实验报告--超声波
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
四川大学实验报告书
课程名称:实验名称:超声波探伤实验系别:专业:班号:姓名:学号:
实验日期:2013年3月10日同组人姓名:教师评定成绩:
五、实验内容与步骤
一.超生波探伤仪的使用、仪器性能的测定、仪器与直探头综合性能测定 实验要求:1.掌握仪器主要性能:水平线性、垂直线性和动态范围的测试方法; 2.掌握仪器和直探头主要综合性能:盲区、分辨力、灵敏度余量的测试方法。
背景知识:
1.仪器的主要性能:
A.水平线性 仪器荧光屏上时基线水平刻度值与实际声程成正比的程度。
B.垂直线性 仪器荧光屏上的波高与输入信号幅度成正比的程度。
C.动态范围 指反射信号从垂直极限衰减到消失所需的衰减量。 2.仪器与探头的主要综合性能:
A.盲区 从探侧面到能发现缺陷的最小距离成为盲区,其内缺陷不能发现。
B.分辨力 在荧光屏上区分距离不同的相邻两缺陷的能力。
C.灵敏度余量 指仪器与探头组合后在一定范围内发现微小缺陷的能力。
D.声束扩散角 扩散角的大小取决于超声波的波长与探头晶片直径的大小。
D λ
θ700
= 式中D 为探头直径 0θ为波长
实验步骤: 1.水平线性的测试
A.调节有关旋钮。使时基线清晰明亮,并与水平刻度线重合。
B.将探头通过耦合剂置于CSK-IA 试块上,如图所示。
C.调节有关旋钮,使荧光屏上出现五次底波B1~B5,且使B1、B5前沿分别对准水平刻度2.0和10.0,如图所示。
D.观察记录B2、B3、B4与水平刻度值的偏差值a2、a3、a4。
4.盲区的测试
A.[抑制]至“0”,其它旋钮位置适当。
B.将探头置于图中所示。
C.调[增益]、[水平]等旋钮,观察始波后有无独立回波。
D.盲区范围的估计:探头置于Ⅰ处有独立回波,盲区小于5mm ;探头置于Ⅰ处无独立回波,与Ⅱ处有独立回波,盲区在5~10mm 之间;探头置于Ⅱ处无独立回波,盲区大于10mm ;一般规定盲区不大于7mm 。 5.分辨力的测定
A.[抑制]至“0”,其它旋钮位置适当。
B.探头置于图示位置的Ⅲ处,前后左右移动探头,使荧光屏上出现声程为85、91、100的三个反射波A 、B 、C 。
C.当A 、B 、C 不能分开时,则分辨力F1为:(mm)-6-a a )8591(1b a a
b F =-= D.当A 、B 、C 能分开时,则分辨力F2为:a
F c
6a c )8591(2=-=(mm )
JB1834-76标准规定分辨力不大于6mm 。 6.灵敏度余量的测试
A.[抑制]至“0”,[增益]最大,[发射强度]至强。
B.连接探头,探头置于图示的位置(灵敏度余量试块200/φ2平底孔试块),调[衰减器]使φ2平底孔回波达满幅的50%,记录此时[衰减器]的读数N1=58.
C.灵敏度余量∆N=80-N1=22.
二.表面声能损失的测定
实验要求:1.了解不同表面粗糙度探测面对透入声能的影响
2.掌握直探头探伤时表面声能损失值得测定方法
实验步骤:
1.直探头探伤时表面耦合损失的测定
A.将2.5P20探头置于对比试块(CSK-ⅢA)上,调[衰减]、[增益]按钮,使底波B1达满幅的50%,将
记录[衰减器]读数N1.
B.将探头移至待测试快上,固定[增益]不动,调[衰减器],是底波达50%,记录衰减器读数N2。
C.计算二者表面耦合损失差:∆=N2-N1(dB)。
三.材料衰减系数的测定
实验要求:掌握材料综合衰减系数的测定方法
背景知识:
1.介质衰减系数公式如下
板厚。
面每次反射损失约为
表面反射损失,光洁表
,但必须在未扩散区内
次底波高度,一般为
第
次底波高度,一般为
第
式中:
)
(
)
(
)
(
--
5
0.
--
10
~
2
n
--
2
~
1
m
--
mm
/
d
m
-n
2
-
m
-n
2
-
20lg
n
n
m
x
dB
B
B
B
B
B
B
B
x
B
B
m
δ
δ
δ
α
∆
=
=
2.厚板试件介质衰减系数
底面反射损失。
值;
扩散衰减引起的
第二次底波高;
第一次底波高;
式中:
-
-
d
-
-
6
-
-
B2
-
-
B1
(dB/mm)
2
-
6
-
2
6
20lg
1
2
δ
δ
δ
α
B
x
x
B
B
∆
=
-
-
=