插回损测量
JW8301插回损测试仪使用说明书
JW8301插回损测试仪使用说明书（V180521）2018.05目录1概述 (1)1.1 产品描述 (1)1.2 主要特点 (1)2技术指标 (2)3配置 (3)3.1标准配置 (3)3.2 选型配置 (4)4 整机外观说明 (5)4.1整机外观 (5)4.2前面板外观 (5)4.3仪器工作模式 (6)4.4后面板外观 (8)5 功能描述 (8)5.1按键功能描述 (8)5.2主菜单功能描述 (10)5.3子菜单设置 (10)6规格定义 (12)6.1动态范围 (12)6.2线性度 (12)6.3回损测试范围 (12)6.4回损测试精度 (12)6.5开机稳定时间 (12)6.6建议校准周期 (13)6.7仪器、环境 (13)6.8预热JW8301 (13)7使用说明 (13)7.1插入损耗测试 (13)7.2插损测试 (15)7.2回波损耗测试 (16)7.3 插回损同时测试 (18)7.4输出光源及光功率测量 (19)8维护及保养 (21)8.1探测器维护 (21)8.2连接器的清洁和保养说明 (21)9质量保证 (22)1概述1.1 产品描述JW8301系列插回损测试仪是针对CWDM器件、多波长器件、PLC、光纤跳纤等无源光器件插损回损检测的专业设备。
是嘉慧公司结合多年光无源器件检测经验的新一代精密光检测仪表，配置有红光或850光源功能，支持阈值判定、自动多波长检测、系统集成、二次开发、上位机解决方案等。
1.2 主要特点1)支持2波长、3波长、4波长插损回损检测；2)支持一路红光源或一路850多模光源；3)支持多波长自动测试及显示；4)可选波长数量同时显示测试；5)提供OPM、IL、RL、IL2、ILRL等多种工作模式；6)提供高精度光功率计模式，测试范围达+5dBm~-80dBm;7)提供USB/RS232满足不同需求；8)丰富的阈值设置、告警功能；9)光功率计部分可选积分球配置；10)光功率计部分可选外置探头配置（适应裸光纤夹具）；11)功能强大的光器件应用软件；2技术指标光功率计部分光源部分主机部分注意（NOTES）:①光功率计部分选用InGaAs为探测元件，其测试的波长为850~1700nm。
光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试
光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试一．实验目的和任务1．了解光隔离器的工作原理和主要功能。
2．了解光隔离器各参数的测量方法。
3．测量光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗参数。
二．实验原理光隔离器又称为光单向器，是一种光非互易传输无源器件，该器件用来消除或抑制光纤信道中产生的反向光，由于这类反向光的存在，导致光路系统间将产生自耦合效应，使激光器的工作变得不稳定和产生系统反射噪声，使光纤链路上的光放大器发生变化和产生自激励，造成整个光纤通信系统无法正常工作。
若在半导体激光器输出端和光放大器输入或输出端连接上光隔离器，减小反射光对LD的影响，因此，光隔离器是高码速光纤通信系统、精密光纤传感器等高技术领域必不可少的元器件之一。
光隔离器是利用了磁光晶体的法拉第效应，其组成元件有：光纤准直器（Optical Fiber Collimator）、法拉第旋转器（Faraday Rotator）和偏振器（Polarizator）。
隔离器按照偏振特性来分，有偏振相关型和偏振无关型。
它们的原理图如图1.1和图1.2所示：图1.1 偏振相关的光隔离器图1.2 偏振无关的光隔离器对于偏振相关光隔离器，光通过法拉第旋转器时，在磁场作用下，光偏振方向旋转角为FHL =φ，式中H 为磁场强度，L 为法拉第材料长度，F 为材料的贾尔德系数。
如图1.1，当输入光通过垂直偏振起偏器后，成为垂直偏振光，经过法拉第旋转器旋转了045，而检偏器偏振方向和起偏器偏振方向成045角，使得光线顺利通过，而反射回来的偏振光经过检偏器、法拉第旋转器以后，继续沿同一方向旋转045，即偏振方向刚好与起偏器偏振方向垂直，则光无法反向通过。
由于只有垂直偏振的光能通过光隔离器，因此称为偏振相关光隔离器。
偏振无关光隔离器如图1.2所示，图1.2(a)为光隔离器正向输入。
当包含两个正交偏振的输入光波被一个偏振分束器分离，变为垂直偏振光和平行偏振光。
25ge的光模块 插损 回损
25ge的光模块插损回损（原创版）目录1.25GE 光模块的概述2.插损的定义及其在光模块中的应用3.回损的定义及其在光模块中的应用4.25GE 光模块的插损和回损测试方法5.结论正文一、25GE 光模块的概述25GE 光模块是一种高速率、长距离的光纤通信模块，其传输速率达到 25Gbps，广泛应用于数据中心、云计算、高清视频传输等领域。
25GE 光模块采用了先进的光通信技术，如 VCSEL（垂直腔面发射激光器）和 PAM4（脉冲幅度调制）等，使得其在高速率、长距离传输方面具有较高的性能。
二、插损的定义及其在光模块中的应用插损（Insertion Loss）是指在光纤通信系统中，由于光纤接头、光模块等组件的插入而导致的信号衰减。
在 25GE 光模块中，插损是一个重要的性能指标，会影响到系统的传输距离和信噪比。
插损的测量通常采用背向反射法，通过测量输入和输出端的光功率差来计算插损。
三、回损的定义及其在光模块中的应用回损（Return Loss）是指在光纤通信系统中，由于光纤接头、光模块等组件的反射而导致的信号衰减。
回损对于光模块的性能同样具有重要影响，过高的回损会导致系统信噪比下降，影响传输质量。
回损的测量通常采用插入损耗法，通过测量输入端和输出端的光功率差来计算回损。
四、25GE 光模块的插损和回损测试方法对于 25GE 光模块的插损和回损测试，通常采用网络分析仪或光谱分析仪进行。
测试过程中，需要将光模块接入测试设备，并通过调整测试设备和光模块的接口，使其处于最佳的连接状态。
然后，分别测量输入端和输出端的光功率，并计算插损和回损。
五、结论25GE 光模块的插损和回损是衡量其性能的重要指标，对于保证光纤通信系统的稳定性和可靠性具有重要作用。
gh3000a型光插回损测试仪工作原理
G&H3000A型回损仪测试原理分析引言:随着光纤通信的发展，高速光纤传输系统的广泛生产和应用（如SDH、大功率CATV 等），必须具有很高的回波损耗，DFB激光器由于其线宽窄，输出特性很容易受回波损耗的影响。
从而严重影响系统的性能，即使是普通的激光器，也会不同程度地受回波损耗的影响，因此，系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。
关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1．回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时，总有部分光被反射回来，光器件中回波主要由菲涅尔反射（由于折射率变化引起）、后向瑞利散射（杂质微粒引起）以及方向性等因素产生的，则该器件的回波损耗RL为：RL(dB)=－10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OTDR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布，且不需要末端匹配（短光纤仍需匹配），但成本高，重要的是某些场合不能使用（例如：光探测器的回波损耗测试等），如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-3 01型回波损耗测试仪。
光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计，简单实用，应用范围广，使用时须进行末端匹配。
本文主要介绍光功率计法测试的原理。
光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下：图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步：a．测试端连接校准件测出反射功率值Pref，若光源输出功率为PL，光模块衰减系数为k,校准件反射率为Rref，则：Prel = PL.k.Rref +Pp (2)其中，Pp为附加反射功率（指光模块内部及测试端连接器的反射等）b．测出附加反射功率Pp：将测试端进行匹配，使得测试端反射功率为0，即可测出附加反射功率Pp。
c．测试端连接被测器件,测出反射值PmeasPmeas = ( PL×k) R被测+Pp (3)R被测为被测器件反射率。
《插回损测试仪》word版
插回损测试仪1、概述------------------22、技术指标--------------33、组成------------------44、功能说明--------------45、使用说明--------------56、维护及保养-----------157、质量保证-------------151 / 11．概述YW-B330i插回损测试仪是玉炜科技集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验，并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求，潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。
它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。
YW-B330i实现光源模块与光功率计模块的波长联动，有效减少操作步骤，还可以对损耗测量设定限定值，不同颜色显示测试数据，一目了然。
是光通信系统研究、开发和生产、维护等部门必备的基本测试仪器，也是光器件性能指标、光纤光缆及光无源器件性能测试的理想测试工具。
2.技术指标3．组成1.YW-B330i插回损测试仪----------------------1台2.操作说明书--------------------------------------1本3.FC/SC/ST/2.5通用/1.25通用接口--------1套4.保险丝（1A）-----------------------------------2只5.电源线（250V10A）----------------------------1根6.清洁棉签------------------------------------------1包4．功能说明按键说明标识 功能 λ 更改测试波长 Ref 测试插损时光源归零 BL 测试回损时归零 dBm/dB 切换功率显示单位 Set 进行损耗限定值设定 +损耗限定值设定时数字加操作光源输出口（单模）FCAPC 光源输出口（多模） FC-UPC测试接口插损显示回损显示-损耗限定值设定时数字减操作Enter损耗限定值设定时确认操作5．使用说明(1)选择标准跳线（下面简称标线）。
插回损仪作业指导书
1 目的规范使用测试设备，准确测试产品数据。
2 适用范围适用于本公司生产的各种规格型号的光纤活动连接器或光分路器的插入、回波损耗测试。
3 职责操作者负责依照作业指导文件进行操作并执行。
测试员工负责确保测试数据的准确性。
测试工程师负责测试设备的异常处理及改良测试方法。
4 具体操作程序4.1 测试准备4.1.1开启设备仪器，为确保测试准确性及光功率稳定，设备须开启待机状态15分钟后再进行测试；4.1.2测试前须检查确认测量标线插损值是否合格，端面检测仪检测端面是否洁净及划痕等。
4.1.3标线须3D测试是否符合标准，标线顶点偏移、曲率半径、光纤凹凸性、角度（APC）标准如下；4.1.4适配器须测量插损是否在使用合格标准范围内，适配器套筒内是否有脏污、灰尘等，若有及时用专业棉签沾湿酒精清洁。
适配器清洁按照适配器清洁方法进行操作。
4.1.5 在进行测试前，要对连接器柱面和端面进行清洗，测试时将被测端接入适配器，要注意一次推到位，然后再慢慢的拧紧耦合螺母或推入插头到相应适配器，同时要观察仪表显示的数据有无较大幅度的变化，如果有则表示耦合部位有污迹，必须清洗。
其次，不能强行拧紧螺母或花大力气推入插头，否则会损伤连接头端面，给后续测试带来不便。
4.2 回波损耗归零按Laser键切换光源波长，把标线的始端接到光源输出接口，用缠绕棒缠绕标线的另一端（即末端），此时回损通道光功率值应该在-65dBm到-70dBm之间，再按Zero键直到回损窗口显示-00-后方可松开按键。
如果测量双波长，按Laser键切换光源波长，再按下Zero键。
如图1所示：标准测试线图1 回波损耗归零注1:缠绕棒建议使用直径约3到5毫米圆棒，缠绕圈数最少5圈。
4.3 回波损耗标定把缠绕的标线松开，让标线线型舒展。
把标线的末端插入光功率计接口，按Ref键。
如果测量双波长，按Laser键切换光源波长，再按下Ref键。
如图2所示：标准测试线图2 回波损耗标定4.4 回波损耗测量把标准跳线连接到被测器件，被测器件的另外一端按照图3 缠绕4~5圈，此时RL 屏幕中间的数值即为该器件对应波长的回波损耗值。
插回损中文说明书(USB)综述
目录1、概述-----------------------------------22、技术指标-------------------------------33、组成-----------------------------------44、功能说明-------------------------------45、使用说明-------------------------------66、测量数据记录---------------------------87、注意事项和常见故障----------------------98、维护及保养-----------------------------119、质量保证------------------------------121．概述插回损测试仪是集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验，充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求，精心研制开发出来的一款精密光检测仪表。
它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护基本的测试仪器。
（一）特点(1)测试精度高通过内置高稳定的激光器，最先进的微电子技术和光检测设备，结合软件技术，使得仪器输出功率稳定、检测速度快、测试范围广。
(2)波长自动同步设定在回损模式下，光源与功率计波长同步切换，不需分别设定波长。
功率计模式时，可另行单独设定功率计测试波长。
(3)多种工作模式该测试仪表集成了回波损耗测试、光功率模块测试和插入损耗测试。
(4)操作简单方便回损/插损同步测量，无需按键切换。
回损/插损测试值分别在一台仪器上的两个液晶窗口同时显示，测试结果一目了然。
通过操作“Zero按键”。
和“Ref按键”程序会自动保存相应的校正数据，当仪器断电后再开机，被保存的数据立即生效不需要重复校准，简化测试过程。
(5)人体工学设计仪器采用高质量金属外壳，确保仪器性能不受生产环境下可能存在的电气干扰。
插回损测试仪测试原理 -回复
插回损测试仪测试原理-回复插回损测试仪是一种用来测试电子元器件或电路的损耗的设备。
它可以测量电路中能量的减少，并确定电路中损耗的位置和大小。
在本文中，我们将详细介绍插回损测试仪的工作原理，并逐步解释其如何进行准确的测试。
第一部分：插回损测试仪的概述插回损测试仪是一种用于测量电子元器件或电路中的损耗的仪器。
它通过将被测电路插入到测试仪的输入端和输出端之间，测量电路中的信号损耗。
插回损测试仪通常由一个信号发生器、一个功率计和一个频谱分析仪组成。
第二部分：插回损测试仪的工作原理插回损测试仪的工作原理基于以下两个基本原则：功率传输和功率消耗。
1. 功率传输：当信号从发生器经过测试电路并进入功率计时，被测电路会对信号进行一定程度的干扰。
功率传输是通过测量输入信号和输出信号之间的差异来量化的。
2. 功率消耗：在通过被测电路时，信号的能量会被耗散或转化为其他形式，如热或噪音。
这种能量损耗可以通过测量被测电路输入和输出之间的信号强度来计算。
第三部分：插回损测试仪的测试步骤进行插回损测试时，需要按照以下步骤进行操作：1. 连接测试设备：首先，将测试仪器中的信号发生器与被测电路的输入端连接。
然后将功率计和频谱分析仪与被测电路的输出端连接。
2. 设置测试参数：根据被测电路的特性和测试要求，设置信号发生器的输出频率、幅度和波形。
同时，设置功率计和频谱分析仪的测量范围和分辨率。
3. 校准测试设备：在进行正式测试之前，必须校准测试仪器以确保准确的测量结果。
对测试设备进行校准时，参考测试仪器的用户手册，根据标准参考电路进行校准。
4. 进行测试：一旦测试仪器完成校准，即可开始进行实际的插回损测试。
在测试过程中，信号发生器会产生一个输入信号，经过被测电路后，输出信号将被功率计和频谱分析仪测量。
5. 记录和分析结果：对于每个测试点，记录输入信号的强度、被测电路的损耗以及输出信号的强度。
根据这些测量值，计算出被测电路的插回损耗，并将结果进行分析和比较。
插回损测试仪共15页文档
插回损测试仪1、概述------------------22、技术指标--------------33、组成------------------44、功能说明--------------45、使用说明--------------56、维护及保养-----------157、质量保证-------------15 1．概述YW-B330i插回损测试仪是玉炜科技集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验，并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求，潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。
它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。
第 1 页YW-B330i实现光源模块与光功率计模块的波长联动，有效减少操作步骤，还可以对损耗测量设定限定值，不同颜色显示测试数据，一目了然。
是光通信系统研究、开发和生产、维护等部门必备的基本测试仪器，也是光器件性能指标、光纤光缆及光无源器件性能测试的理想测试工具。
2.技术指标第 2 页3．组成1.YW-B330i插回损测试仪----------------------1台2.操作说明书--------------------------------------1本3.FC/SC/ST/2.5通用/1.25通用接口--------1套4.保险丝（1A）-----------------------------------2只5.电源线（250V10A）----------------------------1根6.清洁棉签------------------------------------------1包4．功能说明第 3 页第 4 页按键说明光源输出口（单模）FCAPC 光源输出口（多模） FC-UPC 测试接口插损显示回损显示5．使用说明(1)选择标准跳线（下面简称标线）。
插回损测量
1光器件的回损测量引言：随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多，骨干光纤通信带宽越来越大，光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂，光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著，人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。
光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了，早期的典型测试仪表如：JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。
这些测试仪表的共同特点是：测试方法采用标准的连 续光方法，即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法，测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射，测量回损的范围在 70dB 以下。
随着光纤通信技术的进步，测试仪 表也在发展，使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟，随着竞争产品的越来越多，这两种仪表都 早已停止生产。
使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制，如：测试步骤多，需要过程复杂的系统校“零”， 不能一次连接进行插损/回损的测试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损，只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。
另一方面，由于这些限制，在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量，如： 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒，特种光缆，MPO 接头等。
图 1：无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题，我们需要采用其他的回损测量方法，如 OTDR 法。
为了比较 OCWR 和OTDR 两种测量方法，让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。
1. 原理和测量方法1.1 回损的来源按照 IEC61300‐3‐6 的定义，回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。
23⎛ P ⎞ 即： RL = 10 ⋅ log ⎜ r⎜ ，回损的值是正的。
回损测量方法的比较
光回损测量方法的比较光回损测量有两种方法：OTDR法和OCWR法，这两种方法都是IEC61300-3-6建议的方法。
下面描述了两种方法的测量灵敏度差异和如何使用两种方法得到相同测试的结果。
OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometry) 回损测量法具有很长的历史，是最接近RL定义的测试方法，根据IEC61300-3-6的描述，OCWR法适合测量≤55dB的回损类型。
OTDR法由于使用方便，无需缠绕，可以测量更大动态范围（>55dB），测试速度快等优点受到更多欢迎。
在讨论任何RL测试结果前必须强调，适当的检查和清洁是取得准确测试结果的前提，连接问题是我们大多数时间得到得到异常结果的原因。
只有在恰当的连接下才能准确测量到RL，RL的值会由于每次连接时连接表面的微小变化而受到影响。
图1: JDSU 基于OTDR法的插回损仪表回损来源回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射光与入射光功率的比值。
对于所有的RL测量，对于所有测量方法，DUT长度的定义是关键。
举例如下：对于两种方法，长度或者光路径的定义不同，反射反射是由于光从一种介质进入另一种折射率不同的介质造成的。
菲涅尔现象描述了这种反射因此通常称为菲涅尔反射。
对于光接头，造成反射的原因是机械接头的空气气隙、中心对齐误差和污染造成的微小颗粒。
图1 是两个个光纤接头通过适配器连接，接头连接的地方产生了由于局部不连续引起的回损。
图 2 : 光纤接头的局部，连接处产生了菲涅尔反射散射光束在光纤中前向传播时，遇到光纤中的不连续点会产生散射，产生不连续点的可能是制作光纤材料的杂质、微小的空气气隙甚至机械拉伸。
散射有许多种，最常见的是瑞利散射，其强度与光波长的4次方成反比。
瑞利散射和菲涅尔反射的主要差别是瑞利散射存在于整个光路径上。
举例说明：普通的2米长SMF-28单模光纤的回损是 69 ~ 70dB. 当我们比较两种回损测量方法时这个特征对于我们的比较十分重要（1）。
插回损测试使用简易说明
插回损测试使用简易说明1.功能说明前面板说明（前面板图）1.内部光源波长值。
2.回损通道光功率值(单位: dBm)。
3.回损测量值(单位: dB)。
4.光源输出接口及防尘帽。
5. Laser: 激光器波长选择键6. Zero: 归零键，测量前回损值归零7. Ref: 标定键，校准回损参考值8. BL/Hold背光键: （背光选择，去除插损通道暗电流）9.Λ: 波长键(插损通道波长切换键)。
10.dB/w: 归零键。
(插损单位切换键。
长按dBw键约3秒可切换到w单位)。
11.光功率计接口及防尘帽。
12.插损测量值。
13.插损通道光功率值(单位: dBm)。
14.插损波长值。
15.插损显示区。
（右边）16.回损显示区。
（左边）一、测试前的清零、标定1.测量前，将光路回损标定。
（此步骤必须使用APC-PC的标线）(1)把标线APC端插入光源输出接口（左边），末端插入光功率计接口(右边)如下图(2)此时回损测量值显示应该是14.8dB，如果该值在14dB到17dB之间可以视为正常值。
由于系统与器件造成的误差，可以修正也可以不修正。
(3)修正：长按Ref键，则左屏中间行显示REF?，再按λ键确认，则左屏下方显示14.8，标定完成。
如果测量双波长，按Laser键切换光源波长进行标定。
2．测量前，将光路回损归零。
目的将标线末端之前的回损归零。
缠绕的目的是阻止光传输到标线的末端。
(1)按Laser键切换光源波长，把标线的APC端(即始端)接到光源输出接口。
(2)用缠绕棒（建议使用直径3到5mm圆棒）缠绕标线的另一端(即末端），密绕5圈。
(3)此时回损通道光功率值(左边第二行)，应该在-60dBm到-70dBm之间。
(4)按Zero键。
回损屏显示如下图（如果测量双波长，按Laser键切换光源波长，再按下Zero键）。
（如下图）(5)按REF，显示EEE1，再按REF，则回损屏幕显示如下。
回损清零完成。
3.测量前光路插损归零。
插回损测试仪测试原理
插回损测试仪测试原理插回损测试仪是一种用于测量光纤连接的损耗的仪器。
它通过将光纤连接到测试仪上，并发送光信号通过光纤，然后测量信号在传输过程中的损耗情况。
插回损测试仪的工作原理如下：1. 光源发射光信号：插回损测试仪通常配备有一种光源，如激光二极管或发光二极管。
这个光源会发射出一束光信号，然后将其注入到光纤中。
2. 光纤传输信号：光信号会沿着被测试的光纤传输。
在传输过程中，光信号会遇到各种因素导致的损耗，如光纤的材料损耗、弯曲损耗、接头损耗等。
3. 接收器接收光信号：插回损测试仪通常还配备有一个接收器，用于接收光信号。
接收器会将接收到的光信号转换为电信号，并对其进行放大和处理。
4. 计算损耗值：通过比较发送的光信号和接收到的光信号，插回损测试仪可以计算出信号在传输过程中的损耗值。
一般来说，损耗值以分贝（dB）为单位表示。
插回损测试仪的工作原理可以通过以下实例来说明：假设我们需要测试一段长度为10公里的单模光纤的插回损。
我们首先将光纤的一端连接到插回损测试仪的光源输出端口，然后将光纤的另一端连接到插回损测试仪的接收器输入端口。
插回损测试仪会发射光信号，并将其注入到光纤中。
光信号会在光纤中传输，并在传输过程中遇到损耗。
这些损耗可能是由于光纤的材料损耗、弯曲损耗、接头损耗等因素引起的。
接收器会接收到光信号，并将其转换为电信号。
然后，插回损测试仪会对接收到的电信号进行放大和处理。
通过比较发送的光信号和接收到的光信号，插回损测试仪可以计算出信号在传输过程中的损耗值。
损耗值通常以分贝（dB）为单位表示。
例如，如果发送的光信号功率为-10 dBm，接收到的光信号功率为-20 dBm，则插回损为10 dB。
插回损测试仪的工作原理非常重要，因为它可以帮助我们评估光纤连接的质量。
通过测量插回损，我们可以判断光纤连接是否合格，是否需要进行修复或更换。
此外，插回损测试还可以帮助我们检测光纤连接中的问题，如接头松动、光纤断裂等。
纽飞博插回损测试仪说明书
纽飞博插回损测试仪说明书引言：纽飞博插回损测试仪是一种用于测试插座回弹性能的专业仪器。
本说明书将详细介绍该测试仪的使用方法、技术参数以及注意事项，以帮助用户正确、安全地操作和维护此设备。
1. 产品概述纽飞博插回损测试仪是一种用于测试插座回弹性能的仪器。
它采用先进的传感器和控制技术，能够精确测量插座插拔过程中的回弹力度和次数，以评估插座的耐久性和可靠性。
2. 技术参数（1）测试范围：插拔次数、回弹力度（2）测试速度：可调节，范围为1次/秒至10次/秒（3）力度测量范围：0至100N（4）精度：±1%（5）显示方式：液晶显示屏（6）电源供应：AC220V，50Hz（7）外观尺寸：400mm×300mm×200mm（8）重量：约10kg3. 使用方法（1）接通电源并确保仪器处于待机状态。
（2）选择要测试的插座类型，并将其插入测试仓中。
（3）根据需要调节测试速度。
（4）按下开始测试按钮，仪器将开始进行插拔测试。
（5）测试结束后，仪器将自动显示插拔次数和回弹力度。
4. 注意事项（1）在进行测试之前，确保插座和测试仓表面清洁，并无杂质。
（2）在操作仪器时，应穿戴好防静电手套，以防止静电对测试结果的影响。
（3）在测试过程中，应注意观察仪器的工作状态，如发现异常应立即停止测试并排除故障。
（4）仪器应定期进行校准和维护，以保证测试结果的准确性和稳定性。
（5）禁止将有腐蚀性或导电性的液体或物质接触到仪器，以免损坏设备。
5. 常见问题解答（1）问：仪器显示异常，怎么办？答：首先检查仪器的电源是否接通，如果接通请尝试重新启动仪器。
如果问题仍然存在，请联系售后服务人员进行维修。
（2）问：仪器测试结果不准确，可能是什么原因？答：可能是仪器需要进行校准，或者测试过程中出现了故障。
请按照说明书进行校准操作，如果问题仍然存在，请联系售后服务人员进行维修。
结论：纽飞博插回损测试仪是一款功能强大、易于操作的测试仪器，可用于评估插座的耐久性和可靠性。
光纤跳线插入损耗回波损耗的测试方法
光纤跳线插入损耗回波损耗的测试方法尾纤尾纤：英文名称pigtail，指只有一端有连接器的光纤或光缆。
光跳线跳线：北美的英文名称常称作jumper，欧洲常称作cord，指两端都有连接器的光纤或光缆，有的有分支。
分支缆分支缆：英文名称为branch cord，指一端为一个连接器另一端有多个连接器的光跳线。
尾纤组件尾纤组件：英文名称pigtail assembly，指两条尾纤有连接器的那端通过一个适配器连接起来形成的组合。
光跳线组件跳线组件：jumper cable assembly尾纤和光跳线分为下面三种形态，并以此为基础，分别说明其各项技术指标要求，其它特殊形态(如圆形连接器等)的尾纤或光跳线由具体的技术规格书单独说明。
测试仪器测试用光功率计的光源(S)和光检测器(D)必须符合IEC 61300-3-4的要求。
插入损耗的测试方法采用标准IEC 61300-3-4 Part 5.4.5 Insertion method (B) with direct coupling to power meter规定的方法，即插入法(B)。
插入损耗测试仪器的测试精度不低于0.03dB，显示精度不低于0.01dB。
光跳线的插入损耗测试尾纤的插入损耗测试1.4 光连接器的插入损耗测试参照尾纤的插入损耗测试方法测试A端连接器的插入损耗，调转被测光跳线的方向，测试B端连接器的插入损耗。
注意，插入损耗的测试2 回波损耗的测试方法2.1 测试仪器光跳线和尾纤的回波损耗测试，既可采用基于OTDR(后向散射)原理的免缠绕回波损耗测试仪，也可采用基于OCWR原理的回波损耗测试仪。
采用OTDR原理的方法测试时，须特别关注以下几个方面：1）仪器的设置：不要把被测件的总插入损耗与单端插入损耗混淆，不要把被测件的总回波损耗与单端回波损耗混淆。
2）测试标准线的长度：一般要求测试标准线的长度不小于3m，具体以各测试仪器的说明书为准。
3）被测线的长度：不同测试仪器对被测线的最小长度有要求，例如有的设备要求不能低于1.8m，当长度低于1.8m时，必须采用其它方法测试回波损耗，如缠绕法，具体以以各测试仪器的说明书为准。
插损回损仪说明书(双屏幕)中文
ORL-3.1 光纤插损回损测试仪主要特点如下： l LCD 直接显示测试参数和数据 l 插损分辨率 0.01dB l 回波损耗测量范围达 73dB l 专业通用连接头，适配 FC、ST、SC、LC 各型跳线 l 可选工作波长 1310/1550nm l 定标简单，测量便捷
产品型号 ： 产品序列号： 购买日期 ： 用户名称 ： 电 话： 地 址： 邮政编码 ： 盖 章：
产品保修卡
传 真： E—mail：
（请保留此联，剪下下联并在此基础上寄出） （请沿虚线剪下并寄回本公司）
产品型号 ： 产品序列号： 购买日期 ： 用户名称 ： 电 话： 地 址： 邮政编码 ：
传 真： E—mail：
5.1 插入损耗测量………………………………………………………7 5.2 回波损耗测量………………………………………………………7 六、跳线测量………………………………………………………………8 七、注意事项………………………………………………………………10 八、使用维护………………………………………………………………10 九、保修须知………………………………………………………………11
SC/APC SC/APC
SC/APC
过渡跳线 FC-SC 转换器 标准跳线 标准 SC-SC 适配器 被测跳线 图 10：SC/APC 跳线的测量连接
在测量的过程中，也可以选择使用特殊的 FC/APC-SC/APC 特殊转接跳线 代替图 10 中的过渡跳线和 FC-SC 转换器，然后选择相应标准跳线测量。
④ 、Hold 保持回损测量结果（方便做记录）。
⑤ 、λ
免缠绕式光插回损测试仪校准规范建议书
附件:电子行业计量技术规范项目建议书光时域反射法是一种基于光脉冲反射的测试技术，测量示意图如图2所示：距离图2光时域反射法基于光时域反射的回波损耗测量仪不仅可以准确定位到被测件的位置，还具备很多优点如：光路上非被测件的反射对其测量结果影响较小，有较高的动态范围，不需要末端缠绕，可以区分瑞利散射和菲涅尔反射和与光开关一起能实现大规模复杂的测试要求等。
使用OCWR方法测量回损存在很多的限制，比如：测试步骤多,需要过程复杂的系统校“零”，不能一次连接进行插损和回损的测试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射，不适合＞55dB以上的回损测量等等。
由于这些限制使得OCWR方法不适合一些特定场景的回损测量，如：无法弯曲和不能破坏接头的光缆接头盒，特种光缆和MPo光纤等。
1.适用范围本规范适用于基于光时域反射技术的免缠绕式光插回损测试仪的计量校准。
2.计量特性典型的免缠绕式光插回损测试仪的外观及指标：(1)制造厂：嘉慧、型号：JW8307A：范围和主要计量特性(2)制造厂：Dimension>型号：R1M1112A-1FA/R1M5156A-1FP：(3)制造厂：OPTOTEST、型号：OP940：Return1ossSourceWaveIengthCaM)rx∙dMeasurementRang e[MeasurementUnejrityBIOnm.155Onm1490nm∙.1625nm∙.IOdBto-SOdBt1dB(∙12d8to∙72dB)850nm,1»0nm40dBto∙⅞8dβt1dBH0dBto∙45<JB)upto2S00meters1.7meters(bothref1ections<∙4SdB)Ma∩dre1-ffeeminimumIdbwnee∙fΠXor⅜Insertion1ossD⅛uncttony__________,Xor wgftcħan∩f∣tyτwfm.∙∙0wrJΛot√4法a mar changt o/rc∙∙∙Rx1.2.0v*dΛτwn参考典型仪器及标准中免缠绕式光插回损测试仪的技术要求，计量特性如下：2.1插入损耗波长范围：单模131Onm、1490nm>155Onm和1625I1m；多模850nm和1300nm;插入损耗测量范围：(0〜60)dB;最大允许误差：(0〜1)dB：÷0.05dB,(1〜5)dB：±0.1OdB,>5dB：±0.20dB;2.2回波损耗波长范围：单模131Onm、1490nm>155Onm和1625nm;多模850nm和1300nm;回波损耗：单模(12〜75)dB,多模(10〜55)dB;最大允许误差：单模(12〜70)dB:÷1dB,(70〜75)：+2dB;多模(15〜50)dB:÷1dB,(50〜55)：±2dBo2.3长度测量范围：3m~2.5km;最大允许误差：±(1.5m+1%x长度)。
插损测量方法
插损测量方法嘿，你有没有想过，在电子设备的世界里，有一个很重要的概念叫插损呢？插损就像是一个小怪兽，藏在电路里偷偷吃掉信号的能量。
那我们怎么才能抓住这个小怪兽，知道它到底吃掉了多少能量呢？这就需要用到插损测量方法啦。
我有个朋友叫小李，他是个电子设备维修的小能手。
有一次，他在捣鼓一个信号传输有点问题的设备。
他就怀疑是插损太大了。
他跟我说：“哎呀，这信号传着传着就弱了，肯定是插损在捣乱。
可怎么测量这个插损呢？”我就给他讲起了一些常见的插损测量方法。
一种方法就像是用一把尺子去量东西一样直接。
我们可以用网络分析仪。
这网络分析仪就像是一个超级侦探，能把电路里的信号情况摸得一清二楚。
把要测量插损的设备接进网络分析仪里，它就能给你显示出输入信号和输出信号的各种参数。
这输入信号就像是满电的电池，输出信号就像是用过一会儿的电池，插损就是这中间损失的电量。
网络分析仪通过比较输入和输出信号的功率，就能准确地算出插损的值了。
小李听了就说：“哇塞，这么神奇呢！这就像是给电路做个体检一样。
”还有一种方法就比较简单粗暴啦，不过也很实用。
那就是用功率计。
功率计呢，就像是一个只看能量多少的小眼睛。
先测量输入信号的功率，记下来。
然后再测量输出信号的功率。
这就好比你先称一下一个装满水的桶有多重，再称一下倒了一部分水之后的桶有多重。
两者一减，就能知道倒出去多少水了，在电路里，就是插损是多少了。
小李这时候眼睛一亮说：“哦，我懂了，这就像数钱一样，先看看自己有多少钱，花了一些之后再看看还剩多少钱，差值就是花掉的钱，在这里就是插损啦。
”那插损测量是不是就这么简单呢？其实也不是啦。
有时候电路里会有各种干扰，就像马路上有很多噪音一样。
这些干扰会影响我们测量的准确性。
这时候怎么办呢？我们就得像给耳朵戴上耳塞一样，给测量设备加上屏蔽。
屏蔽就像是一个保护罩，把那些干扰都挡在外面，让测量的数据更准确。
我又给小李讲起了校准的重要性。
我跟他说：“你看啊，要是你测量的尺子本身就不准，那量出来的东西能准吗？”他连连点头。
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1光器件的回损测量引言：随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多，骨干光纤通信带宽越来越大，光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂，光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著，人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。
光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了，早期的典型测试仪表如：JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。
这些测试仪表的共同特点是：测试方法采用标准的连 续光方法，即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法，测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射，测量回损的范围在 70dB 以下。
随着光纤通信技术的进步，测试仪 表也在发展，使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟，随着竞争产品的越来越多，这两种仪表都 早已停止生产。
使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制，如：测试步骤多，需要过程复杂的系统校“零”， 不能一次连接进行插损/回损的测试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损，只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。
另一方面，由于这些限制，在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量，如： 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒，特种光缆，MPO 接头等。
图 1：无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题，我们需要采用其他的回损测量方法，如 OTDR 法。
为了比较 OCWR 和OTDR 两种测量方法，让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。
1. 原理和测量方法1.1 回损的来源按照 IEC61300‐3‐6 的定义，回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。
23⎛ P ⎞ 即： RL = 10 ⋅ log ⎜ r⎜ ，回损的值是正的。
⎝ P i ⎠对于不同的回损测量方法来说，定义被测光路的长度都是关键。
我们知道，光路上的反射光包含菲涅尔反射和瑞利散射，1.1.1 菲涅尔反射反射是由于光从一种介质进入另一种折射率不同的介质造成的。
菲涅尔现象描述了这种反射 因此通常称为菲涅尔反射。
对于光接头，造成反射的原因是机械接头的空气气隙、中心对齐误差 和污染造成的微小颗粒。
图 1 是两个个光纤接头通过适配器连接，接头连接的地方产生了由于局 部不连续引起的回损。
1.1.2 瑞利散射图 1 : 光纤接头的局部，连接处产生了菲涅尔反射光束在光纤中前向传播时，遇到光纤中的不连续点会产生散射，产生不连续点的可能是制作 光纤材料的杂质、微小的空气气隙甚至机械拉伸。
散射有许多种，最常见的是瑞利散射，其强度 与光波长的 4 次方成反比。
瑞利散射和菲涅尔反射的主要差别是瑞利散射存在于整个光路上而菲 涅尔反射只在产生反射的那一点上。
瑞利散射发散到各个方向，其中反射到入射端的部分称为后向散射。
举例说明：普通的 2 米 长康宁 SMF ‐28 单模光纤由于后向散射产生的回损是 69 ~ 70dB ，当我们引入测试跳纤测量回损，但却不能区分瑞利散射和 DUT 反射时，这个特征就成了我们测量的限制因素[注1]。
图 2: 光束在纤芯中传播时，遇到不连续点和拉伸会产生回损1.2 回损的测量方法IEC61300‐3‐6 建议了 4 种回损的测量方法：4测量方法 原理适用范围特点缺点OCWR直接测量入射光和 反射光，计算出结 果，不受适用于单、多模光纤 最接近回损的定义操作复杂，测试精度易受操作影响， 不能区分区分菲涅 尔反射和瑞利后向 散射OTDR测量光路上某一点 的反射，有较高的 空间分辨率，动态 范围达到 75dB 以 上适用于单、多模光纤，光路长度 较长的测量，如 现场测量 可区分菲涅尔反射和瑞利后向散 射，测试效率高有测试盲区，不适合光路太短的测量OLCR低相干反射技术单模光器件的反射分布具备超高空间分辨率，可测量超 低回损系统复杂，成本高OFDR时域测量，反向傅 立叶变换。
使用 KHz~1GHz 频率的 调制光，分辨率达 到厘米级别适用单模光器件的回损，动态范 围>70dB基本无盲区，空间分辨率高系统复杂，成本高下面我们主要讨论第一和第二种方法：OCWR 法和 OTDR 法，比较两种方法的测量差异和如 何使用两种方法得到准确的测试结果。
1.2.1 OCWR 法：OCWR 是最常用的光回损测量方法，通过简单比较无被测件接入时的发射光功率和接入被测 件后的反射光功率计算出回损值，一般来说，器件的插损和回损一样都是重要的测试指标，仪表 通常将插损和回损测量功能集成在一台仪表上，通常的插回损测量连接和测量步骤如下：图 3: OCWR 法为了准确到测量被测件的回损需要在连接被测件的前后进行人工缠绕5这种方法分 4 个步骤，如图 4，第一步：将仪表测试发光口直接连接到光功率端口进行插损归零 第二步：单独对测试跳纤进行回损归零，通常用缠绕法消除末端反射 第三步：接入 DUT(被测件,Device Under Test,下同) 测量插损 第四部：测量回损，同样要在 DUT 的末端用缠绕法消除额外反射。
除了采用缠绕法消除额外反射外，IEC 也提出的其他消除额外反射的方法： z 用同类光纤进行末端匹配；z 将测试光纤的尾端折弯，根据光纤类型的不同，要求的折弯角度也不一样，通常折弯的角度要大于 12°；z 光纤尾端加入很大的衰减，缠绕法是一个可行的方法，可将尾端的反射光衰减掉（这种方法不适合多模光纤）。
使用缠绕法测量时，缠绕点的位置决定了回损测量的长度或者光路径，如图 5：图 4: 测量路径长度是 OCWR 测量方法的关键，第一个缠绕点和第二个缠绕点的位置决定了测量区域的长度第一次测试跳纤归零的缠绕点和第二次测量回损时缠绕点之间的长度就是回损测量的光路长 度。
在很多情况下，这个光路长度对我们的测试结果有重大影响。
很明显，OCWR 法不能区分瑞利散射和菲涅尔反射，另外，在多数情况下 OCWR 法使用不超 过 1.5m 的测试跳纤，或者通常说的标准跳纤，由于我们消除测试跳纤中的瑞利散射光的对 DUT 反射光的影响，因此实际的测试结果中必然包含了测试跳纤的散射光，因此这样的测试可以得到的最大回损值是 70dB [注1]。
61.2.2 OTDR 法OTDR 测量回损的方法来源于大家熟悉的测量光纤长度和衰减的 OTDR ，但用于回损测量的 OTDR 校准方法不同于长度测量的 OTDR 。
OTDR 反射测量的参考点是被测段的前一点，这一点的 功率作为 RL 测量的入射功率。
图 6 是基本的测量设置。
图 5: OTDR 法测量图示 OTDR 法测量插回损只需要两个步骤，如图 6. 第一步：将仪表测试发光口直接连接到光功率端口进行插损归零 第二步：连接 DUT 后直接测量插回损由于 OTDR 法不需要消除末端的额外反射，因此相比 OCWR 法节约了两个需要缠绕的步骤， 具有更高的测试效率。
但与 OCWR 法一样，OTDR 法也需要定义回损测量的长度，准确定义测量长度是 OTDR 发取得理想测量结果的前提条件。
图 6: 软件设置 OTDR 法的测量区域另外，OTDR 法的一个显著优点是可以区分瑞利散射和菲涅尔反射，可以让用户自己选择测量 某个位置的回损，可以去除测试跳纤瑞利散射的影响，因此测量范围可以从 70dB 提高到 80dB 。
另外，由于插回损测试只需要一次连接，通过自动切换光开关的引入，OTDR 法的测量仪表可以 集成多路测量功能，更好地适应规模化生产的需要。
结束语：随着光纤通信技术的发展，传统的回损测量仪表和回损测量的方法已经不能适应大 规模、复杂的测量要求，采用 OTDR 法的插回损测试仪由于测试步骤简单，易于集成到自动化测 量系统中，可以更好地适应自动化、大规模测试的需求。
参考文献：[1] FIBRE OPTIC INTERCONNECTING DEVICES AND PASSIVE COMPONENTS BASIC TEST AND MEASUREMENT PROCEDURES，61300‐3‐6 IEC:2003[2] Return Loss Measurement in the Presence of Variable Insertion Loss Using Optical Frequency Domain Reflectometry，Stephen Kreger etc. Luna Technologies78相关产品：JDSU 基于 OTDR 法的插回损测试仪：MAP200，可集成单、多光纤的插回损测试模块、多通道 光开关、条码阅读器、打印机，光纤端面检查仪等必要模块和外设，组成高效的自动测量系统， 适合研发、规模生产的需要。
图 7: JDSU 基于 OTDR 法的插回损仪表仪表操作注意事项：在开始测试前必须强调，由于测试需要进行手动连接，而回损测量是测试非常微小的后向散 射和反射光，连接问题对测试结果的影响不容忽视。
连接前进行适当的连接光纤的端面检查和清 洁是取得准确测试结果的前提，根据经验，连接问题是我们大多数情况下到得到异常测试结果的 原因。
只有在恰当的连接下才能准确测量到回损值，并且测量得到的回损值会由于每次连接时连 接表面的微小变化而受到影响。
为了区分瑞利散射和菲涅尔反射， MAP200 测量回损时可以选择两种模式： zDiscreteMode(离散模式) 离散模式只测量菲涅尔反射，可以找到光路经上的单个反射峰，并根据该反射峰计算回损的值。
由于分辨率的限制，离散模式回损测量窗口的长度设置最小是 0.5m ，如果这个区域内有两个 以上的反射峰，测试结果只记录最大的那个反射点的回损。
在离散模式下，在 DUT 周围的改变测 试窗口的位置不影响测量结果。
z Integral Mode(积分模式)积分模式测量定义的窗口区域光路经上的所有的反射功率，跟 OCWR 法类似。
在连接器的回 损超过 60dB 的情况下，瑞利后向散射会影响测量结果。
由于分辨率的限制，积分模式的测试窗 口设置应该大于 1.5m 。
值得注意的是瑞利后向散射随着路径长度变大，如果在光路上移动一个固定长度的测试窗口， 回损的测试结果会有变化，变化范围会达到±0.5dB.9下面是一般测量的设置建议z 光连接器的测量对于光连接器，推荐选择“Discrete Mode”，用预先设定的默认测试条件。
这种测量消除了瑞 利散射的影响，测量到的是光连接器真正的 RL 值。
图 2: 光连接器测量时 ORL 的设置z 光纤跳纤，光无源器件和分布反射的测量 对于光纤跳纤、光无源器件和具备分布反射特性的被测器件，推荐使用“Integral Mode”模式并采用预先设定的默认测试条件。