测量系统分析控制程序.doc
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TH--QP—25
测量系统分析控制程序
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修改码: A0 生效日期:2013-12-01 页码:第 1 页,共 6 页
修订履历
1.目的
为对测量过程深入了解并获得高质量的数据,有效地对制造过程及产品进行控制、分析和检验。制定本测量系统分析规则,明确测量系统的分析办法及判定准则。
2.范围
本规程适用于产品控制计划中涉及的所有测量系统。但是不可重复进行测量的测量系统(如破坏性试验)除外。
3.定义
3.1计量型计测器:通过对被测特性的测量,可定量描述其优劣程度的计测器。
3.2计数型计测器:就是把被测特性与某些指定限值相比较,如果满足限值则判断合格,
否则就判断不合格的计测器。
3.3测量系统:用来确定被测特性的操作、程序、计测器、软件以及操作人员的集合,即
获得测量结果的整个过程。
3.4重复性:测量一个制品/部品的某特性时,一位评价人用同一量具多次测量的变差。
3.5再现性:测量一个制品/部品的某特性时,不同评价人用同一量具测量平均值的变差。
3.6量具R&R评价:评价计测器的重复性与再现性变差对整个测量系统的影响,通常用重
复性与再现性变差占整个测量系统总变差或公差的百分比来表示。
3.7测量系统的评价:评价测量系统重复性、再现性、偏移、稳定性和线性等变差对系统
的影响。
4.资源:
4.1参与测量系统分析计划的制定、实施人员责任、权限、人员必需的资格等。
4.2明确测量系统分析时试验设备所处的状态、工作环境(温湿度等)等。
5.测量系统分析
5.1计划确定及责任区分
1)参照关联规程「产品质量先期策划控制程序(APQP)」,生产部根据产品控制计划确定需
进行测量系统分析的计测器,并制定分析计划。
2)技术品质部计测器管理者、使用者负责实施测量系统分析工作,并对测量系统是否可
接受作出判断。
3)实施对象:对于汽车产品,控制计划中测量产品特殊特性用的计测器必须做测量系统
分析,其他产品所涉及的测量仪器根据部门实际生产需要及顾客要求进行判断,由生产部确定是否需要进行测量系统分析。
5.2评价实施周期
1)一般情况下,测量系统分析周期应与该计测器的校正周期相同。
2)当「%R&R≦10%」时,若测量系统没有发生变化,可适当延长分析周期为校正周期的
1.5~2倍,具体实施周期由部门根据实际情况及顾客要求执行。
3)测量系统变差的种类
在每一个测量过程,影响测量系统输出结果的变差大致可分为下列五种:
A)位置:稳定性、偏倚、线性;
B)宽度或范围:重复性、再现性。
5.3测量系统评价前准备
在本规程中,评价一个测量系统前,首先应确定以下两个基本问题:
1)该测量系统是否在测量一个正确的变量;
我们用计测器测量的变量是否为我们关心的变量。否则,测量是没有意义的。
2)该测量系统是否有足够的分辨率;
一般遵循十比一的法则,仪器的分辨率一般为制造过程变差的十分之一。
例如:制造总过程变差为0.01,那么测量系统的分辨率最多为0.001。
5.4计量型测量系统分析
1)对于计量型测量系统将利用「均值和极差法」对测量系统的重复性和再现性(GR&R)进
行评价。参照「GR&R评价与报告书」
2)评价人数:一般需要三人参与,前次能力调查R&R<10%时,或熟练操作人员不能满足
三人时,两人进行评价即可。评价人中必须要包括日常操作的作业人员。
3)测定次数:一般测定为三次,特殊时也可测定两次,根据实际情况判断。
4)样品数目:一般为10件样品。前次能力调查R&R<10%时,根据部门实际情况可评价5
件样品。
5)抽样方法∶样品必须从过程中选取并代表整个过程变差;选取样品时需提前对样品的
特性值进行测量,使选取的样品尽可能覆盖全部生产范围;必要时,可保留日常生产过程中发现的不合格品作为测量系统分析的样品。
6)确保测量方法(即评价人和仪器)按规定的测量步骤测量特性值。
7)要求:做测量系统分析时需要进行盲测(测量者在不知道被测特性的规格及其他测量
者的测量结果时进行的测量),如果能让评价人不知数据统计目的情况下做测量效果更好。
8)测量步骤
A)当需测量两个以上的测量点时,应事先将被测对象的所有测试点标识出来,并对
所有测试点进行测量;
B)为被测对象编写标识编号;
C)每个测量者应按照随机顺序进行测量,并将结果记入「GR&R评价与报告书」中;
同时,每个测量者应看不到他人的测量结果;
D)在设备读数中,读数应估计到可得到的最接近的数字,如果可能,读数应取至最
小刻度的一半;
E)测定后,按照「GR&R评价与报告书」公式计算“%R&R”。
9)过程稳定性分析
A)、测量过程完成后,需要根据「GR&R评价与报告书」内的均值-极差图进行过程稳定性的判定,应确保测量过程处于受控状态,排除特殊原因对测量结果造成的影响。
B)、均值图中控制限以内的区域表示测量的敏感性(干扰)。由于研究中所使用的样品代表了过程变差,一半以上的点应该落在控制限以外;如果少于一半的数据点落在控制限以外,则表示测量系统的有效分辨率不足,或者样本不能代表预期的过程变差,应进行改善后重新进行测量过程。
C)、极差图用来确定过程是否受控,极差图内不应有超出控制限的点。如果某个评价者有超出控制限的点,说明他使用的方法与其他人不一致,应进行教育后重新测量;如果所有的评价者都有超出控制限的点,则说明该测量系统对评价者的技巧敏感,需要对作业者进行教育或改善测量方法以获得有效的数据。