焊接接头超声波检测通用工艺

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1主题内容和适用范围

1.1本通用工艺规定承压设备对接焊接接头超声波探伤的仪器、探伤人员、试块、操作及验收标准等。

1.2本通用工艺适用于母材厚度为8〜120mm勺全熔化焊对接焊接接头的B级超声波探伤。

1.3本通用工艺不适用于铸钢,奥氏体钢焊缝及外径小于159mm的钢管环向对接焊接接头、内径小于或等于200mm 的管座角焊缝,也不适用于外径小于250mm和内半径与外半径之比小于80%的纵向对接焊接接头超声波探伤。

2引用标准

JB/T9214-1999 A 型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法

JB/T10061-1999 A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件

JB/T10062-1999 超声探伤用探头性能测试方法

JB/T 4730.3-2005 承压设备无损检测

3检测人员

3.1从事检测的检验人员必须掌握超声波检测的基础技术,具有足够的焊缝超声波检测经验,并掌握一定的材料、

焊接基础知识。

3.2检测人员必须经过特种设备安全监察部门考试合格后,方可操作,签发报告者必须持有超声波n级及以上资格

证书。

4超声仪器及探头

4.1超声仪器

使用A型显示脉冲反射式探伤仪

4.2探头

探头推荐按表1选用

表2采用的斜探头规格

4.3系统性能

4.3.1检验前应校准探伤系统。

4.3.2灵敏度余量

系统有效灵敏度余量应大于或等于10dB

5试块

5.1试块采用CSK-I A、CSK-n A、CSK-川A试块。

5.2板厚为8〜120mm寸,选用CSK-I A CSK-n A CSK-H A组合;板厚大于120mm时,选用CSK-W A试块,CSK-

IV A试块尺寸见表7。

5.2.1检验曲面工件时,如探伤面曲率半径R小于等于W/4时,(W为探头接触面宽度,环缝检测时为探头宽度,

G

JA卜叵不ills 斫曰I

VAI1LA.4 VLiHWa・ H>I3 _L I U

下式:

Do 声源有效直径

mm

6检验等级 6.1平板对接接头:

T W 46mnfl 寸,采用一次反射法,在焊缝的单面双侧扫查。 T > 46mm 寸,采用双面双侧一次波扫查。

6.2管座角焊缝

6.2.1在选择检测面和探头时应考虑到各种类型缺陷的可能性, 6.2.2根据结构形式,管座角焊缝的检测有如下五种检测方式,可选择其中一种或几种方式组合实施检测。检测方

式的选择应由合同双方商定,并应考虑主要检测对象和几何条件的限制。

图1插入式管座角焊缝

ia 卜■质

朗起VI

L

A.4 F liilMWVi. C 43. _L III

G

式中:b ――试块宽度。

mm 波长

mm S ――声程

mm

并使声束尽可能垂直于该焊接接头结构的主要缺陷。 1) 在接管内壁采用直探头检测,见图 1位置1。

2) 在容器内壁采用直探头检测,见图 2位置1。在容器内壁采用斜探头检测,见图位置 4。

3) 在接管外壁采用斜探头检测,见图 2位置2。

4) 在接管内壁采用斜探头检测,见图 1位置3和图2位置3。 5) 在容器外壁采用斜探头检测,见图

2位置2。

纵缝检测为探头长度)应采用与探伤面曲率相同和对比试块,反射体的布置可参照对比试块确定,试块宽度应满足

PW2

图2安放式管座角焊缝

623管座角焊缝以直探头检测为主,必要时应增加斜探头检测的内容。

6.3当因结构原困无法满足送验要求时,应及时与检验、工艺人员联系,协调处理。7操作

7.1探伤表面:应清除探头移动区的飞溅、锈蚀、油垢及其它污物。

7.2采用的斜探头K值推荐选用表3所示。

7.3探伤面和探头移动区

7.3.1探测厚度在8〜46mm的焊缝探伤面为筒体外壁或内壁焊缝的两侧,探头移动区应大于等于 1.25P:

P=2TK (mm)

式中:P――探头移动区

T――被探工件厚度

7.3.2探测厚度大于46mm的焊缝,探头移动区应大于或等于0.75P。

7.3.3对于厚板焊缝因结构所限,只能从一面或一侧探伤时,还应增加大K值的探伤,其探头移动区以K值较大者为准。

7.4检验频率

检验频率一般在2〜5MHZ范围内选择,对于薄板,推荐使用5MHZ频率探伤。

7.5耦合剂

耦合剂主要选用机油、甘油或化学浆糊,在试块上调节仪器和产品检验时应采用相同的耦合剂。

8仪器的扫描速度的调整8.1当被检板厚小于等于20mm时,推荐用水平法。

8.2当被检板厚大于20mm时,推荐用深度法。

9距离一波幅(DAC曲线的绘制

9.1焊缝探伤,使用D-A面板曲线法。

9.2不同厚度、不同试块的灵敏度见表4、5。

9.3检测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高6dBo

9.4探伤时应对表面声能损失与材质衰减进行修正,修正量应计入(DAC曲线。

9.5探伤灵敏度:不低于评定线。

表4 距离一波幅曲线的灵敏度

表直探头距离一波幅曲线的灵敏度

10缺陷定量检测

10.1缺陷评定及检验结果的等级分类

10.2对所有反射波幅达到或超过定量线的缺陷,均应确定其位置、最大反射波幅和缺陷当量。

10.3缺陷位置测定

缺陷位置测定应以获得缺陷最大反射波的位置为准。

10.4缺陷最大最大反射波幅的测定

将探头移至出现缺陷最大反射波信号的位置,测定波幅大小,并确定它在距离-波幅曲线中的区域。

10.4缺陷定量

10.4.1应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷指示长度A L

10.4.2缺陷指示长度A L测定方法

10.4.2.1当缺陷反射波只有一个高点时,且位于H区或H区以上时,使波幅降到荧光屏满刻度的80%后,用6dB法测量测其指示长度。

10.4.2.2当缺陷反射波峰值起伏变化,有多个高点,且位于n区或n区以上时,使波幅降到荧光屏满刻度的80%后, 应以端点6dB法测量测其指示长度。

10.4.2.3反射波峰位于I区,如认为有必要记录时,可将探头左右移动,使波幅降至评定线,以此测定缺陷指示长

度。

11缺陷评定

11.1超过评定线的缺陷信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征,如有怀疑时,应采取改变探头K值、增加检测面、观察动态波形并结合结构工艺特征作判定,如对波形不能判断时,应辅以其他检测方法作综合判定。

11.2缺陷指示长度小于10mm,按5mm计。

11.3相邻两缺陷在一直线上,其间距小于其中较小的缺陷长度时,应作为一条缺陷处理,以两缺陷长度之和作为

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