频率特性测试仪报告

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自动控制频率特性测试实验报告

自动控制频率特性测试实验报告

自动控制频率特性测试实验报告1. 引言在现代自动控制系统中,频率特性是一个重要的参数,对于系统的稳定性和性能起着决定性的作用。

频率特性测试实验旨在评估自动控制系统的频率响应,并分析系统在不同频率下的性能。

本实验报告将介绍自动控制频率特性测试实验的目的、实验器材、实验步骤和实验结果分析。

2. 实验目的本实验的主要目的是通过频率响应测试,评估自动控制系统的频率特性以及系统在不同频率下的性能。

具体目标包括:1.测试系统的幅频特性,即系统的增益与频率之间的关系;2.测试系统的相频特性,即系统的相移与频率之间的关系;3.分析系统的频率特性对系统的稳定性和性能的影响。

3. 实验器材本实验所需的器材包括:•信号发生器:用于产生不同频率的输入信号;•可变增益放大器:用于控制输入信号的幅度;•相位巡迥器:用于调节输入信号的相位;•示波器:用于观测输入信号和输出信号;•自动控制系统:接受输入信号并提供相应的控制输出。

4. 实验步骤4.1 准备工作1.确保实验器材连接正确,信号发生器连接到自动控制系统的输入端,示波器连接到自动控制系统的输出端。

2.将可变增益放大器和相位巡迥器分别接入信号发生器的输出端,用于调节输入信号的幅度和相位。

4.2 测试幅频特性1.设置信号发生器的频率为起始频率,将幅度设置为合适的值。

2.将相位巡迥器的相位设置为零,确保输入信号的相位与输出信号相位一致。

3.记录输入信号和输出信号的幅度,并计算增益。

4.逐渐增加信号发生器的频率,重复步骤3,直到达到结束频率。

4.3 测试相频特性1.设置信号发生器的频率为起始频率,将幅度和相位设置为合适的值。

2.记录输入信号和输出信号的相位差,并计算相移。

3.逐渐增加信号发生器的频率,重复步骤2,直到达到结束频率。

4.4 结果记录与分析1.将实验得到的数据记录下来,包括输入信号频率、幅度、输出信号频率、幅度、相位差等。

2.绘制幅频特性曲线图,分析系统的增益随频率变化的规律。

频率特性测试实验报告

频率特性测试实验报告

频率特性测试实验报告引言频率特性测试是一种常用的电子设备测试方法,用于评估电子设备在不同频率下的性能表现。

本实验旨在通过测试不同频率下的信号响应,来探究被测试物体的频率特性。

实验步骤1.准备测试设备和被测试物体:选择一台信号发生器作为测试设备,并选择一个被测试物体,如一个电子电路板或一个音响设备。

2.连接测试设备和被测试物体:将信号发生器的输出端与被测试物体的输入端相连接。

确保连接稳固可靠。

3.设置信号发生器的频率:根据实验要求,设置信号发生器的频率范围和步进值。

频率范围应覆盖被测试物体可能的工作频率。

4.开始测试:依次设置不同的频率,观察被测试物体的响应情况。

记录下每个频率下的测试数据。

5.分析测试数据:将记录的测试数据整理,并进行进一步的数据分析。

可以绘制频率-响应曲线图,以直观展示被测试物体的频率特性。

6.结果讨论:根据频率-响应曲线图和数据分析结果,讨论被测试物体的频率特性。

可以探讨其在不同频率下的增益、相位差等表现,并与预期的理论模型进行比较。

7.结论:总结被测试物体的频率特性,给出实验结果的解释和评价。

实验数据示例频率 (Hz) 响应幅度 (dB) 相位差 (°)100 0.5 10500 1.2 201000 2.0 302000 1.8 405000 1.0 4510000 0.8 50数据分析与讨论通过绘制频率-响应曲线图,我们可以清楚地观察到被测试物体的频率特性。

从实验数据中可以看出,被测试物体在低频段(100 Hz和500 Hz)响应幅度较小,相位差也较小。

随着频率的增加,响应幅度逐渐增强,相位差也逐渐增大。

当频率达到2000 Hz时,响应幅度达到最大值,相位差也达到最大值。

随后,响应幅度逐渐减小,相位差也逐渐减小。

这种频率特性的变化可能与被测试物体的电路结构和元件特性有关。

与预期的理论模型进行比较后发现,实验结果与理论模型基本一致。

在低频段,被测试物体对输入信号的响应较弱,可能是由于电路的带宽限制或信号衰减等原因。

自动控制原理-控制系统的频率特性实验报告

自动控制原理-控制系统的频率特性实验报告

肇庆学院工程学院 自动控制原理实验报告_12 _年级_ 电气一班 组员:王园园、李俊杰 实验日期 2014/6/9 姓名:李奕顺 学号:2130 老师评定___________ 实验四:控制系统的频率特性一、实验原理1.被测系统的方块图:见图4-1图4-1 被测系统方块图系统(或环节)的频率特性G (j ω)是一个复变量,可以表示成以角频率ω为参数的幅值和相角:) G(j ω) G(j ω) G(j ω= (4—1)本实验应用频率特性测试仪测量系统或环节的频率特牲。

图4-1所示系统的开环频率特性为:) E(j ω) B(j ω)E(j ω)B(j ω) E(j ω) B(j ω) (j ωG ) (j ωG 21==⋅(4—2)采用对数幅频特性和相频特性表示,则式(4—2)表示为:)E(j ω)B(j ωlg20) )H(j ω (j ωG ) (j ωG 20lg 21=⋅) E(j ωlg 20) B (j ωlg 20-= (4—3)) E(j ω) B(j ω)E(j ω)B(j ω) H(j ω) (j ωG ) (j ωG 21-==(4—4)将频率特性测试仪内信号发生器产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化,并施加于被测系统的输人端[r(t)],然后分别测量相应的反馈信号[b(t)]和误差信号[e(t)]的对数幅值和相位。

频率特性测试仪测试数据经相关运算器后在显示器中显示。

根据式(4—3)和式(4—4)分别计算出各个频率下的开环对数幅值和相位,在半对数座标纸上作出实验曲线:开环对数幅频曲线和相频曲线。

根据实验开环对数幅频曲线画出开环对数幅频曲线的渐近线,再根据渐近线的斜率和转角频确定频率特性(或传递函数)。

所确定的频率特性(或传递函数)的正确性可以由测量的相频曲线来检验,对最小相位系统而言,实际测量所得的相频曲线必须与由确定的频率特牲(或传递函数)所画出的理论相频曲线在一定程度上相符,如果测量所得的相位在高频(相对于转角频率)时不等于- 90°(q-p)[式中p和q分别表示传递函数分子和分母的阶次],那么,频率特性(或传递函数)必定是一个非最小相位系统的频率特性。

频率特性实验报告

频率特性实验报告

一、实验目的1. 理解频率特性的基本概念和测量方法。

2. 掌握使用Bode图和尼奎斯特图分析系统频率特性的方法。

3. 了解频率特性在系统设计和稳定性分析中的应用。

二、实验原理频率特性描述了系统对正弦输入信号的响应,通常用幅频特性和相频特性来表示。

幅频特性表示输出信号幅度与输入信号幅度之间的关系,相频特性表示输出信号相位与输入信号相位之间的关系。

频率特性的测量通常通过以下步骤进行:1. 使用正弦信号发生器产生不同频率的正弦信号。

2. 将信号输入被测系统,并测量输出信号的幅度和相位。

3. 根据测量数据绘制幅频特性和相频特性曲线。

三、实验设备1. 正弦信号发生器2. 示波器3. 信号分析仪4. 被测系统(如电路、控制系统等)四、实验步骤1. 准备实验设备,确保各设备连接正确。

2. 设置正弦信号发生器,产生一系列不同频率的正弦信号。

3. 将正弦信号输入被测系统,并使用示波器或信号分析仪测量输出信号的幅度和相位。

4. 记录不同频率下的幅度和相位数据。

5. 使用绘图软件绘制幅频特性和相频特性曲线。

五、实验结果与分析1. 幅频特性分析通过绘制幅频特性曲线,可以观察到系统对不同频率信号的衰减程度。

一般来说,低频信号的衰减较小,高频信号的衰减较大。

根据幅频特性,可以判断系统的带宽和稳定性。

2. 相频特性分析通过绘制相频特性曲线,可以观察到系统对不同频率信号的相位延迟。

相频特性曲线通常呈现出滞后或超前特性。

根据相频特性,可以判断系统的相位裕度和增益裕度。

3. 系统稳定性分析根据幅频特性和相频特性,可以判断系统的稳定性。

如果系统的相位裕度和增益裕度都大于零,则系统是稳定的。

否则,系统可能是不稳定的。

六、实验结论通过本次实验,我们成功地测量了被测系统的频率特性,并分析了其幅频特性和相频特性。

实验结果表明,被测系统在低频段表现出较小的衰减,而在高频段表现出较大的衰减。

相频特性曲线显示出系统在低频段滞后,在高频段超前。

根据频率特性分析,可以得出被测系统是稳定的。

频率特性测试_实验报告

频率特性测试_实验报告

频率特性测试_实验报告
实验名称:频率特性测试
实验目的:
1. 掌握频率特性测试的原理和方法。

2. 学习使用示波器进行频率特性测试。

3. 了解放大器的频率响应特性。

实验器材:
1. 示波器
2. 双极性电容
3. 电阻器
4. 信号发生器
5. 放大器
实验原理:
频率特性测试一般用于测试电路、放大器和滤波器等的频率响应特性。

在示波器的帮助下,我们可以通过使用信号发生器生成一个带有不同频率的正弦波进行测试,在不同的频率下测量放大器输出的电压,这样就可以分析出放大器的频率响应特性。

实验步骤:
1. 将信号发生器连接到放大器的输入端,将放大器的输出端连
接到示波器的通道1输入端。

2. 在信号发生器上设置正弦波频率为多个不同的值,例如
100Hz、1kHz、10kHz。

3. 在示波器上设置通道1为AC耦合并调整垂直调节和水平调节,使正弦波信号在屏幕上呈现符合要求的波形。

4. 记录示波器上显示的放大器输出电压,并将记录的数值制成表格,便于后续分析。

实验结果分析:
通过实验数据,我们可以绘制出放大器的幅频响应曲线,以表现放大器在不同频率下的增益特性。

在典型的幅频响应曲线中,我们会发现放大器的增益在低频时趋于平稳,在中频时达到峰值,在高频时进行了急剧的下降。

实验结论:
频率特性测试是一项非常常见的测试方法,适用于测试放大器、滤波器和其它电路的频率响应特性。

通过本次实验,我们学习了使用示波器进行频率特性测试的方法和技巧,掌握了测试和分析放大器幅频响应曲线的能力,为后续电路设计和优化提供了有力的支持。

频率特性实验报告

频率特性实验报告

频率特性实验报告频率特性实验报告引言:频率特性是描述信号在不同频率下的响应性能的重要指标。

在电子领域中,频率特性实验是非常常见的实验之一。

本文将介绍频率特性实验的目的、实验原理、实验步骤以及实验结果的分析。

一、实验目的:频率特性实验的目的是研究电路或系统在不同频率下的响应特性,了解信号在不同频率下的传输和滤波性能。

通过实验,可以掌握频率特性的测试方法和实验技巧,提高实验操作能力和数据处理能力。

二、实验原理:频率特性实验通常涉及到信号的输入和输出,以及信号的幅度和相位响应。

在实验中,常用的测试仪器有函数发生器、示波器和频谱分析仪。

1. 函数发生器:用于产生不同频率的信号作为输入信号。

可以调节函数发生器的频率、幅度和波形等参数。

2. 示波器:用于观测电路或系统的输入和输出信号波形。

示波器可以显示信号的幅度、相位和频率等信息。

3. 频谱分析仪:用于分析信号的频谱成分。

频谱分析仪可以显示信号在不同频率下的幅度谱和相位谱。

实验步骤:1. 准备实验所需的仪器和器材,包括函数发生器、示波器和频谱分析仪。

2. 连接电路或系统,将函数发生器的输出信号连接到被测电路或系统的输入端,将示波器或频谱分析仪连接到电路或系统的输出端。

3. 设置函数发生器的频率和幅度,选择适当的波形。

4. 调节示波器或频谱分析仪的参数,观测信号的波形和频谱。

5. 重复步骤3和步骤4,改变函数发生器的频率,记录不同频率下的信号波形和频谱。

实验结果分析:根据实验记录的信号波形和频谱数据,可以进行以下分析:1. 幅度响应:通过观察信号的幅度谱,可以了解电路或系统在不同频率下信号的衰减或增益情况。

如果幅度谱在不同频率下保持不变,则说明电路或系统具有平坦的幅度响应特性。

如果幅度谱在某些频率点出现峰值或谷值,则说明电路或系统对该频率具有增益或衰减。

2. 相位响应:通过观察信号的相位谱,可以了解电路或系统在不同频率下信号的相位变化情况。

相位谱可以显示信号的相位延迟或提前。

频率特性法实验报告

频率特性法实验报告

一、实验目的1. 了解频率特性法的基本原理和测试方法。

2. 掌握用频率特性法分析系统性能的方法。

3. 熟悉实验仪器和实验步骤。

二、实验原理频率特性法是控制系统分析和设计的重要方法之一。

它通过研究系统在正弦信号作用下的稳态响应,来分析系统的动态性能和稳态性能。

频率特性主要包括幅频特性和相频特性,它们分别反映了系统在正弦信号作用下的幅值和相位变化规律。

三、实验仪器与设备1. 微型计算机2. 自动控制实验教学系统软件3. 超低频信号发生器4. 示波器5. 信号调理器6. 被测系统(如二阶系统、三阶系统等)四、实验内容与步骤1. 实验内容(1)测量被测系统的幅频特性(2)测量被测系统的相频特性(3)绘制幅频特性曲线和相频特性曲线(4)分析系统性能2. 实验步骤(1)连接实验电路,确保各设备正常工作。

(2)使用超低频信号发生器产生正弦信号,频率范围可根据被测系统特性选择。

(3)将信号发生器的输出信号送入被测系统,同时将信号发生器和被测系统的输出信号送入示波器。

(4)调整信号发生器的频率,记录不同频率下被测系统的输出幅值和相位。

(5)将实验数据输入计算机,利用自动控制实验教学系统软件进行数据处理和绘图。

(6)分析系统性能,包括系统稳定性、动态性能和稳态性能。

五、实验结果与分析1. 幅频特性曲线根据实验数据,绘制被测系统的幅频特性曲线。

从曲线中可以看出,随着频率的增加,系统的幅值逐渐减小,并在一定频率范围内出现峰值。

峰值频率对应系统的谐振频率,峰值幅度对应系统的谐振增益。

2. 相频特性曲线根据实验数据,绘制被测系统的相频特性曲线。

从曲线中可以看出,随着频率的增加,系统的相位逐渐变化,并在一定频率范围内出现相位滞后或相位超前。

3. 系统性能分析根据幅频特性和相频特性曲线,可以分析被测系统的性能。

(1)稳定性分析:通过分析相频特性曲线,可以判断系统是否稳定。

如果系统在所有频率范围内都满足相位裕度和幅值裕度要求,则系统稳定。

频率特性实验报告心得

频率特性实验报告心得

一、实验背景随着科学技术的不断发展,电子设备在各个领域的应用越来越广泛。

频率特性作为电子设备的重要性能指标之一,对于设备的设计、调试和维护具有重要意义。

为了深入了解频率特性,我们开展了频率特性实验,通过实验验证理论知识,提高实践操作能力。

二、实验目的1. 理解频率特性的基本概念和原理;2. 掌握频率特性的测试方法;3. 分析频率特性对电子设备性能的影响;4. 培养实际操作能力,提高综合素质。

三、实验原理频率特性是指电子设备对输入信号的频率响应能力。

频率特性通常用幅频特性、相频特性和群延迟特性来描述。

幅频特性表示设备在不同频率下输出信号的幅度变化;相频特性表示设备在不同频率下输出信号的相位变化;群延迟特性表示设备在不同频率下输出信号的延迟时间。

四、实验过程1. 实验准备:首先,了解实验原理和仪器设备,熟悉实验步骤和注意事项。

实验仪器包括信号发生器、示波器、频谱分析仪等。

2. 实验步骤:(1)搭建实验电路,连接信号发生器、示波器和频谱分析仪;(2)调整信号发生器,输出不同频率的正弦波信号;(3)观察示波器显示的输出信号,记录幅度、相位和延迟时间;(4)利用频谱分析仪分析输出信号的频谱,得到幅频特性和相频特性;(5)重复步骤(2)至(4),获取不同频率下的频率特性数据。

3. 数据处理与分析:将实验数据整理成表格,绘制幅频特性曲线、相频特性曲线和群延迟特性曲线。

分析曲线特点,判断频率特性对电子设备性能的影响。

五、实验结果与分析1. 幅频特性曲线:在实验中,我们发现随着频率的增加,输出信号的幅度逐渐减小。

这说明该电子设备在高频段性能较差,可能存在信号衰减现象。

2. 相频特性曲线:实验结果显示,随着频率的增加,输出信号的相位逐渐滞后。

这表明该电子设备在处理高频信号时,存在相位延迟现象。

3. 群延迟特性曲线:从实验数据可以看出,随着频率的增加,输出信号的群延迟逐渐增大。

这说明该电子设备在高频段存在明显的群延迟现象。

频率特性的测试实验报告

频率特性的测试实验报告

频率特性的测试实验报告频率特性的测试实验报告摘要:频率特性是描述系统对不同频率信号的响应能力的重要参数。

本实验旨在通过测试不同频率下的信号输入和输出,分析系统的频率特性。

实验结果表明,系统在不同频率下的响应存在一定的差异,频率特性测试可以有效评估系统的性能。

引言:频率特性是衡量系统对不同频率信号的响应能力的重要指标,对于各种电子设备和通信系统的设计和性能评估具有重要意义。

频率特性测试可以帮助我们了解系统在不同频率下的工作情况,为系统优化和故障排除提供依据。

实验方法:1. 实验器材准备:使用函数发生器作为信号源,连接到待测试系统的输入端;使用示波器连接到待测试系统的输出端,用于观测信号响应。

2. 实验参数设置:选择一系列不同频率的信号作为输入信号,设置函数发生器的频率范围和幅度。

3. 实验过程:逐一调节函数发生器的频率,观察示波器上输出信号的变化,并记录下输入信号和输出信号的幅度、相位差等参数。

4. 实验数据处理:根据记录的数据,绘制频率特性曲线,分析系统在不同频率下的响应情况。

实验结果:通过实验测试,我们得到了系统在不同频率下的响应数据,并绘制了频率特性曲线。

以下是实验结果的总结:1. 幅频特性:我们观察到系统在低频时具有较高的增益,随着频率的增加,增益逐渐下降。

在高频范围内,增益趋于平缓或下降较快,这可能是由于系统的带宽限制所致。

2. 相频特性:我们发现系统在不同频率下的相位差存在一定的变化。

在低频时,相位差较小,随着频率的增加,相位差逐渐增大。

这可能是由于系统的传递函数导致的相位延迟效应。

3. 频率响应范围:通过绘制频率特性曲线,我们可以确定系统的频率响应范围。

在曲线上观察到的3dB降低点可以作为系统的截止频率,超过该频率的信号将受到较大的衰减。

讨论与分析:频率特性测试结果对于系统的性能评估和优化具有重要意义。

通过分析实验结果,我们可以得出以下结论和建议:1. 频率特性的变化可能是由于系统中的电容、电感等元件的频率响应特性导致的。

频率特性测试仪(完整版)

频率特性测试仪(完整版)

频率特性测试仪摘要:本实验以DDS芯片AD9851为信号发生器,以单片机MSP430F449为核心控制芯片,以FPGA为辅助,加之于外围电路来实现幅频及相频的检测。

系统由6信模块组成:正弦扫频信号模块,待测阻容双T 网络模块,整形模块,幅值检测模块,相位检测模块,及显示模块。

先以单片机送给AD9851控制字产生100HZ—100KHZ的扫频信号,经过阻容双T网络检测电路,一路信号通过真有效值AD637JP对有效值进行采集后进入单片机进行幅值转换,另一路信号由整形电路整形后进入FPGA进行相位检测及频率检测,最后由LCD显示输出,最终来完成幅频及相频的简单测试。

关键字:AD9851、 MSP430F449 、FPGA 、阻容双T网络、AD637 LM311比较器、液晶12864目录一、方案方案论证与选择 (3)1. 扫描信号产生方案 (3)1.1 数字直接频率合成技术(DDFS) (3)1.2 程控锁相环频率合成 (3)1.3 数字频率发生器(DDS)AD9851产生 (3)2.相位检测方案 (4)2.1 A/D采样查找最值法 (4)2.2 FPGA鉴相法 (4)3. 幅值检测方案 (5)3.1 峰值检波法 (5)3.2 真有效值芯片AD637检测法 (6)二、系统总体设计文案及实现方框图 (7)三、双T网络的原理分析及计算 (7)1、双T网络的原理 (7)2、双T网络的设计 (9)四、主要功能模块电路设计 (11)1、AD9851正弦信号发生器 (11)2、减法电路及射极跟随器 (12)3 整形电路 (13)4 真有效值检测 (13)五、系统软件设计 (14)六、测试数据与分析 (15)七、总结分析与结论 (17)参考文献: (17)附录: (17)一、方案方案论证与选择1. 扫描信号产生方案1.1 数字直接频率合成技术(DDFS)方案一:采用数字直接频率合成技术(DDFS)。

以单片机和FPGA为控制核心,利用FPGA中的N位地址存储相应的正弦表值,通过改变频率控制字K,寻址相位累加器的波形存储器的数据,以产生所需频率的正弦信号f out=f in *K/2N。

简易频率特性测试仪 陈硕组报告

简易频率特性测试仪 陈硕组报告

简易频率特性测试仪摘要:本系统以MSP430单片机为核心,由DDS 频率合成器及其调理电路 、RLC 被测网络、高速乘法器、低通滤波、高精度ADC 及显示电路等构成。

高速DDS 频率合成器AD9854产生两路正交信号,其中一路通过RLC 谐振网络,其输出的信号与原始两路正交信号分别通过乘法器形成两路带有直流分量的混频信号,通过低通滤波提取出该直流信号进入数模转换器,根据公式AMP=22B A +和Ang=)(tan 1B A -即可得出原始信号通过谐振网络后得到的幅度与相位值,通过扫频测试即可得到幅频与相频曲线。

经测试,本设计满足题目所有基础部分和部分发挥部分要求。

关键字:DDS 、待测网络、高速乘法器、MSP430f169一、系统方案1、总体方案设计本系统设计由DDS 频率合成器AD9854实现两路正交信号的产生,其中一路信号经过被测网络产生待测信号,待测信号与原始的两路正交信号都通过比较器形成方波,再将该待测信号与原始正交信号通过锁相放大电路产生两路带有直流分量的待测信号信号,经过低通滤波形成纯正直流信号后根据AMP=22B A +得到幅度,Ang=)(tan 1B A-得到相角。

系统框图:AD8954信号合成器被测RLC 网络AD835乘法器AD835乘法器OPA227构成的有源低通滤波OPA227构成的有源低通滤波AD1115数模转换器AD1115数模转换器测试显示网络MSP430单片机图1-1 系统框图2、DDS 方案的论证与选择方案一:模拟器件实现。

采用AD 公司AD9854高速DDS 模拟器件,通过单片机编程,写入频率控制字和相位控制器,实现不同频率相位的波形输出。

方案二:线上可编程逻辑器件构成。

通过FPGA ,构建内部DDS 模块 ,编程控制频率及通过DA 输出产生相应的波形。

方案一通过单片机控制,程序简单,AD9854内部时钟速率最高为300MHz ,且该芯片输出误差及输出失调都较小,完全可以满足题目要求。

2013年E题简易频率特性测试仪获奖报告(国一).

2013年E题简易频率特性测试仪获奖报告(国一).

简易频率特性测试仪(E题)摘要本系统是基于零中频正交解调原理的简易频率特性测试仪,用于检测被测网络的幅频特性和相频特性。

该系统主要包括DDS集成模块,RLC串联谐振电路,乘法器电路,低通滤波器,同相放大器和测量显示模块,其中RLC串联谐振电路作为被测网络。

本系统以DDS集成模块为核心,将其产生的正交扫频信号通过被测网络后,经乘法器得到高频信号;这两个信号经过低通滤波、同相放大后得到符合要求的I、Q直流分量;最后通过单片机进行ADC采样、数据处理和液晶显示,得到被测网络的幅频特性和相频特性。

本系统在算法上的创新之处是,在测量之初,采用短接被测网络即内测校准的方法减小了系统误差。

经最终测试,本系统能很好地完成被测网络的频率特性测试。

1 系统方案1.1 方案比较与选择1.1.1扫频信号源方案一:采用锁相环间接频率合成方案。

锁相环频率合成在一定程度上解决了既要求频率稳定精确、又要求频率在较大范围可调的矛盾。

但输出频率易受可变频率范围的影响,输出频率相对较窄,不能满足题目1MHz-40MHz的高频要求。

方案二:采用直接数字频率合成(DDS)方案。

DDS技术具有输出频率相对较宽,频率转换时间短,频率分辨率高,全数字化结构便于集成,以及相关波形参数(频率、相位、幅度)均可实现程控的优点。

采用集成芯片AD9854或FPGA可实现题目对扫频信号源的要求。

因此选用方案二。

1.1.2控制平台方案一:采用FPGA或CPLD进行控制。

利用FPGA可以方便地实现DDS信号源,但在液晶屏上显示幅频特性曲线和相频特性曲线较为困难,且FPGA成本较高。

方案二:采用C8051F020单片机进行控制。

C8051F020与8051兼容,速度可达25MIPS;它内部有两路ADC,速度分别为100ksps(12位)和500ksps(8位);它具有4352字节内部数据RAM,64K字节的FLASH存储器,支持在线编程。

若选用C8051F020作为扫频仪的控制单元,用其实现产生扫频信号、进行数据采集、处理以及波形显示的功能,能够满足题目要求,且其性价比高。

频率特性测试仪设计与总结报告(国赛一等奖)

频率特性测试仪设计与总结报告(国赛一等奖)

频率特性测试仪设计与总结报告(国赛一等奖) 频率特性测试仪设计与总结报告(国赛一等奖)频率特性测试仪设计与总结报告作者:仇飞、徐川川、王雅灏摘要:本设计以ARM红牛开发板作为整个系统的控制核心,通过软件产生频率线性变化的正弦波,并将其提供给被测网络测试。

变化前后正弦波使用软件测试,并计算其幅频特性和相频特性。

使用阻容双T网络制作被测网络。

关键词:ARM开发板、阻容双T网络、加法器。

一、方案论证与选择总体方案设计:根据题目要求,频率特性测试仪的功能是能够将输出可调正弦波给被测电路,并测量经过测量电路后正弦波的变化,从而得出幅频特性和相频特性。

①方案一:信号源采用RC正弦波振荡电路产生信号。

用R、C元件组成选频网络的振荡电路为RC正弦波振荡电路,该电路适于产生1Hz~1MHz范围内的低频信号。

振荡频率由R、C值决定。

需要改善输出电压幅度的稳定问题,在放大电路的负反馈回路里采用非线性元件来自动调整反馈的强弱来维持输出电压恒定。

所需信号源为频率连续变化信号,因此要随时改变R、C 值进而改变输出信号频率。

将产生的信号送至被测网络,变化后的信号和变化前信号同时送至集成有效值转换芯片AD637计算其有效值,经过A/D转换后,再使用模拟除法器得到其幅频特性。

该方案电路结构简单造价低,不需软件调试。

但对于测量相频特性较为困难。

原理框图如图一所示。

②方案二:使用DDS芯片AD9834产生正弦波信号,产生正弦波频率最高可到25MHz。

AD9834是由28位的相位累加器、正弦只读存储器和一个10位的DA构成的数字控制式振荡器。

利用直接数字合成技术,和AD9834内部的两个频率寄存器、FSK技术可以实现单周期内的频率切换,以及占空比调节的实现。

通过外部引脚控制或控制字控制频率寄存器和相位寄存器调节输出,可以改变输出波形种类。

原理图如下。

图一:方案一原理框图图二:方案二原理框图③方案三:使用ARM通过软件编程产生连续正弦波且频率在100Hz到100KHz内连续变化。

频率特性的测量实验报告记录

频率特性的测量实验报告记录

频率特性的测量实验报告记录作者:日期: 2课程名称: 实验名称: 一、实验目的和要求(必填) 三、主要仪器设备(必填) 五、实验数据记录和处理 七、讨论、心得 控制理论乙 频率特性的测量指导老师: __________________ 成绩: _______实验类型: __________________ 同组学生姓名: 二、实验内容和原理(必填) 四、操作方法和实验步骤 六、实验结果与分析(必填) 一、 实验目的和要求 1掌握用李沙育图形法,测量各典型环节的频率特性; 2.根据所测得的频率特性,作出伯德图,据此求得环节的传递函数。

二、 实验内容和原理 1.实验内容(1) R-C 网络的频率特性。

图 5-2为滞后--超前校正网络的接线图,分别测试其幅频特性和相频特性。

IDE Ur Uc C3O.lu(2)闭环频率特性的测试被测的二阶系统如图 5-3所示,图5-4为它的模拟电路图。

作者:取参考值R o 51K,R,接470K的电位器,R2 510K , R3 200K2.实验原理对于稳定的线性定常系统或环节,当其输入端加入一正弦信号X(t) X m Sin t,它的稳态输出是4()。

不断改变x(t)的频率,就可测得被测环节(系统)的幅频特性和相频特性。

本实验采用李沙育图形法,图5-1为测试的方框图倍号址生辭在表(1)中列出了超前于滞后时相位的计算公式和光点的转向。

表中2丫0为椭圆与丫轴交点之间的长度,2X 0为椭圆与X 轴交点之间的距离,X m 和Y m 分别为X(t)和与输入信号同频率的正弦信号, 但其幅值和相位随着输入信号频率 的改变而改变。

输出信号为丫(t) Y m Sin(G(j )sin(t )其中|G(j )Y m X m()argG(j )只要改变输入信号的频率, 就可以测得输出信号与输入信号的幅值比G(j )1和它们的相位差彳被测坏节Y(t)的幅值。

三、主要仪器设备1.控制理论电子模拟实验箱一台;2.慢扫描示波器一台;3.任意函数信号发生器一台;4.万用表一只。

11.频率特性测试仪实验报告

11.频率特性测试仪实验报告

频率特性测试仪实验报告实验目的:1、了解频率特性测试仪的工作原理2、学会设计一个双T被测网络,并且能够达到所给要求3、了解频率特性测试仪设计的整体系统设计,以及各子系统设计的方案思路4、掌握频率特性测试仪的信号源产生方法,并能够设计DDS信号源电路5、掌握频率测试仪的检波显示原理并能够设计一个符合要求的峰值检波器。

实验原理:频率测试仪就是一个扫频仪,它体现的是输出电压随频率变化的关系。

它是根据扫频法的测量原理设计而成的,就是将扫频信号源和示波器的X-Y显示功能结合在一起,用示波管直接显示被测二端网络的频率特性曲线,是描绘网络传递函数的仪器。

频率特性测试仪组成框图扫频仪有一个输出端口和一个输入端口:输出端口输出等幅扫频信号,作为被测网络的输入测试信号;输入端口接收被测网络经检波后的输出信号。

可见,在测试时频率特性测试仪与被测网络构成了闭合回路。

一个频率测试仪应该有三个部分组成:信号源、被测网络和检波及显示部分。

扫频信号源:频率由低到高或由高到低变化的正弦波振荡源,称为扫频。

频率的变化可以是连续的,也可以是步进式的。

扫频信号的幅度、扫频的频率变化范围可以方便地控制。

扫频的速度与测量仪的其他部分的工作同步。

扫频信号源在扫频过程中,通过采用ALC(自动电平控制)技术使幅度保持一致(可视为恒等于1),这样,可省去对输入激励信号的幅度测量和求输出输入幅度比值的运算。

信号源的产生方法有多种,按需要可做成点频(连续波CW),频率自动步进(STEP),频率连续变化(扫频SWEEP)等形式。

采用锯齿波电压作为压控扫频振荡器(VCO)的控制量,同时用作显示的X 轴扫描电压以达到扫频和曲线显示的同步。

标量网络分析仪只作幅频测量,而矢量网络分析仪还作相频特性测量。

网络分析仪对信号源的质量要求比扫频仪高,通常采用频率合成器作为扫描源,合成器的频率由数字量控制。

常见的扫频信号产生方法:压控振荡(VCO ),函数发生器、锁相环(PLL :Phase Lock Loop )频率合成器、直接数字频率合成或直接数字合成(DDFS ,或DDS )和PLL+DDS本题属低频测试系统,DDS 信号源和8038芯片制作的VCO 信号源(反馈稳频或PLL )都可以采用。

频率特性测试实验报告

频率特性测试实验报告

频率特性测试实验报告频率特性测试实验报告摘要:本实验旨在通过频率特性测试,研究和分析不同电路元件和电子设备在不同频率下的响应特性。

通过实验数据的收集和处理,我们可以了解电路的频率响应、频率特性以及其在不同频率下的性能表现。

实验结果显示,在不同频率下,电路元件和电子设备的频率响应存在差异,这对于电路设计和信号处理具有重要意义。

引言:频率特性是指电路或电子设备在不同频率下的响应能力。

了解电路在不同频率下的性能表现,对于电路设计、信号处理和通信系统的优化具有重要意义。

通过频率特性测试,我们可以分析电路的频率响应、幅频特性和相频特性,从而更好地了解电路的工作原理和性能。

实验方法:1. 实验仪器和设备:本实验使用了函数发生器、示波器、电阻、电容、电感等实验仪器和设备。

2. 实验步骤:(1)连接电路:根据实验要求,连接电路并确保电路连接正确。

(2)设置函数发生器:根据实验要求,设置函数发生器的频率和幅度。

(3)测量电压和相位:使用示波器测量电路中的电压和相位差。

(4)记录实验数据:根据实验要求,记录不同频率下的电压和相位差数据。

(5)数据处理:根据实验数据,绘制幅频特性曲线和相频特性曲线,分析电路的频率响应特性。

实验结果与分析:通过实验数据的收集和处理,我们得到了电路在不同频率下的电压和相位差数据,并绘制了幅频特性曲线和相频特性曲线。

实验结果显示,在低频率下,电路的幅频特性较为平缓,而在高频率下,幅频特性逐渐下降。

相位差随频率的变化呈现出一定的规律,这与电路元件的特性有关。

通过对实验结果的分析,我们可以进一步了解电路的频率响应特性。

实验应用:频率特性测试在电路设计、信号处理和通信系统中具有广泛的应用。

通过了解电路在不同频率下的响应特性,我们可以优化电路设计,提高信号处理的效果,以及改进通信系统的性能。

例如,在音频放大器设计中,对于不同频率的音频信号,需要了解放大器的频率响应特性,以保证音频信号的传输质量。

另外,在无线通信系统中,了解天线的频率特性,可以优化天线设计,提高信号的传输距离和稳定性。

频率特性的测量实验报告

频率特性的测量实验报告

频率特性的测量实验报告一、实验目的频率特性是系统在正弦输入信号作用下,稳态输出与输入的幅值比和相位差随频率变化的关系。

本次实验的目的是通过测量系统的频率特性,深入理解系统的性能和特性,掌握频率特性的测量方法和数据分析处理技巧。

二、实验原理1、频率特性的定义系统的频率特性可以表示为幅频特性和相频特性。

幅频特性是输出信号与输入信号的幅值比随频率的变化关系,相频特性是输出信号与输入信号的相位差随频率的变化关系。

2、测量方法本次实验采用扫频法测量系统的频率特性。

扫频法是通过改变输入正弦信号的频率,同时测量输出信号的幅值和相位,从而得到系统的频率特性。

三、实验设备1、信号发生器用于产生不同频率的正弦输入信号。

2、示波器用于测量输入和输出信号的幅值和相位。

3、被测系统本次实验中的被测系统为一个无源 RC 网络。

四、实验步骤1、按照实验电路图连接好实验设备,确保连接正确无误。

2、打开信号发生器,设置起始频率、终止频率和频率步长,产生扫频正弦信号。

3、在示波器上同时观察输入和输出信号的波形,调整示波器的参数,使波形清晰稳定。

4、测量不同频率下输出信号的幅值和相位,并记录下来。

5、改变输入信号的频率,重复步骤 4,直到完成整个频率范围内的测量。

五、实验数据及处理以下是本次实验测量得到的数据:|频率(Hz)|幅值比|相位差(度)||||||100|0707|-45||200|05|-634||300|0316|-716||400|0224|-760||500|0177|-787||600|0141|-813||700|0114|-832||800|0093|-848||900|0077|-861||1000|0064|-871|根据实验数据,绘制幅频特性曲线和相频特性曲线:1、幅频特性曲线以频率为横坐标,幅值比为纵坐标,绘制幅频特性曲线。

从曲线中可以看出,随着频率的增加,幅值比逐渐减小,表明系统对高频信号的衰减作用增强。

频率特性的测量实验报告

频率特性的测量实验报告

频率特性的测量实验报告频率特性的测量实验报告引言:频率特性是电子设备和电路的重要性能指标之一,对于信号的传输、滤波、放大等应用起到关键作用。

本实验旨在通过实际测量,探究不同电路元件和电子设备在不同频率下的响应特性,以便更好地理解和应用频率特性。

实验一:RC电路的频率特性在本实验中,我们选择了一个简单的RC电路作为研究对象。

首先,我们使用函数发生器产生不同频率的正弦信号作为输入信号,然后通过示波器测量电路中的电压响应。

实验结果显示,当频率较低时,电路对输入信号的响应较强,但随着频率的增加,电路的响应逐渐减弱。

通过测量得到的幅频响应曲线,我们可以清晰地观察到截止频率的存在,这个频率点上电路的响应下降到-3dB。

实验二:LC电路的频率特性接下来,我们将研究LC电路的频率特性。

通过改变电感和电容的数值,我们可以调整电路的共振频率。

在实验中,我们使用函数发生器产生一系列频率的正弦信号,并测量电路中的电压响应。

实验结果表明,当输入信号的频率等于电路的共振频率时,电路的响应达到最大值。

而在共振频率附近,电路的响应曲线呈现出明显的谐振特性。

此外,我们还观察到在共振频率之上和之下,电路的响应逐渐减弱。

实验三:放大器的频率特性在实际应用中,放大器是非常常见的电子设备。

我们选择了一个简单的放大器电路,通过测量其频率特性,来了解放大器对不同频率信号的放大效果。

实验中,我们使用函数发生器产生一系列频率的正弦信号,并将其输入到放大器电路中。

通过测量输出信号的幅度和相位,我们可以绘制出放大器的幅频响应和相频响应曲线。

实验结果显示,放大器对不同频率的信号具有不同的放大倍数和相位延迟。

在特定频率范围内,放大器的增益较为稳定,而在截止频率附近,放大器的增益开始下降。

结论:通过本次实验,我们深入了解了不同电路元件和电子设备在不同频率下的响应特性。

我们发现,随着频率的增加,电路的响应会发生明显的变化,这对于电子设备的设计和应用具有重要意义。

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功能改变

图 7 主程序流程图
四、测试方案与测试结果 1.测试仪器
(1)RIGOL DS1104 示波器 (2)RIGOL DG1062 信号发生器 (3)RIGOL DP832 直流电源 (4)VICTOR VC890C+ 数字万用表
6
2.测试方法
(1)正交扫频信号源测量 DDS 产生两路正交信号,输入示波器,即可显示相应波形,频率,幅度,相 位等信息,改变频率观察幅度变换。设定信号源的扫频范围与步进,用示波器测 量扫频信号,记录实验结果。 (2)发挥部分测量 设定信号输出频率,用示波器测量两路信号幅值与相位,记录实验结果。单 独测试 RLC 网络,把其接入信号源,设置负载 50Ω ,扫频模式,观察中心频率 及品质因数。记录实验结果。
Q
2
跟随器 Ths3001 放大器 放大8倍 跟随器 Ths3001 放大器 放大8倍 跟随器 RLC网络 AD835 乘法器 OPA2320 8阶低通 滤波器 直流 放大器 ADC AD835 乘法器 OPA2320 8阶低通 滤波器 直流 放大器 ADC
I STM32 单片机 显示屏 显示特 性曲线
三、电路与程序设计 1.DDS 模块设计
下图 2 为 AD9854 外围电路。69 号参考时钟引脚接 30MHz 有源晶振,通过程 序设置倍频 6 倍,使系统时钟达到 180MHz。AD9854 产生两路正交信号,两路输 出连接电阻均采用 49.9Ω ,后接截止频率 120MHz 七阶滤波器滤除噪声。其他引 脚参考 AD9854 手册经典电路进行连接。为满足幅值要求,我们采用 Ths3001 芯 片制作如下图 3 所示同向放大器,使输出信号经过放大器峰峰值可放大 4 倍。
图 2 AD9854 设计电路
4
图 3 Ths3001 放大器设计电路
2.乘法器模块设计
如下图 4 所示,乘法器我们采用 AD835 芯片进行制作,其带宽 250MHz 远远 满足 40MHz 的题目要求,其中四个引脚 X1、X2 和 Y1、Y2 我们只用到 X1、Y1, X2 与 Y2 直接接地。 根据其基本传递函数 W=XY+Z 即可实现乘法功能,Z 脚连接电 位器进行偏置调节。
通过结果可看出低频时基本满足所有设计基本要求, 但频率较高时相位出现 偏移,相位误差无法达到要求。由(U2-U1)/U1×100%可看出幅度也无法达到幅 度误差要求。整体波形在高频处略有偏移。 (2)发挥部分测试结果:
表 2 发挥部分测试结果表 频率/Hz 幅度/dB 相位/° 1M -9.9 89 5M -10 81 10M -10 59 15M -4.4 25 20M 0 -35 25M -1.1 -46 30M -3.3 -53 35M -4.4 -56 40M -5.5 -58
五、总结
本次设计采用 AD9854 设计制作 DDS 进行 1M-40M 步进 100kHz 扫频,内置两 路 DAC 产生两路正交信号,经过放大器放大后,其中一路通过待测 RLC 网络,分 成两路待测信号, 分别与原正余弦信号通过 AD835 乘法器相乘,后两路信号通过 opa2320 低通滤波器滤出直流分量,经过放大后送入 AD,结果由 MCU 处理。
3
以采用此 ADC 进行设计使用。
4.被测网络 RLC 分析与计算
本测试网络为 LC 串联谐振回路,LC 部分相当于短路。因为Av = 20lg 1 0 =
u 2 s u
20lg R +R i +R ≥ −1dB,可计算得 R≤ 12.2018Ω,通过仿真定 R=3.6Ω 。中心频率fo
i 0
2R
为 20MHz,由f0 = 2π
1
与Q = LC
w0L R
=
2π f 0 L R
=R
1
L C
= 4可得 L=3.3uH,C=18pF.最后
实际制作定得 R=3.6Ω ,L=3.3uH,C=27pF。
5.特性曲线显示分析
频率范围 1M-40MHz,步进 100kHz,则有 390 个点。我们采用 320*240 分辨 率的彩屏来显示幅频与相位。整个显示图像根据测量结果转化为对应的点从+90° 到-90°变化显示。具体参数包括模式、频率、幅度、相位、中心频率、带宽会 在图像侧边显示。 参数具体计算是根据幅频响应与相频响应模拟分析转换为数学 分析通过单片机计算得到并在屏幕上进行显示。
4 总体方案设计:
根据如下系统总体框图可看出本系统通过直接数字合成器 AD9854 产生两路 正交信号,经过放大器放大。后因输出时进行了阻抗匹配,所以接两倍跟随器以 保证相位一致。跟随器输出信号通过待测 RLC 网络,再与乘法器 AD835 相乘,后 通过低通滤波器滤出直流分量,经过放大后送入 AD,由 I2 + Q2 可得到幅度,同 时相角可由arctan⁡ ( I )得到,数据送入单片机进行处理。放大器采用 ths3001 放 大 8 倍,AD835 作为信号乘法器,opa2320 作为低通滤波器,op27 制作放大器。 整体电路采用 320*240 的屏幕分辨率,由 stm32 单片机进行驱动。整体电路采用 ±5V、+3.3V 供电。 以下是总体系统框图:
3.测试结果及分析
(1)正交扫频信号源测量结果:
表 1 DDS 信号源测量结果表 频率(Hz) CH1(V) CH2(V) 幅度平衡误差(%) 频率稳定度 相位差(°) 1M 1.48 1.51 2.02 10 89
−5
5M 1.50 1.49 0.67 10 90
−5
10M 1.51 1.50 0.62 10 90
21Βιβλιοθήκη 1x2y2−b
y2−b
B
4 x12 +x22 A2
A
2.滤波器分析与计算
本次滤波器的设计是需要输出一个带有直流分量的混频信号,设计采用的 Butterworth 型,其特点是是在通带中具有最平幅度,从通带衰减较慢。设一共 需扫描 N 个点,采取 5 倍采样频率则中心频率fc =
5N Tc
。由于本设计中扫频步进取
经计算,幅度误差在设计要求范围内,但相位达不到所需条件。 RLC 网络:实测 RLC 测试网络,中心频率 20.7MHz,带宽 14.5MHz,误差范围 内,中心频率到达要求,但是品质因数 1.42 未能达到 4 的要求。综上可以看出 高频时 DDS 输出波形出现问题,导致相位、幅度未能达到要求,从而影响后面串 联谐振电路相位也未能达到设计要求。
7
参考文献
[1] 程耕国,吴谨,陈华丽等.信号与系统—信号分析与处理.北京:机械工业出版社,2009. [2] 康华光,邹寿彬,秦臻.电子技术基础.北京:高等教育出版社,2013. [3] 姚剑清.运算放大器权威指南(第三版).北京邮电出版社,2010.
8
图 6 RLC 设计电路
5.软件模块设计
本系统采用 stm32 控制显示屏进行幅频与相频特性曲线的显示,利用 FPGA 接受来自 AD 传输的信息进行数据处理。整个系统初始化后进入功能选择界面通 过选择不同的模式进行不同频率选择,从而显示结果,整体流程如下图 7:
开始
初始化
功能选择
模式一
模式二
模式三
AD9854直接 数字合成器 产生双路正 交信号
Q
图 1 系统总体框图
二、理论分析与计算 1.系统整体分析
AD9854 产生两类正交信号 Acoswt 和 Asinwt。 信号通过通过被测网络输出信 号可表示为 Bcos(wt+φ )则经过乘法器相乘可得两路信号为: 1 X1 t = Acoswt ∗ Bcos wt + φ = AB cosφ + cos 2wt + φ 2 1 X2 t = Asinwt ∗ Bcos wt + φ = AB sinφ −sin 2wt + φ 2 后通过滤波器滤除高频分量得到 x1=2ABcos(φ )和 x2=-2ABsin(φ )后经过直 流偏置与放大后输出直流信号 y1=k∗x1+b,同理另一路输出 y2=k∗x2+b。经 ADC 采样后进入单片机。相频响应和幅频响应由输入的两路信号共同参与计算得到: 相频响应:φ ω = arctan − x1 = arctan − y1−b = arctan⁡ (b −y1) 幅频响应: H ω = 20log10 1 = 20log10
2.乘法器方案比较:
方案一:利用运放与比较器搭建乘法器电路,整体电路制作复杂,且很难达 到高频率的要求,所以不采用此方案。 方案二: 利用高速乘法器 AD835, 其特点是带宽可达 250MHz, 外围电路简单, 制作方便。可达到设计要求,所以决定采用此方案。
3.RLC 网络方案比较:
方案一:采用贴片电感进行制作,此方法电感精度有限,需要固定不停更换 电容以达到最佳品质因数,费时。所以不采用此方案。 方案二:采用绕线电感进行制作。此方法可以方便地更改电感值,从而快速 得到需要的中心频率与品质因数。相比方案一精度更高,更方便,因此采用此方 案。
100KHz , 1MHz f 40MHz ,所以 N=390 , Tc = 2s , 可取 fc 等于 1kHz 。利用 TI Filter 软件辅助设计,取截止频率 30Hz,反馈方式为多重反馈,可设计得 到八阶低通滤波器。
3.ADC 分析
本题要求频率范围在 1MHz f 40MHz ,测量误差绝对值≤0.5dB。扫频最 小步进为 100kHz,一次扫频时间≤2s。2s 内 1-40M、步进 100kHz,则数据的变化 率为 0.05s。考虑到 stm32 内置 ADC 可满足 2s 内 391 频点的设计要求,因此可
图 4 AD835 设计电路
3.滤波器模块设计
本次设计我们采用 opa2320 制作 8 阶滤波器,如下图 5 所示,滤波器选型为 butterworth 型,截止频率 30Hz,采用滤波器设计软件可设计得到。
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