SPC统计过程控制培训课件(PPT 50页)
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SPC统计过程控制培训教材(PPT 72页)
➢ 戴明博士对日本指导质量管理的成功,让美国 人惊醒原来日本工商经营成功的背后竟然有一 位美国人居功最大,故开始对戴明博士另眼看 待。1980年6月24日全国广播公司(NBC)在电视 播放举世闻名的“日本能为什么我们不能”(If Japan Can, Why Can‘t We?),使戴明博士一 夜成名。从此以后美国企业家重新研究戴明的 质量管理经营理念。
步骤8:运用控制限进行控制;
计数控制图和计点控制图
不良品率控制图(P图)
对产品不良品率进行监控时用的控制图 ;
质量特性良与不良,通常服从二项分 布; 当不良率P较小样本量n足够大时,该 分布趋向于正态分布
适用于全检零件或每个时期的检验样本 含量不同。
不良品率控制图(P图)
检验并记录数据 计算平均不合格品率P 计算中心线和控制界限 绘制控制图并进行分析
20世纪50年代以来,科学技术和工业生产的发展,对质量要求越来越高 ,要求人们运用“系统工程”的概念,把质量问题作为一个有机整体加以综 合分析研究,实施全员、全过程、全企业的管理。
SPC(统计过程控制)
--统计性的反馈系统
Statistical: (统计)以概率统计学为基础,用 科学的方法分析数据、得出结论; ——使用数据分析
标准正态分布函数:N(0,1)
小概率事件理解
1.例行检查身体 2.烟雾探测器
正态分布图与控制图
正态分布图与控制图
??那是不是说只有符合正态分布的特性(变量) 才可以用控制图呢?
休哈特实验
休哈特分别从矩形分布和三角分布的总体中,抽取n =4的样本,计算样本均值Xbar,经过多次实验后发 现,Xbar基本符合正态分布。
(William Edwards Deming)
步骤8:运用控制限进行控制;
计数控制图和计点控制图
不良品率控制图(P图)
对产品不良品率进行监控时用的控制图 ;
质量特性良与不良,通常服从二项分 布; 当不良率P较小样本量n足够大时,该 分布趋向于正态分布
适用于全检零件或每个时期的检验样本 含量不同。
不良品率控制图(P图)
检验并记录数据 计算平均不合格品率P 计算中心线和控制界限 绘制控制图并进行分析
20世纪50年代以来,科学技术和工业生产的发展,对质量要求越来越高 ,要求人们运用“系统工程”的概念,把质量问题作为一个有机整体加以综 合分析研究,实施全员、全过程、全企业的管理。
SPC(统计过程控制)
--统计性的反馈系统
Statistical: (统计)以概率统计学为基础,用 科学的方法分析数据、得出结论; ——使用数据分析
标准正态分布函数:N(0,1)
小概率事件理解
1.例行检查身体 2.烟雾探测器
正态分布图与控制图
正态分布图与控制图
??那是不是说只有符合正态分布的特性(变量) 才可以用控制图呢?
休哈特实验
休哈特分别从矩形分布和三角分布的总体中,抽取n =4的样本,计算样本均值Xbar,经过多次实验后发 现,Xbar基本符合正态分布。
(William Edwards Deming)
统计过程控制SPC培训讲座(PPT共 50张)
SPC控制图的好处
A. 对工程部门和品质部门来说,SPC可将每一 工序的关键性的参数有系统地记录下来,并研究和 分析其走势、变异,从而预防或补救工序所产生的 问题。 B. 对生产部门来说,用SPC来控制生产工序, 可达到稳定的生产率,减少在品质控制(Q.C.)检查 时,因拒收所做之返检、重做、修理等弊病。 C. 生产工序中之直接生产员工或管理人员,若 能够与工程部及品质部等SPC组员多沟通,可加速 新人对工序的了解,从而提升生产技术,培育员工 的归属感。
3.04 2.25 2.93 4.6 3.07 2.8 2.7 3.67 3.67 2.82 上面5个读数的平均 2.2 2.67 5.75 2.75 2.71 数. 2.56 2.9 4.4 3.14 5.11 3.6 2.5 4 3.07 4.18 / / / / / 2.84 2.604 4.15 3.446 3.578 1.4 0.65 2.82 1.85 此点出现上面各种测试中的任何一 2.4 3 4 5 6 个时,在此点作标示“ 7 x"。并在背 20:15 21:20 21:30 22:30 3:45 面改善行动中进行记录。 李 李 李 李 李
常规控制图
计量管制图:用在可量度的特性,例如:线宽,板厚, 铜厚,距离,浓度,速率等。
X - R Chart (均值与极差管制图) X- MR Chart (单值和移动极差管制图)
计数管制图:用在不可量度的特性(好-坏,是-不是, 通过-不通过,接受-拒收等),如不良率,合格率,缺 陷数,单位不合格数。
Xbar-R Chart • 子组大小的选择
• 子组大小选择的原则:合理的选择子组大小,选择应使得一个子组内中各样 本之间出现变差的机会小。 如果一个子组内的变差代表很短时间内的零件间的变差,则在子组之间出现不 正常的变差则表明过程发生变化,应进行调查并采取适当的措施。 子组一般由4到5件连续生产的产品的组合,这样做的目的是每个子组内的产品
2024版SPC培训教材全课件
假设检验的基本概念
明确假设检验的定义、原假设与备择假设的设立原则及两类错误 的含义。
参数假设检验
掌握正态总体均值、方差的假设检验方法及步骤,理解t检验和F 检验的原理及应用场景。
非参数假设检验
了解非参数假设检验的适用条件及常用方法,如秩和检验、符号 检验等。
16
方差分析、回归分析应用举例
方差分析
掌握方差分析的基本原理、计算步骤及结果解释,理解其在多因素实验设计中的应用。
化。
大数据在SPC中的应用
大数据技术的不断发展将为SPC提供更丰富的数据来源和分析手段,有助于提高SPC的 应用效果。
2024/1/30
SPC在服务业的拓展
随着服务业的不断发展,SPC的应用领域将逐渐拓展到服务业领域,为服务业的质量管 理提供新的思路和方法。
36
下一讲预告及预备知识
2024/1/30
01
02
03
04
明确数据收集目标
根据业务需求,明确所需数据 的类型、范围和质量要求。
2024/1/30
制定数据收集计划
设计合理的数据收集流程,包 括数据源选择、采集频率、存
储方式等。
执行数据收集
运用合适的数据收集工具和技 术,按照计划进行数据采集。
数据质量监控
建立数据质量评估机制,确保 数据的准确性、完整性和一致
下一讲内容
下一讲将介绍SPC在企业中的实际应 用案例,包括不同行业和不同场景下 的SPC应用实践。
预备知识
为了更好地理解下一讲内容,建议学 员提前了解相关行业的生产流程和质 量管理要求,以及SPC在实际应用中 的挑战和解决方案。
37
THANKS
感谢观看
2024/1/30
SPC统计过程控制培训课程(PPT 87页)
製程能力指標Ca
Ca
X
(T / 2)
(雙邊規格)
ˆ R
d2
製程能力指標C p
Cp
USL LSL
6ˆ
(雙邊規格)
Cp
USL
3ˆ
X
(單邊規格上規格界限)
Cp
X
LSL (單邊規格下規格界限)
3ˆ
ˆ R
d2 只考慮到固定變差或組內變差
製程能力指標C pk
C pk min(C pu , C pl )
C1分析极差图上的数据点
超出控制限的 点
C2识別并标注特殊原因(极差图链)
明显的非随机
C3重新计算控制界限(极差图)超图出形控制限的点
C4分析均值图上的数据点 链
明显的非随机图形 C5识別并标注特殊原因(均值图)
C6重新计算控制界限(均值图)
C7为了继续进行控制延长控制限
控制图的判读
超出控制界限的点:出现一个或多个点超出任何 一个控制界限是该点处于失控状态的主要证据
作控制图的目的是为了使生产过程或工作过程 处于“控制状态”. 控制状态即稳定状态, 指 生产过程或工作过程仅受偶然因素的影响, 产 产品质量特性的分布基本上不随时间而变化的 状态. 反之, 则为非控制状态或异常状态.
控制状态的标准可归纳为二條:
第一條, 控制图上点不超过控制界限; 第二條, 控制图上点的排列分布沒有缺陷.
产品的质量特性有时不止一个, 则应同时采 取几个特性作为控制項目.
使用控制图的注意事項
分组问题
主要是使在大致相同的条件下所收集的质量 特性值分在一组, 组中不应有不同本质的数 据, 以保证组内仅有偶然因素的影响.
我们所使用的控制图是以影响过程的许多变 动因素中的偶然因素所造成的波动为基准来 找出异常因素的, 因此, 必须先找出过程中 偶然因素波动这个基准.
SPC统计过程控制培训课件PPT(48张)
音干扰、振动、照明、室内净化、现场
因 污染程度等等。
素
7
过程能力
SQE Training
过程能力(process capability)以往称为工序能力
过程能力是指工序处于控制状态下的实际加工能 力。---素充分标准化,处于稳定状态 下,工序所表现出来的保证工序质量的能力。
14
指数分类
SQE Training
1、Cp:分布中心无偏离规格中心时衡量 过程能力的指数;
2、Cpk: 分布中心偏离规格中心时衡量 过程能力的指数;
3、Cpm:目标值与规格中心不一致时衡量 过程能力的指数;
4、Cpu:上单侧过程能力指数; 5、Cpl: 下单侧过程能力指数。
15
SQE Training
过程能力决定于质量因素:人、机、料、法、环, 而与公差无关。过程能力是过程的固有属性。
8
SQE Training
进行过程能力分析的意义
一、保证产品质量的基础工作; 二、提高过程能力的有效手段; 三、找出产品质量改进的方向; 四、向客户证明加工过程的能力。
9
指数分类
SQE Training
Cp,Cpk,Cpm Pp,Ppk,Ppm
Ppk修正的过程性能指数 Ppk:“我们实际真正做到多好”
13
SQE Training
Cp,Cpk与Pp,Ppk的应用时机
短期过程能力指数
长期过程能力指数
Cp,Cpk,Cpm
Pp,Ppk,Ppm
新产品试作阶段; 初期生产阶段; 工程变更或设备变更时; 用于初始过程能力研究;
• 量产阶段; • 用于过程能力研究;
SQE Training
Statistical
因 污染程度等等。
素
7
过程能力
SQE Training
过程能力(process capability)以往称为工序能力
过程能力是指工序处于控制状态下的实际加工能 力。---素充分标准化,处于稳定状态 下,工序所表现出来的保证工序质量的能力。
14
指数分类
SQE Training
1、Cp:分布中心无偏离规格中心时衡量 过程能力的指数;
2、Cpk: 分布中心偏离规格中心时衡量 过程能力的指数;
3、Cpm:目标值与规格中心不一致时衡量 过程能力的指数;
4、Cpu:上单侧过程能力指数; 5、Cpl: 下单侧过程能力指数。
15
SQE Training
过程能力决定于质量因素:人、机、料、法、环, 而与公差无关。过程能力是过程的固有属性。
8
SQE Training
进行过程能力分析的意义
一、保证产品质量的基础工作; 二、提高过程能力的有效手段; 三、找出产品质量改进的方向; 四、向客户证明加工过程的能力。
9
指数分类
SQE Training
Cp,Cpk,Cpm Pp,Ppk,Ppm
Ppk修正的过程性能指数 Ppk:“我们实际真正做到多好”
13
SQE Training
Cp,Cpk与Pp,Ppk的应用时机
短期过程能力指数
长期过程能力指数
Cp,Cpk,Cpm
Pp,Ppk,Ppm
新产品试作阶段; 初期生产阶段; 工程变更或设备变更时; 用于初始过程能力研究;
• 量产阶段; • 用于过程能力研究;
SQE Training
Statistical
SPC统计过程控制培训教材(PPT 116页)
1.了解产品总体性能 2. 取消人为特殊因素造成的极端值以稳定制程 3. 规格趋向目标值 4. 减小差异 5. 審核規格,看看是否適用
MQIP – All Rights Reserved
Bak SPC Training
Aug 1-2 , 2004
MQIP
Your Professional Quality Improvement Partner
◆若初始建立控制图,至少要抽取75个以上 的数据,若样本含量N=3,则至少要抽25组 样本. ◆数据必须是最新的,能确切反映当前的工 序水平. ◆抽样时必须记录数据采集日期、时间、采 集人等信息.24样本均值分布898642 ◆抽样必须是随机的.
MQIP – All Rights Reserved
Bak SPC Training
SPC应用背景篇
课程目的:
>了解SPC的历史由来. >掌握控制图基本原理. >掌握SPC的运用领域. >SPC基本统计概念
MQIP – All Rights Reserved
Bak SPC Training
Aug 1-2 , 2004
Your Professional Quality Improvement Partner
Aug 1-2 , 2004
MQIP 控制图的应用
Your Professional Quality Improvement Partner
… …
… …
… …
… …
… …
… …
… …
… …
… …
… …
数据记录一般格式
样本号 (1)
日期/时间
X1
1
3/12 8:00 AM
SPC培训课件PPT(共 69张)
19C 40年代 统计的品质管理 品质是制造出来的 品质控制(QC)
品质保证
品质是设计出来的 品质确保(QA)
19C 60年代 全面质量管理
品质是管理出来的 全面品质(TQC)
19C 80年代 全面质量责任
品质是习惯出来的 全面品质(TQM)
每天进步一点点
过程控制的需要
华邦机械
探测---容忍浪费
通过质量控制来检查最终产品并剔除不符合规范的产品, 在管理部门则经常靠检查或重新检查工作来找出错误,在这 两种情况下都是使用检测的方法,这种方法是浪费的
3. 消除后可以使过程分布结果可预测;
4. 特殊原因是有害的或者也可能是有益的;
每天进步一点点
SPC统计过程控制基本知识
如果仅存在变差的普通原因, 随着时间的推移,过程的输 出形成一个稳定的分布并可 预测。
华邦机械
目标值线 预测
范围
如果存在变差的特殊 原因,随着时间的推 移,过程的输出不 稳定。
范围
每天进步一点点
华邦机械
五大核心工具之间的关系:
APQP 是方法; FMEA、MSA、SPC 是工具; PPAP 是结果,是输出!
每天进步一点点
华邦机械
概论
质量观念的发展
时间
品管历史
品管观念
品管制度
18C前 19C 初
作业人员品质管理 品质是检查出来的 品质检查(QI) 领班品质管理
19C 20年代 检验员品质管理
输出
A B C DE
能控制的因子 - 改善对象 - 能调整 - 特别情况
L MN OP
不能控制的因子 - 共同事项 - Noise - 持续的事项
每天进步一点点
spc培训资料统计过程控制.pptx
——6SIGMA Training Material
统计过程控制
Statistical Process Control
SS
SPC
第一讲: 引言——SPC背景
SS
——引言:SPC背景
美国质量管理专家朱兰博士著名论断: 20世纪“生产力的世纪” 21世纪“质量的世纪”
SS
——引言:SPC背景
质量世纪提出超严格质量要求:
• 科学方法技术支持——否则不可想象。
SS
SPC
重要性、紧迫性、实际意义
•企业薄弱环节所在;
急!!!
急!! 急!
•外部竞争压力加剧;
•企业内在提高、发展的需求。
——必须尽快学习掌握科学先进的技术和方法。
SS
——统计学
第二讲 统计学基础知识
•随机现象 •统计学 •统计方法 •总体、个体、样本
•统计描述 •统计推断 •统计控制 •统计风险
补课
SS
SPC
中国加入WTO
影响
• 经济全球化、市场一体化
• 关税壁垒 ↓
技术壁垒 ↑↑
——技术标准、法规、认证制度。
• 中国企业:竞争力?
——科学管理水平↑
形成生产力 ↑
SS
SPC
世界制造业趋势 :
与世界接轨
• 技术——指标——绝对值要求↑↑
• 管理——质量特性值——波动↓↓
——趋于最小(稳定)
分样本进行研究,并以此推断总体的特征和规律。
SS
——统计学基础方法:随机抽样
• 总体——研究对象的全体。 • 个体——构成总体的每个成员。 • 样本——从总体中抽取部分个体组成的集合。
——样品:样本中的每一个个体。 ——样本容量:样品的个数。又称样本量。
统计过程控制
Statistical Process Control
SS
SPC
第一讲: 引言——SPC背景
SS
——引言:SPC背景
美国质量管理专家朱兰博士著名论断: 20世纪“生产力的世纪” 21世纪“质量的世纪”
SS
——引言:SPC背景
质量世纪提出超严格质量要求:
• 科学方法技术支持——否则不可想象。
SS
SPC
重要性、紧迫性、实际意义
•企业薄弱环节所在;
急!!!
急!! 急!
•外部竞争压力加剧;
•企业内在提高、发展的需求。
——必须尽快学习掌握科学先进的技术和方法。
SS
——统计学
第二讲 统计学基础知识
•随机现象 •统计学 •统计方法 •总体、个体、样本
•统计描述 •统计推断 •统计控制 •统计风险
补课
SS
SPC
中国加入WTO
影响
• 经济全球化、市场一体化
• 关税壁垒 ↓
技术壁垒 ↑↑
——技术标准、法规、认证制度。
• 中国企业:竞争力?
——科学管理水平↑
形成生产力 ↑
SS
SPC
世界制造业趋势 :
与世界接轨
• 技术——指标——绝对值要求↑↑
• 管理——质量特性值——波动↓↓
——趋于最小(稳定)
分样本进行研究,并以此推断总体的特征和规律。
SS
——统计学基础方法:随机抽样
• 总体——研究对象的全体。 • 个体——构成总体的每个成员。 • 样本——从总体中抽取部分个体组成的集合。
——样品:样本中的每一个个体。 ——样本容量:样品的个数。又称样本量。
SPC统计过程控制(PPT 256页)
课程提纲
过程能力研究篇
1.过程能力指数的种类 2.过程能力指数的计算 3.短期过程能力指数研究 4.长期过程能力指数研究 5.计数/计量测量系统研究
SPC应用实战篇
1. SPC成功导入案例 2. SPC成功导入流程 3. SPC特性选择 4. SPC小组成立 5. SPC改善检讨
SPC应用背景篇
概念介绍
计量值:用各种计量仪器测出、以数值形式表现的测 量结果,包括用量仪和检测装置测的零件尺寸、长度 、形位误差等, 如电池之压片厚度, 小片称重, 卷针直 径等指标。
计数值:通常是指不用仪器即可测出的数据。计件如 ON
不合格品数, e.g 裁大片外观不良数,服从二项分布 ;计点如电池激光焊接的气密性, 短路数等, 服从泊松 OFF 分布。
在实际生产中,产品质量的偶然波动与异常 波动总是交织在一起的。控制图就是区分这两类 产品质量波动、亦即区分偶然因素与异常因素这 两类质量因素的重要科学方法。
控制图的历史
• 控制图是1924年由美国品管大师W.A. Shewhart博 士发明。 因其用法简单且效果显著, 人人能用, 到处可用, 逐渐成为实施品质管制时不可缺少的主 要工具, 当时称为 (Statistical Quality Control)。
开发
开发
产品及制 程确认
回馈评鉴及 矫正措施
SPC 可以帮助我们
• 区分正常波动和异常波动;
• 及时发现异常征兆;
• 消除异常因素;
• 减少异常波动; • 提高过程能力;
预防控制
正常波动和异常波动
• 波动是质量的敌人; • 品质改善就是要持续减少设计、制造和服务过
程的波动;
正常波动:
异常波动:
统计过程控制SPC培训教材(PPT 155页)
2. 制造过程的特征 a、任何一个过程都有输入和输出。 b、完成一个过程需开展一系列的活动。 c、完成一个过程必须投入相应的资源。 d、为确保过程的质量,需要对过程中的关键阶段进行必要的检 查、评审、验证。 e、每一个过程本身是价值增加的过程。
第一章 统计过程控制概述
二、产品质量波动
– 产品质量具有波动性和规律性。在生产实践中,即便操作者、 机器、原材料、加工方法、测试手段、生产环境等条件相同, 但生产出的一批产品的质量特性数据却并不完全相同,总是存 在着差异,这就是产品质量的波动性。因此,产品质量波动具 有普遍性和永恒性。当生产过程处于统计控制状态时,生产出 来的产品的质量特性数据,其波动服从一定的分布规律,这就 是产品质量的规律性。
• 有时有利,有时有害。
第一章 统计过程控制概述
例如,原材料的质量不符合规定要求;机器设备带病运转;操作者违反操 作规程;测量工具带系统性误差,等等。由于这些原因引起的质量波动大 小和作用方向一般具有一定的周期性或倾向性,因此比较容易查明,容易 预防和消除。又由于异常波动对质量特性值的影响较大,因此,一般说来 在生产过程中是不允许存在的。
统计过程控制概述
目标值线
范围
如果存在变差的特殊原 因,随着时间的推移, 过程的输出不稳定
预测
时间
???
? ??
? ?
目标值线
? ?
预测
时间
范围
第一章 统计过程控制概述
三、影响产品质量波动的因素
什么是波动? 波动就是变差,是过程的单个输出之间不可避免的差别。可以
用 σ 表示。
从微观角度看,引起产品质量波动的原因主要来自6个方面: “人、机、料、法、测、环(5M1E)”。
概率
第一章 统计过程控制概述
二、产品质量波动
– 产品质量具有波动性和规律性。在生产实践中,即便操作者、 机器、原材料、加工方法、测试手段、生产环境等条件相同, 但生产出的一批产品的质量特性数据却并不完全相同,总是存 在着差异,这就是产品质量的波动性。因此,产品质量波动具 有普遍性和永恒性。当生产过程处于统计控制状态时,生产出 来的产品的质量特性数据,其波动服从一定的分布规律,这就 是产品质量的规律性。
• 有时有利,有时有害。
第一章 统计过程控制概述
例如,原材料的质量不符合规定要求;机器设备带病运转;操作者违反操 作规程;测量工具带系统性误差,等等。由于这些原因引起的质量波动大 小和作用方向一般具有一定的周期性或倾向性,因此比较容易查明,容易 预防和消除。又由于异常波动对质量特性值的影响较大,因此,一般说来 在生产过程中是不允许存在的。
统计过程控制概述
目标值线
范围
如果存在变差的特殊原 因,随着时间的推移, 过程的输出不稳定
预测
时间
???
? ??
? ?
目标值线
? ?
预测
时间
范围
第一章 统计过程控制概述
三、影响产品质量波动的因素
什么是波动? 波动就是变差,是过程的单个输出之间不可避免的差别。可以
用 σ 表示。
从微观角度看,引起产品质量波动的原因主要来自6个方面: “人、机、料、法、测、环(5M1E)”。
概率
SPC统计过程控制培训课件(ppt59页).pptx
i 1
n 1
6. 样本的标准偏差
7. 如:5,9,10,4,7,
s=2.28;
如:7,7,7,6,8,
s=0.63;
6.数据整体分布离平均值越近,标准方差就越小;
数据整体分布离平均值越远,标准方差越大。
二、基本的统计概念-正态分布 ➢正态分布
一种概率分布,生产与科学实验中很多随机变量 的概率分布都可以近似地用正态分布来描述。
如设备的正常震动,刀具的磨损,同一批材料的品质差 异,熟练工人间的替换等。
二、基本的统计概念-波动
➢波动的原因
2. 特殊原因 指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因,即当它们
出现时将造成(整个)过程的分布改变。除非所有的特殊原因都 被查找出来并且采取了措施,否則它们将继续用不可预测的方 式来影响过程的输出。如果系统内存在变差的特殊原因,随时 间的推移,过程的输出将不稳定。
统计过程能力控制认识
LOGO
1 统计过程能力控制(SPC)概述
2
基本的统计概念
4 统计过程能力控制(SPC)应用
1 统计过程能力控制(SPC)概述
一、统计过程能力控制(SPC)概述
➢SPC起源与发展
1. 1924年W.A. Shewhart(休哈特)博士发明了品质控制图。 2. 1939年W.A. Shewhart博士与戴明博士合写了《品质观点的
概率
二、基本的统计概念-正态分布
➢正态分布
特点: 中间高,两边低,左右对 称;两边伸向无穷远。
σ越小,分布越集中在μ附 近,σ越大,分布越分散。
µ (mu)- 位置参数和平均值(mean value) ,表示分布 的中心位置和期望值 (sigma) - 尺度参数(分布宽度),表示分布的分散 程度和标准偏差
n 1
6. 样本的标准偏差
7. 如:5,9,10,4,7,
s=2.28;
如:7,7,7,6,8,
s=0.63;
6.数据整体分布离平均值越近,标准方差就越小;
数据整体分布离平均值越远,标准方差越大。
二、基本的统计概念-正态分布 ➢正态分布
一种概率分布,生产与科学实验中很多随机变量 的概率分布都可以近似地用正态分布来描述。
如设备的正常震动,刀具的磨损,同一批材料的品质差 异,熟练工人间的替换等。
二、基本的统计概念-波动
➢波动的原因
2. 特殊原因 指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因,即当它们
出现时将造成(整个)过程的分布改变。除非所有的特殊原因都 被查找出来并且采取了措施,否則它们将继续用不可预测的方 式来影响过程的输出。如果系统内存在变差的特殊原因,随时 间的推移,过程的输出将不稳定。
统计过程能力控制认识
LOGO
1 统计过程能力控制(SPC)概述
2
基本的统计概念
4 统计过程能力控制(SPC)应用
1 统计过程能力控制(SPC)概述
一、统计过程能力控制(SPC)概述
➢SPC起源与发展
1. 1924年W.A. Shewhart(休哈特)博士发明了品质控制图。 2. 1939年W.A. Shewhart博士与戴明博士合写了《品质观点的
概率
二、基本的统计概念-正态分布
➢正态分布
特点: 中间高,两边低,左右对 称;两边伸向无穷远。
σ越小,分布越集中在μ附 近,σ越大,分布越分散。
µ (mu)- 位置参数和平均值(mean value) ,表示分布 的中心位置和期望值 (sigma) - 尺度参数(分布宽度),表示分布的分散 程度和标准偏差
SPC统计过程控制培训教材(共 87张PPT)
常用概率分布简介
连续型分布:
正态分布:当质量特性(随机变量)由为数众多的因素影响,而又
没有一个因素起主导作用的情况下,该质量特性的值的变异分布,一般 都服从或近似服从正态分布。
离散型分布:
二项分布:一个事物只有两种可能的结果,其值的分布一般服从
二项分布;
泊松分布:稀有事件的概率分布一般服从柏松分布。
上海NQA认证有限公司
22
SPC控制图
SPC控制图对两种错误的预防
错判是虚发警报的错误:由于偶然原因造成数据点超出 控制限的情况,从而造成将一个正常的总体错判为不正 常,在控制限为正负3情况下,这样的概率小于3‰;
漏判是漏发警报的错误,也就是判断当数据点在控制限 内的异常,所以,SPC增加了对界内数据点趋势的判断 准则。
漏判是漏发警报的错误:也称为第II类错误,在过程存 在异常变异时,如被监控的总体的均值或标准偏差发生改 变,仍会有一部分数据在上下控制限之内,从而发生漏 报的错误,这种错误用β表示。
上海NQA认证有限公司
21
SPC控制图
SPC控制图对两种风险预防
漏报
错 报
解决 方案
错报:3σ控制限 漏报:判断准则
上海NQA认证有限公司
SPC的统计理论基础
中心极限定理
设X1,X2,…..,Xn是n个独立分布的随机量,分布的均 值为μ,方差为σ2,则在n较大时,有
(1 )X
1
+X
2
+...+X
n
=
n
X
i
i=1
近似服从均值为nμ,方差为nσ2的正态分布。
( 2 )X
=
X
1
+X
连续型分布:
正态分布:当质量特性(随机变量)由为数众多的因素影响,而又
没有一个因素起主导作用的情况下,该质量特性的值的变异分布,一般 都服从或近似服从正态分布。
离散型分布:
二项分布:一个事物只有两种可能的结果,其值的分布一般服从
二项分布;
泊松分布:稀有事件的概率分布一般服从柏松分布。
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22
SPC控制图
SPC控制图对两种错误的预防
错判是虚发警报的错误:由于偶然原因造成数据点超出 控制限的情况,从而造成将一个正常的总体错判为不正 常,在控制限为正负3情况下,这样的概率小于3‰;
漏判是漏发警报的错误,也就是判断当数据点在控制限 内的异常,所以,SPC增加了对界内数据点趋势的判断 准则。
漏判是漏发警报的错误:也称为第II类错误,在过程存 在异常变异时,如被监控的总体的均值或标准偏差发生改 变,仍会有一部分数据在上下控制限之内,从而发生漏 报的错误,这种错误用β表示。
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SPC控制图
SPC控制图对两种风险预防
漏报
错 报
解决 方案
错报:3σ控制限 漏报:判断准则
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SPC的统计理论基础
中心极限定理
设X1,X2,…..,Xn是n个独立分布的随机量,分布的均 值为μ,方差为σ2,则在n较大时,有
(1 )X
1
+X
2
+...+X
n
=
n
X
i
i=1
近似服从均值为nμ,方差为nσ2的正态分布。
( 2 )X
=
X
1
+X
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什么是:统计过程 控制(SPC)
统计 – 基于概率的决策方法。
过程 --所有重复性的工作或步骤。
控制 --监控工序运行。
基于与“t test”假设检验相同的概念进行分析, 能够使我们在出现的问题影响到输出结果之前, 就作出有关工序的决定、采取行动、解决问题。 。
当过程失控时,SPC将发 出信号,你的任务是找出 失控的原因,然后进行修 正,确保问题不再发生。
n = 10
n = 25
UCL LCL
UCL LCL
Copyright 1995 Six Sigma Academy, Inc.
当采样大小增加时,控制限范围缩小。这样可以 提高过程的灵敏度,即提高了探测到变化的概率。
控制图的灵敏度与采样大小的平方根的比例相关。 即,采样大小为25的控制图灵敏度是采样大小 为4的2.5倍(5/2)。
3.13
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
使用Minitab软件构建 Xbar-S图表
选择响应数据栏,并输入一个表明分组大小的值,或 从分组下标栏(在这个示例中,该项为“Week”)
选择 “Tests”.
确定“失控状态”标 准,选择“执行八种 测试”或从提供的八 种测试中选择需要进 行的几项测试。
要想确定平均值的控制极限范围,必须先计 算出过程的总平均值。
-X X 1 X 2 ...X k k
过程的总平均值
K=分组平均值的个数
控制上限:由下列公式得出:
UCLX X 3 / n
控制下限公式:
LCLX X 3 / n
对于较大的样本容量,给定过程的控制限就会 较小,控制图灵敏度也就较高。
•分组平均值和方差的测量值介于它们的控制极限 范围之内,且未显示出存在可指定来源(特定原 因)变差的证据。
•如果在控制图表中出现数据的非随机型态,或当 某一点超出控制极限时,这是表示在你的过程中 出现了可指定来源(特定原因)的变差的明显信 号。
可指定来源变差区域
稳定过程变差区域 (仅存在一般原因变差)
3.7
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
假设检验?
控制图是连续进行的双边检验的图形显示,其中 Ho和Ha定 义如下:
Ho: i Ha: i
/2 对于3σ限制, = 0.00135 UCLx
X
注意:近似置信度为 99.7%.
可指定来源变差区域
UCL X LCL
一个稳定过程的输出值很少超出正负三个Sigma范围。
3.10
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
控制图表类型
控制图表类型
监控连续 X的变量
图表
监控离散 X的分布
图表
平均值与极差 Xbar & R N<10, 典型3-5
4.3 4.2 4.1 4.0 3.9 3.8 3.7 Subgroup 0
Xbar/S Chart for Evaluations
1
5
10
1
15
20
3.0SL=4.232 X=4.096 -3.0SL=3.959
用于分析和控制连续 过程变量
25
能够使用Xbar-S 图
0.6 1
0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0.0
• 研究、 识别并 确定该变差的可指定原因,将其在图表中 相应的时间点上标明。
• 在第七周的区域中心的变化量大于期望值,这样也要求 进行研究、纠正并记录。
失控指示可能来自任一图表。
3.16
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
计算平均值图的控制限
观察值相与用统计方法计算出的“ 控制极限范围 ”(期望值)的图形比较。
• 绘制随时间而变化的表现。
• 一个过程的改变包括平均值和/或方差的改变, 因此我们总是同时绘出平均值以及方差的控制 图(Xbar和S)。
• 平均值的控制极限表示双边假设检验极限,用于 推断观测的样本均值是否发生了变化。
• Sigma的控制极限或极差表示方差在何处显示 差异。
Y
X
控制图表应用于 过程变量; 自变量; 设计变量 X1, X2,..., Xk
提高因变量的稳定性, 响应值 Y1,Y2,..., Ym
3.4
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
什么时候使用SPC?
• 希望获悉什么信息?
—关键过程变量(X或Y)在随时间变化 吗?(即该过程稳定吗?)
控制上限
100.00 99.00 98.00
X
LCL
Avg
LCL-A 总平均中心线
Avg-Gd UCL-A
97.00
96.00 1
失控状况,记录
采取的修复行为
3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
控制下限
样本/分组(按时间排序)
Sigma 图表
7.00
6.00
UCLs
5.00
• 如何观察输出变量?
— 基于实时数据、显示过程变化的图表
SPC是一个严密的过程,它要求操作小组积极参 与数据的采集和分析。
3.5
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
控制图表包含内容
X Bar 图表
102.00 101.00
UCL
均值/方差
C5:
IRREGULAR IRREGULAR
不稳定过程不存在可预测的表现, 而且稳定的运行状态可能不是持续 不变的。
3.9
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
过程稳定性
• 当过程输出值仅包括一般原因变差时,该过程被 认为是稳定的。
3.0SL=0.2409 S=0.1403 -3.0SL=0.03982
– 在测量阶段,通过图形 显示方式将变差的特定 原因与一般原因分离。
Xbar-s 图表的最佳生成 法是使用Mimitab 或其它 统计软件包。如果没有该 软件,则使用 Xbar-R 或 其它手工控制图表.
– 在分析和改进阶段,在 完成假设检验之前检查 过程的稳定性。
3.14
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
看!!…现在出现了什么?
Minitab生成了Xbar-S 图,它自动计算控 制极限范围。图中标 明了失控点,并且在 会话框中得以总结。
Sample StDev
Sample Mean
4.3 4.2 4.1 4.0 3.9 3.8 3.7 Subgroup 0
k= 分组个数
• 确定控制限的上下线。
– 计算方法基于与平均值图相似的概念, 但是较之更为复杂。幸运地是,Minitab 可以计算出这些极限范围。
3.18
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
大型分组 提高灵敏度
n=3
UCL
LCL
平均值与标准 偏差Xbar与S
n≥ 10
缺陷比例 p 图表
典型 n > 50 跟踪 dpu/dpo
次品数量 nP图表 n ≥ 50(常量) 跟踪次品数量
中间值与极差 X与R n<10 典型3-5
单个数据点和 移动极差 XmR n=1
缺陷数量 c 图表 c>5
缺陷数/单元 U 图表 N 变量
存在两种控制图表类型: 变量图表- 用于监控连续变量值X, 如:一个直径或消费者满意 度评分。
– 在控制阶段,在改进措 施实行后检验过程控制 。
3.12
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Statistical Process Control
使用Minitab软件构建 Xbar-S图表
文件: GEAPPS>6Sigma>Minitab>Training>Minitab> Session 4> control chart.mtw 选择 Stat > Control Charts > Xbar-S
属性图表- 用于监控离散变量值X, 如:合格产品/次品数量, 或存货水平。
为了选择合适的控制图监控你的过程,首先要 决定重要的过程变量(X)是连续的还是离散的.
3.11
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
X Bar西格玛 (Xbar-S) 控制图
1
5
10
1
1
15
20
3.0SL=4.232 X=4.096 -3.0SL=3.959
25
3.0SL=0.2409 S=0.1403 -3.0SL=0.03982
Sample StDev
• 在第七和十六周测定的平均值低于最小控制限度3.957. . . 它们属于失控点。
• 这个变化是由一些指定原因(相关系统或初始范围)导 致的。
时间
Condition
C1:
C2:
C3:
C4:
Time t1:
t2:
t3:
t4:
t5:
t6:
统计 – 基于概率的决策方法。
过程 --所有重复性的工作或步骤。
控制 --监控工序运行。
基于与“t test”假设检验相同的概念进行分析, 能够使我们在出现的问题影响到输出结果之前, 就作出有关工序的决定、采取行动、解决问题。 。
当过程失控时,SPC将发 出信号,你的任务是找出 失控的原因,然后进行修 正,确保问题不再发生。
n = 10
n = 25
UCL LCL
UCL LCL
Copyright 1995 Six Sigma Academy, Inc.
当采样大小增加时,控制限范围缩小。这样可以 提高过程的灵敏度,即提高了探测到变化的概率。
控制图的灵敏度与采样大小的平方根的比例相关。 即,采样大小为25的控制图灵敏度是采样大小 为4的2.5倍(5/2)。
3.13
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
使用Minitab软件构建 Xbar-S图表
选择响应数据栏,并输入一个表明分组大小的值,或 从分组下标栏(在这个示例中,该项为“Week”)
选择 “Tests”.
确定“失控状态”标 准,选择“执行八种 测试”或从提供的八 种测试中选择需要进 行的几项测试。
要想确定平均值的控制极限范围,必须先计 算出过程的总平均值。
-X X 1 X 2 ...X k k
过程的总平均值
K=分组平均值的个数
控制上限:由下列公式得出:
UCLX X 3 / n
控制下限公式:
LCLX X 3 / n
对于较大的样本容量,给定过程的控制限就会 较小,控制图灵敏度也就较高。
•分组平均值和方差的测量值介于它们的控制极限 范围之内,且未显示出存在可指定来源(特定原 因)变差的证据。
•如果在控制图表中出现数据的非随机型态,或当 某一点超出控制极限时,这是表示在你的过程中 出现了可指定来源(特定原因)的变差的明显信 号。
可指定来源变差区域
稳定过程变差区域 (仅存在一般原因变差)
3.7
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
假设检验?
控制图是连续进行的双边检验的图形显示,其中 Ho和Ha定 义如下:
Ho: i Ha: i
/2 对于3σ限制, = 0.00135 UCLx
X
注意:近似置信度为 99.7%.
可指定来源变差区域
UCL X LCL
一个稳定过程的输出值很少超出正负三个Sigma范围。
3.10
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
控制图表类型
控制图表类型
监控连续 X的变量
图表
监控离散 X的分布
图表
平均值与极差 Xbar & R N<10, 典型3-5
4.3 4.2 4.1 4.0 3.9 3.8 3.7 Subgroup 0
Xbar/S Chart for Evaluations
1
5
10
1
15
20
3.0SL=4.232 X=4.096 -3.0SL=3.959
用于分析和控制连续 过程变量
25
能够使用Xbar-S 图
0.6 1
0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0.0
• 研究、 识别并 确定该变差的可指定原因,将其在图表中 相应的时间点上标明。
• 在第七周的区域中心的变化量大于期望值,这样也要求 进行研究、纠正并记录。
失控指示可能来自任一图表。
3.16
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
计算平均值图的控制限
观察值相与用统计方法计算出的“ 控制极限范围 ”(期望值)的图形比较。
• 绘制随时间而变化的表现。
• 一个过程的改变包括平均值和/或方差的改变, 因此我们总是同时绘出平均值以及方差的控制 图(Xbar和S)。
• 平均值的控制极限表示双边假设检验极限,用于 推断观测的样本均值是否发生了变化。
• Sigma的控制极限或极差表示方差在何处显示 差异。
Y
X
控制图表应用于 过程变量; 自变量; 设计变量 X1, X2,..., Xk
提高因变量的稳定性, 响应值 Y1,Y2,..., Ym
3.4
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
什么时候使用SPC?
• 希望获悉什么信息?
—关键过程变量(X或Y)在随时间变化 吗?(即该过程稳定吗?)
控制上限
100.00 99.00 98.00
X
LCL
Avg
LCL-A 总平均中心线
Avg-Gd UCL-A
97.00
96.00 1
失控状况,记录
采取的修复行为
3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
控制下限
样本/分组(按时间排序)
Sigma 图表
7.00
6.00
UCLs
5.00
• 如何观察输出变量?
— 基于实时数据、显示过程变化的图表
SPC是一个严密的过程,它要求操作小组积极参 与数据的采集和分析。
3.5
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
控制图表包含内容
X Bar 图表
102.00 101.00
UCL
均值/方差
C5:
IRREGULAR IRREGULAR
不稳定过程不存在可预测的表现, 而且稳定的运行状态可能不是持续 不变的。
3.9
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
过程稳定性
• 当过程输出值仅包括一般原因变差时,该过程被 认为是稳定的。
3.0SL=0.2409 S=0.1403 -3.0SL=0.03982
– 在测量阶段,通过图形 显示方式将变差的特定 原因与一般原因分离。
Xbar-s 图表的最佳生成 法是使用Mimitab 或其它 统计软件包。如果没有该 软件,则使用 Xbar-R 或 其它手工控制图表.
– 在分析和改进阶段,在 完成假设检验之前检查 过程的稳定性。
3.14
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
看!!…现在出现了什么?
Minitab生成了Xbar-S 图,它自动计算控 制极限范围。图中标 明了失控点,并且在 会话框中得以总结。
Sample StDev
Sample Mean
4.3 4.2 4.1 4.0 3.9 3.8 3.7 Subgroup 0
k= 分组个数
• 确定控制限的上下线。
– 计算方法基于与平均值图相似的概念, 但是较之更为复杂。幸运地是,Minitab 可以计算出这些极限范围。
3.18
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
大型分组 提高灵敏度
n=3
UCL
LCL
平均值与标准 偏差Xbar与S
n≥ 10
缺陷比例 p 图表
典型 n > 50 跟踪 dpu/dpo
次品数量 nP图表 n ≥ 50(常量) 跟踪次品数量
中间值与极差 X与R n<10 典型3-5
单个数据点和 移动极差 XmR n=1
缺陷数量 c 图表 c>5
缺陷数/单元 U 图表 N 变量
存在两种控制图表类型: 变量图表- 用于监控连续变量值X, 如:一个直径或消费者满意 度评分。
– 在控制阶段,在改进措 施实行后检验过程控制 。
3.12
GE Appliance Copyright 1999
Statistical Process Control
使用Minitab软件构建 Xbar-S图表
文件: GEAPPS>6Sigma>Minitab>Training>Minitab> Session 4> control chart.mtw 选择 Stat > Control Charts > Xbar-S
属性图表- 用于监控离散变量值X, 如:合格产品/次品数量, 或存货水平。
为了选择合适的控制图监控你的过程,首先要 决定重要的过程变量(X)是连续的还是离散的.
3.11
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Statistical Process Control
X Bar西格玛 (Xbar-S) 控制图
1
5
10
1
1
15
20
3.0SL=4.232 X=4.096 -3.0SL=3.959
25
3.0SL=0.2409 S=0.1403 -3.0SL=0.03982
Sample StDev
• 在第七和十六周测定的平均值低于最小控制限度3.957. . . 它们属于失控点。
• 这个变化是由一些指定原因(相关系统或初始范围)导 致的。
时间
Condition
C1:
C2:
C3:
C4:
Time t1:
t2:
t3:
t4:
t5:
t6: