SPC和MSA考试试题答案
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SPC和MSA培试考试试题
部门:姓名:成绩
一、判断题(每题1分,共10分)
1、在任何工作过程中都有可能应用统计技术。(√)
2、全数检验可以清除批中的全部不合格产品。()
3、稳定性是偏移随时间的变化,也就是漂移;(√)
4、测量系统分析的样品必须是选自于过程并且代表整个的生产的范围;()
5、ANOV A分析中的方差被分解成零件、评价人、量具,以及评价人与量具的交互作用所造成的重复误差
四部份;()
6、测量系统分析要求必须要用到图解法;()
7、研究重复性再现性时每人必须至少测量三次。( )
8、做测量系统分析的零件应产生于稳定的生产过程。(√)
9、必须对每个生产过程进行SPC的控制。(√)
10、测量系统分析就是对检具自身的分析。()
二、选择题(20 X 2分,共40分)
1、重复性是由(A )个以上评价人,采用同一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。
A 、1
B 、 2 C、 3 D、 4
2、位置误差通常是通过分析(A )和线形来确定。
A、偏倚
B、精密度
C、重复性
D、再现性
3、以下哪种分析方法不是用于基本计量型的测量系统。(C)
A 极差法
B 均值和极差法
C 假设检验分析
D ANOV A
4、测量仪器分辨力的第一准则应该至少是:(B )
A 公差的1/5
B 公差的1/10
C 过程变差的1/5
D 过程变差的1/10
5、(A)是指重复性随时间的变化程度;
A 、稳定性B、一致性C、均一性D、线性
6、测量系统的稳定性分析不能通过(D )控制图来实现的。
A、平均值极差
B、P
C、单值移动极差图
D、U
7、a 随机误差就是由于普通原因造成的误差;b系统误差是由于特殊原因造成的误差;a和b中 D。
A、只有a正确
B、只有b正确
C、a\ b均正确
D、a\b均不正确
8、测量系统的重复性和再现性相对于公差的百分比可以接受的标准是 A 。
A、必须小于10%;
B、必须小于5%;
C、可以大于30%;
D、必须小于30%
9、()是指重复性随测量的预期量程的变化程度;(C )
A 、稳定性B、一致性C、均一性D、线性
10、(B )若一个过程属于正态分布,则落在3σ之外的概率为():
A. 4.5%
B. 0.27%
C. 0.45% D2.7%
11、(A)以下哪几种说明测量系统分辨力不足()
A、极差图上1/3的极差为零;
B、数据分级数为6
C 、量具精度为公差的百分之一;
D 、以上都不对
12、(B )某工厂在计算一产品的控制上下限时,共抽取了25组数据,每组为5个,现计算得出
X的平均值为50.16,极差平均值为4.8,则UCL和LCL为
A 、52.93/40.27 B、52.93/47.39 C、53.66/46.66 D、53.66/47.39
13、( A )用大样法分析测量系统时,人数至少为
A、3
B、1
C、2 D 、以上都对
14、对于重要的生产过程,提交PPAP的生产件必须来源于1到8小时生产的至少(D )件
的零件。
A、30
B、50
C、100
D、300
15、(C )若顾客无明确规定,公司应按( )级提交准备相关资料。
A、1级
B、2级
C、3级
D、4级
16、(C)某公司在分析GRR时,得出PV%为97.40% 、R&R% 为9.66%,则ndc为
A 、10.08
B 、0.1
C 、14.22 D、11.50
17、(A )在进行稳定性的测量系统分析时,样品的数量为
A、1
B、5
C、10
D、50
18、(A)下列说法正确的是
A、不良数管制图样本大小(n)必须相等;
B、不良数管制图样本数量通常小于10个;
C、PPK用于稳定的过程
D 、在FMEA中,建议的措施其意图在于先降低严重度,其次是探测度,再次是频度。
19、(A)CPK值为()表示制程能力非常充足:
A. >1.67;
B. 1.67>CPK>1.33;
C. 1.33>CPK>1.00 D 、0.67> CPK
20、(C)通常情况下,X-R图所要求的组内样品数为():
A、10 B、N=1 C、2 D、没有要求 三、、填空题(2x10=20分) 1.对于PSW(零件提交保证书)上产品重量的要求单位为KG,一般要求精确到小数点后 4 。2.PPAP提交人等级共 5 级。 3.测量系统的重复性和再现性小于10% 是可接受的;10-30% 是条件接受; 大于等于30%是不可接受的 4.数据分级数是说明测量系统的分辨能力的;一般我们认为分级数不小于5 。 5.CPK表示稳定过程能力指数;PPK表示性能指数。 6.PSW(零件提交保证书)的保存期限为零件在用时间加一个日历年。 7.在PFMEA中,当PPK为1.3时,则对应的频度为 3 。 8、偏移分析的对象是测量值与基准值之间的误差。 四、计算题