低功耗电压检测器
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¾ 在 VIN 脚和输入间接一个电阻， 即使没有负载电流(IOUT)的存在，电压释放时的电流，同样会引起振荡的发 生。(参见下面的振荡描述 2)
¾ 在 VIN 脚和输入间接一个电阻，由于 IC 的工作电流流过 VIN 脚，会导致检测和释放电压升高。
¾ 为使用SY3122A系列 IC 稳定工作，应确保 VIN 脚输入频率的上升和下降时间大于几个 u Sec/V。
注意：1、VDF(T) ：额定检测电压值 2、释放电压：VDR=VDF+VHYS
VDF*0.99 VDF*0.02
0.7 1.0 3.0 5.0 6.0 7.0
VDF
VDF*0.05 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
2.2 7.7 10.1 11.5 13.0 ±100
VDF*1.01
VDF*0.08
选型指南：
应用：
微处理器复位电路 存贮器电池后备电路 上电复位电路 掉电检测 系统电池寿命和充电电压监视
型号
Hale Waihona Puke 后缀M3SY3122Axx
P
T
封装
SOT-23-3 SOT-89-3
TO-92
输出类型
NMOS
引脚排列图：
SY3122
引脚分配：
SY3122Axx
引脚号
SOT-23 2
SOT-89 TO-92(T)
极限值
8 50 Vss-0.3~Vin+0.3 150 500 300 -40~+85 -40~+125 260℃, 10s
SY3122
单位 V mA V mW mW mW ℃ ℃
主要参数及工作特性： (VDF(T)=2.1V to 3.0V±1% TA=25℃)
符号
含义
测试条件
最小
数值 典型
最大
单位
因为 SY3122A系列产品是 CMOS IC，当 IC 内部开关工作（释放和检测操作）时，有电流流过。 因此，在释放
操作期间，此电流通过(RIN)引起输入端电压下降，将导致振荡的发生。 因为迟滞现象的存在，在检测期间，振 荡不太可能发生。
典型应用：
工作特性曲线：
（1）工作电流 vs. 输入电压
SY3122
振荡描述：
1、输出电流(IOUT )引起的振荡 当 IN 上的工作电压上升时， 释放操作开始，检测器输出电压上升。负载电流(IOUT) 将流过 RL，在输入 IN
和 VIN 脚间产生压降(RIN*IOUT)，负载电流经过 IC 的管脚。这个压降也会导致 VIN 脚上的电压下降。当 VIN 脚上 的电压下降到检测电平时，检测操作开始。伴随着检测操作的发生，负载电流消失，RIN 上的压降也消失，VIN 上 的电压将上升，释放操作将重新开始。随着“释放-检测-释放”的重复，振荡将发生。另外，按同样的机制，在检 测过程中也会发生振荡。 2、 工作电流(ISS)引起的振荡
2.3 2.7 3.0 3.2 3.6 7
V V uA V mA ppm/℃
SY3122
功能描述：
¾ 当输入电压(VIN)上升到大于检测电压(VDF)时，输出电压(VOUT) 将等于VIN。 ¾ 当输入电压(VIN) 下降到低于检测电压(VDF)时，输出电压(VOUT) 将等于地电平(VSS) 。 ¾ 当输入电压(VIN) 下降到低于最小工作电压(VMIN)时，输出将变得不稳定。在这种情况下，VIN 将等于上拉
SY3122 系列低功耗电压检测器
SY3122
描述：
SY3122 系列是高精度低功耗电压检测器，采
用 CMOS 工艺技术制造，检测电压精确度高，且 温度漂移小，输出方式：N M O S 输 出 。
特点：
z 高精度： ±1% z 低功耗电流： TYP 0.7uA (Vin=1.5V) z 检测电压范围：2.1V~4.4V 步长 0.1V z 工作电压范围：0.7V~7V z 检测电压温度特性：TYP±100ppm/℃ z 输出形式：N M O S z 封装形式： SOT-23-3，SOT-89-3，TO-92
输出( 输出上拉)。 ¾ 当输入电压(VIN) 上升到大于地电平(VSS) 时，如VIN小于最小工作电压(VMIN)，输出将变得不稳定；如VIN大
于最小工作电压，又小于 检测释放电压(VDR) ，输出将稳定在地电平(VSS) 。 ¾ 当输入电压(VIN) 上升到大于检测释放电压(VDR)时，输出电压(VOUT) 将等于VIN。 ¾ VDR 和 VDF 之差就是迟滞范围。
（2）检测，释放电压 vs. 环境温度
SY3122
（3）输出电压 vs. 输入电压
SY3122
封装尺寸：
SY3122
3
3
1
1
1
3
2
2
TO-92(T1) 2 3 1
符号
Vss Vout Vin
功能块框图：
定义
接地引脚 输出引脚 输入引脚
极限参数：
参数
输入电压
输出电流
输出电压
SOT-23
充许最大功耗
SOT-89
TO-92
工作温度
存贮温度
焊接温度和时间
符号 VIN IOUT VOUT
Pd
TOPR TSTG TSOLDERr
时序图：
SY3122
使用注意事项：
¾ 使用 SY3122 系列 IC 时，必需符合极限参数的要求，否则将引起器件老化或永久损坏。
¾ 对 CMOS 输出型产品， 在 VIN 脚和输入间接一个电阻， 由于负载电流(IOUT)的存在， RIN 上产生压降， 最终导致振荡的发生。(参见下面的振荡描述 1)
VDF
检测电压
VHYS
迟滞范围
Iss
工作电流
VIN
工作电压
IOUT
输出电流
ΔVDF/(Δtopr*VDF) 温度特性
VIN=1.5V =2.0V =3.0V =4.0V =5.0V
VDF(T)=1.6V to 6.0V N-ch VDS=0.5V VIN=1.0V =2.0V =3.0V =4.0V =5.0V -40℃≤Topr≤85℃
¾ 在 VIN 脚和输入间接一个电阻，由于 IC 的工作电流流过 VIN 脚，会导致检测和释放电压升高。
¾ 为使用SY3122A系列 IC 稳定工作，应确保 VIN 脚输入频率的上升和下降时间大于几个 u Sec/V。
注意：1、VDF(T) ：额定检测电压值 2、释放电压：VDR=VDF+VHYS
VDF*0.99 VDF*0.02
0.7 1.0 3.0 5.0 6.0 7.0
VDF
VDF*0.05 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
2.2 7.7 10.1 11.5 13.0 ±100
VDF*1.01
VDF*0.08
选型指南：
应用：
微处理器复位电路 存贮器电池后备电路 上电复位电路 掉电检测 系统电池寿命和充电电压监视
型号
Hale Waihona Puke 后缀M3SY3122Axx
P
T
封装
SOT-23-3 SOT-89-3
TO-92
输出类型
NMOS
引脚排列图：
SY3122
引脚分配：
SY3122Axx
引脚号
SOT-23 2
SOT-89 TO-92(T)
极限值
8 50 Vss-0.3~Vin+0.3 150 500 300 -40~+85 -40~+125 260℃, 10s
SY3122
单位 V mA V mW mW mW ℃ ℃
主要参数及工作特性： (VDF(T)=2.1V to 3.0V±1% TA=25℃)
符号
含义
测试条件
最小
数值 典型
最大
单位
因为 SY3122A系列产品是 CMOS IC，当 IC 内部开关工作（释放和检测操作）时，有电流流过。 因此，在释放
操作期间，此电流通过(RIN)引起输入端电压下降，将导致振荡的发生。 因为迟滞现象的存在，在检测期间，振 荡不太可能发生。
典型应用：
工作特性曲线：
（1）工作电流 vs. 输入电压
SY3122
振荡描述：
1、输出电流(IOUT )引起的振荡 当 IN 上的工作电压上升时， 释放操作开始，检测器输出电压上升。负载电流(IOUT) 将流过 RL，在输入 IN
和 VIN 脚间产生压降(RIN*IOUT)，负载电流经过 IC 的管脚。这个压降也会导致 VIN 脚上的电压下降。当 VIN 脚上 的电压下降到检测电平时，检测操作开始。伴随着检测操作的发生，负载电流消失，RIN 上的压降也消失，VIN 上 的电压将上升，释放操作将重新开始。随着“释放-检测-释放”的重复，振荡将发生。另外，按同样的机制，在检 测过程中也会发生振荡。 2、 工作电流(ISS)引起的振荡
2.3 2.7 3.0 3.2 3.6 7
V V uA V mA ppm/℃
SY3122
功能描述：
¾ 当输入电压(VIN)上升到大于检测电压(VDF)时，输出电压(VOUT) 将等于VIN。 ¾ 当输入电压(VIN) 下降到低于检测电压(VDF)时，输出电压(VOUT) 将等于地电平(VSS) 。 ¾ 当输入电压(VIN) 下降到低于最小工作电压(VMIN)时，输出将变得不稳定。在这种情况下，VIN 将等于上拉
SY3122 系列低功耗电压检测器
SY3122
描述：
SY3122 系列是高精度低功耗电压检测器，采
用 CMOS 工艺技术制造，检测电压精确度高，且 温度漂移小，输出方式：N M O S 输 出 。
特点：
z 高精度： ±1% z 低功耗电流： TYP 0.7uA (Vin=1.5V) z 检测电压范围：2.1V~4.4V 步长 0.1V z 工作电压范围：0.7V~7V z 检测电压温度特性：TYP±100ppm/℃ z 输出形式：N M O S z 封装形式： SOT-23-3，SOT-89-3，TO-92
输出( 输出上拉)。 ¾ 当输入电压(VIN) 上升到大于地电平(VSS) 时，如VIN小于最小工作电压(VMIN)，输出将变得不稳定；如VIN大
于最小工作电压，又小于 检测释放电压(VDR) ，输出将稳定在地电平(VSS) 。 ¾ 当输入电压(VIN) 上升到大于检测释放电压(VDR)时，输出电压(VOUT) 将等于VIN。 ¾ VDR 和 VDF 之差就是迟滞范围。
（2）检测，释放电压 vs. 环境温度
SY3122
（3）输出电压 vs. 输入电压
SY3122
封装尺寸：
SY3122
3
3
1
1
1
3
2
2
TO-92(T1) 2 3 1
符号
Vss Vout Vin
功能块框图：
定义
接地引脚 输出引脚 输入引脚
极限参数：
参数
输入电压
输出电流
输出电压
SOT-23
充许最大功耗
SOT-89
TO-92
工作温度
存贮温度
焊接温度和时间
符号 VIN IOUT VOUT
Pd
TOPR TSTG TSOLDERr
时序图：
SY3122
使用注意事项：
¾ 使用 SY3122 系列 IC 时，必需符合极限参数的要求，否则将引起器件老化或永久损坏。
¾ 对 CMOS 输出型产品， 在 VIN 脚和输入间接一个电阻， 由于负载电流(IOUT)的存在， RIN 上产生压降， 最终导致振荡的发生。(参见下面的振荡描述 1)
VDF
检测电压
VHYS
迟滞范围
Iss
工作电流
VIN
工作电压
IOUT
输出电流
ΔVDF/(Δtopr*VDF) 温度特性
VIN=1.5V =2.0V =3.0V =4.0V =5.0V
VDF(T)=1.6V to 6.0V N-ch VDS=0.5V VIN=1.0V =2.0V =3.0V =4.0V =5.0V -40℃≤Topr≤85℃