第五章 CVD在无机合成与材料制备中的应用PPT课件
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纳米材料导论 cvd法幻灯片PPT
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3 实验结果与分析
3. 1 ZnO 纳米线表征
图2为ZnO纳米线XRD测试结果图谱,从图中可以看到:只有在34. 5°处出现了ZnO的(002)晶面的衍射峰,说明ZnO纳米线沿 [ 001 ]方向择优生长;衍射峰强度大,宽度小,说明产物纯度高, 结晶程度好,为ZnO单晶纳米线。
图3是样品的扫描电子显微镜的照片。图3 ( a)是样品的正面 SEM图,从图中可以看出: ZnO纳米线的直径在100nm 左右,有一 定的倾斜度。图3 ( b)是样品的断面区域放大SEM图,从图中可 以看出, ZnO纳米线平均长度在4μm左右, ZnO纳米线的底端有 一层大约500nm的ZnO薄膜, ZnO纳米线长在ZnO薄膜之上。图3 ( c)是样品的断面大视场SEM图,可以看出ZnO纳米线高度一致, 排列较为有序。
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4结 论
以金做催化剂,采用热分解ZnO粉末的CVD方法在Si ( 100)衬底上生长了整齐紧密排 列的ZnO纳米线,平均长度为4μm,直径在100nm左右。ZnO纳米线的生长机理与传统的 VLS机理不同,在Si (100)衬底上先生长了大约500nm厚的ZnO薄膜, ZnO纳米线生长在 ZnO薄膜上面。
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图4 生长5min的SEM图 Fig. 4 SEM images of ZnO nanowires growing for 5min
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图5 ( a) ZnO薄膜晶粒的EDS图谱; ( b) ZnO纳米线顶端的EDS图谱 Fig. 5 ( a) EDS spectra of ZnO grain; ( b) EDS spectra of ZnO nanowires
文献出处人工晶体学报, Journal of Synthetic Crystals,
3 实验结果与分析
3. 1 ZnO 纳米线表征
图2为ZnO纳米线XRD测试结果图谱,从图中可以看到:只有在34. 5°处出现了ZnO的(002)晶面的衍射峰,说明ZnO纳米线沿 [ 001 ]方向择优生长;衍射峰强度大,宽度小,说明产物纯度高, 结晶程度好,为ZnO单晶纳米线。
图3是样品的扫描电子显微镜的照片。图3 ( a)是样品的正面 SEM图,从图中可以看出: ZnO纳米线的直径在100nm 左右,有一 定的倾斜度。图3 ( b)是样品的断面区域放大SEM图,从图中可 以看出, ZnO纳米线平均长度在4μm左右, ZnO纳米线的底端有 一层大约500nm的ZnO薄膜, ZnO纳米线长在ZnO薄膜之上。图3 ( c)是样品的断面大视场SEM图,可以看出ZnO纳米线高度一致, 排列较为有序。
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4结 论
以金做催化剂,采用热分解ZnO粉末的CVD方法在Si ( 100)衬底上生长了整齐紧密排 列的ZnO纳米线,平均长度为4μm,直径在100nm左右。ZnO纳米线的生长机理与传统的 VLS机理不同,在Si (100)衬底上先生长了大约500nm厚的ZnO薄膜, ZnO纳米线生长在 ZnO薄膜上面。
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图4 生长5min的SEM图 Fig. 4 SEM images of ZnO nanowires growing for 5min
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图5 ( a) ZnO薄膜晶粒的EDS图谱; ( b) ZnO纳米线顶端的EDS图谱 Fig. 5 ( a) EDS spectra of ZnO grain; ( b) EDS spectra of ZnO nanowires
文献出处人工晶体学报, Journal of Synthetic Crystals,
高等无机合成第9章 CVD在无机合成与材料制备中
卧式反应器
立式反应器
桶式反应器
3.3热壁LPCVD装置 3.3热壁LPCVD装置 热壁LPCVD
图9—3所示的热壁LPCVD装置及相应工艺技术的出 现,在20世纪70年代末被誉为集成电路制造工艺中 的一项重大突破性进展。与图9—2的常压法帅工艺 相比较,LPCVD具有三大优点 (1)每次的装硅片量从几片或几十片增加到100一 200片, (2)薄膜的片内均匀性由厚度偏差L(10%一20%)改 进到 十(1%一3%)左右。 (3)成本降低到常压法工艺的十分之一左右。 因此在当时被号称为三个数量级的突破,即三个分 别为十倍的改进。这种LPCVD装置一直沿用至今, 但是随着硅片直径愈来愈大(20世纪70年代为3英寸 硅片.目前为6—8英寸硅片,12英寸硅片的生产线 也在筹划中),
为了适应CVD技术的需要,通常对 原料、产物及反应类型等也有一定的要 求。 (1)反应原料是气态或易于挥发成蒸气 的液态或固态物质。 (2)反应易于生成所需要的沉积物而其 它副产物保留在气相排出或易于分离. (3)整个操作较易于控制。
用于化学气相沉积的反应类型大体 如下所述: 如下所述:
2.1 简单热分解和热分解反应沉积 2.2 氧化还原反应沉积 2.3 其它合成反应沉积 2.4 化学输运反应沉积 2.5 等离子增强的反应沉积 2.6 其它能源增强的反应沉积
2.5 等离子体增强的反应沉积
在低真空条件下,利用直流电压(DC)、交流电压(AC)、 射频(RF)、微波(MW)或电子回旋共振(ECR)等方法实 现气体辉光放电在沉 积反应器中产生等离子体。 一些常用的PECVD反应有
:
最后一个硅烷的反应式可以用来制造非晶硅太阳能电池等。
2.6 其它能源增强的反应沉积
通过等离子薄膜。 以下是几种PECVD装置
CVD相关理论及应用
CVD widely used in micro/nano-electronics
CVD的反应类型
1. 简单热分解和热分解反应沉积
• 适合于 用于 CVD技术 的 原料气 :通常 IVB族 、 IIIB族和IIB族的一些低周期元素的氢化物 ,如 CH4、SiH4、GeH4、B2H6、PH3、AsH3等,为气 态化合物,加热易分解出相应的元素。
30年代末,稳定化的ZrO2(YSZ)和Na--Al2O3的合成,兴起 了固态电解质的研究以及燃料电池新化学能源的开发和利用;
50年代初,随着Ca5(PO4)3x:Sb,Mn发光材料的合成,又进入了 高效和节能的荧光照明时代;
60年代末,红色荧光体Y2O3:Eu的发现和应用,推动了彩色电 视的发展,也推动了传媒业的发展。特别是近年的大面积液晶 和等离子显示屏;
进程的里程碑 一种新的固态化合物的合成和功能特性的发现及
实际应用可以导致一个新的科技领域的产生和一 种新产业的兴起,以至于可以提高整个社会的物 质文化生活水平
材料的发展历程
第一代:天然材料——自然界的动物、植物和矿物 第二代:烧炼材料——砖瓦、陶瓷、玻璃、水泥;铜、铁
等金属 第三代:合成材料——20世纪初开始,合成纤维等(如
• 中国在CVD技术生长高温超导体薄膜和CVD基础理论等方 面取得了一些开创性成果。
CVD技术用于无机合成和材料制备时的特点
1. 沉积反应如在气固界面上发生则沉积物将按照原有固态基底 (称为衬底)的形状包复一层薄膜。
• 该特点决定了CVD技术在涂层刀具上的应用,而且更主要地 决定了在集成电路和其它半导体器件制造中的应用。
溶液反应所消耗的能量最低
(a)298K时生成BaTiO3的能量图 (b) 软化学合成法的基本过程
化学气相沉积(CVD)原理及其薄膜制备ppt课件
精选ppt
21
X.M. Meng et al. / Vacuum 82 (2008) 543–546
MOCVD制备FeSn合金薄膜
➢ anticorrosion protection ➢ solar energy devices ➢ magnetic tape
Reactor: cold-wall lamp-heated MOCVD (0.06 Torr) Substrate: n-type Si (100) wafer (300–420 ℃) Precursor: CpFe(CO)2(SnMe3)
APCVD制备MoSe2薄膜
➢ solid-state lubricant ➢ cathode material for high energy density batteries ➢ one of the most efficient systems for electrochemical solar energy conversion
沉
质量输运控制
气
积
体
温
流
度
速
的
的
影 热力学控制
影
响
动力学控制 响
精选ppt
12
CVD技术分类(沉积过程能量提供方式)
热活化CVD (conventional CVD, low pressure CVD) 等离子体增强CVD (plasma enhanced CVD) 光CVD (photo-assisted CVD) 原子层沉积 (atomic layer epitaxy) 金属有机CVD (metal-organic CVD) 脉冲注入金属有机CVD (pulsed injection MOCVD) 气溶胶CVD (aerosol assisted CVD) 火焰CVD (flame assisted CVD ) 电化学CVD (electrochemical VD) 化学气相渗透 (chemical vapor infiltration) 热丝CVD (hot-wire CVD)
物理气相沉积CVD演示课件
Sputter 工艺技术
2013.6.28
1 ? Sputter工艺介绍 2 ? Sputter成膜与关键参数 3 ? Sputter 常见异常介绍 4 ? Sputter工艺应用
Copyright ? 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司
Summary
1
1.Sputter 工艺介绍
?PVD---物理气相沉积技术(Physical Vapor Deposition) ?定义
ITO之后
ITO之前
A:passivation之后 B:平坦化层 C:平坦化层退火 D:平坦化层Ashing E:ITO sputter之后 F:ITO退火之后
ITO sputter之后Ioff上升很明显,退火之后会有一点下降,说明sputter工艺会造成 Ioff上升。
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14
? Splash
?产生原因
治具
3. Sputter 常见异常介绍
靶材局部散热不均,造成融化滴在基板上
Oxide or Void
Target
Heated area
arcing
Melted particle Ar+
慧星狀
圆形
Copyright ? 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司
1.Sputter 工艺介绍
(1)对于任何待镀材料,只要能制作成靶材,就可以实现溅射; (2)溅射所获得的薄膜与基板间附着力较好; (3)溅射所得到的薄膜纯度高,致密性好; (4)溅射工艺重复性好,膜厚可控;同时可以实现大面积镀膜;
溅射存在缺点: 沉积速率低;基板升温严重。
2013.6.28
1 ? Sputter工艺介绍 2 ? Sputter成膜与关键参数 3 ? Sputter 常见异常介绍 4 ? Sputter工艺应用
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Summary
1
1.Sputter 工艺介绍
?PVD---物理气相沉积技术(Physical Vapor Deposition) ?定义
ITO之后
ITO之前
A:passivation之后 B:平坦化层 C:平坦化层退火 D:平坦化层Ashing E:ITO sputter之后 F:ITO退火之后
ITO sputter之后Ioff上升很明显,退火之后会有一点下降,说明sputter工艺会造成 Ioff上升。
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14
? Splash
?产生原因
治具
3. Sputter 常见异常介绍
靶材局部散热不均,造成融化滴在基板上
Oxide or Void
Target
Heated area
arcing
Melted particle Ar+
慧星狀
圆形
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1.Sputter 工艺介绍
(1)对于任何待镀材料,只要能制作成靶材,就可以实现溅射; (2)溅射所获得的薄膜与基板间附着力较好; (3)溅射所得到的薄膜纯度高,致密性好; (4)溅射工艺重复性好,膜厚可控;同时可以实现大面积镀膜;
溅射存在缺点: 沉积速率低;基板升温严重。
第六讲_化学气相沉积(CVD)技术ppt课件
aAbB cC
其自由能的变化为
G cGC aGA bGB
其中,a、b、c 是反应物、反应产物的摩尔数。由此
G
G
RTln
aCc aAa aBb
G RTlnK
ai 为物质的活度,它相当于其有效浓度。G是反应的标 准自由能变化。
由G,可确定 CVD 反应进行的方向。
例: CVD 过程的热力学考虑
例如,考虑下述的薄膜沉积反应的可能性
(1400C)
化学气相沉积反应的类型
气相输运
如将某一物质先在高温处升华
2CdTe(s)2Cd(g)+Te2(g) 然后使其在低温处冷凝的可逆反应
(T1, T2 )
显然,这实际上是一种利用物理现象的 PVD 过程,但它在 设备、物质传输及反应的热力学、动力学分析方面却完全与 CVD 过程相类似
就象沉积太阳能电池CdTe薄膜的密闭容器升华技术 (Close-Spaced Sublimation,CSS)
化学气相沉积的气压环境
与 PVD 时不同,CVD 过程的气压一般 比较高(随需求不同而不同),因为较高的 气压有助于提高薄膜的沉积速率。此时
气体的流动状态多处于粘滞流状态 气体分子的运动路径不再是直线 气体分子在衬底上的沉积几率不再是接近
100%,而是取决于气压、温度、气体组成、 气体激发状态、薄膜表面状态等多个因素 这也决定了 CVD 薄膜可被均匀地涂覆在复 杂零件的表面,而较少受到 PVD 时阴影效 应的影响
第六讲
薄膜材料的CVD方法
Preparation of thin films by CVD methods
提要
CVD 过程中典型的化学反应 CVD 过程的热力学 CVD 过程的动力学 CVD 过程的数值模拟技术 CVD 薄膜沉积装置
用化学气相沉积CVD法制备薄膜材料PPT课件
2HgS
(
s)
2I
2
(
g
Hale Waihona Puke )T2 T12Hg
(
g
)
S2
(
g
)
第11 11页/共41页
等离子体增强反应:
在低真空条件下,利用RF、MW或ECR等方法实现气体辉光放电在沉积反 应器中产生等离子体。由于等离子体中正离子、电子和中性反应分子相互 碰撞,可以大大降低沉积温度。例如硅烷和氨气的反应在通常条件下,约 在850℃左右反应并沉积氮化硅,但在等离子体增强反应的条件下,只需在 350℃左右就可以生成氮化硅。
LPCVD是在压力降低到大约100Torr(1Torr=133.332Pa)以下的一种CVD反应。 由于低压下分子平均自由程增加,气态反应剂与副产品的质量传输速度加快,
从而使形成沉积薄膜材料的反应速度加快,同时气体分布的不均匀性在很短 时间内可以消除,所以能生长出厚度均匀的薄膜。
第15 15页/共41页
衬底硅片放在保持 400℃的履带上,经过 气流下方时就被一层 CVD薄膜所覆盖。
履带式常压CVD装置
第24 24页/共41页
各个反应器之间相互隔离利用机器手在 低压或真空中传递衬底硅片。因此可以 一次连续完成数种不同的薄膜沉积工作。
对于硬质合金刀具 的表面涂层常采用 这一类装置,它的 优点是与合金刀具 衬底的形状关系不 大,各类刀具都可 以同时沉积,而且 容器很大,一次就 可以装上千的数量。
(b)是一种平行板结构 装置。衬底放在具有温控 装置的下面平板上,压强 通常保持在133Pa左右, 射频电压加在上下平行板 之间,于是在上下平板间 就会出现电容耦合式的气
体放电,并产生等离子体
(a)是一种最简单的 电感耦合产生等离子 的PECVD装置,可以 在实验室中使用 。
5 第五讲 CVD技术
物质源
激活方法 制作温度 成膜速率
生成膜物质的蒸气
消耗蒸发热,电离等 250~2000℃(蒸发源) 25℃至合适温度(基片) 5~250
m / h
用途
可制作薄 膜的材料
装饰,电子材料,光学
所有固体(C、Ta、W困 难)、卤化物和热稳定化 合物
化学气相沉积法(CVD)装臵基本结构
样品
CVD装臵:
阀
MOCVD装臵与一般CVD装臵的区别仅在于前者使用的是有机金 属化合物作为反应物;
使用有机金属化合物的优点在于这类化合物在较低的温度下即呈 气态存在,避免了Al、Ga、Zn等液态金属蒸发过程的复杂性, 因而其对工艺的敏感性小,重复性好; MOCVD过程涉及的仅是有机金属化合物的热解,如 Ga(CH3)3(g)+AsH3(g)GaAs(s)+3CH4(g) (700C) 其主要应用于III-V和II-VI化合物半导体材料的薄膜生长。
化学气相沉积 与PVD时不同,CVD过程的气压一般较高 , 因为较高的压力有助于提高薄膜的沉积速 率,此时
气体的流动状态处于粘滞流状态 气相分子的运动路径不再是直线 气相分子在衬底上的沉积几率不再是100%, 而是取决于气压、温度、气体组成、气体激 发状态、薄膜表面状态等多个因素
粘滞流 viscous flow:气体分子的平均自由程远小于导管最小
低压cvdlpcvd低压cvd在显著低于大气压下工作与常压cvd相比其优点在于?显著提高的气体流速v0?显著提高了反应气体的扩散系数d?降低压力可以提高反应气体气相反应产物通过边界层的扩散能力其总效果将是薄膜的沉积速率的提高?薄膜厚度更均匀气相形核引起颗粒污染的几率小薄膜较为致密沉积过程容易控制等优点激光辅助cvd?激光辅助cvd是采用激光作为辅助的激发手段促进或控制cvd过程进行的薄膜沉积技术?激光束在cvd过程中可以发挥以下两种作用
化学气相沉积(中文版)PPT教学课件
Hong Xiao, Ph. D.
.
41
PMD制程的发展
尺寸 > 2 mm PMD PSG BPSG 平坦化 回流圓滑
回流圓滑
再流動溫度 1100 。C
2 - 0.35 mm
0.25 mm 0.18 mm
850 - 900 。C
750 。C -
BPSG
PSG
回流圓滑+ CMP
CMP
CMP:化学机械抛光
Hong Xiao, Ph. D. . 42
化学机械抛光
CMP
.
43
CMP(化学机械抛光)平坦化制程
金属
金属
金属
Hong Xiao, Ph. D.
.
44
金属层间介电质层(IMD)
• 金属层间介电质层(IMD)主要起绝缘作用 • 一般为未掺杂的硅玻璃 (USG) 或 FSG • 温度受限于铝金属熔化
.
37
侧壁空间层形成
二氧化硅
多晶硅栅极
二氧化硅侧壁空间层
多晶硅栅极
基片
基片
Hong Xiao, Ph. D.
.
38
金属沉积前的介电质层(PMD)
• PMD:金属沉积前的流平层 • 为降低流平温度,PMD一般为掺杂的氧化物 PSG或BPSG • PSG(掺磷SiO2,即磷硅玻璃): 可减少硅玻璃 的加热回流温度,可以形成更为平坦的表面. • BPSG (在PSG基础上掺硼形成的硼磷硅玻璃) :可以进一步减低回流的圆滑温度而磷的浓 度不会过量
• Si(OC2H5)4+O2→SiO2+4C2H4+2H2O
成膜质量好,但如果铝层已沉积,这个温度是不允许的
.
G1-CVD法制备碳纳米管阵列-材料合成化学课件PPT(共19张PPT)
钟左右,滴完后室温下静置1天左右,即可配置成催化剂溶胶。 ➢ 将上面制好的硅片放在甩胶机上,转速调到3000转,然后用滴管将溶
胶滴在硅片中央,甩完胶的硅片经过500℃氢气气氛下退火处理 即可。
实验过程
附催化剂
置于石英舟上
抽真空,通Ar和
的硅片 推至管式管正中 关C2H4,10min
抽真空,停止
附催化剂
2
低温固体热解
通Ar15min 比调为20 300sccm : B图:从上往下的正视图放大倍数高的测视图,交错成网状
CVD法制备碳纳米管阵列
度,关Ar通H21h
反应20min (CVD growth of Carbon Nanotube Arrays)
后关闭Ar
加热并冷却
低温固体热解
反应开始时:向一通道通入反应混合气体
突然终止的生 长模式
突然终止生长的仪器设计图
反应开始时:向一通道通入反应混合气体 反应结束时:向二通道通入Ar气体,可实 现反应源浓度突然降为0,实现反应突然终止
对比突然终止和自然终止的SEM图
左侧为自然终止的碳管底
部SEM图
右侧为突然终止的碳管底
部SEM图
通过对比我们发现突然 终止能够避免实验结束
场发射特性
阵列
场发射 阴极材料
储氢特性 优良的吸附特性
储氢材料
环保材料
碳纳米管的制备方法
电弧法 激光蒸发法
低温固体热解
扩散火焰法 CVD法等
其中,如要得到碳纳米管阵列, CVD是较好的方法!~
CVD法制备碳纳米管阵列
➢ 硅片的准备 ➢ 催化剂的配制及使用
➢ 实验过程
硅片的准备
➢ 将n型(1 0 0)单晶硅片切成2cm× 2cm大小 后在乙醇中超声振荡15分钟,除去表面杂 质.
胶滴在硅片中央,甩完胶的硅片经过500℃氢气气氛下退火处理 即可。
实验过程
附催化剂
置于石英舟上
抽真空,通Ar和
的硅片 推至管式管正中 关C2H4,10min
抽真空,停止
附催化剂
2
低温固体热解
通Ar15min 比调为20 300sccm : B图:从上往下的正视图放大倍数高的测视图,交错成网状
CVD法制备碳纳米管阵列
度,关Ar通H21h
反应20min (CVD growth of Carbon Nanotube Arrays)
后关闭Ar
加热并冷却
低温固体热解
反应开始时:向一通道通入反应混合气体
突然终止的生 长模式
突然终止生长的仪器设计图
反应开始时:向一通道通入反应混合气体 反应结束时:向二通道通入Ar气体,可实 现反应源浓度突然降为0,实现反应突然终止
对比突然终止和自然终止的SEM图
左侧为自然终止的碳管底
部SEM图
右侧为突然终止的碳管底
部SEM图
通过对比我们发现突然 终止能够避免实验结束
场发射特性
阵列
场发射 阴极材料
储氢特性 优良的吸附特性
储氢材料
环保材料
碳纳米管的制备方法
电弧法 激光蒸发法
低温固体热解
扩散火焰法 CVD法等
其中,如要得到碳纳米管阵列, CVD是较好的方法!~
CVD法制备碳纳米管阵列
➢ 硅片的准备 ➢ 催化剂的配制及使用
➢ 实验过程
硅片的准备
➢ 将n型(1 0 0)单晶硅片切成2cm× 2cm大小 后在乙醇中超声振荡15分钟,除去表面杂 质.
9.CVD在无机合成与材料制备中的应用
长硅的外延层,这样的外延称为异质外延.
这些装置最主要用于氢还原在单晶硅片衬底上生长 的几微米厚的硅外延层。
卧式反应器
立式反应器
3.3 热壁LPCVD装置
这一工艺中的一个关键因素是必须保证不同位置(即 图中炉内的气流前后位置)的衬底上都能得到很均匀厚 度的沉积层。
与图9-2的常压法工艺相比较,LPCVD具有三大优点
aA ( 气 ) mM (固 ) nN ( 气 )
• 也有一些有机烷氧基的元素化合物,在高温时
不稳定,热分解生成该元素的氧化物,例如:
• 也可以利用氢化物或有机烷基化合物的不稳定
性,经过热分解后立即在气相中和其它原料气
反应生成固态沉积物, 例如:
• 此外还有一些金属的碳基化合物,本身是气态或者很
通常IVB族ⅢB族和ⅡB族的一些低周期元素的氢化物如CH4、
SiH4、GeH4、B2H6 (乙硼烷 )、PH3、AsH3等都是气态化合物,而且
加热后易分解出相应的元素。因此很适合用于CVD技术中作为原料 气。其中CH4,SiH4分解后直接沉积出固态的薄膜,GeH4也可以混
合在SiH4中,热分解后直接得Si-Ge合金膜。例如:
因此CVD技术用于无机合成合材料有以下特点: 1、沉积反应如在气固界面上发生则沉积物将按照原有基底 (又称衬底)的形状包复一层薄膜。 实例:涂层刀具
2、采用CVD技术也可以得到单一的无机合 成物质,并用以作为原材料制备。 实例:气相分解硅多晶硅。
3、如果采用基底材料,在沉积物达到一定厚
度以后又容易与基地分离,这样就可以得到பைடு நூலகம்种
成的倒u型,从下部接通电源使硅棒保持在1150℃左右,底部中央
是一个进气喷口,不断喷人三氯硅烷和氢混合气,
第五章 CVD在无机合成与材料制备中的应用PPT课件
J1 =hG(CG - Cs) hG是SiCl4在气相中的质量迁移系数(cm • s-1).
• 气流中固体表面有个滞流层,假定厚度为两边的浓度差
为(CG - Cs),则其梯度可近似的表示为(CG - Cs)/ .
• J故1 =根D据G*F(iCcGk-定C律s)/,通.过滞流于层是的有SihCGl4=分D子G /流 密度为
也可利用氢化物或有机烷基化合物的不稳定性,热分解后 立即在气相中和其它原料气反应成固态沉积物,例如:
G3 ) a 3 + A (3 6 C 3 0 s ~ 6 H 7 H 5 ℃ G+ a 3 C H 4 A
有一些金属的羰基化合物,本身是气态或易挥发的液态, 经热分解沉积出金属膜并放出一氧化碳,例如:
•
另一方面 处理,
SiCl4氢还原的外延生长通常可作为一级反应
•
J2 =KrCs
• 式中比例常数Kr称为表面生长的反应速率常数(cm • s1),在稳定生长中应有J1 = J2 =J
• 从而可以得到Cs = hG DG /(Kr + hG) …………(9.39)
• 由上式可知: • 1、当Kr»hG时,Cs 0。即表面生长反应比SiCl4
第五章 CVD在无机合成与材料制备中的
应用
第1节 化学气相沉积的简短历史回顾 第2节 化学气相沉积的技术原理
第1节 化学气相沉积的简短历史回顾
化学气相沉积是利用气态或蒸气态的物质在气相或气 固界面上反应生成固态沉积物的技术
Chemical Vapor Deposition 简称CVD
CVD,20世纪60年代由美国人John M Blocher Jr在 «Vapor Deposition»一书中首先提出,积极推动CVD 国际学术的交流
• 气流中固体表面有个滞流层,假定厚度为两边的浓度差
为(CG - Cs),则其梯度可近似的表示为(CG - Cs)/ .
• J故1 =根D据G*F(iCcGk-定C律s)/,通.过滞流于层是的有SihCGl4=分D子G /流 密度为
也可利用氢化物或有机烷基化合物的不稳定性,热分解后 立即在气相中和其它原料气反应成固态沉积物,例如:
G3 ) a 3 + A (3 6 C 3 0 s ~ 6 H 7 H 5 ℃ G+ a 3 C H 4 A
有一些金属的羰基化合物,本身是气态或易挥发的液态, 经热分解沉积出金属膜并放出一氧化碳,例如:
•
另一方面 处理,
SiCl4氢还原的外延生长通常可作为一级反应
•
J2 =KrCs
• 式中比例常数Kr称为表面生长的反应速率常数(cm • s1),在稳定生长中应有J1 = J2 =J
• 从而可以得到Cs = hG DG /(Kr + hG) …………(9.39)
• 由上式可知: • 1、当Kr»hG时,Cs 0。即表面生长反应比SiCl4
第五章 CVD在无机合成与材料制备中的
应用
第1节 化学气相沉积的简短历史回顾 第2节 化学气相沉积的技术原理
第1节 化学气相沉积的简短历史回顾
化学气相沉积是利用气态或蒸气态的物质在气相或气 固界面上反应生成固态沉积物的技术
Chemical Vapor Deposition 简称CVD
CVD,20世纪60年代由美国人John M Blocher Jr在 «Vapor Deposition»一书中首先提出,积极推动CVD 国际学术的交流
材料合成与制备 CVD的相关理论与应用 PPT
• 在制备各类特种半导体器件中,采纳CVD技术生长发光器件中的 磷砷化镓、氮化镓外延层等,硅锗合金外延层及碳化硅外延层等 也占有特别重要的地位。
CVD发展简史
• 在集成电路与半导体器件应用CVD技术方面,美国与日本, 特别是美国占有较大的优势。
• 日本在蓝色发光器件中关键的氮化镓外延生长方面取得了 突出的进展,已实现了批量生产。
固体沉积物的技术。 • 20世纪60年代初由美国的 John M Blocher Jr等人在
《Vapor Deposition》中首先提出 • 另一名称为:Vapor Plating,即蒸气镀
CVD
CVD的分类
依照沉积过程中主要依靠物理过程或化学过程: • 物理气相沉积(Physical Vapor Deposition,PVD):
• 前苏联Deryagin,Spitsyn与Fedoseev等在20世纪70年代引入 原子氢开创了激活低压CVD(Low PressureChemical Vapor Deposition,LPCVD)金刚石薄膜生长技术,80年代在全世界 形成了研究热潮,也是CVD领域的一项重大突破。
• 中国在CVD技术生长高温超导体薄膜与CVD基础理论等方 面取得了一些开创性成果。
0 . 9 S 4 5 0 i . 0 H G 4 5 5 e ~ 8 0 C 0 H 0 G 0 0 . 0 S 0 5 . 9 e 2 5 i H 2
溶液反应所消耗的能量最低
(a)298K时生成BaTiO3的能量图 (b) 软化学合成法的基本过程
硬化学 hard chemistry
在比较极端条件下的化学,在超高温、超高压、强 辐射、无重力、仿地、仿宇宙等条件下探究新物 质的合成,并原位、实时地研究其反应、结构与物 理性质。
CVD发展简史
• 在集成电路与半导体器件应用CVD技术方面,美国与日本, 特别是美国占有较大的优势。
• 日本在蓝色发光器件中关键的氮化镓外延生长方面取得了 突出的进展,已实现了批量生产。
固体沉积物的技术。 • 20世纪60年代初由美国的 John M Blocher Jr等人在
《Vapor Deposition》中首先提出 • 另一名称为:Vapor Plating,即蒸气镀
CVD
CVD的分类
依照沉积过程中主要依靠物理过程或化学过程: • 物理气相沉积(Physical Vapor Deposition,PVD):
• 前苏联Deryagin,Spitsyn与Fedoseev等在20世纪70年代引入 原子氢开创了激活低压CVD(Low PressureChemical Vapor Deposition,LPCVD)金刚石薄膜生长技术,80年代在全世界 形成了研究热潮,也是CVD领域的一项重大突破。
• 中国在CVD技术生长高温超导体薄膜与CVD基础理论等方 面取得了一些开创性成果。
0 . 9 S 4 5 0 i . 0 H G 4 5 5 e ~ 8 0 C 0 H 0 G 0 0 . 0 S 0 5 . 9 e 2 5 i H 2
溶液反应所消耗的能量最低
(a)298K时生成BaTiO3的能量图 (b) 软化学合成法的基本过程
硬化学 hard chemistry
在比较极端条件下的化学,在超高温、超高压、强 辐射、无重力、仿地、仿宇宙等条件下探究新物 质的合成,并原位、实时地研究其反应、结构与物 理性质。
CVD制程工艺及设备介绍ppt课件
CVD工程使用的气体
SiH4 PH3(1%)/SiH4
NH3 N2 H2 Ar
NF3
G-SiNx ○
○ ○
3-Layer a-Si ○
○
N+ a-Si ○ ○
○
Pas-SiNx ○
○ ○ ○
◎气体的性质(物理和化学性质),纯度等需考虑
Cleaning
○ ○
工艺参数及检查项目
膜质及影响膜质的参数
膜质确认的目的 •维持品质 (如TFT特性) •确认装置的状态(如MFC/RF/真空计是否异常)
PECVD反应示意图
气体 原料
与电子碰
撞 离子
等离子体
激发 分解
化学反应
吸着 表面反应
析出 堆积
脱离
PECVD反应过程
基板加热
二次生成物
未反应 气体
排气
再吸着
(1)电子和反应气体发生碰撞,产生大量的活性基; (2)活性基被吸附在基板上,进行表面反应; (3)被吸附的原子在自身动能和基板温度的作用下,在基板表面迁移,选择能量最低的点堆 积下来; (4)同时,基板上的原子不断脱离周围原子的束缚,进入等离子体气氛中参与化学反应,达 到动态的平衡; (5)不断地补充原料气体,使原子沉积速率大于原子逃逸速率,薄膜持续生长; (6)二次生成物和未反应的气体会经排气口排出。
TFT-LCD 结构图
CF 黑矩阵
偏光片
玻璃
公共电极 液晶层
扫描线 TFT 信号线
象素电极 偏光片
背光源
TFT-LCD名词解释
分辨率(Display Resolution ):显示器上水平方向和垂直方向上相素 (Pixel)的数目。注:一个相素有R、G、B三个子相素(Sub-Pixel)。 对比度(Contrast Ratio):显示器最大亮度值(全白)与最小亮度值(全黑) 之比值。一般TFT-LCD的对比值为200:1至400:1。 视角(Viewing Angle):在大角度观看的情况下,显示器亮暗对比变差会 使画面失真,而在可接受的观测角度范围就称为视角。 反应时间(Response Time):从输入信号到输出影像所经历的时间,一般 液晶显示器反应时间为20~30毫秒。(标准电影格式每画面为40毫秒)
化学气相沉积与无机材料的制备PPT课件
第31页/共49页
化学气相沉积与无机材料的制备
1.物质制备及纯化 原则上,一切气相沉积过程,不论是什么类型的反应
和装置系统都可以来制备、纯化物质。
如果不考虑原料的收率,对于少量制备来说,开管法有 操作简单、快捷的长处;封管法的优点是原料转换率高。
封管化学输运可用于制备和纯化多种元素和化合物, 是实验室中常用的方法。
反应过程:
ZnSe( s )
I2( g )
ZnI2( g )
1 2 Se2( g )
3.CVD技术
CVD 技术分为开管气流法和封管气流法两种基本类型。 ①开管气流法
特点是反应气体混合物能够连续补充,同时废弃的反应 产物不断排出沉积室。
其主要由双温区开启式电阻炉及控温设备、反应管、 载气净化及载带导入系统三大部分构成。
第12页/共49页
化学气相沉积基本理论
②封管气流法
这种反应系统是把一定量的反应物和适当的基体分别 放在反应器的两端 ,管内抽真空后充入一定量的输运气体 , 然后密封 ,再将反应器置于双温区内 ,使反应管内形成一温 度梯度。
以ZnSe为例进行说明该方法,其中涉及到的反应过程
ZnSe
I
2
(g)
T2
ZnI2
(g
)
1 2
Se2
(g
)
ZnSe
I
2
(g)
T1
ZnI2
(g)
1 2
Se2
(
g)
第13页/共49页
化学气相沉积基本理论
ZnSe
2
1
T2 T1
(b) 炉温分布和晶体生长
(a) 装料和封管
图2 碘封管化学输运生长晶体硒化锌单晶
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N4 i 1 4 ( 0 ~ 2 C 4 0 ℃ O N + 4 C ) O i
Pt2 C (2 C 6 0 0 l℃ O P + 2 t ) C O + C 2 l
因为金属化合物往往是一些无机盐类,挥发性很低,不适 于做CVD技术的原料气,而有机烷基金属通常是气体或易 挥发的物质,所以在制备金属或金属化合物薄膜时,常采 用这些有机烷基金属为原料
也可利用氢化物或有机烷基化合物的不稳定性,热分解后 立即在气相中和其它原料气反应成固态沉积物,例如:
G3 ) a 3 + A (3 6 C 3 0 s ~ 6 H 7 H 5 ℃ G+ a 3 C H 4 A
有一些金属的羰基化合物,本身是气态或易挥发的液态, 经热分解沉积出金属膜并放出一氧化碳,例如:
化学气相沉积技术在古人类时已被应用,无意识的, 取暖或烧烤时熏在岩石上的黑色碳层,它是木材或食 物加热释放的有机气体,燃烧,分解,沉积在岩壁上 形成的
现代CVD技术发展的开始阶段在20世纪50年代,主要是 刀具涂层的应用,以碳化钨为基材的硬质合金刀经CVD 技术涂层处理后切削性能提高,耐用,经济效益显著
许多负一价的卤化物是气态或易挥发的物质,广泛地作为 原料气,要得到相应元素的薄膜就采用氢气还原的方法
W 6 + 3 H 2 F ~ 3 0 0 ℃ W + 6 H F
Si 3 + H H 21 1 0 C 0 ~ 1 1 5 l0 ℃ S + 3 H iC l
上个反应是目前工业规模生产半导体级超纯硅的基本 方法,其纯度大于99.9999999%,简称九个9
在CVD技术中也可以沉积生成晶体或细粉状物质, 或者使沉积反应发生在气相中而不是基底的表面上, 这样得到的无机合成物质可以是很细的粉末,甚至是 纳米尺度的微粒
CVD技术对原料、产物、反应类型的要求: • 反应原料是气态或易于挥发成蒸气的液态或固态物质 • 反应易于生成所需要的沉积物而其它副产物保留在气
二十世纪六七十年代以来,CVD技术随半导体和集成电 路技术的发展而迅速发展。目前,CVD技术是生产超纯 多晶硅的惟一方法
日本在蓝色发光器件中关键的氮化镓外延生长方面有突 破进展,已批量生产
前苏联在70年代引入原子氢开创了激活低压CVD金刚石 薄膜生长技术,当时在全世界形成一股研究浪潮
我国在CVD技术生长高温超导体薄膜和CVD基础理论 方面有一些开创性成果,建立了低压CVD模拟模型,在 激活低压CVD金刚石生长热力学方面,据非平衡热力学 原理,开拓了非平衡定态相图及其计算的新领域
4. 化学输运反应沉积
一些物质本身在高温下会气化分解沉积在反应器稍冷的地 方形成薄膜、晶体或粉末,例如:
2 H g S ( s )
T 2 T 1
2 H g ( g )+ S 2 ( g )
但有些原料本身不易分解,需添加输运剂来促进中间气 态产物的生成
2 Z n S ( s )+ 2 I 2 ( g ) T 2 2 Z n I 2 ( g )+ S 2 ( g ) T 1
相排出或易于分离 • 整个操作较易于控制
适用于化学气相沉积的反应类型: 1. 简单热分解和热分解反应沉积 2. 通常ⅡB族、ⅢB族和ⅣB族的低周期元素氢化物
都是气态物质,加热后易分解出相应元素
C 4 6 H 0 0 ~ 1 0 0 0 ℃ C + 2 H 2
S4 6 i0 0 H ~ 8 0 0 ℃ S + 2 iH 2
0 . 9 5 S i H 4 + 0 . 0 5 G e H 4 5 5 0 ~ 8 0 0 ℃ G e 0 . 0 5 S i 0 . 9 5 + 2 H 2
一些有机烷氧基的元素化合物,高温不稳定,分解成该 元素的氧化物,例如:
2 A l ( O C 3 H 7 ) 3 ~ 4 2 0 ℃ A l 2 O 3 + 6 C 3 H 6 + 3 H 2 O
3. 其它合成反应沉积 在CVD技术中使用最多的反应类型是两种或两种以上原料 气在沉积反应器中生成所需要的无机薄膜或其它材料形式, 例如:
3 S i H 4 + 4 N H 37 5 0 ℃ S i 3 N 4 + 1 2 H 2
2 T i C l 4 + N 2 + 4 H 2 1 2 0 0 ~ 1 2 5 0 ℃ 2T + 8 H C l iN
第五章 CVD在无机合成与材料制备中的
应用
第1节 化学气相沉积的简短历史回顾 第2节 化学气相沉积的技术原理
第1节 化学气相沉积的简短历史回顾
化学气相沉积是利用气态或蒸气态的物质在气相或气 固界面上反应生成固态沉积物的技术
Chemical Vapor Deposition 简称CVD
CVD,20世纪60年代由美国人John M Blocher Jr在 «Vapor Deposition»一书中首先提出,积极推动CVD 国际学术的交流
这类输运反应中通常是T2大于T1 但个别反应是例外的,例如碘钨灯管工作时不断发生的化 学输运过程就是由低温向高温方向进行的。
W ( s )+ 3 I 2 ( g )
1 4 0 0 ℃ ~ 3 0 0 0 ℃W I 6 ( g )
5. 等离子体增强的反应沉积 在低真空条件下,利用直流电压、交流电压、射频、微波 或电子回旋共振等方法实现气体辉光放电在沉积反应器中 产生等离子体。等离子体中正离子、电子和中性反应分子 相互碰撞,可大大降低沉积温度。例如:
2.氧化还原反应沉积
对于适用于CVD技术的一些元素的氢化物或有机烷氧化 物,向其中通入氧气,使之发生氧化反应而沉积出该元 素的氧化物薄膜,例如:
2 S i H 4 + 2 B 2 H 6 + 1 5 O 2 3 0 0 ~ 5 0 0 ℃ 2 B 2 O 3 S i O 2 + 1 0 H 2 O A l 2 ( C H 3 ) 6 + 1 2 O 2 4 5 0 ℃ A l 2 O 3 + 9 H 2 O + 6 C O 2
第2节 化学气相沉积的技术原理
CVD技术用于无机合成和材料制备的特点:
淀积反应如在气固界面上发生则淀积物将按原有固态 基底的形状包复一层薄膜
采用CVD技术可以得到单一的无机合成物质,并用于 原材料的制备
如果采用某种基底材料,在沉积物达到一定厚度以后 又容易与基底分离,就以得到各种特定形状的游离 沉积物器具
Pt2 C (2 C 6 0 0 l℃ O P + 2 t ) C O + C 2 l
因为金属化合物往往是一些无机盐类,挥发性很低,不适 于做CVD技术的原料气,而有机烷基金属通常是气体或易 挥发的物质,所以在制备金属或金属化合物薄膜时,常采 用这些有机烷基金属为原料
也可利用氢化物或有机烷基化合物的不稳定性,热分解后 立即在气相中和其它原料气反应成固态沉积物,例如:
G3 ) a 3 + A (3 6 C 3 0 s ~ 6 H 7 H 5 ℃ G+ a 3 C H 4 A
有一些金属的羰基化合物,本身是气态或易挥发的液态, 经热分解沉积出金属膜并放出一氧化碳,例如:
化学气相沉积技术在古人类时已被应用,无意识的, 取暖或烧烤时熏在岩石上的黑色碳层,它是木材或食 物加热释放的有机气体,燃烧,分解,沉积在岩壁上 形成的
现代CVD技术发展的开始阶段在20世纪50年代,主要是 刀具涂层的应用,以碳化钨为基材的硬质合金刀经CVD 技术涂层处理后切削性能提高,耐用,经济效益显著
许多负一价的卤化物是气态或易挥发的物质,广泛地作为 原料气,要得到相应元素的薄膜就采用氢气还原的方法
W 6 + 3 H 2 F ~ 3 0 0 ℃ W + 6 H F
Si 3 + H H 21 1 0 C 0 ~ 1 1 5 l0 ℃ S + 3 H iC l
上个反应是目前工业规模生产半导体级超纯硅的基本 方法,其纯度大于99.9999999%,简称九个9
在CVD技术中也可以沉积生成晶体或细粉状物质, 或者使沉积反应发生在气相中而不是基底的表面上, 这样得到的无机合成物质可以是很细的粉末,甚至是 纳米尺度的微粒
CVD技术对原料、产物、反应类型的要求: • 反应原料是气态或易于挥发成蒸气的液态或固态物质 • 反应易于生成所需要的沉积物而其它副产物保留在气
二十世纪六七十年代以来,CVD技术随半导体和集成电 路技术的发展而迅速发展。目前,CVD技术是生产超纯 多晶硅的惟一方法
日本在蓝色发光器件中关键的氮化镓外延生长方面有突 破进展,已批量生产
前苏联在70年代引入原子氢开创了激活低压CVD金刚石 薄膜生长技术,当时在全世界形成一股研究浪潮
我国在CVD技术生长高温超导体薄膜和CVD基础理论 方面有一些开创性成果,建立了低压CVD模拟模型,在 激活低压CVD金刚石生长热力学方面,据非平衡热力学 原理,开拓了非平衡定态相图及其计算的新领域
4. 化学输运反应沉积
一些物质本身在高温下会气化分解沉积在反应器稍冷的地 方形成薄膜、晶体或粉末,例如:
2 H g S ( s )
T 2 T 1
2 H g ( g )+ S 2 ( g )
但有些原料本身不易分解,需添加输运剂来促进中间气 态产物的生成
2 Z n S ( s )+ 2 I 2 ( g ) T 2 2 Z n I 2 ( g )+ S 2 ( g ) T 1
相排出或易于分离 • 整个操作较易于控制
适用于化学气相沉积的反应类型: 1. 简单热分解和热分解反应沉积 2. 通常ⅡB族、ⅢB族和ⅣB族的低周期元素氢化物
都是气态物质,加热后易分解出相应元素
C 4 6 H 0 0 ~ 1 0 0 0 ℃ C + 2 H 2
S4 6 i0 0 H ~ 8 0 0 ℃ S + 2 iH 2
0 . 9 5 S i H 4 + 0 . 0 5 G e H 4 5 5 0 ~ 8 0 0 ℃ G e 0 . 0 5 S i 0 . 9 5 + 2 H 2
一些有机烷氧基的元素化合物,高温不稳定,分解成该 元素的氧化物,例如:
2 A l ( O C 3 H 7 ) 3 ~ 4 2 0 ℃ A l 2 O 3 + 6 C 3 H 6 + 3 H 2 O
3. 其它合成反应沉积 在CVD技术中使用最多的反应类型是两种或两种以上原料 气在沉积反应器中生成所需要的无机薄膜或其它材料形式, 例如:
3 S i H 4 + 4 N H 37 5 0 ℃ S i 3 N 4 + 1 2 H 2
2 T i C l 4 + N 2 + 4 H 2 1 2 0 0 ~ 1 2 5 0 ℃ 2T + 8 H C l iN
第五章 CVD在无机合成与材料制备中的
应用
第1节 化学气相沉积的简短历史回顾 第2节 化学气相沉积的技术原理
第1节 化学气相沉积的简短历史回顾
化学气相沉积是利用气态或蒸气态的物质在气相或气 固界面上反应生成固态沉积物的技术
Chemical Vapor Deposition 简称CVD
CVD,20世纪60年代由美国人John M Blocher Jr在 «Vapor Deposition»一书中首先提出,积极推动CVD 国际学术的交流
这类输运反应中通常是T2大于T1 但个别反应是例外的,例如碘钨灯管工作时不断发生的化 学输运过程就是由低温向高温方向进行的。
W ( s )+ 3 I 2 ( g )
1 4 0 0 ℃ ~ 3 0 0 0 ℃W I 6 ( g )
5. 等离子体增强的反应沉积 在低真空条件下,利用直流电压、交流电压、射频、微波 或电子回旋共振等方法实现气体辉光放电在沉积反应器中 产生等离子体。等离子体中正离子、电子和中性反应分子 相互碰撞,可大大降低沉积温度。例如:
2.氧化还原反应沉积
对于适用于CVD技术的一些元素的氢化物或有机烷氧化 物,向其中通入氧气,使之发生氧化反应而沉积出该元 素的氧化物薄膜,例如:
2 S i H 4 + 2 B 2 H 6 + 1 5 O 2 3 0 0 ~ 5 0 0 ℃ 2 B 2 O 3 S i O 2 + 1 0 H 2 O A l 2 ( C H 3 ) 6 + 1 2 O 2 4 5 0 ℃ A l 2 O 3 + 9 H 2 O + 6 C O 2
第2节 化学气相沉积的技术原理
CVD技术用于无机合成和材料制备的特点:
淀积反应如在气固界面上发生则淀积物将按原有固态 基底的形状包复一层薄膜
采用CVD技术可以得到单一的无机合成物质,并用于 原材料的制备
如果采用某种基底材料,在沉积物达到一定厚度以后 又容易与基底分离,就以得到各种特定形状的游离 沉积物器具