ttl与非门的静态参数测试
TTL与非门的参数及电压传输特性的测试
+VCC +5V
用实验箱上的
10K电位器
14 1
从动端和一个 固定端引出。
0.8V
2 4
6 +
5 7
V
VOH
6.8K
图1-4
1.2.5 输出低电平VOL
测试电路如图1-5所示： 其正常指标为：VOL < 0.4V 。
+VCC +5V
2.4V
14 1
1.1K
2 4
6 +
5 7
V
VOL
用实验箱上的 10K电位器
-TC5频VDTHTM率 开TDM选 关LLO择+L选选5V/SCD择择选ABCDM拨+DABCD择+码+OABCD开5+ +关 SV+ABCD 15V/电 输/+源 入单/5插+VV次件A脉A先TC板T冲M用LO选连S择线选+接择5通V1+0逻个01电逻/5辑1辑发V源开 输管开关光/：出显+关二5示V极
FUSE
直流电源 ON
VCC
VCC
CD4511
CD4511
10K 电位器
波段开关 译码驱动 OFF
CD4511
CD4511
28个发光二极管指示
电位器 发光二极
+5V
PP
电源开关 A A
频率调节 和数码微管动开关 0
BB
PP AA BB
100K 电位器
管显示
CC
CC
-5V +15V
0
面板上原有的芯片 -15V
其正常指标为：IiL< 0.4mA 。
+VCC +5V
实验二TTL与非门的参数和特性测试
实验二TTL与非门的参数和特性测试实验目的：测试TTL与非门的参数和特性实验器材：1.TTL与非门电路板2.电源3.示波器4.逻辑分析仪5.连接线6.其他必要的辅助器件（如电阻、电容等）实验原理：TTL与非门（英文全称：Transistor-Transistor Logic NOT Gate）是一种常用的数字逻辑门电路，它是由晶体管和电阻等元器件构成的。
TTL与非门的主要功能是将输入信号取反，并输出到输出端。
在TTL与非门的电路中，输入信号为低电平时，输出信号为高电平；输入信号为高电平时，输出信号为低电平。
实验步骤：1.将TTL与非门电路板连接到电源上，并将示波器和逻辑分析仪连接到电路板上相应的引脚上。
2.开启电源，使电路板正常工作。
3.测量并记录输入端和输出端的电压。
输入端的电压为高电平时，记录输出端的电压，输入端的电压为低电平时，记录输出端的电压。
4.分析所测得的数据，并绘制输入电压和输出电压的关系曲线。
5.测试TTL与非门的最大工作频率。
通过改变输入信号的频率，逐渐增大频率直到输出信号出现错误，记录频率值。
6.测试TTL与非门的功耗特性。
测量输入电压为高电平时的功耗，以及输入电压为低电平时的功耗，并对测得的数据进行比较和分析。
实验结果：根据实验步骤和实验原理进行实验后，我们可以得到以下结果：1.输入端和输出端的电压关系。
根据测得的数据，绘制出输入电压和输出电压的关系曲线图。
2.最大工作频率。
记录输出信号出现错误的频率值，作为TTL与非门的最大工作频率。
3.功耗特性。
测量输入电压为高电平时的功耗和输入电压为低电平时的功耗，并对比分析。
实验分析：根据实验结果，我们可以对TTL与非门的参数和特性进行分析。
1.输入电压和输出电压关系。
通过绘制输入电压和输出电压的关系曲线图，可以分析出TTL与非门的转换特性和输入输出电平的范围。
2.最大工作频率。
通过得到的最大工作频率值，可以判断TTL与非门的响应速度和应用场合。
电子线路基础数字电路试验2TTL与非门逻辑功能及参数测试
实验二TTL与非门逻辑功能及参数测试一、实验目的1、熟悉TTL与非门外型和管脚引线排列。
2、掌握TTL门电路逻辑功能测试方法。
3、掌握TTL门电路传输特性及主要参数的测试方法。
二、实验仪器1、万用表1块2、晶体管毫伏表1台3、数字电路实验箱1台4、器件74LS00 二输入端四与非门1片三、实验原理本实验采用四“与非”门74LS00，它共有四组独立的“与非”门（Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ），每组有两个输入端，其插脚位置如图1-15-1所示。
图1-15-1 74LS00引线排列图1-15-2 74LS00与非门（一组）每组的构造和逻辑功能相同。
现以其中一组说明如下：TTL与非门电路如图1-15-2所P AB “与非”TTL。
为输出端。
逻辑功能为P为“与非”门的二个输入端，B和A示。
．门的主要参数有：1、扇入系数N和扇出系数N：能使电路正常工作的输入端数目称为扇入系数N，电i0i路正常工作时能带动的同类门的数目称为扇出系数N。
02、输出高电平V：一般V≥3V。
OHOH3、输出低电平V：一般V≤0.3V。
OLOL4、电压传输特性曲线，开门电平V和关门电平V：图1-15-3所示之V~V关系曲0ONOFFi线称为电压传输特性曲线。
使输出电压V刚刚达到低电平V时的最低输入电压V称为开i0OL门电平V。
使输出电压V刚刚达到高电平V时的输入电压V称为关门电平V。
OFFOHON0i图1-15-3 电压传输特性曲线图1-15-4 输出波形延迟于输入波形5、输入短路电流I：一个输入端接地，其它输入端悬空时，流过该接地输入端的电流RD为输入短路电流I。
RD6、空载导通功耗P：指输入全部为高电平输出为低电平时的功率损耗。
ON7、空载截止功耗P：指输入为低电平输出为高电平时的功率损耗。
OFF8、抗干扰噪声容限：电路能够保持正确的逻辑关系所允许的最大干扰电压值，称为噪声容限。
其中输入低电平时的噪声容限为V=V-V，而输入高电平时的噪声容限为ILNLOFF V=V-V。
TTL与非门参数的测试
TTL与非门参数的测试TTL（transistor-transistor logic）是一种常用于数字电路的逻辑芯片技术。
它使用晶体管来实现逻辑门的功能，通过与非门（NOT gate）来实现逻辑操作。
在本文中，我们将测试TTL与非门的参数，并讨论其性能。
输入(A)，输出(Y)-----------------0，11，0输入电压范围指的是将逻辑门认为是低电平或高电平的电压值。
对于TTL与非门，一般认为输入电压小于0.8V为低电平，大于2V为高电平。
这是因为TTL芯片使用的是晶体管，其饱和电压一般为0.7V，所以小于0.8V的电压被认为是低电平。
大于2V的电压被认为是高电平。
输出电压范围指的是逻辑门输出的电压范围。
对于TTL与非门，一般认为输出电压小于0.1V为低电平，大于2.4V为高电平。
这是因为TTL芯片使用的是晶体管，其饱和电压一般为0.2V，所以小于0.1V的电压被认为是低电平。
大于2.4V的电压被认为是高电平。
功耗是指逻辑门在工作时消耗的电功率。
对于TTL与非门，功耗一般较低，约为10-100毫瓦。
这是因为TTL芯片使用的是晶体管，晶体管的功耗相对较低。
响应时间是指逻辑门从接收到输入信号到输出信号发生改变的时间。
对于TTL与非门，响应时间一般较短，约为10-30纳秒。
这是因为TTL芯片使用的是晶体管，其响应速度较快。
为了对TTL与非门的参数进行测试，我们可以使用示波器来观察输入和输出信号的波形。
首先，我们将一个脉冲信号作为输入信号输入到TTL 与非门的输入端，并同时观察输入和输出信号的波形。
然后，我们可以测量输入信号的电压范围和输出信号的电压范围。
此外，我们还可以使用示波器来测量TTL与非门的响应时间。
通过测试TTL与非门的参数，我们可以评估其性能并确定其在数字电路设计中的可靠性和适用性。
对于不满足要求的参数，我们可以考虑使用其他类型的逻辑门或优化电路设计来解决问题。
总之，TTL与非门是一种常用的逻辑门，其参数包括输入电压范围、输出电压范围、功耗和响应时间。
数字电路实验报告——TTL与非门参数测试
第二次实验报告实验一 TTL 与非门参数测试一、实验目的要求1， 熟悉TTL 与非门的外形和管脚排列 2， 掌握TTL 与非门逻辑功能的测试方法3， 掌握TTL 与非门主要参数的测试方法，加深理解TTL 与非门参数及其物理意义 二 实验仪器、设备直流稳压电源，电子电路调试器，万用表，74LS20、电位器、电阻 三、实验线路、原理框图 （一）74LS20的管脚排列74LS20是一块由两个4输入端与非门组成的小规模集成电路，其逻辑表达式为Y=D C B A 。
它具有14个外引管脚，当芯片的缺口朝左方时，芯片的左上方为14号脚，接电源Vcc （所有TTL 集成电路使用的电源电压均为Vcc=+5V ），右下方7号脚GND 接0V 。
多数芯片的电源引脚是对角线分布的。
芯片的外引脚管排列规则，通常是左下方是1号脚，按逆时针方向递增排列。
它的引脚图如下：图1（二）74LS20的静态参数 1，低电平输出电源电流I ccl低电平输出电源电流I ccl 是指：所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
测试电路如下：图22，输入短路电流I Is低电平输入电流是指：被测输入端的输入电压V Il =0.4V,其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流值。
测试时，把被测输入端接地，可以测得与非门的输入短路电流I Is ，此值可1B 1C 1D 1Y 地近似地代替I Il值。
测试电路如下：图33，电压传输特性电压传输特性是反映输出电压V0与输入电压V1之间关系的特性曲线。
测试电路如下：图4四、实验方法步骤（一）74LS20逻辑功能的测试任选一个与非门，将三个输入端A、B、C、D分别接电子电路调试器的状态设置开关，其余不用的输入端悬空（或接高电平），输出端接LED逻辑电平指示器，逐个按真值表扳动状态设置开关。
测试结果如下：（二）测试74LS20的静态参数1，测试低电平输出电源电流I ccl按图2接线，测试结果为I ccl=1.45mA2，测试输入短路电流I Is按图3接线，测试结果为I Is=0.1mA4，根据上表描点作图，如下图所示：。
TTL与非门参数测试
2．根据实验数据画出传输特性曲线，试在曲线上标出VOH、VOL、VON、VOFF，计算VNH和VNL。
六、思考题
1．TTL电路多余的输入端应如何处理?为什么?
与非门多余的输入端：①悬空；②接高电平；③与一个有效端接在一起。或非门多余的输入端①接地②与一个有效端接在一起。其原则是无效输入端不能影响输入和输出之间的逻辑关系。
表一
带负载
开路
VOH(V)
VOL(V)
VOH(V)
VOL(V)
3.59
0.296
4.04
0.08
(2)测量输入开门电平VON和关门电平VOFF
表二
VOH(V)
VOFF(V)
VOL(V)
VON(V)
3.59
1.14
0.296
1.92
(3)测量低电平输入电流IIL和高电平输入电流IIH；
表三
IIL(mA)
(4)输入开门电平VON和关门电平VOFF
VON是指与非门输出端接额定负载时，使输出处于低电平状态时所允许的最小输入电压。换句话说，为了使与非门处于导通状态，输入电平必须大于VON。
VOFF是指使与非门输出处于高电平状态所允许的最大输人电压。
(5)扇出系数N0
N0是说明输出端负载能力的一项参数，它表示驱动同类型门电路的数目。N0的大小主要受输出低电平时，输出端允许灌人的最大电流的限制，如灌人负载电流超出该数值，输出低电平将显著抬高，造成下一级逻辑电路的错误动作。
V0(V)
1.60
1.70
1.80
1.90
2.00
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
V0(V)
实验二TTL与非门电路参数测试
实验二TTL与非门电路参数测试实验目的：本实验旨在通过测试TTL与非门电路的参数，了解其工作原理和性能特点。
实验器材：数字逻辑实验箱、集成电路74LS04、电压源、示波器、数字多用表、电线等。
实验原理：TTL与非门是一种常用的数字逻辑门电路，常用于数字电路的设计和实现。
它具有逻辑非的功能，即实现对输入信号的取反。
TTL与非门电路的输入输出关系可以用逻辑表达式表示为：Y=A'，其中Y为输出信号，A为输入信号。
实验步骤：1.将74LS04集成电路插入数字逻辑实验箱中，注意要正确插入。
2.连接电源和接地线，并调整电源输出电压为5V。
3.连接输入信号线和输出信号线：a.将一个电线连接到IC上与A端子相对应的脚，将另外一端连接到任意电路板上指定的地线上。
b.将另一个电线连接到IC上与Y端子相对应的脚，将另外一端连接到示波器的输入端。
4.打开电源，示波器波形显示器显示的为输入信号脉冲波形。
通过调整输入信号线连接的电路板上的电源按键，可以控制输入信号的高低电平。
5.分别测量输入信号电压高低电平的值，记录在实验报告中。
6.同样地，分别测量输出信号电压高低电平的值，记录在实验报告中。
7.将输入信号反转，重新进行步骤4-6，并记录测量结果。
8.关闭电源，并将实验器材恢复到初始状态。
实验数据记录与分析：根据实验步骤记录数据，我们可以得出如下实验结果：测量参数输入高电平输入低电平输出高电平输出低电平电压值(V)5.000.004.900.10通过测量数据，我们可以得出以下结论：1.输入高电平的值为5V，输入低电平的值为0V，符合TTL电平标准。
2.输出高电平的值为4.90V，输出低电平的值为0.10V，符合TTL电平标准。
3.TTL与非门电路在输入信号取反的情况下，输出信号与输入信号完全相反，即输入高电平得到输出低电平，输入低电平得到输出高电平。
实验结论：通过对TTL与非门电路的测试，我们得到了其输入输出电平参数的测量结果，并验证了TTL与非门的工作原理。
试验一TTL与非门的参数测试
试验一TTL与非门的参数测试TTL是“Transistor-Transistor Logic”的缩写，是一种常用的数字逻辑电路家族。
而非门是TTL电路中的一种基本逻辑门，用于实现逻辑反相操作。
在这篇文章中，我们将进行TTL与非门的参数测试。
TTL与非门是由晶体管等离子晶体管作为开关来实现的。
在这个实验中，我们将测试TTL与非门的三个重要参数：输入电压(Vin)与输出电压(Vout)之间的电平转换阈值(Vih和Vil)、输入电压的电流特性以及输出电压的输出电流特性。
我们将逐个测试这些参数，以了解TTL与非门的性能。
首先，我们将测试输入电压与输出电压之间的电平转换阈值。
这是指在何种输入电平下，TTL与非门会进行状态改变。
通常情况下，高电平对应逻辑1，低电平对应逻辑0。
我们将选择一系列不同的输入电压，并记录产生的输出电平。
通过这些数据，我们可以通过绘制输入电压与输出电压的关系曲线来确定电平转换阈值。
接下来，我们将测试输入电压的电流特性。
这是指在不同输入电压下，TTL与非门的输入端的电流变化情况。
我们将使用电压表来测量不同输入电压下的输入电流，并记录这些数据。
通过这些数据，我们可以确定TTL与非门的输入电压与输入电流之间的关系。
最后，我们将测试输出电压的输出电流特性。
这是指在不同输出电压下，TTL与非门的输出端的输出电流变化情况。
我们将使用电流表来测量不同输出电压下的输出电流，并记录这些数据。
通过这些数据，我们可以确定TTL与非门的输出电压与输出电流之间的关系。
在进行这些测试时，我们需要注意到TTL与非门的工作电压范围。
根据TTL与非门的规格书，我们需要提供正确的电源电压和电流以确保测试的准确性。
此外，我们还应该注意到TTL与非门的温度特性，因为温度的变化可能会对测试结果产生影响。
通过对TTL与非门的参数进行测试，我们可以了解其性能特点，并在实际应用中进行正确的设计与布局。
这对于保证电路的可靠性和稳定性非常重要。
TTL与非门参数测试
TTL与⾮门参数测试⼀. 实验⽬的1）熟悉TTL与⾮门集成电路的外形和管脚引线排列。
2）通过测试了解与⾮门的直流参数3）加深对与⾮门逻辑功能的认识⼆. 实验仪器(点击可看到图⽚）1. xst-6D电⼦技术综合实验装置2. 500型万⽤表3. DS1052E （点击可阅读使⽤⼿册）4. 元件：74LS20三. 预习要求1. 复习《数字电⼦技术基础》相关内容2. 了解74ls20的逻辑功能和管脚排列；3.ICCL, IIL, IIH, IOL, No,tpd是什么？4. 与⾮门在什么条件下输出⾼电平？什么情况下输出低电平？不⽤的输⼊端怎么处理？5. TTL电路,如果某输⼊端悬空,则相当于给该输⼊端输⼊了什么电平的信号?6. 请说明⽤直流电流表测电路的某个⽀路电流时关键步骤和应注意的事项?四. 实验原理、步骤⾸先，根据逻辑功能检查与⾮门是否良好。
1. 测量下列各直流参数：1）低电平输出时的电源电流ICCL。
门电路的信号输⼊、输出脚悬空，这时门电路的输出处在低电平状态，这时，⽤直流电流表测出IC的Vcc脚的电流。
2）低电平输⼊电流IIL。
3）⾼电平输⼊电流IIH。
4）电压传输特性。
Uon:表⽰与⾮门输出低电平时，允许输⼊的⾼电平的电压值的最⼩值，在图上求出。
(即在VOL=0.4V时,求Vi）Uoff：表⽰与⾮门输出⾼电平时，允许输⼊的低电平的电压值的最⼤值，在图上求出。
（即在VoH=2.4V时，求Vi) 5）扇出系数No得出的⼩数要圆整6）平均传输延迟时间tpd。
我们把输出电压波形滞后于输⼊电压波形的时间叫传输延迟时间(见《数字电⼦技术基础》门电路)。
有两个重要参数tPHL,tPLH，五. 报告要求1）列出直流参数的实测数据表格，，与出⼚参数相⽐，判断参数是否合格。
2) ⼀个该⾮门能驱动多少个TTL门电路？假设LED的⼯作电流是20mA,他可以⽤该门电路直接驱动吗（画出该电路）？3) 画出传输特性，确定VOFF、VON、VOL、VOH值4）列出与⾮门的实测数据表格，看逻辑关系是否相符。
实验1 与非门测试
c电位器的阻值变化不均匀，使得ui无法精确的停在的特定电压上。
三、实验思考题
1.TTL与非门和CMOS与非门有何异同点？
答：TTL与CMOS的相同点有：输出端可以悬空，都有与非逻辑功能，电压特性曲线相似，都有UOH，UOL，UOFF，UON参数。
图8测量平均传输延迟时间tpd
2.由实验（二）所得参数，运用matlab画出电压传输特性曲线。
3.实验数据分析
a低电平输出电源电流ICCL为2.029mA，高电平输出电源电流ICCH为0.674mA，且低电平输出电源电流ICCL比高电平输出电源电流高，符合理论值。
b输入短路电流IIS为0.168mA，而输入漏电流IIH为微安级，由于仪器精度不够无法测出有效数据，示数为0mA，说明其前级门电路带负载的个数较多。
（三）
平均传输延迟时间tpd
由示波器测得T=96.00ns，于是 .
波形如下：
二、实验分析
1.实验原理图
图1测量低电平输出电源电流ICCL图2测量高电平输出电源电流ICCH
图3测量输入短路电流IIS图4输入漏电流IIH
图5输出高电平UOH及关门电平UOFF图6测量输出低电平UOL及开门电平UON
图7测试TTL与非门的电压传输特性
实验一TTL与非门的静态参数测试实验报告
一、实验数据
（一）
1.低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH及静态平均功率
ICCL
ICCH
测量值
2.029mA
0.674mA
6.7575mW
2.输入短路电流IIS和输入漏电流IIH
实验一 TTL与非门的参数测试
实验一 TTL 与非门的参数测试一、实验目的·掌握TTL 与非门主要参数的测试方法。
·掌握TTL 与非门电压传输特性的测试方法。
·熟悉集成元器件管脚排列特点。
二、实验原理TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门，使用时必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能好坏。
本实验采用TTL 集成元器件74LS00与非门进行测试。
它是一个2输人端4与非门，形状为双列直插式，逻辑表达式为F ＝A ·B ，其逻辑符号及外引线排列图如图1—1(a)(b)(c)(d)所示。
图1-1与非门逻辑符号及74LS00外引线排列图1 2 3 4 5 6 7 (d)74LS00引脚排列(a)国内常用符号A Y(b)国外常用符号A BY(C)国际标准符号A Y1．TTL与非门主要参数(1)输出高电平V OH和输出低电平V OLV OH是指与非门一个以上的输入端接低电平或接地时，输出电压的大小。
此时门电路处于截止状态。
如输出空载，V OH必须大于标准高电平(V SH＝2.4V)，一般在3.6V左右。
当输出端接有拉电流负载时，V OH将降低。
V OL是指与非门的所有输人端均接高电平时，输出电压的大小。
此时门电路处于导通状态。
如输出空载，V OL必须低于标准低电平(V SL＝0.4V)，约为0.1V左右。
接有灌电流负载时，V OL将上升。
(2)低电平输入电流I ILI IL是指当一个输入端接地，而其他输入端悬空时，输入端流向接地端的电流，又称为输入短路电流。
I IL的大小关系到前一级门电路能带动负载的个数。
(3)高电平输入电流I IHI IH是指当一个输入端接高电平，而其他输入端接地时，流过接高电平输入端的电流，又称为交叉漏电流。
它主要作为前级门输出为高电平时的拉电流。
当I IH太大时，就会因为“拉出”电流太大，而使前级门输出高电平降低。
(4)输入开门电平V ON和关门电平V OFFV ON是指与非门输出端接额定负载时，使输出处于低电平状态时所允许的最小输入电压。
ttl与非门的静态参数测试
实验一TTL 与非门的静态参数测试实验报告By kqh from SYSU一、实验数据及数据分析1.低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH及静态平均功耗P：I CCL：测试电路如图1(a)所示，测得I CCL为I CCH：测试电路如图1(b)所示，测得I CCH为mAP：P===W=图1(a) 图1(b)数据分析：低电平输出电源电流I CCL比高电平输出电源电流I CCH高，符合理论预测。
2.输入短路电流I IS和输入漏电流I IH：I IS（或I IL）：测试电路如图2(a)所示，测得I IS为I IH：测试电路如图2(b)所示，电流过小，多用电表无测量示数图2(a) 图2(b)数据分析：输入短路电流I IS和输入漏电流I IH分别是和无示数，均比较小，说明前级门电路带负载的个数较多。
3.输出高电平U OH及关门电平U off测试电路如图3所示，测得U OH为则当输出电压为90%U OH（）时，测得输入电压（即关门电压）为图34.输出低电平U OL及开门电平U on测试电路如图4所示，测得U OL为调整输入电压，测得开门电平U on为图4数据分析：综合实验3、4可知，74LS00 的跳变电压在在之间，高电平为，低电平为。
5.u i(V) 0U0(V)u i(V)U0(V)u i (V) 2 3 4 U 0(V)用MATLAB 拟合，u 0关于u i 的函数图像，如图5所示0.511.522.533.54TTL 与非门的电压传输特性v ovi图5图像分析：在高电平输出范围内，随输入电平增大，输出电平轻微减小；在低电平输出范围内，输出电平基本不随输入电平变化而变化。
输入电平在左右时，输出电平出现跳跃，与实验3、4结果基本相符6. 平均传输延迟时间t pd测试电路如图6(a)所示，输出波形如图6(b)所示。
图6(a)图6(b)数据分析：由波形图中读得T=，则二、实验思考题1、TTL与非门和CMOS与非门有何异同点答：TTL 与CMOS 的相同点是：a.都是与非逻辑元件，可以实现与非逻辑功能b.输出端都可以悬空c.都有输出高电平UOH、关门电平Uoff、输出低电平UOL及开门电平Uon等参数TTL 与CMOS 的不同点是：a.TTL与非门的闲置输入端可以悬空，悬空时相当于接高电平。
实验一TTL与非门的参数测试
实验一TTL与非门的参数测试实验目的：通过测试TTL与非门的参数，了解其工作原理和性能特点。
实验器材：1.TTL与非门集成电路芯片（例如：74LS04）2.面包板3.连线杜邦线4.LED等基础元件5.电源6.示波器实验原理：实验步骤：1.连接电路：将TTL与非门芯片安装在面包板上，并与电源、LED等元件适当地进行连接。
根据需要，可以连接多个输入信号和输出信号。
2.施加电源：将电源接入电路，确保电压符合TTL电路的工作要求（通常为5V）。
3.输入测试：通过外部开关或按钮等触发输入信号，观察输出信号状态的变化。
可以通过连接示波器来观察电路的工作波形。
4.参数测量：根据实验需要，可以测试TTL与非门的不同参数，例如输入电压门限（VIH、VIL）、输出电流和输入电流。
实验结果：通过测试TTL与非门的参数，可以得到以下结果：1.输入电压门限：根据数据手册，可以测量TTL与非门的高电平输入电压门限（VIH）和低电平输入电压门限（VIL）。
这些门限电压确定了逻辑电平的切换点。
2.输出电流：可测量TTL与非门的输出电流，这是通过所选工作电压下的外部负载（如LED）所测得的。
输出电流的大小决定了芯片的驱动能力。
3.输入电流：可以通过测量输入端的电流（通常是输入电压为高电平或低电平时的电流值）来确定TTL与非门的输入阻抗。
实验注意事项：1.操作电路时，应注意电源的稳定性和接线的可靠性，以避免电路损坏。
2.测量参数时，应使用合适的测量仪器，并按照正确的操作步骤进行测量。
3.执行测试时，应按照实验计划记录测试数据，并及时分析和总结实验结果。
实验拓展：1.可以进一步测试TTL与非门的工作速度参数，例如上升时间、下降时间和传播延迟等。
2.可以将TTL与非门与其他逻辑门（如与门、或门等）进行组合，构建更复杂的数字逻辑电路。
3.可以通过改变输入信号的方式，如按钮触发、串行输入等，来测试TTL与非门在不同工作条件下的性能。
本次实验通过测试TTL与非门的参数，能够更好地理解其工作原理和性能特点。
ttl与非门的静态参数测试
实验一TTL 与非门的静态参数测试实验报告By kqh from SYSU一、实验数据及数据分析1.低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH及静态平均功耗P：I CCL：测试电路如图1(a)所示，测得I CCL为I CCH：测试电路如图1(b)所示，测得I CCH为 mAP：P===W=图1(a)图1(b)数据分析：低电平输出电源电流 I CCL比高电平输出电源电流 I CCH高，符合理论预测。
2.输入短路电流I IS和输入漏电流I IH：I IS（或I IL）：测试电路如图2(a)所示，测得I IS为I IH：测试电路如图2(b)所示，电流过小，多用电表无测量示数图2(a)图2(b)数据分析：输入短路电流I IS和输入漏电流I IH分别是和无示数，均比较小，说明前级门电路带负载的个数较多。
3.输出高电平U OH及关门电平U off测试电路如图3所示，测得U OH为则当输出电压为90%U OH（）时，测得输入电压（即关门电压）为图34.输出低电平U OL及开门电平U on测试电路如图4所示，测得U OL为调整输入电压，测得开门电平U on为图4数据分析：综合实验3、4可知，74LS00 的跳变电压在在之间，高电平为，低电平为。
5.测试TTL与非门的电压传输特性u i(V)0U0(V)u i(V)U0(V)u i(V)234U0(V)用MATLAB拟合，u0关于u i的函数图像，如图5所示00.51 1.52 2.53 3.540.511.522.533.54TTL 与非门的电压传输特性v ovi图5图像分析：在高电平输出范围内，随输入电平增大，输出电平轻微减小；在低电平输出范围内，输出电平基本不随输入电平变化而变化。
输入电平在左右时，输出电平出现跳跃，与实验3、4结果基本相符 6. 平均传输延迟时间t pd测试电路如图6(a)所示，输出波形如图6(b)所示。
图6(a)图6(b)数据分析：由波形图中读得T=，则二、实验思考题1、TTL与非门和CMOS与非门有何异同点答：TTL 与 CMOS 的相同点是：a.都是与非逻辑元件，可以实现与非逻辑功能b.输出端都可以悬空c.都有输出高电平UOH、关门电平Uoff、输出低电平UOL及开门电平Uon等参数TTL 与 CMOS 的不同点是：a.TTL与非门的闲置输入端可以悬空，悬空时相当于接高电平。
实验31 TTL与非门参数测试及使用
第三部分数字电路实验实验3.1 TTL与非门参数测试及使用[要点提示]一、实验目的二、实验预习要求三、实验原理四、实验仪器设备五、练习内容及方法六、实验报告七、思考题[内容简介]一、实验目的1．掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。
2．掌握TTL器件的使用规则。
3.熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。
二、实验预习要求1.了解数字实验箱的基本结构及使用方法。
2．了解TTL与非门主要参数的定义和意义。
3．熟悉各测试电路，了解测试原理及测试方法。
4．熟悉TTL与非门74LS00的外引线排列。
5．自拟实验步骤和数据表格。
三、实验原理1．TTL与非门的主要参数TTL与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点,因而得到了广泛的应用。
（1）输出高电平VoH：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。
空载时，VOH必须大于标准高电平（VSH=2.4 V），接有拉电流负载时，VOH将下降。
测试VOH的电路如图1、1所示。
图1、1 VOh 的测试电路图1、2 VOL的测试电路（2）输出低电平VOL：输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
空载时，VOL 必须低于标准低电平（VsL=O.4 V），接有灌电流负载时，VOL将上升。
测试VoL电路如图1、2所示。
（3）输入短路电流IIS：输入短路电流IIS是指被测输入端接地，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流。
前级输出低电平时，后级门的IIS就是前级的灌电流负载。
一般IIS＜1.6mA。
测试IIS的电路见图1、3所示。
（4）扇出系数N：扇出系数N是指能驱动同类门电路的数目，用以衡量带负载的能力。
图1、4所示电路能测试输出为低电平时，最大允许负载电流IOL，然后求得N＝IOL／IIS。
一般N＞8的与非门才被认为是合格的。
图1、3 IIS的测试电路图1、4 扇出系数N的测试电路2．TTL与非门的电压传输特性利用电压传输特性不仅能检查和判断TTL与非门的好坏，还可以从传输特性上直接读出其主要静态参数，如VOH、VOL、VON、Voff、VNH和VNL，如图1-5所示。
TTL与非门参数的测试
成绩：教师评语一、实验目的及要求（1）理解TTL集成与非门的逻辑功能。
（2）掌握TTL集成逻辑门主要参数的测量方法。
（3）掌握集成逻辑电路相互衔接时应遵循的规则和实际衔接方法。
二、实验原理与内容实验采用的二输入四与非门74LS00为一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端。
其引脚排列与图形符号如图1-1所示。
图1-1 74LS00外引脚排列图1. 与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能为：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平，即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
其逻辑表达式为：Y=AB。
TTL集成与非门的主要参数有输出高电平V OH、输出低电平V OL、扇出系数N0、电压传输特性和平均传输延迟时间t pd等。
（1）TTL门电路的输出高电平V OHV OH是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此时与非工作管处于截止状态。
空载时，V OH的典型值为3.4~3.6V，接有拉电流负载时，V OH下降。
（2）TTL门电路的输出低电平V OLV OL是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管处于饱和导通状态。
空载时，它的典型值约为0.2V，接有灌电流负载时，V OL将上升。
（3）TTL门电路的电压传输特性门的输出电压V o随输入电压V i而变化的曲线V o=f（V i）称为门的电压传输特性，通过它可读得门电路的一些重要参数，如输出高电平V OH、输出低电平V OL、关门电平V off、开门电平V ON等值。
测试电路如图1-2所示，采用逐点测试法，即调节R w，逐点测得V i及V o，然后绘成曲线。
图1-2 电压传输特性测试电路三、实验软硬件环境1、数字逻辑电路实验箱。
2、芯片74LS00。
3、5.1K，100Ω，200Ω，500Ω，1K电阻；1K，10K可调电阻。
4、数字万用表。
四、实验过程（实验步骤、记录、数据、分析）1、在THD-2型实验箱适当位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS00集成块，插座的第7脚接上实验箱的地（GND），第14脚接上电源（VCC），与非门逻辑功能测试电路按实验电路图4-7接线。
TTL与非门的静态参数测试
【实验题目】TTL与非门的静态参数测试【实验目的】1.掌握TTL与非门电路主要参数和电压传输特性的测试方法。
2.熟悉数字电路实验箱、数字万用表的使用。
【实验仪器及器件】【实验原理】本实验采用四2输入与非门74LS00，即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门，每个与非门有2个输入端。
1.TTL原理图及逻辑图TTL与非门内部原理图：图a外部逻辑电路图：图b其中VCC和GND是四个与非门供电电源的输入端。
要使与非门正常工作，前提条件是在VCC和GND端加入合适的电源供应，GND接地，VCC的范围是5V±5%。
2.集成与非门的静态参数：a)输出高电平UOHb)关门电平Uoffc)输出低电平UOLd)开门电平Uone)阈值电压UTf)输入短路电流IISg)输入漏电流IIHh)低电平输出电源电流ICCLi)高电平输出电源电流CCH I j)平均传输延迟时间pd t 3.各参量意义ⅰCCL I 、CCH I 、CCH I与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
CCL I ：指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供器件的电流。
CCH I ：指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供器件的电流。
P ：为电路空载导通功耗On P 和空载截止功耗O ff P 的平均值，其值为：22CCHCC CCL CC offon I V I V p p p +=+=(通常On P ﹥O ff P )ⅱIS I 、IH IIS I (或IL I )：指北侧输入端接地，其余输入端和输出端悬空时。
由被测输入端流出的电流。
也称低电平输入电流。
在由多级门构成的电路中，IS I 相当前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流。
因此，IS I 越小，前级门带负载的个数就越多。
IH I ：被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端悬空时，流入被测输入端的电流。
也称高电平输入电流。
实验一TTL与非门的参数和特性测试
注意：第3、4两项要测电压，请按书2.2.1中的方 法正确将万用表由“电流挡”，换回电压挡再进 行测量，否则会造成万用表的损坏。
3.
电压传输特性的测试
电压传输特性描述的是与非门的输出电压uo 随输入ui的变化情况。即uo=f(ui)。按图7.1.4 接好电路、调节电位器，使输入电压、输出电压 分别按表7.1.2中给定的各值变化时，测出对应 的输出电压或输入电压的值填入表7.1.2中。根 据测得的数据，画出电压传输特性曲线。
一．实验目的
1．掌握TTL与非门74LS00的工作原理。 2．掌握TTL与非门的主要参数和静态特性的测 试方法，并加深对各参数意义的理解。
二．所用器件
四2输入与非门74LS00，其管脚如图7.1.1 所示。第一位数字表示不同的门，A、B为输入， Q为输出。
三．预习要求
1．复习关于TTL门电路参数的内容，明确各参数 的意义。 2．查阅资料，了解各参数的取值范围。
2．静态功耗
按图7.1.3接好电路，分别测量输出低电平 和高电平时的电源电流ICCH及ICCL。于是有 Po= (ICCH+ ICCL)Vcc/2 注意：74LS00为四与非门，测ICCH、ICCL时，四个 门的状态应相同，图7.1.3(a)所示测得的为ICCL； 测ICCH时，为使每一个门都输出高电平，可按图 7.1.3(b)接线。Po应除以4得出一个门的功耗。
最大灌电流iolmax的测量按图715接好电路调整rw用电压表监测输出电压uo当uo04v时停止改变rw将ab两点从电路中断开用万用表的电阻挡测量rw利用公式iolmaxvcc04rrw计算iolmax然后计算扇出系数niolmaxiis1ttl门电路的输入端悬空时应时视为高电平还是低电平
实验一
实验九 TTL与非门参数测量.ppt
图 电压传输特性
•电压传输特性如图 ，主要参数：
•ViL—输入低电压 •ViH—输入高电平 •V0L—输出低电平 •V0L—输出高电平 •VOFF—关门电平
•低电平干扰容限VNL ：VNL=VOFF-ViL •高电平干扰容限VNH：VNH=VIh-VON •门限电平VT：VT=（VON+VOFF）/2
2019-9-15
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13
实验九 TTL与非门参数测量
实验内容
• ３.2 测量与非门的平均传输延迟时间tpd（续）
• （3）输出波形： • 用双踪示波器分别观测CP，QA，QB， QC，QD和Cy各端波形 • 画出Cp QA～QD和Cy的时序波形图 • 用QD的输出脉冲参数计算tpd值
2019-9-15
2019-9-15
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8
实验九 TTL与非门参数测量
三、实验内容
• ３.1 验证与非门的逻辑功能
• （1）各门的输入端全部悬浮，用万 用表测各输出端（对地）电压。
• (2)分别将每个门的输入端接地，用 同样方法测与非门的各个输出端， 此时，其输出应为高电平。
2019-9-15
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Cr
↑
0
↑
1
X
1
X
1
↑
1
Cy=TQAQBQCQD
LD
PT
ABCD QAQBQCQD
X
XX
XXXX 0000（复位）
0
XX
ABCD ABCD（置入）
1
X0
XXXX 保 持
1
0X
XXXX 保 持
1
11
XXXX 计 数
2019-9-15
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实验一TTL 与非门的静态参数测试实验报告
By kqh from SYSU
一、实验数据及数据分析
1.低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH及静态平均功耗P：
I CCL：
测试电路如图1(a)所示，测得I CCL为
I CCH：
测试电路如图1(b)所示，测得I CCH为mA
P：
P===W=
图1(a) 图1(b)
数据分析：低电平输出电源电流I CCL比高电平输出电源电流I CCH高，符合理论预测。
2.输入短路电流I IS和输入漏电流I IH：
I IS（或I IL）：
测试电路如图2(a)所示，测得I IS为
I IH：
测试电路如图2(b)所示，电流过小，多用电表无测量示数
图2(a) 图2(b)
数据分析：输入短路电流I IS和输入漏电流I IH分别是和无示数，均比较小，说明前级门电路带负载的个数较多。
3.输出高电平U OH及关门电平U off
测试电路如图3所示，测得U OH为
则当输出电压为90%U OH（）时，测得输入电压（即关门电压）为
图3
4.输出低电平U OL及开门电平U on
测试电路如图4所示，测得U OL为
调整输入电压，测得开门电平U on为
图4
数据分析：综合实验3、4可知，74LS00 的跳变电压在在之间，高电平为，低电
平为。
5.
u i(V) 0
U0(V)
u i(V)
U0(V)
u i (V) 2 3 4 U 0(V)
用MATLAB 拟合，u 0关于u i 的函数图像，如图5所示
0.511.522.533.54TTL 与非门的电压传输特性
v o
v
i
图5
图像分析：在高电平输出范围内，随输入电平增大，输出电平轻微减小；在低电平输出范围内，输出电平基本不随输入电平变化而变化。
输入电平在左右时，输出电平出现跳跃，与实验3、4结果基本相符
6. 平均传输延迟时间t pd
测试电路如图6(a)所示，输出波形如图6(b)所示。
图6(a)
图6(b)
数据分析：由波形图中读得T=，则
二、实验思考题
1、TTL与非门和CMOS与非门有何异同点
答：TTL 与CMOS 的相同点是：
a.都是与非逻辑元件，可以实现与非逻辑功能
b.输出端都可以悬空
c.都有输出高电平UOH、关门电平Uoff、输出低电平UOL及开门电平Uon等参数
TTL 与CMOS 的不同点是：
a.TTL与非门的闲置输入端可以悬空，悬空时相当于接高电平。
CMOS与非门闲置输入端
应接高电平或地，因CMOS输入悬空时能感应出高电压会损坏芯片；
b.TTL电路是电流控制器件，而CMOS电路是电压控制器件。
c.TTL电路的速度快，传输延迟时间短(5-10ns)，但是功耗大。
COMS电路的速度慢，传输
延迟时间长(25-50ns),但功耗低。
d.CMOS的逻辑1电平电压接近于电源电压，逻辑0电平接近于0V，具有更宽的噪声容限。
2、如何将与非门作为非门使用
答：主要有两种方法：
a.将与非门的两输入端短接端，即两输入端输入同一信号
b.将多余输入端接高电平处理，对TTL与非门还可以将其悬空
3、TTL或非门（或门）不用的输入端应如何处理
答：应接地。
因为TTL输入端悬空或接高电平时都相当于逻辑1。