电子元器件自动测试系统.pdf
ONLLY 系列计算机自动化测试调试（继电保护和计量）系统 说明书
ONLLY®昂立电气世界是相同的，不同的是掌握它的方法时间是相同的，不同的是使用它的效率资源是相同的，不同的是我更善于整合电力是相同的，不同的是它不能储存保护是相同的，不同的是绝大部分时间都处于等待测试是相同的，不同的是始终只与您同时工作尊敬的用户：感谢您使用ONLLY系列计算机自动化测试调试（继电保护和计量）系统，希望本手册能够为您对本公司产品的熟悉和使用提供尽可能详细的帮助信息。
如果仍有未尽之处，或者您需要其他的技术支持和服务，欢迎致电：020-******** 87667331 电力微波：97-3218414也可以访问： 或发E_mail：onllymichael@ onllysimple@企业QQ:199869664 MSN：onllymichael@广州昂立（ONLLY）电气公司广州新普（SIMPLE）电气公司附：本手册适用于ONLLY和SIMPLE品牌的全系列产品，其中包括：A系列（型号：A430 A460 A660 A860）G系列（型号：6108G 4350G 4630G 6630G）以及即将面世的D系列全数字化产品和广州新普（SIMPLE）电气公司生产的A310、A320“准三相计算机自动化测试调试（继电保护和计量）系统”以上产品均为内嵌计算机一体化装置，为便于使用和避免重复，本手册以A460为标准编写，并适用于其余所有型号产品（细节局部略有不同）；如果软件升级和更新，增加和更新的内容和功能说明将随最新版本一并发布，您随时可以借助IT网络时代以第一时间获得。
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版权ONLLY®商标为昂立（广州）电气所有，已经在中华人民共和国登记注册（第9类测量仪器设备注册号：1384458）；ONLLY系列计算机自动化测试调试（ 继电保护）系统的测试软件，已经在中华人民共和国登记软件版权（登记号：2000SR0536），所有权归昂立（广州）电气。
电子元器件的识别与测试
07 电子元器件的识别与测试一、目的1．了解常用电子元器件(如：电阻、电容、电感、变压器、二极管、三极管、单结管、晶闸管、数码管、接插件、开关、集成电路、电声器件等）的种类、结构、参数、性能等.2．学会识别、选用、测量、安装各类电子元器件。
二、器材1．数字万用表。
2．各种常用电子元器件。
3．电子元器件展板.4．多媒体设备等.三、电子元器件的识别与测试特殊的元器件检测需要多种通用或专用测试仪器,一般性的技术改造和电子制作，利用万用表等普通仪表对元器件检测，也可满足制作要求。
1．电阻器(1）根据电阻器上的标志识别电阻器的阻值.(2)用万用表准确测量电阻器的阻值。
2．电位器（1）用万用表测量电位器固定端的阻值。
(2）用万用表检测电位器活动端的性能。
3．电容器(1)根据电容器的标志识别电容器的容量。
（2）用万用表（具有电容测量档的数字万用表）测量电容器的容量。
（3）小电容（C≤0.1μF）可测短路、断路、漏电故障。
常用测电阻的方法：正常情况下,电阻为无穷大，若电阻接近或等于零,则电容短路；若为某一数值，则电容漏电。
（4）电解电容正负极性的判断①引脚较长的一端为“+"极,引脚较短的一端为“−”极。
②标有“−”标志的一端为“−”极。
③用万用表判断:用红、黑表笔接触电容器的两引脚，记住漏电电流的大小。
然后将电容器的正、负引脚短接一下，将红、黑表笔对调后，再测漏电电流，漏电电流小的一次,与黑表笔相接的引脚为“+”极.（5)注意：由于电容器具有储存电荷的能力，因此，在测量或触摸大电解电容器时，要先将两个引脚短路一下（方法是：手拿带有塑料柄的螺丝刀，然后用金属部分将引脚短路），以将电容器中存储的电荷泻放,否则，可能会损坏测试仪表或出现电击伤人的意外情况。
4．电感器(1）根据电感器的标志识别电感器的电感量.（2)用万用表(具有电感测量档的数字万用表）测量电感器的电感量.（3）电感线圈的测量:可用万用表的欧姆档测线圈的直流电阻，若电阻为零或接近零，则说明线圈短路或局部短路；若电阻为无穷大，则说明线圈断路.（4）注意：在测电感器时,数字万用表的量程选择很重要，最好选择接近标称电感量的量程去测量；否则测试结果将会与实际值有很大的误差.5．变压器（1）初、次级绕组的判别：电源变压器的初级绕组引脚和次级绕组引脚通常是分别从两侧引出的，并且初级绕组多标有220V的字样，次级绕组则标出额定输出值,如：15V、24V、35V等。
整机企业电子元器件测试系统选型
测试系统 由于其针对 性强 ，结｝ 简单小巧，分布参数容 旬 易得到控制．因而测试效果不见得 比大型混台系统差 例如航天系统引进的 Ｃ ｅｅｃ ｒ ｎｅ公司的 Ｓ Ｓ３２ ｄ Ｔ ５０混 合系统在测试低失调运算放大器 Ｏ ．７时很不尽人意， Ｐ０ 多次将合格器件误判为失效，一次将一批美军标 ８３军 ８ 标条件的 Ｏ 一７ Ｐ０ 全部判为失效 （ 失调电压 Ｖ Ｏ合格判据 Ｉ 为 ２ ｕ ，而实钡值为八、九十微伏） ５Ｖ ４ ，后用北京华峰测 控技术的 Ｓ Ｓ １７ Ｔ ０Ｂ运算放大器电压比较器测试系统进 ２ 行测试 ， 结果全部合格。 为验证测试结果，又用西德 ｓ ｚ 公司 Ｍ一００ ３０ 系统和 Ｌ Ｘ公司的 Ｌ Ｘ ７ 等系统进行比 Ｔ Ｔ －７ 对测试 ， 比对结果 Ｍ． ０ 系统的沏试数据与 Ｓ Ｓ １７ ３ ０ ０ 《 Ｔ ０Ｂ ２
例 如北 京华峰 测控技 术公 司的 Ｓ Ｓ １１ Ｔ ￣ Ｂ系统 曾与 ２３ Ｔｒ ｙ ｅ 司一 百多万 美元 的 ９ １ ｅ ｎ公 ｄ ｅ ７ 系统进行 过静 态直 流
参数的测试 比对。比对结果数据非常接近． 只有 Ｖ Ｌ Ｏ 参
数相 差 １ｍ ０ Ｖ。Ｓ Ｓ２ ０Ｂ 系统 的测 试 数据 为 １０ Ｖ． Ｔ １１ ７ｍ 而９１ ７ 系统 的测 试数据 为 １０ Ｖ，经分析 ９ １ ８ｍ ７ 系统之所
可以测 试所 有的混 合和 模拟 器件 ，即便 有恐 电没有 人
统可以对任意—个测试品种都能进行准确无误的测试， 至 能买得 起 。
少在模拟测试领域会经常碰到这样的情况
３ 半导体 分立器 件测试 系统 ．
大型半导体 分立器件测 试系统 与小型测试 系统 相 比， 主要 的 不同点在 于有 更宽 的 电压 、电流范 围 ，大 型 系统 的典 型 电压 上限范 围 为 ２０Ｖ ５ ０Ｖ，典 型 电流 上限 范 ００ 一００
PCB元器件自动光学检测技术研究
产业发展论点ARGUMENT51PCB元器件自动光学检测技术研究文/黄璇正确掌握电子产品元器件检验技术是电路故障检测的关键要素，而电路故障检测的最后一环就是确认元器件是否真的存在质量，这就要求使用检验技术来实现。
一、PCB测试方法发展历史在PCB的制造过程中，蚀刻是最关键的一点，也就是用化学或药物剂型侵蚀掉除设计电路之外剩余的铜。
[1]该流程中，药用量、环境条件气温、水流速和侵蚀时间因素威胁着生产的质量，甚至造成诸如故障、开路、线宽缺损、残余铜和针孔等问题。
PCB一般用目视、电测量和AOI 方式测量。
20世纪70年代之前，PCB 测试大多通过对人眼加增强镜，检查运行速度慢，漏检率高，同时会造成检查人视力减退、危害健康等。
[2]电测量的基本原理就是依据PCB线路图的计算机数据，选择一副针床装夹和适当的网点测量方式。
测量时，工作人员将探头压到PCB表面的待测点，接着通电测量各个网点的开关通断情况，并报告存在的短接与通断缺陷。
其局限性就是：这种方法只能检出短接和通断两个缺陷，而缺口、针孔和残余铜等其他缺陷都无法检出；针床装夹的生产成本过高，且小批量投产时不合格。
电测量也受到了PCB向高密度、紧凑型化走向发展的影响。
由于线路板的紧密程度日益提高，电力计量也要求进一步扩大检测工作节点数，导致检测程式和针床夹具生产的增加，而研制检测程式和工装夹具一般需数星期甚至一个多月时间，同时电计量出错和重测频次相应增加。
二、PCB自动光学测试技术（一）自动光学测试的工作原理AOI是测量PCB表层图像质量（如表层瑕疵、断线和短路现象）的设备，主要用于制造过程中成品质量测量，是高精度单层打印板，特别是各种打印板工艺的关键技术。
测试系统集光学感应器、精准机械、识别测试算法与电子技术于一身，用功能或激光技术设备自动拍摄PCB，收集图片后送与电脑处理，再与数据库管理中的标准数据对比，发随着电子设备的设计和制作技术的日益进步，印刷电路板（PCB）朝着高密度、多层数和高性能等方向发展。
基于虚拟仪器的阻抗自动测量系统的研究
基于虚拟仪器的阻抗自动测量系统的研究摘要随着计算机技术的发展，仪器仪表领域也开始发生巨大的变化，从传统仪器、智能仪器开始向虚拟仪器发展。
虚拟仪器以其强大的存储、数据显示和数据分析优势，逐渐受到重视。
虚拟仪器技术通过软件将计算机与仪器硬件相结合，很好地将计算机强大的数据处理能力和仪器硬件的现场测量、控制结合在一起。
不仅降低了仪器的生产成本，还提高了仪器的性能，从而得到广泛的应用。
另外，随着现代科学技术的进步，阻抗的测量逐渐成为各类电子产品的研究基础。
目前，阻抗测量技术已在生物医学、工业测控、电力控制等领域有广泛的应用。
为了满足高校实验室对电子元器件及其附属参数的测量需求，本文设计了一种基于虚拟仪器的阻抗测量系统。
本文通过将虚拟仪器技术与传统硬件相结合，设计实现了一种通过伏安法对阻抗参数进行测量的系统。
其主要工作原理为：将阻抗的测量转换为矢量电压的测量，再利用获得的矢量电压的实部和虚部的数字量与被测参数之间的关系，将其转换为待测量。
本系统主要由硬件和软件两部分构成，硬件部分主要包括通过FPGA设计实现的信号源模块、阻抗/矢量电压转换模块、相敏检波模块、A/D转换模块和通信模块。
其具体的实现主要为利用FPGA设计实现系统正弦激励信号与基准信号的产生；通过相敏检波将采集到的矢量电压信号进行实部和虚部分离；利用低通滤波器滤除干扰信号；再通过A/D转换芯片将采集到的模拟电压信号转换为数字信号；通过系统总线将数据传输到计算机，并对数据进行处理和显示。
软件部分是利用虚拟仪器软件LabVIEW设计实现仪器的数据处理、显示和控制界面，并通过动态链接库的调用来执行仪器操作。
关键字：虚拟仪器技术，阻抗测量，FPGA，LabVIEWResearch of Automatic Impedance Measuring System Based onthe Virtual InstrumentAbstractWith the development of the computer technology, the field of instrumentation begins to change dramatically from traditional instruments and intelligent instruments to virtual instruments. Due to its strong advantages on storage, data display and data analysis, the virtual instruments have gained more attention. Virtual-instrument technology combines the computer and the instrument hardware together using software. It combines the excellent data processing ability of computer with the measurement，and controlling ability of instruments hardware together in this technology. Consequently, not only the cost of the production is reduced, but the instrument performance is also improved. Therefore, the virtual instrument has been widely used.In addition, with the progress of modern science and technology, the measurement of impedance has gradually become the basis of all kinds of electronic products.At present, the impedance measurement technology has been widely used in biomedical science, industrial measurements, power control and other domains.In order to satisfy the measurement requirements of electronic components and their subsidiary parameters in the university laboratory, a kind of impedance measurement system based on virtual instrument is designed in this paper.Based on the combination of virtual instrument technology and traditional hardware, this paper designs and realizes a system to measure the impedance parameters using the volt-ampere method.Utilizing the relationships between the real and the imaginary parts of the voltage vector and the complex impedance, the measurement of the complex impedance can be converted to the measurement quality of the voltage vector. The process can effectively improve the precision of the system.The system consists of two parts: hardware and software. The hardware part is mainly composed of the signal source module designed by FPGA, the conversion module of impedance to voltage vector, themodule. The design and realization of sinusoidal excitation signal and the reference signal is utilized by FPGA. We separate the real and imaginary parts of the voltage vector by the phase sensitive detection, and filter out the interference by a low pass filter. Then the collected signal is converted to a digital signal by an A/D conversion chip. The data will be transmitted to the computer through a communication bus of the system, and then it will be processed and displayed.The software part realizes the data processing, display and control using the virtual instrument software LabVIEW.And the operation of the instrument is performed by calling dynamic link libraries.Keywords:Virtual instrument technology, Impedance measurement, FPGA, LabVIEW目 录第1章绪论 (1)1.1研究背景及意义 (1)1.2国内外研究现状 (2)1.3虚拟仪器技术简介 (4)1.3.1 虚拟仪器概念 (4)1.3.2 虚拟仪器的构成 (4)1.3.3 虚拟仪器的发展 (5)1.4虚拟电子测量系统 (5)1.4.1 虚拟电子测量系统介绍 (5)1.4.2 虚拟电子测量系统的构成 (6)1.5主要研究内容 (7)第2章阻抗测量理论及方法分析 (9)2.1阻抗自动测量系统主要性能和预期指标 (9)2.2阻抗简介 (9)2.2.1 阻抗的定义 (9)2.2.2 阻抗的表达方式 (10)2.2.3 被测件的等效电路 (11)2.3阻抗的测量方法 (12)2.3.1 谐振法 (12)2.3.3 伏安法 (14)2.3.4 网络分析仪法 (15)2.4阻抗测量方法的对比 (16)2.5本章小结 (17)第3章阻抗测量系统的原理及总体设计 (18)3.1阻抗测量系统的原理 (18)3.2系统的总体设计 (22)3.2.1 系统的硬件设计 (22)3.2.2 系统的软件设计 (23)3.3本章小结 (24)第4章系统硬件设计及实现 (25)4.1信号源模块 (25)4.1.1 信号源设计的方案与对比 (25)4.1.2 信号源的实现 (27)4.1.3 FPGA实现 (28)4.2阻抗/矢量电压转换模块 (30)4.2.1 阻抗/矢量电压转换原理 (30)4.2.2 连接电路设计 (31)4.2.3 电路实现 (32)4.3相敏检波模块 (32)4.3.1 相敏检波原理 (33)4.4A/D转换模块 (35)4.4.1 ADS1232芯片 (36)4.4.2 A/D转换电路的实现 (36)4.5通信模块 (36)4.5.1 通信模块工作原理 (36)4.5.2 通信模块的实现 (37)4.6电源转换模块 (38)4.7系统硬件实物图 (38)4.8本章小结 (39)第5章软件设计 (40)5.1系统设备驱动程序 (40)5.2应用程序的开发 (42)5.2.1 LabVIEW简介 (42)5.2.2 软件程序框图 (43)5.2.3 系统前面板设计 (46)5.3本章小结 (46)第6章系统性能测试及误差分析 (47)6.1系统工作流程介绍 (47)6.2数据测试及对比 (48)6.2.1 电阻的测量 (49)6.2.2 电容的测量 (50)6.2.4 附属参数测量 (52)6.3误差分析 (53)第7章总结 (55)7.1本文主要完成的工作 (55)7.2系统存在的不足及展望 (56)参考文献 (57)作者简介及科研成果 (61)致谢 (62)第1章绪论1.1 研究背景及意义测量是我们认识和改造自然界的一种重要手段，对任意一种研究对象，只要想对其进行定量评价，就需要通过测量来实现[1]。
基于VB的电子线路板自动测试系统设计.docx
基于VB的电子线路板自动测试系统设计摘耍：应用VB高级语言的图形功能和RS2232 通信方而的功能，设计了•套燃汕取暧器电了线路板的门动测试系统，可以快速高效地检査电了线路板的装配质戢和电了元器件的质锻问题°该系统是种图形化测试装置，在牛•产实践中获得了很好的使用,稍作改动也可用于其他电子线路板的自动测试,有一定的适用面。
0引言在电子产品的生产过程中，需要将各种电子元器件安装到电了线路板上，由于种种原因，安装后的线路板可能会存在故障，需耍进行测试。
$生产流水线上，若依靠人工进行测试既费事费力乂容易出现差错C针对这种情况，我们在牛产燃汕取暖器的电子线路板的过程屮，设计了一套电子线路板自动测试系统,可以在儿秒钟内利用计算机自动测试线路板的各种功能，如果存在问题，测试系统会自动显示故障的类型和性质，由于采用机器自动测试，排除了人为的干扰因素，大幅度提高了测试的效率和产品的合格率。
1测试系统结构1.1线路板的设计燃汕取暧器的电子线路板备有4个模拟量、2个开关竄输入信号和输出控制信号，如图1所示。
一般，在线路板的设计中，只需要考虑线路板的输入、输出信号接插件的结构。
在这里是用仿真的方法來实现测试任务的，由计算机向线路板输入测暈信号并接收线路板的输出信号，所以在设计电子线路板的时候，需婆在线路板上设计相应的测试点，把这些输入点和输出点安排在适当的位置，让计算机能够输入和检测这些信息。
图1输入输出信号。
1.2测试系统的硬件结构为了能够向电子线路板输入和获得信号,需耍设计一个测试夹具。
当电了线路板放置在测试夹具上时，测试夹具的测试顶针正好与电了线路板上的所有测试点和接触，测试系统换件结构如图2所示。
图2测试系统峡件结构图2中：测试夹具由测试顶针、夹紧装置和单片机构成。
夹紧装置和测试顶针使电子线路板能够可靠地与单片机进行信息的传送，单片机根据计算机发出的命令，向电了线路板输入仿真测试信号，使电子线路板工作在不同的工作状态, 然后把测量到的信号,通过RS2232串行口传输给计算机,在计算机里判别电子线路板的工作状态,并以文字和图表的形式显示测试的结果。
电子产品通用生产测试系统实现原理
第 ３ Ｏ卷第 ２ ０期
李登希 ： 电子产 品通用 生产测试系统 实现原理
１１ ２
Ｕｓ Ｂ
路搭建 电路框 图如 图 ３ 所示 。
厂一
电路 说 明 ：该嵌 入 式 Ｃ Ｕ可选 用 通 用 的 Ａ Ｍ ７ Ｐ Ｒ Ｃ Ｕ， Ｐ 主频 在 ６ ＭＨ ４ ｚ以上 即 可 ； 电压 采 样 电路 可 以采 用 一 般 １ｂｔ ＡＤ转 换 芯 片 ， ０ｉ的 ／ 或者 直 接 采 用 Ｃ Ｕ 自带 的 ＡＤ Ｐ ／
的Ｉ ／ Ｏ做信号 回环测试 ， 并在 Ａ Ｂ中作判 断 ， 断的正确 Ｔ 判
或者 错 误 的结 果 反 馈 给 Ｐ Ｃ控制 平 台 。 根据上述 的分析结果 ， 结合 自动测试 的需求 ， 以简 可 单 使 用 一 个 嵌 入 式 单 片 系统 为 核 心 实 现 这 个 Ａ Ｂ的 电 Ｔ
路、 短路 ， 以发现器件缺件 ， 件 ， 可 错 立碑 ， 虚焊等各种制 制平 台； 测试采样平 台； 被测板 。 系统拓扑如图 １ 所示 。 造 系统造成 的缺陷 。 具有设备操作简单 、 故障定位准确 、 维修简单 等特点 。但 ＩＴ测试仪设 备费用 昂贵 ，投人较 Ｃ
ｐ ｃ控锕平台
１ 主要测试方法简介
大 ；需要采用较多的测试点 ，对测试机构要求较高 。 Ｔ Ｉ Ｃ 测试较适合大批量制造 的代工企业使用 。 功 能测 试 ，顾 名 思 义 即 通 过编 写生 产 测 试 软 件对 各 个部件进行功能性的检测 。 编写软件 的时候 ， 一般按照板 卡检验、 整机装配检验 ， 总检的顺 序进行 。 这种方法投入 少 ， 件编写简单。 是这种方法容易遗漏测试项 目， 软 但 对 故障定位较为困难 ， 对维修工程师的要求较高 ， 不是适合 大批 量 的制 造代 工 企 业使 用 。 信号回环测试 ， 即信号通过 自发 一自收 ， 或者一个 口 线 发送 ，一 个 口线 接 收 的方 式 来 查 看 这个 通路 是 否 存 在
电子元器件的老化测试分析
CE MAGAZINE PAGE 59电子元器件的老化测试分析张凡 于迎伟【摘 要】电子元器件属于电子设备的基础性元件，对于电子设备的性能可产生直接影响，为了确保电子元器件的品质，进行老化测试是生产厂家的必要任务。
采用老化测试的方法，能够提升电子元器件的质量，为满足用户对电子设备的可靠性要求奠定基础。
鉴于此，本文简述了电子元器件老化测试的内涵，围绕电子元器件老化测试系统，概述了该类系统的类型和性能影响因素，以电容器一类电子元器件的老化测试为例，讨论了系统设计的实践。
【关键词】电子元器件；老化测试；系统设计实践；影响因素；种类作者简介：张凡，本科，陕西恒太电子科技有限公司，助理工程师；于迎伟，本科，陕西恒太电子科技有限公司，工程师。
引言伴随现代科技的发展，电子产品与设备的复杂性越发增加，使用范围更加广泛。
但由于长期使用与外部环境等方面的影响，电子产品与设备容易出现电子元器件老化的问题，造成其性能与可靠性的下降，因此，对电子元器件进行老化测试，用以评价元器件在差异性条件下的工作稳定性、使用寿命，是电子工程领域内的重要课题。
因此，技术人员需要深入研究电子元器件老化测试系统的设计，探索更多用于元器件测试的技术，以此为社会的进步作出贡献。
一、电子元器件老化测试的内涵老化测试本质上是一种模拟电子元器件使用流程的测试方法，旨在检测与去除元器件内部的缺陷。
在测试过程中，会模拟元器件的实际工作状态，并施加特定的电应力以加速元器件内部的物理和化学反应，从而使潜在的问题如漏电、焊接不良、硅晶片裂纹等提前显现出来。
老化测试可以保证元器件参数的稳定性，测试期间需要严格管控电应力参数和环境温度，以防元器件发生失效的现象[1]。
二、电子元器件老化测试系统的概述（一）电子元器件老化测试系统的种类（1）内存老化型：①易失性内存：该类型系统的测试工作较为简单，原因在于在无需特殊算法、时序的情况下，便能反复对其擦写操作。
测试人员通常要将所有电子元器件写入数据处理后，再逐个选择元器件的种类，读出对应的数据，再开展后续的比较分析工作。
简易自动电阻测试仪设计报告
摘要近年来，电子工业发展很快，电子元器件更是发展迅速，应用最为广泛，在实际电子设计中我们往往要测量出电子元器件的大小。
如；电阻的阻值，因此，设计一个不仅安全性和可靠性高，而且简易实用的电阻测量仪具有很大的现实意义。
目前单片机渗透于我们生活的各个邻域，它具有结构简单、可靠性高、体积小、等优点，采用单片机控制使得仪器仪表数字化、智能化、微型化，且功能强大，例如精密的测量设备（功率计，示波器，各种分析仪）。
在系统硬件设计中，利用STC公司(宏晶科技)生产的STC12C5A60S2系列做为核心控制芯片设计一款简易电阻测量仪，设计主要采用按键控制功能之间的切换，并实现各量程的自动转换从而实现各个参数的测量。
在系统软件设计中，利用keil c51软件开发系统的软件提供丰富的库函数和功能强大的集成开发调试工具，编译后生成的汇编代码。
关键字：STC12C5A60S2、MzLH01-12864、单片机AbstractIn recent years, the electronics industry is developing very quickly, electronic components is developed rapidly, and most widely used in practical electronic design, we tend to measure the size of the electronic components. Such as; Resistance, therefore, resistance of the design a not only security and reliability of the high, and simple practical resistance measurement instrument has great practical significance.At present SCM penetration in our life in all neighborhood, it is simple in structure, high reliability, small volume, etc, and USES the monolithic control makes instruments digital, intelligent, miniaturization, and powerful functions, such as the measurement precision equipment (the power meter, oscilloscope, all kinds of analyzer).In the hardware design, the use of the company's digital multimeter MAXIM integrated chip MAX134 design a simple resistance measurement instrument, will use the resistance of the corresponding oscillating circuit transformation frequency so as to realize the various parameters measurement.In the design of software system, using the keil software development system software c51 provide rich library function and powerful integrated development debug tool, compiled generated assembly code.Key word: MAX134, MzLH01-12864 and single-chip microcomputer目录一前言................................................................... (4)二总体方案设计 (5)1方案比较………………………………………………….. .62 方案选择 (7)三模块设计………………………. …………………………….. .101 电源模块 (10)2显示模块................................................... .. (11)3主程序模块 (12)4电阻测试模块 (15)四软件设计 (16)1 软件设计流程 (13)五测试参数 (15)六设计总结 (16)1设计收获及体会 (16)七参考文献 (17)八附 (18)前言近年来，电子工业发展很快，由于生产技术的提高和加工工艺的改进，电子元器件发展迅速，应用最为广泛，成为近代科学发展的重要标志，在实际电子设计中我们往往要测量出电子元器件的大小。
基于工业机器人的柔性化自动测试系统
收稿日期：2021-04-22 作者简介：王瑞（1991-），男，山东枣庄人，硕士，工程师，设计师，研究方向：自动化控制及机器人集成应用技术。
第7期
王 瑞·基于工业机器人的柔性化自动测试系统
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图1 柔性化自动测试系统硬件架构图 Fig.1 Hardware architecture of flexible automatic test system
从功能模块上划分，软件可分为主程序模块、机器人 模块、测试治具模块，各个模块均继承了基类，具有与基
第7期
王 瑞·基于工业机器人的柔性化自动测试系统
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图7 主控软件界面 Fig.7 Main control software interface
图8 物料流转调度图 Fig.8 Material flow scheduling diagram
该柔性化自动测试系统采用分布式控制，系统的主控 软件与机器人控制器、测试治具电机驱动器、测试机柜的 自动化测试软件之间，通过不同的通信协议实现指令控制、 数据交互功能。
图3 柔性化自动测试系统通信拓扑图 Fig.3 Communication topology of flexible automatic test system
第 28 卷 第 7 期 2021 年 7 月
仪器仪表用户 INSTRUMENTATION
Vol.28 2021 No.7
基于工业机器人的柔性化自动测试系统
王 瑞，陈伟雄，王 楠，王 勇，叶 敏 Nhomakorabea陈志仁（上海无线电设备研究所，上海 201109）
摘 要 ：针对 PCBA 及电子元器件等产品手动 / 半自动测试的人力成本高、测试效率低、过程一致性和质量可溯性 差的问题，介绍了一套基于工业机器人的柔性化自动测试系统，满足多种产品的多个测试项目的单独 / 混合测试等 不同生产排程，具备任务自主规划与路径优化、故障智能诊断与自动化恢复、设备互联互通与远程调试监控等功能， 满足高效率、高可靠、高柔性的产品测试需求，对系统的软硬件组成架构，以及相应关键技术进行详细阐述，最终 通过某型产品的实际生产测试，对系统可行性和稳定性进行验证。结果表明，该柔性化自动测试系统可显著提高测 试效率，基本实现测试过程的无人化。
AMT控制器产品自动测试系统设计
机 械 式 自动 变 速 器 （ Ｍ ａｔｍ ｔｄｍ ｃａｉ ｌ Ａ Ｔ，ｕｏ ａ ｅｈｎｃ ｅ ａ
负载箱 ， Ｊ并使用各种 实物传感器和机构进行测试 ，
结 构较 为庞 大 ， 且费 时费力 。本设计 根据 Ａ ＭＴ控 制器 的控制 原理 ， 利用嵌 入 式 的开 发 方法 搭 建一 个 测 试 系 统 ， 于电子 电路原 理来模 拟 Ａ 基 ＭＴ系统 的各 种传 感器 和执行 机构 ， 利 用 程 序 实 现 自动 测 试 ， 到快 速 对 并 达 Ａ ＭＴ控 制器 产品进 行测试 的 目的 。
了然 。试验 结果表 明 ， 用该测 试 系统可快速 、 利 自动 完成 对 Ａ ＭＴ控 制 器的测试 ， 可快速 定位控 制 器的 并
潜在故 障 。
关 键词 ： Ｍ Ａ Ｔ控制 器 ； 自动测试 ； 模拟 仿真 ； 快速 测试
中图分 类号 ：４ ２９ Ｕ ７ ．
文献标 识码 ： Ａ
文章编 号 ：００—８２ （０２ ０ ０６ ０ １０ ８９ ２ １ ）１— ０２— ４
重机构 的 限制 ， 根据 Ａ Ｔ控 制 器的控制 原理 ， Ｍ 利用嵌 入式 系统 开发 方 法设计 开发 了一套 自动测试 系统 。
测试 系统主要 基 于 电子 电路 原理 ， 用各种 电子元 器件 来模 拟 Ａ 利 ＭＴ的 各种 传 感 器信 号和 机 构 的响应 ， 并通过 程序 实现 自动检 测。 另外 基 于 Ｌ ｂ ｎ ｏ ｓＣ Ｉ 平 台开发 了测试 监控 软 件 ， 测 试 结果 一 目 ａ Ｗｉｄｗ ／ Ｖ 的 使
Ａｂｓｒ ｃ ： ｅ ｉ ｆｔ ｅ ｌｍｉａｉｎ ｏ ｓｎ ｈ ｓｃ ｌｓ ｎ ｏ ｓａ ｄ ａ ｔ ａｏ ｓｔ ｅ ｔｔ ｅ ｐ ｏ ｕ ｔｏ ｔ ａ ｔ Ｔｏ ｇ ｔｒｄ ｏ ｈ ｉ ｔｔｏ ｆｕ ｉ ｇ ｐ ｙ ｉ ａ ｅ ｓ ｒ ｎ ｃ ｕ ｔｒ ｏ ｔｓ ｈ ｒ ｄ ｃ ｆＡＭＴ ｏ ｔｏ ｃ ｎ ｒｌ ｕ ｉ， ｎ ａ ｔｍａｉ ｅ ｔｓ ｓｅ ｉ ｅ ｉｎ ｄ ａ ｄ ｄ ｖ ｌ ｐ ｄ ｂ ｓ ｄ ｏ ｈ ｏ ｔｏ ｒｎ ｉ ｌ ｆＡＭＴ ｃ ｎ ｒ ｌｕ ｉ ａ ｄ ｎ ｔ ａ ｕ ｏ ｔｃｔ ｓ ｙ ｔｍ ｓｄ ｓｇ ｅ ｎ ｅ ｅｏ ｅ ａ ｅ ｎ ｔ ｅｃ ｎ ｒ ｌｐ ｃ ｐ ｅｏ ｉ ｏ ｔｏ ｎｔ ｎ ａ ｏ ｔｎ ｍｂ ｄ ｄ ｓ ｓｅ ｄ ｖ ｌｐ ｎ ｔ ｏ ． ｈ ｓｔ ｓ ｙ ｔｍ ｓｍａ ｎ ｙ ｂ ｓ ｄ ｏ ｌｃｒ ｎ ｃ ｃｒ ｕ ｔｔ ｅ ｒ ｄ ｐ ｉ ｇ ｅ ｅ ｄｅ ｙ ｔｍ ｅ ｅｏ ｍｅ ｔｍｅｈ ｄｓ Ｔ ｉ ｅ ｔｓ ｓｅ ｉ ｉ ｌ ａ ｅ ｎ ｅ ｅ ｔｏ ｉ ｉｃ ｉ ｈ ｏｙ， ｕ ｉ ｇ ａ ｖ ｒｅｙ ｏ ｌｃｒ ｎ ｃ ｃ ｍｐ ｎ ｎ ｓｔ ｉ ｌｔ ｈ ｉｎ ｌ ｆｖ ｒｏ ｓｓ ｎ ｏ ｓ ａ ｄ ｔ ｅ ｒ ｓ ｏ ｓ ｆＡＭＴ ｃ ｓｎ ａ ｉｔ ｆｅｅ ｔｏ ｉ ｏ ｏ ｅ ｔ ｏ ｓｍｕ ａｅ ｔ ｅ ｓｇ ａｓｏ ａ ｕ ｅ ｓ ｒ ｎ ｈ ｅ ｐ ｎ ｅ ｏ ｉ ａ— ｔ ａｏ ｓ Ｔ ｒ ｇ ａ ｎ ｔ ｅ ｔｓ ｓｅ ａ ｅ ｄ ｓｇ ｄ ｔ ｃ ｏ ｌｓ ｕ ｏ ｔ ｅｅ ｔｏ ． ｔ ｓ ｎｔｒｎ ｏ — ｕ ｔ ｒ ． ｈｅ ｐ ｏ ｒ ｍｓｉ ｈｅｔｓ ｙ ｔ ｍ ｒ ｅ ｉｎｅ ｏ ａ ｃ ｍｐ ｉｈ ａ ｔ ｍａｉ ｄ ｔ ｃｉｎｓ Ａ ｅ ｔｍｏ ｉ ｉ ｇ ｓ ｆ ｃ ｏ ｔ ｗａ ｅ ｉ ｅ ｅｏ ｅ ｎ ｔ ｅ ｅ ｖ ｒ ｎ ｎ ｆＬａ Ｗ ｉ ｄ ｗｓ ｒ ｓｄ ｖ ｌｐ ｄ ｉ ｈ ｎ ｉｏ ｍｅ ｔｏ ｂ ｎ ｏ ／ＣＶＩｔ ｉｐ ａ ｈ ｅ ｕ ｔ． ｐ ｒｍｅ ｔ ｈ ｗ ｈ ｔ ｈｅｔｓ ｏｄ ｓ ｌｙ ｔ ｅ ｒ ｓ ｌｓ Ｅｘ ｅ ｉ ｎ ｓｓ ｏ ｔ ａ ｅ ｔ ｔ
电子元器件的老化测试分析
电子元器件的老化测试分析摘要：当前，电子元器件的老化测试工作主要是剔除一些不符合标准的元器件，从而提升电子产品的质量。
市场中对于老化测试系统在实践层面应用的方式相对较多，除去老化系统生产厂家制造的各种通用型号产品之外，半导体厂家内部也自己研发了一些用于自己应用的各类系统，对电子元器件的老化测试拥有较好的稳定性能。
基于此，本文就电子元器件的老化测试进行简要分析。
关键词：电子；元器件；老化测试目前，国内电子元器件开展技术状态管理工作的研制单位以微电子器件、混合集成电路、模块组件及部件等定制型或专用型产品的居多，主要为整机或系统配套，配套级别一般较低，但产品技术含量较高、加工难度大，且多数属于核心器件或关键零部件，其质量将直接影响着整机或系统的性能及可靠性。
在实际的研制和生产过程中，大部分研制单位仍以用户为导向，按用户要求开展技术状态管理，工作比较被动，未发挥技术状态管理的真正作用。
1电子元器件管理现状1.1尚未形成统一要求，管理实施动力不足电子元器件产品通用性强，适用于多种系统装备，可供多家用户单位使用，但不同用户或不同项目，产品对应的配套级别不同，技术状态管理的要求及重点不同，目前尚无统一的行业标准进行明确，研制单位无法区分具体要求，矛盾明显。
若无用户明确要求，元器件研制单位基本不会主动开展技术状态管理，实施动力不足。
1.2 技术状态固化难度大元器件产品生产批量大，若在生产过程中使用了未经认证的、状态不清晰、稳定性未知的材料，或可能大量使用了进口材料等情况，产品技术状态固化难度将大大增加；若用户单位在项目选型时，采购了未经鉴定定型的元器件、国外元器件、技术落后或即将淘汰产品等情况，也将技术状态管理工作变得更加复杂。
1.3 技术状态更改流程繁琐由技术更新迭代造成产品的状态多样化，或在生产过程中临时更改原材料引起的批次性变更等，都将引起产品最终交付状态与用户最初选择的产品不一致，如将此不一致反馈用户单位，技术状态更改流程繁琐，需要通过用户单位确认审批，更改周期较长。
基于机器视觉的电子元器件检测系统设计
基于机器视觉的电子元器件检测系统设计摘要：目前，我们的经济处于一个高速发展的时期，伴随着科技的飞速发展，各种类型的电子元件都朝着一体化、微型化的方向发展，这给电子元件的检测带来了更大的困难。
在以往的检测工作中，多注重对物体检测方法的运用，所得影像解析度不高，且包含的信息也比较少。
因此，研究人员引入了以机器视觉技术为基础的电子元件检测方法，大大提高了检测的效率与品质。
关键词：机器视觉；电子元器件；检测系统设计电子元器件是系统和组件的重要组成部分，提高电子元器件的可靠性是系统可靠运行的基础。
在推出新的产品时，首先要对其进行可靠性试验，所以要做可靠性检测。
但常规状态下的检测费用高昂，尤其是军事设备，其可靠性需求更加苛刻。
因此需要研究一些试验方法来测试其可靠性指标。
1国产电子元器件现状1996年7月，33个西方国家签署《瓦森纳协定》，开始了对中国长达20多年的出口限制，从高端电子元器件、高端制造设备、先进技术等方面限制中国半导体行业发展。
2021年12月，计算机辅助设计软件也被纳入管控范围，西方国家对中国高端技术的限制日益加重。
西方国家对中国长期的技术封锁，虽然限制了中国半导体技术的快速发展，但也促使中国形成了最为完整的半导体产业链，从原材料到高端集成电路的每一个环节，从电阻电容到高端集成电路的所有分类都有中国企业的参与，具备了实现全产业链自主可控的工业基础。
半导体产业按照其制造过程可以划分为半导体材料和制造设备工业，中游是半导体设计、制造、封装和检测工业，以及其下游的半导体终端应用产业。
在我国，大数据，5 G，人工智能，智能汽车等领域已经得到了广泛的运用，华为，阿里，百度，比亚迪等公司都已经获得了巨大的成功。
华为海思的麒麟芯片是全球第一，飞腾 CPU，景嘉微 GPU，以及“魂芯”，虽然还不是最顶尖的，但已经能够满足大部分应用需求；而被称为“芯片之母”的 EDA (EDA)，已经实现了28 nm的成熟制造技术。
工业和信息化部电子第五研究所成果汇编
成果名称 CRC1-410 工业机器人控制系统
工业和信息化部电子第五研究所成果汇编
简介
成果完成人
CRC1-410工业机器人控制系统采用国际流行的开放式软硬件平台；配以4轴伺服脉冲接口，数据采集卡 及机器人专用端子和安全接口；模块化的软件设计，可适配SCARA水平机器人，码垛机器人，DELTA（蜘 蛛手）机器人，极坐标机器人的控制；可应用在托盘装配、元件放置、元器件贴片、元器件组装等3C领 域。
测评，评估其安全状况，提出整改建议，给出评估报告。
在通告服务提供方与服务需求方之间，建立一种紧密的信息发布和沟通渠道，为需求方提供最新的安全
态势、安全漏洞、病毒爆发等信息，使需求方能够及时采取控制措施来预防自身信息安全事件的发生。
16
预警通报服务
安全预警通报的内容主要包括漏洞信息、威胁信息、病毒信息、预警消息、重大事件和问题通告等，以
杨少华先进检测技术70技术就绪度评价系统cepreitechnologyreadinesslevelevaluationsystem可根据项目提交材料完成技术就绪度自动评级资料入库辅助专家评级提升评价效率和准确度智能制造技术及评价技术71步入式三综合环境试验系统大尺寸综合应力试验系统可实现温度湿度和振动应力综合先进检测技术72一种房间空气调节器可靠性试验剖面可靠性试验应力条件可用于空气调节器的可靠性考核先进检测技术73跌落试验机的姿态调整机构用于跌落试验样品位置调整装置先进检测技术74大型系统研制过程可靠性综合评价方法可靠性试验应力条件可用于大型复杂系统的可靠性考核先进检测技术75电子部件贮存可靠性试验方法用于电子部件贮存寿命评价先进检测技术76热带海洋环境下有机涂层快速试验方法有机涂层快速试验先进检测技术工业和信息化部电子第五研究所成果汇编序号成果名称简介成果完成人分类77氨基漆加速老化试验数据的预测方法及系统可用于涂层寿命快速评价先进检测技术78单片集成电路贮存寿命特征检测方法特定集成电路寿命评价过程中的特征参数检测先进检测技术79基于hass及产品内部响应的高效筛选设计方法可用于电子产品的高效环境应力筛选先进检测技术80太阳辐照试验装置可开展太阳辐照试验先进检测技术81伺服电机可靠性测试系统一套伺服电机性能测试装置在内的可靠性评价系统先进检测技术82工业机器人可靠性综合检测装置可实现工业机器人的性能评价先进检测技术83半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统可用于分立器件的寿命评价过程中的检测先进检测技术84流体污染试验装置可用于开展相关装备流体污染试验先进检测技术85复合材料连接结构自然暴露试验结果评价方法可用于复合材料连接件的天然暴露试验评价先进检测技术86电子产品热振动耦合分析软件一种仿真分析软件可分析在热环境和振动环境综合条件下的产品可靠性先进检测技术87涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用材料涂层耐环境腐蚀性的测试方法先进检测技术88电荷放大器贮存寿命预测方法装置存储介质和计算机设备可用于评价电荷放大器贮存寿命先进检测技术89印制电路板防护涂层的热带海洋大气适应性评价方法印制电路板的涂层在海洋环境条件下的试验方法和条件先进检测技术90工业机器人工作精度辅助测试装置及测试装置用于工业机器人精度测试先进检测技术91柔性直流输电换流阀的可靠性检测方法装置及设备换流阀可靠性水平测试先进检测技术92可靠性定时试验
电子元器件测试系统选型中的若干问题
电子元器件测试系统选型中的若干问题摘要：这篇论文研究了测试要求与其费用、测试设备与其操作机构、以及测试设备与其技术的联系，对比和解读了使用国内或外资的测试设备，以及选用微型或大型的测试设备的优劣，同时也就设备的选择与评估给出了观点。
关键词：电子元器件；测试系统选型；问题分析1.测试需求和测试成本毫无疑问，电子元器件的检验是至关重要的，特别是近些年来，“电子垃圾”（即假冒伪劣的电子元器件）大量流入国内市场，形形色色的元器件层出不穷，严重影响到了设备及系统的稳定性。
这种状况已经吸引到众多企业的关注，因此，他们开始装置各种级别的检验设备来检验并筛查元器件。
然而，根据各种测试目标以及特殊的测试标准，须挑选适合的测试设备，这也会影响到测试的成本【1】。
比方说，在通用数字IC的检验上，若仅检查其静态逻辑性，那么只需几千元的功能性检验设备；若是检查其静态直流参数，那么就得花费几万元甚至十几万元的微型检验设备；若是检查其交流参数，那么就得花费几十万元甚至更高的中、大规模的检验设备。
对于IC的具体标准，已经明确指出其所有的参数，同时也明确指出A组的检查以及质量的统一性检查，以及每个小组和每个实验步骤都需对这些参数进行测试。
在制造IC的过程中，制造商通常会遵循并实施产品的详尽规定。
对于他们而言，实施产品的详尽规定就是测试的要求。
这个要求是清晰的，有标准作为支持，并且通常也能够达成。
因此，IC的制造商通常都会配备实施产品详尽规定所需的测试设备。
然而，对于使用IC的商家（例如整机制造商）而言，问题就更为复杂了，各个单位的测试系统质量参差不齐，许多单位甚至缺乏基本的测试工具。
缺乏一致的标准来确定在何种环境下，器件需在出入库检查或筛选过程中进行哪些参数的测试。
因为测试的要求并未清晰，所以很难断定应该装置哪种类型的测试系统。
大部分的设备制造商通常会选择测试那些可测量的参数，而那些无法测量的参数则会选择忽略。
外包测试的状态大致上也是这样。
电子元器件特性与检测方法
电子元器件特性与检测方法电子元器件是构成电子器件的基本组成部分，其特性的稳定性和准确性对整个电子系统的工作性能具有重要影响。
为了确保电子元器件的质量和可靠性，需要进行特性检测。
本文将从电子元器件的特性和检测方法两个方面进行介绍。
一、电子元器件的特性1.电阻特性电阻用于限制电流的流动，其基本特性是电阻值。
电阻器可以通过测量两个端点之间的电阻值来检测。
2.电容特性电容用于存储电荷，其基本特性是电容值和介质。
电容器可以通过充电-放电过程来测量电容值，并通过测量介质的栅极间电压来检测。
3.电感特性电感用于储存能量，其基本特性是电感值。
电感器可以通过对电流和电压的频率响应进行测量来检测。
4.半导体器件特性半导体器件主要是二极管和晶体管。
二极管的特性包括正向电压降、反向电流、最大正向电流等。
晶体管的特性包括开关特性、放大特性等。
对于半导体器件，可以通过使用万用表、示波器等进行测量来检测。
5.传感器特性传感器用于将环境中的物理量转化为电信号。
传感器的特性主要包括灵敏度、线性度、响应时间等。
传感器的特性可以通过搭建相应的实验装置来检测。
二、电子元器件的检测方法1.外观检查2.电气参数检测电气参数检测是通过测量电子元器件的电阻、电容、电感等参数来判断其是否符合设计要求。
常用的检测方法有万用表、LCR表等。
3.功能测试功能测试是通过将电子元器件接入到相应的电路中，测量其在特定工作条件下的功能表现来判断其是否正常工作。
常用的功能测试方法有信号源、示波器等。
4.可靠性测试可靠性测试是通过长时间、高温、高湿等恶劣工作条件下对电子元器件进行测试，以评估器件在极端环境下的可靠性。
常用的可靠性测试方法有老化测试、环境测试等。
5.X射线检测X射线检测可以用于检测元器件内部的焊点、引脚等情况，特别适用于检测半导体器件的焊点连接问题。
以上是电子元器件特性与检测方法的一些基本介绍，不同类型的电子元器件及其具体应用领域可能还有一些特殊的检测方法，需要根据具体情况进行选用。
基于VB的电子线路板自动测试系统设计
板上设计相应的测试点， 把这些输入点 和输出点安排在
适 当的位置 ， 让计算机能够输入和检测这些信息。
室 内温 度 （ 拟量） 模
汽 化加热 （ 模拟 量） 油 泵驱动 ｇ２ （ 模拟 量） 点火 控制 （ 开关 量） 燃烧 风机 （ 模拟 量） 取 暖风机 （ 模拟 量） 报 警输 出 凰 （ 开关 量）
钟内利用计算机 自动测试线路板的各种功能， 如果存在
燃烧 风机 速度 模 拟量）
油面位 置川 开关量） 振动检 测Ｚ 开关量ｏ ｔｕ ｉｎ ｌ ｉ ． ｎ ｕ ／ ｕ ｐ ｔｓ ａ ｓ ｇ
问题 ， 测试系统会 自动显示故 障的类 型和性 质 ， 由于采 用机器 自动测试 ， 排除了人为的干扰 因素， 大幅度 提高
Ｋｅ ｗｏ ｄ ｙ ｒ ｓ： Ｓ ｒａ ｏ ｅｉ ｃ ｍｍｕ ｉａｉｎ Ｓｎ ｌ ｈｐ ｃ ｍｐ ｔｒ Ｃｉｃ ｔｂ ａｄ Ａｕｏ ｔ ｅ ｔ Ｇｍ ｐ ａ ｌ ｎ ｃ ｔ ｉｇｅｃ ｉ ｏ ｕ ｅ ｏ ｒｕｉ ｏ ｒ ｔｍａｉ ｔｓ ｃ ￣ｃ ｌ
Ｏ 引言
在 电子产品的生产过程中， 需要将 各种 电子元器件
了测试的效率和产品的合格率。 １２ 测试 系统的硬件结构 ．
为了能够 向电子线路 板输入 和获得信号 ， 要设 需
计一个测 试 夹具。 当电子线 路板 放置 在测试 夹 具上 时， 测试 夹具的测试顶针 正好与 电子线路板 上的所有
１ 测试 系统结构
１ ．１ 线路板的设计 燃油取暖器 的电子线路板各有 ４个模拟量 、 ２个开
图 ２ 测 试 系统 硬 件 结 构
Ｆ ｇ ２ Ｈａｄ ａ ｅ ｃ ｍｐ ｓｔ ｎ ｏ ｓ ｙ ｔｍ ｉ． ｒ ｗ ｒ ｏ ｏ ｉ ｏ ｆｔ ｔ ｓｅ ｉ ｅ ｓ
MSA测量系统分析的实际应用案例
数据分析与优化措施
数据采集与处理
通过测量系统对电子元器件进行性能 测试，并采集相关数据。对数据进行 预处理，如去噪、滤波等，以提高数 据质量。
性能优化建议
根据数据分析结果，提出针对性的性 能优化建议。如改进生产工艺、优化 产品设计等，以提高电子元器件的性 能水平。
数据分析方法
运用统计分析、图像处理等方法对测 试数据进行分析。提取特征参数，评 估电子元器件的性能表现。
THANKS
感谢观看
持续改进计划
建立持续改进机制，定期对电子元器 件的性能测试进行复查和评估。根据 评估结果调整测量方案和优化措施， 确保产品质量持续改进。
05
实际应用案例三：食品加工过程 质量控制
案例背景及需求
食品加工行业现状
食品加工行业对产品质量和安全性的 要求日益严格，需要精确、可靠的测 量系统来监控生产过程。
测量流程
制定详细的测量流程，包括零部件 的装夹、定位、测量、数据处理等 步骤，确保测量的准确性和可重复 性。
数据分析与优化措施
数据统计与分析
对测量数据进行统计和分析，计 算各项尺寸指标的均值、标准差 、变异系数等，评估零部件的尺 寸稳定性。
问题诊断与改进
针对测量数据中出现的异常值或 不稳定因素，进行深入分析，找 出问题根源，制定相应的改进措 施。
02
传统的人工检测方法效率低下、 误差率高，无法满足大规模生产 的需求，因此需要引入自动化、 高精度的测量系统。
MSA测量系统搭建与实施方案
硬件设备
选用高精度的三维测量仪器，如 激光扫描仪、三坐标测量机等，
实现对零部件的高精度测量。
软件系统
开发专用的测量软件，实现测量数 据的自动处理、分析和报告生成。
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电子元器件自动测试系统
PRODUCT DESCRIPTION
NSAT-2000系统可完成在不同的温湿度环境，振动条件下，自动测试并实时采集不同类型的FPGA、电源模块、电容、继电器
的性能指标数据。
电源模块
电容
FPGA/DSP
继电器
航空航天
人工智能军事导弹
ØLCR数字电桥 Ø绝缘耐压测试仪 Ø数字万用表 Ø数据采集器
Ø可编程直流电源
Ø可编程直流电子负载Ø示波器
Ø逻辑分析仪
Ø直流电压源
被测产品仪器名称测试项目
FPGA/DSP示波器、逻辑分析仪、数据采集器管脚逻辑功能测试、I/O高低电平电压测试、I/O电流测试、I/O输出
特性图形化测试
电源模块直流电源、电子负载、数据采集器、示波器输出电流、输出电压、输出功率、负载调整率、电源调整率、短期稳
定性、电压纹波
继电器数字万用表、示波器吸合电压、吸合时间、释放时间与释放电压、触点电阻、介质耐压、绕组电阻、绝缘电阻、吸合回跳时间、吸合转换时间
电容LCR数字电桥、绝缘耐压测试仪容量测试、漏电电流、动态电阻与损耗正切角、耐压性能
NSAT-2000电子元器件自动化测试系统主界面包括六个模块：仪器连接，参数配置，运行测试、数据查询和关于我们。
仪器连接模块
电容参数设置界面电源参数设置界面
继电器参数设置界面
FPGA/DSP参数设置界面
参数配置模块
运行测试模块
数据查询模块
软件支持对历史测试数据的查询，用户可根据测试批次、测试时间、测试人员的信息、产品类型、产品名称，产品编号等关键词进行测试数据的查询，需要查看某个批次的详细测试数据，只需要在界面左侧点击相应的测试报告编号，便可在右侧看到此批次的详细测试数据，并可根据需要导出测试数据。