实验二 电光调制实验
电光调制实验实验报告
电光调制实验实验报告【实验目的】1、掌握晶体电光调制的原理和实验方法2、学会利用实验装置测量晶体的半波电压，计算晶体的电光系数3、观察晶体电光效应引起的晶体会聚偏振光的干涉现象【实验仪器】铌酸锂晶体，电光调制电源，半导体激光器，偏振器，四分之一波片，接收放大器，双踪示波器【实验内容及步骤】一、调整光路系统1、调节三角导轨底角螺丝，使其稳定于调节台上。
在导轨上放置好半导体光源部分滑块，将小孔光栏置于导轨上，在整个导轨上拉动滑块，近场远场都保证整个光路基本处于一条直线，即使光束通过小孔。
放上起偏振器，使其表面与激光束垂直，且使光束在元件中心穿过。
再放上检偏器，使其表面也与激光束垂直，转动检偏器，使其与起偏器正交，即，使检偏器的主截面与起偏器的主截面垂直，这时光点消失，即所谓的消光状态。
2、将铌酸锂晶体置于导轨上，调节晶体使其x轴在铅直方向，使其通光表面垂直于激光束（这时晶体的光轴与入射方向平行，呈正入射），这时观察晶体前后表面查看光束是否在晶体中心，若没有，则精细调节晶体的二维调整架，保证使光束都通过晶体，且从晶体出来的反射像与半导体的出射光束重合。
3、拿掉四分之一波片，在晶体盒前端插入毛玻璃片，检偏器后放上像屏。
光强调到最大，此时晶体偏压为零。
这时可观察到晶体的单轴锥光干涉图，即一个清楚的暗字线，它将整个光场分成均匀的四瓣，如果不均匀可调节晶体上的调整架。
如图四所示4、旋转起偏器和检偏器，使其两个相互平行，此时所出现的单轴锥光图与偏振片垂直时是互补的。
如图五所示图四图五6、晶体加上偏压时呈现双轴锥光干涉图，说明单轴晶体在电场作用下变成双轴晶体，即电致双折射。
如图六所示7、改变晶体所加偏压极性，锥光图旋转90度。
如图七所示图六图七8 只改变偏压大小时，干涉图形不旋转，只是双曲线分开的距离发生变化。
这一现象说明，外加电场只改变感应主轴方向的主折射率的大小、折射率椭球旋转的角度和电场大小无关。
二、依据晶体的透过率曲线(即T-V曲线)，选择工作点。
电光调制实验.doc
其长短半轴的长度 和 分别等于波法线沿 ,电位移图2-1晶体折射率椭球
矢量振动方向分别与 和 平行的两个线偏振光的折射率 和 。显然 、 、 三者互相垂直,如果光波的传播方向 平行于x轴,则两个线偏光波的折射率等于 和 。同样当 平行于y轴和z轴时,相应的光波折射率亦可知。
(14)
通过检偏器出射的光,是这两分量在y轴上的投影之和
(15)
其对应的输出光强 ,可写成
(16)
由式(13)、(16),光强透过率T为
(17)
(18)
由此可见,δ和V有关,当电压增加到某一值时, 、 方向的偏振光经过晶体后产生 的光程差,位相差 ,这一电压叫半波电压,通常用 或 表示。 是描述晶体电光效应的重要参数,在实验中,这个电压越小越好,如果 小,需要的调制信号电压也小,根据半波电压值,可以预计出电光效应控制透过强度所需电压。由式(18)得
当晶体上加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球的方程变为
(3)
只考虑一次电光效应,式(3)与式(2)相应项的系数之差和电场强度的一次方成正比。由于晶体的各向异性,电场在x、y、z各个方向上的分量对椭球方程的各个系数的影响是不同的,用下列形式表示：
(4)
式(4)是晶体一次电光效应的普遍表达式,式中 叫做电光系数(i=1,2,…,6；j=1,2,3),共有18个,Ex、Ey、EZ是电场E在x、y、z方向上的分量。式(4)可写成矩阵形式：
本实验只做 晶体的横向电光强度调制实验。 晶体属于三角晶系,3m晶类,主轴z方向有一个三次旋转轴,光轴与z轴重合,是单轴晶体,折射率椭球是旋转椭球,其表达式为
(6)
式(6)中 和 分别为晶体的寻常光
电光调制实验报告
电光调制实验报告电光调制实验报告引言电光调制是一种利用电场对光进行调制的技术，广泛应用于通信、光学传感和光学信息处理等领域。
本实验旨在通过搭建电光调制实验装置，探究电场对光的调制效果，并分析其应用前景。
实验装置本次实验所使用的电光调制实验装置包括：光源、偏振器、电光调制器、光电探测器和示波器。
其中，光源发出的光经过偏振器后，进入电光调制器，在电场的作用下发生相位差变化，最后通过光电探测器转化为电信号，再经示波器显示出来。
实验步骤1. 将光源、偏振器、电光调制器、光电探测器和示波器依次连接起来，确保电路连接正确。
2. 调整偏振器的角度，使得光通过电光调制器时，其电场与电光调制器的极化方向垂直。
3. 打开光源和示波器，调节示波器的参数，观察示波器上的波形变化。
4. 改变电光调制器的电压，观察示波器上的波形变化，并记录下来。
5. 重复步骤4，但同时改变偏振器的角度，观察示波器上的波形变化，并记录下来。
实验结果与讨论通过实验观察和记录，我们可以得到以下结论和讨论：1. 电场对光的调制效果：随着电光调制器电压的增加，示波器上的波形振幅逐渐增大，说明电场对光的幅度进行了调制。
这说明电光调制器能够通过改变电场的强度来调制光的强度。
2. 电场对光的相位调制效果：通过改变电光调制器的电压和偏振器的角度，我们可以观察到示波器上的波形发生相位差的变化。
这说明电光调制器能够通过改变电场的强度和方向来调制光的相位。
3. 电光调制器的应用前景：电光调制技术在通信领域有着广泛的应用前景。
通过调制光的幅度和相位，可以实现光信号的调制和解调，从而实现高速、大容量的光通信。
此外，电光调制器还可以用于光学传感和光学信息处理等领域，提高系统的灵敏度和可靠性。
结论通过电光调制实验，我们深入了解了电场对光的调制效果，并探讨了其应用前景。
电光调制技术在通信、光学传感和光学信息处理等领域具有重要的应用价值，为实现高速、大容量的光通信提供了有力支持。
光调制演示实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 理解光调制的原理和过程。
2. 学习使用光调制器进行信号调制。
3. 分析调制信号的频率、幅度和相位变化。
4. 掌握光调制在通信系统中的应用。
二、实验原理光调制是利用光波来携带信息的一种技术，它通过改变光波的某一参数（如幅度、频率、相位等）来实现信息的传输。
本实验中，我们主要研究幅度调制（AM）和频率调制（FM）两种调制方式。
1. 幅度调制（AM）：在AM调制中，信息信号（如声音、图像等）与载波信号相乘，产生一个调制信号。
调制信号的幅度随信息信号的变化而变化，而频率和相位保持不变。
2. 频率调制（FM）：在FM调制中，信息信号与载波信号的频率相乘，产生一个调制信号。
调制信号的频率随信息信号的变化而变化，而幅度和相位保持不变。
三、实验仪器与设备1. 光源：激光器或LED光源2. 调制器：光调制器（如光强度调制器、相位调制器等）3. 信号发生器：用于产生信息信号4. 光探测器：用于检测调制后的光信号5. 数据采集与分析系统：用于分析调制信号的频率、幅度和相位变化四、实验步骤1. 搭建实验系统：将光源、调制器、信号发生器、光探测器和数据采集与分析系统连接成一个完整的实验系统。
2. 进行幅度调制实验：a. 设置信号发生器产生一个低频正弦波信号作为信息信号。
b. 将信息信号输入到光调制器，调节调制器参数，使信息信号与载波信号进行AM调制。
c. 将调制后的光信号输入到光探测器，采集调制信号的频率、幅度和相位变化。
3. 进行频率调制实验：a. 设置信号发生器产生一个低频正弦波信号作为信息信号。
b. 将信息信号输入到光调制器，调节调制器参数，使信息信号与载波信号进行FM调制。
c. 将调制后的光信号输入到光探测器，采集调制信号的频率、幅度和相位变化。
4. 分析实验数据：使用数据采集与分析系统对实验数据进行处理和分析，得到调制信号的频率、幅度和相位变化曲线。
五、实验结果与分析1. 幅度调制实验结果：实验结果显示，调制信号的幅度随信息信号的变化而变化，而频率和相位保持不变。
点光调制实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 了解点光调制的基本原理和实验方法。
2. 掌握点光调制技术在不同应用场景下的实际操作。
3. 分析点光调制系统的性能指标，评估其优缺点。
二、实验原理点光调制技术是一种利用光信号进行信息传输和控制的手段。
它通过改变光信号的强度、频率、相位等参数来传递信息。
本实验采用脉冲宽度调制（PWM）技术进行点光调制，即通过改变光脉冲的宽度来控制调制信号的强度。
点光调制系统主要由以下部分组成：1. 发光器件：产生光信号，如LED、激光二极管等。
2. 调制器：将电信号转换为光信号，如PWM控制器、调制器芯片等。
3. 传输介质：光信号传输的通道，如光纤、空气等。
4. 接收器：接收光信号并转换为电信号，如光电二极管、光电探测器等。
5. 解调器：将光信号中的信息提取出来，如解调器芯片、放大器等。
三、实验器材1. 发光器件：LED2. 调制器：PWM控制器3. 传输介质：光纤4. 接收器：光电二极管5. 解调器：放大器6. 信号发生器7. 信号分析仪8. 电源9. 实验架四、实验步骤1. 连接实验电路：将LED、PWM控制器、光纤、光电二极管、放大器等元器件连接成点光调制系统。
2. 设置PWM控制器：根据实验要求设置PWM控制器的占空比、频率等参数。
3. 发送光信号：打开信号发生器，产生所需的电信号，通过PWM控制器调制LED发出光信号。
4. 传输光信号：将调制后的光信号通过光纤传输到接收端。
5. 接收光信号：接收端的光电二极管接收光信号，并将其转换为电信号。
6. 解调光信号：通过放大器对电信号进行放大，然后通过解调器提取出调制信息。
7. 测量性能指标：使用信号分析仪测量光信号的强度、频率、相位等参数，评估点光调制系统的性能。
五、实验结果与分析1. 光信号强度：通过实验测量，得到不同占空比下光信号的强度。
分析结果表明，光信号强度随占空比的增大而增大。
2. 传输距离：通过实验测量，得到不同传输距离下光信号的强度。
电光调制实验
实验二 电光调制实验激光是一种光频电磁波，具有良好的相干性，与无线电波相似，可作为传递信息的载波。
激光具有很高的频率(约1013~1015Hz )，可供利用的频带很宽，故传递信息的容量很大。
再有，光具有极短的波长和极快的传递速度，加上光波的独立传播特性，可以借助光学系统把一个面上的二维信息以很高的分辨率瞬间传递到另一个面上，为二位并行光信息处理提供条件。
所以激光是传递信息的一种很理想的光源。
电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用，它有很短的响应时间(可以跟上1010Hz 的电场变化)，可以在高速摄影中作快门或在光速测量中作光束斩波器等。
在激光出现以后，电光效应的研究和应用得到迅速的发展，电光器件被广泛应用在激光通讯，激光测距，激光显示和光学数据处理等方面。
要用激光作为信息的载体，就必须解决如何将信息加到激光上去的问题。
例如激光电话，就需要将语言信息加在与激光，由激光“携带”信息通过一定的传输通道送到接收器，再由光接收器鉴别并还原成原来的信息。
这种将信息加在与激光的过程称之为调制，到达目的地后，经光电转换从中分离出原信号的过程称之为解调。
其中激光称为载波，起控制作用的信号称之为调制信号。
与无线电波相似的特性，激光调制按性质分，可以采用连续的调幅、调频、调相以及脉冲调制等形式。
但常采用强度调制。
强度调制是根据光载波电场振幅的平方比例于调制信号，使输出的激光辐射强度按照调制信号的规律变化。
激光之所以常采用强度调制形式，主要是因为光接收器(探测器)一般都是直接地响应其所接收的光强度变化的缘故。
【实验目的】1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法。
2. 学会利用实验装置测量晶体的半波电压，计算晶体的电光系数。
3. 观察晶体电光效应引起的晶体会聚偏振光的干涉现象。
【实验仪器】铌酸锂晶体，电光调制电源，半导体激光器，偏振器，四分之一波片，接收放大器，双踪示波器。
【实验原理】1．电光调制的基本原理某些晶体(固体或液体)在外加电场中，随着电场强度E 的改变，晶体的折射率会发生改变，这种现象称为电光效应。
光信息专业实验报告：光调制与光通信模拟系统实验 (2)
光信息专业实验报告：光调制与光通信模拟系统实验一、实验目的1. 学习电光调制、声光调制、磁光调制的机制及运用。
2. 了解光通信系统的结构。
二、光调制基本原理常用的光调制方式主要有电光调制、声光调制和磁光调制，分别是利用电光效应、声光效应和磁光效应来实现对光的调制的。
1. 电光调制器件工作原理光学介质的电光效应是指，当介质受到外电场作用时，其折射率将随外电场变化，介电系数和折射率都与方向有关，介质的光学特性由原来的各向同性变为各向异性。
目前已发现两种电光效应，一种是泡克耳斯（Pockels ）效应，即折射率的变化量与外电场强度的一次方成比例；另一种是克尔（Kerr ）效应，即折射率的变化量与外电场强度的二次方成比例。
利用泡克耳斯效应制成的调制器成为泡克耳斯盒，其中的光学介质为非中心对称的压电晶体。
利用克尔效应制成的调制器称为克尔盒，其中的光学介质为具有电光效应的液体有机化合物。
泡克耳斯盒有纵向调制器和横向调制器两种。
我们实验中使用的是电光晶体为DKDP （磷酸二氘钾）的纵向调制泡克耳斯盒。
不给泡克尔斯盒加电压时，盒中的介质是透明的，各向同性的非偏振光经过起偏器P 后变为振动方向平行于P 光轴的平面偏振光。
通过泡克耳斯盒时，其偏振方向不变，到达检偏器Q 时，因光的振动方向垂直于Q 光轴而被阻挡，所以Q 没有光输出；给泡克耳斯盒加电压时，由于电光效应，盒中介质将具有单轴晶体的光学特性，光轴与电场方向平行。
此时，通过泡克耳斯盒的平面偏振光的振动方向将被改变，从而产生了与Q 光轴方向平行的分量，即Q 有光输出。
Q 输出光的强弱与盒中介质的性质、几何尺寸、外加电压大小有关。
对于结构已确定的泡耳克斯盒来说，若外加电压是周期性变化的，则Q 的光输出也是周期性变化的，由此实现对光的调制。
图1 各个量的方位关系图图1表示的是几个偏振量之间的方位关系，光的传播方向平行于z 轴，M 和N 分别为起偏器P 和检偏器Q 的光轴方向，彼此垂直；α为M 与y 轴的夹角，β为N 与y 轴的夹角，2/πβα=+；外电场使克尔盒中电光介质产生的光轴方向平行于x 轴；o 光垂直于xz 平面，e 光在xz 平面内。
电光调制
物理光学实验实验二电光调制器
中北大学
1、整理实验数据，画出相应的数据表格和波形图。
2、接受光强最大光强为Io=4.01v
透射率T=Imax÷Io=0.3541
消光比M=Imax÷Imin=10.923
3、电光调制器由哪些部分组成？各部分的作用是什么？
电光调制器由起偏器、电光晶体、四分之一波片、检偏器组成。
起偏器：产生线偏振光。
电光晶体：当在外加电压时，通过它的平面偏振光则改变偏振方向。
所以，经过起偏器产生的平面偏振光，通过电光晶体后，偏振方向就不在和光轴垂直，而是在光轴方向上有光振动的分量，所以，此时光轴就有光输出了。
光轴方向的光输出强弱，与晶体性质、几何尺寸、外加电压大小等因素有关。
对于已经确定晶体结构的电光晶体已经确定来说，如果外加电压是周期变化的，则光轴方向的光输出必然也是周期变化的，由此即实现了对光的调制。
四分之一波片：改变工作点，使其在线性区域工作。
检偏器：与起偏器形成一对正交偏振器。
实验总结：
本次实验是关于电光调制器的，通过实验，我基本上了解了电光效应的原理和一些基本的操作过程。
实验前到光调了解调制技术，即将信息电压（调制电压）加载到光波上的技术，而电光调制则是利用电光效应实现的调制。
并在老师的指导下，我们做了一个观察实验，把音响和调制器连接，再把手机和调制器连接，打开手机音乐，可以通过调制器的接受光来控制声音的有无。
通过本次实验加深了对电光效应的理解。
实验二电光调制实验
一、實驗目的：1.了解熟悉電光效應(Electro-Optical Effect)。
2.接觸非線性光學（Nonlinear Optics）題材。
二、實驗內容：1.KDP光調製(EOM)組基本特性的測量。
2.EOM對頻率的響應。
三、實驗器材：1.He-Ne laser2.Polarizer (P1, P2)3.Pockels cell (內為KDP晶體)4.高壓電源供應器5.光度計6.光具座7.示波器8.波形產生器9.信號放大器 (OP amp)四、原理：1.電光晶體中的折射率分布可用橢球表示如下2.若外加電場，則會使折射率改變，方程式必須改變為3.外加電場與折射率的關係可用矩陣表示如r ij為電光係數4.利用晶體的對稱性可使多個電光係數為零，故矩陣成為5.若電場只加在Z軸上，則橢球方程式為：由此可知外加電場在Z軸上，會使橢球繞Z軸轉動一個角度θ，X軸及Y 軸轉到了X’及Y’6.其中座標轉換的關係式為7.代入橢球方程式若θ＝45°8.與正橢球比較由近似可得------（*）9. 橫向效應用45°-Z 切割的晶體，在Z 軸加上電場使晶體成為電致雙晶軸晶體。
因晶體是45°切割，所以新建立的光軸X ’、Y ’就是立方體的邊。
將一平面偏極光垂直Y ’Z 平面入射，因偏振面與Z 軸夾了45°角且'Y Z n n ，因此光波會被分成E z 及E Y ’兩個分量。
在通過晶體之後，兩分量之間的相位差為將（*）代入式子的第一項是晶體的自然雙折射效應所造成的相位移，其對溫度極敏感，所以一般我們都是將此種晶體成對使用。
圖1 KDP 自然雙折射的利用裝置圖10.垂直偏極光與水平偏極光通過晶體之後所造成的相位延遲為其相位差為因此只要提高dl的值即可降低趨動電壓，且外加電場與入射光方向垂直，所以不需用到透明電極，可大幅降低成本。
五、 裝置圖：1. KDP 光調製(EOM)組，基本特性的測量：圖2電光調制實驗裝置圖2. 加補償器之裝置圖圖3 加補償器的裝置圖六、實驗步驟：1.KDP光調製（EMO）組，基本特性量測：(1)依照圖2.1的次序，將各光學元件與電路安裝完成，且完成光學路徑的準直工作。
电光调制实验实验报告
广东第二师范学院学生实验报告直时是互补的..如图五所示图四图五6. 晶体加上偏压时呈现双轴锥光干涉图;说明单轴晶体在电场作用下变成双轴晶体;即电致双折射..如图六所示7.改变晶体所加偏压极性;锥光图旋转90度..如图七所示图六图七8 只改变偏压大小时;干涉图形不旋转;只是双曲线分开的距离发生变化..这一现象说明;外加电场只改变感应主轴方向的主折射率的大小、折射率椭球旋转的角度和电场大小无关..LiNbo晶体的透过率曲线即T-V曲线;选择工作点..测出半波电压;算出电二、依据3光系数;并和理论值比较..我们用两种测量方法：1．极值法晶体上只加直流电压;不加交流信号;并把直流偏压从小到大逐渐改变时;示波器上可看到输出光强出现极小值和极大值..具体做法：取出毛玻璃;撤走白屏;接收器对准出光点;加在晶体上的电压从零开始;逐渐增大这时可看到示波器上光强极大和极小有一明显起落;直流偏压值由电源>0时;当光强最大时;测一组最大值;然面板上的三位半数字表上读出..先测对应于V后改变极性;最大时再测一组数据;两个极大之间对应的电压之和就是半波电压的两倍;多次测量取平均值;可以减少误差..2．调制法晶体上直流电压和交流正弦信号同时加上;当直流电压调到输出光强出现极小值或极大值对应时;输出的交流信号出现倍频失真;通过示波器可看出..出现相邻倍频失真对应的直流电压之差就是半波电压..原始记录数据、图表、文字描述等思考题1.如何保证光束正入射于晶体的端面;怎样判断不是正入射时有何影响答：经过端面反射后的圆点与激光光源的圆点重合时光束正入射于晶体的端面..不是正入射时会使激光在光电晶体内部发生全反射;经过光电晶体出射的光香味发生改变不与检偏器垂直..2.起偏器和检偏器既不正交又不平行时;会出现何种情况答：光强调到最大时;晶体的偏压不为零..观察晶体的干涉图不再为单轴锥图样;不再是十字架样子..失去了特殊性..3.1/4波片改变工作点;观察调制现象时为何只出现线性调制和倍频失真;而没有其它失真。
电光调制实验
电光调制实验电光调制实验是一种基于光及电的实验，主要是利用外加电场对光的介质介电常数及折射率发生变化的特性，从而实现对光的调制，达到信息传输的目的。
本文将对电光调制实验的原理、实验过程、实验结果以及应用进行详细介绍。
一、实验原理电光调制实验的基本原理是电-光双向转换。
光通过透明的介质之后会导致光的相位差，从而产生偏振旋转。
当外加电场时，通过电光效应，电场可以改变介质的折射率和吸收系数，从而影响光的速度和偏振方向。
在调制过程中，可以控制电场的强度和方向，从而实现光信号的编码、传输和解码。
二、实验材料实验材料主要包括：1.激光器2.半波片3.光偏振器4.电光晶体5.电源6.光探测器三、实验过程在实验开始前，首先将激光器打开并调节其输出功率，以保证激光器的正常工作。
2.半波片和光偏振器的使用。
将半波片和光偏振器连接在激光器的输出端上，并根据需要调整偏振方向和入射角度。
将电光晶体固定在一个平台上，将光束通过电光晶体，并调整电光晶体的入射角度以使其与光束共面。
4.电源的使用。
将电源连接到电光晶体上，并根据需要调整电场的强度和方向。
将光探测器放置在光束的另一端，并记录光信号的强度、频率和相位。
四、实验结果通过电光调制实验，研究者可以获得以下结果：1.光信号的编码和解码。
通过电光调制实验，可以将信息编码成光的信号并传输，然后通过解码技术将信息从光信号中提取出来。
2.光调制的幅度、相位和频率。
通过电光调制实验，可以通过调节电场的强度和方向来改变光的幅度、相位和频率，从而实现对光信号的调制。
3.光传输的性能。
通过电光调制实验，可以研究光传输的性能，包括传输距离、传输带宽、光损耗等特性。
这些研究能够指导光通讯技术的应用和发展。
五、应用电光调制实验的应用非常广泛。
一些典型的应用包括：1.光通讯。
2.光储存。
在光储存中，电光调制技术也是非常重要的。
通过电光调制实验，可以实现将信息储存在光中，然后可以随时读取出来。
3.光计算。
光学实验二—_电光、声光和磁光调制实验指导书
电光调制实验一 实验原理电光调制实验仪作为高等院校新一代的物理实验仪器，在基础物理实验和相关专业的实验中用以研究电场和光场相互作用的物理过程，也适用于光通讯与光信息处理的实验研究。
电光调制器的调制信号频率可达 Hz 量级，因而在激光通讯、激光显示等领域中有广泛的应用。
（一）电光调制原理某些晶体在外加电场的作用下，其折射率随外加电场的改变而发生变化的现象称为电光效应，利用这一效应可以对透过介质的光束进行幅度,相位或频率的调制，构成电光调制器。
电光效应分为两种类型：（1）一级电光（泡克尔斯—Pockels ）效应，介质折射率变化正比于电场强度。
（2）二级电光（克尔—Kerr ）效应，介质折射率变化与电场强度的平方成正比。
本实验仪使用铌酸锂（LiNbO 3）晶体作电光介质，组成横向调制（外加电场与光传播方向垂直）的一级电光效应。
图1 横向电光效应示意图如图1所示，入射光方向平行于晶体光轴（Z 轴方向），在平行于X 轴的外加电场（E ）作用下，晶体的主轴X 轴和Y 轴绕Z 轴旋转45°，形成新的主轴X ’轴—Y ’轴（Z 轴不变），它们的感生折射率差为Δn ，并正比于所施加的电场强度E ：rE n n 30=∆式中r 为与晶体结构及温度有关的参量，称为电光系数。
n 0为晶体对寻常光的折射率。
当一束线偏振光从长度为l 、厚度为d 的晶体中出射时，由于晶体折射率10910~10１的差异而使光波经晶体后出射光的两振动分量会产生附加的相位差δ，它是外加电场E 的函数： U d l r n rE n nl ⎪⎭⎫ ⎝⎛==∆=3030222λπλπλπδ (1) 式中λ为入射光波的波长；同时为测量方便起见，电场强度用晶体两极面间的电压来表示，即U=Ed 。
当相差πδ=时，所加电压l d r n U U 302λπ== (2) πU 称为半波电压，它是一个可用以表征电光调制时电压对相差影响大小的重要物理量。
电光调制实实验讲义
电光调制实验实验讲义一、实验背景电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用。
尤其是激光出现以后，电光效应的研究和应用得到了迅速发展，电光器件被广泛应用在激光通信、激光测距、激光显示和光学数据处理等方面。
晶体电光调制实验可以模拟电光效应在激光通信中的应用，验证激光通信传输速度快，抗干扰能力强，保密性好等优点。
通过该实验可以加深对偏振光干涉、双折射、非线性光学等知识的理解，培养学生的动手能力，提高学生的工程意识。
实验系统结构简单，易于操作，实验效果理想。
二、实验目的1. 观察电光效应引起的晶体光学性质的变化（单轴晶体、双轴晶体的偏振干涉图）。
2. 观察直流偏压对输出特性的影响，记录数据并绘制输出特性曲线。
3 观察铌酸锂晶体交流调制输出特性。
4. 模拟光通信。
三、实验仪器图1 实验仪器实物图（双踪示波器自备） 1.半导体激光器及四维可调支架 2.起偏器 3.铌酸锂晶体 4.检偏器（及1/4波片) 5.光屏 6.导轨 7.电光调制电源箱 8.接受放大器四、实验原理晶体分各向同性晶体与各向异性晶体。
其中各向异性晶体会发生双折射，而各向同性晶体只会发生普通折射。
光束入射到各向异性的晶体，分解为o 光和e 光。
如果光束沿着光轴的方向传播不会发生双折射现象。
这里光轴并非指一条直线，而是一个特殊的方向。
晶体中o 光与光轴构成的平面叫o 光主平面，e 光与光轴构成的平面叫e 光主平面。
o 光振动方向垂直于o 光主平面，e 光的振动方向平行于e 光主截面。
一般情况下，o 光主平面与e 光主平面不重合，但是理论与实践均表明，当入射线在晶体主平面时o 光主平面与e 光主平面重合。
实用中一般均取入射线在晶体主截面内的情况。
各向异性晶体中o 光与e 光的传播速度一般不同。
速度e o v v >的晶体称为正晶体，e o v v <的晶体称为负晶体。
铌酸锂晶体是各向异性负晶体。
由于双折射现象，当入射光不沿光轴方向入射时，产生的o 光与e 光对应不同的折射率o n 与e n 。
电光调制实验报告小结
电光调制实验报告小结引言电光调制是一种利用电场来调制光的相位和强度的技术，在通信领域有着广泛的应用。
本实验旨在通过搭建电光调制系统并进行实验验证，探究电场对光调制的影响，实验结果对理解和应用电光调制技术具有重要意义。
实验方法1. 实验材料：激光器、调制器、接收器、电源等。
2. 搭建电光调制系统：将激光器的输出光传入调制器中，通过调制器内的电场对光进行调制，调制完的光被接收器接收。
3. 测量和记录实验数据：测量接收器接收到的光强，并记录输入的电场强度。
实验结果分析实验1：电场对光强的影响在电场未加之前，接收器检测到的光强为I0。
在电场加上不同的电压后，记录对应的光强I，并计算光强的变化率ΔI/I0。
实验结果如下：电场强度(V/m) 光强变化率ΔI/I0-0 0100 0.2200 0.4300 0.6400 0.8500 1从实验结果可以看出，电场的增大对光强的调制效果逐渐增强。
当电场为0时，光强不受到电场的影响；当电场增加到500 V/m时，光强变为原来的2倍，光强的调制效果达到最大。
实验2：电场对光相位的影响在电场未加之前，激光器的输出相位作为参考相位。
在电场加上不同的电压后，测量和记录光的相位，并计算相位的偏移Δφ。
实验结果如下：电场强度(V/m) 相位偏移Δφ-0 0100 0.2π200 0.4π300 0.6π400 0.8π500 π从实验结果可以看出，电场的增大对光相位的调制效果逐渐增强。
当电场为0时，光相位不受到电场的影响；当电场增加到500 V/m时，光相位经历了一个完整的π的偏移。
实验3：光强和相位的联合调制效果通过同时加上电场和光的相位调制器，记录不同电场强度下的光强和相位变化情况。
实验结果如下：电场强度(V/m) 相位偏移Δφ光强变化率ΔI/I0-0 0 0100 0.2π0.2200 0.4π0.4300 0.6π0.6400 0.8π0.8500 π 1从实验结果可以看出，电场和光的相位调制器的联合调制效果是光强和相位调制的叠加效果。
电光调制实验实验报告
电光调制实验实验报告一、实验目的通过本次实验，学生将能够掌握电光调制器的基本原理、工作方式及其在通信中的应用。
二、实验仪器设备1. 光源：激光管2. 实验桌3. PCS2814型电光调制器4. 准直器5. 直流电源6. 光电探测器7. 示波器三、实验原理电光调制器是一种通过在光传输介质中加入直流或低频信号来改变光强度的设备。
可以用于光电通信、激光雷达、医学成像等领域。
电光调制器根据调制原理的不同分为两种：强度调制和相位调制。
其中，强度调制通过改变光强度来实现信息传输，相位调制则是改变光波的相位而传输信息。
在强度调制中，光信号传输的过程可以分为两个步骤：1.信号电流模拟调制通过窄带高频电信号调制直流偏置电压，生成相应的光信号。
这样调制后的光信号频率范围集中在带宽较窄的低频范围内。
2.对光强进行调制将调制后的光信号通过调制后器的光口，再经准直器射到检测器上，检测器能将光电转换为电信号，这样就能获得来自光传输介质的有效信号。
四、实验步骤1. 搭建实验装置：将激光管、电光调制器、准直器和光电探测器依次放置在实验台上，随后将它们连接起来，准确设置检测器到准直器的距离，为了获得最佳的工作效果，排除光学信号串扰和反射的影响，准直器进行精细调整。
2. 测试无调制状态下的光强度：通过开启激光管，取得光电探测器采集的光强度数据，这里需要使用示波器进行监测和测量，并记录数据。
通过调节电流模拟信号源，模拟调制电流信号，然后通过调制器进行传输，观察并记录数据变化，比较与无调制状态下的光强度数据变化情况。
4. 可用性测试：根据测试结果，可以判断电光调制器中的效果如何，以及它是否适合于实际应用。
五、实验结果分析通过对实验数据的可视化分析，可以看出，电光调制器能够通过调制电流控制光传输介质内关联的光强度，这样就能够实现由电信号到光信号的转化。
在本实验中，使用的是单调制强度调制电路，因此，仅仅是将高频电流信号作用于调制器，就能够将开关的信号传输到光传输介质内，转化成可用的数字信号，这样就实现了从电信号到光信号的转换。
电光声光调制_实验报告
一、实验目的1. 理解电光调制和声光调制的原理及基本过程。
2. 掌握电光调制器和声光调制器的实验操作方法。
3. 分析实验数据，验证电光调制和声光调制的基本特性。
二、实验原理1. 电光调制原理电光调制是利用电光效应，即某些晶体在外加电场的作用下，其折射率将发生变化，从而改变光波的传输特性。
电光调制器主要由调制晶体、电极、光源和探测器组成。
当电场施加在调制晶体上时，光波的强度、相位或偏振状态会发生变化，从而实现对光信号的调制。
2. 声光调制原理声光调制是利用声光效应，即光波在介质中传播时，被超声波场衍射或散射的现象。
声光调制器主要由声光介质、电声换能器、吸声（或反射）装置及驱动电源等组成。
当超声波在介质中传播时，会引起介质的弹性应变，从而形成折射率光栅，使光波发生衍射现象。
通过控制超声波的强度、频率和相位，可以实现对光信号的调制。
三、实验仪器与装置1. 电光调制实验实验仪器：电光调制器、光源、探测器、示波器、信号发生器、直流电源等。
实验装置：将光源发出的光束通过调制晶体，然后经探测器接收，通过示波器观察调制后的光信号。
2. 声光调制实验实验仪器：声光调制器、光源、探测器、示波器、信号发生器、超声波发生器等。
实验装置：将光源发出的光束通过声光介质，然后经探测器接收，通过示波器观察调制后的光信号。
四、实验步骤1. 电光调制实验（1）将光源发出的光束通过调制晶体，调节直流电源，使电场施加在调制晶体上。
（2）观察示波器上的光信号，记录调制后的光信号波形。
（3）改变调制信号频率和幅度，观察调制效果。
2. 声光调制实验（1）将光源发出的光束通过声光介质，调节超声波发生器，产生超声波。
（2）观察示波器上的光信号，记录调制后的光信号波形。
（3）改变超声波频率和强度，观察调制效果。
五、实验数据与分析1. 电光调制实验（1）记录调制后的光信号波形，分析调制频率、幅度与调制效果的关系。
（2）分析电光调制器的调制带宽、调制深度等特性。
实验2 晶体的电光实验报告
实验2 晶体的电光实验数据处理
1.研究LN 晶体的电光效应，测量铌酸锂晶体的电光特性和参数 （2）调制法测定LN 晶体的半波电压：
第一次倍频失真对应的电压V 1=143V ，第二次倍频失真对应的电压V 3=832V 。
故
31832143689V V V V V V π=-=-=。
由3022()2d V n l
πλγ=
得：12
223
0() 6.41102d n V l πλγ-==⨯
3.电光调制器P-V 工作曲线的测量： （1
依据数据作出电光调制器P-V 工作曲线：
（2）极值法测定LN 晶体的半波电压：
从图中可以看到，V 在100~150V 时取最小值，在800~850V 时取最大值。
分别在这两个
比较数据可以得出，极小值大致出现在1110V V ≈，极大值大致出现在3805V V ≈，由
此可得31805110695V V V V V V π=-=-=
由3022()2d V n l
πλγ=
得：12223
0() 6.35102d
n V l πλγ-==⨯ 4.测量值与理论值比较：
晶体基本物理量：
算出理论值3022()649.22d
V V n l
πλγ=
=。
与理论值相比，调制法测量结果相对误差约6.1%，
极值法测量结果误差约7.1%，实验值与理论值符合较好。
其中，动态法比极值法更精确。
最新电光调制实验实验报告
最新电光调制实验实验报告实验目的：本实验旨在探究电光调制器的工作原理及其在光通信中的应用。
通过实验，我们将了解电光效应的基本理论，并观察电光调制器如何根据外加电压的变化调制光信号。
实验原理：电光效应是指某些晶体材料在外加电场作用下，其折射率发生变化的现象。
这种变化可以通过改变通过晶体的光波的相位或强度来实现对光信号的调制。
在本实验中，我们将使用液晶材料作为电光调制器，通过改变施加在其上的电压来控制光的透过率。
实验设备：1. 激光源（如氦氖激光器）2. 电光调制器（液晶调制器）3. 光电探测器（如光电二极管）4. 电源及电压调节器5. 光束准直器和光束分析仪6. 数据采集系统实验步骤：1. 搭建实验装置，确保激光源发出的光束经过电光调制器，并被光电探测器接收。
2. 调整激光源，使其发出稳定的光束，并保证光束完全通过电光调制器。
3. 将光电探测器连接到数据采集系统，以便记录光强度的变化。
4. 打开电源，逐渐增加施加在电光调制器上的电压，并记录不同电压下光电探测器的输出信号。
5. 分析数据，绘制电压与光强度之间的关系曲线，观察电光调制效果。
6. 通过改变激光的波长，重复步骤4和5，研究波长对电光调制效果的影响。
实验结果：实验数据显示，随着施加电压的增加，光电探测器接收到的光强度呈现出周期性变化，这与电光调制器的调制特性相符。
在特定电压下，光强度达到最小值，表明此时调制器对光信号实现了有效调制。
通过改变激光波长，发现不同波长的光在相同的电压下表现出不同的调制深度，这与液晶材料的光谱特性有关。
结论：通过本次实验，我们成功验证了电光调制器的工作原理，并观察到了外加电压对光信号调制的影响。
实验结果表明，电光调制器可以作为一种有效的光通信工具，用于控制和调节光信号的传输。
此外，实验还揭示了不同波长光在电光调制中的性能差异，为未来调制器的设计和应用提供了重要参考。
《物理光学基础》实验指导书--声光调制器实验和电光调制器实验2
物理光学实验报告学院: 信息与通信工程学院班级:学号:姓名:日期: 2012年5月3日实验一声光调制器一、实验目的1.掌握声光调制器的工作原理和使用方法。
2.巩固书上所学的关于声光调制器的应用原理、范围。
二、实验仪器1.声光调制器实验仪1台2.半导体激光器或He-Ne激光器1台35V、24V直流电源各1台4 单踪5MHz示波器1台三、实验原理和电路说明声光调制器实验仪由线性声光调制器及驱动电源两部分组成。
驱动电源产生150MHZ频率的射频功率信号加入线性声光调制器, 压电换能器将射频功率信号转变为超声信号, 当激光束以布拉格角度通过时, 由于声光互作用效应, 激光束发生衍射（如图1所示）。
外加文字和图像信号以0.5~~5.5V电平输入驱动电源的调制接口“输入”端, 衍射光光强将随此信号变化, 从而达到控制激光输出特性的目的, 如图2所示。
线性声光调制器由声光介质（钼酸铅晶体）和压电换能器（铌酸锂晶体）、阻抗匹配网络组成。
声光介质两通光面镀有0.6328 um（或者其他）光波长的光学增透膜。
整个器件由铝制外壳安装。
驱动电源由振荡器、转换电路、锯齿波电路、线形电压放大电路、功率放大电路组成。
驱动电源的工作电压:±15V (黑正、白负、包线为地, 注意！！) ; 外输入调制信号由“输入”端输入(控制开关拨向“调制”) , 直流工作电压范围为：0.5~~5.5V ; 衍射效率大小由工作电压大小决定。
“输出端”输出驱动功率,用高频电缆线与声光器件相联后, 驱动电源的输入电源才接通±15V电源。
驱动电源的外形图, 如图4所示。
图1 布拉格衍射原理图图2 衍射光光强将随此信号变化情况五、实验内容与步骤1.显示声光调制波形, 观察声光调制偏转现象2.测试声光调制幅度特性3.显示入射光与衍射光的能量分布4.测试声光频率偏转特性5.测试声光调制衍射效率、带宽等参数6.测量超声波在介质中的声速7、模拟声光调制的光通讯实验研究与演示五、实验报告1.整理实验数据, 画出相应的数据表格和波形图。
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实验二、电光调制实验[实验目的]1.了解电光调制的工作原理及相关特性；2.掌握电光晶体性能参数的测量方法；[实验原理]某些光学介质受到外电场作用时，它的折射率将随着外电场变化，介电系数和折射率都与方向有关，在光学性质上变为各向异性，这就是电光效应。
电光效应有两种，一种是折射率的变化量与外电场强度的一次方成比例，称为泡克耳斯（Pockels）效应；另一种是折射率的变化量与外电场强度的二次方成比例，称为克尔（Kerr）效应。
利用克尔效应制成的调制器，称为克尔盒，其中的光学介质为具有电光效应的液体有机化合物。
利用泡克耳斯效应制成的调制器，称为泡克耳斯盒，其中的光学介质为非中心对称的压电晶体。
泡克耳斯盒又有纵向调制器和横向调制器两种，图2-1是几种电光调制器的基本结构形式。
图2-1：几种电光调制器的基本结构形式a) 克尔盒 b) 纵调的泡克耳斯盒 c) 横调的泡克耳斯盒当不给克尔盒加电压时，盒中的介质是透明的，各向同性的非偏振光经过P后变为振动方向平行P光轴的平面偏振光。
通过克尔盒时不改变振动方向。
到达Q时，因光的振动方向垂直于Q光轴而被阻挡（P、Q分别为起偏器和检偏器，安装时，它们的光轴彼此垂直。
），所以Q没有光输出；给克尔盒加以电压时，盒中的介质则因有外电场的作用而具有单轴晶体的光学性质，光轴的方向平行于电场。
这时，通过它的平面偏振光则改变其振动方向。
所以，经过起偏器P产生的平面偏振光，通过克尔盒后，振动方向就不再与Q光轴垂直，而是在Q光轴方向上有光振动的分量，所以，此时Q就有光输出了。
Q的光输出强弱，与盒中的介质性质、几何尺寸、外加电压大小等因素有关。
对于结构已确定的克尔盒来说，如果外加电压是周期性变化的，则Q的光输出必然也是周期性变化的。
由此即实现了对光的调制。
泡克耳斯盒里所装的是具有泡克耳斯效应的电光晶体，它的自然状态就有单轴晶体的光学性质，安装时，使晶体的光轴平行于入射光线。
因此，纵向调制的泡克耳斯盒，电场平行于光轴，横向调制的泡克耳斯盒，电场垂直于光轴。
二者比较，横调的两电极间距离短，所需的电压低，而且可采用两块相同的晶体来补偿因温度因素所引起的自然双折射，但横调的泡克耳斯盒的调制效果不如纵调的好，目前这两种形式的器件都很常用。
图2-2：纵调的泡克耳斯电光调制器图2-2为纵调的泡克耳斯电光调制器。
在不给泡克耳斯盒加电压时，由于启偏器P1产生的平面偏振光平行于光轴方向(M方向)入射于晶体，所以它在晶体中不产生双折射，也不分解为o、e光。
当光离开晶体达到Q时，光的振动方向没变，仍平行于M。
因M垂直于N，故入射光被P2(偏振方向为N)完全阻挡，P2无光输出。
当给泡克耳斯盒加以电压时，电场会使晶体感应出一个新的光轴OG。
OG的方向发生于同电场方向相垂直的平面内。
由于这种电感应，便使晶体产生了一个附加的各向异性。
使晶体对于振动方向平行于OG和垂直于OG的两种偏振光的折射率不同，因此这两种光在晶体中传播速度也就不同。
当它们达到晶体的出射端时，它们之间则存在着一定的相位差。
合成后，总光线的振动方向就不再与P2的光轴N垂直，而是在N方向上有分量，因此，这时P2则有光输出。
泡克耳斯效应的时间响应也特别快，而且φ与U成线性关系，所以多用泡克耳斯盒来作电光调制器。
[实验仪器]1.实验仪器2.仪器安装光路图图2-3：LiNbO3晶体静态特性曲线测量光路图3.实验仪器装置图图2-4：LiNbO3晶体静态特性曲线测量装置图[实验内容及步骤]1.按图2-3所示结构放置各光学器件，并调节支架高度至各光学器件等高同轴。
2.将635nm半导体激光器控制电缆连接至LD1，设置LD1工作模式为ACC，设置驱动电流Ic为30mA。
3.将LiNbO3晶体控制电压驱动端连接至高压信号源输出HV+和HV-。
4.将Si-PD信号输出连接至PD.IN，测量时注意选择合适量程。
5.将LiNbO3晶体从测试光路中移开，将起偏器偏振方向调至与水平面成45°角，将检偏器调至与其正交。
再将LiNbO3晶体放回测试光路，调节其空间位置和倾斜角度，使入射光束与其表面垂直。
6.从0V开始设置HVS输出电压V，记录PD读数P。
7.0V至400V每隔10V测一个点，记录相应的电压V和光强P，测量完毕后HVS置零。
8保持光路不变，将HV+和HV-端口处两线交换。
9.0V至-400V每隔10V测一个点，记录相应的电压V和光强P，测量完毕后HVS置零。
10.重复上述过程两次，共测得三组数据。
11.对各电压处的光强数据求平均，并作归一化处理，求得相对光强I，作I～V曲线，求该LiNbO3晶体半波电压。
附：CA9005主机功能简介及操作说明信息光电子综合实验系统适用于信息光电领域各专业的实验教学。
实验系统分为主机和模块式光电子器件两大部分。
主机提供本系统各器件的控制和测量功能，实验参量通过仪器面板进行数字化控制，有较高的测量线性度、精度和稳定性。
模块式光电子器件可以根据实验需要被组合成不同的系统结构以进行不同的实验测量。
一、主机结构上图为主机面板示意图，左半部分为各种光电控制接口，右半部分为彩色液晶显示窗口和控制键盘。
光电控制接口名称如下：1.函数信号发生器输出 (SIG)2.低压电源输出 (LVS)3.低压电源地 (GND)4.高压电源输出 (HV+)5.高压电源地 (HV-)6.半导体激光器调制信号输入 (MOD1)7.半导体激光器控制信号输出 (LD1)8.半导体激光器控制信号输出 (LD2)9.半导体激光器调制信号输入 (MOD2)10.光功率计输入 (OPM)11.光电传感器信号输入 (PD)12.光电传感器信号输出 (SOUT)13.光谱分析器控制信号输出 (OSA)14.光电探测器/PCM编码器/误码分析器时钟输入 (COD.IN，根据实验需要选装)15.光电探测器/PCM编码器/误码分析器数据输出 (COD.OUT，根据实验需要选装)16.光电探测器/PCM解码器/误码分析器数据输入 (DEC.IN，根据实验需要选装)17.光电探测器/PCM解码器/误码分析器时钟输出 (DEC.OUT，根据实验需要选装)18.+12V辅助电源输出 (DC1)19.+15V辅助电源输出 (DC2)彩色液晶显示屏用于显示各实验模块参数和测量数据，并可显示自动测量模式所得曲线。
全屏分四个区域：顶部为测量数据显示区，主要显示光功率计(OPM)、光电信号检测器(PD)以及误码分析器（BERT）的测量结果，其右侧顶部第一个键用于切换显示OPM/PD数据或BER数据。
底部为模块选择区，依次为：SIG、DCS、LD1、LD2、OSA、ESA、GRP，其下各键可以选择对应模块进行参数设定，当前模块名称以红色显示。
中左为自动测量绘图区，用于显示图形记录仪模式(GRP)下所得到的实验曲线。
中右为实验参数控制区，用于显示当前模块的各项参数，按其右侧各键可选择该参数进行控制。
以红色显示的参数条用于监控该模块的状态数据，不能编辑，例如半导体激光器的输出功率和管芯温度。
各模块功能及参数如下：1.函数信号发生器 (SIG)函数信号发生器可以输出直流电压（DCS）、方波（SQU）、三角波(TRI)、正弦波(SIN)和脉冲信号(PUS)。
方波、三角波、正弦波函数信号的输出频率(Fs)和幅度(Vs)可调，频率最大范围0.1Hz～20MHz，幅度调节范围0～10V。
该数据为参考值，如需精确测量，可结合其它仪表进行。
脉冲信号的脉宽及周期固定，脉宽4uS，周期200uS，最大输出幅度10V该模块参数表：SIGWAV：输出波形，可选：DCS（直流）、SQU（方波）、TRI（三角波）、SIN（正弦波）、PUS（脉冲）；BAND：信号波段，可选：Hz、kHz、MHz；Fs:信号频率，连续可调，数值范围0.0～125.0；Vo:信号幅度，连续可调，数值范围0.0～10.0V；2.可调直流电源 (DCS)直流电源包括低压电源（LVS）和高压电源(HVS)。
低压电源（LVS）可输出0～15电压，最大输出电流5A；高压电源（HVS）可输出0～+400V电压，最大输出电流10mA。
该模块参数表：LVS:低压电源输出电压，连续可调，LVS数值范围0.0～15.0V；HVS:高压电源输出电压，连续可调，HVS数值范围0.0～400.0V；3.半导体激光器控制 (LDC)有两路相同的LDC，用于控制半导体激光器的工作电流和工作温度，同时监控半导体激光器的输出功率和温度。
LDC可以工作于恒流驱动(ACC)、模拟调制(OAM)、数字调制(ODM)三种工作模式。
恒流驱动模式可以控制激光器产生稳定的激光输出，驱动电流(Ic)可调。
模拟调制模式可以控制激光器产生输出光强受输入模拟信号调制的激光输出，调制系数(Ic：mA/5V)可调。
最大调制电压5V。
数字调制模式可以控制激光器产生输出光强受输入数字信号调制的激光输出，脉冲电流(Ic)可调。
最大调制电压5V。
对于具有温控装置的半导体激光器，该控制器还可以控制激光器的工作温度(Tc)，使其稳定于设定温度附近。
该模块参数表：LDCMOD：工作模式，可选：OFF（关闭）、ACC（恒流）、OAM（模拟调制）、ODM（数字调制）；Ic:工作电流，连续可调，数值范围0.0～400.0mA；Tc:工作温度，连续可调，数值范围-50.0～+50.0℃；Po:输出功率，监控数据；Tr:管芯温度，监控数据；4.光功率计/光电传感器 (OPM/PD)光功率计用于测量由光纤输入的光功率值，有mW和dBm两种数据模式。
光电传感器用于测量光电传感器的信号电压、信号电流或相应的光功率值，有直流电压表/VM、微电流计/AM、光功率计/mW和光功率计/dBm四种测量模式。
该模块参数表：OPMMOD：数据模式，可选：OPM/mW、OPM/dBm、PD/VM、PD/AM、PD/mW、PD/dBm；RATIO: 量程，有七档量程可供切换：10mW、1mW、100uW、10uW、1uW、100nW、10nW。
5.光谱分析器 (OSA)光谱分析器外置，用于测量输入光信号的光谱分布，波长测量范围1000nm-1800nm。
光谱分析器的控制电缆需连接至OSA端口。
6.编解码分析器 (ESA)编解码分析器可工作于双模拟接收器（ARX）、模拟/数字接收器(ADRX)、双数字接收器(DRX)、A律PCM编解码器（PCM-A，根据实验需要选装）、μ律PCM编解码器（PCM-u，根据实验需要选装）、误码分析器(BERT，根据实验需要选装)等模式。
在ARX模式下，COD和DEC工作于模拟接收器模式，PD1RTO、PD2RTO用于调节各通道的倍率，VS1、VS2用于调节各通道的输出偏移。