材料分析方法92245

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材料材质分析方法

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材料材质分析方法材质分析(牌号鉴别)是通过仪器分析手段确定金属材料样品的成分及其比例后,对照分析结果和相应材料材质或牌号的标准要求,判定其是否符合标准要求的过程。

材质分析所用的仪器或方法有原子吸收光谱法、传统化学滴定分析法、碳硫分析仪、ICP-OES、X射线荧光光谱仪等。

一、原子吸收光谱法原子吸收光谱法(AAS),又称原子分光光度法,是基于待测元素的基态原子蒸汽对其特征谱线的吸收,由特征谱线的特征性和谱线被减弱的程度对待测元素进行定性定量分析的一种仪器分析的方法。

该法具有检出限低(火焰法可达μg/cm–3级)准确度高(火焰法相对误差小于1%),选择性好(即干扰少)分析速度快,应用范围广(火焰法可分析30多种/70多种元素,石墨炉法可分析70多种元素,氢化物发生法可分析11种元素)等优点。

二、化学滴定分析将一种已知其准确浓度的试剂溶液(称为标准溶液)滴加到被测物质的溶液中,直到化学反应完全时为止,然后根据所用试剂溶液的浓度和体积可以求得被测组分的含量,这种方法称为滴定分析法(或称容量分析法)。

滴定分析根据其反应类型的不同,可将其分为:1、酸碱滴定法:测各类酸碱的酸碱度和酸碱的含量;2、氧化还原滴定法:测具有氧化还原性的物质;3、络合滴定法:测金属离子的含量;4、沉淀滴定法:测卤素和银。

三、碳硫分析仪碳硫分析仪器可测定铸铁、球铁、生铁、不锈钢、普碳钢、合金钢、合金铸铁、各类矿石、有色金属中碳、硫、锰、磷、硅、镍、铬、钼、铜、钛、锌、钒、镁、稀土等元素的含量。

红外吸收法(红外碳硫分析仪)具有准确、快速、灵敏度高的特点,高低碳硫含量均使用,适用于分析精度要求较高的场合。

四、电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES /ICP-OES)原理:利用等离子体激发光源(ICP)使试样蒸发汽化,离解或分解为原子状态,原子可进一步电离成离子状态,原子及离子在光源中激发发光。

利用分光系统将光源发射的光分解为按波长排列的光谱,之后利用光电器件检测光谱,根据测定得到的光谱波长对试样进行定性分析,按发射光强度进行定量分析。

材料分析方法92245

材料分析方法92245

第一章X射线物理学基础1.连续X射线:从某一短波限λSWL开始,直至波长等于无穷大λ∞的一系列波长。

(这种谱用于X射线衍射分析的劳埃法)2.特征X射线:具有一定波长的特强X射线,叠加于连续X射线谱上。

(这种谱用于X射线衍射分析的德拜法)3.特征X射线的产生机理:X射线管中高速电子流轰击阳极,若管电压超过某一临界值,电子的动能足以将阳极中原子的____内层电子_____轰击出来.这种被激发的原子,在电子跃迁时会辐射光子.它们是一组能量一定的射线,构成___特征X射线__。

这种谱适用于X射线衍射分析的____德拜____法。

4.波长与强度成反比.5.当U/Uk=(3-5)Uk时,I特/I连获得最大值.(降低连续X射线,提高特征X射线的方法)6.荧光辐射:由入射X射线所激发出来的特征X射线.入射能量束的粒子与和物质原子中电子相互作用碰撞,当粒子能量足够大就能激出的内层电子,同时原子外层向内层空位跃迁,辐射出一定的特征荧光射线,被称为荧光辐射。

7.光电效应:当入射光子的能量等于或略大于吸收体原子某壳层电子的结合能时,此光子就很容易被电子吸收,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子,即光电子,原子则处于相应的激发态,这种原子被入射光子电离的现象即光电效应。

(应用于重元素的成分分析)8.俄歇效应:原子中一个K层电子被入射光子击出后,L层一个电子跃入K层填补空位,此时多余的能量不以辐射X光子的方式放出,而是另一个L层电子获得能量跃出吸收体,这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称俄歇效应。

(应用于表层轻元素的成分分析)9.相干散射:X射线与物质原子内层电子相撞,入射光子的能量全部转给相撞电子,在X射线电场作用下,产生强迫振动,电子成为新电磁波源,向四周辐射与入射光子等波长的电磁波。

10.非相干散射:入射线与束缚较弱的外层电子或自由电子作用,电子获一部分动能成为反冲电子,入射线失去部分能量,改变了波长,沿与入射方向成一定角度的方向辐射。

材料分析方法

材料分析方法
材料分析方法
2014-7-25
1. 绪论 1.1材料的组织结构与性能关系 组织结构决定性能是自然界永恒的规律, 材料的性能是由其内部的微观组织结构 所决定的,而材料的结构又同其成分及 形成条件密不可分。材料科学就是研究 材料的化学成分 — 组织结构 — 性能关系 的科学。
2014-7-25
1.2 材料的微观组织结构控制
2014-7-25
• 2.2.3 X射线荧光光谱 • 发展历史:1895年德国物理学家伦琴(Rontgen W) 发现X射线,1896年法国物理学家乔治(Georges S) 发现X射线荧光,20世纪40年代末,弗利德曼 (Freedman H)和伯克斯(Birks L)研制出波长色 散X射线荧光光谱仪。此后,X射线荧光光谱仪进入蓬 勃发展阶段。经过几代人努力,已经由单一的波长色 散X射线荧光光谱仪发展成拥有波长色散、能量色散、 全反射、同步辐射、质子X射线荧光光谱仪和X射线微 荧光分析仪等一个大家族。
2014-7-25
• 紫外—可见吸光光度法 • 原理:利用被测物质的分子对紫外—可见光具 有选择性吸收的特性进行物质鉴别。 • 特点:灵敏度高,适用于微量组分测定; • 准确度较高,相对误差2~5%; • 仪器设备简单、操作简便、快速、选择 性好。 • 应用广泛,可测定大多数无机物质及具 有共轭双键的有机化合物。
2014-7-25
• X射线管所产生的X射线光谱,称作原级X射线谱,一般由连续谱 和特征谱组成。连续谱与全色光相似,是具有连续的一系列波长 的X射线;特征X射线光谱同单色光相似,具有一定波长而不连续 的线状光谱,也称为单色X射线。 • 特征X射线的起源已经十分清楚,当一束高能粒子与相互作用, 如果其能量大于或等于原子某一轨道的结合能,则可将该轨道电 子逐出,产生一个空位,使原子处于激发态。然后,原子外层的 电子填入这一位置,同时发出一个特征X线光子。而对连续谱的 产生机制,目前还不十分清楚。但是其特点和规律性,以及谱的 强度分布数据已经得到国内外学者的论述和测定。 • 用X射线管辐照样品,是产生荧光X 射线的常用方法。荧光用X射 线管与衍射用X射线管是不同的。前者主要用连续谱,后者用特 征谱。

材料分析方法主要内容

材料分析方法主要内容

数字索引也称Hanawalt 索引,它采用组合法,将最强线 按照面间距的大小进行分组。当检索者完全没有待测样 品的物相或元素信息时,可以使用这种索引。
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第五章 物相分析及点阵参数精确测定
物相定性分析方法?
通过X射线衍仪获得待测试样各衍射峰的晶面间距d和衍 射峰相对强度I/I1后,物相鉴定可按以下步骤进行: 1. 从前反射区(2<90)中选取强度最大的三根衍射线, 并使其d值按强度递减的次序排列,再将其余线条按强度 递减顺序列于三强线之后。 2. 从Hanawalt索引中找到对应的d1(最强线面间距)组。 3. 按次强线的面间距d2找到接近的几行。在同一组中,各
替的过程称为俄歇效应,跃出的L层电子称俄歇电子,
其能量EKLL也具有吸收元素的特征能量。
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第一章 X射线物理学基础
由光电效应所造成的入射能量的消耗即为X射线的真吸
收。真吸收中除荧光辐射和俄歇效应外,还包括X射线
穿过物质时引起的热效应。 荧光X射线和俄歇电子都是物质化学成分的信号。荧光
效应通常用于重元素(Z>20)的成分分析,而俄歇效
7. 若待测样第三个d值在索引中找不到对应,说明该衍射花样 的最强线与次强线不属于同一物相,必须从待测花样中选取 下一根线作为次强线,并重复3~5的检索程序。 8. 当找到第一物相之后,可将其线条剔除,并将残留线条的强 度归一化,再按程序1~5检索其它物相。 26
第五章 物相分析及点阵参数精确测定
应则主要用于表层轻元素的成分分析。 单色X射线光源的获得方法:选择原子序比靶元素小 1~2的元素制成滤波片放置在光路上, 可吸收不需要 的辐射而得到基本单色的光源。
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第一章 X射线物理学基础
X射线在穿过物质后,有一部分偏离了原来的方向,发

材料分析方法(贺毅)

材料分析方法(贺毅)

材料分析⽅法(贺毅)X射线:波长很短的电磁波特征X射线:是具有特定波长的X射线,也称单⾊X射线。

连续X射线:是具有连续变化波长的X射线,也称多⾊X射线。

荧光X射线:当⼊射的X射线光量⼦的能量⾜够⼤时,可以将原⼦内层电⼦击出,被打掉了内层的受激原⼦将发⽣外层电⼦向内层跃迁的过程,同时辐射出波长严格⼀定的特征X射线⼆次特征辐射:利⽤X射线激发作⽤⽽产⽣的新的特征谱线Ka辐射:电⼦由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线相⼲辐射:X射线通过物质时在⼊射电场的作⽤下,物质原⼦中的电⼦将被迫围绕其平衡位置振动,同时向四周辐射出与⼊射X射线波长相同的散射X射线,称之为经典散射。

由于散射波与⼊射波的频率或波长相同,位相差恒定,在同⼀⽅向上各散射波符合相⼲条件,称为相⼲散射⾮相⼲辐射:散射位相与⼊射波位相之间不存在固定关系,故这种散射是不相⼲的俄歇电⼦:原⼦中⼀个K层电⼦被激发出以后,L层的⼀个电⼦跃迁⼊K层填补空⽩,剩下的能量不是以辐射原⼦散射因⼦:为评价原⼦散射本领引⼊系数f (f≤E),称系数f为原⼦散射因⼦。

他是考虑了各个电⼦散射波的位相差之后原⼦中所有电⼦散射波合成的结果结构因⼦:定量表征原⼦排布以及原⼦种类对衍射强度影响规律的参数,即晶体结构对衍射强度的影响多重性因素:同⼀晶⾯族{ hkl}中的等同晶⾯数系统消光:原⼦在晶体中位置不同或种类不同引起某些⽅向上衍射线消失的现象吸收限:当⼊射X射线光⼦能量达到某⼀阈值可击出物质原⼦内层电⼦时,产⽣光电效应。

与此能量阈值相应的波长称为物质的吸收限。

分辨率:是指成像物体上能分辨出的两个物点的最⼩距离明场像:⽤另外的装置来移动物镜光阑,使得只有未散射的透射电⼦束通过他,其他衍射的电⼦束被光阑挡掉,由此得到的图像暗场像:或是只有衍射电⼦束通过物镜光阑,投射电⼦束被光阑挡掉,由此得到的图像景深:是指当成像时,像平⾯不动,在满⾜成像清晰的前提下,物平⾯沿轴线前后可移动的距离焦长:焦长是指物点固定不变(物距不变),在保持成像清晰的条件下,像平⾯沿透镜轴线可移动的距离。

材料分析方法

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物相分析物相:具有特定的结构和性能的物质状态。

物相分析:利用衍射分析方法测定晶格类型和晶胞常数,确定物质的相结构。

物相分析的手段:X射线衍射、电子衍射、中子衍射晶带:在晶体中平行于同一晶向的所有晶面的总体称为晶带,而这个晶向就称为此晶带的晶带轴。

电磁波与物质波的衍射理论X射线衍射产生的物理原因1)电子对X射线的散射2)原子对X射线的散射3)晶体对X射线的散射一个衍射花样具有两个方面的特征:衍射线束的方向由晶胞的形状、大小和位向及波长决定。

衍射线束的强度由晶胞中原子的种类、数目和位置及晶体的完整性和晶体的体积决定。

衍射产生的必要条件:布拉格定律或“选择反射”,即反射定律+布拉格方程是衍射产生的必要条件。

衍射产生的充分条件:结构因子不为零系统消光:由于原子在晶胞中的位置不同,造成某些晶面的F=0,使相关的衍射线消失,这种现象称为系统消光。

结构因子的定义X射线衍射XRDX射线的本质-电磁波(短波,高能)波粒二象性:波动性-射线在传播过程中发生干涉、衍射等现象微粒性-射线与其它物质相互作用,被看作光子流X射线产生的基本条件: X射线是高速运动的电子与某种物质相撞击后猝然减速。

三个基本条件:(1)产生自由电子(2)使自由电子高速运动(3)阻碍高速运动的电子X射线的强度:单位时间内通过垂直于X 射线传播方向的单位面积上的能量。

连续X射线产生:高速运动的电子撞到阳极时,其能量转化为:热能和光能(X射线)。

由于极大数量的电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同,而且还有多次碰撞,产生不同能量不同强度的光子序列,因而产生的X射线具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。

连续谱特点:I连续=kiZVm =kizVm(1)存在短波极限-仅与管电压有关;随着管电压的升高,短波极限向短波方向移动。

短波极限:极限情况下,极少数电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光子,这个光子具有最高能量和最短波长。

短波极限只与管压有关P68(2)连续X射线的总强度I-管电压V、管电流i、阳极材料的原子序数Z标识(特征)X射线产生:条件:管电压大于K系激发电压(VK)本质:原子内层电子的跃迁标识X射线的特点:因物质(靶材)一定,原子结构一定,两特定能级间的能量差一定,故辐射出的特征X 射线波长一定。

材料分析方法介绍(doc 14页)

材料分析方法介绍(doc 14页)

红外吸收光谱1 波长(λ) 相邻两个波峰或波谷之间的直线距离,单位为米(m )、厘米(cm )、微米(μm )、纳米(nm )。

这些单位之间的换算关系为1m =102cm =106μm =109nm 。

2 频率(v )单位时间内通过传播方向某一点的波峰或波谷的数目,即单位时间内电磁场振动的次数称为频率,单位为赫兹(Hz ,即s -1),频率和波长的关系为3 波数(σ)每厘米长度内所含的波长的数目,它是波长的倒数,即 σ =1 / λ ,波数单位常用cm -1来表示。

4 传播速度:辐射传播速度υ等于频率v 乘以波长λ,即υ=v λ。

在真空中辐射传播速度与频率无关,并达到最大数值,用c 表示,c 值准确测定为2.99792×1010cm/s5 周期T :相邻两个波峰或波谷通过空间某固定点所需要的时间间隔,单位为秒(s )。

红外光谱法的特点: (1)特征性高。

就像人的指纹一样,每一种化合物都有自己的特征红外光谱,所以把红外光谱分析形象的称为物质分子的“指纹”分析。

(2)应用范围广。

从气体、液体到固体,从无机化合物到有机化合物,从高分子到低分子都可用红外光谱法进行分析。

(3)用样量少,分析速度快,不破坏样品。

简正振动的数目称为振动自由度,每个振动自由度相应于红外光谱图上一个基频吸收峰。

每个原子在空间都有三个自由度,如果分子由n 个原子组成,其运动自由度就有3n 个,这3n 个运动自由度中,包括3个分子整体平动自由度,3个分子整体转动自由度,剩下的是分子的振动自由度。

对于非线性分子振动自由度为3n -6, 但对于线性分子,其振动自由度是3n -5。

例如水分子是非线性分子,其振动自由度=3×3-6=3.红外吸收光谱(Infrared absorption spectroscopy, IR )又称为分子振动—转动光谱。

当样品受到频率连续变化的红外光照射时,分子吸收了某些频率的辐射,并由其振动或转动运动引起偶极矩的净变化,产生分子振动和转动能级从基态到激发态的跃迁,使相应于这些吸收区域的透射光强度减弱。

材料分析方法

材料分析方法

X射线发生器 X射线测角仪 辐射探测器 辐射探测电路
工作原理
试样和探测器以角速度为1: 2变化,即θ-2 θ 扫描
接收到的衍射是那些与试 样表示平行的晶面产生的 衍射
衍射仪的光路图
聚焦圆
同一圆周上的同弧圆周角相等。 同一圆周上的同弧圆周角相等。
π − 2θ SO / 2 R / 2 cos = = OO ' r 2
X射线衍射方法
德拜法
德拜相机 试 样:多晶体 or 粉末 X射线:单色(固定波长)
三种底片装法的特点
1、正装法:常用于物相分析 正装法: 物相分析主要用前反射的几条强衍射线为依据 反装法: 2、反装法:常用于晶体点阵常数的测定 大角度衍射线对测量晶体点阵常数的误差小 偏装法: 3、偏装法:用于精确测量晶体点阵常数 可以计算由于底片的收缩造成误差
衍射花样测量和计算
首先得测量每一条衍射线的几何位置(2θ角)及其相 对强度,根据布拉格方程可以求出产生衍射的晶面面 间距d。如果样品晶体结构是已知的,则可以立即标定 每个线对的晶面指数 晶体结构是未知的,如立方晶系的话
sin 2 θ =
λ2
4a
2
(h
2
+ k2 + l2
)
X射线衍射仪: 射线衍射仪:
X射线物相分析
确定材料由哪些物相构成称之物相分析 确定各组成物相的相对含量。称物相定量分析 当对某种材料进行物相分析时,只要将实验结果与数据库 中的标准衍射花样图谱进行比对,就可以确定材料的物相
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物相定性分析方法
如待分析试样为单相,: 1 根据待测相的衍射数据,得出三强线的晶面间距值d1、 d2和d3(并估计它们的误差)。 2 根据最强线的面间距d1,在数字索引中找到所属的组, 再根据d2和d3找到其中的一行。 3 比较此行中的三条线,看其相对强度是否与被摄物质的 三强线基本一致。如d和I/I1都基本一致,则可初步断定 未知物质中含有卡片所载的这种物质。 4 根据索引中查找的卡片号,从卡片盒中找到所需的卡片。 5 将卡片上全部d和I/I1与未知物质的d和I/I1对比如果完 全吻合,则卡片上记载的物质,就是要鉴定的未知物质。

材料分析方法PPT课件

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f

k Ur (IN)2
电磁透镜放大倍数和焦距均易调节。 电磁透镜要注意有磁转角的问题。
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可编辑
电磁透镜
短线圈磁场中的电子运动 显示了电磁透镜聚焦成像 的基本原理。实际电磁透 镜中为了增强磁感应强度, 通常将线圈置于一个由软 磁材料(纯铁或低碳钢) 制成的具有内环形间隙的 壳子里(如图)。
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v可分解成
vr
和前vZ者,使其匀速圆周运
动,后者使其匀速直线运动,电子沿螺旋线运动。
如果磁场为非均匀磁场,可使电子作螺旋圆锥运动, 则可实现使电子波聚焦。
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可编辑
电磁透镜
电磁透镜:产生旋转对称非均匀磁 场的装置。
电磁透镜仍满足:
1+ 1 =1 L1 L2 f
M L2 L2 1 L1 f
n的介质中,v , c n
0
n
sin
v1
1
n2
sin
v2
2
n1
3
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光学透镜成像:光的折射是可见 光聚焦成像的基础。
薄透镜的性质: 通过透镜中心C的光线不发生
折射。 一束平行于主光轴的光通过透
镜后会聚于透镜另一侧的主光 轴上的某一点称焦点F。 前焦点处的光散射经透镜后变 成一束平行于主光轴的平行光。
1
可编辑
主要内容
1 光的折射和光学透镜成像 2 光的衍射与光学显微镜分辨本领理论极限 3 电子波长 4 电磁透镜 5 电磁透镜的像差及其对分辨率的影响 6 景深和焦长
2
可编辑
6-1 光的折射和光学透镜成像
光的折射:光在均匀介质 中直线传播,当从一介质 传播到另一介质时,因光 的传播速度随介质而变, 故光的传播方向在两介质 的分界面发生突变。光在 不同介质中其频率是恒定 不变的。

材料分析方法ppt课件

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R1 R 1 110
[001]
4
相机常数未知、晶体结构已知的衍射花样标定
测定各个斑点的R值(靠近中心的斑点,但不在一条直线
上),用附录校核各低指数晶面间距值之间的比值。
R12:R22:R32:…=N1:N2:N3:…
立方晶体
立方晶体中同一晶面组中各晶面的面间距相等。
h2 k 2 l 3 N a a d 2 2 2 N h k l 1 2 1 2 d , R 2 , R2 N N d 2 R12 : R2 : R32 : N1 : N 2 : N 3 :
考虑结构消光, 体心立方h+k+l=偶数产生衍射,2,4,6,8…; 面心立方全奇全偶才有衍射,3,4,8,11,12…
四方晶体
d 1
h2 k 2 l 2 2 2 a c 1 h2 k 2 l 2 2 2 2 d a c
根据消光条件,四方晶体L=0的晶面有衍射
2 R12 : R2 : R32 : M1 : M 2 : M 3 :
材料分析方法
4、测定个衍射斑点之间的夹角。
cos h1h2 k1k2 l1l2
2 2 2 (h12 k12 l12 )(h2 k2 l2 )
5、确定离开中心斑点最近衍射斑点 的指数。
h2k2l2 2
R2 000
h3k3l3 3
R4 h1k1l1 R1 1
4 h4k4l4
1. 测定低指数斑点的R值,在几个不同的方位摄取衍射花样, 保证测出前八个R值。 2. 根据R值,计算出各个d值。 3. 查ASTM卡片,与各d值相符的物相即为待测的晶体。
4. 卡片可能有几张,根据其它资料和化学成分排出不可能出

材料分析方法

材料分析方法

材料分析方法材料分析方法是指对材料进行分析和测试的一系列技术和方法。

在材料科学领域,材料分析方法是非常重要的,它可以帮助我们了解材料的性能、结构和成分,为材料的研发和应用提供重要的参考和支持。

本文将介绍几种常见的材料分析方法,包括光学显微镜分析、扫描电子显微镜分析、X射线衍射分析和热分析等。

光学显微镜分析是一种常见的材料分析方法,它通过对材料进行光学放大来观察材料的微观结构和表面形貌。

通过光学显微镜分析,我们可以观察材料的晶粒结构、晶界分布、孔隙结构等信息,从而了解材料的内部结构特征。

光学显微镜分析简单易行,成本较低,适用于对一般材料的表面和内部结构进行观察和分析。

扫描电子显微镜分析是一种高分辨率的材料分析方法,它通过扫描电子束与材料相互作用产生的信号来获取材料的表面形貌和微观结构信息。

扫描电子显微镜分析具有高分辨率、高放大倍数和成像清晰等优点,可以对材料的微观结构进行详细观察和分析,尤其适用于纳米材料、薄膜材料等微观结构复杂的材料分析。

X射线衍射分析是一种用于材料晶体结构分析的重要方法,它通过对材料衍射出的X射线进行分析,可以确定材料的晶体结构、晶格常数和晶体取向等信息。

X 射线衍射分析具有高分辨率、非破坏性、快速准确等优点,适用于对晶体材料的结构和性能进行研究和分析。

热分析是一种通过对材料在不同温度条件下的热响应进行分析的方法,包括热重分析、差热分析、热膨胀分析等。

热分析可以用于研究材料的热稳定性、热分解过程、热物性等信息,为材料的热性能和热应用提供重要的参考和支持。

综上所述,材料分析方法是材料科学研究的重要工具,不同的分析方法可以从不同的角度对材料进行观察和分析,为材料的研发和应用提供重要的技术支持。

在实际应用中,我们可以根据具体的材料性质和分析要求选择合适的分析方法,以获得准确、全面的材料分析结果。

材料分析方法-1-课件

材料分析方法-1-课件
X射线的穿透能力大,能穿透对可见光不透明的材料,特 别是波长在0.1nm以下的硬X射线
X射线照射到晶体物质时,将产生散射、干涉和衍射等现 象,与光线的绕射现象类似
X射线具有破坏杀死生物组织细胞的作用
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第二节 X射线的产生及X射线谱
连续X射线和特征X射线
图1-2 X射线管结构示意图
图1-2所示的X射线管是产生 X射线的装置
SWL和强度最大值对应的波长m减小 当管电流 i 增大时,各波长X射线的强度均提高,但SWL
和m保持不变
随阳极靶材的原子序数Z 增大,连续X射线谱的强度提高,
但SWL和m保持不变
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第二节 X射线的产生及X射线谱
一、连续X射线谱
连续谱强度分布曲线下的面积即为连续 X 射线谱的总 强度,其取决于X射线管U、i、Z 三个因素
不能给出所含元素的分布
10
绪论
四、X射线衍射与电子显微镜
1. X射线衍射(XRD, X-Ray Diffraction) XRD是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的 相组成、晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、 不同结构相的含量以及内应力的方法。
t-ZrO2 ZrSiO
4
Intensity
本教材主要内容
绪论 第一篇 材料X射线衍射分析
第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定
1
本教材主要内容
第二篇 材料电子显微分析
第八章 电子光学基础
第九章 透射电子显微镜
1895年德国物理学家伦琴发现了 X射线,随后医学界将其 用于诊断和医疗,后来又用于金属材料和机械零件的探伤

材料分析方法概述 ppt课件

材料分析方法概述  ppt课件
光谱分析方法包括各种吸收光谱分析和发射光谱分析法以及散射光谱分析以直流电弧交流电弧或高压火花等为信号激发源其能量使样品蒸发成气态原子并将气态原子外层电子激发至高能态处于激发态的原子向低能级跃迁产生辐射发射光谱产生的辐射经过分光仪器分光按波长顺序记录在感光板上从而获得了按谱线形式表达的样品发射光谱图
材料分析测试方法

材料现代分析、测试技术的发展,使得材 料分析不仅包括材料(整体的)成分、结构分 析,也包括材料表面与界面分析、微区分 析、形貌分析等许多内容.
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材料的元素成份分析 材料的物相结构分析 材料的表观形貌分析 材料的价态分析 材料的表面与界面分析 材料的热分析 材料的力学性能分析
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高能电子衍射分析: 入射电子能量为10—200 kev.高能电子衍射方 向和晶体样品中产生衍射晶面之晶面间距及电子 入射波长(A)的关系即电子衍射产生的必要条件也 由布拉格方程描述. 由于原子对电子的散射能力远高于其对x射线的散 射能力 ( 约高 10000倍以上 ) ,电子穿透能力差, 因而透射式高能电子衍射只适用于对薄层样品(薄 膜)的分析。 高能电子衍射的专用设备为电子衍 射仪,但随着透射电子显微镜的发展,电子衍射 分析多在透射电子显微镜上进行.与x射线衍射分 析相比,透射电子显微镜亡具有可实现样品选定 区域电子衍射 ( 选区电子衍射 ) 并可实现微区样品 结构(衍射)分析与形貌观察相对应的特点。
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1
第一章 必要性:
材料分析测试方法概述
1、加深理解以前所学课程的内容。 2、为以后进一步的研究打下一个好的 基础。 3、目前材料发展日新月异的需要。
pp程中基本概念的来源。 2、了解一些检测分析手段。 3、能对一些检测结果进行一般性分析。

材料方法-第五章

材料方法-第五章
将 d 值数列中强度最高的 三根线条(三强线)的面间 距d和相对强度 I 提到卡片首
位。
三强线:能准确反映物质特
征,受试验条件影响较小。
最大面间距(jiān jù)
③最大面间距:为可能测到的最大面间距。
三强线栏
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④ 物相化学式及英文名称: 化学式后数字及大写字母,以表示不同相。 其中:数字-单胞原子数,英文字母-点阵类型(lèixíng)
; I / Icor--最强衍射峰强度与刚玉最强峰的比强度。
试验(shìyàn)条件栏
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⑥ 晶体学数据:其中 Sys.--晶系;如:Cubic:立方晶系。 S.G.--空间群符号; a0、b0、c0--单胞点阵常数; A=a0 / b0,C= c0 / b0 --轴比; α、β、γ:--晶胞轴间夹角; Z:单胞中的原子数;化合物是指单胞中的分子数目。 Dx --根据(gēnjù)X射线测量的密度
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➢ 1941年,由美国材料试验(shìyàn)协会(ASTM)接管此工作,并 由粉末衍射标准联合委员会 (JCPDS)着手出版化合物的卡片 ,称为ASTM卡片。
➢ 后来,由美、英一些机构组成“粉末衍射法化学分析联合委员会” 主
持编辑,称为X射线衍射数据卡片及卡片索引。 ➢ 1957年,从第七组卡片始,改称X射线粉末数据文件及文件索引,并
➢ 金属材料:碳钢:为Fe-C合金,
更要了解在各种条件下,究竟是由哪些(nǎxiē)物相组成。 如:铁素体、渗碳体、奥氏体或其他物相?
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如:Al -Ti复合材料:有高温强度高、比重小、耐热等性能; 化学分析:Ti和Al元素; X射线(shèxiàn)衍射分析:可知TiAl,Ti3A1,TiAl3等中哪一化合物。 物质同素异构体:其他方法不能区分; 如:Al203各种结构已测定出就有14种以上。 可见:材料成分相同,在不同条件下,可由不同 “相” 组成,呈现出

材料分析方法

材料分析方法

材料分析方法材料分析方法是指对各种材料进行分析和测试的一系列技术和方法。

在材料科学领域,材料的分析是非常重要的,它可以帮助科研人员了解材料的结构、性能和组成,从而为材料的设计、制备和应用提供重要参考。

本文将介绍一些常见的材料分析方法,包括显微镜分析、X射线衍射分析、质谱分析、热分析等。

首先,显微镜分析是一种常见的材料分析方法,它可以帮助我们观察材料的微观结构。

通过显微镜,我们可以看到材料的表面形貌、晶体结构、晶粒大小等信息,从而了解材料的组织结构和形貌特征。

显微镜分析可以分为光学显微镜、电子显微镜和原子力显微镜等不同类型,每种类型都有其特定的应用范围和分辨率。

其次,X射线衍射分析是一种常用的材料分析方法,它可以帮助我们确定材料的晶体结构和晶体学参数。

通过X射线衍射,我们可以得到材料的晶格常数、晶面间距、晶体结构类型等信息,从而揭示材料的晶体结构特征。

X射线衍射分析在材料科学和固体物理领域有着广泛的应用,可以帮助科研人员研究材料的晶体学性质和晶体结构。

另外,质谱分析是一种重要的材料分析方法,它可以帮助我们确定材料的组成和分子结构。

通过质谱分析,我们可以得到材料中各种元素和化合物的质量比、相对分子质量、分子结构等信息,从而揭示材料的化学成分和结构特征。

质谱分析在有机化学、材料化学和生物化学等领域有着广泛的应用,可以帮助科研人员确定未知物质的组成和结构。

最后,热分析是一种常用的材料分析方法,它可以帮助我们研究材料的热性能和热行为。

通过热分析,我们可以得到材料的热重、热容、热导率、热膨胀系数等信息,从而了解材料的热性能和热行为特征。

热分析在材料科学和材料工程领域有着广泛的应用,可以帮助科研人员研究材料的热稳定性和热响应性能。

综上所述,材料分析方法是材料科学领域的重要内容,它可以帮助我们了解材料的结构、性能和组成,为材料的设计、制备和应用提供重要参考。

不同的材料分析方法有着不同的应用范围和分辨率,科研人员可以根据具体的研究目的和需求选择合适的分析方法进行研究。

第一章 材料分析测试方法 材料分析方法教学课件

第一章 材料分析测试方法 材料分析方法教学课件
μm=kλ3Z3 λ—X射线波长;Z—元素原子序数。
1.5 X射线衰减规律
右图为μm-λ曲线,突变
处为吸收限。如何解释曲
线?
μm
当λ↓↓,能打出K电子
形成K吸收,但由于λ太
短不易吸收,因此μm很 小;随着λ↑,K吸收程
λ
度提高,μm ↑。当λ=λK时,激发光电效应,引起强 烈吸收,产生荧光X射线,μm达到极大值;当λ稍大 于λK时,无法产生K吸收,且光子能量对于L吸收又 太大不易被吸收,μm达到极小值。
虽然k的低但是lk的跃迁几率比mk跃迁几率光子数目多最终使得k分析方法基本分析项目衍射仪法物相定量分析物相定性分析点阵常数测定一二三类应力测定晶粒度测定织构测定单晶定向非晶态结构分析照相法物相定性分析点阵常数测定丝织构测定单晶定向晶体对称性测定四周衍射仪单晶结构分析晶体学研究化学键测定方法基本分析项目与应用举例高能电子衍射分微区晶体结构分析与物相鉴定晶体取向分析晶体缺陷分析低能电子衍射分表面15个原子层结构分析表面吸附现象分析表面缺陷分析反射式高能电子衍射分析表面结构分析表面缺陷分析表面原子逐层生长过程分析典型应用
连 X射 X 续 射线 线管 总 K 功 i强 iVZ 2 率 度 V KVZ
1.3 X射线谱
1.3.2 特征X射线谱 ⒈含义:由一定波长的若干
X射线叠加在连续谱上构成, 也称单色X射线和标识X射 线。
▪ 当管电压超过某临界值时才
能激发出特征谱,如Mo靶, 当U管高于20Kv时才出现特 征峰,图所示。 U管=35Kv时,波长0.63埃和 0.71埃处出现特征峰。
1.5 X射线衰减规律
X射线通过物质时引起的强度 衰减与通过的距离成正比,即
IdII I
dII
dx

材料分析方法5

材料分析方法5

粉末衍射卡片的索引——(1)数字索引
数字索引(物相均为未知时用)。 以Hanawalt无机相数字索引为例,其编排方法为: 一个相一个条目,在索引中方一横行,其内容依次 为按强度递减顺序排列的八强线的晶相间距和相对 强度值、化学式、卡片编号、参比强度值 如 2.49x 2.898 2.51x 5.077 3.546 2.046 1.776 2.035
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粉末衍射卡片(PDF卡片)
1938年 哈那瓦特开创对各种已知物相衍射花样的规范化 工作,即将物相的衍射花样特征(位置与强度〕用d(晶面间 距〕和I(衍射线相对强度〕数据表达并制成相应的物相衍射 数据卡片。 1942年 美国材料试验协会(ASTM〕整理并约1300张 ASTM卡片 1969年 成立了国际性组织“ 粉末衍射联合会”JCPDS, 专门负责卡片的搜集、校订和编辑工作,出版“ 粉末衍射卡 片”(PDF卡片〕 1985年 已有卡片46000张 至 今 已成立相应的数据库。
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物相定量分析方法原理
I I0 e 32 r mc
3

2 2

2
V Vc
j 2
P F
2


1 2
e
2M
对于含n个物相的多相混合的材料,上述强度公式是其中 某一j相的一根衍射线条的强度。Vj是j相的体积,μ是多 相混合物的吸收系数。当j相的含量改变时,衍射强度随 之改变;吸收系数μ也随j相含量的改变而改变。上式中 其余各项的积Cj不变,是常数。若j相的体积分数为fj, 被照射体积V为1,Vj = Vfj = fj,则有: C f
一个相一个条目在索引中方一横行其内容依次为按强度递减顺序排列的八强线的晶相间距和相对强度值化学式卡片编号参比强度值249x289251x507kmncl3181034197e12索引按d值分组并d值大小递减排列每个条目按d1值决定它属于哪一组每组内按d2值递减顺序编排条目d2值相同的条目则按d3值递减顺序编排
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第一章X射线物理学基础1.连续X射线:从某一短波限SWL开始,直至波长等于无穷大的一系列波长。

(这种谱用于X射线衍射分析的劳埃法)2.特征X射线:具有一定波长的特强X射线,叠加于连续X射线谱上。

(这种谱用于X射线衍射分析的德拜法)3.特征X射线的产生机理:X射线管中高速电子流轰击阳极,若管电压超过某一临界值,电子的动能足以将阳极中原子的____内层电子_____轰击出来。

这种被激发的原子,在电子跃迁时会辐射光子。

它们是一组能量一定的射线,构成___特征X射线__。

这种谱适用于X射线衍射分析的____德拜____法。

4.波长与强度成反比。

5.当U/Uk=(3-5)Uk时,I特/I连获得最大值。

(降低连续X 射线,提高特征X射线的方法)6.荧光辐射:由入射X射线所激发出来的特征X射线。

入射能量束的粒子与和物质原子中电子相互作用碰撞,当粒子能量足够大就能激出的内层电子,同时原子外层向内层空位跃迁,辐射出一定的特征荧光射线,被称为荧光辐射。

7.光电效应:当入射光子的能量等于或略大于吸收体原子某壳层电子的结合能时,此光子就很容易被电子吸收,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子,即光电子,原子则处于相应的激发态,这种原子被入射光子电离的现象即光电效应。

(应用于重元素的成分分析)8.俄歇效应:原子中一个K层电子被入射光子击出后,L层一个电子跃入K层填补空位,此时多余的能量不以辐射X光子的方式放出,而是另一个L层电子获得能量跃出吸收体,这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称俄歇效应。

(应用于表层轻元素的成分分析)9.相干散射:X射线与物质原子内层电子相撞,入射光子的能量全部转给相撞电子,在X射线电场作用下,产生强迫振动,电子成为新电磁波源,向四周辐射与入射光子等波长的电磁波。

10.非相干散射:入射线与束缚较弱的外层电子或自由电子作用,电子获一部分动能成为反冲电子,入射线失去部分能量,改变了波长,沿与入射方向成一定角度的方向辐射。

11.晶面间距计算22、下面是某立方晶系物质的几个晶面,试将它们的面间距从大到小按次序重新排列:(12-3),(100),(200),(-311),(121),(111),(-210),(220),(130),(030),(2-21),(110)。

答:由立方晶系晶面间距公式可知晶面指数平方和越小,晶面间距越大,它们的面间距从大到小按次序是:(100)、(110)、(111)、(200)、(-210)、(121)、(220)、(2-11)=(030)、(130)、(-311)、(12-3)。

第二章 X射线衍射方向1.布拉格方程及其物理含义:(1)2dsinθ=nλ(2)当一束单色且平行的X射线照射到晶体时,同一晶面上的原子的散射线在晶面反射方向上是同相位的,因而可以叠加;不同晶面的反射线若要加强,必要的条件是相邻晶面反射线的波程差为波长的整数倍。

2.反射级数:n称为反射级数。

由相邻两个平行晶面反射出的X射线束,其波程差用波长去量度所得的整份数在数值上就等于n。

3.干涉面指数:晶面(hkl)的n级反射面(nh nk nl),用符号(HKL)表示,称为反射面或干涉面。

干涉面的指数称为干涉面指数。

波程差:相邻两个(hkl)发射线为 nλ;相邻两个(HKL)发射线为λ。

4.空间点阵:晶体中呈周期性排列,且几何、物理环境相同的基本组元(原子、离子、分子)抽象为一几何点(阵点),由此构成的几何图形。

5.倒易点阵:在晶体点阵的基础上按一定对应关系建立起来的空间几何图形,是晶体点阵的另一种表达形式。

6.倒易点阵与正点阵之间关系如何?倒易点阵与晶体的电子衍射斑点之间有何对应关系?答:倒易点阵是与正点阵相对应的量纲为长度倒数的一个三维空间(倒易空间)点阵,关系:1)倒易矢量ghkl 垂直于正点阵中对应的(hkl )晶面,或平行于它的法向Nhkl 。

2)倒易点阵中的一个点代表正点阵中的一组晶面。

3)倒易矢量的长度等于正点阵中的相应晶面间距的倒数,即ghkl=1/dhkl 。

4)对正交点阵有a*//a,b*//b,c*//c,a*=1/a,b*=1/b,c*=1/c 。

5)只有在立方点阵中,晶面法向和同指数的晶向市重合的,即倒易矢量ghkl 是与相应指数的晶向[hkl]平行。

通过倒易点阵可以把晶体的电子衍射斑点直接解释成晶体相应晶面的衍射结果,可以认为电子衍射斑点就是就是与晶体相对应的倒易点阵中某一截面上阵点排列的像。

7.劳埃法、周转法、德拜法衍射方法的比较。

答:劳埃法 特点:单晶体固定,采用连续X 射线。

用途:分析晶体的对称性和进行晶体定向。

周转晶体法 特点:入射X 射线的波长不变;单晶晶体绕选定取向旋转。

用途:研究晶体结构。

德拜(粉末)法 特点:入射X 射线的波长不变;多晶体、粉末。

用途:物相分析。

8.爱瓦尔德图解——布拉格方程几何表达式答:以倒易点阵O*为末点,作入射方向平行线,线段长度为λ/1,始点为正点阵O ,以O 为球心,O*O 线段长为半径作一参考球,凡是与参考球面相交的倒易点,其代表的正点阵晶面满足布拉格方程,衍射方向为O 至倒易点的位向。

图中λθλθsin 21,sin 21==HKL d g第三章 X 射线衍射强度1.X 衍射峰的位置、强度和峰型的影响因素位置:晶面间距、晶胞参数强度:结构因数、洛伦兹因数、多重性因数、吸收因素、温度因数以及元素的相对含量(晶胞的种类,晶胞原子种类及他们的相对位置,物相含量多少)峰型:晶粒大小、晶格畸变、缺陷2.原子散射因数和结构因子物理含义及影响因素。

答:原子散射因数(1)物理含义:表示某一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下的散射波振幅的f倍,它反映了原子将X射线向某一个方向上的散射能力。

(2)影响因素:原子中电子分布密度以及散射波的波长和方向。

结构因子(1)物理含义:它表征了单胞的衍射强度,反映了单胞中原子种类、原子数目及原子位置对(HKL)晶面衍射方向上衍射强度的影响。

(2)影响因素:结构因子只与原子的种类及在单胞中的位置有关,而不受单胞的形状和大小的影响。

第四章多晶体分析方法1.为保证探测器能接收到各衍射面的衍射线,X射线衍射仪的测角仪衍射几何构造要满足布拉格方程、试样与探测器连动的角速比为1:2。

衍射仪常用测量方法有连续扫描和步进扫描。

2.探测器种类:正比计数管、闪烁计数管。

3.X射线衍射仪的滤波方式:滤波片(吸收)、弯晶单色器(衍射)。

第五章物相分析及点阵参数精确测定1..物相定量分析的原理是什么?试用K 值法进行物相定量分析的过程。

答:基本原理:待测相的衍射面的衍射线强度随该相百分含量的增加而提高,通过测定某衍射线强度,可得到待测相的含量。

K 值法:1) 配制待测相A 与标相S 含量1:1的试样, 进行衍射分析,分别各选待测相与标相一衍射面衍射线,测其强度IA ’、IS ’,则K=IA ’/ IS ’。

2)在待测样中加入S 相, 算出S 相含量WS, 进行衍射分析,分别测取待测相与标相的上述同一衍射线的强度IA 、IS,则根据:IA/ IS=KWA(1-WS)/WS 求出WA 。

2..物相定性分析的原理是什么? 对食盐进行化学分析和物相定性分析,所得结果有何不同?答:对食盐进行化学分析得到食盐的化学组分信息,即包含的化学元素种类及含量;而物相分析则获得相结构信息,及各成分的存在晶系、晶格参数等。

3.点阵常数精确测定的目的:固溶体类别的确定、固相溶解度曲线的测定、宏观应力的量度、化学热处理层的分析、过饱和固溶体分解过程的研究。

(固溶、应力、相变、膨胀)4.点阵常数误差来源及校正误差的方法误差:相机的半径误差、底片的伸缩误差、试样的偏心误差以及试样的吸收误差等。

校正方法:图解外推法;最小二乘法;标准样校正法外推函数:f(θ) =()θθθθ22cos sin cos 21+(尼尔逊函数)5.结晶度的测定:答:(1)对衍射图进行分峰(2)合理扣除背底,进行衍射强度修正(3)假设非晶峰及各结晶峰的峰型函数,通过多次拟合,将各个重叠峰分开(4)测定各个峰的积分强度c I 、a I ,然后根据aC C C KI I I X +=算出结晶度 6.固溶度测定步骤①选择若干条高角衍射线()i HKL ,测出其i θ②根据衍射面()i HKL 、晶面间距公式求i a③建立关系i i a --θ2cos ,用外推法求出精确的点阵常数 ④根据费伽公式%100⨯--=AB A x a a a a x 求出固溶度x a 7.衍射峰特点与晶粒大小间关系符合谢乐公式:B=K λ/tcos θ,B 是衍射峰的半高宽,t 是晶块大小,晶粒越小,衍射峰越宽。

答:步骤如下:(1)获得纳米多晶材料的衍射谱。

(2)选定某衍射面,对其进行步进式扫描,并对该衍射峰K α1、K α2分离,测定K α1半高宽B 。

(3)用实验法或近似函数法对K α1剥离仪器宽化B1。

(4)用近似函数法求出晶格畸变宽化B2,从B 中扣除B1和B2,即得到晶粒细化宽化,将其带入谢乐公式求出晶粒大小t 。

第八章 电子光学基础1.景深:不影响分辨率条件下,电磁透镜物平面允许的轴向偏差。

2.焦长:不影响透镜分辨率条件下,像平面可沿轴向平移距离。

3.电磁透镜的景深大、焦长长是由于小孔径角成像的结果。

4.分辨率:是指成像物体上能分辨出来的两物点的最小间距。

第九章 透射电子显微镜1. 透射电镜主要由几大系统构成?各系统之间的关系如何?(同位、成像、衍射)答:透射电镜主要由供电系统、电子光学系统、真空系统构成。

电子显微镜工作时,整个电子通道都是必须置于真空系统之内的;电子光学系统是透射电镜的核心,包括照明系统,成像系统和观察系统;电源与控制系统对整个透射电镜提供能源,并控制操作过程。

2. 透射电镜的主要特点是可对试样进行 组织形貌与晶体结构 同位分析.使中间镜物平面与物镜 像平面 重合时,在观察屏上得到的是反映试样 组织形态的形貌 的图像;当中间镜物平面与物镜 背焦面 重合时, 在观察屏上得到的是反映试样 晶体结构的衍射 花样。

3.影响透射电镜分辨率的因素主要有:衍射效应和电镜的像差。

4.成像系统及其特点第十章 电子衍射1.异类点阵结构因子计算:异类原子 如简单立方的CuZn ,因两元素为相邻元素, Zn cu f f 与 接近当H+K+L=奇数时 0)(22≈-=Zn Cu HKL f f F当 H+K+L=偶数时 22)(Zn Cu HKL f f F +=2.说明单晶、多晶及非晶的电子衍射花样的特征及其形成原理。

(A 及D 简答题22及B41)单晶的衍射花样是由排列十分整齐的许多斑点所组成,每个衍射斑点代表一个晶面(hkl ),参与衍射的晶面(hkl)平行于入射方向[uvw];多晶的衍射花样是一系列不同半径的同心圆环,每个圆环代表一个晶带;非晶只有一个漫散射中心透射亮斑。

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