光电信号的检测方法(莫尔拓扑图)
光电检测方法
光电检测方法2.1直接探测2.1.1基本物理过程直接探测是将待检测的光信号直接入射到光探测器的光敏面上,由光探测器将光信号直接转化为电流或电压,根据不同的要求,再经后续电路处理,最后获得有用的信号。
一般,光探测器前可采用光学天线,在其前端还可经过频率滤波和空间滤波处理。
这是为了进一步提高探测效率和减小杂散的背景光。
信号光场可表示为()cos S E t A t ω=,式中,A 是信号光电场振幅,ω是信号光的频率。
则其平均功率P 为(2.1.1)光探测器输出的光电流为(2.1.2)若光探测器的负载电阻为L R ,则光探测器输出的电功率为(2.1.3)光探测器输出的电功率正比于入射光功率的平方。
从而可知,光探测器对光的响应特性包含两层含意,其一是光电流正比于光场振幅的平方,即光的强度;其二是电输出功率正比于入射光功率的平方。
如果入射信号光为强度调制(TM )光,调制信号为()d t 。
从而得式中第一项为直流项,若光探测器输出有隔直流电容,则输出光电流只包含第二项,这就是直接探测的基本物理过程,需强调指出,探测器响应的是光场的包络,目前,尚无能直接响应光场频率的探测器。
2.1.2信噪比设入射到光探测器的信号光功率为S P,噪声功率为n P,光探测器输出的信号电功率为P S,输出的噪声功率为P N。
可得(2.1.5)根据噪声比的定义,则输出功率信噪比为(2.1.6)从上式可以看出I.若,则有(2.1.7)输出信噪比等于输入信噪比的平方。
由此可见,直接探测系统不适于输入信号比小于1或者微弱光信号的探测。
II.若,则输出信噪比等于输入信噪比的一半,即经光—电转换后信噪比损失了3dB ,在实际应用中还是可以接受的。
由此可见,直接探测方法不能改善输入信噪比。
如果考虑直接探测系统存在的所以噪声,则输出噪声总功率为(2.1.9)式中,222NS NB ND i i i ++分别为信号光,背景光和暗电流引起的散粒噪声。
光电检测ppt课件
2 丈量原理
2 丈量原理
直射式三角法:激光器发出的光垂直入射到被测物体外表 ,Scheimpflug 条件可表示为
待测外表与参考面的间隔x为
同理可计算出斜射式时x为
3 运用
1、逆向工程:
逆向工程是一种新的制造手段和系统,经过对已有样件或模型 的内外轮廓进展准确丈量,获得其三维数据,配合计算机软件系统 进展曲面重建,并在线精度分析、评价构造效果,重构CAD模型, 生成IGES或STL数据,或者生成数控加工NC代码,据此进展快速成 型或CNC数控加工,从而大大缩短产品或模具的开发制造周期。利 用光学三维丈量技术生成的虚拟模型可以实现快速呼应设计制造, 3D光学数字化系统与CAD/CAM/CAE以及RP&M集成可以构成基于 虚拟模型的快速呼应的设计和制造系统,主要优点包括:实践物体 的准确和完好的模型;提供原始CAD文件格式;曲面外型和参数实 体模型;在设计和制造中节省投入的时间和资金。
2 丈量原理
2、干涉法:
一束相关光,同过分光系统分成丈量光和参考光 ,利用丈量光波和参考光波的相关叠加来确定两束光 之间的相位差,从而获得物理外表的深度信息ΔZ(xy).
这种丈量方法丈量精度高,但丈量范围遭到光波 波长的限制,只能丈量围观外表的形貌和微小位移, 不适于宏观物体的检测。
2 丈量原理
被动三角法 数字摄影丈量技术
双目视觉
点光源法 点照明 1D线探测器 2D扫描
线光源法 线照明 2D线探测器 1D扫描
面光源法 面照明
2D线探测器 不需求扫描
莫尔轮廓 如:阴影莫尔
投射莫尔
序〔Gray 如:相位丈量轮廓术
〕
傅里叶变换轮廓术
编码序列
彩色编码技术 如:彩色多通道 编码实现相移
第8章 光电信号的最佳检测
非随机的系数矩阵, r为非随机矢量, W是与Z正交的零
均值随机矢量, 则有
ˆ ˆ ˆ E[( AX1 BX 2 r W ) | Z ] AE ( X 1 | Z ) BE ( X 2 | Z ) r
(8.1 - 31)
E[( AX1 BX 2 r W ) | Z ] AE ( X 1 | Z ) BE ( X 2 | Z ) W
作了k次独立测量, 为了尽可能消除噪声, 测量数据 应足够。 k次测量总的测量矢量为
第8章 光电信号的最佳检测
Z1 H1 V1 Z H V 2 2 X 2 (m×k维矢量) (8.1 - 36) Zk H k Vk
L[CZ(t)]=CL[Z(t)]
(8.1 - 2)
第8章 光电信号的最佳检测
X1 X X ( X 1 , X 2 , X n ) T 2 Xn x1 x x ( x1 , x2 , xn )T 2 xn
例 8 - 4 r与t的函数关系为r=A sin(ωt+φ), 现对(t,r)
作了k次观察得(t1, r1), (t2, r2), …, (tk, rk),求(A, ω, φ)的最 小二乘拟合。 解:
Q [ri A sin(ti )]2
i 1
k
Q Q Q 0, 0, 0 A
第8章 光电信号的最佳检测
一个好的估计应使蒙受的损失最小, 但损失函数是 随机变量, 应采用平均损失来衡量损失的大小。 引入
ˆ B( X ) E[L( X )] E[L( X X (Z ))]
把期望值具体写出来就是
第9章典型光电测试系统
4A L cos c
当光路平面垂直于转动ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ向时
4A L c
式中,c为光速,A为封闭光路包围的面积,为角速度矢量与面积A的法线 间的夹角,如图5-19所示。
M L / 2 Ω R CW Ω CCW A
n
9.1.5光谱型信号检测
光源 分光系统 检测 器件 (a) 光源 分光系统 检测 器件
试样
试样 (b) 图2-21 光谱检测的两种典型布局
运用吸收方法实现 光谱检测系统的两 种典型布局如图221(a)和(b)所 示,主要由四个组 成部分,即:光源, 固定或放置被检试 样的容器,分光系 统,检测器件及信 号处理 .
9.2 直接检测的基本原理
• 直接检测(非相干检测): 都是利用光源发射的 光强携带信息,直接把接受到的光强变化转换为 电信号的变化。
9.1光电信号检测种类
(c).遮挡式直接检测方法
光电探测器
(a) 辐射式 (b) 透射式
2 1 2 3 1 2 3
计数产品
1 2 3
1
光源
(c) 遮挡式
3
(d) 反射式
如图5-2所示为光电产品自动计数系统示意图,每个产品经过 成对配置的光源光束和光电探测器时,都实现对光束的一次 遮挡,对应光电探测器的一个脉冲信号,然后通过计数脉冲 个数实现对产品的计数。类似的应用还包括商场出入人数统 计、住宅安全监控报警以及电梯自动启停开关等等.
返回
0
被测
样品 分光
0
PIN
样品 标准
0 0 S1
PIN
差动 或 比较处 理
输出
r
PIN
基准通道
S2
光电直接检测系统 莫尔条纹 2013
B P sinq
莫尔条纹演示
莫尔条纹有如下特征:
1)平均效应:莫尔条纹是由光栅的大量刻线共同形成的, 对光栅的刻划误差有平均作用,从而能在很大程度上消除光 栅刻线不均匀引起的误差。 2)对应关系:当指示光栅沿与栅线垂直的方向作相对移动 时,莫尔条纹则沿光栅刻线方向移动(两者的运动方向相互 垂直);指示光栅反向移动,莫尔条纹亦反向移动。在图中, 当指示光栅向右移动时,莫尔条纹向上运动。
其一是光电流正比于光电场振幅的平方; 其二是电输出功率正比于入射光功率的平方。
上页 下页 后退
直接探测系统
如果入射光场是调幅波:
es (t ) Es [1 KV (t )]cos st
1 is (t ) Es2 Es2 KV (t ) 2
直流项
交流成份中 包含调制信 号信息
若 si /ni >>1, 则
so 1 si no 2 ni
输出信噪比近似等于输入信噪比的一半,即经光电转 换后信噪比损失了3dB,适于实际应用; 直接探测方式不能改善输入信噪比,但适宜于较强光 信号的探测,且探测方法简单、易于实现、可靠性高, 成本较低,因此应用广泛。
若光探测器输出有隔直流电容,则输出光电流只包含第 二项,即直接探测的基本物理过程。 注意:探测器响应的是光场的包络,目前尚无直接响应 光频率的探测器。
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直接探测系统
信噪比性能分析
设输入光电探测器的信号光功率为 si ,噪声功率为ni , 光电探测器的输出电功率为 so , 输出噪声功率为no,则 总的输入功率为(si+ni),总的输出功率为(so+no)。由光电 探测器的平方律特性
光电检测技术文档ppt
3.2.1 光电外差检测的基本原理
两束入射光:偏振方向相同、传 播方向平行、重合后垂直入射到 光电探测器上,光波场的合成产 生了和频、差频光强信号。当差 频信号频率在探测器频率响应区 域时形成输出电信号。
3.2.1 光电外差检测的基本原理
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(1)光外差探测增益 被探测信号光功率
本振光功率
Ps
E
2 s
2
PL
E
2 L
2
光外差检测输出功率
P IFi2R L2E s2 2 E L2R L2 h e 2P sP LR L
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(1)光外差探测增益 光电直接探测输出功率为
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(3)光外差探测的滤波特性 直接探测时用滤波片滤除背景光
1nm
对应的光频带宽度为
f
c
2
0.3
2
二氧化碳激光的10.6微米波长
f 3GHz
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(3)光外差探测的滤波特性 光外差产生差频信号转换成电信号,频率远远低于探测光 的频率。光外差信号对应的频率宽度为
fIFf fSfL
CO2激光多普勒效应测物体运动速率 10m / s
fIF2cufL2uL 1.89MHz
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(4)光外差探测的极限灵敏度
考虑到光电探测器的内部增益,散粒噪声、热噪声,光外 差探测器的噪声为
P n 2 G 2 e h eP s P b P L Id fIF R L 4 K T fIF R L
输出信号有效功率为
第五章 光电信号的检测方法
这就是双频干涉测长装置的测量公式。
2、萨格纳克效应(光程差随转速而改变的现象)和转动差频 当封闭的光路相对于惯性空间有一转动速度Ω时,顺时针光路和
逆时针光路之间形成与转速成正比的光程差ΔL,其数值满足下列 关系:
式中,c为光速,A为封闭光路包围的面积;φ为转速矢量与面积 A的法线间的夹角。当光路平面垂直于Ω时,上式简化为:
图5-13给出像偏移测量轴向位移的原理示意图。
下图为采用PSD和半导体激光器的距离传感器示意图。
驱动电路
半导体 激光器
聚光 透镜
光学 滤光 片
PSD 器件
模拟开关 取样放大器
A/D变 换器
成像聚光镜
信号电 极距 PSD光 敏区中
放大器 输出
电脑 Z K I A I B
IA IB
入射光 点距中
像点的ΔZ′偏移引起原像面上的离焦,使像面照 度分布扩散,如图所示。
2、像点轴外偏移检测的像偏移法
像点偏移法又称光切法。它是一种三角测量方式的轴 向位移测量方法。当将光束照射到被测物体时,用成 像物镜从另外的角度对物体上的光点位置成像,通过 三角测量关系可以计算出物面的轴向位移大小。这种 方法数毫米到数米的距离范围可实现高精度的测量。 在工业领域内的离面位移检测中常常用到。
这一光程差随转速而改变的现象称作萨格纳克效应,图5-22给 出这一效应的图解说明。
三个或三个以上反射绕组成的激光谐振腔使光路转折形 成闭合环路。这种激光器称作环形激光器(如图5-23)。
小型化的环形激光器及相应的光学差频检测装置组成了 激光陀螺。它可以感知相对惯性空间的转动,在惯性导 航中作为光学陀螺仪使用。此外,作为一种测角装置, 它是一种以物理定律为基准的客观角度基准,有很高的 测角分辨率。图5-23(b)给出了早期激光陀螺的结构示 意图。
第四章 光电检测的方法及一般
用聚焦法测量位移的突 出优点是检测精度不受 待测表面反射率的倾向, 因此可用于多种反射率 不同的材料的检测,如 玻璃、金属、硅、纸张 或PVC等材料。该系统 在较大的范围内都具有 很高的精度,聚焦探测 器可以在0~ 600m 的范围内分辨出几个纳 米
五、光栅及莫尔条纹法
1. 计量光栅的结构及测量原理 计量光栅一般分为 透射型光栅和反射型光栅两种,按其工作原理又 可以分为黑白光栅和相位光栅。用于长度及位移 测量的光栅一般为透射型黑白光栅。 光栅测量系统一般由光源、主光栅、指示光栅、 光学系统及光电探测器组成,如图4-36所示。主 光栅为一长方形光学玻璃,上面刻有明暗相间的 线对,明线(即透光线)宽度a与暗线(即遮光 线)宽度b之比通常为1∶1,两者之和成为光栅 的栅距。栅距通常可以为1/10~1/100mm。
U / D 信号控制计数器正向计数。在T3期间,LED又 信号及
熄灭,由
EN
信号控制计数器停止计数,此时,计数器输出的数字信号 即反映了扣除背景光及暗电流影响后的信号光的强度。在 T4期间,由 LD 信号对计数器清零,以便为进入下一个检测周期作好准备。
该电路不仅省去了采样保持,A/D转换等环节,直接可 与计算机接口,并且由于前置部分输出为频率信号,并 加上了光电耦合,因此可以实现远地传输,抗干扰能力 强。
A B A B
即可确定待测体的距离或位移。这样检测的特点是可以 消除待测体反射率变化的影响,减小待测表面倾斜所带 来的误差。若选择A、B两组光源的性能一致,则还可以 消除诸如环境温度变化等引起的光源强度变化的影响。 ⑶平面倾斜度的测量 如图4-31c所示,在探测器的两侧 对称放置A、B两个光源。点亮光源A时,得到探测器的 输出为 U ,点亮光源B时,得到探测器的输出为 U ,根据这两者的比值 U / U
光电信号的变化形式与检测方法
工作原理图
透射 或反射
接收 回路
放大 回路
同步 回路
检波 回路
积分 回路
发射 回路
振荡 回路
电源 回路
驱动 回路
整形 回路
电源 输入
输出
3、应用 (1)测速
M
整形
计数显示器
利用马达转轴上的反射小片,使发光管的发射光不断反射到 光敏管上,通过计数显示可直观地记录下马达的运转速率。
(2)读数
可逆计数器
设物体全辐射通量密度为
(1) 在近距离测量时,前置放大器输出的电压信 号为
M T
4
U 0 MmsGA MR
将(1)代入(2)得
(2)
U 0 RT
4
表面前置放大器输出的电压值是温度的函数。
(二)光透过被ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ对象的形式 物质的 浓度 溶液和气体 入射到 当光透过均匀介质时,其光通 对光的吸收 介质表 量的变化为: 性质 面的通
控制器
1
2
1
数字倍率
有理化 显示
2 光电放大 整形辨向 细分 倍频 可逆 气压计 计数 温度计 打印
图中激光器1产生的相干光束经扩束镜2在半透明反射镜3 上被光束分束。其中,反射光电元件5接收经激光电源 控制器对激光器进行频率稳定&功率稳定。透射光束由 半反射镜6分束。由反射镜A反射的参考光束,经角反射 镜4&固定反射镜B反射的是测量光束。二个相干光束在 二个光电检测器1&2上分别形成干涉条纹。调整二检测 器的相互位置,使处于干涉条纹空间分别周期的四分之 一位置上,以便得到相差为90°电相位的二路光电信号。 检测器的光电信号经前置放大、抵消直流分量、整形、 辨向、细分倍频的电路处理后得到代表被测物体位移方 向的加减计数脉冲,再通过可逆计数器累计计数脉冲。 在数字倍率计中,通过气压计&温度计对影响测量精度 的空气折射率&环境因素作精确修正。计算电路给出有 理化计算,最后显示&打印出实测的位移值,实际的测 量装置得到0.1um以上的测长精度。
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第五章:光电信号的检测方法单频光相位调制和条纹检测在使用窄光束单频光波相位调制的干涉测量中,干涉条纹的形成和检测是在光束重叠的较小空间范围内进行的,通常采用单元光电器件检测局部位置上的干涉条纹波数或相位随时间的变化。
1.单频光的相位调制在单一频率相干光路中,被测量使相干光波的相位发生变化,同时通过干涉作用把波相位的变化变换为振幅的变化,这个过程称单频光波的相位调制或称相幅变换。
由前面的公式可知,能引起相位变化的参量是光路长L和介质折射率n。
因此相位调制通常是利用不同形式的干涉仪,借助机械的、光学的、光电子学等变换器伴将被测量的变化转换为光路长L和折射率n的变化。
前者用来检测几何和机械运动参量,后者用于分析物质的理化特性。
为了定量描述被测参量对相位调制的影响,采用规一化相位响应表示在单位长度的光路内由被测参量引起的相位变化。
(1/L)(dφ/dF)=(2π/λ0)[dn/dF+(n/L)(dL/dF)]式中,(1/L)(dφ/dF)为规一化相位响应,L为干涉光路长度,F为被测参量。
等式右端两项分别表示折射率变化和光路长度变化引起的相位响应。
上式可用来衡量相位调制的各种类型光学干涉仪和光纤干涉仪的工作特性。
1)光学干涉仪相位调制通常作为相位调制用的光学干涉仪有迈克尔逊干涉仪、吉曼干涉汉、马赫-泽德干涉仪、萨纳克干涉仪和法布里-珀罗干涉仪等。
下图给出了它们的原理示意图。
典型的光学干涉仪原理示意图除了法布里-珀罗干涉仪外,前述干涉仪皆属双光束干涉。
干涉强度分布满足公式。
图a的迈克尔逊干涉仪其特点是结构简单,条纹对比度好,信噪比高。
测量镜M2与被测物连接可以感知位移、变形等参量。
由于M2的位移量Δx引起测量光路2Δx的变化,即λ/2的位移引起干涉条纹一个周期的变化,所以条纹的计数和被测位移的计算关系简单。
它的测量灵敏度达10-13m的数量级。
其缺点是输出光束能经分束镜返回激光器,这将使激光器工作不稳定,这可以通过设置偏振器来防止。
图b是吉曼干涉仪。
同样厚度的二块玻璃板背面镀以反射膜,利用两玻璃表面的反射形成光束的分束和再合成。
由于两光路的光程差很小,即使相干性较差的光源也可进行精密测量。
它主要用来测定透光物质(例如气体)的折射率,可进行标准试样和被测试样的比较测量。
若试样长度为L,条纹测量精度为λ/50,则折射率误差在δn=λ/50L之内。
图c是马赫-泽德干涉仪,由二片分束镜和二片反射镜组成。
输出分束镜有两束干涉光输出,可用于布置多路接收器,它的返回散射光较少,有利于降低激光的不稳定噪声。
被测位移的引入通过可移动反射镜进行,位移范围不能超过相干光束的截面。
图d的萨纳克干涉仪其入射分束镜和出射合成镜合并为一。
入射分束镜把入射光束分成二个传输方向相反的顺时针光路和逆时针光路,闭合回路的形状可以是任意的如矩形或三角形。
反射镜的法向位移对两个反向光路长度的改变量相等,因此不引起干涉强度的变化。
它用来感知如转角、转速以及磁场强度等非互易效应。
图e是法布里-珀罗干涉仪。
它的两块反射镜的反射率R高达95%以上。
入射光束经不同次数的反射后分别透射,以平行光形式输出,由光电探测器接收,因此是多光束干涉。
相干光强的变化表示为I=I0/{1+[4R2/(1-R)2]sin2(φ/2)}及φ=4πnd/λ0式中,F=4R2/(1-R)2称作精细度系数,可表征干涉条纹的锐度(如图b);是相邻反射光束间的相位差;I0是平均光强度;d为平面镜间隔;λ0为真空波长;n为反射镜间介质折射率。
这两个式子表明透射干涉光强不是正弦分布,当φ为2π整数倍时光强为最大值,φ为π的奇数倍时光强为最小值。
最大最小值之比为(l+R)/(1-R),因此有很高的条纹对比度,是一种灵敏的传感器。
由后一式可见,被测变量的调制作用可以通过改变d和n实现,后者可用更换平面镜之间的气体等方式进行。
此外也可实现高分辨率波长变化的测量,其分辨率可达2³l0-5nm。
光学干涉仪的共同特点是相干光在空气中传播,环境温度的改变会引起空气折射率的扰动;大气湍流和声波干扰也会导致光程的变化,降低了工作可靠性和测量精度。
2)光纤干涉仪相位调制光纤干涉仪另一类相位调制可采用单模光纤作封闭光路组成的各种类型的光纤干涉仪。
上图给出了它们的原理示意图。
其中图a为迈克尔逊干涉仪,图b为马赫-泽德干涉仪,图c为萨纳克干涉仪,图d为法布里-珀罗干涉仪。
在这些结构中,光纤光程代替了空气光程,定向光束耦合器取代了分束器,它能按一定比例将光束由一束光纤耦合到另一束光纤中,以实现光束分割和合成。
由于光路的闭合避免了空气的扰动,并且不受结构空间的限制可以组成千米数量级长度的干涉仪,因此有利于提高测量灵敏度。
光纤本身作为被测参量的敏感元件直接置于被测环境中,通过不同的物理效应感知被测参量的变化,形成光纤中光波相位、频率、振幅、偏振态的改变。
与光学干涉仪相比,这种调制作用是通过光纤的内在性能达到的。
a)机械应力效应相位调制光纤受纵向机械力作用时,纵向应变引起光纤长度的变化,这种效应导致光纤中光相位的改变。
对于单模光纤,设光纤的敏感长度为L,光纤芯和包层内平均折射率为n,光纤的光弹系数为P12,纵向长度变化为ΔL,相位调制Δφ可表示为Δφ=(2πL/λ0)(1-2P12/2)(ΔL/L)纵向应力作用下的泊松效应引起光纤芯的直径变化。
对于轴对称的光纤,相位变化与径向应变成比例,比例因子和光纤长度、折射率和光纤材料有关。
此外当光纤受纵向应力作用时,由于光弹效应的影响引起折射率的变化。
基于这些调相作用组成了许多力的传感器。
b)温度胀缩效应相位调制光纤处于被测温度场中,热胀冷缩引起长度变化,温度也能造成折射率的改变。
由此引起的光波相位响应可由原式将被测参量ΔF用温度变化ΔT代替得到dφ/dT=(2πL/λ)[dn/dT+(n/L)(dL/dT)]上式表示光波相位响应与光纤的敏感长度L成正比。
选择足够长的光纤同时优化光纤材料和形状可使热胀系数达(4~13)³l0-6/℃,折射率变化dn/dT在(-10~+19)³l0-6/℃范围内。
用光纤检测温度变化可以获得104/℃信号脉冲的温度灵敏度。
2.单频光干涉的条纹检测在局部空间范围内检测干涉条纹的光强度或其随时间的变化称作干涉条纹检测。
与此相对应在一定的空间范围内确定整个干涉图样的分布称作干涉图分析。
基本的条纹检测法包括条纹光强检测法、条纹比较法和条纹跟踪法。
1)条纹光强检测法条纹光强的光电检测a) 原理示意图 b) 波形图这种方法是在干涉场中确定的位置上用光电元件直接检测干涉条纹的光强变化。
上图a 给出了一维干涉测长的实例。
为了获得最佳的条纹光电信号,要求有最大的交变信号幅值和信噪比,这需要光学装置和光电检测器确保最佳工作条件,尽可能地提高两束光的相干度和光电转换的混频效率。
由前可知,单频相干光合成时的瞬时光强为I(x,y,t)=a12+a22+2a1a2cos[φ(t)]上式只有在检测时间τ内cos[φ(t)]为恒定时才能得到确定的光强值,若φ(t)随时间变化,则合成光强是对t的积分I(x,y,t)=a12+a22+2a1a2(1/τ)∫0τcos[φ(t)]dt用φ(t)的平均值φ0等效表示这一积分值,即令(1/τ)∫0τcos[φ(t)]dt=Γcosφ0式中,比例因子Γ称作两光束的相干度,0≤Γ≤1。
当Γ=1时表示在τ时间内相位保持不变,相干度最大。
当Γ=0时,表示τ时间内两光束不相干。
将上式代入原式中,得I(x,y,t)=a12+a22+2a1a2Γcosφ0并有Γ={(1/τ)∫0τcos[φ(t)]dt}/cosφ0上式表明,只有当Γ大时光强随相位的变化才明显,而当Γ=0时合成光强只有直流分量,与相位φ无关。
因此相干度Γ是衡量干涉条纹光强对比的质量指标。
相干光源波长的非单色性Δλ引起不同波长不同初相位的叠加,这会降低相干度。
对常用干涉仪,可以计算在中心波长为λ0、波长范围为±Δλ时其相干度Γλ为Δλ的sinc函数,有Γλ=sinc(Δλ²2πΔL/λ02)上式表明,光程差ΔL愈小及单色性愈好(Δλ愈小)则Γλ愈大。
当光程差ΔL等于单色光相干长度时干涉条纹消失。
相干光源的发散使不同光线产生不同的光程差,这引起相位φ的变化。
对于平板干涉的情况,若光束发散角为α,入射光不垂直反射镜的偏角为i时,可以计算有附加光程差的相干度Γα为Γα=sinc(2πnΔLαsini/λ0)这表明空间每条相干光线光程差不同会引起条纹信号交变分量的下降。
光电检测器把光信号转换为电信号,得到的是光敏面上的光强积分值。
光电信号的质量不仅取决于干涉条纹的相干度,而且取决于接收器光阑和条纹宽度之间的比例关系。
在图8b中,设接收光阑是h³l的矩形,由均匀照明光产生的平行直条纹的间距为D,空间坐标为x,则沿x向的条纹光强空间分布I(x)为I(x)=a12+a22+2a1a2Γcos(x²2π/D)在不同位置x上光电检测器输出电信号I s为I s=K a12+a22+2a1a2Γcos(x²2π/D)]dx=Khl{(a12+a22)+2a1a2Γ[sin(πl/D)/(πl/D)]cos(x²2π/D)}=Khl[a12+a22+2a1a2Γβcos(x²2π/D)]式中,β=sinc(πl/D)称作光电转换混频效率,0<β<1。
当l/D→0,β=l时光电信号交变分量幅度最大;当l=D,β=0时光电信号只有直流分量。
由式可见混频效率β或光阑宽度与条纹宽度比l/D直接影响电信号的幅值。
为了增大β值,在D值确定时应减少l值,但这样将降低有用光信号的采集。
正确的作法是使干涉区域充分占据接收光阑,通过加大条纹宽度来增大β值。
这一结果不论对采用均匀扩束照明还是采用单束激光(光束截面强度呈高斯分布)照明或者是采用圆孔形光阑的情况都是适用的。
使用干涉仪作位移测量时为了消除振动的干扰和进行双向测量,条纹的检测通常采用可逆计数方式。
为此要求检测装置提供彼此正交的两路条纹信号。
此外正交信号的差分连接能消除直流光强的影响,并能进行倍频细分的计算。
产生π/2相位差信号的方法如下图所示,其中图a的条纹图形法是在干涉条纹分布的1/4周期位置上分别放置点状检测器或采用四分光电池与整个条纹周期对应。
相位板法(图b)利用光学晶体作成的λ/4波片对光波作相位延迟取得π/2的光波相位差。
图c的光路移相法利用组成干涉仪的角反射镜或多层镀膜半透镜在光反射时的相位变化形成π/2的相位差。
前述方法中正交两路信号是由干涉视场内不同区域获得的,所以易受到环境扰动的影响。
偏光法不易受外界扰动,在干涉仪中采用偏光分束镜。