x射线衍射分应用的晶格常数

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x射线衍射分析应用的晶格常数

x射线衍射分析应用的晶格常数
从左到右,各衍射峰对应的衍射面指数依次为(100)、(110)、 (111)、(200)、(210)、(211)、(220)、 (300)、 (310)、(311)
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体心立方
体心立方中,H+K+L为奇数的衍射面不出现,因此,比值数列应可化
成:
Si2 n1:Si2 n2: 1:2:3:4:5:6:7:8:
心立方中,第二条线比第一条线弱。
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在实际测量时,某一条或几条衍射强度特别低的线条可能不会出现, 可能导致判断错误。如数列为3:8:11:16:19,肯定不是简单立方, 也不属于体心立方(数列中有奇有偶),因此,应为面心立方结构, 但在实际测量时,没有出现4(200)、12(222)。因为结构因子 太小。
9 0.0222 0.0980 0.2496
10 0.2013 0.2771 0.4287
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为了解决六方晶系的指标化问题,有人还绘出了 图解法图表,利用该图表,可直接对六方晶系进 行指标化
进行指标化的样品最好是纯物相,否则因为其它 物相的存在干扰指标化的正常判断
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衍射谱标定就是要从衍射谱判断出试样所属的晶系、点阵胞 类型、各衍射面指数并计算出点阵参数。
步骤
– 判断试样的晶系 – 判断试样的点阵胞类型 – 确定晶面指数 – 计算点阵常数
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衍射谱的指标化是晶体结构分析和点阵常数测定的基础。 1)已知晶系和晶格常数a,从理论上求出,与实验值对比,
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课堂练习
实验所用辐射为 CuKα= 0.15418nm,下表 给出四个样品的 sin2θ值,请标定出 各组实验数据的衍射 面指数、所属晶系, 布拉菲点阵类型,并 计算出点阵常数。

xrd精修晶格常数步骤

xrd精修晶格常数步骤

xrd精修晶格常数步骤
X射线衍射(XRD)精修晶格常数通常包括以下步骤:
1. 数据收集:使用X射线衍射仪收集待测样品的衍射数据。

这些数据通常是在不同的角度和衍射强度下测量的。

2. 数据处理:使用数据处理软件对收集到的数据进行初步处理。

这包括背景扣除、峰位校正、峰强度修正等。

3. 晶胞参数确定:根据衍射图案中的峰位置确定晶胞参数。

这可以通过对峰位置进行分析,并与已知的标准样品进行比较来实现。

4. 晶格常数计算:根据确定的晶胞参数计算样品的晶格常数。

这可以使用晶胞参数之间的关系来计算。

5. 精修晶格常数:通过计算得到的晶格常数与已有的数据进行比较,进行修正,直至得到最准确的晶格常数。

需要注意的是,XRD精修晶格常数的步骤可能因实验条件和
样品性质的不同而有所差异。

尤其是在处理样品表面或材料微观结构存在缺陷的情况下,可能需要更加细致和复杂的处理过程。

材料分析公式

材料分析公式

材料分析公式材料分析是指对各种材料进行成分、结构、性能等方面的分析和测试。

在材料科学领域,材料分析是非常重要的一部分,它可以帮助科研人员了解材料的内部结构和性能特点,为材料的设计、制备和应用提供重要的依据。

在进行材料分析时,科研人员通常会使用一些公式来描述材料的特性,下面我们就来介绍一些常用的材料分析公式。

1. X射线衍射公式。

X射线衍射是一种常用的材料分析方法,通过分析材料衍射出的X射线图案,可以了解材料的晶体结构信息。

X射线衍射公式可以用来计算材料的晶格常数和晶胞结构。

其公式为:nλ = 2dsinθ。

其中,n为衍射级数,λ为入射X射线波长,d为晶格常数,θ为衍射角度。

通过测量X射线衍射图案中的衍射角度,可以利用上述公式计算出材料的晶格常数。

2. 傅里叶变换公式。

傅里叶变换是一种将信号从时域转换到频域的数学方法,它在材料分析中有着广泛的应用。

通过傅里叶变换,可以将材料的X射线衍射图案、核磁共振谱图等信号转换到频域进行分析。

傅里叶变换公式为:F(ω) = ∫f(t)e^(-iωt)dt。

其中,F(ω)为频域信号,f(t)为时域信号,ω为频率。

通过对信号进行傅里叶变换,可以得到信号的频谱信息,从而了解材料的结构特征。

3. 拉曼频移公式。

拉曼光谱是一种通过激发材料产生的拉曼散射光谱,可以用来分析材料的分子振动信息。

在拉曼光谱分析中,常用的是拉曼频移公式:Δω = ω(1) ω(0)。

其中,Δω为拉曼频移,ω(1)和ω(0)分别为散射光和入射光的频率。

通过测量拉曼光谱中的频移,可以了解材料分子的振动模式和结构。

4. 热膨胀系数公式。

材料的热膨胀系数是描述材料在温度变化时长度变化的比例系数,它在材料设计和工程应用中具有重要意义。

材料的线膨胀系数α可以通过以下公式计算:α = 1/L (dL/dT)。

其中,L为材料的长度,T为温度,dL/dT为长度随温度的变化率。

通过测量材料在不同温度下的长度变化,可以计算出材料的热膨胀系数。

晶格常数测量的研究及其在材料物理中的应用

晶格常数测量的研究及其在材料物理中的应用

晶格常数测量的研究及其在材料物理中的应用晶体学是材料学的重要分支之一,研究物质的晶体结构和性质,其中晶格常数是晶体学中的一个基本概念。

晶格常数决定了晶体的结构和性质,因此测量晶格常数是材料学中非常重要的研究内容之一。

本文将就晶格常数的测量方法、研究现状以及应用领域进行探讨。

一、晶格常数的测量方法晶格常数是晶体结构的基本参数之一,表示晶体中原子或分子排列的周期性重复,是晶体学研究的基础。

晶格常数的测量方法主要有X射线衍射法、电子衍射法、中子衍射法等。

其中最常见的是X射线衍射法,下面着重介绍此方法。

X射线衍射法是利用材料对X射线的散射现象来确定晶格常数。

通过将X射线照射在晶体表面,不同晶面对X射线的反射角度不同,因此不同晶面的衍射光线会在一定角度内形成衍射环,根据衍射环的半径可以计算出晶格常数。

在实验中,常使用曲线拟合法或者利用布拉格公式进行计算。

二、晶格常数的研究现状随着计算机技术和实验设备的不断升级,晶格常数的测量精度也不断提高,目前已经可以实现微米级别的精度。

同时,在晶格常数的研究领域中,也涌现出了一些新的研究内容。

下面简要介绍几个典型的研究内容。

1. 晶格参数与结构相变的关联晶体在温度或者压力等外部条件的变化下,会发生结构相变。

在相变前,晶格参数的小幅度变化可以引起晶体的局部畸变,从而导致晶体结构的相变。

因此,研究晶格参数的变化与结构相变之间的关系,有助于揭示相变机制和设计新材料。

2. 晶格参数对材料性能的影响晶格常数决定了晶体的结构和性质,因此研究晶格参数对材料性能的影响,可以为材料设计和性能优化提供重要依据。

如晶格参数与材料的热膨胀系数和热导率等物理性质密切相关。

3. 晶格参数的微尺度测量研究微观尺度的晶格参数变化,是一些新兴领域的研究重点之一。

如纳米材料中的晶格常数需要通过高分辨率的透射电子显微镜等技术进行测量,这对材料物理领域的研究具有重要意义。

三、晶格常数在材料物理中的应用晶格常数的测量和研究,不仅是晶体学理论的重要内容,同时也在材料物理学中发挥着重要的应用作用。

X射线衍射原理及应用

X射线衍射原理及应用
复杂点阵可以看成是由一系列点阵常数不同的简单点阵相 互嵌套而成的,每种简单点阵都可以对X射线产生衍射, 这些衍射线也是相干的,他们在空间再次发生相干叠加的 结果就是复杂点阵的衍射。
晶体衍射强度与衍射系统消光规律
在空间某个衍射方向上,如果两套简单点阵的衍射光相位 差为半波长的奇数倍,那么结果就会使消光。例如:
晶体结构周期性——立体光栅
晶体周期性的空间结构可以作为衍射光栅
一维周期
二维周期
三维周期
晶体是一种三维周期结构的光栅
晶体结构周期性——立体光栅
但是晶体的结构周期,即晶格常数,通 常比可见光的波长小得多(可见光波长一 般在380-780nm之间,常见晶体的晶格常 数约为几个埃) ,因此,可见光不能在晶 体中出现衍射。
X射线的性质
✓穿透能力强(能穿透除重金属外的一定厚 度金属板)
✓能使气体等电离
✓折射率几乎等于1(穿过不同媒质时几乎不 折射、不反射,仍可视为直线传播),因而 不能利用折射来聚焦
✓通过晶体时可以发生衍射
✓对生物细胞和组织具有杀伤力
波长小于0.1埃的称超硬X射线,在0.1~1埃范围内的称硬X射线,1~10埃范围 内的称软X射线。
2000
物相鉴定与指纹鉴别
一样有冤假错案存在!!!
X射线衍射谱——晶体和X射线的相 互作用(微观结构-宏观反应)
衍射技术主要应用领域
1,晶体结构分析:人类研究物质微观结 构的第一种方法。 2,物相定性分析 3,物相定量分析 4,晶粒大小分析 5, 非晶态结构分析,结晶度分析 6,宏观应力与微观应力分析 7,择优取向分析
X射线衍射原理及应用
贾建峰 物理工程学院
材料科学研究
化学成分
物相组成

X射线的晶体衍射

X射线的晶体衍射

d
θ
A θ E B
d
4
X射线经两晶面反射 射线经两晶面反射 射线经 两束光的光程差为: 后,两束光的光程差为:
δ = AE + EB = 2d sin θ
布拉格公式
θ
A θ E B
d
时各层面上的反射光相干加强, 即当 2d ⋅sin ϕ = kλ 时各层面上的反射光相干加强,形成 亮点, 级干涉主极大。该式称为布喇格公式。 亮点,称为 k 级干涉主极大。该式称为布喇格公式。 X 射线的应用不仅开创了研究晶体结构的新领域, 射线的应用不仅开创了研究晶体结构的新领域, 而且用它可以作光谱分析, 而且用它可以作光谱分析,在科学研究和工程技术上 有着广泛的应用。 有着广泛的应用。 在医学和分子生物学领域也不断有新的突破。1953年 在医学和分子生物学领域也不断有新的突破。1953年 英国的威尔金斯、沃森和克里克利用X 英国的威尔金斯、沃森和克里克利用X 射线的结构分 析得到了遗传基因脱氧核糖核酸( 的双螺旋结构, 析得到了遗传基因脱氧核糖核酸(DNA) 的双螺旋结构, 荣获了1962 年度诺贝尔生物和医学奖。 荣获了1962 年度诺贝尔生物和医学奖。
X射线的晶体衍射 射线的晶体衍射
1
一、X射线
X 射线
1895年德国的伦琴发现 射线。 年德国的伦琴发现X射线 年德国的伦琴发现 射线。 金属靶 克鲁斯克管 冷却液 1.X射线产生机制 射线产生机制 L • 一种是由于高能电子打到靶上后,电子受原子核电 一种是由于高能电子打到靶上后, 场的作用而速度骤减,电子的动能转换成辐射能---场的作用而速度骤减,电子的动能转换成辐射能 轫制辐射,X光谱连续。 轫制辐射, 光谱连续。 光谱连续 •其次是高能电子将原子内层的电子激发出来,当回 其次是高能电子将原子内层的电子激发出来, 其次是高能电子将原子内层的电子激发出来 到基态时,辐射出 X 射线,光谱不连续。 到基态时, 射线,光谱不连续。 2. X射线性质: 射线性质: 1. X 射线在磁场或电场中不发生偏转,是一种电磁波。 射线在磁场或电场中不发生偏转,是一种电磁波。 2.X射线穿透力很强,波长很短。 射线穿透力很强,波长很短。 射线穿透力很强 衍射现象很小。 4 × 10 −2 ~ 100nm 衍射现象很小。

X射线衍射分析技术(历年真题及答案)

X射线衍射分析技术(历年真题及答案)

X 射线衍射分析技术——硕士生考试试卷 2008.11.111. 简述X 射线法精确测量晶格常数的方法原理与应用。

方法原理:X 射线衍射法测量点阵常数,是利用精确测得的晶体衍射峰位2θ角数据,根据布拉格定律2dsin θ=λ和点阵常数(a ,b ,c )与晶面间距d 的关系计算出点阵常数。

应用:点阵常数是晶态材料的基本结构参数。

它与晶体内质点间的键合密切相关。

它的变化是晶体成分、应力分布、缺陷及空位浓度变化的反映。

通过精确测量点阵常数及其变化,可以研究固溶体类型、固溶度、密度、膨胀系数、键合能、相图的相界等问题,分析其物理过程及变化规律。

但是,在这些过程中,点阵常数的变化一般都是很小的(约为10-4埃数量级),因此必须对点阵常数精确测量。

2. 为什么说X 射线衍射线的线性与晶体材料的微晶尺寸有关?简述通过线性分析法确定微晶尺寸的方法原理与应用。

关联:(P169)干涉函数的每个主峰就是倒易空间的一个选择反射区。

三维尺寸都很小的晶体对应的倒易阵点变为具有一定体积的倒易体元(选择反射区),选择反射区的中心是严格满足布拉格定律的倒易阵点。

反射球与选择反射区的任何部位相交都能产生衍射。

衍射峰的底宽对应于选择反射区的宽度范围。

选择反射区的大小和形状是由晶块的尺寸D 决定的。

因为干涉函数主峰底宽与N 成反比,所以,选择反射区的大小与晶块的尺寸成反比。

原理:利用光学原理,可以导出描述衍射线宽与晶块尺寸的定量关系,即谢乐公式:θλβcos D k = md D =为反射面法向上晶块尺寸的平均值,只要从实验中侧的衍射线的加宽β,便可通过上述公式得到晶块尺寸D 。

应用:尺寸为10-7~10-5cm(1~100nm)的微晶,能引起可观察的衍射线的宽化。

因此,可以测量合金的微晶尺寸;可以粗略判断微晶的形状;可以用通过线性分析,测量合金时效过程中析出的第二相的尺寸,从而分析第二相的长大过程。

3. 为什么说X 射线衍射线的线性与晶格畸变有关?简述通过线性分析法确定微观应力的原理与方法。

粉末x射线衍射在固体催化剂结构表征中的应用

粉末x射线衍射在固体催化剂结构表征中的应用

粉末X射线衍射(Powder X-ray Diffraction,简称PXRD)是一种非常重要的固体材料表征方法,广泛应用于固体催化剂的研究和开发中。

通过分析材料的晶格结构和晶体学性质,粉末X射线衍射能够帮助科研人员深入了解固体催化剂的特性,从而指导催化剂的设计和改进。

在本文中,将从不同角度探讨粉末X射线衍射在固体催化剂结构表征中的应用,以便读者对这一重要的分析方法有更全面、深刻的认识。

一、粉末X射线衍射原理粉末X射线衍射是通过照射材料样品,利用晶体的衍射现象来获取相应的X射线衍射图谱,从中解析出材料的晶体结构信息。

在固体催化剂的研究中,通过分析X射线衍射图谱,可以得知催化剂的结晶相、结晶度、晶格参数等重要信息,从而为催化剂的性能和活性提供理论指导。

二、固体催化剂结构表征中的应用1. 晶相分析通过粉末X射线衍射分析,可以准确地确定固体催化剂中存在的各种晶相结构,包括晶体的种类、结晶度等。

这些信息对于催化剂的活性和选择性有着决定性的影响,因此晶相分析是固体催化剂研究中的关键一步。

2. 晶格参数测定粉末X射线衍射还可以用于测定固体催化剂中的晶格参数,包括晶胞参数、晶格常数等。

这对于研究催化剂的晶体学性质具有重要意义,有助于科研人员理解催化剂的结构特征与催化性能之间的关系。

3. 晶体形貌分析通过分析X射线衍射图谱,还可以得知固体催化剂的晶体形貌、晶粒大小等信息。

这对于理解催化剂的微观结构和晶体学特性非常重要,有助于科研人员设计和改进催化剂的结构,提高催化性能。

三、个人观点和理解在固体催化剂研究中,粉末X射线衍射作为一种重要的结构表征手段,能够为科研人员提供全面、深入的晶体学信息,有助于理解催化剂的结构特征和性能表现。

对于固体催化剂的设计和改进而言,粉末X射线衍射是不可或缺的分析方法之一。

总结回顾通过上述内容的介绍,我们对粉末X射线衍射在固体催化剂结构表征中的应用有了更深入的认识。

我们了解了粉末X射线衍射的原理、固体催化剂研究中的应用,以及个人观点和理解。

X射线衍射的应用

X射线衍射的应用

X射线衍射的应用在X射线衍射的应用中,经常涉及到点阵常数的精密测定、X射线物相分析以及X射线应力的测定。

如固溶体的晶格常数随溶质的浓度而变化,可以根据晶格常数确定某溶质的含量,而且晶体的热膨胀系数以及物质的内应力都可以通过点阵常数的测定而确定。

另外,在金属材料的研究中,常常需要通过点阵常数的测定来研究相变过程、晶体缺陷等,有时甚至需要对点阵常数的精密测定。

X射线的物相分析是一项广泛且有效的分析手段,在地质矿产、耐火材料、冶金、腐蚀生成物、磨屑、工厂尘埃、环保、考古食品等行业经常有所应用,如区分物质同素异构体时,X射线的分析非常迅速,已证实Al2O3的同素异构体有14种之多。

在测定应力时,X射线具有有效的无损检测方法,照射的面积可以小到1~2mm的直径,即可以测定小区域的局部应力。

1 点阵常数的精确测定1.1传统的测量理论我们对晶体的点阵常数进行精确测定,主要还是利用X射线技术来进行测量。

在测量中所用到的最基本的公式就是晶体衍射的布拉格方程:2dsinθ=nλ其中,d为晶面指数为(hkl)的面间距,θ为衍射角,也称布拉格角度,λ为所用X射线的波长,n为衍射的发生级数,布拉格衍射方程可以确定出多级衍射情况,但是,级数越高,所得到的衍射强度越小,光谱分析越不明显,误差也就越大,所以,在点阵常数的精确测定中,真正起作用的就是级数较低的情形。

点阵常数的精确度取决于sinθ的精确度,而不是θ测量值的精确度,当θ越接近90°时,对应的测量误差△θ的△sinθ值误差越小,由此计算点阵常数也就越精确。

对于布拉格方程的微分式分析作个微分近似处理得:△d/d=△λ/λ-cotθ*△θ如果不考虑波长误差则:△d/d=-cotθ*△θ由此可见,由布拉格角度所引起误差是一个与余切函数相关的函数,显然,布拉格角度θ越小,所引起误差就越大。

从精确度角度考虑,我们所选择的布拉格角度θ处于20°~35°这样的一个范围。

晶格常数计算公式

晶格常数计算公式

晶格常数计算公式晶格常数是指晶体结构中最小重复单元的边长或之间的距离。

在固体物理中,晶格常数是一个重要的参数,它决定了晶体性质的一些基本特征,如晶格的形状、原子间的相互作用等。

晶格常数的计算可以通过实验方法进行,如X射线衍射,也可以通过理论计算方法进行,如密堆积球模型、密堆积立方模型等。

下面将介绍一些常见的晶格常数计算公式。

1.简单立方晶格(SC):简单立方结构是最为简单的晶格结构,它的晶格常数a即为晶胞的边长。

简单立方晶格常数计算公式为:a=d其中,d为相邻两个原子的距离。

2.体心立方晶格(BCC):体心立方结构中,一个原子位于每个晶胞的中心,与其相邻的相同类型的原子,在相邻的晶胞中重合。

体心立方晶格常数计算公式为:a=4*r/√3其中,r为原子的半径。

3.面心立方晶格(FCC):面心立方结构中,除了每个晶胞的8个角上各有一个原子外,每个面的中心也有一个原子。

面心立方晶格常数计算公式为:a=2*r*√2其中,r为原子的半径。

4.密堆积球模型:密堆积球模型是一种理论计算晶格常数的方法。

在密堆积球模型中,将球看作是硬球,硬球的直径为d,那么晶格常数a与d之间的关系为:a=2*d当将排列球的方式变化时,可以得到不同排列下的晶格常数。

5.密堆积立方模型:密堆积立方模型是一种常用的晶格模型,它是基于球密堆积模型进行推导得到的。

在密堆积立方模型中,晶胞由顶部的一个球和底部的一个球及它们之间的六个球组成,晶胞形状为正六边形。

晶格常数a与球的直径d之间的关系为:a=2*d*√2当将排列球的方式变化时,可以得到不同排列下的晶格常数。

这些晶格常数的计算公式可以根据实际情况和需要进行选择和应用。

在实际应用中,需要结合实验结果、理论计算模型以及相关参数的确定来计算晶格常数。

同时,需要注意不同晶体具有不同的晶格结构和晶胞参数,因此计算晶格常数时需要考虑具体的晶体结构和晶胞参数。

X射线衍射晶体结构分析实验报告

X射线衍射晶体结构分析实验报告

X 射线衍射晶体结构2、X 射线在晶体中的衍射光波经过狭缝将产生衍射现象。

狭缝的大小必须与光波的波长同数量级或更小。

对X 射线,由于它的波长在0.2nm 的数量级,要造出相应大小的狭缝观察X 射线的衍射,就相当困难。

冯·劳厄首先建议用晶体这个天然的光栅来研究X 射线的衍射,因为晶体的晶格正好与X 射线的波长属于同数量级。

当入射X 射线与晶面相交θ角时,假定晶面就是镜面(即布拉格面,入射角与出射角相等),两条射线的光程差是θsin d 2。

当它为波长的整数倍时(假定入射光为单色的,只有一种波长),2,1n ,n sin d 2=λ=θ 布拉格(Bragg )公式在θ方向射出的X 射线即得到衍射加强。

根据布拉格公式,即可以利用已知的晶体(d 已知)通过测θ角来研究未知X 射线的波长;也可以利用已知X 射线(λ已知)来测量未知晶体的晶面间距。

三、实验数据与处理4.50 1.000 06 5.370 1.193 -3.5294213 3.330 0.741 5.99509326 0.963 0.214 30.8355929 0.360 0.080 50.5145740 1.010 2.224 -15.986147 0.690 0.153 37.546353、已知晶体的晶格常数(a0=564.02pm),测定X射线的波X射线衍射图有图得n θ(Kα)θ(Kβ)λ(Kα)λ(Kβ)1 7.1 6.3 69.71 61.892 14.5 12.9 70.61 62.963 22.1 19.5 70.73 62.76平均70.35 62.53667由上表得λ(Kα)/pm λ(Kβ)/pm 经验值71.07 63.08测量值70.35 62.54则它们的相对误差分别为:▽1=(71.07-70.35)/71.07=1.013%▽2=(63.08-62.54)/63.08=0.86%4、已知X射线的波长,测定晶体的晶格晶格常数由X射线衍射图得θsinθ线系n nλa06.3 0.1097 Kβ 1 63.08 575.02287.1 0.1236 Kα 1 71.07 57512.9 0.2232 Kβ 2 126.16 565.23314.5 0.2504 Kα 2 142.14 567.651819.5 0.3338 Kβ 3 189.24 566.926322.1 0.3762 Kα 3 213.21 566.7464平均569.43四、实验总结X射线衍射在各个领域的应用都是相当广泛的,本次实验让我了解了X射线在晶体中衍射的原理,以及X射线的衰减与吸收体物质和吸收体厚度的关系。

晶体x射线衍射图及应用

晶体x射线衍射图及应用

晶体x射线衍射图及应用晶体X射线衍射图是通过将X射线照射到晶体上,然后通过收集散射X射线的数据得到的一种图形。

这种图形可以提供关于晶体结构、晶格常数、晶面间距等信息,因此在晶体学中有广泛的应用。

首先,晶体X射线衍射图可以用来确定晶体的结构。

当X射线照射到晶体上时,射到晶格的平面上的射线会发生衍射,形成一系列亮斑,即衍射斑。

这些衍射斑的位置和强度可以通过在探测器上收集散射X射线的数据得到。

然后,通过对这些数据进行分析,可以确定晶体所具有的晶格类型、晶胞参数以及晶体内部原子的位置。

其次,晶体X射线衍射图可以用来确定晶体的晶格常数。

由于衍射斑的位置与晶胞参数有关,因此通过测量衍射斑的位置,可以计算出晶格常数。

晶格常数对于研究材料的性质和相变等具有重要意义,因此晶体X射线衍射图在凝聚态物理领域中有广泛应用。

此外,晶体X射线衍射图还可以用来确定晶面间距。

晶体中的不同晶面会产生不同的衍射斑,而衍射斑的位置与晶面间距有关。

通过测量衍射斑的位置,可以计算出晶面间距,从而研究晶体的晶面结构以及晶体生长过程中的结构变化。

另外,晶体X射线衍射图还可以用来确定晶体的结构缺陷。

晶体中的结构缺陷会导致衍射斑的形状、位置或者强度发生变化。

通过对衍射斑的分析,可以确定晶体中的缺陷类型和缺陷密度,从而研究晶体的性质以及晶体生长过程中的缺陷形成机制。

此外,晶体X射线衍射图还可以用于确定化学组成。

不同元素的晶体会产生独特的衍射斑模式,通过测量衍射斑的位置和强度,可以确定晶体的化学组成。

这对于材料研究和材料工艺等领域具有重要意义。

总之,晶体X射线衍射图在材料科学和凝聚态物理领域中具有广泛的应用。

通过测量衍射斑的位置和强度,可以确定晶体的结构、晶格常数、晶面间距,进一步研究晶体的性质、相变、结构缺陷以及化学组成。

因此,晶体X射线衍射图是现代材料科学和凝聚态物理研究的重要工具之一。

x射线在晶体上衍射的条件

x射线在晶体上衍射的条件

X射线在晶体上衍射的条件
解:根据衍射条件,可以得出:
1.衍射波长条件:当入射波长入大于等于晶格常数d时,即入射角。

满足sinθ二人/d时,才能发生衍射。

2.衍射角条件:当入射角。

满足sinθ=入/d时,衍射角Φ必须满足ISinΦ∣<l∕n,其中n为反射级数。

3.晶体结构条件:当入射波长入大于等于晶格常数d时,晶体结构必须具有周期性排列,才能发生衍射。

4.晶体取向条件:晶体必须具有确定的取向,使得晶格周期与入射波长匹配。

这是因为X射线在晶体中的衍射是一个复杂的过程,涉及到晶体内部结构与外部入射波长的相互作用。

只有当晶体的取向与入射波长匹配时,才能产生明显的衍射现象。

5.晶体尺寸条件:用于衍射的晶体尺寸必须足够大,以便在晶格周期内捕获足够的X射线光子。

这有助于提高衍射信号的强度和稳定性,从而提高实验结果的可靠性。

6.实验设备条件:需要高精度的实验设备来测量和记录衍射数据。

这包括X射线源、探测器、光学系统、计算机控制系统等。

这些设备的精度和稳定性直接影响到实验结果的准确性和可靠性。

综上所述,X射线在晶体上衍射的条件包括入射波长大于等于晶格常数、衍射角满足Isin6|〈l/n、晶体结构具有周期性排列、晶体具有确定取向、晶体尺寸足够大以及高精度的实验设备等。

这些条件的满足有助于提高衍射实验的准确性和可靠性,为研究晶体结构和性质提供有力的支持。

xrd晶格常数计算公式

xrd晶格常数计算公式

xrd晶格常数计算公式
X射线衍射分析是一种非常重要的材料结构分析方法,也是材料学研究中的重要工具。

晶体结构可以通过分析X射线的衍射图案来确定。

而X射线衍射图案又受到晶格常数的影响,因此晶格常数的计算是X射线衍射分析的重要部分。

对于立方晶系中的晶格常数a,其计算公式为:
a=dX√h2+k2+I2
其中,d为样品在此晶面上的晶格面间距,h、k、1为晶面指数。

对于其他晶系(四方、单斜、三斜等),其计算公式较为繁琐。

以下以单斜晶系中的b轴为例,计算b轴晶格常数的公式为:
b=dX1∕√(h2+(k+l)2)
其中,d为样品在此晶面上的晶格面间距,h、k、1为晶面指数。

需要注意的是,对于不同的晶系和不同的晶面,其晶格面间距是不同的,需要根据实际实验中所用的X射线波长以及所用的晶面,计算得到正确的晶格常数。

同时,由于晶体中并不是所有晶面都会衍射出强度明显的衍射线,因此需要通过实验中所得到的衍射图案找到正确的衍射线进行计算。

此外,在实验中需要对样品进行处理,如粉末衍射需要将晶体样品制成粉末,单晶衍射需要制备出尺寸合适的单晶样品。

实验操作要严格遵守规范,避免误差的产生,并进行充分的数据处理和分析,以获得准确的晶体结构信息。

综上所述,晶格常数的计算是X射线衍射分析中的一个重要步骤,需要根据实验条件和晶体结构的不同进行相应的公式计算。

同时也需要把握好实验操作和数据分析,才能得到准确可靠的结果。

xrd峰算六方晶格常数

xrd峰算六方晶格常数

xrd峰算六方晶格常数
摘要:
1.引言
2.XRD 峰的概述
3.六方晶格常数的定义和计算方法
4.XRD 峰算六方晶格常数的步骤
5.结论
正文:
1.引言
X 射线衍射(XRD) 是一种广泛应用于材料科学研究的技术,它可以用来分析材料的晶体结构、相组成和晶格常数等重要参数。

在材料研究中,六方晶格常数是一个关键的结构参数,它可以反映材料的晶体结构特征。

本文将介绍如何使用XRD 峰计算六方晶格常数。

2.XRD 峰的概述
XRD 峰是指X 射线在材料中发生衍射后,在特定角度范围内出现的强度峰值。

每个材料都有其特定的XRD 衍射峰,通过对这些衍射峰的分析,可以获得材料的结构信息。

3.六方晶格常数的定义和计算方法
六方晶格常数是指六方晶系中晶胞的参数之一,用a 表示。

六方晶系中的晶胞参数包括a、b、c 和α、β、γ三个内角。

根据六方晶系的对称性,可以推导出六方晶格常数a 的计算公式。

在实际应用中,通常使用XRD 峰来计
算六方晶格常数。

4.XRD 峰算六方晶格常数的步骤
(1)首先,需要对材料进行XRD 测试,获取其衍射峰数据。

(2)根据XRD 衍射峰数据,确定材料的晶体结构,确认其为六方晶系。

(3)利用六方晶系晶胞参数的关系式,计算出六方晶格常数a 与其他参数的关系。

(4)通过拟合XRD 峰的强度数据,得到六方晶格常数a 的具体值。

5.结论
XRD 峰是一种有效的计算六方晶格常数的方法,它可以从实验数据中获取关键的结构参数,为材料研究和应用提供重要依据。

xrd峰算六方晶格常数

xrd峰算六方晶格常数

xrd峰算六方晶格常数摘要:I.引言A.X 射线衍射(XRD) 的基本原理B.X 射线衍射在材料研究中的应用II.X 射线衍射峰与晶体结构A.X 射线衍射峰的形成B.根据X 射线衍射峰确定晶体结构III.计算六方晶格常数A.六方晶格常数的定义B.计算公式C.计算步骤1.确定X 射线衍射峰的面积2.计算峰宽3.计算六方晶格常数IV.实例分析A.实例材料及X 射线衍射数据B.计算过程C.结果分析V.应用与优势A.在材料研究中的应用B.与其他测量方法相比的优势VI.总结正文:I.引言A.X 射线衍射(XRD) 是一种非破坏性的分析方法,通过测量材料对X 射线的衍射现象,可以获得材料的内部结构信息。

B.在材料研究中,XRD 被广泛应用于晶体结构分析、相分析、应力分析等领域。

II.X 射线衍射峰与晶体结构A.当X 射线照射到晶体上时,晶体中的原子会对其产生散射,形成X 射线衍射峰。

衍射峰的位置和形状与晶体的内部结构有关。

B.通过分析X 射线衍射峰的形状和位置,可以确定材料的晶体结构。

III.计算六方晶格常数A.六方晶格常数是一个描述晶体结构特征的参数,它反映了晶体中晶胞参数的关系。

B.计算公式:a = (2π/h) * λ,其中a 为六方晶格常数,h 为布拉格公式中的整数,λ为入射X 射线的波长。

C.计算步骤:1.根据X 射线衍射峰的面积,可以得到峰的高度h。

2.计算峰宽,可以得到布拉格角θ。

3.根据公式a = (2π/h) * λ,代入已知数据,计算得到六方晶格常数a。

IV.实例分析A.假设我们有一个材料,其X 射线衍射峰如表所示:| 2θ (°) | I (arb.) ||--------|----------|| 30.1 | 100 || 34.4 | 200 || 38.7 | 300 || 43.0 | 400 |B.计算过程:1.根据峰的高度,我们可以得到h = 1。

2.计算峰宽,得到θ = 34.4° - 30.1° = 4.3°。

X射线衍射晶体法应用简介.

X射线衍射晶体法应用简介.

样品放在衍射仪测角仪的圆心,计数管对准中心. 样品转
过角时,计数管转过2。 记录纸横坐标为2, 纵坐标为
衍射线强度。
三、粉晶衍射原理、衍射图的特征及应用
1、确定样品中存在的结晶物相的种类(定性分析) 国际通用的标准粉末数据卡(JCPDS)及pcpdfwin软件进行检索 2、确定样品中某物相的百分含量 3、测量晶体的晶格常数 4、测定结晶程度、粒度大小分布、有序度 5、利用粉晶数据进行结构解析 6、进行粘土矿物的定性、定量分析
h = 0、±1、±2、…
矢量式 a·( S - So ) = h h = 0、±1、±2、…
直线点阵上衍射圆锥的形成
推广到三维
a·(S – So) = h
a(cos - cos o) = h
b·(S – So) = k 或 b(cos - cos o) = k
c·(S – So) = l
c(cos - cos o) = l
X射线衍射晶体法应用简介
1、X-射线单晶衍射 2、 X-射线粉末衍射
第一节 X射线衍射原理
一、X射线的产生
• X射线和普通的光谱一样也是一种电磁波,1895年德国科 学家伦琴在研究阴极射线是发现了X射线。用于测定晶体结 构的X射线波长为50~250pm(0.5 –2.5Å),与晶面间距相当, 因而可发生衍射(相干散射)。
(2) 反射定理不是对所有平面点阵都满足,即只有平面点 阵(h*k*l*)与衍射方向h k l 满足: h =nh*, k =nk*, l =nl* 时才能发生 (Bragg方程的使用范围)
如: 对于(110)面,只有110,220,330,等衍射 对于(100)面,只有100,200,300,等衍射
电子密度图

xrd晶格常数

xrd晶格常数

xrd晶格常数
X射线衍射(XRD)用于测量晶体的晶格常数。

晶格常数是由晶体中原子之间相互排列所决定的参数,它描述了晶体中原子之间的距离和排列方式。

在XRD实验中,X射线通过晶体后会发生衍射现象,这些衍射峰的出现与晶格常数有关。

根据布拉格定律,晶格常数可以通过衍射峰的位置和X射线波长来确定。

具体的测量方法是使用X射线衍射仪测量晶体衍射谱,然后使用布拉格定律计算晶格常数。

其中,布拉格定律表示为:
nλ = 2dsinθ
其中,n为正整数(衍射阶数),λ为X射线波长,d为晶面间距,θ为衍射角。

通过测量不同衍射角对应的衍射峰位置,可以得到一系列的布拉格峰。

然后,使用布拉格定律将衍射角转换为晶面间距,并对这些晶面间距进行统计分析,可以获得晶格常数。

总之,XRD可以通过测量晶体衍射谱,利用布拉格定律计算晶格常数。

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数,因此由一个 s
in
2

在A-C空间代表一簇直线(通过改变
i
mi,Βιβλιοθήκη ni而得),直线方程可由上式改写为
A
sin 2 i / mi

C
sin 2 i
/ ni
1
显然,是以A、C为变量的截距式直线方程,在A、C上
的截距分别为 sin 2 i 、sin 2 i 。
mi
ni
Zn , 六 方 晶 系 , Z=2 , CuKα 辐 射 (=0.154056nm) , sin2θ1=0.09742 、 sin2θ2=0.11169 、 sin2θ3=0.13608, ρ=7.134g/cm3。令mi=0,1,3;n=0,1,4;Z=1,2,3,4。列表如 下:
课堂练习
•某次实验测得数据如下,请标出是什么晶体结构,并计算出 对应的晶面指数。
作业6
•某次实验测得数据如下,请标出是什么晶体结构,并计算出 对应的晶面指数。
立方晶系标定的问题
体心立方和简单立方的区别是数列中是否出现7,体心立方 能出现7,而简单点阵不会出现。因此,在标定这两种结构 时,衍射线条数目不能少于8条(受衍射设备的限制,可能 得不到8条衍射线)。
(210)、(300)……
四方包含两种阵胞:简单和体心 先假定为简单阵胞,则相应的指数应为(100)、
(110)、(200)、(210)、(220)、(300)、 (310) 如果不是简单点阵,则必为体心点阵,相应的指数为 (110)、(200)、(220)、(310)、(400)、 (330)
中间值最小的那条衍射线的L=1,其余依次为2,3,4 如果假设不正确,再回头重作假设,直到正确为止。
菱方晶系也有二个参数a和c,所以其指标化方法与四方晶 系相似
在判断不是四方和六方晶系后,假设为菱方晶系,其比值 数列的部分数列满足关系:1:4:9:16……
其衍射面指数依次为(001)、(002)、(003)
简单立方的衍射线条数目最多,比面心和体心要多几倍。 面心立方的衍射线成对线条和单线交替出现。
立方
标定的第三步是计算晶体的点阵常数a
Sin2

2
4a 2
(H 2
K2
L2)
a 2 sin
d 2 s in
H 2 K 2 L2)
a H 2 K 2 L2) 2 s in
点四阵方常数计算 六方
λ 2/3a2= sin2θ HK/(H2+HK+K2)
取一条尚未标定的衍射线,根据其在衍射谱中的位置, 假设它的H,K值,然后计算出一个中间数据
对其它尚未标定的衍射线也都假设出其相应的H,K, 计算出中间值(CL2 )。
如果所假设的H,K都正确,则这些中间值必然存在 1,4,9…的比值关系
对于衍射线条数目少于8条的情况,还可以从多重因子来考 虑,简单立方衍射花样的前二条线的干涉指数为(100)和 (110),体心立方为(110)、(200)。(100)和(200) 的P=6,(110)的P=12。在简单立方中,第二条线比第一条 线强,在体心立方中,第二条线比第一条线弱。
在实际测量时,某一条或几条衍射强度特别低的线条可能 不会出现,可能导致判断错误。如数列为3:8:11:16:19, 肯定不是简单立方,也不属于体心立方(数列中有奇有 偶),因此,应为面心立方结构,但在实际测量时,没有 出现4(200)、12(222)。因为结构因子太小。

2
4a2
(H
2

K2)
2
4c 2
L2)
Sin21 : Sin22 : [ A(H12 K12 ) CL12 ] : [ A(H 22 K22 ) CL 22 ] :
Sin2式 1 中 : SAin= 224:a22 , [CA= (H412c22(H四 1K方 1 )K12
晶系或者晶格常数a未知的材料的指数标定步骤和方法:
按θ角从小到大的顺序,写出sin2θ的比值数列。 根据数列特点来判断 判断顺序:
– 先假定试样属于简单晶系,若不是,则假定为更复 杂的晶系,即
– 立方晶系——四方晶系——六方晶系——菱方晶 系——正交晶系
立方晶系的衍射谱标定
Sin2
同名原子立方晶系的标定
四方、六方和菱形晶系的标定
不能证明衍射谱是立方晶系,即其比值数列不能化为简单 整数数列,则假定为其它三种晶系(中级晶系)

四方
六方
菱方
四方和六方晶系的标定
Sin2

2
4a2
(H
2

K2)

2
4c 2
L2)
对于四方,a=b,
(四方) 两个变数——a,c
Sin2
简单立方
Sin2

2
4a2
(H 2

K2

L2)
简单立方由于不存在结构因子的消光,因此,全部衍射面的衍 射峰都出现——sin2θ比值数列应可化成:
Sin21 : Sin22 : 1: 2 : 3 : 4 : 5 : 6 : 8 : 9 :10 :11 :12 :13 :14 :16
指标化的计算机程序
在MDI JADE中包含指标化程序 根据衍射花样,判断是哪一种晶系 寻峰或拟合 选择option——d-Spacing &HKL菜单命令作指标化处

关于指标化与新物质的发现
在新材料开发过程中,如果发现了新的物质,为了 了解新物相的性质,第一个工作就是要了解其结构。 这一工作的步骤一般是:
sin 2 mi A niC
对四方晶系而言,
2
2
A 3a 2 , C 4c2
mi Hi2 Ki2, ni L2i
对六方晶系而言,
2
2
A 4a2 , C 4c2
mi Hi2 Hi Ki Ki2, ni L2i
对于任一条衍射线的 sin2 i值,由于 mi , ni 可为一些定
基于衍射强度测量的应用 (1) 物相的定量分析,结晶度的测定 (2) 平衡相图的相界的测定; (3) 第三类应力的测定; (4) 有序固溶体长程有序度的测定; (5) 多晶体材料中晶粒择优取向的极图、反极图和三维 取向分布的测定; (6) 薄膜厚度的测定。
基于衍射线型分析的应用 (1) 多晶材料中位错密度的测定,层错能的测定,
从全部数据中选出一个数列为: 时,为六方晶系
四方和六方的判断: 四方晶系的比值数列中一定包括2,4,5 六方晶系的比值数列中一定包括3和7
(110),(200),(210) 四方:2,4,5
(110),(200),(210) 六方:3,4,7
对于六方来说,只有一种阵胞,即简单阵胞 衍射面指数依次为(100)、(110)、(200)、
λ2/3a2= sin2θHK/(H2+HK+K2)
CL2 H=1,K=0 H=K=0 2 0.0138 0.0896 3 0.0224 0.0982 4 0.0895 0.01653
H=1,K=0 H=1,K=1 H=K=0 6 0.2015 0.0499 0.2773
H=2,K=0 H=K=1 H=1,K=0 8 0.0137 0.0895 0.2411 9 0.0222 0.0980 0.2496 10 0.2013 0.2771 0.4287
)

CL12
]
:[
A( H 2 2

H2K2

K22
)

CL
2 2
]
:
式比中值A=数3列a22不,可C能=得4c2到2(全六部方为)整数的数列,但在所有的衍射面中,那些
L=0的衍射面的比值数列为整数列。
这些面包括(100),(110),(200),(210)……
从全部数据中选出一个数列为: 时,为四方晶系。
晶体缺陷的研究; (2) 第二类(微观残余)应力的测定; (3) 晶粒大小和微应变的测定;
基于衍射位置和强度的测定 (1) 物相的定性分析 (2) 相消失法测定相平衡图中的相界; (3) 晶体(相)结构,磁结构,表面结构,界面结构的研究
同时基于衍射位置、强度和线型的Rietveld多晶结构 测定 需输入原子参数(晶胞中各原子的坐标、占位几 率和湿度因子)、点阵参数、波长、偏正因子、吸收系 数、择优取向参数等。
立方晶系数列特点
由于H、K、L均为整数,它们的平方和也必定为整 数, sin2θ数值列必定是整数列——判断试样是 否为立方晶系的充分和必要条件。
实验操作 – 测量衍射谱,计算sin2θ,写成比例数列 – 找到一个公因数,乘以数列中各项,使之成为 整数列,则为立方晶系,反之,非立方晶系。
进一步判断 – 根据整数列的比值不同,可判断其是简单、面心 或体心结构——结构因子不同 – 根据sin2θ ,可知H2+K2+L2,可计算出各衍射峰 对应的干涉面指数。
指标化——元素分析——分子结构式 所以,指标化是发现新材料结构的第一步,真正确
定一种新的物相,需要用到其它一些化学公式的计 算 目前,通过X射线衍射方法,确定新物相是非常热 门的研究课题
课堂练习
实验所用辐射为 CuKα= 0.15418nm, 下表给出四个样品的 sin2θ值,请标定出 各组实验数据的衍射 面指数、所属晶系, 布拉菲点阵类型,并 计算出点阵常数。
第四章x射线衍射分析应用
物质对x射线的衍射产生了衍射花样或衍射谱,对于给定的 单晶试样,其衍射花样与入射线的相对取向及晶体结构有关;对 于给定的多晶体也有特定的衍射花样。衍射花样具有三要素:衍 射线(或衍射斑)的位置、强度和线型。测定衍射花样三要素在 不同状态下的变化,是衍射分析应用的基础。
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