薄膜电容绝缘电阻测试指南
薄膜电阻测试标准
薄膜电阻测试标准
薄膜电阻测试标准通常包括以下几个方面：
1. 电阻值测量：薄膜电阻的电阻值是最基本的测试项目，通常使用万用表或专用电阻表来测量。
测试条件包括电流大小、电压范围和测量精度等。
2. 温度系数测量：薄膜电阻的温度系数是指电阻值随温度变化的大小，通常表示为ppm/℃。
温度系数的测量可以通过在不
同温度下测量电阻值，并计算温度系数。
3. 稳定性测试：薄膜电阻的稳定性是指其电阻值在长时间使用或在不同环境条件下的变化情况。
稳定性测试通常包括老化测试、温湿度循环测试等。
4. 抗干扰性测试：薄膜电阻在工作过程中可能受到来自外部环境的干扰，如电磁辐射或外界电场的影响。
抗干扰性测试主要是测试电阻值在不同干扰源下的变化情况。
5. 尺寸和外观检查：薄膜电阻的尺寸和外观质量是影响其性能的重要因素。
尺寸和外观检查通常包括检查外观质量、尺寸偏差和焊盘连接等。
这些测试标准可以根据不同的规范和应用领域进行调整和补充。
绝缘电阻测试方法及注意事项有哪些 绝缘电阻常见问题解决方法
绝缘电阻测试方法及注意事项有哪些绝缘电阻常见问题解决方法绝缘电阻测试方法有哪些？通常绝缘电阻值测量方法有低电压下测量和高电压下测量两种方法。
而绝缘电阻由于一般数值较高（兆欧级）。
在低电压下的测量值不克不及反映在高电压前提下任务的真正绝缘电阻值。
兆欧表也叫绝缘电阻表。
它是测量绝缘电阻常用的仪表。
它在测量绝缘电阻时自身就有高电压电源，这就是它与测电阻仪表的分歧之处。
兆欧表用于测量绝缘电阻即便利又牢靠。
然则假如运用欠妥，它将给测量带来不用要的误差，我们必需精准运用兆欧表进行绝缘电阻测量。
兆欧表在任务时，本身发生高电压，而测量对象又是电气设备，所以必需精准运用，不然就会形成人身或设备变乱。
运用前，起首要做好以下各类准备：1.测量前必需将被测设备电源割断，并对地短路放电，决不答应设备带电进行测量，以包管人身和设备的平安。
2.对能够感应出高压电的设备，必需消弭这种能够性后，才能进行测量。
3.被测物外表要干净，削减接触电阻，确保测量后果的精准性。
4.测量前要反省兆欧表能否处于正常任务形态，首要反省其“0”和“”两点。
即摇入手柄，使电机到达额外转速，兆欧表在短路时应指在“0”地位，开路时应指在“”地位。
5.兆欧表运用时应放在平稳、坚固结实的当地，且阔别大的外电流导体和外磁场。
测试绝缘电阻时应注意以下事项：（1）试验前首先应将被试物的一切电源连线断开，并将被试设备短路接地，充分放电，然后拆除一切外部连线，方可进行试验。
（2）将被试物绝缘表面擦拭干净；如被试物内有可燃性气体应放尽，以免引起爆炸。
（3）依据被试物的电压等级选择适用的绝缘电阻表。
（4）试验用的引线绝缘不良会严重影响测试结果，必需引起注意。
（5）将绝缘电阻表安置在适当位置，有水平仪的兆欧表应调好水平。
（6）被试物出线接于绝缘电阻表的“线”（L）柱上，被试物的接地端应与绝缘电阻表的“地”（E）柱连接，并与接地网相连。
（7）用恒定速度摇动绝缘电阻表把手，尽量保持120r/min（8）绝缘电阻表针初始时指示较低，以后渐渐上升，待指示稳定后（如表针长时间不稳定可取1min），读取数值。
快速准确测量绝缘体电容的四种方法与注意事项
快速准确测量绝缘体电容的四种方法与注意事项绝缘体电容是指绝缘体材料中形成的电容。
在电子领域中，准确测量绝缘体电容的方法非常重要，因为绝缘体电容的大小直接影响着电路的性能和稳定性。
下面将介绍四种常用的快速准确测量绝缘体电容的方法，并提供一些注意事项。
第一种方法是使用LCR表进行测量。
LCR表是一种专门用于测量电感、电容和电阻等电性参数的仪器。
使用LCR表测量绝缘体电容时，可以将要测量的绝缘体放入电容测量槽中，然后选择电容测量模式并读取测量结果。
这种方法操作简单，测量结果准确可靠，适用于各种类型的绝缘体材料。
第二种方法是使用示波器进行测量。
示波器是一种能够显示电压信号随时间变化的仪器。
通过将绝缘体制成电容器，将电容器连接至信号源和示波器，然后在示波器上观察电压信号的变化，可以间接测量绝缘体电容。
这种方法对于较小的绝缘体电容测量效果好，但对于较大的绝缘体电容则不太适用。
第三种方法是使用频率扫描法进行测量。
此方法需要使用专门的频率扫描仪和电容测量电路。
通过改变扫描仪的频率和测量电路的相位差，可以得到不同频率下的电容值。
根据电容与频率的关系，可以计算出绝缘体电容的准确值。
这种方法适用于需测量较大绝缘体电容的情况，测量结果较为准确。
第四种方法是使用阻抗分析仪进行测量。
阻抗分析仪是一种能够测量电路或设备的阻抗参数的仪器。
通过将绝缘体接入阻抗分析仪，并选择相应的测试参数和频率，可以直接测量绝缘体电容值和其他电性参数。
这种方法操作简单方便，测量结果准确可靠。
在进行绝缘体电容测量时，还需注意以下几点事项。
首先，要选择合适的测量仪器和测量方法，根据实际需求选择最适合的测量方案。
其次，要确保测量环境安静稳定，避免外界电磁干扰对测量结果的影响。
此外，要注意测量连接的接触良好和无杂散电容的干扰。
最后，还需要注意绝缘体电容的测量范围和准确度。
不同类型和厚度的绝缘体电容范围不同，要选择合适的测量仪器和方法进行测量。
同时，测量准确度也很重要，要确保测量仪器和方法的精度能够满足实际需求。
薄膜电容绝缘电阻测试指南
试。
这里讨论的应用实例是使用 CHT3530 绝缘电阻测试仪测量电容器的泄漏电阻。此电 阻可以用“IR”（绝缘电阻）来代表，并用兆欧-微法来表示（电阻值可以用“IR”值 除以电容来计算）。在另一些情况下，漏电可以用给定电压（通常为工作电压）下的泄 漏电流来表示。
1 测试方法介绍
测量电容器漏电的方法是向被测的电容器施加一个固定的电压，然后测量所产生的 电流。泄漏电流随时间呈指数衰减，所以通常需要在一个已知的时间期间内施加电压（浸 润时间，即预充电时间），然后再测量电流。
t3
t4
t2 TRIG
t9
t5 Text
下次触发允许
测量周期 EOC
OUTPUT COMP
t8
t6
t7 新 有效
t1 前一记录号
新 有效
图 3 测量周期表
描述
一次转换周期 t1 （量程保持，内部触
发） t2 Trig 下降沿触发 t3 充电信号低电平触发 t4 充电延时 t5 放电信号低电平触发
t8 AD转换及运算时间（
直流电场可能产生有噪声的读数或无法探测的误差。实验电路附近的运动（例如，操 作仪器人员的运动或者在临近区域里的其它运动等）引起仪器显示读数发生波动，就反 映出这种场的存在。为了迅速检查干扰的存在，在电路附近放置一个带电的塑料物体， 如梳子等。仪表的读数发生大的变化就说明屏蔽不够完善。
为了降低电场的影响，可以制作屏蔽将被测电路包围起来。最容易制作的屏蔽形式 为包围被测电路的简单的金属盒子或金属网。
这个电阻器有两个作用：
①、在电容器短路的情况下，电阻器限制电流的大小。
②、电容器的容抗随着频率的增加而降低，这就会增加反馈电流表的增益，噪声增 益会很大，以致发生电路震荡。此电阻器则将增益限制到一个有限的数值。该电阻器的 合理数值是使得 RC 的乘积为 1 到 5 秒。
薄膜电容绝缘电阻测试指南
- 10μs -
t9 触发放电后充/放电标志为1
4 软件设计流程
4.1 测试步骤 步骤 1 ——触发充电 通过读 CHARFLAG 信号来判断当前是否处于充电状态，如果是充电状态，将被测电容切换入
充电通路进行充电。如果是放电状态，触发充电。 步骤 2 ——触发测试 充电结束后，读 EOC 信号来判断是否当前为测试空闲状态，如果是，将被测电容由充电通路
外接 电路 图 4-1 薄膜电容充电电路
仪器 内部 皮安 计
3 4
5 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
5
9
3
Cx
K2B
R
10 8
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
外接 电路 图 4-2 薄膜电容测试电路
仪器 内部 皮安 计
5 4
3 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
3
9
5
Cx
K2B
试。
这里讨论的应用实例是使用 CHT3530 绝缘电阻测试仪测量电容器的泄漏电阻。此电 阻可以用“IR”（绝缘电阻）来代表，并用兆欧-微法来表示（电阻值可以用“IR”值 除以电容来计算）。在另一些情况下，漏电可以用给定电压（通常为工作电压）下的泄 漏电流来表示。
1 测试方法介绍
测量电容器漏电的方法是向被测的电容器施加一个固定的电压，然后测量所产生的 电流。泄漏电流随时间呈指数衰减，所以通常需要在一个已知的时间期间内施加电压（浸 润时间，即预充电时间），然后再测量电流。
R = 1/ 0.1uf = 10M 。 当被测电容值比较小,计算串联电阻值大于 100M 时,最大串联电阻取 100M 也可以不 接串联电阻。 这是因为由于电流检测器的反馈电阻最大为 100MΩ，串联电阻选择最大不 用超过 100MΩ，此时噪声增益为 1，既不会对噪声起放大作用。
电力电容器绝缘电阻测量作业指导书
测量绝缘电阻
一、试验目的
检查电容器的两极对外壳的绝缘电阻状况，判定电容器绝缘电阻是否满足运行要求。
二、试验步骤
1、准备仪表：进行兆欧表的开路及短路试验，确定仪表良好。
2、确定电容器具备试验条件：落实安全措施，电容器停电并充分放电、拆除电容器相应引线。
3、测量并联电容器电极对地绝缘电阻：将电容器各电极短接，设置兆欧表2500V 档位，高压测试线触碰电容器任意一个电极，兆欧表地线接地，读取1min时仪器读数并记录数据。
4、放电：电容器电极对地进行充分放电。
5、整理仪器：收拾整理仪表。
三、合格标准
绝缘电阻不低于500MΩ。
四、注意事项
1、停电并验明无电并对电容器充分放电后再进行试验。
2、电容器电极脏污时应先用干净的棉布及无水酒精清洁擦拭干净再试验。
3、绝缘试验后将电容器各电极对地充分放电。
薄膜电容怎么检测好坏
满意回答2012-08-19 08:15用指针表，正反方向测试一下，看能否充放电。
满意回答2013-01-02 00:33首先看有没有过热烧过的痕迹，再用万用表电阻档测试薄膜电的两脚应为非常高阻值，如果有电容表，再量度电容值是否跟外壳上标记相符。
满意回答CL21金属化聚酯薄膜电容器105J是电容容量250V是电容的耐压值推荐答案2011-03-25 09:36第一：外观，外观都做不好，谈什么质量好坏？但是也不能迷信。
第二：常温测试性能，包括容量、损耗、绝缘电阻、耐压情况、ESR等等。
你特别需要电容器哪方面的性能，你就重点测试哪方面的。
第三：做模拟寿命试验。
常温常态测试性能没有问题了，那还要看寿命是否能持久，要是今天装上了，明天电容器就爆了，那你能说他好？也不能吧？单对电容器来说这三方面比较全面。
若你要说如何选择，我可以再给你些意见：第一，选择有信誉的电容器生产厂家；第二，把你的使用环境，包括电气环境和空间环境，让他们给专门设计，这是最可靠的；第三，若你使用要求不高，那你可以从市场上买一些通用的，自己做一下拷机试验，通过了，你就可以放心使用了。
满意回答2009-12-17 10:31测电路电容必须先断电，高压电容还要先进行放电，然后看电路设计情况，比如是整流后的滤波电容（或其它一些在电容两端阻值很大的电路），这些电容都可以在电路测，如果在电路测量不能确定电容好坏，只能拆下测量了满意回答2008-11-18 14:50拆掉一只引脚测量其他回答共3条2008-11-17 21:51凌乱头发的秘密|九级在电路板上测电容是测不准的，只有取下或直接读上面的标记。
电阻一般情况下可以直接测，但最好还是取下测或直接读。
如果只测好坏，电容坏了一般是短路，测它的电阻，为零就坏了。
电阻坏了则一般是开路，测电阻，无穷大就坏了。
精彩回答2007-06-16 15:18视电解电容器容量大小，通常选用万用表的R×10、R×100、R×1K挡进行测试判断。
绝缘电阻的正确测量方法及 标准
绝缘电阻的正确测量方法一、测试内容施工现场主要测试电气设备、设施和动力、照明线路的绝缘电阻。
二、测试仪器测试设备或线路的绝缘电阻必须使用兆欧表（摇表），不能用万用表来测试。
兆欧表是一种具有高电压而且使用方便的测试大电阻的指示仪表。
它的刻度尺的单位是兆欧，用ΜΩ表示。
在实际工作中，需根据被测对象来选择不同电压等级和阻值测量范围的仪表。
而兆欧表测量范围的选用原则是：测量范围不能过多超出被测绝缘电阻值，避免产生较大误差。
施工现场上一般是测量500V以下的电气设备或线路的绝缘电阻。
因此大多选用500V，阻值测量范围0----250ΜΩ的兆欧表。
兆欧表有三个接线柱：即L（线路）、E（接地）、G（屏蔽），这三个接线柱按测量对象不同来选用。
三、测试方法1、照明、动力线路绝缘电阻测试方法线路绝缘电阻在测试中可以得到相对相、相对地六组数据。
首先切断电源，分次接好线路，按顺时针方向转动兆欧表的发电机摇把，使发电机转子发出的电压供测量使用。
摇把的转速应由慢至快，待调速器发生滑动时，要保证转速均匀稳定，不要时快时慢，以免测量不准确。
一般兆欧表转速达每分钟120转左右时，发电机就达到额定输出电压。
当发电机转速稳定后，表盘上的指针也稳定下来，这时指针读数即为所测得的绝缘电阻值。
测量电缆的绝缘电阻时，为了消除线芯绝缘层表面漏电所引起的测量误差，其接线方法除了使用“L”和“E”接线柱外，还需用屏蔽接线柱“G”。
将“G”接线柱接至电缆绝缘纸上。
2、电气设备、设施绝缘电阻测试方法首先断开电源，对三相异步电动机定子绕组测三相绕组对外壳（即相对地）及三相绕组之间的绝缘电阻。
摇测三相异步电动机转子绕组测相对相。
测相对地时“E”测试线接电动机外壳，“L”测试线接三相绕组。
即三相绕组对外壳一次摇成；若不合格时则拆开单相分别摇测；测相对相时，应将相间联片取下。
四、绝缘电阻值测试标准绝缘阻值判断(1)、所测绝缘电阻应等于或大于一般容许的数值，各种电器的具体规定不一样，最低限值：低压设备0.5MΩ，3-10KV 300MΩ、20-35KV为400MΩ、63-220KV为800MΩ、500KV为3000MΩ。
绝缘电阻试验作业指导书
绝缘电阻试验作业指导书一、适用范围本指导书适用于电力一次、二次设备的绝缘电阻、吸收比、极化指数试验。
二、试验基本原理及操作步骤2.1基本原理：绝缘电阻试验是被试绝缘介质（试品）上施加直流试验电压U，流过试验的电流I（即泄漏电流、吸收电流、几何电流矢量和），根据欧姆定律，试品绝缘电阻即R=U/I，绝缘电阻测量一般采用固定输出电压并可直接读数的兆欧表检测，对于一般电力设备如无特殊规定，应测量其60S时的绝缘电阻值，而对于变压器类设备则根据规程规定应测量吸收比（第15S和60S的绝缘电阻数值R60"和R15"来代替，并求出比值R60"/ R15"，这个比值称为吸收比）、极化指数（加压10min时的绝缘电阻与加压1min时的绝缘电阻之比，即R10 ' / R1 '，称为极化指数）。
2.2操作步骤2.2.1试验前应将被试物短接后接地充分放电，特别是大的容性设备应特别注意放电；2.2.2兆欧表完成接线后，应分别进行对零及对无穷，对零时，应启动兆欧表，将测量的高压线（接“L”端子的线）与地线搭接，调节零位，调好零位后，拿开高压线与地线的搭接，调校无穷点；2.2.3用干燥清洁的柔软布擦去被试物的表面污垢，必要时可先用丙酮擦净套管的表面积垢，以消除表面影响；2.2.4根据被试品接线要求，完成被试品本身的接线；2.2.5将兆欧表高压侧接在被试品上，开始计时测量，根据被试品关于绝缘电阻方面的要求，记录各时间点的数值；2.2.6试验完毕或重复进行实验时，必须将被试物短接后对地充分放电。
这样出可以保证安全外，还可提高测试的准确性；2.2.7记录被试设备铭牌、规范、所在位置及气象条件（温度、湿度）等；2.2.8在外界环境不良的条件下如湿度较大等应采用屏蔽环方法进行测量。
2.3试验的两种典型接线方式2.3.1一般接线：被试端子接高压，非被试侧应短路接地。
图1 一般接线2.3.2屏蔽接线法：接线方式见图1，屏蔽应靠近被试高压接线处。
电容器绝缘电阻测量作业指导书
电容器绝缘电阻测量作业指导书
3.1 目的
检查电容器极间和双极对壳的绝缘状况。
3.2 试验性质
交接、大修后、预防性试验。
3.3 使用仪表
绝缘摇表或兆欧表。
3.4 试验步骤
一般用2500V兆欧表测量电容器的绝缘电阻。
对断路器电容器、耦合电容器和电容式电压互感器的电容分压器，测量两极间的绝缘电阻；对并联电容器、串联电容器和交流滤波电容器，测量两极对外壳的绝缘电阻（测量时两极应短接），以检查器身套管等的对地绝缘。
3.5 测量结果的分析判断
并联电容器、串联电容器和交流滤波电容器极对壳绝缘电阻不低于2000MΩ；断路器电容器、耦合电容器和电容式电压互感器的电容分压器极间绝缘电阻不低于5000MΩ；耦合电容器低压端对地绝缘电阻不低于100MΩ；集合式电容器的相间和极对壳绝缘电阻不做规定。
3.7 注意事项
3.7.1 串联电容器极对壳绝缘、耦合电容器低压端对地绝缘用1000V兆欧表测量，其余用2500V兆欧表测量。
3.7.2使用兆欧表测量时应注意在测量前后均应对电容器充分放电；测量过程中，应充断开兆欧表与电容器的连接面停止摇动兆欧表的手柄，以免电容器反充放电损坏兆欧表。
绝缘电阻测试正确方法
绝缘电阻测试正确方法1.准备工作在进行绝缘电阻测试之前，必须进行一些准备工作，以确保测试的准确性和有效性。
首先，检查测试设备的正常工作状态，包括电源供应、测试电压、电流和仪表的准确度等。
其次，检查待测设备或系统的电源是否处于正常断电状态，并将所有电源开关关闭。
2.选择适当的测试电压根据待测设备或系统的性质和额定工作电压，选择适当的测试电压。
一般来说，测试电压应该是待测设备或系统额定工作电压的最高1.5倍。
3.连接测试仪器将测试仪器的测试电缆连接到待测设备或系统的绝缘接地端，并确保连接牢固可靠。
同时，将测试仪器的另一端连接到测试点。
4.执行测试一旦完成所需的连接，就可以开始进行绝缘电阻测试了。
在测试仪器上选择适当的测试范围和测试时间，并启动测试。
测试时间应足够长，以确保测试结果的准确性。
在测试过程中，保持测试仪器和待测设备或系统处于稳定状态，避免移动或干扰。
5.记录测试结果测试结束后，将测试仪器读数记录下来，并进行必要的单位转换，如从欧姆到兆欧姆。
同时，还要记录测试日期、时间、测试仪器型号和序列号等信息，以及待测设备或系统的相关信息。
6.结果评估根据测试结果，评估待测设备或系统的绝缘性能。
一般来说，绝缘电阻应该足够高，以确保减少漏电流的发生。
具体的要求可以参考相关标准或规范。
如果测试结果低于要求，可能需要采取进一步的维修、更换或升级等措施。
7.保养和校准定期保养和校准测试仪器是确保绝缘电阻测试准确性和有效性的重要步骤。
按照测试仪器的操作手册进行保养和校准，并在必要时进行相应的维修或更换。
综上所述，绝缘电阻测试的正确方法包括准备工作、选择适当的测试电压、连接测试仪器、执行测试、记录测试结果、评估结果以及保养和校准测试仪器。
只有根据正确的方法进行测试，才能得到准确、可靠的测试结果，确保待测设备或系统的安全性和可靠性。
薄膜电容测试方法详解
薄膜电容测试方法详解1. 准备设备、工具：所需工具及其规格型号如表一所示：表一（工具规格型号）品名规格/型号数量品名规格/型号数量调压器0V～450V/三相1台电流表UNI-T 1台万用表FLUKE-117C 1台测温仪TM-902C 1台电桥测试仪Zen tech 1台双综示波器LM620C型1台游标卡尺mm/inch 1把变压器MTT-120K 1台耐压测试仪CC2672A型1台分流器TM-902C 2把2.外观物理检测2.1首先需检查待测电容是否有正规的《产品规格说明书》，其中需包括产品名称、规格型号、安装尺寸、工艺要求、技术参数以及供应商名称、地址及其联系方式，以确保此批次产品是由正规厂商提供。
2.2参考《产品规格说明书》的工艺参数，观察电容的外观、颜色、及其材质等参数是否与其所标注的工艺指标一致。
2.3用游标卡尺对电容的安装尺寸进行确认，确保电容的直径、高度、最大高度、以及引出端的直径与间距等参数在产品工艺的误差范围之内。
2.4 检查电容的外观，确保其外观整洁、无明显的变形、破损、裂纹、花斑、污浊、锈蚀等不良状况；且其标识清晰牢固、正确完整。
2.5检查其引出端子，保证其端子端正、无氧化、无锈蚀、无影响其导电性能等状况，且引出端子无扭曲、变形和影响插拔的机械损伤。
3.数字电桥测试3.1用电桥测试其实际容量与标称容量是否一致（金属化薄膜电容一般会有±5%的误差范围），其损耗角正切值tanθ(即D值)大小是否符合国家标准（薄膜电容器t a nθ≤0.0015，电解电容器t a nθ≤0.25）。
3.2对Zentech电桥测试仪的使用，正确连接电源以后，按“POWER”键开启测试仪的工作电压；按“LCR”键选择测试类型（L：电感，C：电容，R：电阻）。
薄膜电容测试方法详解
薄膜电容测试方法详解1. 准备设备、工具：所需工具及其规格型号如表一所示：表一（工具规格型号）2.1首先需检查待测电容是否有正规的《产品规格说明书》，其中需包括产品名称、规格型号、安装尺寸、工艺要求、技术参数以及供应商名称、地址及其联系方式，以确保此批次产品是由正规厂商提供。
2.2参考《产品规格说明书》的工艺参数，观察电容的外观、颜色、及其材质等参数是否与其所标注的工艺指标一致。
2.3用游标卡尺对电容的安装尺寸进行确认，确保电容的直径、高度、最大高度、以及引出端的直径与间距等参数在产品工艺的误差范围之内。
2.4 检查电容的外观，确保其外观整洁、无明显的变形、破损、裂纹、花斑、污浊、锈蚀等不良状况；且其标识清晰牢固、正确完整。
2.5检查其引出端子，保证其端子端正、无氧化、无锈蚀、无影响其导电性能等状况，且引出端子无扭曲、变形和影响插拔的机械损伤。
3.数字电桥测试3.1用电桥测试其实际容量与标称容量是否一致（金属化薄膜电容一般会有±5%的误差范围），其损耗角正切值tanθ(即D值)大小是否符合国家标准（薄膜电容器tanθ≤0.0015，电解电容器tanθ≤0.25）。
3.2对Zen tech电桥测试仪的使用，正确连接电源以后，按“POWER”键开启测试仪的工作电压；按“LCR”键选择测试类型（L：电感，C：电容，R：电阻）。
3.3按“UP”与“DOWN”键选择测试量程（μF、nF、pF），按“FREQ”键选择测试频率（100HZ、120HZ、1KHZ），可根据厂商提供的技术参数来选择所需的测试频率。
3.4按“SERIES”（串联）与“PARALLEL”（并联）选择测试的连接方式，对电阻而言阻抗小于1K用串联，1K到几十K串并联都可以，阻抗大于几百K或M的量级就用并联模式。
如果被测元件是大电感或小电容要用并联模式，测试元件是小电感或大电容用串联模式。
且对小电感小电容适当提高测试频率可以提高测量精度。
薄膜电阻测试方法
薄膜电阻测试方法
薄膜电阻测试方法是一种用于测量薄膜材料电阻值的实验方法。
这种测试方法通常用于评估薄膜材料的导电性能和电阻率等电学性质。
下面将介绍一种常用的薄膜电阻测试方法：四探针法。
四探针法是一种非破坏性的电阻测试方法，它使用四个探针与薄膜材料接触，以测量材料的电阻值。
这种测试方法适用于各种薄膜材料，如金属、半导体、绝缘体等。
一、实验原理
四探针法是基于惠斯通电桥原理的一种测试方法。
在实验中，四个探针按照一定的间距排列，其中两个探针作为电流源，另外两个探针作为电压表。
当电流源向薄膜材料施加电流时，会产生电压降，从而在电桥中产生电压。
通过测量电桥中的电压，可以计算出薄膜材料的电阻值。
二、实验步骤
1. 准备实验器材：四探针测试仪、薄膜样品、电极夹具、稳压电源、电学测量仪表等。
2. 将薄膜样品放置在电极夹具中，确保样品表面平整无瑕疵。
3. 将四探针测试仪连接到稳压电源和电学测量仪表上。
4. 将四探针探头与薄膜样品接触，调整探针间距，使其与样品尺寸相适应。
5. 打开稳压电源，向薄膜样品施加电流，观察电学测量仪表的读数。
6. 记录实验数据，包括电流值、电压值和探针间距等。
7. 根据实验数据计算薄膜材料的电阻值。
三、实验注意事项
1. 在实验过程中要保持实验室环境的清洁和干燥，避免影响实验结果的准确性。
2. 在将四探针探头与薄膜样品接触时，要确保探头与样品表面平行，避免探头倾斜或与样品表面不平整而导致测量误差。
3. 在记录实验数据时，要保证电流和电压的稳定性，避免因电源波动或电路噪声等因素影响测量结果的准确性。
薄膜电容检验标准作业指导书
批准薄膜电容器检验标准(适用于松下的CECQ2104/ECQE4103系列) 文件编号审核修改状态编制制（修）订日期2011.09.20检验项目检验要求检验工具不良等级抽样方式判定包装1、包装无破损；2、外包装标识清晰、整洁、无错误；3、包装箱上标识型号、数量、生产日期（生产批号）标识。
目视 AGB2828-2003一般II级AQL=1.5规格型号实物上标识、包装标签上的规格型号与ERP单上的规格型号一致。
目视 AGB2828-2003一般II级AQL=1.5外观1、电容表面丝印清晰，无漏印、丝印不清晰；2、电容表面无变形、破损或露出介质；3、引脚无伤痕、断裂、氧化、松动。
目视 A N=5Ac=0Re=1结构尺寸封装尺寸符合技术要求。
游标卡尺 A N=5 Ac=0 Re=1电容值测量的实际容值符合标称容值允许误差范围内。
LCR数字电桥 A N=5 Ac=0 Re=1耐压性1、引线和引线之间：给电容两端施加1.5倍标称电压之DC电压，历时1min （电容实际技术要求），电容无被击穿、短路、爆裂等现象；2、引线和壳体之间：电容器引出端与外壳之间应能承受1500VAC，历时1min，应不发生闪烙或击穿。
耐压测试仪 A N=5Ac=0Re=1绝缘电阻1、引线和引线之间：>30000MΩ；2、引线和壳体之间：>30000MΩ。
绝缘测试仪AT682A N=5Ac=0Re=1损耗角正切值测试≤1%（20℃，1KHz）。
损耗角测试仪 A N=5Ac=0Re=1高温老化1、常温额定电压下，保持12分钟，漏电流﹛当U R≤100V时；I≤0.01CV或3μA（取大者）；当U R＞100V时；I≤0.03CV+10μA﹜；2、高温85℃、额定电压下，连续24小时，检测其漏电流波动情况，每5分钟记录一次数据，要求老化过程中漏电流无大的波动，且小于10倍初始极限值；3、恢复至常温，保持12分钟，监测漏电流、损耗角、绝缘电阻符合常温下标准。
电容绝缘电阻测试方法
电容绝缘电阻测试方法
嘿，朋友们！今天咱就来讲讲电容绝缘电阻测试方法。
这可真是个
重要的事儿啊，就好像给电容做一次全面的健康检查！
你想想看，电容就像是电路中的小战士，要是它的绝缘电阻出了问题，那可不得了哇！那怎么给它做这个检查呢？
首先呢，咱得准备好测试的工具，就像医生得有听诊器啥的一样。
然后把电容从电路中取出来，让它单独接受我们的“审视”。
接下来，
把测试仪器的探头接在电容的两极上，就像给它戴上了检测的“帽子”。
这时候啊，测试仪器就开始工作啦！它会测出一个电阻值，这个值
可就代表着电容的绝缘性能呢。
如果这个值很大很大，那说明电容的
绝缘可棒啦，就像一个身强体壮的运动员，状态超好！但要是这个值
很小很小，那可就得注意了，电容可能就有点“不舒服”啦。
咱再打个比方哈，电容的绝缘电阻就像是房子的墙壁，要是墙壁坚
固厚实，那就能遮风挡雨；要是墙壁薄得像纸一样，那可就危险咯！
在测试的过程中，可千万要细心啊，不能马虎。
就跟你给宝贝东西
做保养一样，得用心对待。
而且啊，不同类型的电容可能测试方法还
会有点不一样呢，这就跟每个人的性格不一样似的，得因材施教。
测试完了之后，咱就得根据结果来判断电容的情况啦。
要是好的，那就放心大胆地用；要是有点问题，那可得好好想想办法，是修一修呢，还是干脆换一个新的。
总之啊，电容绝缘电阻测试可不是小事儿，它关系到整个电路的稳定和安全呢！咱可不能掉以轻心。
大家都记住了吗？别到时候电容出了问题才恍然大悟呀！所以呀，赶紧行动起来，给你的电容们都来一次好好的“体检”吧！让它们都能健健康康地为我们服务！这多好哇！。
电容器极间绝缘电阻测试方法
电容器极间绝缘电阻测试方法
电容器是全密封设备，如密封不严或不牢固造成渗漏油现象，使空气和水分以及杂质都可能进入油箱内部，会使绝缘电阻降低，甚至造成绝缘损坏，危害极大。
电容器绝缘电阻测试可以发现电容器由于油箱焊缝和套管处焊接工艺不良，密封不严造成绝缘性能降低的故障，同时可发现电容器高压套管受潮及缺陷情况。
电容器极间绝缘电阻测试接线及步骤：
（1）测试接线。
测试时，断路器电容器一端接DMG2671绝缘电阻表的“L”
端，另一端接绝缘电阻表的“E”端。
（2）测试步骤：
1）交接试验时，断路器电容器绝缘电阻应在安装前测试，可以减少断路器灭弧室的影响。
2）预防性试验时应检查断路器是否在开断状态，如测试的绝缘电阻过低，可拆下断路器电容器进行测试，以判断故障部位。
3）测试前使用放电棒对电容器放电，放电时电容器一端接地，另一端通过放电棒短接放电。
4）测试前首先检查DMG2671绝缘电阻表是否正常，断路器电容器一端接绝缘电阻表的“L”端，另一端接地和绝缘电阻表的“E”端，读取1min或稳定后的绝缘电阻值。
5）读取数据后断开“L”端与电容器的连接线，停止或关断绝缘电阻表，使用放电棒对断路器电容器进行充分放电。
电容器时间常数(绝缘电阻)吸收系数的测量
2’
249.5
12036
239
2266
3、确定聚苯乙烯（聚乙烯）电容器和金属化纸介电容器的绝缘 电阻R或时间常数τ和充电时间t的关系。 充电电压uc为250V，分别充电不同的时间，然后自行放电1分钟后， 测出端电压ua。
聚苯乙烯（聚乙烯）电容器 充电时间t 1’ 2’ 端电压ua 246 247 RC 2490 5988 金属化纸介电容器 充电时间t 1’ 2’ 端电压ua 250 250.5 RC 7530 20100
聚苯乙烯（聚乙烯）电容器 充电电压uc 150 端电压ua Ka 金属化纸介电容器 充电电压uc 150 端电压ua Ka
200
250
200
250
实验结果以及讨论
讨论各组曲线的性质，比较不同容量的金属化 纸介电容器的绝缘电阻值与比较聚苯乙烯（聚 乙烯）和金属化纸介电容器的时间常数的大小 ，并说明影响时间常数的主要因素。 比较聚苯乙烯（苯乙烯）电容器和金属化纸介 电容器的吸收系数的大小，并说明其原因。
电容器时间常数τ（绝缘电阻 R）、吸收系数Ka的测量
一、实验目的和要求
熟悉自行放电法测量电容器的绝缘电阻R（时间常数τ）、 吸收系数Ka的方法。 确定用同样介质材料制成不同电容量的电容器与用不同介 质材料制成同种规格电容器的自行放电过程（聚苯乙烯、 聚乙烯、纸介、金属化纸介等）。 确定各种电容器的绝缘电阻R、充电时间t、充电电压U的 关系。 比较各种电容器的绝缘电阻R或时间常数τ和吸收系数Ka的 大小。
3’
247
8982
3’
250.5
30150
4、确定聚苯乙烯（聚乙烯）电容器和金属化纸介电容器的时间 常数τ和充电电压uc的关系。 在如下表所示不同电压下，充电1分钟，然后自行放电1分钟后测出 端电压ua。
薄膜电容的测量方法
薄膜电容的测量方法
掌握电容的测量方法的好处就是，可以快速的判断电容的好坏。
那幺小编要跟大家说说的是薄膜电容的测量方法，希望在实操的方面能帮助到大家。
采用科学的方法来进行电容的测量，是可以保障电容使用安全和寿命的关键。
先可以采用万用表测试电容，方法就是使用电阻档。
实践证明，利用数字万用表也可观察电容器的充电过程，这实际上是以离散的数字量反映充电电压的变化情况。
设数字万用表的测量速率为n次/秒，则在观察电容器的充电过程中，每秒钟即可看到n个彼此独立且依次增大的读数。
接下来介绍的是使用数字万用表电阻档检测薄膜电容器的方法，对于未设置电容档的仪表很有实用价值。
此方法适用于测量0.1μF～几千微法的大容量电容器。
将数字万用表拨至合适的电阻档，红表笔和黑表笔分别接触被测电容器Cx的两极，这时显示值将从“000”开始逐渐增加，直至显示溢出符号“1”。
若始终显示“000”，说明薄膜电容器内部短路；若始终显示溢出，则可能时薄膜电容器内部极间开路，也可能时所选择的电阻档不合适。
在选购薄膜的电容的时候我们不仅要知道电容参数，更重要的也要学会测量和了解电容是否有损坏的现象，这是我们使用电容中不能忽视的细节。
我们专业制造安规电容，陶瓷电容，压敏电阻，薄膜电容，更多优质的电容器尽在JEC。
以上资讯来自智旭电子公司研发部，更多资讯请大家移步至网站中获取。
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t3
t4
t2 TRIG
t9
t5 Text
下次触发允许
测量周期 EOC
OUTPUT COMP
t8
t6
t7 新 有效
t1 前一记录号
新 有效
图 3 测量周期表
描述
一次转换周期 t1 （量程保持，内部触
发） t2 Trig 下降沿触发 t3 充电信号低电平触发 t4 充电延时 t5 放电信号低电平触发
t8 AD转换及运算时间（
图 2 接线端子
电源供给端
序号 端子名称
1
GND
2
GND
13 CHARFLAG
17
EXT.GND
18
EXT.GND
19
VCC
20
VCC
பைடு நூலகம்35
36
EXT.DC+5V
含义
引线颜色
内部电源地。 内部电源地。
充电/放电标志输出(1:放电 0:充 电) 用户电源地。 用户电源地。
橙色
内部电源。 内部电源。
用户为接线端电路提供+5V 电源。 注：接线端电源不是由仪器提供， 而是由用户提供。
R
8 10
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
外接 电路 图 4-3 薄膜电容放电电路
仪器 内部 皮安 计
其中： Rd: 仪器内部放电电阻 Rd = 20K。 Rs: 电源源内阻 输出电 V>100V Rs = 55k;V≤100V Rs = 5k。 K1A:仪器内部充放电开关,由仪器控制。 K2A K2B: 外部电路控制电容充电﹑测试﹑放电开关，由用户控制。 R： 测量电容串联电阻。 Cx: 被测电容。
切换到测试通路，触发 TRIG 测试信号仪器进行漏电流测试。 步骤 3 ——触发放电 读 EOC 信号来判断是否当前为测试结束，测试结束将被测电容切换到放电通路，触发放电。
4.2 测试电路连接图
3 4
5 Rs
K1A Rd
4 K2A
被测 电容 器
3
9
5
Cx
K2B
R
8 10
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
仪表 Input 端和被测装置之间的电缆也需要屏蔽。用连接到 Ground 端的金属屏蔽将 信号导体包围起来，可以大大降低静电噪声源和信号导体或电缆之间的电容耦合，如图 6 所示。有了这种屏蔽，由静电电压源和耦合电容产生的噪声电流就经过屏蔽流到地， 而不再流过信号线。
图 6 屏蔽高阻器件
总的说来，遵守下列指导原则能够尽量降低静电耦合产生的电流： * 使所有带电物体（包括人员）和导体远离测试电路的敏感区域。 * 在测试区域附近避免运动和振动。 * 当测量电流小于 1nA 时，将被测装置用金属闭合物包围屏蔽起来，并将该闭合物连 到测试电路的公共端。
外接 电路 图 4-1 薄膜电容充电电路
仪器 内部 皮安 计
3 4
5 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
5
9
3
Cx
K2B
R
10 8
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
外接 电路 图 4-2 薄膜电容测试电路
仪器 内部 皮安 计
5 4
3 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
3
9
5
Cx
K2B
这个电阻器有两个作用：
①、在电容器短路的情况下，电阻器限制电流的大小。
②、电容器的容抗随着频率的增加而降低，这就会增加反馈电流表的增益，噪声增 益会很大，以致发生电路震荡。此电阻器则将增益限制到一个有限的数值。该电阻器的 合理数值是使得 RC 的乘积为 1 到 5 秒。
反馈式电流表电路原理如下：
Cx Vnoise
j
部门： 日期：
薄膜电容测试参考手册
研发部 2011-05-05
文献类别 编号：
技术文献 HP201-11050300A
电容器是各种电子设备中的基本元件，广泛地应用于对电子电路进行旁路、耦合、
滤波和调谐等。然而，要使用电容器就必须明白其特性：包括电容值、额定电压值、温
度系数以及泄漏电阻等。电容器制造厂家对这些参数进行测试；最终用户也进行这类测
直流电场可能产生有噪声的读数或无法探测的误差。实验电路附近的运动（例如，操 作仪器人员的运动或者在临近区域里的其它运动等）引起仪器显示读数发生波动，就反 映出这种场的存在。为了迅速检查干扰的存在，在电路附近放置一个带电的塑料物体， 如梳子等。仪表的读数发生大的变化就说明屏蔽不够完善。
为了降低电场的影响，可以制作屏蔽将被测电路包围起来。最容易制作的屏蔽形式 为包围被测电路的简单的金属盒子或金属网。
红色
比较输出信号
5
EOC
6
HI(BIN1)
7
LO(BIN2)
8
GD(BIN3)
测试完成信号（忙信号）。 上超（不合格）输出。 三等品输出。
下超（不合格）输出。 二等品输出。
合格输出。
一等品输出。
黑色 白色 灰色 紫色
9
NG
不合格输出。
不合格输出。 绿色
3 测量周期表
CHARFLAG CHAR/DISCHAR
4.3 流程图
图5
5 薄膜电容的连接与屏蔽
带电物体接近被测电路的输入端时，就会发生静电耦合和干扰。在低阻抗之下，由于 电荷迅速消散，所以干扰的影响不明显。然而，高阻材料不允许电荷迅速衰减，就可能 产生不稳定的测量结果。由于错误的读数可能由直流或交流静电场引起，所以静电屏蔽 有助于尽量降低这种电场的影响。
3 4
5 Rs
K1A
Rd
4 K2A
被测 电容 器
3
9
5
Cx
K2B
R
8 10
I Low
Im
Hi
仪器 内部 电源 电路
外接 电路
仪器 内部 皮安 计
图 1 电容漏电测试电路
图 1 是测试电容器漏电的一般电路。其中，在浸润时间内将电压加到电容器（CX）
的两端，充电电流由源内阻决定,V>100V时Rs=55K, V≤100V时Rs=5K则电容充电时间t1 = Rs*C。该时间过去之后继电器切换至测试端用电流表测量其电流。电容测试完成后将继 电器切换至地通过仪器内部放电电阻对电容进行放电，放电电阻为Rg，V>100V:Rg=75k, V≤100V:Rg=25k,则电容放电时间t2 = Rg*C该时间过去之后电容上的电荷将全部放完。 在这个测试系统中，与电容器相串联的电阻器（R）是一个重要的元件。
R = 1/ 0.1uf = 10M 。 当被测电容值比较小,计算串联电阻值大于 100M 时,最大串联电阻取 100M 也可以不 接串联电阻。 这是因为由于电流检测器的反馈电阻最大为 100MΩ，串联电阻选择最大不 用超过 100MΩ，此时噪声增益为 1，既不会对噪声起放大作用。
2 接线端子与信号
试。
这里讨论的应用实例是使用 CHT3530 绝缘电阻测试仪测量电容器的泄漏电阻。此电 阻可以用“IR”（绝缘电阻）来代表，并用兆欧-微法来表示（电阻值可以用“IR”值 除以电容来计算）。在另一些情况下，漏电可以用给定电压（通常为工作电压）下的泄 漏电流来表示。
1 测试方法介绍
测量电容器漏电的方法是向被测的电容器施加一个固定的电压，然后测量所产生的 电流。泄漏电流随时间呈指数衰减，所以通常需要在一个已知的时间期间内施加电压（浸 润时间，即预充电时间），然后再测量电流。
版权所测有：
常州市和普电子有限公司 保密级别：
对用户公开
快速 中速 慢速
快速
时间（大约）
最小 典型 最大
52ms 54ms 56ms
104ms 108ms 112ms
330s 335s 340s
1ms
-
- 15ms
0s
- 999.9s
- 15ms -
44ms 46ms 48ms
发）
t6 打印结果时间（辅助显示关） 7ms 8ms 9ms
t7 分选输出到EOC结束时间
Rf 9
8 10
Vo =Vnoise*Rf/ Zcx
U1C (图a)
Vnoise
R Cx 9 10
Rf
8 Vo =Vnoise*Rf/ (Zcx+R)
U1C
(图b)
Zcx 是 电容的阻抗 Zcx = 1/2πfCx。当电容比较大的时候，Vo 噪声幅度会增大。
图 b 在加入电阻 R 后噪声输出幅度可远远小于图 a 中的噪声输出。同时由于 R（<100M Ω）的阻抗值大大小于 Cx（薄膜电容正常绝缘阻抗值>10GΩ）的绝缘电阻值，所以串 入的 R 不会对测试带来影响。 例如：测试电容 C = 0.1uf 则串联电阻 R =τ/C 。τ=1s；C = 0.1uf
- 10μs -
t9 触发放电后充/放电标志为1
4 软件设计流程
4.1 测试步骤 步骤 1 ——触发充电 通过读 CHARFLAG 信号来判断当前是否处于充电状态，如果是充电状态，将被测电容切换入
充电通路进行充电。如果是放电状态，触发充电。 步骤 2 ——触发测试 充电结束后，读 EOC 信号来判断是否当前为测试空闲状态，如果是，将被测电容由充电通路