头影测量常用标记点解析
X线头影测量
E线
H线
Ricketts 审美平面（E线）
面部软组织鼻尖点和颏前
点的连线。用于评价上下 唇突度。
• 上下唇与E线间距离随年龄 增大而减小
• 上下唇处于E线稍后所表现 的侧面形较好
Steiner 软组织观察法 （S线）
颏部软组织最突点和 鼻下沿S形中点连线。 用以评价上唇位置
Merrifield （Z角）
被摄者要求
• 立位，两足自然平行分开 • 最大牙尖交错位（ICP） • 面肌自然放松
X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
X线头颅定位片的描绘
描图前准备
• 检查X片的质量 头位、正中咬合位
两侧结构很好的重叠
• 描图工具
• 髁顶点(Co)
Or
Co
• 下颌角点(Go)
• 颏前点(Pog)
• 颏下点(Me)
• 颏顶点(Gn)
Go
• 下齿槽座点(B)
B
Pog/Gn/Me
上、下颌牙齿的标志点
• 上切牙点U1 • 下切牙点L1
注意
• 固定标志点 相对而言
• 难定位的点：鼻根点（N)
眶点（Or) 上齿槽座点(A) 前、后鼻棘点(ANS,PNS) 下切牙根尖点
由不同的分析目的决定……..
• • • • • • • • • • • Tweed测量分析法 华西医大测量分析法 Downs测量分析法 Wylie测量分析法 Steiner分析法 Wit分析法 功能分析法 四边形分析法 臂章分析法 VTO预测法 ............
经典分析方法介绍
• • • • • Tweed 分析法（1944年）； Wylie分析法（1947年）； Downs分析法（1948年）； Steiner分析法（1953年）； Wits分析法（1975年）。
X线头影测量学
第三十页，共47页。
• 下颌平面(píngmiàn)角（ MP-FH）:下颌平面 (píngmiàn)与FH平面 (píngmiàn)的交角
• Y轴角：蝶鞍中心点与颏 顶点连线与眶耳平面 (píngmiàn)之前下交角
• 面角（NPog-FH）： 面 平面(píngmiàn)与眶耳平 面(píngmiàn)相交的后下 交角
第三十二页，共47页。
常用的面部(mià n bù )高 度测量值
• 上前面(qián mian)高（ N-ANS）：以FH为参照， N点和ANS点两点间的垂 直距离
• 下前面(qián mian)高（ ANS-ME）：以FH为参照 ，ANS点和ME点两点间的 垂直距离
• 全面高（N-ME） ：从前 鼻棘至颏下点的距离
第三十一页，共47页。
上中切牙－前颅底平面 (píngmiàn)角（U1-SN）：上中 切牙长轴与前颅底平面 (píngmiàn)的前下交角
下中切牙－下颌平面 (píngmiàn)角（L1-MP）：下中 切牙长轴与下颌平面(píngmiàn) 的后上交角
上下中切牙角（U1-L1）：上 下中切牙长轴的交角
中切牙切缘之最前 点
第二十二页，共47页。
下颌(xiàhé)标 志点
第二十三页，共47页。
四.常用(chánɡ yònɡ)测量平面
• 1.基准平面：相对稳定(wěndìng)
•
前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与
鼻根点的连线组成
•
眶耳平面（FH）:由耳点与眶点
的连线组成
•
Bolton平面:由Bolton点与鼻根
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及
X线头影测量分析方法解析
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Steiner分析法
1)SNA角：前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部 2)SNB角：前颅底平面-下齿槽 座点角。代表下颌基骨对颅部
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面，而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面，再从颏前点作切 线垂直下颌平面，测量
(6)全面高(N-Me)：鼻 根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS)： 鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me)： 前鼻棘至颏下点的距离。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线， 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基 准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。
X线头影测量分析
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！
慧心学牙笔记--第四节头影测量
慧心学牙笔记--第四节头影测量第四节头影测量学头影测量最重要的一件事是——知道要把点定在哪儿。
头影测量是制定矫治计划的重要参考因素，但不是决定因素。
决定因素还是医生。
矫治计划中能考虑更多的因素则是更完美的，但也要讲究工作效率。
定点是一切头影测量的基础。
常用23个点，必须记住的点有十几个。
（红字标注的点为重要的点，必须记住的）头影测量常用分析方法:*Down analysis*Tweed analysis*Steiner analysis*Wylie analysis*Rickettes analysisNJMU analysis（南医大分析法）国内牙医常用：南大派，北医派，四医大派，华西派，大同小异。
头影测量那么多数据，非常有用的是有限的。
对临床指导意义最大的，有用的数据掌握就够了。
先要记熟两件事儿:1.头影测量中的各种定点都定在什么位置，代表什么意思。
2.各种角都代表什么意思，正常范围是多少。
1.鼻根点（N）:位于沿额骨骨皮质影迹表面往下一小“缺口”。
此即为鼻额缝阴影的最前端。
这是前颅底部的标识点，是一条形态不规则的骨缝，在头影像上从后下往前上呈一条锯齿状的阴影，显示并不十分清楚。
（N点比软组织鼻根点要高一些）2.蝶鞍点（S）:位于垂体窝，即蝶鞍影像的中心点。
这是常用的一个颅部标识点，在生长发育过程中位置较为稳定，因此是构成基准平面和很多测量项目的基准点，也常作为颅底重叠的原点。
3.耳点（P）:外耳道阴影的最上点。
这是构成框耳平面（FH平面）的标志点之一，在侧位头影像上常呈双重圆形后椭圆形阴影，定点时应该注意取双重影像上耳点的平均中点。
注意区分外耳道影像，机械耳塞影像，内耳道影像。
确定耳点也可依据耳点，眶点与髁顶部三者的解剖关系来帮助定点。
眶耳平面（FH平面）高于髁顶部约1mm，其误差率仅1‰。
（机械耳点）定点：先找到Or点，与髁突最上点高1mm的位置连线，P点就在此条线上。
4.眶点（Or）:眶下缘的最低点。
头影测量学【正颌正畸联合治疗中心课件】
Mean 82.8 91.0 17.1 45.0
SD 4.1 7.5 2.3 2.1
⑤
⑥
CASSOS REPORT
Shanghai Analysis
Unit
Maxilla to Cranium 1. SNA 2. NA-FH 3. Ptm-S (//HP) 4. Ptm-A (//HP) deg deg mm mm deg deg deg mm deg deg mm mm %
deg mm mm deg deg deg mm deg deg mm c mm % deg deg % % %
88.0 15.6 46.1 83.2 93.2 -10.9 14.2 35.6 45.8 65.0 69.1 105.2
d
91.0 17.1 45.0 80.1 85.4 6.0 a 17.4 27.3 30.4 71.0 x 56.0 100.0
耳点（Po）： 机械耳点 --- 定位仪耳 塞影像的最上点 解剖耳点 --- 骨性外耳 道影像的最上点
颅底点（Ba）：枕骨 大孔前缘中点
二.上颌标志点
眶点（Or）： 眶下缘最下点 翼上颌裂点（Ptm）：
翼上颌裂影像的最下 点
前鼻棘点（ANS）：
前鼻棘的尖端
后鼻棘点（PNS）： 硬腭后部骨棘之尖
① ③ ④
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
②
CASSOS REPORT
Shanghai Analysis
上颌骨相对于颅底
Maxilla to Cranium 1. SNA 2. NA-FH 3. Ptm-S (//HP) 4. Ptm-A (//HP) Mandible to Cranium
Unit
deg deg mm mm
X线头影测量分析
X线头影测量分析D各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。
Brodi e1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。
Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。
林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。
林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。
通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。
2牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。
而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。
3确定错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。
4研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。
如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
5外科正畸的诊断和矫治设计：通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量，同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙颌位置，得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水平。
X线头影测量分析
3）下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id.infradentale)：下齿槽 突之最前上点 • 下切牙点(Li.lower incisor)：下中切牙 切缘之最前点 • 颏前点(P.pogonion)：颏部之最突点 • 颏下点(Me.menton)：颏部之最下点 • 颏顶点(Gn.gnathion)：颏前点与颏下点 之中点
3、头影图的描绘
4、常用X线头影测量的 标志点及平面
（1）头影测量标志点 1）颅部标志点 2）上颌标志点 3）下颌标志点 4）常用软组织侧面标志点 （2）头影测量平面
1）颅部标志点
• 鼻根点(N.nasion)：鼻额缝的最前 点 • 蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影像的中心 • 耳点(P.porion)：外耳道之最上点 机械耳点，解剖耳点 • 颅底点(Ba.basion)：枕骨大孔前缘 中点 • Bolton点：枕骨髁突后切迹 • 的最凹点
上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前 下点
上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
UI
3）下颌标志点
• 髁顶点(Co.condylion)：髁突的最上点 • 关节点(Ar.articulare)：颅底下缘与 下颌髁突颈后缘之交点 • 下颌角点(Go.gonion)：下颌角的后下 点：可通过下颌支平面和下颌平面交 角之分角线与下颌角之相交点来确定 • 下齿槽座点(B.supramental)：下齿槽 突缘点与颏前点间之骨部最凹点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.)：翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点
头影测量分析法 (韩睿 整理)
Downs分析法(10项）：1.面角：面平面与眼耳平面相交之后下角2.颌凸角：NA与PA延长之交角3.A-B平面角：AB或其延长线与面平面的交角4.下颌平面角：下颌平面与眼耳平面的交角5.Y轴角：Y轴与眼耳平面相交之下前角6.牙合平面角：牙合平面与眼耳平面之交角7.上下中切牙角：上下中切牙长轴的交角8.下中切牙—下颌平面角：下中切牙长轴与下颌平面之交角9.下中切牙—牙合平面角：下中切牙长轴与牙合平面相交之下前角10.上中切牙凸距：上中切牙切缘至APo连线的垂直距离（mm），当上中切牙切缘在APo连线前方时为正值，反之为负值Steiner分析法（14项）：1.SNA角2.SNB角3.ANB角4.SND角（D点为下颌骨性联合中心）5.U1—NA角：上中切牙长轴与NA连线之交角6.U1—NA距：上中切牙切缘至NA连线的垂直距离7.L1—NB角：下中切牙长轴与NB连线之交角8.L1—NB距：下中切牙长轴至NB连线的垂直距离9.Po—NB：颏前点至NB连线的垂直距离10.U1—L1角：上下中切牙长轴之后交角11.OP—SN角：牙合平面与前颅底平面之交角12.GoGn—SN角13.SL：从颏前点向前颅底平面作垂线，其垂足至蝶鞍点的距离14.SE：从髁突最后点向前颅底平面作垂线，垂足至蝶鞍点的距离注：SL与SE两项测量相结合，可了解下颌位置的变化及下颌生长发育情况Wylie分析法（10项）：以下前四项以眼耳平面为基准平面1.Co—S：髁突后切线垂线至蝶鞍中心店垂线间之距离2.S—Ptm：蝶鞍中心垂线至翼上颌裂垂线的距离3.ANS—Ptm：翼上颌裂垂线至前鼻棘垂线的距离4.Ptm—6：翼上颌裂垂线至上颌第一恒磨牙颊沟垂线距离5.下颌长度：以下颌平面为基准平面，髁突后缘作切线垂直下颌平面，再从颏前点作切线垂直下颌平面，测量垂线间的距离以下五项从鼻根点、前鼻棘点及颏下点作线与眼耳平面平行，而测量各平行线间的垂直距离6.全面高：N—Me：鼻根点与颏下点的垂直距离7.面上部高：N—ANS：8.面下部高：ANS—Me：9.N—ANS/N—Me×100％：10.ANS—Me/N—Me×100％：。
头影测量分析值
头影测量分析值
ANB＞4°骨性前突
ANB＞6°须手术解除前突
ANB＞-4°骨性反颌
ANB＞-6°须手术解除反颌
ANB-2°以内，可以考虑矫形
U1/NA同时↑上颌唇倾
U1/SN同时↓上颌舌倾
L1/NB同时↑下颌唇倾
L1/MP同时↓下颌舌倾
MP/SN同时↑高角病人
MP/FH同时↓低角病人
骨性判测值：ANB,SNA,SNB
骨性Ⅰ类：0°＜ANB＜4°
骨性Ⅱ类：ANB＞4°
骨性Ⅱ类：ANB＞4°
总结：高角病人磨牙区托槽不能粘太低，应粘颌向，防止磨牙伸长.
高角病人:拔牙容易丢失支抗，骨质疏松多，磨牙容易伸长，所以拔牙尽量靠后拔。
低角病人:骨质致密，关闭间隙不容易，慎重拔牙。
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实用：正畸常用X线头影测量标志点及平面
实用：正畸常用Ｘ线头影测量标志点及平面?????1头影测量标志点：标志点是用来构成一些平面及测量内容的点。
理想的标志点应该是易于定位的解剖标志，在生长发育过程中应相对稳定。
但并不是常用的标志点均能符合这一要求，不少标志点的确定是由各学者提出的不同测量方法而定，而标志点的可靠性还取决于头颅X线片的质量以及描图者的经验。
头影测量标志点可分为两类：一类是解剖的，这一类标志点是真正代表颅骨的一些解剖结构；另一类是引伸的，这一类标志点是通过头影图上解剖标志点的引伸而得，如两个测量平面相交的一个标志点。
(1)颅部标志点蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影像的中心。
这是常用的一个颅部标志点，在头颅侧位片上较容易确定。
鼻根点(N.nasion)：鼻额缝的最前点。
这是前颅部的标志点，代表面部与颅部的结合处。
有些X线片上，此点显示不太清楚，是因为其形态不规则骨缝形成角度之故。
耳点(P.porion)：外耳道之最上点。
头影测量上常以定位仪耳塞影像之最上点为代表，称为机械耳点。
但也有少数学者使用外耳道影像之最上点来代表，则为解剖耳点。
颅底点(Ba.basion)：枕骨大孔前缘之中点。
一般此点较易确定，常作为后颅底的标志。
Bolton点：枕骨髁突后切迹的最凹点。
(2)上颌标志点眶点(O.orbitale:)眶下缘之最低点。
当病人两侧对称及在完好的定位下，左右眶点才于同一水平，但实际上难以达到。
一般X线片上可显示左右两个眶点的影像故常选用两点之间的点作为眶点，这样可减小其误差。
翼上颌裂点(Ptm.pterygomaxillary fissure)：翼上颌裂轮廓之最下点。
翼上颌裂之前界为上颌窦后壁，后界为蝶骨翼突板之前缘，此标志点提供了确定了上颌骨的后界和磨牙的近远中向间隙及位置的标志。
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖。
前鼻棘点常作为确定腭平面的两标志点之一，但此标志点的清晰与否与X线片的投照条件有关。
完整版头影测量
前、后 面 部 高 度
? 前面高（N-M）e : 从鼻根点至颏下点的距离 ? 后面高（S-Go）: 蝶鞍点至下颌角点的距离 ? 后、前面高比（S-Go/N-M）e: 约为62%。值偏大表明
面部呈水平生长型
软组织
常用硬组织分析法
Twee分d 析法 ?FMA ?FMIA ?IMPA
上下颌骨常用测量项目
? SNA均: 值81.7±3.3 ? SNB均: 值77.8±3.6（受SN-FH角影响，需矫正后参考） ? AN：B 当SNA>SN为B正值，当SNA<S为NB负值 ? 颌凸角（angle of conrexity）: 由鼻根点至上齿槽座
点连线与颏前点至上齿槽座点连线延长线交角，均值 为7.3±4.9，值越大表示上颌凸度大，反之上颌后缩 ? Y轴角：Y轴（S-Gn）与SN\FH交角，均值为66.3±7.1。 该角过大，则下颌后缩，生长型为垂直型；反之下颌 发育过度，水平生长型
下齿槽缘点与颏前点间之骨部最凹点
下颌标志点
? 颏前点（Po. Pogonio）n : 颏部最前点 ? 颏顶点（Gn. Gnathion）: 颏前点与颏下点骨连线中点 ? 颏下点（Me. Mento）n ：颏部最下点
下颌标志点
髁顶点（Co. Condylion）: 髁突最上点 关节点（Ar. Articulare ）: 颅底下缘与下颌髁突颈后缘交点， 在颏顶点不清晰时用，为升支平面标志点之一 下颌角点（Go. Gonion）: 下颌角的后下点，即下颌平面和下 颌升支后缘切线交角的角平分线与下颌角的交点（通过下颌平 面与升支后缘切线的交点GO来' 确定）
上颌标志点
?眶点（Or. Orbitale ）: 眶下缘最低点
ห้องสมุดไป่ตู้
第5章X线头影测量诊断学
X线头影测量片的传统 描图方法
• 在X线观片灯或专用描图桌上进行 • 工具：透明硫酸纸，刻度尺，三角
板，圆规，量角器、3H铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记,可用强光局部观察.
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
首次使用头颅定位器及摄片技术
X线头影测量学在 正畸学中的作用
应用 • １.研究颅面生长发育及生长预测
应用
• ２.牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
应用
• ３.研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面 形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的 作用机理
应用 • 4.外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评
• 按拍摄时不同头位分为 –侧位片 –正位片 –颏顶位片
X线头颅侧位片的获得
• 仪器：X线头颅定位仪 • 定位原理：
– 左右耳塞与眶针三者构成 一与地平面平行的恒定平 面；
– X线的中心点通过外耳道； – X线球管至头部矢状面的
距离不小于150cm； – 尽量减少头至胶片的距离
（10cm）。
➢ X线球管至患者正中 矢状面应不小于150cm
下颌骨的标志点
• 关节点(Ar. articulare ):颅 底下缘与下颌 髁突颈后缘之 交点 .(引伸标 志点)在Co不 易确定时代替 Co点.
下颌骨的标志点
• 下颌角点(Go. gonion ): 下颌角 的后下点.
下颌骨的标志点
• 髁突后缘点 （Pcd)。
• 颏联合中心点 (D):目测估计.
颅部的标志点
2.X线头影测量分析
Cephalometric measurement
（测量内容）
南医大分析法
Landmark （定点）
南 医 大 分 析 法－定点
S (Sella 蝶鞍中心点)
南 医 大 分 析 法－定点
N (Nasion 鼻根点)
南 医 大 分 析 法－定点
P( Porion耳点 ）
南 医 大 分 析 法－定点
UI－NA distance (UI-NA距)
南 医 大 分 析 法－测量内容
LI－NB angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
LI－NB distance (UI-NA距)
南 医 大 分 析 法－测量内容
UI－LI angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
UI－SN angle
南 医 大 分 析 法－测量内容
Tweed三角 （FMA,IMPA,FMIA）
FMA
FMIA IMPA
Hale Waihona Puke FMAFMIA FMIA
B (Supramental下齿槽座点)
南 医 大 分 析 法－定点
LI (Lower incisor下中切牙切端)
南 医 大 分 析 法－定点
LIa( 下中切牙根尖点)
南 医 大 分 析 法－定点
Po (Pogonion颏前点)
南 医 大 分 析 法－定点
Me (Menton颏下点)
南 医 大 分 析 法－定点
3. 常用平面
眶耳平面（FH） 前颅底平面（SN） 审美平面（EP） 下颌平面（MP）
4. 常用角度
颅底-上齿槽座角（SNA）： 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
X线头影测量分析1
二.X线头影测量的由来
三. X线头影测量的主要应用
1.研究颅面生长发育； 2.牙颌颅面畸形的诊断分析； 3.确定错合畸形的矫治设计； 4.研究矫治过程中.矫治后的牙颌颅面形 态结够的变化； 5.外科正畸的诊断和矫治设计； 6.下颌功能分析；
四.头颅定位X线照像与头影图的描绘
Tweed分析方法:
在下列情况下,不适于进行Tweed三角中下切牙唇舌 向倾斜度的校正: 1. 如果患者由于下頜后缩而表现的安氏２类１分类 错合,这时直立下切牙将会加重已存在的深复盖. 2. 某些頦唇沟较深的安氏２类２分类错合,使下切 牙内收则会加重畸形,且效果也不会稳定. 3. 对于正处在生长发育阶段的患者,要确定上下 切牙的最后位置.
S P N
Or
Y轴角（NSGn）
蝶鞍点至頦顶点 连线与前颅底平 面（S-N）所构成。
Gn
常用头影测量项目
7. 下颌平面角（FMA）：下颌 平面与眼耳平面的交角。
根据下颌平面角将垂直骨面形 分为3种 （1）正常型：均值27.2° 、 标准差4.7 ° （2）高角型：垂直向发育过 度大于32 ° ( 3) 低角型：垂直向发育 不足小于22 °
常 用 头 影 测 量 项 目
眼耳平面
16. /1-眼耳平面 角：下中切牙长轴与 眼耳平面之交角。 （FMIA）
常 用 头 影 测 量 项 目
S
N
17.前、后面高比 （S-Go/N-Me）。
Go
Me
常用头影测量项目
17.前、后面高比（S-Go/N-Me） 根据X线头影前-后面高的比例，面部的生长 型可分为三种类型： （1）正常生长型；面部生长均衡，后面高与前 面高的比值在65%左右。 （2）水平生长型；面部生长方向较为水平，后 面高与前面的比值一般大于68%。 （3）垂直生长型；面部生长方向较垂直，后面 高与前面高的比值一般小于62%。