹曼常数,IF为工作电流,Tj 为结温。
•经过公式变换和试验数据得出Ea=[K×In(t2/t1)]/(1/Tj2-1/Tj1)t2=t1×exp[Ea/K(1/Tj2-1/Tj1)从而得出25℃下失效判断为70%的预期寿命。
15,LED可靠性评估的加速寿命试验设计方法_孙晓君
基本设计思想, 可以广泛地应用于常见电子元器件的器件产品质量认证或可靠性评估等试验设计中。
关键词: 发光二极管; 可靠性评估; 置信度; 加速寿命试验; 加速试验设计
中图分类号: TN312+.8
文献标识码: A
文章编号: 1672-5468 (2009) 03-0020-06
Accelerated Life Test Design for the Reliability Assessment of LEDs
m;
电流为 I2 时, 失效时间记为 t2i, i=1, 2, …,
m。
(7)
将式 (7) 结果分别代入式 (4), 解得 C 和 n
表达式如下:
(8)
(9) 其中:
(10)
对 于 任 意 一 个 工 作 电 流 Iop, 由 下 式 即 可 预 计 失效时间 top 为:
(11) 在上述加速寿命试验中, 在其它外界环境条件 因素保持不变的前提下, 加速应力参数即为电流。 已知失效时间 top, 那么与失效时间相关的其它参量 均可确定: 式 (5) 中的 μ’ 可 依 据 式 (6) 通 过 lntop 求出, 而 σ’ 在对数正态分布中不是加速应力 的函数, 可以通过式 (7) 的试验结果得到。 同时, 可以确定式 (5) 所示的失效概率密度分布函数, 参考式 (1) 提出的失效判据, 设定变量上下限, 对函数积分, 即可得到工作条件下的失效概率或可 靠度。
常在几千小时以上。 当性能要求或失效判据条件不
同时, 器件的工作环境条件决定了它是否能处于正
常的工作状态中。
对于一般的发光器件, 功率输出一般通过测量
发 光 强 度 来 确 定 , 单 位 : 坎 德 拉 (candela) 注 ②,
LED用稀土荧光粉试验方法 第8部分:高压加速老化寿命的测定-最新国标
LED用稀土荧光粉试验方法第8部分:高压加速老化寿命的测定1范围本文件规定了350nm~480nm紫外光到蓝光激发LED用稀土荧光粉高压加速老化寿命的试验方法。
本文件适用于350nm~480nm紫外光到蓝光激发LED用稀土荧光粉高压加速老化寿命的测定。
2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。
凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T5838荧光粉名词术语GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定GB/T24982白光LED用石榴石结构铝酸盐系列荧光粉3术语和定义GB/T5838确立的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1相对亮度relative brightnessBr在规定的激发条件下,荧光粉试样与对应的标准荧光粉的亮度之比。
3.2色品坐标chromaticity coordinate用来表征荧光粉被激发后发光颜色的一组参数,根据CIE-1931标准色度观察者规则计算获得。
3.3高压加速老化寿命测试pressure cooker test荧光粉在121℃,100%相对湿度,2atm极端条件下存储48h性能的变化情况,主要是其色品坐标和亮度的变化情况。
注:本文件中包含相对亮度变化值ΔBp ,以及色品坐标的变化值Δxp、Δyp。
4方法原理将高压加速老化试验箱的温度、相对湿度、箱内压强设置至规定值,待温度、相对湿度、压强达到设定值时,放入荧光粉样品,存储至规定时间,随即取出,烘干并处理为粉末状。
对未处理过的样品和高压加速老化处理过的样品进行相对亮度、色品坐标或其它有关性能的測定,用两者之间差异的绝对值来表示所试验的荧光粉的高压加速老化寿命。
5仪器与装置5.1高压加速老化寿命试验箱:精度±1℃、±2%RH、±0.01atm。
5.2天平:精度0.1g。
5.3培养皿:35×10mm。
加速寿命试验方法
功率Pt较小时可以忽略不计。 Rj-c为结到壳的热阻;Rc-h为壳到热沉的热阻, 当Rc-h在最佳情况下,计算时可以忽略不计;Rh-a为热沉到环境的热阻
9.3 激活能 通过公式<8.2-1>、<9.2-1>、 <9.2-2>求出激活能Ea
Ea
=
K
ln
Lc,(i-1) Lc,i
1 -1
T T j,(i-1)
前言
平均寿命是电子元器件最常用的可靠性参数,发光二极管的平均寿命一般以光通量(光 功率)的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据,这时采用本标准给出的一种可缩短试 验时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序(简称退化系数外推解析法)。当 白光LED需要考虑色温漂移时,以色温漂移为单一判据的白光LED或同时考虑色温漂移和 光通量衰减具有2个失效判据的白光LED,则采用常规的定数截尾法获取试验数据,并采 用已有的国家标准:寿命试验和加速寿命的简单线性无偏估计法(GB 2689.3-81)、寿 命试验和加速寿命的最好线性无偏估计法(GB 2689.4-81)来进行数据处理,然而这 种情况则需要较长的试验时间,而且数据处理的方法也比较复杂。 因此我们在制定“LED寿命试验方法”的标准分为2个阶段: (1)以光通量(光功率)的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据,采用退化系数外推
GB 2689.3-81 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)
GB 2689.4-81 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)
GB/T 4589.1 -2006 分立器件和集成电路总规范
SJ/T 2355-2006 半导体发光器件测试方法
4
2020/1/22
大功率白光LED加速寿命试验方法与可靠性评估
数 的控 制要 求 。
室 内相 对 湿 度 还 可 以采 用 机 器 露 点 温 度 恒 定或不 恒定 的 方 式 进 行 控 制 。 当 室 内散 湿 量 较
大时, 宜采 用机器 露点 温度 不恒定 的方 式 。
警报 告 、 机维 修提 示 报告 、 风 系统 运行 报 告 、 回风
超 限报警 ; 冻保 护开 关 状 态监 测 , 防冻 保 护 开关 动作 报警 ; 室外 温 、 湿度及 焓值 监测 。 ③ 监控 系统 中 央工 作 站 对该 系统 的 主 要管
理功 能 。各类 参 数 、 态 、 警 信 息 及 系统 动 态 状 报 流程 图和 参数趋 势记 录 图的显示 与存储 ; 可改 变 各设 备 的“ 自动 ” 态 , 手/ 状 并对 设 置 为 “自动 ” 状 态 的设备 直接进 行起 停 控 制和 调 节 , 可修 改 风 机 的起 停时 间表及 一些设 定 值 ;统计 风机 累计运 行 时 间和能 量消 耗 ;打 印各类 报告 和 图表 , 括 报 包
[ ] 程大章. 3 智能 建筑 理论 与工 程实 践 [ ] 北 京 : M . 机
械 工 业 出 版社 。o 9 2o. 收 稿 日期 : 0 2一 1— 0 2 1 O 3
气 冷却器 , 只是 直 接 控 制 室 内温 度 , 对 室 内相 而
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态及 风机 运 行 状 态监 测 , 机 运 行 时 间 累计 , 风 风
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大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法
大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法摘要:大功率LED的可靠性研究尤其是寿命评价测试具有重要的意义。
基于此,本文论述了大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法。
关键词:发光二极管;可靠性;寿命评价试验方法发光二极管(Light-Emitting Diode,LED)是一种固体冷光源,具有无污染、寿命长、耐振动和抗冲击的特点,特别是在全球能源极度短缺的背景下,大功率发光二极管在照明市场的应用前景备受瞩目,必将成为新一代光源。
此外,由于应用领域越来越广,发光管的可靠性研究显得日趋重要。
1 发光二极管概述发光二极管简称为LED,由含镓、砷、磷、氮等的化合物制成。
当电子与空穴复合时能辐射出可见光,因而可用来制成发光二极管。
在电路及仪器中作为指示灯,或组成文字或数字显示。
它是半导体二极管的一种,可把电能转化成光能。
2 影响LED可靠性的因素2.1 封装中的散热问题。
封装过程中的散热是必须解决的一个重要问题。
早期的GaN基LED可靠性研究观察到光输出迅速降低的一个重要原因是由于蓝光与紫外线辐射的温度升高,导致封装材料的透明度下降。
长时间接受紫外线的辐射会降低许多聚合物的光学透明度,而GaN带间辐射复合会产生紫外线,所以紫外辐射引起封装料退化是合理的。
对封装材料的热退化,有试验研究表明:塑料在150℃左右会因单纯的热效应使LED的光输出减弱,尽管在寿命试验中没有发现塑料封装的外观呈褐色。
但与LED接触的部分可能发生了变化。
进一步研究发现,环境温度为95℃,驱动电流≥40mA时,结温超过145℃,接近塑料变色的温度;当驱动电流小于30mA时,结温小于135℃,与之对应的LED退化率也小,所以引起塑料封装材料变化,对LED寿命有重要影响的温度范围是135℃~145℃;另外,在大电流条件下,封装材料甚至会碳化,在器件表面生成不透明物质,或碳化物质在表面形成电导通道,导致器件失效。
由于小功率GaN基LED的正常工作电流是20mA,远小于试验电流,封装材料碳化这种较极端的失效方式只可能出现在加速寿命试验中,在正常工作时,封装材料应是缓慢退化。
LED背光源的寿命与可靠性评估
LED背光源的寿命与可靠性评估LED(Light-Emitting Diode)背光源在现代照明行业中得到了广泛应用,其节能、长寿命和高可靠性等特点使其成为许多照明设备的首选。
然而,为了确保背光源能够持久稳定地工作,需要进行寿命与可靠性评估。
本文将详细介绍LED背光源的寿命与可靠性评估的相关内容。
首先,寿命评估是判断LED背光源能否满足预期使用寿命的关键步骤。
常见的寿命评估方法有三种:开瓶寿命测试、项目化测试和加速寿命测试。
开瓶寿命测试是指对获取到的样品进行实际的使用测试,观察其工作情况,并跟踪记录其寿命时间。
这种方法确保了测试结果与实际使用情况更为接近,但需要耗费较长的时间和资源,并且在数据收集过程中存在较大的误差。
项目化测试是对大批量生产的样品进行寿命测试,并通过统计学方法获得寿命特性曲线。
这种方法可以节省时间和资源,但样本数量和测试时间仍然很大程度上影响了测试结果的准确性。
加速寿命测试是一种通过模拟实际使用条件,加速LED背光源老化过程的方法。
常用的加速寿命测试方法有高温老化测试、温湿循环测试、低温寿命测试等。
通过短时间内对背光源进行加速老化测试,可以推测其长时间使用下的寿命情况。
然而需要注意的是,在进行加速寿命测试时,应选择合适的老化条件,以确保测试结果与实际情况相符。
除了寿命评估,评估LED背光源的可靠性也是非常重要的。
可靠性评估主要包括可靠性测试和可靠性预测两个方面。
可靠性测试指对样品进行一系列的可靠性试验,如高温试验、低温试验、湿热试验、振动试验等,以获取样品在不同环境条件下的工作状态和寿命数据。
这些测试可以帮助了解LED背光源在各种条件下的可靠性,并为后续的可靠性改进提供依据。
可靠性预测通过统计学方法,根据已有的寿命数据,预测出未来LED背光源的可靠性。
常用的预测方法有失效率预测、寿命分布预测等。
这些方法可以为企业制定合理的维修综合管理方案提供支持,提前预知设备可能出现故障的情况,从而进行相应维护和替换。
led老化测试报告docx全文免费(两篇)2024
引言:本文是关于LED老化测试报告的第二部分,介绍了LED老化测试的相关内容及结果。
LED老化测试是一项重要的测试工作,通过长时间的运行测试,可以评估LED的性能稳定性和寿命,并为产品研发和质量控制提供有力的依据。
本文将详细介绍测试过程、测试参数、测试结果及相关分析,以及对测试结果的总结和展望。
概述:LED老化测试是为了评估LED的性能稳定性和使用寿命而进行的测试。
通过长时间连续运行LED,并监测其亮度衰减、颜色偏移、可靠性等参数变化,可以获取相应的测试结果,并据此评估LED的品质和可靠性。
本文旨在介绍LED老化测试的过程、参数和结果,为读者提供全面了解LED老化测试的知识。
正文:一、测试过程1.测试设备选择2.测试参数设置3.测试样品准备4.测试时间安排5.测试环境控制二、测试参数1.亮度衰减测试(1)亮度衰减测试目的(2)亮度衰减测试方法(3)亮度衰减测试结果分析2.颜色偏移测试(1)颜色偏移测试目的(2)颜色偏移测试方法(3)颜色偏移测试结果分析3.可靠性测试(1)可靠性测试目的(2)可靠性测试方法(3)可靠性测试结果分析4.电流波动测试(1)电流波动测试目的(2)电流波动测试方法(3)电流波动测试结果分析5.温度测试(1)温度测试目的(2)温度测试方法(3)温度测试结果分析三、测试结果及分析1.亮度衰减测试结果分析2.颜色偏移测试结果分析3.可靠性测试结果分析4.电流波动测试结果分析5.温度测试结果分析四、测试结果总结1.测试结果总结及评价2.测试结果的意义和价值3.测试结果的局限性和改进方向五、测试结果展望1.对测试结果的展望和应用2.对LED老化测试的改进和优化建议3.对未来研究方向的展望总结:本文详细介绍了LED老化测试的过程、参数和结果,并对测试结果进行分析和总结。
通过LED老化测试,可以评估LED的性能稳定性和寿命,为产品的研发和质量控制提供参考依据。
目前的测试方法和参数仍然存在局限性,需要进一步改进和优化。
LED加速老化测试技术
LED加速老化测试技术【摘要】LED作为一种全新的光源技术,其应用越来越广泛。
怎样去测试LED的性能及使用寿命,一直受到行业和各使用部门的关注。
本文就基于LED 本身的发光原理,关键特性参数以及常见的使用环境去模拟测试出LED的寿命,从而给相关行业和部门以技术参考。
【关键词】LED; 输入功率; 寿命; 性能测试; 光输出功率; 加速老化; 积分球; 光谱曲线一、概述LED(Light Emitting Diode),又称发光二极管,它是利用固体半导体芯片作为发光材料,当两端加上正向电压,半导体中的载流子发生复合,放出过剩的光强而引起光子发射产生可见光,具有高亮度、长寿命、高效节能等显著优点。
基于目前的半导体制造技术,LED输入功率中只有大约5%~10%的能量转化为光能,其他的则转化为热能。
很多功率型LED的驱动电流可以达到70mA、100mA 甚至1A级,这样大的驱动电流会产出较高的热量。
如果LED器件和灯具的热系统或散热结构设计不完善,从PN结到LED外部环境(及空气)的热阻大,导致PN结结温过高,LED 芯片将快速劣化、器件寿命缩短。
资料显示在室温附近,温度每升高1℃,LED的发光强度会相应地减少1%左右。
因此对于大功率LED器件或灯具来说,热学特性、老化特性等越来越受到关注。
当LED,尤其是大功率LED应用在照明领域时,许多技术特性都是传统照明光源所不具有的,其光特征与白炽灯和荧光灯具有很大的区别,即使LED光源本身,灯具结构和LED分布也不相同,可以采用单颗LED,也可以采用多LED 集成,加之大功率LED光源产品种类的发展迅速,表现出许多特殊的发光特性。
同时由于目前LED还处于技术发展阶段,大功率LED的散热、稳定性等问题尤其突出,分析发光特性的同时必须考虑温度影响以及老化因素,需要全面综合的测试分析手段。
因此不能套用以前传统光源和基本LED标准,测试方法无法简单统一。
二、常用LED性能测试参数1.光度参数1.1 光通量光源在单位时间内所发出的光量称为光源的光通量,表示光源所有的光输出量。
led加速寿命试验方法
led加速寿命试验方法LED加速寿命试验方法LED(Light Emitting Diode)是一种新型的半导体光源,具有高亮度、低功耗、长寿命等优点,被广泛应用于照明、显示等领域。
然而,由于LED灯具在使用过程中受到环境温度、湿度、电压等因素的影响,其寿命也会受到影响。
为了保证LED产品的质量和可靠性,需要进行加速寿命试验。
本文将介绍一种常用的LED加速寿命试验方法。
一、试样准备1.1 选择合适的试样根据实际需要选择合适的LED产品作为试样。
要求试样具有代表性,并且符合相关标准要求。
1.2 安装试样将所选试样安装在适当的测试设备上,如恒温恒湿箱或温度循环箱中。
二、试验条件设置2.1 温度条件设置根据实际情况选择合适的温度范围和温度变化规律。
一般情况下,常用的温度范围为-40℃~85℃,变化规律可以是恒定温度或者周期性变化。
2.2 湿度条件设置根据实际情况选择合适的湿度范围和湿度变化规律。
一般情况下,常用的湿度范围为10%~90%RH,变化规律可以是恒定湿度或者周期性变化。
2.3 电压条件设置根据实际情况选择合适的电压范围和电压变化规律。
一般情况下,常用的电压范围为0~500V,变化规律可以是恒定电压或者周期性变化。
三、试验过程3.1 开始试验将试样安装在测试设备中,并按照预设的温度、湿度、电压条件进行加速寿命试验。
3.2 定期检测在试验过程中,需要定期检测试样的光通量、颜色温度、漏光率等参数,并记录下来。
3.3 考虑人为因素在试验过程中,还需要考虑人为因素对试样寿命的影响。
例如,是否经常开关灯具、是否频繁调节亮度等因素都会影响LED灯具的寿命。
四、试验结果分析4.1 数据处理根据记录下来的数据进行处理和分析,包括统计分析和图表展示等。
4.2 结果判断根据处理和分析后的数据,判断试样的寿命是否符合要求。
如果不符合要求,则需要进一步调整产品设计或者制造工艺。
五、试验注意事项5.1 试验过程中需要严格控制温度、湿度、电压等条件,避免因环境因素对试样寿命的影响而导致实验结果不准确。
led照明产品加速衰减试验 国标
led照明产品加速衰减试验国标【原创版】目录一、LED 照明产品传统可靠性测试方法的局限性二、LED 照明产品光通量衰减加速试验的必要性三、加速试验对光通量维持率、颜色漂移和电性能的影响四、国标对 LED 照明产品加速衰减试验的要求五、结论正文一、LED 照明产品传统可靠性测试方法的局限性随着 LED 照明技术的发展,LED 照明产品已经广泛应用于日常生活和各行各业。
然而,传统的 LED 照明产品可靠性测试方法存在时间长、成本高等问题,这限制了新产品的市场推广速度。
对于光通量衰减预估寿命 25000h 的 LED 照明产品,通常需要对产品或其光学模组进行至少6000h 的试验,这对于企业来说是一个庞大的时间成本和经济负担。
二、LED 照明产品光通量衰减加速试验的必要性为了解决传统可靠性测试方法的局限性,LED 照明产品光通量衰减加速试验应运而生。
这种方法可以在不影响可靠性评价精度的前提下,大大缩短试验时间。
通过加速试验,企业可以在较短的时间内完成对产品的检测,提高新产品的市场推广速度。
三、加速试验对光通量维持率、颜色漂移和电性能的影响加速试验主要是模拟 LED 照明产品在实际使用过程中的光通量衰减情况,以评估产品在长期使用下的可靠性。
在加速试验中,光通量维持率下降,即光衰;颜色漂移;电性能变化等指标是评估的重点。
通过这些指标,可以判断 LED 照明产品在实际使用过程中的性能变化情况。
四、国标对 LED 照明产品加速衰减试验的要求我国国家标准对 LED 照明产品加速衰减试验有严格的要求。
在试验过程中,需要对产品的光通量、色温和电性能等指标进行全面检测,确保产品在长期使用下的可靠性。
同时,国标还要求企业在产品包装和宣传资料中明确标注加速试验的结果,以供消费者参考。
五、结论LED 照明产品光通量衰减加速试验是一种有效的产品可靠性评估方法,可以解决传统测试方法的时间长、成本高等问题。
国标对加速衰减试验有严格的要求,企业需要按照规定进行检测,确保产品的可靠性和性能。
LED产品可靠性试验与应用范文
LED产品可靠性试验与应用由于地球的能源不断的减少,温室效应所造成的环境问题,也日趋严重,节能减排,降低温室效应以及减低资源的耗损速度等,成为人类共同的责任。
近几年LED随技术与制程能力不断提升,高亮度产品质量与使用寿命提高后,逐渐扩展应用领域到做为室内外照明灯源、LCD产品背光模块、车用灯具组等较高端产品。
再者,LED产品普遍具有体积小、省电、无毒性、光源具方向性、维修费用低等的优点,因而再度受到世人重视,产业因此成为一项重要的发展。
若以电子产品等级架构Level 0~Level 3(注:L0~L3表示电子产品自晶圆制造、构装、上板组装、系统成品等四阶段)的观点来看,LED产品则是自上游至下游均以其为命名主体。
由于产品的普及化与应用范围越来越广泛,因而可靠性的要求得以受到重视。
国际主要LED大厂均有一套独立的验证标准,本文主要站在LED制造者或使用者的立场来探讨对应不同的使用环境与场所,较具有效益的可靠性试验项目以及这些试验的基本原理,可做为制造者依据不同产品类别选择较有效益的可靠性试验,也可作为平时生产抽样检验之用。
零件可靠性试验LED零件结构可概分为表面黏着型(SMD)与插件型(DIP)两大类别。
LED零件与一般IC封装所使用材料不同,但结构相近且较简易。
LED零件的主要可靠性试验可分为:可靠性试验预处理流程、环境寿命试验、焊锡性、耐热性、静电(ESD)等项目,并于试验前后以光学特性量测计算其光学特性衰退情形做为判断基准。
依使用环境与区域不同,得以选择适当的试验项目进行验证。
可靠性试验预处理流程(Pre-conditioning)预处理流程适用于SMD型LED,其目的系仿真LED零件在系统厂组装过程,并且使用较严苛条件,迫使零件吸湿后进行热应力试验,是执行LED零件可靠性试验的标准前处理作业流程。
5cycle温度循环试验(图一)目的是模拟使用前包括运输或筛选任何可能的早夭风险,经过高温烘烤后(Baking)再将零件置入湿气环境中,一般吸湿条件对SMD型LED来说通常采用Level 3做为验证标准,对户外使用与高可靠性需求的LED零件则采Level 1做为验证标准。
电子产品老化评估依据Microsoft Office Word 文档
各个可靠性专家,最近我司有一客户提出一个问题:为什么我司设定的Burn in(老化)时间是12小时,而不是24小时或者其他时间,有什么理论依据或试验数据来支持这个12小时?我当时一时回答不上,虽然在这个行业做了这么多年(6年),关于Burn in (老化)的时间也是参照同行定的,或者是照搬过来用的,所以一时找不出理论来支持。
这几天通过上网,也通过可靠性网站下载了一些资料,就形成了我自己做的Burn in(老化)评估报告。
我想既然有这个Burn in(老化)工序,就一定有它存在的理由,一定有它设定多少时间的合理依据。
下面是我的拙见,请各位专家提出修正和改进。
谢谢!首先说明,我所在的行业是光通信行业。
某公司产品Burn in(老化)评估报告关于Burn in(老化时间)的确定,目前是有两种方式。
一种是公式评估法,一种是浴盆曲线法。
先介绍第一种公式评估法。
我们使用Bellcore推荐的计算公式:MTBF=Ttot/( N*r);说明:N为失效数(当没有产品失效时N取1);r为对应的系数(取值与失效数与置信度有关);Ttot为总运行时间。
按照公司目前的老化状况,以每LOT的数量为1000PCS来计算,在高温75℃的工作环境下,带电加速Burn in(老化),没有发生失效数,来计算该LOT产品的MTBF(平均故障间隔时间)值是否满足客户的需求?公司对客户的售后服务质量承诺是:一年包换,三年保修,至少七八年的使用周期。
我们通过计算MTBF值看是否能满足对客户的承诺。
找到对应的激活能(Ea);我们采用Bellcore推荐的Ea,为0.6Ev,在室温(40℃)的加速因子(AF)为9.37。
Ttot=AF*n*t,设n为1000 PCS/LOT,Burn in(老化)时间t为12小时,Ttot=9.37*1000*12=112440 hrs。
在60%的置信区间下(r为对应的系数,r为0.92),MTBF=112440/(1*0.92)=122217.4 hrs=13.9 Years。
[整理]LED寿命测讲文档.
LED的寿命及寿命时间测试一. 慨述如所周知,电子元器件从制造厂生产出来后,经过贮存、运输、到用户使用,期间会受到各种应力(指温度、湿度、电力和机械力等应力)作用,这些应力对构成器件的各种材料及材料之间、对器件表面、金属化系统等会造成劣化反应,使其随着时间的延长,器件内部不断进行着缓慢的化学、物理反应,使其效能不断下降,直至失去应有的功能,即所谓的失效。
电子元器件的可靠性,通常用失效率λ来评估,它定义为:λ=n/N* ∑t。
式中:n---器件试验期的失效数;N---器件试验总数;∑t---试验总时间:t1+t2+t3+-----t n。
失效率λ的单位为Fit,1Fit=10-9/h,也即是100万器件,在工作1000h后有1个失效,或者10万个器件工作10000h,有1个失效。
对不可俢复的电子元器件的可靠性,也有用平均失效前时间MTTF来评估,LED是不可修复的器件,适用MTTF。
而MTBF仅对可修复的电子产品,如LED灯具,它可修委复,可用MTBF,即两故障间隔时间来评估。
无论MTTF或MTBF均不涉及应力,仅是统计性可靠性评估参数,因此在这里不作详述。
对于电子元器件,特别是半导体器件,实践证明,应力是影响可靠性的主要因素,对于电子器件,温度这一热应力最为敏感,器件上温度升高,会加快其性能劣化的化学、物理反应,也即有所谓的“十度法则”,温度升高10℃,器件寿命减半,失效过程会加快进行。
LED器件或LED光源同样如此。
自十九世纪未以来,科学家们对各种热、湿、电、机械、气氛等外部应力对电子器件产生的缓慢性化学物理反应进行了大量的分析研究,总结了由各种应力导致的器件性能退化,以及相互间的依赖关系,建立了应力---失效模型。
目的是用以来确定不同应力条件下对器件寿命的影响。
这些模型(或方程)中较著名的有:(a). 温度(热)应力----缓慢退化模型,即所谓的Arrhenius模型,这是由荷兰化学家Jack bns Holf在1884年总结的,是目前使用最广泛的分析热应力引起电子器件功能退化的模型。
LED开发中的加速寿命试验方法
电子技术与软件工程Electronic Technology&Software Engineering电力电子Power Electronic LED开发中的加速寿命试验方法刘强梅端*(广东海洋大学广东省湛江市524088)摘要:本文探讨基于加速寿命试验的LED可靠性评定方法及不同应力因子下的加速寿命试验模型,并对LED失效模式及失效原因进行讨论。
发光二极管(LED)为高可靠性节能元件,在一般照明、汽车照明和户外照明等应用中起着重要的作用。
关键词:加速寿命试验;发光二极管;LED开发LED因其具有高可靠性和节能性优点,广泛应用于一般照明、汽车照明和户外照明。
经过一定工作时间,LED的光输出会下降,不再满足应用需要,因此有必要在开发阶段对LED的寿命进行预测评估。
本文将讨论LED开发过程中的加速寿命试验方法、LED 失效模式及失效原因。
1LED加速寿命试验随着时间的推移,LED的光输出会降低。
LED的寿命可定义为不能为一个预期的应用提供足够的光输出的时间点。
美国固态照明系统与技术联盟建议将有效寿命定义为:对于一般照明,光输岀衰减到初始流明的70%(L70),装饰用LED下降到初始流明的50%(L50)o对于某些应用,可能需要高于70%的水平。
LED寿命与光输出关系如图1所示。
随着LED制造技术的进步,LED寿命可达50000小时,甚至100000小时。
在LED开发中采用加速寿命试验方法预测LED寿命,可缩短试验时间,降低试验成本。
通过加速寿命试验进行寿命预测主要是运用与物理失效规律相关的统计模型,将在超出正常应力水平下获得的寿命信息转换为LED在正常应力水平下寿命的…种试验方法。
LED产品加速寿命试验基本原理如图2所示。
2LED加速寿命试验模型加速寿命试验的关键是加速寿命试验模型的确定。
选取不同的应力进行加速寿命试验,代表物理失效规律的加速模型不同。
加速寿命试验应力因子的选择取决于LED使用环境,通常为温度、电流、湿度和温度循环等应力因子。
LED光源加速寿命实验
研究课题:LED光源加速寿命试验姓名:***班级:工业工程121班学号:**********目录1.LED光源相关简介 (1)1.1什么是LED光源 (1)1.2LED光源的发光原理 (2)1.3LED光源的优点及存在的问题 (2)1.4LED寿命定义 (3)2.LED光源使用寿命的影响因素 (3)2.1散热效果对LED寿命的影响 (3)2.2驱动电源对LED寿命的影响 (4)2.3 LED芯片对LED寿命的影响 (4)3.加速寿命试验方案 (4)3.1寿命试验的种类 (5)3.2加速寿命试验的基本原理 (5)3.3加速寿命试验的过程 (6)3.4加速寿命试验的方法 (6)3.5LED光源加速寿命试验方案 (7)3.5.1电流加速寿命试验方案 (7)3.5.2温度加速寿命试验方案 (8)4.LED灯具寿命评价方法 (8)5.总结与展望 (9)参考文献 (9)LED光源加速寿命实验摘要本文首先对LED光源做了相关的简介,描述了LED光源的定义、发光原理、优缺点以及LED 寿命的理解。
然后对LED光源使用寿命的影响因素进行研究,发现散热效果、驱动电源和LED芯片都会对LED的寿命产生影响。
并根据以上影响因素,从电流和温度俩个方面角度考虑,制定了LED光源的加速寿命试验方案。
最后,基于LED光源加速寿命试验方案的设计,提出了LED灯具寿命的评价方法—模糊综合评价法。
因为LED 灯具系统不同于 LED 光源,影响其寿命的因素众多且复杂,而且每个因素对它的影响程度都各不相同,模糊综合评价法可以很好的解决模糊的、难以量化的问题。
关键词:LED光源、使用寿命、影响因素、加速寿命试验、模糊综合评价法1.LED光源相关简介1.1什么是LED光源LED光源就是发光二极管(LED)为发光体的光源。
发光二极管发明于20世纪60年代,在随后的数十年中,其基本用途是作为收录机等电子设备的指示灯。
这种灯泡具有效率高、寿命长的特点,可连续使用10万小时,比普通白炽灯泡长100倍。
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一、可靠性理论基础
1.可靠度:
如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),当N足够大时,产品在t时刻的可靠度可近似表示为:
随时间的不断增长,将不断下降。
它是介于1与0之间的数,即。
2.累积失效概率:
表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率,用F(t)表示,又称为失效分布函数。
如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),则当N足够大时,产品在该时刻的累积失效概率可近
似表示为:
3.失效分布密度:
表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。
失效分布函数的导函数称为失效分布密度,其表达式如下:
•早期失效期;
•偶然失效期(或稳定使用期) ;
•耗损失效期。
二、寿命
老化:LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。
器件老化程度与外加恒流源的大小有关,
可描述为:
B t为t时间后的亮度,B0为初始亮度。
通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。
1. 平均寿命
如果已知总体的失效分布密度f(t),则可得到总体平均寿命的表达式如下:
2. 可靠寿命
可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时,所经历的工作时间。
T R可由R(T R)=r求解,假如该产品的失效分布属指数分布规律,则:
即可求得T R如下:
3. 中位寿命
中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命,即:对于指数分布情
况,可得:
二、LED寿命测试方法
LED寿命加速试验的目的概括起来有:
•在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平
•运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度;
•在较短时间内提供试验结果,检验工艺;
•在较短时间内暴露LED的失效类型及形式,便于对失效机理进行研究,找出失效原因;
•淘汰早期失效产品,测定元LED的极限使用条件
1. 温度加速寿命测试法
由于通常LED寿命达到10万小时左右,因此要测得其常温下的寿命时间太长,因此采用加速寿命的方法。
根据高温加速寿命得的结果外推其他温度下的寿命。
LED温度加速老化寿命测试原理是基于Arrhenius 模型。
利用该模型可以发现由温度应力决定的反应速度的依赖关系,即
式中L为寿命,Ea为激活能,A为常数,k为玻尔兹曼常数,T为热力学温度。
因此测试温度应有两个,即还需测得另一个温度T2下器件寿命为L2。
可以求得激活能Ea。
样便可以求得温度
T1对某温度T3下的加速系数K3: 。
有:
可见实验需要测得同一批器件在两个不同温度下的寿命,然后推得其他温度下的寿命。
这就要求被测器件的数量应足够多,才能避免个性影响,而得到共性,即得到统计寿命值才真实。
LED从正常状态进入劣化状态的过程中,存在能量势垒,跃过这个势垒所需要的能量必须由外部供给,这个能量势垒就称为激活能。
可以看出,激活能越大曲线倾斜越大,与温度关系越密切,加速系数越大,温度越高加速系数越大。
由于器件向失效发展的机理不同,其能量势垒的高度也不同,所以其激活能量值Ea也不一样,就像其它半导体器件一样,根据激活能量值Ea推出失效机理,据此改进器件设计和生产工艺。
某一批次器件的Ea可看出近似相同。
2.电流加速寿命测试法
从图中可以看到,当驱动电流较小时,在老化的初始阶段衰减幅度较小。
当相对光功率衰减到P/P0<0.8~0.9以后,相对光输出功率与老化时间之间满足关系式:
(1)
其中α是拟合直线的斜率,它与驱动电流无关是一个常数为0.27,将t0定义为P/P0=1时的点,它是与电流强
度的大小有关,可表示为:
(2)
将(1)式进行适当的变换可以得到:(3)
联立 (2)、(3) 就可以计算出输出功率衰减到一半时(即P/P0=0.5)的寿命: (4)I F驱动电流强度,单位为mA;t F为老化时间,单位为小时。
以40mA为例,利用公式通过测量驱动电流为40mA时的寿命来推导LED在驱动电流为20mA时的寿命。
假设我们己经测得测量驱动电流为40mA时的寿命为,则驱动电流为20mA时的寿命为:
也就是说,驱动电流为20mA时的寿命为驱动电流为40mA时的寿命的6.498倍。
3. 普通条件外推法
当LED通过一定的电流时,认为它的光强随时间的衰减满足一定的指数关系,如下图所示。
其中B t为老化t小时后的亮度,B0为LED的初始亮度,而τ为与LED和电流值有关的常数。
通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间T称为LED的寿命。
测定T要花很长的时间,通常以推算求得寿命。
在实际的测量过程中,给LED通额定工作电流20mA恒流源,点燃t1小时(其中t1一般为1000-10000小时之间)。
先后测得B t,B0,将这些数据代入
就可以求得常数τ,再把B t=0.5B0,这样就可以求得寿命T。
造成功率LED光衰的应力主要来自于结温的影响,因此对白光LED寿命的测试采用温度作为恒定加速应力比较合适。
失效判据
考虑到白光功率LED光通量的衰减,一个白光功率LED照明光源的有效寿命可以采用两种判据:•一种是在25℃的环境温度时光通量衰减到初始值的50%的工作时间;
•另一种是在同样工作条件下光通量衰减到初始值70%的工作时间。
3. 加速试验应力摸底
烘箱恒定温度Ta分别为85℃、125℃、150℃、165℃、175℃、185℃。
恒定时间96小时取出样管。
恢复1小时,再逐支测LED的光通量。
摸底试验结果表明:在125℃以下光通量在有限的时间内几乎没有变化,从150℃开始略有变化。
直至185℃下出现有1支样品管光衰较大。
由此选定165℃和175℃、185℃、350mA、96-180小时作为恒定加速应力的试验条件。
4. 实验数据处理
由阿仑尼斯模型给出计算不同结温的期望工作寿命和激活能的公式:(1)
P0为初始光通量;P为加温加电后的光通量;β为某一温度下的衰退系数:t为某一温度下的加电工作时间;由阿仑尼斯模型给出计算不同结温的期望工作寿命和激活能的公式:(2)β0为常数;Ea为激活能;k为波耳兹曼常数;I F为工作电流;Tj为结温;结温可按公式(3)求得:
(3)Tc为壳温;V F为正向电压;R j-c为结到壳的热阻。
1. LED的失效类别:
根据阿仑尼斯模型给出计算不同结温的期望工作寿命和激活
能的公式
P=P0exp(-βt)
β=β0Ifexp(-Ea/kTj)
式中: P0 为初始光通量; P 为加温加电后的光通量;β为某一温度下的
衰减系数; t为某一温度下的加电工作时间;β0为常数; Ea为激活能;k为波耳兹曼
常数(8 62×10 5eV);If 为工作电流;Tj为结温;而
Tj=Tc+Vf*If*Rj-c
式中:Tc 为 DUA的外壳温度;Vf 为正向电压;Rj-c 为芯片结到壳的热阻
[3]。
(注:素材和资料部分来自网络,供参考。
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