关于电气设备绝缘的试验

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第五章电气设备绝缘试验(一)电气设备绝缘试验可分为两大类:
(1)耐压试验(破坏性试验):模仿设备绝缘在运行过程中可能受到的各种电压,对绝缘施加与之相等的或更为严格的电压,从而考研绝缘耐受这类电压的能力,称为耐压试验。

对绝缘考察严格,但容易造成不必要的绝缘损坏。

(2)检查性试验(非破坏性试验):测定绝缘某些方面的特性,并据此间接地判断绝缘的状况,称为检查性试验。

这类试验一般在较低的电压下进行,通常不会导致绝缘的击穿损坏。

由此可见,上述两类试验时互为补充,而不能相互代替的。

当然,应先做检
查性试验,据此再确定耐压试验的时间和条件。

5-1 测定绝缘电阻
绝缘电阻是反映绝缘性能的最基本的指标之一,通常都用兆欧表测量绝缘电阻。

其工作原理图可参考图5-1-1。

通常兆欧表的量程为500V、1000V、2500V、5000V等。

图5-1-1 兆欧表原理电路图
如图5-1-2是用兆欧表测套管绝缘的接线图,兆欧表对外有三个接线端子,测量时,线路端子(L)接被试品的高压导体;接地端子(E)接被试品外壳或地;屏蔽端子(G)接被试品的屏蔽环或别的屏蔽电极。

图5-1-2 用兆欧表测套管绝缘的接线图
如前所述,一般电介质都可以用图1-4-2所示的等效电路图来表示。

图中,
串联之路R
P —C
P
代表电介质的吸收特性,如绝缘良好,则最终R
lk
和R
P
的值都很
大,稳定的绝缘电阻值也很高。

反之,绝缘受潮时,则不仅最后稳定的电阻很低,而且还会很快达到稳定值。

因此,也可以用绝缘电阻随时间而变化的关系来反映绝缘的状况。

通常用时间为60s和15s时所测得的绝缘电阻值之比,称为吸收比K,即
K=R
60/R
15
如绝缘良好,则此值应大于1.3~1.5。

对于某些容量较大的电气设备,其绝缘的极化和吸收的过程很长,上述的吸收比K还不能充分反映绝缘吸收过程的整体。

此时可增测极化指数P
P=R
10min /R
1min
如绝缘良好,则此值应大于1.5~2.0。

测量绝缘电阻可以有效发现下列缺陷:
(1)总体绝缘质量欠佳;
(2)绝缘受潮;
(3)两极间有贯穿性的导电通道;
(4)绝缘表面情况不良。

测量绝缘电阻不能发现下列缺陷:
(1)绝缘中的局部缺陷(如非贯穿性的局部损伤、含有气泡等)(2)绝缘的老化
测量绝缘电阻时应注意:(1)试验前将被试品接地放电一定时间。

(2)高压测试连接线应尽量保持架空;
(3)测吸收比和极化指数时,应待电源电压达到稳定后再接入被试品。

(4)每次测试结束后,先断开L端子,防止反向放电。

(5)绝缘电阻与温度有显著的关系。

绝缘温度升高时,绝缘电阻大致按指数率降低,吸收比和极化指数的值也会有所变化,所以,测量绝缘电阻时,应准确记录当时绝缘的温度。

5-2 测定泄漏电流
本试验是将直流高压加到被试品上,测量流经被试品绝缘的泄漏电流。

对于变压器的绕组泄漏电流试验所加电压值可参考表5-2-1。

测量原理接线图如图5-2-1所示。

但实际操作中,一般应用图5-2-2的接线图。

表5-2-1 变压器绕组泄漏电流试验所加电压值
与兆欧表相比,本试验具有下列特点:(1)所加直流电压较高,能揭示兆欧表不能发现的某些绝缘缺陷;
(2)所加直流电压时逐渐升高的,则在升压过程中,从所测电流与电压关系的线性度可以指示绝缘情况。

(3)兆欧表刻度的非线性很强,难以精确分辨,微安表的刻度则基本上是线性的,能精确读取。

5-3 测定介质损耗因数(tgδ)
介质损耗因数(tgδ)是表征绝缘在交变电压作用下比损耗大小的特征参数,它与绝缘体的形状和尺寸无关,它是绝缘性能的基本指标之一。

一、测试电路
测tgδ的方法有多种,如瓦特表法、电桥法、不平衡电桥法等,其中以
电桥法的准确度最高,最通用的是西林电桥,如图5-3-2所示。

若C
4以μF计,则在数值上,tgδ
x
= C
4。

影响电桥准确度的因素有:
(1)本试验高压电源对桥体杂散电容的影响。

如图5-3-3所示。

(2)外界电场干扰。

(3)外界磁场干扰。

为消除上述几种误差因素,最简单而有效的方法是将电桥的低压部分全部用
接地的金属网屏蔽起来,这样就基本消除了这三种误差。

由图5-3-2可见,这种测试电路要求被试品两端均不接地,这在许多场合是做不到的。

此时,可将电桥颠倒过来,令被试品的一端F点接地,D点和屏蔽网接高压电源,这种接线方式叫做反接线。

二、测试功效
(1)受潮;
(2)穿透性导电通道;
(3)绝缘内含气泡的电离,绝缘分层、脱壳;
(4)绝缘老化劣化,绕组上附着油泥;
(5)绝缘油脏污、劣化等。

对下列缺陷,tgδ法是很少有效果的。

(1)非穿透性的局部损坏;
(2)很小部分绝缘的老化劣化;
(3)个别的绝缘弱点。

三、测试时应注意的事项
1.尽可能分部测试
2.tgδ与温度的关系
一般来说,绝缘的tgδ均随温度的上升而增大,故在测量tgδ应尽量争取在差不多的为年度条件下测。

3.tgδ与试验电压的关系
一般来说,新的、良好的绝缘,在其额定电压范围内,绝缘的tgδ值是几乎不变的,且当电压上升或下降时测量的tgδ值是接近一致的,但若绝缘中存在气泡情况就不同了;当所加试验电压足以使绝缘中的气隙电离或产生局部放电等情况时,tgδ的值将随试验电压u的升高而迅速增大。

4.护环和屏蔽的影响
5-4 局部放电的测试
常用的固体绝缘物总不可能做得十分纯净致密,总会不同程度地包含一些分散性的异物,如各种杂质、水分、小气泡等。

由于这些异物的电导和介电常数不同于绝缘物,故在外施电压作用下,这些异物附近将具有比周围更高的场强,当外施电压升高到一定程度时,这些部位的场强超过了该物质的电离场强,该处物质就产生电离放电,称之为局部放电。

介质中气隙局部放电的示意图和等值电路
≈()()
·△U。

测量局部放衡量局部放电强度的最重要物理量是视在放电量△q=C
X
电的方法有两种:
1.直接法
直接法的缺点是抗干扰性能较差。

2.平衡法
绝缘中某些内在局部缺陷(特别是在程度上尚较轻时),用别的方法往往很难发现,而测局部放电法却能以非破坏的方式很灵敏地指示出来,经多年来的研究改进,此项试验方法已渐趋成熟。

5-5 绝缘油中溶解气体的色谱分析(了解)
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