集成电路CAD实验报告
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集成电路CAD实验报告
姓名:席悦学号:2120503018 班级:微电子31班一、实验目的:
通过设计一个简单的缓冲器的原理图到最终的版图,对Cadence的Composer,Analog Design Environment,Virtuoso,Assura等各大功能模块逐一了解,使学生掌握模拟集成电路设计的总体流程,为日后的学习、工作打下坚实的基础。
二、实验项目:
1.缓冲器的设计:
在配置好Cadence之后,进入Cadence的CIW界面。
为设计一个完整的缓冲器,首先需要设计一个反相器。利用Cadence的电路编辑工具Composer-Schematic绘制如下图所示的inverter电路:
之后利用此inverter Schematic 构建如下图所示的inverter Symbol:
我们知道,一个Buffer是由两个Inverter组成,利用前边构建Inverter Schematic的方法,画出缓冲器Buffer的电路原理图:
其中的反相器直接调用之前做好的Inverter的Symbol。同样的,利用此缓冲器的原理图生成相应的缓冲器Symbol图:
之后构建仿真电路,对所设计的Buffer电路进行电路仿真(ADE)。仿真电路图如下:
在仿真过程中,我们分别采用tt,ss,ff工艺角进行仿真,得到了如下的波形图和仿真数据:
①tt工艺角:
其相应数据参数为:
Marker, /I5/V1, /OUT, /IN
M0: Y, 900mV, 900mV, 900mV
x[0], 111.36ps, 778.31ps, 50ps
x[1], 5.1063ns ,5.9952ns, 5.05ns
②ss工艺角:
其相应数据参数为:
Marker, /I5/V1, /OUT, /IN
M0: Y, 900mV, 900mV, 900mV
x[0], 121.55ps, 927.99ps, 50ps
x[1], 5.1155ns, 6.1676ns, 5.05ns
③ff工艺角:
其相应数据参数为:
Marker, /I5/V1, /OUT, /IN
M0: Y, 900mV, 900mV, 900mV
x[0], 103.43ps, 653.72ps, 50ps
x[1], 5.0984ns, 5.8613ns, 5.05ns
④分析总结:
通过对不同工艺角的仿真,可以清晰的看到ss的上升延迟和下降延迟时间最长,而ff的上升延迟和下降延迟最短,而tt工艺角是上升延迟和下降延迟的典型值。
仿真结束之后,利用Cadence的Virtuoso工具,进行Buffer缓冲器的Layout版图绘制。其中,Buffer的第一级inverter反相器采用常规的栅结构,而第二级inverter反相器采用栅插指结构,分别绘制两个inverter反相器的版图,然后将其进行连接构成所需要的Buffer反相器。最终的版图如下:
版图绘制完成之后,需要对其进行一系列的检查,以确保其符合版图设计规则并与所设计的电路原理图所相对应。即进行DRC设计规则检查和LVS版图和原理图一致性检验。经过一系列调试修改之后,所得版图与电路原理图通过LVS和DRC检验。
之后对版图的寄生参数进行提取,即进行Assura RCX,得到如下图的RCX结果:
最后,利用Cadence的层次化工具Hierarchy来管理所做的设计,并对比寄生参数提取前后的结果。
①不带寄生参数的原理图仿真:
其相应数据参数为:
Marker, /I5/V1, /OUT, /IN
M0: Y, 900mV, 900mV, 900mV
x[0], 111.36ps, 778.31ps, 50ps
x[1], 5.1063ns, 5.9952ns, 5.05ns
②带寄生参数的原理图仿真:
其相应数据参数为:
Marker, /I5/V1, /OUT, /IN
M0: Y, 900mV, 900mV, 900mV
x[0], 118.05ps, 804.35ps, 50ps
x[1], 5.1114ns, 5.9946ns, 5.05ns
③总结分析:
通过计算,我们可以得到如下结果:
不带寄生参数仿真时,上升时间为728.31ps,下降时间为945.2ps。带寄生参数仿真时,上升时间为754.35ps,下降时间为944.6ps。由此可见,寄生参数的存在使得反相器的上升时间有所增加,而下降时间有所降低。
2.二极管的I-V特性:
利用Cadence所含analogLib库中所含的元件,搭建二极管I-V特性测试电路图,如下图所示:
对该电路进行ADE仿真,对vin进行dc分析,电压范围从0-1.8V,得到如下图所示的二极管I-V特性曲线:
由图像可以看出,该二极管的阈值电压大约是0.6V左右。
3.BJT和MOS晶体管的I-V特性:
①同样利用Cadence所含analogLib库中所含的元件,搭建BJT管I-V特性测试电路图,如下图所示:
首先将vce固定在1.5V,对vbe进行dc分析,电压范围从0-1.8V,观察流过基级的电流Ib,可以得到如下图所示的仿真波形,即三极管的输入特性曲线:
然后将vbe初值设置为0V,对vce进行dc分析,电压范围为-0.3V-1.8V。并对vbe作为参变量,电压范围为-0.3V-1.8V,以线性步长改变方式(Linear Steps),步长0.3V,得到不同vbe下的Ic随vce电压变化的仿真曲线,即三极管的输出特性曲线:
②同样利用Cadence所含analogLib库中所含的元件,搭建BJT管I-V特性测试电路图,如下图所示: