X射线衍射基础总结

合集下载

x射线衍射分析-总结

x射线衍射分析-总结
厚积薄发
Page 2
学而知新
这一章,主要介绍X射线发展史中几位重要的历史人物。
伦琴Röntgen 劳厄Laue 布拉格父子Bragg 莫塞莱Moseley ……
厚积薄发
Page 3
学而知新
1.伦琴发现X射线
伦琴
Wilhelm Konrad Rö ntgen 1845-1923 德国维尔茨堡大学实验 物理学家 X射线的发现者 1901年诺贝尔物理学奖
厚积薄发
Page 17
学而知新
6 1943年:科学家获得DNA的X射线衍射图
厚积薄发
Page 18
学而知新
英国科学家威廉· 阿斯伯里先从细胞中提取出DNA,然后
将针扎入有粘性的DNA溶液中,针在抽出时带出由DNA 分子组成的多股分子线,每根分子线大致相互平行。对 DNA多股分子线进行X射线照射,阿斯伯里在1943年获 得了首张 DNA的X射线衍射图。衍射图显示DNA具有规 律性、周期性的结构。阿斯伯里提出核苷酸的碱基对 “如同便士(英国的硬币)一样”一个压一个摞在一起 。 DNA的X射线衍射图为最终揭示其结构奠定了基础。
厚积薄发
Page 16
学而知新
5.莫塞莱定律
1914年也是X射线物理学进展的重要一年,莫塞莱(Henry Gwyn-Jeffreys Moseley)对X射线轰击不同靶金属后所产 生的特征谱线进行了系统研究 ,证明如给各元素指定一定 序号Z(后来称之为原子序数),任何元素X射线谱线的频 率的平方根是原子序数的函数 即:(1/)1/2=Q(Z-), 波长,Q 和为不同种类的谱线设 定的常数 射 线 管
劳 厄 斑 点
铅 屏
晶体
底 片
晶体可看作三维 立体光栅 根据劳厄斑点的 分布可算出晶面间距 掌握晶体点阵结构

X射线衍射基础

X射线衍射基础

X射线谱---- 特征X射线谱

• Mo光源波长:0.7107 Å 波长较短,穿透能力强,能 在低角处得到高指数晶面衍 射峰,吸收较小。
应用项目 无机/有机金属化合物 大/超大分子
Mo √
Cu √
绝对构型(有机晶体)
高压 蛋白 √


• Cu光源波长:1.5418 Å 波长较长,散射能力高。某 些金属离子的吸收较大。
灯丝
真空封闭
多层膜光学部件
e’s
铍窗口
X射线
阳极金属靶,如 Cu、Mo等
水冷
转靶光源
传动带
高速旋转
铁磁密封
5-18 kW Power 1-3kW Power for MF
阳极金属靶, 如 Cu、Mo等 铍窗口
灯丝 动态真空泵
X射线
水冷
X射线衍射原理
• 衍射的条件: 1. 相干波
2. 光栅
衍射的结果是产生明暗相间 的衍射花纹,代表着衍射方向 (角度)和强度。根据衍射花纹 可以反过来推测光源和光栅的情 况。 为了使光能产生明显的偏 向,必须使“光栅间隔”具有与 光的波长相同的数量级。
孪晶
电子云密度 弱/小晶体 无公度 含严重吸收成分 准晶 粉末




√ √
√ √ √
传统封闭管
2-3 kW power 灯丝 真空密封
陶瓷管壁
e’s 铍窗口
X射线
铍窗口 阳极金属靶, 如 Cu、Mo等 水冷
封闭管 – 微焦斑技术
30-50 W power Nova 微焦点的电子束 (作用于阳极靶 的能量密度高)
* hkl
OC=1/λ, OP=d*, ∠PAO=θ

X射线衍射学基础

X射线衍射学基础

第1.1 X 射线本质是一种电磁波,它的波长很短,大学与晶体内呈周期排列的原子间距为同一数量级,在10-8m 。

1.2 x 射线也具有波粒二象性,它的波动性表现为以一定频率和波长在空间传播,微粒性表现为以光子形式辐射和吸收,具有一定质量、能量和动量。

)c (//为光速为普朗克常数,h h p hc hv λλε=== 1.3x 射线产生条件(1)产生自由电子的电子源,如加热钨丝发射热电子;(2)设置自由电子撞击靶子,如阳极靶,用以产生X 射线;(3)施加在阴极和阳极之间的高压,用以加速电子朝阳极靶方向加速运动,如高压发生器;(4)将阴、阳极封闭在>10-3Pa 的高压真空中,保持两极纯洁,促使加速电子无阻地撞击到阳极靶上。

1.4x 射线管由阴极阳极、窗口、焦点等组成。

1.5.x 射线性质:(1)人的肉眼看不见X 射线,但X 射线能使气体电离,使照相底片感光,能穿过不透明的物体,还能使荧光物质发出荧光。

(2)X 射线呈直线传播,在电场和磁场中不发生偏转;当穿过物体时仅部分被散射。

(3)X 射线对动物有机体(其中包括对人体)能产生巨大的生理上的影响,能杀伤生物细胞。

(4)X 射线具有波粒二相性。

1.6X 射线管中阳极靶发射出的X 射线谱分为两类:连续X 射线谱和特征X 射线谱。

1.7连续X 射线谱:一个带负电荷的电子作加速运动时,电子周围的电磁场将发生急剧变化,此时必然要产生一个电磁波,或至少一个电磁脉冲。

由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不完全相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X 射线谱。

在这些光子中,光子能量的最大极限值也不可能大于电子的能量,而只能小于或等于电子的能量,极限情况为:0m a x /λhc hv ev ==1.8.电子束轰击阳极时,99%的能量转化为热能,只有1%左右的能量转化为x 射线的能量。

因此,X 射线的效率是很低的。

1.9特征X 射线谱,当管电压超过某临界值时,特征谱才会出现,该临界电压称激发电压。

第一章_X射线衍射分析

第一章_X射线衍射分析
振动着的电子以本身为散射中心向周围辐射与入射 X射线波长相同的次级X射线。
弹性碰撞,X射线只改变方向,不改变能量
返回上层
(2)非相干散射 又称非弹性散射、量子散射
又称为 康普顿散射 或 康普顿效应
康普顿效应首先于1922-1923年由美国物理学家 康普顿Compton观察到,并在随后的几年间,由 他的研究生吴有训进一步证实。康普顿因发现此 效应而获得1927年的诺贝尔物理学奖。
焦点形状由 阴极灯丝形状 和 金属聚焦罩形状 决定 。 一般情况:1×10mm长方形
X射线管窗口位置不同,所得焦点形状和面积不同:
与焦点短边垂直的方向上的窗口, 得表观面积1×1mm正方形点焦点, 适于拍摄粉末照片和劳厄照片 。
与焦点长边垂直的方向上的窗口, 得表观面积为0.1×10mm线焦点 , 适于衍射仪的工作 。
现象:X射线被物质散射后,除波长不变的部分 外,还有波长变长的部分出现。
康普顿效应实验装置
• 产生原因:与束缚力弱的外层电子或自由电子碰撞
电子获得一部分动能 成为反冲电子;
Φ角度方向产生一个 新X射线光子
• 特点:散射波改变方向,能量变小
(频率变小亦即波长变长)
动量、能量守恒:
' h (1 cos )
压强单位:
帕斯卡 Pa 巴 bar 标准大气压 atm 毫米汞柱(托) mmHg(Torr)
换算关系:
1 atm = 1.01×105Pa = 760 mmHg (Torr)= 1. 01 bar
2. X射线的产生
X射线管的阳极接地,热阴极上加负高压,形成高
压电场。
220V AC → 高压变压器(初、次级)→ 整流 → 负高压

X射线衍射分析原理及应用

X射线衍射分析原理及应用

X射线衍射分析原理及应用一、X射线衍射分析的原理X射线衍射的基本原理是当X射线入射到晶体表面时,由于晶体具有定向排列的原子或离子,X射线与晶体中的电子发生相互作用并散射,形成不同方向上的干涉条纹,通过测量和分析这些干涉条纹的位置和强度可以推断出晶体的结构特征。

具体来说,X射线衍射分析的原理可以归纳为以下几个方面:1. 布拉格法则:当入射角θ和出射角θ'满足布拉格方程nλ = 2d·sinθ,即入射的X射线与晶体晶面的倾角和衍射角满足特定的关系时,会发生衍射。

2.动态散射:在晶体中,入射的X射线会与晶格中的电子发生相互作用,散射成各个方向上的次级波,波的振动方向垂直于入射方向。

3.干涉:次级波在不同晶面的散射电子之间发生干涉,产生特定的干涉条纹。

4.衍射图样:干涉条纹的位置和形状与晶体的晶胞结构、晶面间距以及晶体取向有关,通过测量和分析衍射图样可以确定这些信息。

二、X射线衍射分析的应用1.晶体结构分析:通过在不同角度下测量样品的X射线衍射图样,可以推断出材料的晶体结构,包括晶胞参数、晶面间距、原子位置等信息。

这对于理解材料的物理、化学以及电子结构等性质非常重要。

2.晶体取向分析:X射线衍射分析可以用来确定晶体中不同晶向的取向分布,即晶体中晶面的取向。

这对于材料工艺和性能的控制具有重要意义,例如金属的冷轧、挤压等过程中,晶体的取向对材料的力学性能有很大影响。

3.晶体缺陷分析:晶体中存在着各种缺陷,如位错、晶界、析出相等。

通过观察和分析X射线衍射图样中的峰形和峰宽等信息,可以确定晶体的缺陷类型和含量,进而了解材料的机械、电学以及热学性质。

4.应力分析:在材料的变形过程中,晶体中会引入应力场。

应力会引起晶格的畸变,从而导致X射线衍射图样的形状和位置发生变化。

通过分析这些变化可以得到材料中的应力分布和大小,对于材料的力学性能的评估和优化具有重要意义。

总之,X射线衍射分析是一种非常重要的材料表征方法,可以提供丰富的关于晶体结构、晶胞参数、晶体取向以及晶体缺陷等信息。

简述x射线衍射的基本原理和应用

简述x射线衍射的基本原理和应用

简述x射线衍射的基本原理和应用1. 基本原理x射线衍射是一种通过射线衍射现象来研究物质结构的方法。

它基于x射线与物质相互作用的原理,通过衍射现象来获取物质的结构信息。

x射线衍射的基本原理可概括为以下几点:•x射线的产生:x射线是一种电磁波,通过高速运动的电子的碰撞产生。

常用的x射线源包括x射线机和x射线管。

•入射光线的衍射:当x射线照射到物体上时,会发生衍射现象。

衍射是光线在通过物体边缘或孔隙时被波动性所限制而出现弯曲的现象。

•晶体的衍射:当x射线通过晶体时,会发生晶体的衍射现象。

晶体的结构会导致入射的x射线发生干涉和衍射,形成一系列的衍射斑点。

•衍射斑的分析:通过测量和分析衍射斑的形状、强度和分布等特征,可以推断出晶体的内部结构和晶格常数等信息。

2. 主要应用x射线衍射在物质科学和材料科学研究中有着广泛的应用。

以下列举了一些常见的应用领域:•晶体结构分析:x射线衍射可用于解析晶体的结构。

通过测量和分析衍射斑点的特征,可以确定晶格常数、晶体的对称性和原子排列等信息。

•晶体缺陷分析:x射线衍射还可以用于研究晶体中的缺陷。

缺陷会导致衍射斑的形状和强度发生变化,通过分析这些变化可以推断出晶体中的缺陷类型和密度等信息。

•材料相变研究:x射线衍射可以用于研究材料的相变过程。

不同的材料在不同的温度和压力下会发生相变,通过测量和分析衍射斑的变化,可以揭示相变的机制和性质。

•结晶体制备优化:x射线衍射还可以用于优化结晶体的制备方法。

通过观察和分析衍射斑的特征,可以评估结晶体的质量和纯度,为制备过程的优化提供指导。

•蛋白质结构研究:x射线衍射在生物学领域也有着重要的应用。

通过测量和分析蛋白质的衍射斑,可以确定蛋白质的三维结构,从而研究其功能和相互作用等。

•X射线显影:x射线衍射还广泛应用于医学影像学中的x射线显影。

通过测量x射线在人体组织中的衍射斑,可以获得有关组织的结构信息,以用于诊断和治疗。

以上只是x射线衍射的一些基本原理和应用领域的简述,实际应用中还有许多相关的技术和方法。

X射线衍射学基础

X射线衍射学基础
从结构的角度可将物质分为两大类: 晶态物质:内部原子、原子团或分子在三维空间周期性重复排列的
固体,即晶体;
非晶态物质—内部原子、原子团或分子在宏观范围内不呈现周期性
排列的固体,即非晶体。
石英晶体(a)和石英玻璃(b)内部质点的排列
1.1.4.1 晶体的基本结构单元
晶体是具有格子构造的固态物质,每种晶体结构都可由其对应的单 位平行六面体(晶格)在空间的三个方向平行堆砌而获得。
(非相干散射的X射线在X射线衍射分析中增加衍射花样的背底)
吸收
入射X射线的能量在通过物质时转变为其它形式的能量。
(物质对X射线的吸收主要是由其原子内部电子的跃迁造成)
光电效应:以光子激发原子所发生的激发和辐射过程。
当一个具有足够能量的X射线光子与物质中的原子相互碰撞时,从原 子内部击出一个K层电子,导致原子激发;处于激发态的原子在弛豫过程 中以辐射光子的方式释放的能量而产生次级X射线。
X射线相对强度随其波长改变而连 续变化;
在短波方向有一波长极限:
短波限 0
随管电压增高,相对强度增大,但
谱形相似;最大强度约在1.50 。
《测试方法》P6图1-8给出管电压、管电流 和阳极材料种类对连续X射线谱的影响。
(《晶体X射线衍射学基础》P6图1-7)
标识X射线谱
谱线特征:
连续X射线谱上叠加若干条具有 一定波长的谱线。
X射线荧光分析中,希望得到尽可能强的荧光X射线,因此,激发源的λK 应小于 样品物质的λK 。
透射
入射X射线透过物质继续沿原来的方向传播。 当一束X射线通过物质时,由于散射和吸收作用,使透射 方向上的强度衰减:
(1.8)
式中: I0 — 入射X射线的强度; IH — 通过厚度为H的物质后X射线的强度; μ — 线衰减系数:表示单位体积物质对X射线强度的衰减程度; μm — 质量衰减系数:表示单位重量物质对X射线的衰减程度。

X射线衍射物理基础

X射线衍射物理基础
第42页/共47页
X射线的折射
X射线从一种介质进入另一种介
质产生折射,折射率M非常接近
1,M约为0.99999~0.999999 。
M
1
ne22 2mc 2
1
ne22 2mc 2
第43页/共47页
X射线与物质相互作用的总结
散射X射线 电子
相干的
非相干 的 反冲电子 俄歇电子 光电子
荧光X射线
康普顿效应 俄歇效应 光电效应
第34页/共47页
非相干散射
X射线光子与束缚力不大的外层电子 或自由电 子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子, X射线光子离开原来方向,能量减小,波长增 加。 非相干散射是康普顿(pton)和我国 物理学家吴有训等人发现的,亦称康普顿效应。 非相干散射突出地表现出X射线的微粒特性, 只能用量子理论来描述,亦称量子散射。它会 增加连续背影,给衍射图象带来不利的影响, 特别对轻元素。
第29页/共47页
莫塞莱定律
标识X射线谱的频率和波长只取决于阳 极靶物质的原子能级结构,是物质的固 有特性。且存在如下关系: 莫塞莱定律:标识X射线谱的波长λ与原
子序数Z关系为: 1 CZ
第30页/共47页
标识X射线的强度特征
K系标识X射线的强度与管电压、管电流
的关系为:I标 K 2iV Vk n
吸收的作用使其透射方向上的强度衰减。
衰减的程度与所经过物质中的距离成正
比。式 I x I xdx dIx dx
Ix
Ix
I H I0e / H I0emH
第39页/共47页
质量衰减系数μm
表示单位重量物质对X射线强度的衰减 程度。
质量衰减系数与波长和原子序数Z存在如

X射线衍射基础知识和分析方法的应用

X射线衍射基础知识和分析方法的应用
对薄膜分析,通常的要求是入射角必须高度精确。通常来 说薄膜的衍射信息很弱,因此需采用一些先进的X射线光 学组件和探测器技术。
薄膜掠射分析:薄膜相分析 反射率仪:密度、厚度、表面与界面粗糙度测量
28
薄膜材料掠角入射物相分析
X射线辐射具有较大穿透深度能力,故而X射线衍射不具 有表面敏感性。掠射入射(GID)则克服了这种困难,通过 以很低的入射角度进行掠射分析可尽可能从薄膜层得到最 大的信号,从而可分析相组份沿深度的分布。
因此,在粉晶法中,指标化对立方晶系来说是肯定可能的 ,对中级晶族一般是有可能的,而对低级晶族则一般是非 常困难的。
7
立方晶系粉末衍射花样的指标化
对立方晶系来说:
1 (h2k2 l2)
d2
a2
对同一物质的同一个衍射花样,X射线波长和晶胞参数是常数
s2 i1 n :s2 i2 n :s2 i3 n : :s2 iK n
X射线衍射基础知识和分 析方法的应用
晶体学基本知识 X射线衍射原理 X射线衍射分析方法 X射线物相分析 X射线衍射分析方法的应用
2
多晶体点阵常数的精确测定 纳米材料晶粒尺寸的测定 晶格畸变及衍射线形分析 多晶体择优取向的测定 晶体结晶度的测定 薄膜材料掠角入射物相分析 小角度散射研究超晶格结构 宏观残余内应力的测定 薄膜厚度的测量
衍射仪在采用掠入射几何后便具有了表面敏感性 薄膜层的相分析; 纳米尺度的表面灵敏度 相组份的深度分布
29
薄膜材料掠角入射物相分析
在入射角和反射角接近X射线全反射的临界角时,可以得 到最强的表面信号。
较浅的透入深度使得Bragg点阵在垂直表面方向上展宽成 棒(倒易棒)。通过掠入射,可以得到物体表面内二维结 构信息。

第一章X射线衍射基础

第一章X射线衍射基础

而改变了前进的方向,造成散射线,另一部分光子可能被原
子吸收,产生光电效应,再有部分光子的能量可能在与原子
碰撞过程中传递给了原子,成为热振动能量。
1. 相干散射
2. 非相干散射
3. 二次特征辐射(荧光辐射)

真吸收

俄歇效应

光电效应

X射线与物质的相互作用
4. X射线的衰减
当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度 会减弱,这种现象称为X射线的衰减。
X射线衍射分析
引言
1895年11月5日,德国物理学家伦琴在研究阴极射线时,发现了X 射线。
1912年,德国物理学家劳厄等人发现了X射线在胆矾晶体中的衍 射现象,一方面确认了X射线是一种电磁波,另一方面又为X射 线研究晶体材料开辟了道路。
同年,英国物理学家布拉格父子首次利用X射线衍射方法测定了 NaCl晶体的结构,开创了X射线晶体结构分析的历史。
图中之点皆代表晶体结构中相当的质点的中心,其结点间距为a,入射X射 线S0与此行列的交角为0,波长为,假定在S1方向有衍射线,它与行列的 交角为h。
由相邻原子所射出的次生X射线在S1方向上有一段行程差(),这段行程 差可以这样求出:由A、B引AC、BD两线分别垂直于BC、AD,则:
=AD-CB=ABcosh-ABcos0=a(cosh-cos0)=H 由以前可知:只有当行程差等于波长的整数倍时相邻原子所发射出的次生X
特征X射线的产生可以从原子结 构的观点得到解释。
特征X射线的相对强度是由各能 级间的跃迁几率决定的,另外还 与跃迁前原来壳层上的电子数多 少有关。
特征X射线的绝对强度随X射线管 电压、管电流的增大而增大。

晶体X射线衍射学基础

晶体X射线衍射学基础

数据收集与分析
数据收集
通过探测器记录衍射后的X射线 数据,包括衍射角度、强度等 信息。
数据处理
对收集到的数据进行整理、校 正和解析,提取出晶体结构信 息。
结构解析
利用得到的晶体结构信息,通 过计算和模拟方法确定晶体的 原子坐标和分子结构。
结果验证
对解析得到的晶体结构进行验 证和优化,确保结果的可靠性
相鉴定与相含量
利用X射线衍射可以确定材料中存在的 晶相,并测定各相的相对含量,对于 材料的性能研究和优化具有重表征
X射线衍射可用于研究非晶材料的短程有序结构,了解其原子排列特征和短程有序程度。
结构演化与稳定性
通过X射线衍射可以研究非晶材料在退火、热处理等过程中的结构演化,以及其稳定性与性能之间的 关系。
非弹性散射
X射线与物质中的原子相互作用,不仅改变 方向而且改变频率的散射。
03
CATALOGUE
X射线衍射原理
衍射现象
衍射现象
当X射线遇到晶体时,波长与晶体 中原子间距相近的X射线会发生干 涉,形成特定的衍射图样。
衍射图样
衍射图样是由一系列明暗相间的 斑点组成,每个斑点代表特定方 向的X射线干涉。
晶体结构决定了晶体的物理和化学性 质,如硬度、熔点、导电性、光学性 质等。
晶体结构分类
根据晶体中原子或分子的排列方式, 可以将晶体结构分为金属晶体、离子 晶体、共价晶体、分子晶体等。
晶体性质
物理性质
晶体的物理性质包括硬度、熔点、导电性、光学性质等。
化学性质
晶体的化学性质包括稳定性、反应活性等。
晶体性质与结构关系
晶体完整性评估对于材料研究和制备具有重要意义,例如在药物开发和半导体制造中,需要确保使用的晶体具有高质量和纯 度。

X射线衍射

X射线衍射

• 探测技术:胶片 测器(面)
闪烁体计数器(点)
(IP)CCD探
图2-22 石英的衍射仪计数器记录图(部分)
*右上角为石英的德拜图,衍射峰上方为(hkl)值,β 代表Kβ 衍射
X射线衍射谱
In the paste
On the interface

X射线衍射强度
衍射峰的上限强度 半高宽 积分面积 并非所有符合布拉格方程的晶面都能产 生衍射峰。
连续X射线与特征X射线
X射线谱可分为两部分:
1、连续X射线谱:具有从某 相 个最短波长λmin开始的连续波 对 长谱。 强 度 2、特征X射线谱:若干条特 定波长的谱线所组成。 特征X射线只取决于阳 极材料,与X射线管的工作 状态无关。
连 续 X 射 线
特征X射线
I λmin λ
阳极的原子序数一定, 管电是一级反射 的形式。
面间距为dHKL的晶面并不一定是晶体中 的原子面,而是为了简化布拉格方程所 引入的反射面,我们把这样的反射面称 为干涉面。把干涉面的面指数称为干涉 指数,通常用HKL来表示。 根据晶面指数的定义可以得出干涉指数 与晶面指数之间的关系为: H=nh;K=nk;L=n1。 干涉指数与晶面指数之间的明显差别是 干涉指数中有公约数,而晶面指数只能 是互质的整数。
布拉格方程:
2d sin n
式中n为整数,称为反射级数(order of reflection)。
产生衍射的条件
n<2d/λ,一定的晶面对一定波长的X射线只有 有限的几条衍射线 在任何可观测的衍射角下,产生衍射的条件为: 入<2d。但是波长过短导致衍射角过小,使衍射 现象难以观测,也不宜使用。

c

X-射线衍射分析-总结

X-射线衍射分析-总结

衍射矢量方程: (S-S0)/ =r*HKL
r*HKL=Ha *+Kb*+Lc* {设,|K|=|K0|=1/ } K-K0=g*HKL, g*HKL=r*HKL}
劳埃方程: 衍射矢量方程晶轴投影(点积a,b,c)
a· (S - S0) = H b· (S - S0) = K c· (S - S0) = L
FHKL f j cos2π Hx j Ky j L j i sin 2Hx j Ky j Lz j
n j1


总结:四种基本点阵的消光规律
点阵类型 简单P点阵 底心C点阵 体心I点阵 面心F点阵 出现的反射 全部 H、K全奇数或全偶 (H+K+L)和为偶数 H、K、L全奇或全偶 消失的反射 无 H、K奇偶混杂 H+K+L为奇数 H、K、L奇偶混杂
S-发散X射线,H-试样台转, C-计数管,O-试样台旋转轴 试样与计数管: -2联动 布拉格衍射-平行于试样表面的 晶面.
衍射花样(2dKHLsin=): 强度随衍射角分布曲线 即:I―2曲线。
衍射线 底片 衍射环
G S
1
M S K
H O
入射线 试样 反射球
F E C
I
倒易 球面 计数管 扫描
c*· c=1;
c*
1 c cos(c * c)
2)倒易点阵性质:与晶体的衍射现象相关,描述衍射强度的分布规律。 a*=(b×c)/V,b*=(c×a)/V,c*= (a×b)/V
注1:把性质作为定义(换位),有何异同?如何推导? (如何推导出另一个性质呢?分别点积晶轴,a,b,c) 注2:正、倒易点阵阵胞体积,互为倒易;v*=1/v;v=1/v*

x射线衍射物理基础

x射线衍射物理基础

衍射的分类
单晶衍射
单晶衍射是指使用单晶体作为样品进 行x射线衍射的方法。
多晶衍射
多晶衍射是指使用粉末或多晶样品进 行x射线衍射的方法。
同步辐射衍射
同步辐射衍射是指使用同步辐射光源 进行x射线衍射的方法,具有高亮度、
窄脉冲、高准直度的特点。
02
x射线衍射的应用
物质结构的分析
物质结构分析是X射线衍射的重要应 用之一。通过测量衍射角度和强度, 可以确定物质内部的原子或分子的排 列方式,从而推断出物质的结构特征。
THANKS FOR WATCHING
感谢您的观看
波长与角度的关系
x射线的波长与衍射角之间存在一定的关系,这是 衍射现象的基本特征。
衍射的基本公式
布拉格方程
对于晶体中的衍射,布拉格方程描述了波长与衍射角之间 的关系,即 nλ=2dsinθ。
01
衍射强度
衍射强度表示衍射的亮度,与晶体的结 构、入射光的波长、角度等因素有关。
02
03
衍射峰的宽度
衍射峰的宽度可以反映晶体的结晶度 和晶格畸变程度。
晶体学基础
晶体学研究晶体的结构和性质,为x射线衍射提供了研 究对象和应用背景。
晶体中的原子或分子的周期性排列形成了特定的晶体 结构,x射线在晶体中的衍射与晶体结构密切相关。
05
x射线衍射的发展与展望
x射线衍射技术的发展历程
1912年
1913年
1930年代
1950年代
1980年代至今
劳厄发现X射线衍射现象 ,证实晶体具有空间周 期性结构。
布拉格父子提出X射线晶 体学理论,即布拉格定 律,为X射线衍射分析奠 定了基础。
随着电子和质子源的发 展,出现了粉末衍射、 小角度散射等X射线衍射 技术。

X射线衍射总结

X射线衍射总结

X射线衍射内容一、X射线物理基础:1、产生X射线的三个基本条件:2、特征X射线谱、K系激发。

K系辐射。

L系辐射,M系辐射。

Kα线、Kβ线。

主峰旁边还有一个次峰的原因?X射线与物质的作用:相干散射:二次特征辐射及俄歇电子二、X射线衍射几何晶带及晶带定律,晶面间距及晶面夹角如何判断给出的一些晶面是否符合属于同一个晶带?晶面间距:立方晶系:正方晶系:六方晶系:Bragg 方程及其应用:Bragg 方程的应用:如何求衍射方向?正方晶系:2222222(4h k l Sin a cλθ+=+) 斜方晶系22222222(4h k l Sin a b c λθ=++) 由此可见,布拉格方程可以反映出晶体结构中晶胞大小及形状的变化,但是并未反映出晶胞中原子的种类和位置。

进行晶体结构分析时,要把握哪两类两类信息?三、X 射线衍射强度结构因子(因素):产生衍射束的充分条件常见晶体结构的衍射消光条件表:简单立方 无消光现象面心立方 fcc h, k, l 奇偶混合体心立方 bcc h+k+l =奇数体心四方 bct h+k+l =奇数密排六方 hcp h+2k =3n 且 l =奇数底心正交h, k 奇偶混合金刚石立方 h ,k, l 全偶且 h+k+l ≠4n 或h ,k, l 奇偶混合四、多晶体分析方法掌握衍射仪法测角仪探测器测角仪构造:衍射几何:聚焦圆热分析:热分析的定义:热分析是在程序控制温度下,测量物质(或其反应生成物)的物理性质与温度的关系的一类技术。

研究内容:•具体的研究内容有:熔化、凝固、升华、蒸发、吸附、裂解、氧化还原、相图制作、物相分析、纯度验证、玻璃化、固相反应、软化、结晶、比热、动力学研究、反应机理、传热研究、相变、热膨胀系数测定等。

测物质本身的变化的热分析技术:差热分析(微分差热分析)、示差扫描量热法、热重法(微商热重分析)、热膨胀法测产生的气体的热分析技术:常用的有逸出气体检测仪,热分解气体色谱分离法等,还有按气体的物理,化学性质采用不同的检测器(如热传导检测法,质谱法等)•差热分析(DTA):在程序控制温度的条件下,测量样品与参比物之间的温度差与温度关系的一种热分析方法。

第一章 x射线衍射物理学基础

第一章 x射线衍射物理学基础
科研、生产、商业以及日常生活中,人们经常遇到这种
问题:某种未知物的成分是什么?含有哪些杂质或有害物
需 解
质?用什么X方法射来鉴线定?衍射分析
决 X射线衍射分析(简称XRD)的原理?仪器组成?样品
的 要求?
问 题
XRD除物相分析外,还能检测分析物质的哪些性能?
如何从XRD所给出的数据中提取更多的信息?(包括
2、 粒子性
➢ 当解释X-ray与物质相互作用所产生的物理现象(如光电效 应、二次电子等)时,须将X-ray看成一种微粒子流(光子流)。 ➢ X-ray作为一种粒子流,它的强度为光子流密度与每个光 子能量的乘积。
三、X射线的获得
1、X-ray产生原理
凡是高速运动的电子流或其它高能辐射流(如γ射线, X射线,中子流等)被突然减速时均能产生X射线。
海伦.梅高与她的光电测 角仪。
她身旁的模型为水合硅 酸钙晶体结构
• 与X射线及晶体衍射有关的部分诺贝尔奖获得者名单
年份 学科
得奖者
内容
1901 物理
伦琴Wilhelm Conral Rontgen
X射线的发现
1914 物理
劳埃Max von Laue
晶体的X射线衍射
1915 物理
亨利.布拉格Henry Bragg 劳伦斯.布拉格Lawrence Bragg.
脱氧核糖核酸DNA测定
1964 化学
Dorothy Crowfoot Hodgkin
青霉素、B12生物晶体测定
1985 化学
霍普特曼Herbert Hauptman 卡尔Jerome Karle
直接法解析结构
鲁斯卡E.Ruska
电子显微镜
1986 物理
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
电子等的产生。
微观本质:X射线(光子)与物质中电子的相 互作用。
X射线的吸收(光电效应、荧光X射线和俄歇效应)
光电吸收(效应):当一个具有足够能量的光子从原子内部击出一 个K层电子时,也会发生像电子激发原子时类似的辐射过程,即产 生标识X射线。以光子激发原子所发生的激发和辐射称为光电效应。
晶带定律
晶带定律:同一晶带上晶带轴[uvw]和该晶带的晶带面(hkl)之间存 在以下关系:
hu+kv+lw=0 凡满足此关系的晶面都属于以[u v w]为晶带轴的晶带,此关系式称作 晶带定律。
晶体投影
1)晶体投影:将晶体多面体和晶体结构这类三维空间中的 对象表示在球面或二维空间平面上的方法。此球面或平面 称为称为投影面。 2)在球面或平面上,晶体结构中的晶向和晶面的对称分 布情况能较清楚地显示出来,晶向间或晶面间夹角也就能 够较容易地测量。



x1 x2 x3

A

1 0 0
0 1 0
001
A 1
旋转--反演对称:若晶体绕某一固定轴转 2π 以后,再
经过中心反演,晶体自身重合,则此轴称为nn次(度)旋转
--反演对称轴。
A 1代表空间转动加通过原点的反演
镜象与旋转--反演对称
滑移反映面:若经过某面进行镜象操作后, 再沿平行于该面的某个方向平移T/n后, 晶体能自身重合,则称此面为滑移反映面。 T是平行方向的周期,n可取2或4。
晶向和晶面
晶向:通过晶体中任意两个结点的连线的方向,代表了晶体中原子列 的方向。 晶面: 晶体结构中不在同一直线上任三个阵点所构成的平面,代表了晶体中
经过某一对称操作,把晶体中任一点 X ( x1, x2 , x3 ) 变为
X ( x1, x2 , x3 ) 可以用线性变换来表示。
旋转对称(对称素为线)
简单对称操作包括旋转对称、中心反映、镜象、旋 转反演对称。 若晶体绕某一固定轴转2π 以后自身重合,则此轴 称为n次(度)旋转对称轴。
分成360份,画上刻度。 测圆P1和P2两极点之间的夹角时,在球 面上转动此带刻度的大圆、让它通过极点
P1和P2,如图中的LMNK位置,两极点之 间的刻度数就是这两个极点间角度数。
极射赤面投影
将球面投影再投影到赤道平面上
的一种投影方法。
以赤道平面为投影平面,称为投 影基圆。
作某晶面极点P1(此晶面法线与 参 考 球 交 点 ) , 或 某 晶 向 迹 点 P1 (此晶向与参考球交点),将南极
标识X射线谱:与加速电压无关,而只与靶材料有关。当高速电子 轰击靶原子,将原子内层电子电离,内层产生一个电子的空位, 外层电子跃迁到内层空位所发出的电磁辐射谱线就是标识谱,是 材料的固有性质。
X射线与物质的相互作用
X射线与物质相互作用的宏观效应:
相干散射、衍射、界面反射、折射和衰减。 不相干散射、光电吸收及其二次效应(荧光,俄歇)
阵的阵点(lattice)。 从晶体结构抽象出来,描述结构基元空间分布周期性的结合点,称
为晶体的空间点阵(space lattice)。
原子在平衡位置的热振动
晶体结构
(点阵+基元)为晶体结构。(a crystal structure consists of a 3-D space lattice that is decorated with atoms)
5个二维布拉维点阵
三维空间的7大晶系
布拉维晶格在三维空间上有七大晶系,14种晶格分别为三斜晶系、单斜晶 系、正交晶系、四方晶系、立方晶系、三方晶系、六角晶系。依照简单、 体心、面心及底心,总共有14种晶格(布拉维点阵)。
晶体的对称性与对称操作
对称性:使晶体自身重合的动作。 对称操作:经过某种动作后,晶体能够自身重合的特性。 对称素:对称操作所依赖的几何要素。 对称操作与线性变换。
点阵客观存在
倒易点阵是唯一的,倒易点阵晶胞随晶胞变化。
倒易矢量的基本性质
倒易矢量的2个基本性质:
倒易矢量r*垂直于正点阵的HKL晶面。 倒易矢量的长度r*等于HKL晶面的面间距dHKL的倒数。
晶面(hkl)法线与晶向[hkl]方向平行,这就是晶面指数的几何意义。
1
晶面族
晶面族表示方法:用花括号{hkl}表示。它代表由对称性相联系的若 干组等效晶面的总和。 如{100}包括(100)、(010)、(001)、(T00)、 (0T0)、(00T)。
晶带
晶带轴是指用以表示晶带方向的一根直线,它通过晶体中心,平 行于该晶带的所有晶面的交棱。 晶带用晶带轴的晶向符号表示。[uvw]
晶体中的旋转对称轴
m 1, 0o , n 1 m 0, 60o , n 6 m 1, 90o , n 4 m 2, 120o , n 3 m 3, 180o , n 2
1 2cosθ=m,
θ 2π , n 1,2,3,4,6 n
晶体中允许的旋转对称轴只能是1,2,3,4,6度轴。
中心反映(i,对称素为点)
取中心为原点,经过中心反映后,图形中任一点
( x1 , x2 , x3 ) 变为 ( x1 , x2 , x3 )

x1 x 2 x 3




x1 x2 x3

被击出的电子为光电子,所辐射的次级标识X射线称为荧光X射线。
俄歇(Auger)效应
俄歇效应是原子发射的一个电子导致另一个或多个电子(俄歇电子) 被发射出来而非辐射X射线,使原子、分子成为高阶离子的物理现象。
俄歇效应伴随一个电子能量降低的同时,另一个(或多个)电子能量 增高的跃迁过程。
当能量很高的X射线光子穿入物体,使原子内壳层上的束缚电子发射出 来。当一个处于内层电子被移除后,在内壳层上出现空位,而原子外 壳层上高能级的电子可能跃迁到这空位上,同时释放能量。
量和动量。
产生X射线的3个基本条件:
产生自由电子。 使电子作定向的高速运动。 在其运动的路径上设置一个障碍物使电子突然减速或停止。
X射线谱的种类
连续X射线谱:与靶材料无关。电子与阳极靶的原子碰撞时,电子 失去自己的能量,其中一部分以光子的形式辐射。然而,绝大部 分电子要经历多次碰撞,使得辐射中的各个光子有各种可能值。 X 射线波长连续变化,其中最短的波长满足hc/λ0=eV。
标准投影
倒易空间和倒易点阵
几何意义非常清楚 物理意义非常抽象!
我们观察到的衍射花样实际上是满足衍射条件的倒易阵点的投影
倒易空间
晶面间距: 相邻两个平行晶面之间的距离。晶面间距最 大的面总是阵点(或原子)最密排的晶面。晶面间距越小,晶 面上阵点排列越稀疏。 面间夹角: 两个平面的法线之间的角度。
垂直平面方程
能够得到倒易空间的2个量,倒易晶胞基矢c*, 和倒易晶格 面间距d001*.其单位为Å的倒数
c*

d
* 001

1 d 001

ab cab
And we can the define
a*
d1*00

1 d100

bc abc
b*

d
* 010

1 d010

ca bca
A


1 0 0
0 1 0
001
A 1
A 1代表空间转动加通过原点的反演
镜象与旋转--反演对称
镜象(m,对称素为面): 如以x3=0面作为对称面,镜
象是将图形的任何一点 ( x1 , x2 , x3 ) 变为 ( x1 , x2 , x3 )

x1 x 2 x 3
点与此极点(或迹点)连线SP1, 与赤道大圆(投影基圆内)交于一
点S1,此点S1则称为某晶面(或晶 向)的极射赤面投影。
极式网与乌里夫网
在作出极射赤面投影后,还需解决如何从极射赤面投影上度量晶 面和晶向的位向关系。由于极射赤面投影是球面投影到赤平面上的 再投影,因此,如果将经纬线网也以同样方法进行极射赤面投影网 ,在其帮助下,就能够从极射赤面投影上直接度量出晶面和晶向的 位向关系。 常用的极射赤面投影:极式网与乌里夫网。
(Ix - Ix dx)/Ix dIx/Ix xdx It I0exd x 称为线性衰减系数。
实际工作中,常用另外一种表达形式
dI Imdm
I

I0emm

I emx 0
m 称为质量吸收系数,它描述了(单位面积上)单位质量
介质时的吸收
dm dx m x
旋转--反演对称轴只能有1,2,3,4,6度轴。
旋转--反演对称轴用 1, 2, 3, 4, 6 表示。
旋转--反演对称轴并不都是独立的基本对称素。如:
1i
2m
1
1
1
2
2
螺旋轴和滑移反映面
n度螺旋轴:若绕轴旋转2/n角以后,再沿 轴方向平移 l(T/n),晶体能自身重合,则 称此轴为n度螺旋轴。其中T是轴方向的周 期, l是小于n的整数。 n只能取1、2、3、 4、6。
现代材料分析测试技术
(X射线衍射基础部分)
特别的建议(温习大学化学及大学物理的相关基础知识)
原子结构:
分子结构:
物质的微粒性和波动性。
价键理论。
薛定谔方程。
分子轨道理论。
类氢原子的量子力学处理。
配位场理论(晶体场)。
电子云分布。
元素的周期性(电子自旋和泡利原理)。
课程目标
了解X射线的产生和性质。 了解晶体结构及相关概念。 理解几何晶体学基础(对称性及倒易点阵)。 X射线衍射几何原理。 X射线衍射强度理论。 X射线衍射方法及在材料分析中的应用。
相关文档
最新文档