插损定义
m8板材在不同温度下的插损变化_解释说明
m8板材在不同温度下的插损变化解释说明1. 引言1.1 概述M8板材是一种常见的材料，在许多领域中广泛应用，如通信、电子和建筑等。
随着科学技术的不断发展，对M8板材在不同条件下性能变化的研究需求日益增加。
插损是评估材料性能的重要指标之一，其衡量了材料在传输信号过程中引起的能量损耗。
了解温度对M8板材插损的影响，有助于优化其在各个领域的应用。
1.2 文章结构本文旨在研究温度对M8板材插损变化的影响，并深入分析其机理和影响因素。
文章分为五个部分，包括引言、温度对M8板材插损的影响、实验设计与方法、实验结果与讨论以及结论与展望。
1.3 目的本文旨在探索不同温度下M8板材插损变化的规律和机理，并为进一步利用该材料进行相关科研提供参考。
通过采用合适的实验设计和数据处理方法，我们将得出基于实验结果的结论，并对未来可能的研究方向进行展望和建议。
以上是文章“1. 引言”部分的内容。
这一部分旨在引导读者了解本文所涉及的主题领域和研究目的，并简要介绍文章结构。
2. 温度对M8板材插损的影响2.1 M8板材简介M8板材是一种常用的电路基板材料，具有优异的导电性能和机械强度。
它由玻璃纤维布和环氧树脂复合而成，广泛应用于电子设备制造领域。
2.2 插损的定义与重要性插损是指信号在传输过程中由于电路或器件引起的能量损耗。
它是衡量电路性能和信号传输质量的重要指标之一。
对于M8板材这样的高频电路基板材料来说，插损的大小直接影响着其在高频信号传输中的效果和稳定性。
2.3 不同温度下插损变化的机理和影响因素温度对M8板材插损有着显著影响。
首先，随着温度升高，M8板材内部分子运动加剧，导致了晶格振动增强、摩擦效应加大等现象。
这些现象引起了M8板材内部能级结构发生变化，使得电荷载流子运动受到阻碍，从而导致插损的增加。
其次，高温下M8板材的介电常数也会发生变化，进一步影响了信号的传输和衰减过程。
此外，M8板材所承受的温度变化也会引起尺寸膨胀或收缩, 这可能导致电路元件间距离的变化或机械应力的产生。
400m耦合器插损
耦合器插损是衡量耦合器性能的重要参数，插损越大，耦合器的性能越差。
在400mW的功率下，耦合器的插损取决于耦合器的类型和设计。
一般来说，定向耦合器的插损较小，而功率分配器的插损较大。
对于400mW的功率，定向耦合器的插损通常在1dB以下，而功率分配器的插损可能达到3dB左右。
插损的计算公式为：Pout = Pin - L
其中，Pout是输出功率，Pin是输入功率，L是插损。
因此，如果插损为3dB，则输出功率为输入功率的50%，即200mW。
需要注意的是，插损会受到多种因素的影响，如耦合器的材料、设计、制造工艺等。
因此，对于具体的耦合器产品，需要根据其技术规格书或实测数据来确定其插损值。
光纤连接器之插损
光纤连接器的插入损耗深圳市光波通信有限公司 罗群标 张磊 徐晓林光纤连接器作为光通信系统中最基本也是最重要的光纤无源器件，其市场需求量越来越大。
近年来随着光纤宽带接入系统的发展，光纤链路中光纤连接器(包括其它有源及无源器件上使用的连接头)的使用越来越多，这对光纤连接器的插入损耗的测试准确性提出了越来越高的要求。
本文将就影响光纤连接器插入损耗的原因以及如何确保插入损耗测试的准确性及可靠性等问题作以简单的论述。
一． 有关概念1． 光纤连接器插入损耗（IL ）的定义： IL=01lg 10P P − (dB) 其中P1为输出光功率，P0为输入光功率。
插入损耗单位为dB 。
2. 光纤连接器插入损耗的测试方法光纤连接器的插入损耗的测试方法一般有三种：基准法、替代法、标准跳线比对法。
由于在大批量的生产过程中，要求插入损耗的测试必须快速、准确且无破坏性。
因此现在的生产厂家大都采用第三种方法，即标准跳线比对法。
其测试原理图如下：4 1 2 3 标准适配器光功率计稳定光源标准测试跳线 被测跳线当单模光纤尾纤小于50M 、多模光纤尾纤小于10M 时，尾纤自身的损耗可以忽略不计，此时测得的数据即为3端相对于标准连接器的插入损耗，并将此数据提供给客户。
当单模光纤尾纤大于50M 、多模光纤尾纤大于10M 时，应在测出的损耗值中减去光纤自身的损耗值。
3. 重复性重复性是指同一对插头，在同一只适配器中多次插拔之后，其插入损耗的变化范围。
单位用dB 表示。
重复性一般应小于0.1dB.4. 互换性由于光纤连接器的插入损耗是用标准跳线比对法测出的，其值是一个相对值。
所以在任意对接时，实际的插入损耗值很可能会大于用标准跳线比对法测出的值，而且不同的连接头、不同的适配器，其影响程度也会有所不同。
因此就有了互换性这一指标要求。
连接头互换性是指不同插头之间，或者不同适配器任意转换后，其插入损耗的变化范围。
其一般应小于0.2dB 。
如光波公司向客户承诺插入损耗小于0.3dB,互换性小于0.2dB ，则任意对接其插入损耗应小于0.5dB 。
衰减（插入损耗）测量和测试
衰减（插⼊损耗）测量和测试现在，在相关标准中使⽤术语“插⼊损耗”⽽不使⽤衰减。
通过链路传输的电信号在沿链路传输时会损失部分能量。
插⼊损耗可测量信号到达布线链路接收端时损失的能量。
插⼊损耗测量结果是布线链路对电信号传输阻抗效果的量化。
链路的插⼊损耗特性随着传输信号的频率变化⽽变化；例如，较⾼的信号会遇到较⾼的阻抗。
换⼀种说法就是，信号频率越⾼，链路的插⼊损耗就越多。
因此，需要在相应的频率范围内测量插⼊损耗。
因此，例如，如果要测量 Cat 5e 通道的插⼊损耗，就需要对范围在 1 MHz 到 100 MHz 内的信号的插⼊损耗进⾏验证。
对于 Cat 8 链路，频率范围为 1 到 2000 MHz。
插⼊损耗和链路长度也⼏乎呈线性关系增长。
换句话说，如果链路 'A' 的长度是链路 'B' 的两倍，且所有其他特性相同，则链路 'A' 的插⼊损耗会是链路 'B' 的两倍。
插⼊损耗⽤分贝或 dB 表⽰。
分贝是输出电压（链路末端收到的信号的电压）与输⼊电压（发射器送⼊线缆的电压）之⽐的对数表⽰。
结果分析线缆中的插⼊损耗很⼤程度上取决于线对中的钢丝直径。
24 号钢丝的插⼊损耗会⽐相同长度的 26 钢丝（较细）⼩。
另外，标准布线的插⼊损耗会⽐实⼼铜导体⾼ 20-50%。
现场测试设备会报告插⼊损耗和余量的最差值，其中余量是测量的插⼊损耗和选择的标准允许的最⼤插⼊损耗之差。
因此，4 dB 的余量要优于 1 dB。
故障排除建议长度过量是插⼊损耗测试未通过的最常见原因。
固定链路如果未通过插⼊损耗测试，通常要通过移除线缆路径上的松弛部分来缩短长度。
插⼊损耗过量也可能是因连接器/插头端接质量差造成的。
接头质量差会显著增加插⼊损耗。
要判断是否是这个原因，可对四个线对上的插⼊损耗进⾏⽐较。
如果只有⼀或两个线对插⼊损耗较⾼，则表⽰是安装问题。
如果所有线对插⼊损耗都过⾼，则是长度过量。
回波损耗、失配损耗和插入损耗
PL0 |V | =PL0(dBm)－PL(dBm)= 20 lg 1 PL | V2 |
ZS
+ + VS V1 ZL
PL0
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电子民工
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失配损耗：Mismatch loss，由失配导致反射从而引起的损耗。定义为负载获得的功率与
入射功率之比，即 dB 差值。用 dB 表示，绝对值越小越好（越接近 0 越好） ML(dB)= 10 lg
Pd = －[Pi(dBm)－Pd(dBm)]=10 lg(1－|Γ|2) Pi
插入损耗：Insertion loss，因插入某个网络而引起的损耗。定义为没插入该网络前负载
获得的功率与插入该网络后负载获得的功率之比，用 dB 表示。越小越好 IL(dB)= 10 lg
Vmax 1 | | = Vmin 1 | |
回波损耗：Return Loss/Reflection Loss，假定反射通路为主通路，负载得到的功率是被
损耗掉的，那么回波损耗定义为入射功率与反射功率之比，即 dB 差值。用 dB 表示，一 般越大越好 RL(dB)= 10 lg
Pi =Pi(dBm)－Pr(dBm)=－20 lg|Γ| Pr
Pd = delivered power (also called the accepted power)（传输功率/负载接收功率） Pd= Pi－Pr= Pi·(1-Γ ) ， Pr = Pi·Γ
插损与回损
製作： 日期：
插入損耗
插入損耗（Insertion Loss）：是指在傳輸系統的某處由於 元件或器件的插入而發生 的負載功率的損耗，它表示為 該元件或器件插入前所接收到的功率與插入后同一負載所
接收到的功率以分貝（dB）為單位的比值。
計算式：
IL lg Pout Pin
計算式：
RL lg P0 P1
（P0表示反射光功率，P1表示輸入光功率，單位為dB）
IL&RL與連接器性能
Pin(P1)
Pout
IL lg Pout Pin
RL lg P0 P1
P0
光纖通信要盡可能的減少傳輸過程中的損耗，以光纖跳線 為例：在輸入光功率恒定為1的情況下，Pout越大、P0越小 就表lg x 是一個反比 例函數，隨著x增大y值反而會減小， 反應在計算式中Pout越大IL越小， P0越小RL越大—— IL越小，RL越大，連接器的性能越好。
IL的類型與產生原因
光纖連接器的插入損耗是由光纖固有損耗和端接損耗引起 的，而固有損耗主要包括光纖吸收損耗和瑞利散射損耗。 目前光纖的製造技術可以使光纖的固有損耗在1550nm附 近降到0.2dB/km，而光纖跳線的長度通常為10m左右，因 此光纖跳線的固有損耗幾乎可以忽略不計，故光纖連接器 的插入損耗主要取決於光纖跳線的端接損耗。
（Pout表示輸出光功率，Pin表示輸入光功率，單位為dB）
回波損耗
回波損耗（Return Loss）：當高頻信號在電纜及通信設 備中傳輸時，遇到波阻抗不均勻點時，就會對信號形成反 射，這種反射不但導致信號的傳輸損耗增大，並且會使傳 輸信號畸變，對傳輸性能影響很大，這種由信號反射引起 的衰減被稱為回波損耗。
1分4耦合器插损
1分4耦合器插损摘要：1.介绍1分4耦合器的基本概念和作用2.分析1分4耦合器插损的原因3.阐述1分4耦合器插损的测量方法4.探讨减少1分4耦合器插损的策略5.总结1分4耦合器插损的重要性正文：一、介绍1分4耦合器的基本概念和作用1分4耦合器，顾名思义，是一种将一路信号分成四路的器件。
它在电子、通信等领域具有广泛的应用，如光纤通信、射频电路等。
其主要作用是实现信号的传输、分配和扩展。
二、分析1分4耦合器插损的原因1分4耦合器在实际应用中，可能会出现插损现象。
插损指的是信号在耦合器中的传输过程中，由于器件本身特性、连接线缆、外界环境等因素影响，导致信号强度减弱。
具体原因有以下几点：1.耦合器本身的损耗：包括导体损耗、绝缘损耗和辐射损耗等。
2.连接线缆损耗：线缆材质、长度、接头质量等因素都会影响插损。
3.外部环境干扰：如电磁干扰、温度、湿度等都会对1分4耦合器的插损产生影响。
三、阐述1分4耦合器插损的测量方法为了准确测量1分4耦合器的插损，我们可以采用以下方法：1.利用矢量网络分析仪（VNA）进行测量：VNA可以通过测量反射和传输参数，计算出耦合器的插损。
2.使用示波器及信号发生器进行测量：通过观察信号发生器输出信号与耦合器输出信号的波形，计算插损。
3.插入损耗测试仪：专门用于测量光纤通信系统中的插损，具有较高的精度。
四、探讨减少1分4耦合器插损的策略为了降低1分4耦合器的插损，可以采取以下措施：1.选择高品质的耦合器和线缆，降低信号传输过程中的损耗。
2.优化耦合器的结构设计，减少内部损耗。
3.加强屏蔽和滤波设计，减少外部环境干扰。
4.提高连接工艺和质量，降低插损。
五、总结1分4耦合器插损的重要性1分4耦合器插损对于通信系统的性能具有重要的影响。
降低插损，可以提高信号传输质量、延长传输距离、减少系统噪声等。
插损定义
插损insertion loss全称：插入损耗，是以db（分贝）的形式表示的。
在光学系统中插损，表示的一种光能量在透射插入器件后的出射光强与入射光强的比值。
★插损，即指插入损耗。
★什么是插入损耗?插入损耗是指发射机与接收机之间，插入电缆或元件产生的信号损耗，通常指衰减。
插入损耗以接收信号电平的对应分贝（db）来表示。
插入损耗是不带滤波器时，从源到负载转换的信号电压与带滤波器时，从源到负载转换的信号电压之比（单位是dB）。
正如前面所讨论的（“电源线干扰滤波器时如何工作的？”），插入损耗并不是一种在电源设备环境中滤波器性能的判断依据。
★如何测量插入损耗？如果终端阻抗合乎标准，那测量插入损耗就变得有意义了。
但是如此获得的结果只能用于完全相同的电路。
最常见的设置是使电源和负性负载阻抗均为50Ω。
插入损耗测量最重要的一点是一致性，供方与客户应均采用同样的测量手段。
EFT采用的方法如下：用频谱分析仪，或调频接收机或跟踪发生器，很容易测量插入损耗。
不带滤波器是建一个零dB参考点。
然后插入滤波器，记录在所需频率范围内提供的衰减。
对于电源线滤波器，我们感兴趣的是两种不同模式的衰减：共模（CM）-信号存在于两侧的线（火线及中性线）对地。
差模（DM）-信号存在于一侧的线对线。
相应的，我们可以研究CM插入损耗或DM插入损耗，或者两者同时研究。
对于共模，火线及中性端子处于同一电位（相同的量值及相位），可以认为是并联的，CM电流在这组线及共线（地）之间流动。
将滤波器两侧的火线与中性线各接到一起，以测量CM插入损耗。
对于差模，火线及中性端子量值相同，但相位相反。
电流仅在火线与中性线之间流动。
DM插入损耗是用50Ω，180°电源分离器来测得。
★插入损耗有何作用？标准插入损耗数据不能精确地预测滤波器在设备中的性能。
然而，它确实可以作为进料检验时验证产品吻合型的重要指标。
允许的判断标准是：以标准方式测得插入损耗必须满足或超过手册上的数据。
25ge的光模块 插损 回损
25GE光模块的插损与回损问题分析1. 概述在现代通信领域中，光模块作为光通信网络中不可或缺的组成部分，其性能直接关系到整个网络的传输效率和稳定性。
而光模块的插损和回损是评价光模块性能的重要指标，对于25GE光模块而言尤为关键。
本文将对25GE光模块的插损与回损问题展开分析，探讨其原因和解决方法。
2. 25GE光模块的基本原理25GE光模块是指在25Gbps传输速率下的光电转换模块，通常包括激光器、调制器、解调器、接收器等组件。
其工作原理是利用激光器将电信号转换成光信号，并通过光纤传输到远端，再由接收器将光信号转换回电信号。
整个过程中，插损和回损是不可避免的。
3. 插损的定义与影响因素插损是指光信号穿过光模块时产生的损耗，其值一般用dB单位来表示。
插损的大小受多种因素影响，主要包括光纤损耗、连接器损耗、耦合损耗等。
3.1 光纤损耗光纤本身具有一定的传输损耗，长度越长，损耗越大。
而且光纤的质量和品质也会直接影响插损的大小。
3.2 连接器损耗光模块和光纤之间的连接器在传输过程中会产生一定的损耗，这也是影响插损大小的重要因素之一。
3.3 耦合损耗在光模块与光纤之间的光耦合过程中，由于排列不良或光学元件质量问题，也会产生一定的损耗。
4. 回损的定义与影响因素回损是指光信号在光模块的传输过程中产生的反射损耗，同样用dB单位表示。
回损的大小受光纤末端反射、连接器反射、折射等因素影响。
4.1 光纤末端反射光纤末端的切面质量和清洁度会直接影响光信号的反射程度，从而影响回损的大小。
4.2 连接器反射端口连接器的品质和安装质量都会对回损产生影响，接头的平面度和粗糙度都是重要因素。
4.3 折射在光模块传输过程中，由于光线的折射现象也会产生一定的回损。
5. 如何解决25GE光模块的插损与回损问题面对插损和回损问题，我们可以采取以下措施来解决：5.1 优化光纤选择优质的光纤材料，并且保持光纤的干净和整洁，能够有效降低插损和回损。
光纤连接器的插入损耗
光纤连接器的插入损耗光纤连接器作为光通信系统中最基本也是最重要的光纤无源器件，其市场需求量越来越大。
近年来随着光纤宽带接入系统的发展，光纤链路中光纤连接器(包括其它有源及无源器件上使用的连接头)的使用越来越多，这对光纤连接器的插入损耗的测试准确性提出了越来越高的要求。
本文将就影响光纤连接器插入损耗的原因以及如何确保插入损耗测试的准确性及可靠性等问题作以简单的论述。
一． 有关概念1． 光纤连接器插入损耗（IL ）的定义： IL=01lg 10P P (dB) 其中P1为输出光功率，P0为输入光功率。
插入损耗单位为dB 。
2. 光纤连接器插入损耗的测试方法光纤连接器的插入损耗的测试方法一般有三种：基准法、替代法、标准跳线比对法。
由于在大批量的生产过程中，要求插入损耗的测试必须快速、准确且无破坏性。
因此现在的生产厂家大都采用第三种方法，即标准跳线比对法。
其测试原理图如下：当单模光纤尾纤小于50M 、多模光纤尾纤小于10M 时，尾纤自身的损耗可以忽略不计，此时测得的数据即为3端相对于标准连接器的插入损耗，并将此数据提供给客户。
当单模光纤尾纤大于50M 、多模光纤尾纤大于10M 时，应在测出的损耗值中减去光纤自身的损耗值。
3. 重复性重复性是指同一对插头，在同一只适配器中多次插拔之后，其插入损耗的变化范围。
单位用dB 表示。
重复性一般应小于0.1dB.4. 互换性由于光纤连接器的插入损耗是用标准跳线比对法测出的，其值是一个相对值。
所以在任意对接时，实际的插入损耗值很可能会大于用标准跳线比对法测出的值，而且不同的连接头、不同的适配器，其影响程度也会有所不同。
因此就有了互换性这一指标要求。
连接头互换性是指不同插头之间，或者不同适配器任意转换后，其插入损耗的变化范围。
其一般应小于0.2dB 。
如光波公司向客户承诺插入损耗小于0.3dB,互换性小于0.2dB ，则任意对接其插入损耗应小于0.5dB 。
二． 纤连接器插入损耗的主要因素1． 光纤结构参数（纤芯直径不同、数值孔径不同、折射率分布不同及其它原因等）的稳定光源 光功率计标准测试跳线 被测跳线标准适配器1 2 3 4失配引起的损耗。
3dB电桥的插损计算公式
3dB电桥的插损计算公式3dB电桥是一种用于测量电阻的仪器，它利用了电流的相对比较容易测试的特性，通过调整电阻以使电桥平衡，从而得到待测电阻的值。
在进行电桥测量时，我们需要考虑到电桥的插损。
插损是指在电路中通过的功率与输入功率之比，可以用来衡量电路的信号损耗。
下面介绍3dB电桥的插损计算公式。
首先，需要了解3dB的概念。
3dB表示电路通过的信号功率减少到原来的一半。
因为功率和电压的关系是P=V²/R，所以功率减少到原来的一半，相应的电压减小到原来的1/√2倍。
在3dB插损的情况下：输出电压=输入电压/√2接下来是计算3dB电桥的插损。
在电桥测量中，输入信号的功率由电源提供，输出信号的功率由测量仪器读取。
理想情况下，电桥平衡时，没有功率损耗，也就是插损为0。
然而，在实际情况下，电桥存在一定的电阻和电感，会引起功率的损耗，导致插损的发生。
为了准确计算插损，需要考虑到电桥电路的各种参数，如电阻、电感、电容和频率等。
计算3dB电桥的插损可以使用阻抗变换公式。
阻抗变换公式可以将电桥的输入输出电压和电流之间的关系表示为复数形式。
假设电桥的输入电压为Vi，电桥的输出电压为Vo，输入电阻为Ri，输出电阻为Ro，电桥的插损为P。
根据阻抗变换公式，可以得到：Vo/Vi=(Ro+jωLo)/(Ri+jωLi)其中，ω表示信号的角频率，L表示信号通过电感的值。
如果我们将Vo和Vi进行复数表示，同时假设Ro和Ri为实数，Lo 和Li为虚数，则上述公式可以表示为：Vo=Vi*(Ro+jωLo)/(Ri+jωLi)根据定义，插损P为输出功率与输入功率之比，可以表示为：P=，Vo，²/，Vi，²=(Ro²+(ωLo)²)/(Ri²+(ωLi)²)根据3dB的定义，插损为P时，输出电压的幅值为输入电压的1/√2倍，即：Vo，=，Vi，/√2结合上述公式，可以得到：P=(Ro²+(ωLo)²)/(Ri²+(ωLi)²)=(1/2)(1+(ωLo/Zo)²)/(1+(ωLi/Z i)²)其中，Zo表示输出阻抗，Zi表示输入阻抗。
插损与回损
IL&RL与连接器性能 Pin(P1)
Pout
IL lg Pout Pin
RL lg P0 P1
P0
光纤通信要尽可能的減少传输过程中的损耗，以光纤跳线 为例：在输入光功率恒定为1的情況下，Pout越大、P0越小 就表示传输过程中的损耗越小，连接器的性能越好。
y 是lg 一x 個反比 例函数，随着x增大y值反而会減小，
IL的类型与产生原因
端接损耗是指兩根光纤跳线通過适配器连接而引起的损耗。 产生损耗的原因有很多，主要包括纤芯尺寸失配、数值孔 径失配、折射率分布失配、轴线倾角、橫向偏移、同心度、 端面间隙、端面形状及端面光潔度等。
IL与RL之间的联系
光纤連接器兩端参数不一致而产生的损耗可以通过选择参 数完全匹配的光纤（同一跟光纤）來消除；而随着光纤连 接器结构的改进及制造水平的提高，光纤连接器的对中定 位结构的精度可达到亞微米级别，由光纤横向错位、角度 倾斜产生的损耗亦可忽略不计。当前影响光纤连接器插入 损耗的因素——光纤端面间隙、端面形狀以及端面清潔度， 同樣是造成光纤回波损耗的主要原因——
连接头型号 模式
端面规格 IL(dB) RL(dB)
其他型号 IL(dB) RL(dB)
PC ≤0.3 ≥45
≤0.7 ≥30
FC、SC、LC、ST、MU、E2000、D4、DIN
SM
UPC
APC
≤0.2
≤0.3
≥50
≥60
MT-RJ、MPO
/
≤0.7
/
≥50
MM PC ≤0.3 ≥35
≤0.5 ≥25
研拋加工控制的因素是能否生产生高性能跳线的关键！
同時，只需要探索连接器回损，回损的问题解決了，插损 的问题也就解決了。
浅析光纤连接器插入损耗测试
(2)
目前普遍使用的众多品牌的
光纤连接器，其合格标称插损都
不大于0.3 dB。但我们通过对三
个不同品牌的连接器插损进行复
测发现，测试时对中方式不同，
所得到的测试结果有很大不同。
这两种对中方式为:1)随机插入
对中。模仿连接器实际使用方
式，一次插入，读取测试数据。
该插损定义为随机插损。2)调整
插入对中。连接器在连接状态下
损具有很高的一致性;而当进行
随机性插损测试时，测试结果中
只有3个符合标称要求，而且随
机插损要比调整插损大得多，最
大相差0.44 dB(3#)。
几年来，根据对各种连接器
光源监测 P MI
检测器
光源
试样 高阶模滤模器
光纤或光缆
高阶模滤模器 P 0
光源监测 P MI
互连器件
检测器
光源 高阶模滤模器 图2 光纤连接器插入损耗测试系统示意图
进行旋转调整对中，测试出相应
的数据。该插损值为调整插损。
表1是用两种对中测试方法测试
的3个不同供应商生产的单模FC
连接器的不同测试结果。
将表中采用两种对中方式获
得的插损测试结果与产品合格证
射频特长标语
射频特长标语（一）射频术语1、功率/电平（dBm）：放大器的输出能力，一般单位为w、mw、dBm注：dBm是取1mw作基准值，以分贝表示的绝对功率电平。
换算公式：电平（dBm）=10lgw5W → 10lg5000=37dBm10W → 10lg10000=40dBm20W → 10lg20000=43dBm从上不难看出，功率每增加一倍，电平值增加3dBm2、增益（dB）：即放大倍数，单位可表示为分贝（dB）。
即：dB=10lgA（A为功率放大倍数）3、插损：当某一器件或部件接入传输电路后所增加的衰减，单位用dB表示。
4、选择性：衡量工作频带内的增益及带外辐射的抑制能力。
-3dB带宽即增益下降3dB时的带宽，-40dB、-60dB同理。
5、驻波比（回波损耗）：行驻波状态时，波腹电压与波节电压之比（VSWR）6、三阶交调：若存在两个正弦信号ω1和ω2 由于非线性作用将产生许多互调分量，其中的2ω1-ω2和2ω2-ω1两个频率分量称为三阶交调分量，其功率P3和信号ω1或ω2的功率之比称三阶交调系数M3。
即M3 =10lg P3/P1 （dBc）7、噪声系数：一般定义为输出信噪比与输入信噪比的比值，实际使用中化为分贝来计算。
单位用dB。
8、耦合度：耦合端口与输入端口的功率比, 单位用dB。
9、隔离度：本振或信号泄露到其他端口的功率与原有功率之比，单位dB。
10、天线增益（dB）：指天线将发射功率往某一指定方向集中辐射的能力。
一般把天线的最大辐射方向上的场强E与理想各向同性天线均匀辐射场场强E0相比，以功率密度增加的倍数定义为增益。
Ga=E2/ E。
变压器电气、特性术语定义、产品特性和测试原理
变压器电气、特性术语定义、产品特性和测试原理•1. 开路电感(OCL, Open Circuit Inductance): 当变压器二次侧开路，所量侧到一次侧的电感。
•2. 漏感(LL, Leakage Inductance):当变压器二次侧短路，所量侧到一次侧的电感。
•3. 圈比(Turns Ratio): 变压器一次侧与二次侧的圈数比。
•4. 杂散电容(Inter-winding Capacitance): 变压器一次侧与二次侧之间的电容。
•5. 耐压(Hi-pot): 变压器一、二次之间的绝缘耐压。
•6.插入损耗(Insertion Loss): 插入损耗是指一个滤波器插入在电源与负载之间时信号能量的衰减. 下图显示了插入损耗测试方法.•IL=20lg (dB)•测试框图如下：VinVout 术语定义、产品特性和测试原理•7.反射损耗(Return Loss):反射损耗是用来描述实测阻抗与标准阻抗不同或不匹配的程度，不同和不匹配既包括幅值大小的不同又包括相位角的不同。
反射损耗的单位是分贝，反射损耗的表达式如下：.这里ZS是指标准阻抗，ZM是实测阻抗。
如果匹配理想，反射损耗将会无穷大。
术语定义、产品特性和测试原理•RL, 测试框图如下：术语定义、产品特性和测试原理•8. 串扰(Crosstalk), 是指一个通道的无用信号耦合进邻近的信号通道。
串扰的单位是分贝，它是敏感电缆的耦合电压与邻近干扰源电压之比。
•CT, 测试框图如下：术语定义、产品特性和测试原理•9.共模与差模的转换DCMR (DM TO CM Conversion)•共模与差模的转换是指差模信号的增益与共模信号的增益之比，其单•位是分贝。
NETWORK ANALYSER Agilent 8712ETOR EQUIVALENTNETWORKANALYSERAgilent 8712ET OR EQUIVALENT BALUN 100:50BALUN 100:50BALUN50:100BALUN50:100TXOUT TXIN RXOUT RXIN •DCMR, 测试框图如下：术语定义、产品特性和测试原理•附录1: 网络连接器高频参数测试方法及原理•附录2: 以太网络变压器介绍Microsoft Word恅紫术语定义、产品特性和测试原理Adobe Acrobat Document网络变压器之行业标准•Meets IEEE802.3 & ANSI X3.263 Standard,•350uH OCL with 8mA DC Bias•IEC60950, 1500Vac Insulation。
射频基本概念
射频知识1、功率/电平（dBm）：放大器的输出能力，一般单位为W、mW、dBm注：dBm是取1mw作基准值，以分贝表示的绝对功率电平。
换算公式：电平（dBm）=10lg(mw)5W → 10lg5000=37dBm10W → 10lg10000=40dBm20W → 10lg20000=43dBm从上不难看出，功率每增加一倍，电平值增加3dBm2、增益（dB）：即放大倍数，单位可表示为分贝（dB）。
即：dB=10lgA（A为功率放大倍数）3、插损：当某一器件或部件接入传输电路后所增加的衰减，单位用dB表示。
4、选择性：衡量工作频带内的增益及带外辐射的抑制能力。
-3dB带宽即增益下降3dB时的带宽，-40dB、-60dB同理。
5、驻波比（回波损耗）：行驻波状态时，波腹电压与波节电压之比（VSWR）附：驻波比——回波损耗对照表：SWR 1.2， 1.25， 1.30， 1.35， 1.40， 1.50回波损耗（dB）21，19，17.6 ，16.6 ，15.6，14.0RL=20lg [(VSWR+1)/(VSWR-1)]=20lg (Γ)6、三阶交调：若存在两个正弦信号ω1和ω2 由于非线性作用将产生许多互调分量，其中的2ω1-ω2和2ω2-ω1两个频率分量称为三阶交调分量，其功率P3和信号ω1或ω2的功率之比称三阶交调系数M3。
即M3 =10lg P3/P1 （dBc）7、噪声系数：一般定义为输出信噪比与输入信噪比的比值，实际使用中化为分贝来计算。
单位用dB。
8、耦合度：耦合端口与输入端口的功率比, 单位用dB。
9、隔离度：本振或信号泄露到其他端口的功率与原有功率之比，单位dB。
10、天线增益（dB）：指天线将发射功率往某一指定方向集中辐射的能力。
一般把天线的最大辐射方向上的场强E与理想各向同性天线均匀辐射场场强E0相比，以功率密度增加的倍数定义为增益。
Ga=E2/ E0211、天线方向图：是天线辐射出的电磁波在自由空间存在的范围。
插入损耗
Po—→从输出端口接收
对于 OLP，具体分为发送端插入损
件产生的信号损耗，通常指衰减。插入损耗以接收信号电平的对 应分贝（dB）来表示。 2..插耗的电路 原信号幅度的变小。譬如对一个理想无损耗的变压器，原
传输线变压器的插入损耗关系曲线 副理想变压器无损耗，即插入损耗为零。插入损耗的概念一般用 在滤波器中，表示使用了该滤波器和没使用前信号功率的损失。 通道的插入损耗是指输出端口的输出光功率与输入端口输入光功 率之比，以 dB 为单位。插入损耗与输入波长有关，也与开关状态 有关。定义为：IL=-10log(Po/Pi) 到输入端口的光功率, 单位为 mw； 到的光功率,单位为 mw。 耗和接收端插入损耗。 式中： Pi—→输入
插入损耗
插入损耗 insertion loss 将某些器件或分支电路(滤波器、阻抗匹配器等)加进某一电路时， 能量或增益的损耗。 通信科技（一级学科） ；通信原理与基本技术（二级学科） 插入损耗指在传输系统的某处由于元件或器件的插入而发生 的负载功率的损耗，它表示为该元件或器件插入前负载上所接收 到的功率与插入后同一负载上所接收到的功率以分贝为单位的比 值。 1..插入损耗是指发射机与接收机之间，插入电缆或元
平均插损计算公式
平均插损计算公式在电子通信领域中，人们经常使用平均插损计算公式来评估信号传输过程中的信号损耗情况。
平均插损是指信号在传输过程中由于各种因素引起的信号功率降低的平均值。
本文将介绍平均插损计算公式，以及它在实际应用中的重要性。
一、平均插损计算公式的定义平均插损计算公式用于衡量信号传输过程中的信号功率损耗情况。
它是指信号在传输过程中由于各种因素引起的信号功率降低的平均值。
通常以分贝（dB）为单位表示。
平均插损计算公式如下：平均插损（dB）= 10 × log10(输出信号功率 / 输入信号功率)其中，输入信号功率是指信号输入系统的功率，输出信号功率是指信号输出系统的功率。
二、平均插损计算公式的应用平均插损计算公式在电子通信领域中具有广泛的应用。
它可以用于评估各种传输介质（如光纤、电缆等）的性能，以及信号在传输过程中的衰减情况。
通过使用平均插损计算公式，可以确定信号在传输过程中的损耗程度，从而帮助工程师们设计和优化信号传输系统，提高信号传输质量和效率。
三、平均插损计算公式的重要性平均插损计算公式在电子通信领域中具有重要的意义。
它可以帮助工程师们评估信号传输系统的性能，并确定信号传输过程中的损耗情况。
通过对信号传输过程中的平均插损进行计算和分析，可以及时发现和解决信号传输中存在的问题，提高信号传输质量和效率。
四、平均插损计算公式的实际应用平均插损计算公式在实际应用中具有广泛的应用。
例如，在光纤通信领域中，工程师们使用平均插损计算公式来评估光纤传输系统的性能，并确定光纤传输过程中的信号损耗情况。
同样，在电缆传输领域中，工程师们也使用平均插损计算公式来评估电缆传输系统的性能。
通过对信号传输过程中的平均插损进行计算和分析，可以及时发现和解决传输中存在的问题，提高传输质量和效率。
五、总结平均插损计算公式是电子通信领域中的一种重要工具，用于评估信号传输过程中的信号损耗情况。
它可以帮助工程师们设计和优化信号传输系统，提高传输质量和效率。
电容寄生参数及引线对插入损耗的影响
电容寄生参数及引线对插入损耗的影响摘要：电容是电路中最常见的器件之一，其主要作用有滤波、旁路、去耦、储能等。
本文从插入损耗的角度入手，通过实测数据分析了寄生参数，引线长短、电容容值、数量，等因素对滤波效果的影响。
关键词：插入损耗寄生参数滤波一、引言无源滤波电路一般是由电容、电感、电阻等无源器件组成的滤波网络，其滤波效果主要取决于器件参数，电路拓扑，接地效果及与源、负载之间的阻抗匹配等因素。
其中器件参数是基础，而电容是滤波电路中的灵魂，其较之电感、电阻有更灵活、更优异的参数调整空间。
二、插入损耗的定义插入损耗是衡量滤波电路最重要的性能指标，它决定滤波电路性能的好坏。
插入损耗的计算公式如下：（dB）式中，，Uin是某频率的干扰信号在滤波电路输入端的电压，Uout是干扰信号在滤波电路输出端的电压。
插入损耗用分贝（dB）表示，分贝值越大，说明抑制当前频率噪声干扰的能力越强。
三、寄生参数对插入损耗的影响理想的电容是没有寄生参数的，随频率的增大，插入损耗是呈线性增长的。
但实际电容因结构、引线的影响，都存在寄生参数，其插入损耗会在线性增长的过程中达到一个最高点，然后逐渐回落，这个最高点称为器件的自谐振频率，该谐振点的频率为：其中L为电容的等效寄生电感（ESL）,C为电容容值。
理想电容与实际电容的插入损耗曲线对比如图1所示。
四、引线对插入损耗的影响电容的引线相当于给电容引入一个外部的ESL，引线的长短、粗细对其滤波性能有相当大的影响，这里我们选取了一个1210封装、3.3uF的陶瓷贴片电容进行对比测试，测试数据如图3所示。
从图中我们可以看出，大小电容的并联确实能够对高低频信号都能起到滤波效果，但在其插入损耗网线的交汇处会形成一个新的谐振点，我们称之为反共振频率点，在这个频率点周围，并联电容的插入损耗相对于单个电容来说是偏低的，如果在这个点附近有干扰信号，可能会达不到EMC的要求。
而同容值的电容并联并不是1+1=2的效果，与电容的布局有很大关系。
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插损insertion loss
全称：
插入损耗，是以db（分贝）的形式表示的。
在光学系统中插损，表示的一种光能量在透射插入器件后的出射光强与入射光强的比值。
★插损，即指插入损耗。
★什么是插入损耗?
插入损耗是指发射机与接收机之间，插入电缆或元件产生的信号损耗，通常指衰减。
插入损耗以接收信号电平的对应分贝（db）来表示。
插入损耗是不带滤波器时，从源到负载转换的信号电压与带滤波器时，从源到负载转换的信号电压之比（单位是dB）。
正如前面所讨论的（“电源线干扰滤波器时如何工作的？”），插入损耗并不是一种在电源设备环境中滤波器性能的判断依据。
★如何测量插入损耗？
如果终端阻抗合乎标准，那测量插入损耗就变得有意义了。
但是如此获得的结果只能用于完全相同的电路。
最常见的设置是使电源和负性负载阻抗均为50Ω。
插入损耗测量最重要的一点是一致性，供方与客户应均采用同样的测量手段。
EFT采用的方法如下：
用频谱分析仪，或调频接收机或跟踪发生器，很容易测量插入损耗。
不带滤波器是建一个零dB参考点。
然后插入滤波器，记录在所需频率范围内提供的衰减。
对于电源线滤波器，我们感兴趣的是两种不同模式的衰减：
共模（CM）-信号存在于两侧的线（火线及中性线）对地。
差模（DM）-信号存在于一侧的线对线。
相应的，我们可以研究CM插入损耗或DM插入损耗，或者两者同时研究。
对于共模，火线及中性端子处于同一电位（相同的量值及相位），可以认为是并联的，CM电流在这组线及共线（地）之间流动。
将滤波器两侧的火线与中性线各接到一起，以测量CM插入损耗。
对于差模，火线及中性端子量值相同，但相位相反。
电流仅在火线与中性线之间流动。
DM插入损耗是用50Ω，180°电源分离器来测得。
★插入损耗有何作用？
标准插入损耗数据不能精确地预测滤波器在设备中的性能。
然而，它确实可以作为进料检验时验证产品吻合型的重要指标。
允许的判断标准是：
以标准方式测得插入损耗必须满足或超过手册上的数据。
相应地，“典型”插入损耗数据是无意义的。
您所测得的数据应为最小值。
产品手册上的大多数插入损耗数据是其能保证的最小值，可以测试此值，以说明元件的复合性。