第5讲 反相器
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Inverter
简介
CMOS反相器的分析:
▪ 成本:复杂度和面积 ▪ 完整性和可靠性:静态特性 ▪ 性能:动态特性 ▪ 能耗
按比例缩小技术的影响 反相器是分析组合逻辑和时序逻辑的基石
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Inverter
内容提要
直观综述 电压传输特性(VTC) 可靠性:静态特性 性能:动态特性 功耗和能耗-延时积 按比例缩小技术以及对反相器的影响
Inverter
在饱和区,增益与电流斜率关系很大,
Inverter Gain 因此不能忽略沟道长度调制系数
knVDSATn (Vin
VTn
VDSATn 2
)(1
lnVout
)
k Vp DSATp (Vin
VDD
VTp
VDSATp 2
)(1 lpVout
lpVDD )
0.25μm CMOS反相器的开关阈值
(W / L) p (W / L)n
115106 A /V 2 30106 A /V 2
0.63V 1.0V
1.25 0.43 0.63/ 2 1.25 0.4 1.0 / 2
3.5
1.8
1.7
1.6
1.5
1.4
V (V)
M
1.3
Vin = 2
NMOS
Vin = 1.5
Vin = 2 Vin = 2.5
Vin = 1 Vin = 1.5
Vin = 1.5 Vin = 1
Vin = 1
Vin = 0.5 Vin = 0
所有的工作点不是高电平输出, Vout 就是低电平输出。
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注意:MOS管的导通电阻不是一个常数值。
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Inverter
内容提要
直观综述 电压传输特性(VTC) 可靠性:静态特性 性能:动态特性 功耗和能耗-延时积 按比例缩小技术以及对反相器的影响
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V out CL
V in = 0 (a) Low-to-high
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V in = V DD (b) High-to-low
Inverter
基本的动态特性
负载电容是输出节点所有电容之和; 传输时间由通过电阻对电容的充放电决定—
—高速门需要小的输出电容和导通电阻; 晶体管的尺寸(W/L)影响门的动态行为;
0.5 1 1.5 2 2.5 Vin
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Inverter
内容提要
直观综述 电压传输特性(VTC) 可靠性:静态特性 性能:动态特性 功耗和能耗-延时积 按比例缩小技术以及对反相器的影响
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反相器的 标准响应
改变阈值 后的反相 器的响应
Inverter
5.3.2 噪声容限
电路工作时,由于存在干扰信号,使输入电平 偏离理想电平,影响输出电平;
用噪声容限反映电路的抗干扰能力。噪声容限 反映电路能承受的实际输入电平与理想逻辑电 平的偏离范围。
VDD
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Connect in Metal
Inverter
CMOS Inverter First-Order DC Analysis
VDD
VDD
VDD
PMOS
In
Out
NMOS
Rp
VOL = 0
Vout
Vout
VOH = VDD VM = f(Rn, Rp)
在VDD和VSS之间没有直接通路=>无静态功耗;
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Inverter
CMOS Inverter: Transient Response
V DD Rp
V out CL
V DD Rn
tpHL = f(Ron.CL) = 0.69 RonCL
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Inverter
5.2 The CMOS Inverter: A First Glance
VDD
Vin
Vout
CL
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Inverter
CMOS Inverter
VDD
PMOS
In
Out
NMOS
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N Well PMOS
In
Polysilicon
VDD 2l
Contacts
Out
Metal 1
NMOS
GND
Inverter
Two Inverters
Share power and ground Abut cells
0
0
0.5
1
1.5
2
2.5
Vin (V)
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Inverter
稳定性-降低电源电压
2.5
0.2
2
0.15
Vout(V) Vout (V)
1.5 0.1
1
0.05
0.5
Gain=-1
0
0
0
0.5
1
1.5
2
2.5
V (V)
in
0
0.05
0.1
0.15
降低VDD的问题
不加区分的降低电源电压虽然对减少能耗有好 处,但它会使门的延时加大;
一旦电源电压和阈值电压变得可以比拟,直流 特性对器件参数的变化就变得越来越敏感;
降低电源电压意味着减小信号摆幅。虽然通常 可以帮助减少系统的内部噪声(如由串扰引起 的噪声),但它也使设计对并不减少的外部噪 声源更加敏感。
数字集成电路
第五讲 反相器
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Inverter
5.1 简介
反相器是所有数字设计的核心
▪ 一旦清楚了反相器的工作原理和性质,设计 其它逻辑门和复杂逻辑(加法器、乘法器和 微处理器等)就大大简化了。
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0.2
V (V)
in
反相器在过渡区的增益随电源电压降低而加大(公式5.10)
VDD=0.5V(只比晶体管的阈值高100mV时,过渡区宽度是电源电压的10%
VDD=2.5V时,加大到17%
降低VDD可以改善反相器的直流特性。
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Inverter
1.2
1.1
1
0.9
0.8
0
1
10
10
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W /W
pn
Inverter
结论
VM对于器件尺寸的比值变化不敏感
▪ 例如,前面的例子中如果尺寸比为3、2.5和 2,则VM分别为1.22V、1.18V和1.13V
改变Wp对Wn比值的影响是使VTC的过渡 区平移,增加PMOS或NMOS的宽度使 VM分别移向VDD或GND.
VDSp
Vout
IDn Vin=0 Vin=1.5
Vout
Vout = VDD+VDSp
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Inverter
CMOS Inverter Load Characteristics
IDn Vin = 0
Vin = 2.5
PMOS
Vin = 0.5
VIL Noise margin low
Gate Input
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Inverter
噪声容限 VIH and VIL
Vout
VOH
VM
Vin
VOL
VIL
VIH
A simplified approach
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Inverter
5.3.1 开关阈值
Vin=Vout
Vin=VM时,两个晶体管均处于饱 和状态,所以可以使用 In(Vin=VM)=Ip(Vin=VM) 来求解
晶体管饱和电流公式(3.38):
I DSAT
vsatCoxW (VGS
VT
VDSAT 2
)
unVDSAT L
CoxW (VGS
Inverter
PMOS Load Lines
IDn Vin = VDD+VGSp IDn = - IDp Vout = VDD +VDSp
VDD
PMOS
In
Out
NMOS
IDp
VGSp=-1 VGSp=-2.5
IDn Vin=0 Vin=1.5
VDSp
Vin = VDD+VGSp IDn = - IDp
Rn
Vin = VDD
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Vin = 0
Inverter
基本稳态特性
Vsw=VDD => 高噪声容限; 无比逻辑:Vout与晶体管的尺寸无关,所以可以
采用最小尺寸;
只有一个晶体管导通=>低输出电阻=>对噪声和 干扰不敏感;
输入是晶体管的栅极=>非常高的输入电阻=> 无穷大的扇出(大扇出会增加延迟);
VT
VDSAT 2
)
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kVDSAT (VGS
VT
VDSAT ) 2 Inverter
开关阈值的计算
开关阈值等于所希望值时要求的NMOS和PMOS尺寸:
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Inverter
“1” VOH VIH Undefined Region VIL
“0” VOL
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Inverter
噪声容限的定义
"1" VOH
NM H
VOL
NM L
"0" Gate Output
Noise margin high
VIH Undefined Region
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Inverter
改变阈值的意义
• 通常要求(保证噪声容限) VM=VDD/2。 • VM对于器件尺寸的比值变化不敏感。因此pMOS通 常选择比VM=VDD/2所要求的尺寸小一些来减小面积。
• 在某些情况下并不总是要求VM=VDD/2。
5.4 动态特性
说明 这里的计算结果只是一个近似值,大约
有20~30%的偏差。更为精确的结果, 可以使用SPICE仿真得到。 我们希望获得不同参数(尺寸,电阻, 电容等)对设计性能影响的定性分析方 法。
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Inverter
HSPICE和手工计算的对比
0
求导并求解
dVout
knVDSATn (1 lnVout ) k Vp DSATp (1 l Vp out lpVDD )
dVin
lnknVDSATn (Vin
VTn
VDSATn 2
)
lpk Vp DSATp (Vin
VDD
VTp
VDSATp 2
)
Vin=VM,并忽略二次项
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Inverter
内容提要
直观综述 电压传输特性(VTC) 可靠性:静态特性 性能:动态特性 功耗和能耗-延时积 按比例缩小技术以及对反相器的影响
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Inverter
关键参数是沟道长
度调制参数λ;
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VDD和器件尺寸影 响很小;
Inverter
Inverter Gain
gain
0
-2
-4
-6
-8
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
-10
-12
-14
-16
-18
0
0.5
1
1.5
2
2.5
V (V)
in
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Inverter
CMOS Inverter VTC
0.5 1 1.5 2 2.5
Vout NMOS off PMOS res
NMOS s at PMOS res
NMOS sat PMOS sat
过渡区非常窄, 因为在开关过渡 期间,具有高增 益。
NMOS res PMOS sat
NMOS res PMOS off
Inverter
5.3.3 稳定性--器件参数变化
2.5
Vout(V)
2 1.5
1 Good NMOS Bad PMOS
0.5
Good PMOS Bad NMOS
Nominal
器件参数的变化使开关
阈值平移,这一特性确保了 门能在一个很宽范围的条件 下工作,这也是静态CMOS 门得以普遍使用的主要原因.