光电探测器芯片

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单光子探测器技术原理

单光子探测器技术原理

单光子探测器技术原理单光子探测器技术原理随着量子通讯和量子计算等领域的发展,单光子探测器逐渐成为热门的研究领域。

单光子探测器是一种检测单个光子的器件,它可以用于量子密钥分发、量子加密、精密测量等领域。

本文将介绍单光子探测器的技术原理,包括基于探测器元件的光电倍增管、单光子探测器芯片、超导单光子探测器等。

一、基于探测器元件的单光子探测器探测器元件是一种传统的光电探测器,它由一个光敏元件和一组电子学元件组成。

光敏元件可以是光电倍增管(photomultiplier tube,简称PMT)或光电二极管(photodiode,简称PD),电子学元件包括放大器、滤波器和数字转换器等。

当光子入射到光敏元件上时,它会被光电效应激发出一个电子。

这个电子会被极高的电场加速,撞击到其他电子上,形成一系列电子级联。

最后在电子收集极处形成较强的电信号。

这个信号会被放大器放大,经过滤波器,最终由数字转换器转换为数字信号,以供后续的处理和分析。

基于探测器元件的单光子探测器具有较高的探测效率和快速响应时间。

然而,它们主要适用于低光强度的应用,因为探测器会受到噪声干扰,限制其探测低能量的光子。

二、单光子探测器芯片单光子探测器芯片是一种集成化的单光子探测器,它由多个单光子探测器、电子学元件、微透镜等组成。

它具有紧凑、高灵敏度和低噪声等特点,成为当前热门的单光子探测器技术之一。

单光子探测器芯片的工作原理是,当光子入射到探测器芯片上时,它会被探测器元件感应出来,探测器将光子转换为电子信号,并将信号传递给后续的电子学元件。

这些电子学元件可以对信号进行放大、滤波、数字转换等处理,最后输出数字信号。

单光子探测器芯片的探测效率和响应时间都比传统探测器元件优秀,但是其集成电路的复杂度和制造成本也更高。

此外,当多个探测器同时工作时,可能会发生交叉干扰,导致误检率升高。

三、超导单光子探测器超导单光子探测器是一种基于超导材料的单光子探测器,具有超高的灵敏度和超低的噪声。

侧入光式pin光电探测器芯片及其制作方法

侧入光式pin光电探测器芯片及其制作方法

侧入光式pin光电探测器芯片是一种广泛应用于光通信、激光雷达等领域的重要光电器件。

它的制作方法也是一个备受关注的研究领域。

在本文中,我们将深入探讨侧入光式pin光电探测器芯片及其制作方法,帮助读者更全面地了解这一主题。

1. 侧入光式pin光电探测器芯片的基本结构侧入光式pin光电探测器芯片是一种具有特殊结构的光电器件。

它通常由p型探测层、i型吸收层和n型电子层组成。

其中,i型吸收层起着吸收入射光子的作用,而p型和n型层则起到收集电子和空穴的作用。

这种结构设计使得侧入光式pin光电探测器芯片在捕获入射光子方面具有优良的性能。

2. 侧入光式pin光电探测器芯片的制作方法侧入光式pin光电探测器芯片的制作方法是通过一系列精密的工艺步骤完成的。

需要选择合适的衬底材料,然后在其表面进行一系列的化学处理和光刻步骤,以形成p型探测层、i型吸收层和n型电子层。

需要进行金属电极的沉积和光刻步骤,最终形成完整的侧入光式pin光电探测器芯片。

3. 侧入光式pin光电探测器芯片的性能优势与传统的正面照射式pin光电探测器相比,侧入光式pin光电探测器具有更高的光电响应速度和更低的暗电流。

这使得它在高速光通信和激光雷达等应用中具有更广泛的应用前景。

4. 个人观点和理解在我看来,侧入光式pin光电探测器芯片是一种非常有前景的光电器件。

它既能满足高速光通信和激光雷达等领域对快速响应的需求,又具有制作工艺简单、成本低廉的优势。

我对其在未来的应用前景非常乐观。

总结通过本文的阐述,我们对侧入光式pin光电探测器芯片及其制作方法有了更深入的了解。

我们分析了其基本结构、制作方法和性能优势,并共享了个人观点和理解。

相信读者们已经对这一主题有了更全面、深刻和灵活的认识。

侧入光式pin光电探测器芯片作为一种重要的光电器件,具有广泛的应用前景。

除了在高速光通信和激光雷达领域,它还可以在医学影像、光谱分析、遥感和光学测量等领域发挥重要作用。

随着科技的不断进步,侧入光式pin光电探测器芯片的性能和制作方法也在不断改进和优化。

高速InGaAs光电探测器芯片倒装集成结构及制作方法[发明专利]

高速InGaAs光电探测器芯片倒装集成结构及制作方法[发明专利]

专利名称:高速InGaAs光电探测器芯片倒装集成结构及制作方法
专利类型:发明专利
发明人:崔大健,高新江,黄晓峰,樊鹏,董绪丰
申请号:CN201510000957.0
申请日:20150104
公开号:CN104538480A
公开日:
20150422
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明提供一种高速InGaAs光电探测器芯片倒装集成结构,包括管芯和用于倒装焊接所述管芯的载体,所述管芯的衬底面集成微透镜,所述管芯的正面中心设有P电极,于正面中心对称设有N电极,所述载体的正面中心设有与所述P电极对应的第一金属焊盘,于正面中心对称设有与所述N电极对应的第二金属焊盘,所述第一金属焊盘上设有与所述P电极键合的第一金属凸点,所述第二金属焊盘上设有与所述N电极键合的第二金属凸点,在所述载体的正面还设有与所述第一金属焊盘金丝键合的P电极键合焊盘,以及与所述第二金属焊盘金丝键合的N电极键合焊盘。

本发明还提供一种制作方法。

本发明提供的结构简单适用,能够解决管芯倒装后芯片光电性能和结构可靠性等难点。

申请人:中国电子科技集团公司第四十四研究所
地址:400060 重庆市南岸区南坪花园路14号
国籍:CN
代理机构:北京一格知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人:刘佳
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半导体光电探测器的发展与应用

半导体光电探测器的发展与应用

半导体光电探测器的发展与应用半导体光电探测器是一种基于半导体材料和光电效应原理构造而成的器件,可以将光信号转化成电信号。

由于其高灵敏度、高速响应和稳定性等优良特性,被广泛应用于光通信、光学成像、环境监测、医学诊断等领域。

本文将围绕半导体光电探测器的发展历程、结构及原理、现状和应用等方面展开论述。

一、发展历程半导体光电探测器的发展可以追溯到20世纪20年代,当时光电效应和半导体性质的研究取得了突破性进展。

到了20世纪50年代,半导体光电探测器开始得到广泛的关注和研究。

1960年代出现的PN结光电二极管,成为第一代光电探测器。

1980年代中期,出现了速度较快、灵敏度更高的探测器,如PIN结光电二极管、Avalanche光电探测器等。

1990年代中期以后,半导体光电探测器的研究重点开始向复杂结构和新型材料的探索转移。

目前,半导体光电探测器已经成为了光电信息处理、物理学研究和制造业等领域的重要技术。

二、结构及原理半导体光电探测器的结构基本上都是由多层P型半导体、N型半导体和Intrinsic半导体组成。

其中,P型半导体和N型半导体通过PN结连接。

当光子入射到PN结上时,会激发出电子,从而改变了PN结的电流和电压差。

Intrinsic半导体通常会被用作增加载流子储存的区域。

半导体光电探测器的工作原理是通过光电效应将光子转化成电子,从而改变器件的电学性质。

光电效应是指当光子入射到半导体材料上时,会激发出电子,从而产生电位能差。

当光照射到器件上时,产生的载流子将被探测电路收集。

三、现状目前,半导体光电探测器的技术发展已经较为成熟。

在高速通信领域,APD、PIN-TIA等探测器被广泛应用于数字光纤通信和模拟光纤通信等领域。

在太空探测领域,半导体光电探测器被用于搜集天体的光与辐射等信息。

此外,半导体光电探测器还应用于光学成像、环境监测、医学诊断等领域。

随着科技的不断进步,半导体光电探测器的应用前景将更广阔。

四、应用半导体光电探测器的广泛应用主要体现在以下几个方面:1.光通信半导体光电探测器在光通信中起着至关重要的作用。

光器件和芯片的结构介绍

光器件和芯片的结构介绍

光器件和芯片的结构介绍光器件和芯片是光通信、光电子和光学等领域中重要的元器件,具有将光信号转换和处理的功能。

光器件是指用于控制、调制、放大、分束、耦合和检测光信号的器件,如光纤、光电二极管、激光器等;而芯片是指在半导体材料上制造的微小元件,通过对光电子学原理的应用,实现对光信号的处理和控制。

本文将介绍光器件和芯片的结构、功能和应用。

一、光器件的结构与功能1.光电二极管光电二极管是一种半导体器件,主要由p-n结构组成。

当接受到光信号时,光子激发了半导体材料中的载流子,产生电流,从而实现光信号到电信号的转换。

光电二极管广泛应用于光通信、光电检测和传感等领域。

2.光纤光纤是一种细长且透明的光导波导管,由芯部和包层构成。

光信号通过光纤中的总反射传输,可以减少信号衰减和互相干扰,实现高速、远距离的数据传输。

光纤在通信、网络和传感等领域中具有重要应用价值。

3.激光器激光器是一种将电能转换为光能的器件,主要由激活件、反射腔和光输出系统等组成。

激光器通过激发激活件中的电子跃迁,产生一种具有相干性和高亮度的激光光源。

激光器在通信、医疗、材料加工等领域有着广泛的应用。

4.光调制器光调制器是一种用于调制光信号的器件,主要分为强度调制器和相位调制器两种。

强度调制器通过调节光信号的强度来实现信号的调制,而相位调制器则通过调节光信号的相位来实现信号的调制。

光调制器广泛应用于光通信、激光雷达和光谱分析等领域。

5.光检测器光检测器是一种用于检测光信号的器件,主要包括光电二极管、光电倍增管、光电子管等。

光检测器可以将光信号转换为电信号,并进行放大和处理,用于光通信、光谱分析和光学成像等领域。

二、光芯片的结构与功能1.光波导光波导是一种用于光信号传输和耦合的微型结构,主要由光导芯部和包层构成。

光波导可以实现将光信号引导在芯部中传输,并通过布拉格光栅、光环等结构实现信号的调制和耦合。

光波导在光通信、传感和信息处理等领域中有着重要的应用。

光电探测器原理

光电探测器原理

光电探测器原理光电探测器是一种能够将光信号转换为电信号的器件,它在光通信、光测量、光学成像等领域有着广泛的应用。

光电探测器的原理是基于光电效应和半导体器件的特性,通过光的照射使半导体器件产生电荷载流子,从而实现光信号到电信号的转换。

本文将介绍光电探测器的工作原理、结构特点及应用领域。

光电探测器的工作原理主要基于光电效应,即当光线照射到半导体材料表面时,光子能量被半导体吸收,激发出电子和空穴对。

在外加电场的作用下,电子和空穴被分离,从而产生电流。

这种光电效应是光电探测器能够将光信号转换为电信号的基础。

另外,光电探测器还利用了半导体器件的PN结构,通过光的照射改变PN结的导电特性,从而实现对光信号的探测和转换。

光电探测器的结构特点主要包括光电转换元件、信号放大电路和输出接口。

光电转换元件是光电探测器的核心部件,它通常采用硅、锗、InGaAs等半导体材料制成,具有高灵敏度和快速响应的特点。

信号放大电路用于放大光电转换元件产生的微弱电信号,以提高信噪比和传输距离。

输出接口将放大后的电信号转换为可用的电压或电流信号,以便接入到其他电子设备中进行信号处理和传输。

光电探测器在光通信、光测量、光学成像等领域有着广泛的应用。

在光通信系统中,光电探测器用于接收光信号并转换为电信号,实现光信号的调制和解调。

在光测量领域,光电探测器可以用于测量光强、光功率和光谱等参数,实现对光信号的精确测量和分析。

在光学成像系统中,光电探测器可以将光信号转换为图像信号,实现对光学图像的采集和处理。

总之,光电探测器是一种能够将光信号转换为电信号的重要器件,它的工作原理基于光电效应和半导体器件的特性,具有灵敏度高、响应速度快的特点。

光电探测器在光通信、光测量、光学成像等领域有着广泛的应用前景,将在未来发挥越来越重要的作用。

半导体光电探测器的原理及其应用

半导体光电探测器的原理及其应用

半导体光电探测器之阳早格格创做纲要:本文介绍了光电与系统的组成、一些半导体光电探测器的处事本理及其个性,末尾叙述了光电导探测器与光伏探测器的辨别.闭键词汇:半导体光电探测器,光电系统,光电导探测器,光伏探测器弁止光电探测器是一种受光器件,具备光电变更功能.光敏器件的种类繁琐,有光敏电阻、光电二极管、光电三极管、光晶闸管、集成光敏器件等;有雪崩型的及非雪崩型的;有PN 结型、PIN结型及同量结型的等.由于光电探测器的赞同速度快,体积小,暗电流小,使之正在光纤通讯系统、光纤尝试系统、光纤传感器、光断绝器、彩电光纤传输、电视图象传输、赶快光源的光探测器、微小光旗号的探测、激光测距仪的接支器件、下压电路中的光电丈量及光电互感器、估计机数据传输、光电自动统造及光丈量等圆里得到了广大应用.半导体光电探测器是用半导体资料创造的能接支战探测光辐射的器件.光映照到器件的光敏区时,它便能将光旗号转形成电旗号,是一种光电变更功能的测光元件.它正在国防战工农业死产中有着要害战广大的应用.半导体光电探测器可分为光电导型战光伏型二种.光电导型是指百般半导体光电导管,即光敏电阻;光伏型包罗光电池、P-N结光电二极管、PIN光电二级管、雪崩光电二极管、光电三级管等.本文最先介绍了光电系统的组成,而后分别介绍其处事本理及其个性,末尾将那二类探测器举止比较.一、光电子系统的组成系统又称为收射天线,果为光波是一种电磁波,收射光教系统所起的效率战无线电收射天线所起的效率真足相共.收支进去的光旗号通过传输介量,如大气等,到达接支端.由接支光教系统或者接支天线将光散焦到光电探测器上,光电过少距离传输后会衰减,使接支到的旗号普遍很强,果此需要用前置搁大器将其搁大,而后举止解码,还本成收支端本初的待传递旗号,末尾由末端隐现器隐现出去.图1-1光电子系统图二、半导体探测器的本理1、光电导探测器光电导探测器主假如通过电阳值的变更去检测,以下尔将以光敏电阻为例介绍其处事本理.光敏电阻又称光导管, 它不极性, 杂粹是一个电阻器件, 使用时既可加曲流电压, 也不妨加接流电压.无光照时, 光敏电阻值(暗电阻)很大, 电路中电流(暗电流)很小. 当光敏电阻受到一定波少范畴的光照时, 它的阻值(明电阻)慢遽缩小, 电路中电流赶快删大. 普遍期视暗电阻越大越佳, 明电阻越小越佳,此时光敏电阻的敏捷度下. 本量光敏电阻的暗电阻值普遍正在兆欧级, 明电阻正在几千欧以下.它的处事本理图如2-1图当不光照时,Rd=10断路当有光照时,Rd= 导通2、光伏探测器光伏探测器鉴于光照爆收电势好,用测电势好的本理.它分为光电池与光电二极管二种典型,光电池主假如把光能变更为电能的器件,暂时有硒光电池、硅光电池、砷化镓及锗光电池等,但是暂时使用最广的是硅光电池.光电二级管分为P-N结光电二极管、PIN光电二级管、雪崩光电二极管、光电三级管等.以下尔将分别介绍其处事本理及其个性. 1)P-N结光电二级管2)PIN光电二级管PIN光电二极管又称赶快光电二极管,与普遍的光电二极管相比,它具备不的时间常量,并使光谱赞同范转背少波目标移动,其峰值波少可移至1.04~1.06um而与YAG激光器的收射波少相对于应.它具备敏捷度下的便宜,所以通时常使用于强光检测(线性).它的结构图如2-3所示,它是由P型半导体战N型半导体之间夹了一层本征半导体形成的.果为本征半导体近似于介量,那便相称于删大了P-N结结电容二个电极之间的距离,使结电容变得很小.其次,P型半导体战N型半导体中耗尽层的宽度是随反背电压减少而加宽的,随着反偏偏压的删大,结电容也要变得很小.由于I层的存留,而P区普遍干得很薄,进射光子只可正在I层内被吸支,而反背偏偏压主要集结正在I区,产死下电场区,I区的光死载流子正在强电场效率下加速疏通,所以载流子渡越时间常量()减小,进而革新了光电二极管的频次赞同.共时I层的引进加大了耗尽区,展宽了光电变更的灵验处事地区,进而使敏捷度得以普及.3)雪崩光电二级管雪崩光电二级管(APD)是得用光死载流子正在下电场区内的雪崩效力而赢得光电流删益,具备敏捷度下、赞同快等便宜,通时常使用于激光测距、激光雷达、强光检测(非线性).APD雪崩倍删的历程是:当光电二极管的p-n结加相称大的反背偏偏压时,正在耗尽层内将爆收一个很下的电场,它脚以使正在强电场区漂移的光死载流子赢得充分的动能,通过与晶格本子碰碰将爆收新的电子-空穴对于.新的电子-空穴对于正在强电场效率下,分别背好同的目标疏通,正在疏通历程中又大概与本子碰碰再一次爆收新的电子-空穴对于.如许反复,产死雪崩式的载流子倍减少.那个历程便是APD的处事前提.APD普遍正在略矮于反背北脱电压值的反偏偏压下处事.正在无光照时,p-n结不会爆收雪崩倍删效力.但是结区一朝有光映照,激励出的光死载流子便被临界强电场加速而引导雪崩倍删.若反背偏偏压大于反背打脱电压时,光电流的删益可达(十的六次圆)即爆收“自持雪崩倍删”.由于那时出现的集粒噪声可删大到搁大器的噪声火仄,以以致器件无法使用.4)光电三级管光电三级管与光电二极管比较,光电三级管输出电流较大,普遍正在毫安级,但是光照个性较好,多用于央供输出电流较大的场合.光电三极管有pnp战npn型二种结构,时常使用资料有硅战锗.比圆用硅资料创造的npn型结有3DU型,pnp型有3CU型.采与硅npn型光电三极管,其暗电流比锗光电三极管小,且受温度变更效率小,所以得到位广大应用.底下以3DU型光电三极管为例证明它的结构、处事本理与主要个性.3DU型光电三极管是以p型硅为基极的三极管,如图2-4(a)所示.由图可知,3DU管的结媾战一般晶体管类似,不过正在资料的掺杂情况、结里积的大小战基极引线的树立上战一般晶体管分歧.果为光电三极管要赞同光辐射,受光里即集电结(bc结)里积比普遍晶体管大.其余,它是利用光统造集电极电流的,所以正在基极上既可树立引线举止电统造,也不妨不设,真足共光一统造.它的处事本理是处事时各电极所加的电压与一般晶体管相共,即要包管集电结反偏偏置,收射正偏偏听偏偏置.由于集电结是反偏偏压,正在结区有很强的内修电场,对于3DU管去道,内修电场目标是由c到b的.战光电二极管处事本理相共,如果有光照到集电结上,激励电子-空穴对于,接着那些载流子被内修电场分散,电子流背集电极,空穴流背基极,相称于中界背基极注进一个统造电流Ib=Ip.果为收射打队结是正偏偏置的,空穴则留正在基区,使基极电位降下,收射极便有洪量电子经基极流背集电极,总的集电极电流为Ic=Ip+βIp=(1+β)Ip,式中β为电流删益系数.由此可睹,光电三极管的集电结是光电变更部分.共时集电极、基极、收射极形成一个有搁大效率的晶体管.所以正在本理上不妨把它瞅万里一个由光电二极管与一般晶体管分散而成的拉拢件,如图2-4(b)所示.光电三级管另一个个性是它的明暗电流比要比光电二极管、光电池、光电导探测器大,所以光电三极管是用去做光启闭的理念元件.3.光电导探测器与电伏探测器的辨别1)光电导探测器是均值的,而光伏探测器是结型的.2)光。

光电探测器综述(PD)讲解

光电探测器综述(PD)讲解

光电探测器综述摘要:近年来,围绕着光电系统开展了各种关键技术研究,以实现具有高集成度、高性能、低功耗和低成本的光电探测器(Photodetector)及光电集成电路(OEIC)已成为新的重大挑战。

尤其是具有高响应速度,高量子效率和低暗电流的高性能光电探测器,不仅是光通信技术发展的需要,也是实现硅基光电集成的需要,具有很高的研究价值。

本文综述了近十年来光电探测器在不同特性方向的研究进展及未来几年的发展方向,对其的结构、相关工艺和制造的研究具有很重要的现实意义。

关键词:光电探测器,Si ,CMOSAbstrac t: In recent years, around the photoelectric system to carry out the study of all kinds of key technologies, in order to realize high integration, highperformance, low power consumption and low cost of photoelectricdetector (Photodetector) and optoelectronic integrated circuit (OEIC) hasbecome a major new challenge. Especially high response speed ,highquantum efficiency, and low dark current high-performance photodetector,is not only the needs for development of optical communication technology,but also realize the needs for silicon-based optoelectronic integrated,has thevery high research value.This paper reviews the development of differentcharacteristics and results of photodetector for the past decade, and discusses thephotodetector development direction in the next few years,the study of highperformance photoelectric detector, the structure, and related technology,manufacturing, has very important practical significance.Key Word: photodetector, Si ,CMOS一、光电探测器1.1概念光电探测器在光通信系统中实现将光转变成电的作用,这主要是基于半导体材料的光生伏特效应,所谓的光生伏特效应是指光照使不均匀半导体或半导体与金属结合的不同部位之间产生电位差的现象。

半导体光电探测器原理及优化方法

半导体光电探测器原理及优化方法

半导体光电探测器原理及优化方法半导体光电探测器是一种能够将光信号转化为电信号的器件,广泛应用于光通信、光电子学、光学传感等领域。

本文将介绍半导体光电探测器的工作原理,并探讨其优化方法。

一、原理半导体光电探测器是通过光生或热生成电荷载流子来实现光电转换的。

其工作原理主要涉及以下几个关键过程:1. 光吸收:当光照射到半导体材料上时,光子与原子之间发生相互作用,导致电子能级的跃迁。

这种跃迁可以通过直接带隙吸收或间接带隙吸收来实现。

2. 电荷生成:吸收能量的光子会激发半导体材料内的电子从价带跃迁到导带,形成自由电子和空穴。

这种电子空穴对的形成可以通过光电效应或热激励来实现。

3. 电荷传输:生成的电子和空穴会在半导体内发生迁移,并在外加电场的作用下分别向电极移动。

这种电荷迁移过程可以通过扩散、漂移和电场效应来实现。

4. 电荷收集:最后,电子和空穴会在电极上被收集形成电流信号。

这个过程需要有效的电荷收集区域和电荷收集结构来实现高效的电流转换。

二、优化方法为了提高半导体光电探测器的性能,可以采取以下一些优化方法:1. 材料选择:不同的半导体材料具有不同的带隙结构和光吸收特性。

根据实际需求,选择能够匹配光源波长、具有较高吸收系数和较小吸收损耗的材料,可以提高光电转换效率。

2. 结构设计:优化器件的结构设计能够有效提高电子和空穴的收集效率。

例如,在光电探测器的表面引入光栅结构,可以增加光电子的吸收深度和电子在电极上的收集效率。

3. 探测区域增大:增大探测区域可以提高器件接收光信号的能力。

通过工艺优化,增大活动面积,可以有效提高器件的灵敏度和响应速度。

4. 降低噪声:降低器件的噪声水平对于提高探测器的信噪比非常重要。

采取合适的工艺控制和电路设计,降低暗电流和暗电流噪声,可以有效提高器件的信号检测精度。

5. 温度控制:温度对半导体光电探测器的工作性能影响较大。

保持器件在适宜的温度范围内工作,可以提高器件的稳定性和可靠性。

光电探测器的制备与性能测试

光电探测器的制备与性能测试

光电探测器的制备与性能测试一、引言在人类的生活和工作中,光电探测器已经成为一种非常重要的技术手段。

光电探测器可以将光信号转化为电信号,从而可以应用于遥感、医疗、通讯等领域。

本文主要介绍光电探测器的制备方法和性能测试技术。

二、光电探测器的制备方法光电探测器的制备方法一般分为两种,一种是半导体材料制备法,另一种是光学材料制备法。

下面将对这两种制备方法进行介绍。

1.半导体材料制备法半导体材料制备法主要应用于制备半导体光电探测器。

其制备步骤主要包括以下几个方面:(1)条件准备:首先需要选择合适的半导体材料,如硅(Si)、锗(Ge)、氮化镓(GaN)等。

同时需要确保实验环境具备较高的纯净度和稳定性。

(2)生长晶体:将材料放入石墨炉或气相沉积系统中,通过加热和气相反应的方法,使材料在试样基板上生长晶体。

(3)制备器件:将生长好的晶体进行切割、抛光等工艺处理,以制备出光电探测器。

(4)测试性能:使用测试设备对制备好的光电探测器进行性能测试。

2.光学材料制备法光学材料制备法主要应用于制备光电探测器的接收光学系统。

其制备步骤主要包括以下几个方面:(1)条件准备:选择光学材料,如玻璃、石英等。

同时需要确保实验环境具备较高的纯净度和稳定性。

(2)加工材料:将所选材料进行精密加工、抛光等工序,以制备出光电探测器所需的光学部件。

(3)组装器件:将制备好的光学部件组装到光电探测器上。

(4)测试性能:使用测试设备对制备好的光电探测器进行性能测试。

三、光电探测器的性能测试技术光电探测器的性能测试技术主要包括以下几个方面:1.光电灵敏度测试光电灵敏度是指在单位光强度下,光电探测器输出的电流或电压大小。

通常使用光强调制法或直接照射法进行光电灵敏度测试。

2.响应时间测试光电探测器响应时间是指探测器的输出电流在受到刺激后,达到最大输出值所需时间。

响应时间测试主要采用电突法或脉冲照射法进行。

3.量子效率测试量子效率是指在光子刺激下光电探测器输出的电子数与入射光子数之比。

探测器介绍

探测器介绍

一、探测器组件产品描述:探测器组件是一种将光电探测器芯片与低噪声放大器电路封装在同一管壳内的光电子器件。

光信号照射到探测器光敏面上,探测器产生光电流输入到低噪声放大电路,低噪声放大电路将微弱电流信号转换为电压信号后放大输出,从而实现了“光—电—信号放大”转换过程。

该组件主要由探测器芯片、低噪声放大电路、输出驱动电路等组成。

采用厚/薄膜混合二次集成、立体装配工艺、光纤耦合技术制作成标准DIP8/DIP14封装形式。

产品参数产品特性:1.工作范围宽,线性度好、信噪比高、重复性好、寿命长;2.检测信号易于处理,易于传输,抗干扰性能好;3.与被测对象所处环境相容;4.体积小、重量轻、可靠性高等;5.跨阻、封装形式等可根据用户要求进行定制。

应用领域:1 .可用于各类光纤陀螺系统;2 .可用于各种光纤传感器,如:水听器、电流传感器、温度传感器;3 .可用于生物、医学、化学分析等领域的光纤相干层析成像系统。

二、SLD光源产品描述:SLD(thesuperluminesent diode)是一种对自发辐射进行放大的单程增益器件。

在正向电流注入下,有源区内的载流子发生粒子数反转分布,电子从导带跃迁到价带,与空穴复合释放出光子。

光子在腔体中传播时通过受激发射而放大,但由于腔体的两个端面的反射率都很低,不能形成光反馈,因而SLD 输出弱相干光。

该模块主要由SLD芯片、温度传感器芯片、半导体制冷器、热沉等部件组成。

采用共晶烧结、立体装配工艺、光纤耦合技术制作成标准金属蝶形封装形式。

产品参数:产品特性:1.输出功率大:能够有效提高系统的分辨率;2.光谱宽:光源的相干长度短,能有效降低陀螺和传感系统中背向散射噪声带来的影响;3.温度特性好,能够在无外部致冷的情况下可靠工作;4.光源参数、封装形式等可根据用户要求进行定制。

应用领域:1 .主要用于光纤传感和光纤陀螺,是光纤传感和陀螺系统理想光源和关键元件;2 .可以广泛用于器件测试、光学相干层析成像等领域。

光电传感器芯片

光电传感器芯片

光电传感器芯片光电传感器芯片(OPA)是一种能将光信号转换为电信号的硅芯片。

它是光电技术中最重要的一种基础器件,广泛应用于光电测量、光电控制以及光电通信等领域。

光电传感器芯片的基本结构由光敏电极和读出电路组成。

光敏电极是由富含掺杂功率器件制备而成的,能够在光的作用下产生电压信号。

读出电路用于将光辐射引起的电压信号放大,并经过模数转换,最终输出为数字信号。

光电传感器芯片的工作原理是基于内部光敏电极与外部光源之间的相互作用。

当光照射到光敏电极上时,光子会与芯片内的光敏材料相互作用,使电子发生跃迁,从而产生电压信号。

这个信号经过读出电路的放大和转换处理后,可以获得到准确的光强度或光功率信息。

光电传感器芯片具有很多优点。

首先,它具有高度的灵敏度和准确度,能够对微小的光强度变化进行精确测量。

其次,由于采用了集成化设计,光电传感器芯片的体积小、重量轻,可以方便地嵌入到各种电子设备中。

此外,由于芯片内部采用了大规模集成电路技术,可以实现高速数据处理和存储。

光电传感器芯片在实际应用中有很多重要的应用。

在光电测量领域,它可以用于光功率计、光谱仪、光电积分器等测量设备中,能够对光的强度、波长、频率等进行精密测量。

在光电控制领域,光电传感器芯片可以用于自动光源控制、自动跟踪系统等,实现对光源的精确控制。

在光电通信领域,光电传感器芯片可以用于光模块、光路开关等器件中,实现高速光信号的接收和发送。

总之,光电传感器芯片作为一种重要的光电器件,具有很高的应用价值。

它的小型化、高灵敏度和高准确度等特点,使其能够广泛应用于光电测量、光电控制以及光电通信等领域。

随着科学技术的不断发展,相信光电传感器芯片将会在更多的领域有更加广泛的应用。

光电探测器的原理

光电探测器的原理

光电探测器的原理
光电探测器是一种能够将光信号转换为电信号的器件,它在光
电通信、光电传感、光学测量等领域发挥着重要作用。

其工作原理
主要基于光电效应和半导体器件的特性。

光电效应是光电探测器能够实现光电转换的基础。

当光线照射
到半导体材料表面时,光子能量被吸收,激发了材料内部的电子,
使其跃迁到导带中,从而产生了电子空穴对。

这些电子空穴对会在
材料内部扩散,最终形成电流。

这种通过光子激发产生电子空穴对
的过程就是光电效应。

在光电探测器中,半导体材料扮演着至关重要的角色。

常见的
半导体材料包括硅、锗、砷化镓等。

这些材料具有良好的光电特性,能够高效地将光信号转换为电信号。

此外,光电探测器中的半导体
材料通常会被掺杂,形成P型和N型半导体,以产生PN结构。

当光
子照射到PN结上时,会产生光生载流子,从而形成电流。

这种PN
结的结构使得光电探测器具有了很高的灵敏度和响应速度。

除了光电效应和半导体材料的特性外,光电探测器的工作原理
还与光电探测器的结构密切相关。

光电探测器的结构通常包括光电
转换单元和信号处理单元。

光电转换单元负责将光信号转换为电信号,而信号处理单元则负责放大、滤波、数字化等处理,以提高信号的质量和适应不同的应用场景。

总的来说,光电探测器能够实现光信号到电信号的转换,其工作原理主要基于光电效应和半导体材料的特性。

通过合理的结构设计和信号处理,光电探测器能够实现高灵敏度、高响应速度和稳定的光电转换效果,广泛应用于光通信、光传感、光学测量等领域,为人们的生活和工作带来了诸多便利。

bosa原理

bosa原理

bosa原理
BOSA(激光芯片)是一种新型的光学集成电路芯片,其原理
主要包括以下几个方面:
1. 激光波导:BOSA芯片内部集成了激光波导,通过在波导中
注入电流来激发带电子,使之产生光子。

波导由具有反射功能的高折射率材料构成,可以将光子限制在波导中传输,并产生自发辐射。

2. 光探测器:BOSA芯片还集成了光探测器,用于接收外部光
信号并将其转换为电信号。

在光探测器中,光子撞击到半导体材料上产生电子-空穴对,从而产生电流。

3. 光耦合:BOSA芯片中的激光波导和光探测器之间需要实现
光信号的传输和耦合。

通常使用光纤与芯片进行光耦合,将光信号传输到芯片内部进行处理。

4. 电-光-电转换:BOSA芯片可以实现电光和光电转换的功能。

电信号通过外部电路输入到芯片中,经过电光转换芯片将电信号转换为光信号,然后通过光波导传输出去。

同样地,光信号也可以通过光探测器转换为电信号,通过光波导传输到芯片进行处理或输出。

综上所述,BOSA芯片利用激光波导和光探测器实现光信号的
发射和接收,通过光耦合和电-光-电转换实现与外部电路的连
接和通信。

新型光电探测器的性能与应用前景

新型光电探测器的性能与应用前景

新型光电探测器的性能与应用前景在当今科技飞速发展的时代,光电探测器作为一种能够将光信号转换为电信号的关键器件,正经历着日新月异的变革。

新型光电探测器的出现,为众多领域带来了前所未有的机遇和挑战。

本文将详细探讨新型光电探测器的性能特点以及其广阔的应用前景。

一、新型光电探测器的性能特点1、高灵敏度新型光电探测器在灵敏度方面取得了显著的提升。

这意味着它们能够检测到极其微弱的光信号,哪怕是光子级别的光量也能被精准捕捉。

这种高灵敏度的特性使得在诸如天文观测、生物医学成像等对信号微弱度要求极高的领域中,能够获取到更精确、更有价值的信息。

2、宽光谱响应传统的光电探测器往往只能在特定的光谱范围内工作,而新型光电探测器则具备了更宽的光谱响应能力。

从紫外线到红外线,甚至是太赫兹波段,都能有效地进行光信号的检测。

这一特性大大拓展了其应用场景,例如在环境监测中,可以同时检测多种不同波长的光辐射,提供更全面的环境信息。

3、快速响应速度在许多实际应用中,光电探测器的响应速度至关重要。

新型光电探测器能够实现极短的响应时间,以纳秒甚至皮秒级的速度对光信号做出反应。

这使得它们在高速通信、激光测距等领域中表现出色,能够准确地捕捉到快速变化的光信号。

4、低噪声水平噪声是影响光电探测器性能的一个重要因素。

新型光电探测器通过采用先进的材料和制造工艺,有效地降低了噪声水平,提高了信号的质量和准确性。

这在对信号精度要求苛刻的应用中,如量子通信、精密测量等,具有重要意义。

5、高分辨率具有高分辨率的新型光电探测器能够更清晰地分辨光信号的细节。

在图像传感、光学显微镜等领域,能够提供更精细、更逼真的图像和数据。

二、新型光电探测器的应用前景1、通信领域随着 5G 技术的普及和 6G 技术的研发,对高速、大容量的通信需求日益增长。

新型光电探测器凭借其快速响应速度和宽光谱响应,能够在光通信中实现更高的数据传输速率和更稳定的信号传输,为构建更高效的通信网络提供支持。

半导体光电探测器的制备及其应用研究

半导体光电探测器的制备及其应用研究

半导体光电探测器的制备及其应用研究随着科技的不断进步,人们对新材料的研究和应用也越来越深入。

半导体材料作为一种重要的功能材料,在信息、电子等领域有着广泛的应用。

而其中的光电探测器则是半导体材料应用的重要组成部分。

本文将针对半导体光电探测器的制备及其应用进行探讨。

一、半导体光电探测器概述半导体光电探测器是指利用半导体材料作为检测元件并通过其结构设计使其对光信号转换成电信号的器件。

根据其基本原理,可以将光电探测器分为两类:光电二极管和光电倍增管。

光电二极管主要由PN结组成,当光照射到PN结时,光电子和空穴会在PN结内部释放,形成一个电荷对,并导致PN结中载流子的扩散和漂移。

此时,如果PN结中的电场适当调整,就可以使得电荷对被不对称地移动到PN结中的一个极端,形成电荷分离。

最终产生的电信号与光入射到光电二极管的能量密度成正比。

光电倍增管则主要通过二次发射的方式将光信号转变为电信号。

光电倍增管一般由光阴极、象增加管和输出结构三个部分组成。

当光照射到光阴极时,光电子被激发而成为自由电子,进入极小场镜面,由于其表面粗糙,自由电子将相继发生多次离子化,进而产生大量二次电子。

这些二次电子在愈来愈强的电场的作用下,被加速到像增加管中,并在其中产生电子增益效应,使得输出电流远大于输入光信号。

二、半导体光电探测器制备技术面对不同应用场景的需要,对半导体光电探测器的性能和可靠性有着不同的要求。

因此,在制备半导体光电探测器时需要科学地选择合适的半导体材料、器件结构及制备技术。

半导体光电探测器的制备主要分为四个方面:半导体材料选择、器件结构设计、微纳加工工艺和封装技术。

1.半导体材料选择根据不同应用的需求,半导体材料可以选择Silicon(Si)、Indium gallium arsenide(InGaAs)、Gallium arsenide(GaAs)、Mercury cadmium telluride(HgCdTe)等材料。

tsl230

tsl230

tsl230TSL230光敏测量芯片:原理和应用摘要:TSL230是一种光敏测量芯片,广泛应用于光敏传感器和光测量仪器。

本文将介绍TSL230芯片的工作原理和应用,并探讨其在不同领域中的潜在应用。

1. 引言TSL230是一款高速光敏测量芯片,集成了光敏电脑前端电路和频率输出接口。

它具有高精度和高灵敏度的特点,被广泛应用于光测量领域,如光强测量、色度测量、光谱分析等。

2. TSL230芯片的工作原理TSL230芯片采用了光敏二极管和电荷放大器的结构,具有良好的响应特性和稳定性。

当光射入光敏二极管时,产生的电流经过电荷放大器放大并转换为电压信号。

该电压信号经过数字处理后可得到对应的光强等参数。

3. TSL230芯片的主要特性TSL230芯片具有以下主要特性:- 宽频率范围:TSL230的频率范围可达10kHz,可适应不同频率场景的测量需求。

- 高动态范围:TSL230芯片的动态范围大约为150dB,可以测量非常宽范围的光强信号。

- 低功耗:TSL230芯片的低功耗设计使其适用于电池供电的系统。

4. TSL230芯片的应用4.1 光强测量TSL230芯片在光强测量方面具有广泛应用。

通过测量光照强度,我们可以获得对环境光照的准确评估。

这对于环境感知和光控制应用非常重要。

4.2 色度测量TSL230芯片还可以用于色度测量。

通过测量不同波长下的光强度,我们可以计算出色度参数,如色彩饱和度、色温等。

这在照明领域和图像处理中具有重要的应用价值。

4.3 光谱分析由于TSL230芯片的高灵敏度和高动态范围,它可以用于光谱分析。

通过测量不同波长下的光强度,我们可以得到物质的吸收谱线和发射谱线,从而实现光谱分析。

4.4 自动亮度调节TSL230芯片还可以用于自动亮度调节。

通过测量环境光照强度,系统可以自动调整显示器、照明设备等的亮度,以提供更好的视觉体验和能源效率。

5. TSL230芯片的优缺点TSL230芯片的主要优点是高精度、高灵敏度和宽频率范围等。

半导体光电探测器(精)

半导体光电探测器(精)

半导体光电探测器摘要:本文介绍了光电与系统的组成、一些半导体光电探测器的结构和工作原理,最后阐述了光电导探测器与光伏探测器的区别。

关键词:半导体光电探测器,光电系统,光电导探测器,光伏探测器Semiconductor photoelectric detectorAbstract:This paper introduces the composition of photoelectric and system, the structure and working principle of some semiconductor photoelectric detector,finally describes the distinction of photoconductive detector and photovoltaic detector.Key words:semiconductor photoelectric detector,photoelectric system,photoconductive detector,photovoltaic detector引言光电探测器是一种受光器件,具有光电变换功能。

光敏器件的种类繁多,有光敏电阻、光电二极管、光电三极管、光晶闸管、集成光敏器件等;有雪崩型的及非雪崩型的;有PN结型、PIN结型及异质结型的等。

由于光电探测器的响应速度快,体积小,暗电流小,使之在光纤通讯系统、光纤测试系统、光纤传感器、光隔离器、彩电光纤传输、电视图象传输、快速光源的光探测器、微弱光信号的探测、激光测距仪的接收器件、高压电路中的光电测量及光电互感器、计算机数据传输、光电自动控制及光测量等方面得到了广泛应用。

半导体光电探测器是用半导体材料制作的能接收和探测光辐射的器件。

光照射到器件的光敏区时,它就能将光信号转变成电信号,是一种光电转换功能的测光元件。

它在国防和工农业生产中有着重要和广泛的应用。

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6.2.4 表面漏电流(Leakage current) 由于表面钝化工艺引起的表面电荷迁移引起。
80um diameter InGaAs Planar PIN PD Id<=50pA(低偏压到中等偏压时,Id 与面积成正比,偏压较高时Id与直径成正比,见后图)
Id d 2 Id d
• 6.3 结电容(C-V特性曲线)
C Cp Cj
Cj
Wd
0 r Area
Wd
2( Va ) 0 r qNd
Cj Area
0 r qNd
2( Va )
• 此公式适用于外加电势在最大耗尽层之内,超过最 大耗尽层后,Va增加不会导致Wd增加.
• 典型的CV曲线图
2( Va ) 0 r Wd qNd
• Va:外加偏压 • Nd: 载流子浓度 • Wd:耗尽层厚度
• 6 PIN PD的光电特性
• 6.1 η量子效率和响应度R
R Ip Pin ( A / W )(mA/ mW)
Ip / q 产生的电子-空穴数 h = R 入射光子数 Pin / h q hc 1.24 R R q
光纤通信用光电探测器
• MSM (Metal-Semiconductor-Metal)
InGaAs PIN PD 工作原理
1.III-V 族半导体材料特性:
InGaAs PIN PD 工作原理
2.晶格结构:闪锌矿晶格结构
• 3 能带:Ec conduction ; Ev valence ;
Eg band gap
光电探测器的基本原理及一般分类
• 光电导效应: 半导体材料吸收光辐射而产生载流子 (光生载流子),从而使半导体的导电率 发生变化的现象。 光伏效应: 在有PN结的半导体材料中,外界光入射 后产生的载流子在P区及N区堆积产生电势。
光电探测器的基本原理及一般分类
• 1 常用光电探测器分类:
按可探测的波长范围 紫外光探测器(200~400nm):GaN,金刚石膜,SiC ,ZnO,TiO2…
V K1U1 K 2U12 K 3U13 .... K1 ( A cos(1t 1 ) B cos(2t 2 )) K 2 (( A cos(1t 1 ) B cos(2t 2 ))2 K 3 (( A cos(1t 1 ) B cos(2t 2 ))3 3 3 K 3 A3 K 3 AB2 ) 4 2 3 3 cos(2t 2 )(K 2 B K 3 B 3 K 3 A2 B) 4 2 1 1 cos(21t 21 ) K 2 A2 cos(22t 2 2 ) K 2 B 2 2 2 cos((1 2 )t (1 2 ))K 2 AB cos(1t 1 )(K1 A cos((1 2 )t (1 2 ))K 2 AB 1 1 cos(31t 31 ) K 3 A3 cos(32t 3 2 ) K 3 B 3 4 4 3 cos((21 2 )t (21 2 )) K 3 A2 B 4 3 cos((21 2 )t (21 2 )) K 3 A2 B 4 3 cos((22 1 )t (2 2 1 )) K 3 AB2 4 3 cos((22 1 )t (2 2 1 )) K 3 AB2 4 1 1 K 2 A2 K 2 B 2 2 2
光纤通信用光电探测器
• 分类: 1)吸收材料: • Si • GaAs • InGaAs • Ge
光纤通信用光电探测器
2)结构类型: • PN(Positive-Negative)
光纤通信用光电探测器
• PIN(Positive-Intrinsic-Negative)
光纤通信用光电探测器
• APD (Avalanche-Photodiode )
CATV PIN PD 测试频率: f1:50MHz f2:505MHz f1:400MHz f2:450.25MHz Pin=1mW(P1=P2=0.5mW OMI=40%) RL=50ohm或75ohm IMD2<-70dBc IMD3<-80dBc
• 6.8 InGaAs/InP PD光谱吸收特征
固体由分立的原子凝聚而成.因此固体中的电于状态不同 于原子中的电子状态,但两者的电子状态之间又必定存在 着联系。当每个原子都处于孤立状态时,电子都有相同的 能级结构。如将这些孤立原子看作一个系统,那么每个电 子能级都是简并的。如果将这些原子逐渐靠近。则它们之 间的相互作用就会增强。首先是最外层的波函数发生交叠, 这时相应于孤立原子的电子能级,内于原子之间的相互作 用就要解除简并。原来具有相同能值的几个能级将分裂为 具有不同能量值的几个能级。原于的间距愈小,电子波函 数的交叠就越厉害,则分裂出来的能级之间的能量差距就 放大。若由N个相同原子聚集而成为固体,则相应于孤立 原子的每个能级将分裂成N个能级。由于原子数N很大, 所以分裂出来的能级将是 十分密集的。它们形成一个能 量数值上准连续的能带,称为允许带。由不同的原子能级 所形成的允许带之间的间隔为禁止能带。

单的PN结,是在反向偏压作用下增加内建电场和耗尽层厚度。在入射光的作用下产生电子空穴 对,这些电子空穴对在耗尽层内的以较高的速度漂移,在耗尽层外则以扩散速度向两个电极运 动,因此总的速度较慢,要增加响应速度就不得不增加反压来增加耗尽层宽度。另外的办法是 使N层的掺杂浓度降低来从而在固定的偏压下获得较高的耗尽层厚度,从而提高速度。因而考 虑在PN结中间增加I(近乎本征)层的区域。
• • • • • • • InP:Eg=1.3eV In0.53Ga0.47As:Eg=0.75eV Eg InGaAs<hv<Eg InP 解释: 1.短波长截至 2:光谱斜率不直 3:温度关系
• 带宽计算常用公式
0.35 tr fr fr 0.35 tr
2 2 2 tr tdrift tdiffused t RC
tdrift Wd /

tdiffused (Ws Wd ) / diffsued
t RC 2.2RC

• 典型PD带宽图
5V
10V
• fr-Wd and Area
4 光电吸收
A:hv>=Eg时,电子会从价带跃迁到导带,形成电子空穴对。
B:hv<Eg时,不会发生电子跃迁。
• 5: 异质结,PIN结构及特点 • PN结使用同种材料制作的称为同质结,采用不同材料制作的称为异
质结。另外还有同型同质结,异型异质结。采用两种材料制作的形成 的异质结具有某些同质结不具备的功能。如,异质结晶体管中用宽带 的一侧做发射极会得到较高的注入比等,在激光器的应用中的载流子 及光子的限制作用,PD中的透明窗口作用等。
J diff J s [exp(qV / kT ) 1] Js qni2 D p / nLp
ni: 本征载流子密度 Dp:空穴扩散系数
Lp :空穴扩散长度
• •
6.2.2 产生复合电流(Generation-recombination current) Ig-r:耗尽区内的电子空穴对产生和复合形成的电流。
• 6.2.5 Id VS Temp.
• 从图中可以看出低于320K是,在中等偏压范围,Id随Vr有轻微的变化, 大于320K时与偏压几乎无关。
从图中可以得知,在~297K以下,Id~exp(-ΔE/2kT) ~297K 以上,Id~exp (-ΔE/kT) 变化。因此变化更快。
• 6.2.6反向击穿电压(Vb) • PD在反向偏置时,当暗电流达到某个特定值如(10uA 或1uA)时的电压 值.测试时,限制电流不应该超过PD的最大额定电流,否则会造成PD的 损坏(曲线参考I-V 反向曲线) • 6.2.7 正向开通电压(VF) • 与Vb定义相反,当正向偏置下电流达到某个特定值时电压值,一般定义 电流为1mA下的电压值为开通电压.
T1e
0d1
(1 e
0Wd
)
• η<=1 T1 为投射率,α0 为吸收系数 • InGaAs PD:R>=0.85A/W@1310nm • GaAs PD :R>=0.5A/W@850nm
• 6.2 暗电流(Id-Vr关系)
• • • • 无光照射下,在外加偏压下的PD电流。 暗电流根据形成机理主要分: 扩散电流,产生复合电流,隧穿电流,表面漏电流 6.2.1扩散电流Idiff:耗尽区周围的非耗尽区P区和n区内的少数载流子向耗 尽区扩散形成的电流。扩散电流密度Jdiff:Js: 饱和扩散电流密度

6.7 模拟应用时的IMD2.IMD3 指标 IMD (Intermodulation distortion), CSO( Composite Second Order) CTB (Composite Triple Beat) 对一般测试:取A=B 所以三阶非线形成的频率为: ω1 ; ω2 2ω1; 2ω2 ω1-ω2; ω1+ω2 3ω1 ; 3ω2 2ω1-ω2; 2ω1+ω2; 2ω2-ω1; 2ω2+ω1
J gr (qniWd / eff )[exp( / 2kT ) 1] qV
• • teff是:载流子等效寿命 在Vr反偏电压较低的时候,暗电流主要是以上两种因素。且产生复合电流是 温度较低的情况占主要地位,扩散电流是温度较高情况下占主要地位。 6.2.3 隧穿电流(Tunneling Current) 当外加偏压足够高时,隧穿电流逐渐占主要地位。隧穿电流的主要特性是类 似于指数变化的软击穿特性。
• 6.6 串联电阻Rs
(Ws Wd ) Rs Rc A
• Ws 衬底厚度,Wd 耗尽层厚度,ρ 表面电阻率 • 6.7频率响应fr • fr指输出电信号幅度下降3dB时的频率值,表征 PD响应速度的快慢. • tr,tf 指PD对于输出为方脉冲的10-90%的上 升或下降时间 • tdrift:载流子在耗尽层平均漂移时间 • tdiffused:载流子在非耗尽层的扩散时间. • tRC 二极管电路的寄生RC常数
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