BucK功率损耗分析

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BUCK同步整流MOS损耗

BUCK同步整流MOS损耗

基于Buck同步整流电路中功率MOSFETS管参数的优化 华晓辉1 林维明21 2)福州大学电气工程与自动化学院 福州 3500021)Email :hxh_1889@ 2) Email :weiming @摘 要 本文是分析BUCK 同步整流电路中开关管与整流管的损耗模型,以两支管的损耗最小为目标,并以输入电压IN V =5V ,输出电压OUT V =1.8V ,开关频率s f =5MHZ为例,用MATLAB 工具对其进行优化计算,得出该条件下器件物理参数。

关键词 SR-Buck, MOSFET 损耗模型 , MATLAB 优化1.引言MOSFET 现已成为高频开关变换器、微处理器与半导体存储器等先进集成电路(IC)中最主要的器件单元,它尺寸小、功耗低、并与数字电路的主流工艺兼容。

近年来,使用MOSFET 的模拟IC 逐渐已成为主流,改变了以往主要使用双极型器件的局面。

GENFET MOSFET 器件就采用了Genera l Semiconductor 公司的0.35um 深槽工艺制造出了每平方英寸含200M 单元,集成度提高了4倍,更加适合了移动电话机,笔记本电脑,PDA 以及其它的无线电产品的应用。

因此在高功率密度集成Buck 同步整流电路中,确定MOSFET 的损耗模型,优化电路中主开关管与同步整流管的最小损耗模型显得十分重要。

2.寄生参数随着器件尺寸的不断减小,电路模拟程序中的器件模型也越来越复杂,以保证模拟结果的精确度;然而电路的模拟精确度不仅与器件模型有关,还与给定的器件模型参数有关。

功率MOSFET 的常用等效模型如图1,其中dson R 为导通电阻,Cgs 及Cds 和Cgd 为MOSFET 的寄生电容[1],它们的值是非线性的与施加在MOSFET 上的栅极的电压有关。

为简化分析,在此的模型的优化过程中忽略了引线电感等,并使器件工作在线形放大区。

在图1中:Cgov W Cox L W Cgd Cgs ⋅+⋅⋅==2 (1)Cgs 、Cgd 分别是栅极与源极、栅极与漏极之间的电容,Cgov 是栅极与源极、漏极之间的重叠电容[2];图1 MOSFET 常用等效电路模型Cox =ox ox T /97.3ε 是每单位面积的氧化层的电容,其中o ε是真空介电 常数,ox T 为栅极氧化层的厚度,ox ε为栅极氧化层的介电常数。

buck电路 开关损耗 开关频率 导通损耗

buck电路 开关损耗 开关频率 导通损耗

buck电路开关损耗开关频率导通损耗【深入探究Buck电路的开关损耗与导通损耗】1. 引言:Buck电路是一种常用的降压型DC-DC转换器,广泛应用于各种电子设备中。

Buck电路通过开关频率的控制,将高压输入电源转换为所需的低压输出电源。

然而,在Buck电路的工作过程中,会产生开关损耗与导通损耗,这两种损耗对电路的效率和性能有重要影响。

2. 开关损耗:开关损耗是指在Buck电路的开关元件(如MOSFET)开关过程中产生的能量损耗。

在每个开关周期内,当MOSFET从导通状态切换到关断状态时,会出现导通损耗和关断损耗。

导通损耗主要由MOSFET的导通电阻和开关电压之间的功率损耗导致,关断损耗则是由于MOSFET在关断过程中的开关电压和关断电流之间的功率损耗引起。

3. 导通损耗:导通损耗是指在Buck电路的开关元件导通状态下产生的能量损耗。

当MOSFET处于导通状态时,会因为导通电阻而产生功率损耗。

导通电阻主要受到MOSFET的导通电阻和电流大小的影响,通过减小导通电阻和控制合理的电流大小,可以降低导通损耗。

4. 开关频率:在Buck电路中,开关频率的选择对开关损耗和导通损耗有着重要的影响。

较高的开关频率可以减少每个开关周期的时间,从而降低了开关损耗;而较低的开关频率则能减少开关元件切换的频率,降低导通损耗。

在选择开关频率时,需要权衡开关损耗和导通损耗之间的关系,以达到最佳的效果。

5. 个人观点和理解:Buck电路的开关损耗与导通损耗是在电路设计中需要重视的问题。

通过合理选择开关频率,能够在一定程度上平衡这两种损耗,从而提高Buck电路的效率和性能。

为了降低开关损耗,可以采用功率金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)来替代传统的二极管开关,因为MOSFET具有更低的导通电阻。

选择合适的开关频率也是关键,需考虑电路工作条件和所需的输出电压范围。

通过精心设计和优化Buck电路,在保证稳定输出电压的前提下,可以最大程度地降低开关损耗和导通损耗,提高电路效率和性能。

buck mos管开通关断损耗计算公式

buck mos管开通关断损耗计算公式

buck mos管开通关断损耗计算公式Buck MOS管是一种常见的功率开关器件,广泛应用于电力电子领域。

在使用过程中,我们经常需要计算其开通关断损耗,以评估器件的性能和效率。

本文将介绍关于Buck MOS管开通关断损耗计算的公式和相关知识。

一、Buck MOS管的工作原理Buck MOS管是一种由金属氧化物半导体材料制成的场效应管。

它具有良好的导电特性和控制性能,适用于高频开关电源和DC/DC 变换器等应用场合。

Buck MOS管的工作原理可简单描述为:当控制信号施加在栅极上时,栅极与源极之间的电场会改变沟道的导电特性,从而控制电流的流动。

当栅极施加正向电压时,电场会吸引电子到沟道中,使其导电;当栅极施加负向电压时,电场会阻挡电子流动,使其截断。

二、开通损耗的计算公式开通损耗是指在MOS管开通过程中,由于电流流动而产生的功率损耗。

开通损耗的计算公式如下:P_on = (V_in - V_out) * I_out其中,P_on为开通损耗,V_in为输入电压,V_out为输出电压,I_out为输出电流。

该公式的计算基于以下假设:忽略了开关管的导通电阻和开关管的内部电源电压降。

三、关断损耗的计算公式关断损耗是指在MOS管关断过程中,由于电流截断而产生的功率损耗。

关断损耗的计算公式如下:P_off = V_out * I_out其中,P_off为关断损耗,V_out为输出电压,I_out为输出电流。

同样地,该公式的计算也基于了忽略了开关管的导通电阻和开关管的内部电源电压降。

四、开通关断损耗的影响因素开通关断损耗的大小取决于多个因素,如输入电压、输出电压、输出电流、开关频率等。

1. 输入电压和输出电压:开通损耗与输入电压和输出电压之间的差异成正比,而关断损耗则仅与输出电压成正比。

2. 输出电流:开通损耗和关断损耗都与输出电流成正比。

当输出电流增大时,开通关断的功率损耗也会增加。

3. 开关频率:开通关断损耗与开关频率成正比。

buck电路 开关损耗 开关频率 导通损耗

buck电路 开关损耗 开关频率 导通损耗

标题:深度剖析Buck电路中的开关损耗与导通损耗在电源系统中,Buck电路是一种常见的降压开关电源,其工作稳定、效率高、成本低,因而受到了广泛的应用。

然而,在实际应用中,Buck电路的开关损耗和导通损耗是影响其效率和稳定性的重要因素。

本文将全面探讨Buck电路中的开关损耗和导通损耗,从简单到深入地剖析其原理和影响因素。

1. 核心概念Buck电路是一种电源降压转换器,通过开关管(MOSFET)的开关动作,将输入电压转换为输出电压。

在其工作过程中,开关管的导通和关断会产生开关损耗和导通损耗。

2. 开关损耗开关损耗是由开关管的导通和关断动作引起的能量损失。

主要包括导通时的通态损耗和关断时的反向恢复损耗。

导通时,开关管处于导通状态,存在导通电压降和导通电流,由此产生的功率损耗即为通态损耗;而在关断过程中,由于开关管内外部电感和电容的能量存储和释放,产生反向恢复损耗。

3. 导通损耗在Buck电路中,导通损耗是由开关管和二极管的导通引起的能量损耗。

在导通状态下,由于开关管和二极管内阻的存在,以及导通时的通态电压降和导通电流,会产生导通损耗。

4. 影响因素开关频率是影响Buck电路开关损耗和导通损耗的关键因素之一。

较高的开关频率会减小开关管和二极管的导通和关断时间,从而减小损耗。

然而,较高的开关频率也会导致开关管和二极管的开关损耗增加。

5. 个人观点在实际应用中,合理设计Buck电路的开关频率和开关管、二极管的参数是至关重要的。

在追求高效率和稳定性的需要综合考虑开关损耗和导通损耗,以达到最佳的性能和成本效益。

总结通过本文对Buck电路中的开关损耗和导通损耗的深入剖析,我们了解到了其工作原理和影响因素。

在实际应用中,我们应该综合考虑开关频率、开关管、二极管的参数等因素,以最大程度地降低损耗、提高效率和稳定性。

结语Buck电路中的开关损耗和导通损耗是影响其性能的重要因素,我们需要深入理解和合理设计,以应对不同的应用场景和要求。

buck电路开关损耗计算

buck电路开关损耗计算

buck电路开关损耗计算
Buck电路是一种常用的直流-直流(DC-DC)转换器,用于将输入电压降低到所需的输出电压。

在Buck电路中,开关损耗是一个重要的考虑因素,它会影响电路的效率。

开关损耗主要由两部分组成:开通损耗(Turn-on Loss)和关断损耗(Turn-off Loss)。

开通损耗发生在开关从关断状态转换到开通状态时,而关断损耗发生在开关从开通状态转换到关断状态时。

开通损耗和关断损耗的计算通常涉及到开关的电压和电流波形,以及开关的转换时间。

然而,为了简化计算,我们可以使用一种近似方法,即假设开关的电压和电流波形是矩形的。

在这种近似方法下,开通损耗(E_on)和关断损耗(E_off)可以分别用以下公式计算:
E_on = I_avg * V_in * t_on
E_off = I_avg * V_out * t_off
其中:
I_avg 是开关的平均电流。

V_in 是输入电压。

V_out 是输出电压。

t_on 是开通时间。

t_off 是关断时间。

总开关损耗(E_total)则是开通损耗和关断损耗之和:
E_total = E_on + E_off
请注意,这些公式仅适用于简化的近似计算,并且假设了电压和电流波形是矩形的。

在实际应用中,开关损耗的计算可能需要更复杂的模型和方法。

此外,还需要注意,开关损耗只是Buck电路总损耗的一部分。

其他损耗还包括导通损耗、电感损耗和电容损耗等。

因此,在计算电路的总效率时,需要综合考虑所有损耗。

buck电路 开关损耗 开关频率 导通损耗

buck电路 开关损耗 开关频率 导通损耗

【buck电路:深度评估与全面探讨】随着电子技术的迅猛发展,各种高效能、低功耗的电源系统逐渐成为现代电子设备中不可或缺的组成部分。

在这其中,buck电路作为一种常见的降压转换器,被广泛应用于各种电子设备中,以提供稳定、高效的电源输出。

然而,在实际应用中,buck电路的开关损耗和开关频率等问题一直备受关注。

本文将深入分析buck电路的工作原理、开关损耗、开关频率及其影响因素,并提供个人观点和理解。

一、buck电路的工作原理1.工作原理简介在buck电路中,输入电压通过开关器件(MOSFET或IGBT)的控制,经过电感和电容等元件的作用,输出为较低的电压。

其中,通过控制开关器件的导通和关断,实现对输出电压的调节。

2.工作原理详解–输入电压经过控制开关器件后,会形成交替导通和关断的工作状态,实现电能的转换和输出。

–通过电感和电容等元件的协同作用,实现对电压的稳定输出,并且能够在一定程度上提高效率和响应速度。

二、开关损耗对buck电路的影响1.开关损耗的概念在buck电路中,由于开关器件进行导通和关断时会产生一定的能量损耗,这部分损耗即为开关损耗。

它主要包括开关器件导通时的导通损耗和关断时的反向恢复损耗。

2.开关损耗的计算–导通损耗:P sw,on=I sw2×R on–反向恢复损耗:P sw,off=Q rr×V DS×f s w3.开关损耗的影响因素–开关频率–开关器件的导通/关断速度–开关器件的导通/关断损耗特性三、开关频率对buck电路的影响1.开关频率的作用开关频率是指开关器件在单位时间内的开关次数,它直接影响着buck电路的工作性能和效率。

常见的开关频率包括几十千赫兹至几百千赫兹,不同的频率对buck电路的影响也不尽相同。

2.开关频率与效率的关系–高频率:可以减小输出滤波器元件的尺寸和成本,但会增加开关损耗和开关器件的损耗,影响整体效率。

–低频率:能够降低开关损耗,但需要更大尺寸的滤波器元件,导致成本提高并且功耗增加。

BUCK同步整流MOS损耗

BUCK同步整流MOS损耗

基于Buck同步整流电路中功率MOSFETS管参数的优化 华晓辉1 林维明21 2)福州大学电气工程与自动化学院 福州 3500021)Email :hxh_1889@ 2) Email :weiming @摘 要 本文是分析BUCK 同步整流电路中开关管与整流管的损耗模型,以两支管的损耗最小为目标,并以输入电压IN V =5V ,输出电压OUT V =1.8V ,开关频率s f =5MHZ为例,用MATLAB 工具对其进行优化计算,得出该条件下器件物理参数。

关键词 SR-Buck, MOSFET 损耗模型 , MATLAB 优化1.引言MOSFET 现已成为高频开关变换器、微处理器与半导体存储器等先进集成电路(IC)中最主要的器件单元,它尺寸小、功耗低、并与数字电路的主流工艺兼容。

近年来,使用MOSFET 的模拟IC 逐渐已成为主流,改变了以往主要使用双极型器件的局面。

GENFET MOSFET 器件就采用了Genera l Semiconductor 公司的0.35um 深槽工艺制造出了每平方英寸含200M 单元,集成度提高了4倍,更加适合了移动电话机,笔记本电脑,PDA 以及其它的无线电产品的应用。

因此在高功率密度集成Buck 同步整流电路中,确定MOSFET 的损耗模型,优化电路中主开关管与同步整流管的最小损耗模型显得十分重要。

2.寄生参数随着器件尺寸的不断减小,电路模拟程序中的器件模型也越来越复杂,以保证模拟结果的精确度;然而电路的模拟精确度不仅与器件模型有关,还与给定的器件模型参数有关。

功率MOSFET 的常用等效模型如图1,其中dson R 为导通电阻,Cgs 及Cds 和Cgd 为MOSFET 的寄生电容[1],它们的值是非线性的与施加在MOSFET 上的栅极的电压有关。

为简化分析,在此的模型的优化过程中忽略了引线电感等,并使器件工作在线形放大区。

在图1中:Cgov W Cox L W Cgd Cgs ⋅+⋅⋅==2 (1)Cgs 、Cgd 分别是栅极与源极、栅极与漏极之间的电容,Cgov 是栅极与源极、漏极之间的重叠电容[2];图1 MOSFET 常用等效电路模型Cox =ox ox T /97.3ε 是每单位面积的氧化层的电容,其中o ε是真空介电 常数,ox T 为栅极氧化层的厚度,ox ε为栅极氧化层的介电常数。

BUCK型开关电源中的损耗与效率的计算

BUCK型开关电源中的损耗与效率的计算

BUCK型开关电源中的损耗与效率的计算在BUCK型开关电源中,如果没有损耗,那效率就是100%,但这是不可能的,BUCK型开关电源中主要的损耗是导通损耗和交流开关损耗,导通损耗主要是指MOS 管导通后的损耗和肖特基二极管导通的损耗(是指完全导通后的损耗,因为导通不是瞬间导通,有个从线性区到非线性区的过程),在MOS管导通时,由于存在导通电阻,那么流过电流就必然存在导通损耗,而肖特基导通损耗是指在MOS管关闭期间,由于电感的电流不能突变加上电感反冲现象,会产生与MOS管导通时的相反电压方向,从而使肖特基导通,流过的电流会在肖特基上产生损耗。

由于MOS管在导通的时候,流过其的电流不是瞬间达到最大,此时电流有个从零逐渐上升到最大的过程,此时MOS管漏源(DS)之间的电压也是从Vdc逐渐下降到零,MOS管关闭的时候也存在此情况,只是与打开的时候过程相反,那么在这逐渐的过程中就会产生损耗,这就是交流开关损耗,交流开关损耗包括MOS管打开和关闭损耗,交流开关损耗与开关的频率成正比,因为一开一关的次数越多,损耗自然就大了。

在忽略交流开关损耗的情况下,假设输入电压Vdc输出电压为Vo,MOS管导通时间为Ton关闭时间为Tof,整个周期为T,即T=Ton+Tof。

在MOS管导通期间流过的平均电流为Io,由于电感电流不能突变,那么在MOS管关闭期间流过肖特基的平均电流也为Io,在MOS管和肖特基导通期间产生的压差基本为1V,那么导通损耗二P(mos管)+P(肖特基)=1*Io*Ton/T+1*lo*Toff/T=1*lo。

那么此时的效率E=Po/(Po+Plosse)=(Vo*Io)/(Vo*Io)+(1*Io)=Vo/Vo+1。

在考虑交流开关损耗的时候,基本交流开关损耗可以分两种情况来考虑, 第一种情况是MOS管导通期间,电流开始上升的时候电压同时开始下降,MOS 管关闭期间电流开始下降的时候电压同时上升,此种情况也是最理想的情况 (一般实际情况很难达到),那么在此情况下,交流开关损耗=整个开关周期的导通损耗+整个开关周期的关断损耗二(时间从0到Ton,流过电流和电压剩积的积分)*(Ton/T)+ (时间从0到Toff,流过电流和电压剩积的积分)*(Toff/T)=Io*Vdc/6*(Ton/T)+Io*Vdc/6*(Toff/T) 。

Buck电路的原理分析和参数设计

Buck电路的原理分析和参数设计

Buck电路的原理分析和参数设计连续工作状态一Buck工作原理将快速通断的晶体管置于输入与输出之间,通过调节通断比例(占空比)来控制输出直流电压的平均值。

该平均电压由可调宽度的方波脉冲构成,方波脉冲的平均值就是直流输出电压。

Q导通:输入端电源通过开关管Q及电感器L对负载供电,并同时对电感器L充电。

电感相当于一个恒流源,起传递能量作用电容相当于恒压源,在电路里起到滤波的作用Q闭合:电感器L中储存的能量通过续流二极管D形成的回路,对负载R继续供电,从而保证了负载端获得连续的电流。

导通时Q的电流闭合时C的电流L的电流和输出电流的关系。

输出电压与输入电压的关系(不考虑损耗)二 buck 的应用Buck 为降压开关电路,具有效率高,体积小,功率密度高的特点1.Buck 的效率Buck 的损耗:1.交流开关损耗 2.管子导通损耗3.电感电容等效电阻损耗Buck 的效率很高,一般可以达到60%以上,2.Buck 的开关频率频率越高,功率密度越大,但也同时带来了开关损耗。

在25~50KHZ 范围内buck 的体积可随频率的增大而减小。

三.参数的设计1.电感的参数电感的选择要满足直到输出最小规定电流时,电感电流也保持连续。

在临界不连续工作状态时 2120I I I -=ON OI T I V V L 20-=' ON I T LV V I I 012-=- 所以L L '≥ L 越大,进入不连续状态时的电流就越小2.电容的参数电容的选择必须满足输出纹波的要求。

电容纹波的产生:1. 电容产生的纹波: 相对很小,可以忽略不计2. 电容等效电感产生的纹波:在300KHZ~500KHZ 以下可以忽略不计3. 电容等效电阻产生的纹波:与esr 和流过电容电流成正比。

为了减小纹波,就要让esr 尽量的小。

不连续工作状态(1)开关管Q 导通,电感电流由零增加到最大(2)开关管Q 关断,二极管D 续流,电感电流从最大降到零; (3)开关管Q 和二极管D 都关断(截止),在此期间电感电流保持为零,负载由输出滤波电容来供电。

dcdc拓扑的消耗功率

dcdc拓扑的消耗功率

dcdc拓扑的消耗功率DC-DC转换器是一种电力电子设备,用于将直流电压转换成不同的直流电压。

DC-DC转换器广泛应用于电子设备、通信、工业自动化等领域。

在DC-DC转换器中,消耗功率是一个重要的性能指标,它直接影响转换器的效率和稳定性。

DC-DC转换器的拓扑结构多种多样,其中一种常见的拓扑结构是DC-DC Buck拓扑。

Buck拓扑是一种降压型拓扑结构,可以将输入电压降低到输出电压。

在Buck拓扑中,功率的消耗主要集中在开关管和电感元件上。

我们来看开关管的功耗。

开关管在工作过程中需要承受输入电流和输出电流的切换,因此存在导通和关断过程中的功耗。

当开关管导通时,存在导通电阻,会有一定的导通功耗。

而当开关管关断时,存在开关过程中的开关损耗,这是由于开关管的导通特性导致的。

因此,开关管的功耗是DC-DC转换器消耗功率的重要组成部分。

电感元件的功耗也是DC-DC转换器消耗功率的重要组成部分。

在Buck拓扑中,电感元件承担了能量存储和传输的功能。

在电感元件中,存在电流的连续和间断模式。

在连续模式下,电感元件的功耗主要来自于电流的循环变化,即电感元件内部电流的变化。

在间断模式下,电感元件的功耗主要来自于电流的突变,即电感元件内部电流的突变。

因此,电感元件的功耗也是不可忽视的。

除了开关管和电感元件,还有一些其他因素会影响DC-DC转换器的功耗。

例如,输入电压和输出电压的差异越大,功耗也会相应增加。

此外,转换器的效率也会影响功耗,效率越高,功耗越低。

为了降低DC-DC转换器的功耗,可以采取一些措施。

首先,选择合适的开关管和电感元件,以降低它们的导通和开关损耗。

其次,优化电感元件的设计,减小电流的变化和突变。

此外,合理设计转换器的输入输出电压差异,以降低功耗。

还可以采用高效的控制策略和技术,如PWM调制控制、谐振拓扑等,来提高转换器的效率,从而降低功耗。

DC-DC转换器的消耗功率是一个重要的性能指标,它直接影响转换器的效率和稳定性。

高频双Buck全桥逆变器的功率损耗分布分析

高频双Buck全桥逆变器的功率损耗分布分析

高频双Buck全桥逆变器的功率损耗分布分析陈梦颖;王议锋;涂世杰;周标【摘要】为了对高频条件下的变换器效率进行更加精准的估算,基于一台400 kHz 高频双buck逆变器,提出了适用于高频变换器的损耗分布分析方法.该方法在分析开关过程的基础上,对开关管、二极管的开关损耗和导通损耗进行了详细估算,并根据电感磁滞回线,同时计及高频条件下的电容损耗对其磁性损耗进行了估算.此法充分考虑了高频工况对变换器损耗分布的影响,更好地实现了对系统变换效率的估算,对指导参数设计和功率元件选择具有重要意义.为验证理论分析的可靠性,对由不同半导体器件组成的1 kW实验样机进行了实验测试和分析对比.实验结果表明,所述方法在高频工况下有更高的估算精度,计算效率为97.32%,相应实验效率为96.1%.【期刊名称】《电力系统及其自动化学报》【年(卷),期】2019(031)002【总页数】7页(P119-125)【关键词】小型可再生能源发电;损耗分布;双Buck逆变器;高频率;半导体器件【作者】陈梦颖;王议锋;涂世杰;周标【作者单位】天津大学智能电网教育部重点实验室,天津 300072;天津大学智能电网教育部重点实验室,天津 300072;国网江西省电力公司检修分公司,南昌 330000;国网天津市电力公司东丽供电分公司,天津 300300【正文语种】中文【中图分类】TM464随着环境能源问题日益严峻,可再生能源的发电技术获得了广泛关注。

逆变器作为风光发电等分布式发电系统的核心部分而倍受关注[1-2]。

SiC和GaN等宽禁带器件具有良好的温度特性、较高的耐电压特性等性能,可用来替代传统Si功率器件,进而极大改善逆变器运行效果和效率。

损耗分布分析经常用于设计实用变换器,故而在效率评估中起着非常重要的作用。

目前,大量文献对相关主题进行了一定研究。

文献[3-6]研究了交流滤波器的铁损,各种器件的损耗,暂态特性对损耗分布的影响,并对损耗评估方法进行了一定的阐述。

BUCK型开关电源中的损耗与效率的计算

BUCK型开关电源中的损耗与效率的计算

在BUCK型‎开关电源中‎,如果没有损‎耗,那效率就是‎100%,但这是不可‎能的,BUCK型‎开关电源中‎主要的损耗‎是导通损耗‎和交流开关‎损耗,导通损耗主‎要是指MO‎S管导通后‎的损耗和肖‎特基二极管‎导通的损耗‎(是指完全导‎通后的损耗‎,因为导通不‎是瞬间导通‎,有个从线性‎区到非线性‎区的过程),在MOS管‎导通时,由于存在导‎通电阻,那么流过电‎流就必然存‎在导通损耗‎,而肖特基导‎通损耗是指‎在MOS 管‎关闭期间,由于电感的‎电流不能突‎变加上电感‎反冲现象,会产生与M‎OS管导通‎时的相反电‎压方向,从而使肖特‎基导通,流过的电流‎会在肖特基‎上产生损耗‎。

由于MOS‎管在导通的‎时候,流过其的电‎流不是瞬间‎达到最大,此时电流有‎个从零逐渐‎上升到最大‎的过程,此时MOS‎管漏源(DS)之间的电压‎也是从Vd‎c逐渐下降‎到零,MOS管关‎闭的时候也‎存在此情况‎,只是与打开‎的时候过程‎相反,那么在这逐‎渐的过程中‎就会产生损‎耗,这就是交流‎开关损耗,交流开关损‎耗包括MO‎S管打开和‎关闭损耗,交流开关损‎耗与开关的‎频率成正比‎,因为一开一‎关的次数越‎多,损耗自然就‎大了。

在忽略交流‎开关损耗的‎情况下,假设输入电‎压Vdc,输出电压为‎V o,MOS管导‎通时间为T‎on,关闭时间为‎T off,整个周期为‎T,即T=Ton+Toff。

在MOS管‎导通期间流‎过的平均电‎流为Io,由于电感电‎流不能突变‎,那么在MO‎S管关闭期‎间流过肖特‎基的平均电‎流也为Io‎,在MOS管‎和肖特基导‎通期间产生‎的压差基本‎为1V,那么导通损‎耗=P(mos管)+P(肖特基)=1*Io*Ton/T+1*Io*Toff/T=1*Io。

那么此时的‎效率E=Po/(Po+Ploss‎e)=(Vo*Io)/(Vo*Io)+(1*Io)=Vo/Vo+1。

在考虑交流‎开关损耗的‎时候,基本交流开‎关损耗可以‎分两种情况‎来考虑,第一种情况‎是MOS管‎导通期间,电流开始上‎升的时候电‎压同时开始‎下降,MOS管关‎闭期间电流‎开始下降的‎时候电压同‎时上升,此种情况也‎是最理想的‎情况(一般实际情‎况很难达到‎),那么在此情‎况下,交流开关损‎耗=整个开关周‎期的导通损‎耗+整个开关周‎期的关断损‎耗=(时间从0到‎T on,流过电流和‎电压剩积的‎积分)*(Ton/T)+(时间从0到‎T off,流过电流和‎电压剩积的‎积分)*(Toff/T)=Io*Vdc/6*(Ton/T)+Io*Vdc/6*(Toff/T)。

BuckBoost电路的开关损耗分析

BuckBoost电路的开关损耗分析

电力传动与控制课程设计任务书2017-2018学年第一学期第12周-14周注:1、此表一组一表二份,课程设计小组组长一份;任课教师授课时自带一份备查。

2、课程设计结束后与“课程设计小结”、“学生成绩单”一并交院教务存档。

目录1、概述 (2)2 主电路拓扑和控制方式 (3)2.1 Buck/Boost主电路的构成 (3)2.2 电感电流连续时的工作原理及基本关系 (4)3、主电路参数的计算 (7)4、 MATLAB仿真 (8)5、Buck/Boost电路的开关损耗分析 (9)6、结论 (9)7、心得 (10)1、概述直流-直流变流电路的功能是将直流电变为另一固定电压或可调电压的直流电,包括直接直流变流电路和间接直流变流电路。

其中,直接直流变流电路又叫斩波电路,它包括降压斩波电路(Buck Chopper)、升压斩波电路(Boost Chopper)、升降压斩波电路(Buck/Boost)、Cuk斩波电路、Sepic斩波电路和Zeta斩波电路共六种基本斩波电路。

Buck/Boost升降压斩波电路同时具有Buck斩波电路和Boost斩波电路的特点,能对直流电直接进行降压或者升压变换,应用广泛。

本文将对Buck/Boost升降压斩波电路进行详细的分析。

2 主电路拓扑和控制方式2.1 Buck/Boost主电路的构成Buck/Boost变换器的主电路与Buck或Boost变换器所用元器件相同,也由开关管、二极管、电感、电容等构成,如图1所示。

与Buck和Boost不同的是电感L在中间,不在输出端也不在输入端,且输出电压极性与输入电压极性相反。

开关管也采用PWM控制方式。

Buck/Boost变换器也由电感电流连续和断续两种工作方式,但在实际应用中,往往要求电流不断续,即电流连续,当电路中电感值足够大时,就能使得电路工作在电流连续的状态下。

因此为了分析方便,现假设电感足够大,则在一个周期内电流连续。

图1 Buck/Boost主电路结构图电流连续时有两个开关模态,即V导通时的模态1,等效电路见图2(a);V 关断时的模态2,等效电路见图2(b)(a)V导通(b)V关断,VD续流图2 Buck/Boost不同模态等效电路2.2 电感电流连续时的工作原理及基本关系电感电流连续工作时的工作主要波形见图3。

同步buck电路的功耗计算

同步buck电路的功耗计算

同步buck电路的功耗计算
要计算同步buck电路的功耗,我们可以考虑以下几个方面:
1. 导通损耗(Switching Losses):导通损耗是由于开关管(如MOSFET)在导通状态下产生的功耗。

它可以通过开关管的导通电阻和开关频率来计算。

一般情况下,导通损耗与电流大小成正比。

2. 关断损耗(Conduction Losses):关断损耗是由于开关管在关闭状态下产生的功耗。

它取决于开关管的关断速度、关断电压以及开关频率。

一般情况下,关断损耗与电流大小和关断速度成正比。

3. 开关损耗(Switching Losses):开关损耗是由于开关管在切换过程中产生的功耗。

它主要取决于开关管的切换频率、输入电压范围和输出电流。

开关损耗与切换频率成正比。

4. 输出滤波器损耗(Output Filter Losses):输出滤波器损耗是由于输出电感和输出电容器中的电流产生的功耗。

它与输出电流和输出电压纹波有关。

综上所述,同步buck电路的总功耗可以通过将上述各个功耗项相加来计算。

具体的计算公式和参数需要根据实际电路的设计和特性来确定。

1。

BucK功率损耗分析

BucK功率损耗分析
5.2 电感损耗
电感损耗是指电感均方根电流 IRMS 在电感电阻 DCR 上产生之压降造成的损耗
电感电流 iL(t)的分段函数:(为了书写方便下面令 Io_design=Io)
iL
(t
)
=
⎪⎪⎨⎧IoIo+−∆∆I2oIo−+
∆Io t1 ∆Io
t,t ∈[0,t1] t,t ∈[t1,T
]
⎩ 2 T − t1
5
Pcap = 1 Coss *(Vds)2 * f 2
b)Switching loss 开启过程损耗。指在 MOSFET 开启过程中逐渐下降的漏源电 VDS 与逐渐上升的负载电流(即 漏源电流) IDS 交叉重叠部分造成的损耗
VDS 方程
v = −Vin *t +Vin tr
ID
方程 i =
Id tr
=
6
T
3
(Vin − Vo) * Io* Vo f * Lo
(Irms)2 = 2 * (Vin − Vo)* Io* Vo
3
f * Lo
Pinductor = (Irms)2 * R DC * KTH
8
6.3 MOFET,Schottky 损耗 6.3-1 High side MOSFET 损耗 6.3-2 Schottky 损耗
电感电流 iL(t)的分段函数:
电感电流波形
iL
(t
)
=
⎧ ⎪ ⎨ ⎪ ⎩
ILMAX * dT − ILMAX d'T
t, *
t
+
I
LMAX
,
t
t ∈[0,t1] ∈[t1, t2]
Irms =

同步整流buck损耗计算

同步整流buck损耗计算

同步整流buck损耗计算
同步整流buck变换器是一种常见的DC-DC变换器拓扑,用于将输入电压转换为较低的输出电压。

在这种拓扑中,损耗主要来自开关管的导通和关断损耗、二极管的正向压降损耗以及电感和电容元件的损耗。

首先,我们来计算开关管的损耗。

在导通状态下,开关管的损耗与导通电流和开关管的导通压降有关。

在关断状态下,开关管的损耗与开关频率、关断时的反向恢复电压以及开关管的反向恢复时间有关。

这些参数需要根据具体的开关管型号和工作条件来计算。

其次,二极管的损耗也需要考虑。

二极管的损耗与正向电流和正向压降有关。

在buck变换器中,二极管的损耗在整流过程中起着重要作用。

需要根据具体的二极管型号和工作条件来计算。

此外,电感元件和电容元件也会产生一定的损耗。

电感元件的损耗主要来自于电感的等效串联电阻产生的焦耳热损耗,而电容元件的损耗则主要来自于等效串联电阻产生的损耗。

这些损耗需要根据具体的元件参数和工作条件来计算。

综上所述,同步整流buck变换器的损耗计算涉及到开关管、二极管、电感元件和电容元件的损耗计算,需要考虑到多个因素。

在实际工程中,可以通过仿真软件进行损耗计算和分析,以优化设计方案,提高转换效率。

同时,也可以根据具体的应用场景和要求,选择合适的元件和工作参数,以降低整体损耗,提高系统性能。

buck同步整流电路mosfet损耗的计算

buck同步整流电路mosfet损耗的计算

buck同步整流电路mosfet损耗的计算1. 引言1.1 背景介绍随着科技的不断发展,电子设备在我们生活中扮演着越来越重要的角色。

在许多电子设备中,直流电源是必不可少的组成部分。

而在直流电源中,buck同步整流电路是一种常见且有效的电路拓扑结构,广泛应用于各种领域中。

在buck同步整流电路中,mosfet作为电路的关键元件,承担着整流和开关的功能。

而mosfet在工作过程中会产生一定的损耗,影响整个电路的效率和性能。

对mosfet的损耗进行准确的计算和分析,对于优化整流电路的性能至关重要。

本文将重点研究buck同步整流电路中mosfet的损耗问题。

通过分析mosfet损耗的来源、计算方法、影响因素以及优化方法,希望能为电子设备的设计和性能优化提供一定的参考。

通过深入了解mosfet的损耗问题,可以更好地理解整流电路的性能特点,为未来的研究和发展方向提供指导。

本文旨在全面探讨mosfet损耗对整流电路的影响,并为未来在这一领域开展更深入的研究工作提供借鉴和参考。

1.2 问题提出在实际工程中,buck同步整流电路是一种常见的电源转换电路,它能够将输入电压转换为稳定的输出电压,广泛应用于电子设备中。

在buck同步整流电路中,mosfet器件的损耗问题一直是制约其性能的一个重要因素。

问题提出:mosfet器件在buck同步整流电路中存在着较大的损耗,这些损耗主要包括导通损耗和开关损耗。

导通损耗是mosfet器件在导通状态下的功耗,开关损耗是mosfet器件在切换过程中由于开关过程中的导通电阻带来的功耗。

这些损耗不仅会导致mosfet器件发热严重,影响整流电路的稳定性和效率,还会影响整个系统的性能表现。

如何减小mosfet器件的损耗,提高整流电路的效率和稳定性,成为了当前研究的焦点之一。

为了解决mosfet器件损耗的问题,需要对其损耗进行深入的研究和分析,探讨其来源和计算方法,寻找影响其损耗的因素,并提出相应的优化方法,以提高整流电路的性能和效率。

buck降压电路效率损耗

buck降压电路效率损耗

buck降压电路效率损耗
Buck 降压电路是一种基本的降压 DC-DC 转换电路,它的效率损
耗主要包括以下几个方面:
1. 开关损耗:在 Buck 降压电路中,开关管在开关过程中会产生开关损耗,这是由于开关管在导通和截止状态之间转换时,会产生电流
和电压的突变,从而导致能量的损耗。

2. 导通损耗:当开关管导通时,会有一定的导通电阻,从而导致
一定的导通损耗。

3. 电感损耗:Buck 降压电路中的电感也会产生一定的损耗,这是
由于电感中的电流会产生磁场,从而导致能量的损耗。

4. 电容损耗:Buck 降压电路中的电容也会产生一定的损耗,这是
由于电容中的电流会产生电场,从而导致能量的损耗。

5. 其他损耗:除了上述损耗之外,还存在一些其他的损耗,例如
线路损耗、驱动损耗等。

为了提高 Buck 降压电路的效率,可以采取以下措施:
1. 选择低导通电阻的开关管,以降低导通损耗。

2. 选择低损耗的电感和电容,以降低电感损耗和电容损耗。

3. 优化电路设计,例如采用同步 Buck 降压电路、减少开关频率等,以降低开关损耗。

4. 采用高效的驱动电路,以降低驱动损耗。

5. 优化散热设计,以降低器件温度,从而降低损耗。

Buck 降压电路的效率损耗是由多种因素共同作用的结果,需要综合考虑各种因素,采取相应的措施来提高效率。

BUCK变换器Cdv_dt引起的电源损耗分析

BUCK变换器Cdv_dt引起的电源损耗分析

IV. Sync FET Operation and Losses With C*Dv/Dt Induced Turn On
在Cdv/dt感应开通期间,Q2之DS电压被钳位由于沟道导通.在假设钳位电压是常数(实验中可观察到) 的情况下,在Q2的钳位时间期间感应开关LOSS可表示为:(in case 2)
V. Quantification of CDv/Dt Loss Based On the Analysis Method
为计算Cdv/dt功耗的目的,SO-8封装典型的5mR同步FET来进行 计算.当变化trench channel深度,有可能发现一个器件具有更 高的Rds_on以及更低的CR(更好的Cdv/dt免干扰能力),另外一 个则相反.其它相关参数大多是一样或非常相似.相关参数如表 1示. 测量的Qoss VS. Vds如图4示. 图5显示了在使用相同的Q1(10mR,low-charge)时,用在SYCN插 孔上两个器件的性能对比.1MHz,14Vin,1.3V sync buck circuit. 在10A时LOSS不同大约为0.7W.这个LOSS区别是由于不同的 Rds_on,Coss,及CR.为得出确切的Cdv/dt感应LOSS,in-circuit 开关波形,器件温度和反向恢复峰值电流是必需的.
Characterization fo Cdv_dt Induced Power Loss in Synchronous Buck DC-DC Converters
International Rectifier as Presented at APEC 2004
Hu xin 2006_03_15-1?
V. Quantification of CDv/Dt Loss Based On the Analysis Method

BUCK型开关电源中的损耗与效率的计算

BUCK型开关电源中的损耗与效率的计算

BUCK型开关电源中的损耗与效率的计算BUCK(降压)型开关电源是一种常见的电源系统,广泛应用于各种电子设备中。

计算BUCK型开关电源的损耗与效率是非常重要的,可以帮助我们了解电源系统的性能和优化设计。

本文将详细介绍如何计算BUCK型开关电源的损耗与效率。

1.BUCK型开关电源的工作原理工作原理如下:-当输入电压大于输出电压时,开关管关闭,电感储存能量;-当输入电压小于输出电压时,开关管打开,电感释放能量,使输出电流继续供电。

2.BUCK型开关电源的损耗2.1静态损耗静态损耗主要包括开关管的导通损耗和电感元件的电流损耗。

- 开关管的导通损耗可以通过导通电流和开关管的导通电阻来计算,即 P1 = I(on) * R(on)。

- 电感元件的电流损耗可以通过电感电流和电感的电阻来计算,即P2 = I(lm)² * R(lm)。

2.2动态损耗动态损耗主要包括开关管的开关损耗和反馈电路的功耗。

- 开关管的开关损耗可以通过开关频率、开关管的导通电阻和电容负载来计算,即 P3 = f * V(in) * I(C) * (t(on) + t(off)),其中 f为开关频率,V(in)为输入电压,I(C)为电容负载电流,t(on)和t(off)为开关管的导通时间和关断时间。

- 反馈电路的功耗主要来自反馈控制电路,可以通过电压和电流来计算,即 P4 = V(fbk) * I(fbk)。

总的损耗为 P(total) = P1 + P2 + P3 + P43.BUCK型开关电源的效率输出功率可以通过输出电压和输出电流来计算,即 P(out) = V(out) * I(out)。

输入功率可以通过输入电压和输入电流来计算,即 P(in) = V(in) * I(in)。

4.优化BUCK型开关电源的设计为了提高BUCK型开关电源的效率,可以采取以下措施:-选择低导通电阻的开关管,减少导通损耗。

-选择低电阻的电感元件,减少电流损耗。

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5
Pcap = 1 Coss *(Vds)2 * f 2
b)Switching loss 开启过程损耗。指在 MOSFET 开启过程中逐渐下降的漏源电 VDS 与逐渐上升的负载电流(即 漏源电流) IDS 交叉重叠部分造成的损耗
VDS 方程
v = −Vin *t +Vin tr
ID
方程 i =
Id tr
=
d 2 * (Vin −1) 2 f * Lo Vo
d = 2Io * f * Lo *Vo Vin(Vin − Vo)
6.1-2 电感计算
因为电路在连续与非连续之间来回切换,所以我们选择电感时以连续工作模式的方式来选择, 即 L=Lo.
6.2 电感损耗
电感损耗是指电感均方根电流 IRMS 在电感电阻 DCR 上产生之压降造成的损耗
5.2 电感损耗
电感损耗是指电感均方根电流 IRMS 在电感电阻 DCR 上产生之压降造成的损耗
电感电流 iL(t)的分段函数:(为了书写方便下面令 Io_design=Io)
iL
(t
)
=
⎪⎪⎨⎧IoIo+−∆∆I2oIo−+
∆Io t1 ∆Io
t,t ∈[0,t1] t,t ∈[t1,T
]
⎩ 2 T − t1
8.典型应用
详细参数计算请参见 MathCAD 文件
9
1
2.概述
随着能源效率的日益重要,人们对开关电源效率期望也越来越高, 从公式
η = POUT / PIN =(PIN − PLOSS)/ PIN 可知要提高效率,就必须减小开关电源损耗,BUCK 电源
损耗的主要构成为:电感损耗,MOSFET 导通损耗,MOSFET 寄生电容损耗,开关交叠损耗, 以及二极管的损耗等等。
当 Q1 Turn off 对电感有 Lo = Vo * d ' f * I LMAX
I LMAX
= Vo * d ' f * Lo
联合上两个公式可得: d ' = Vin −Vo * d Vo
电感电流断续时 BUCK 输出电流 IO 仍等于电感电流平均值
Io =
1 (dT 2T
+ d 'T ) * I LMAX
MOSFET 损耗包括导通损耗,驱动损耗以及开关损耗 MOSFET 主要参数 导通阻抗 RDS(ON) 总电量 QG MOSFET 输出电容 COSS
4
MOSFET 导通时间 tf MOSFET 关短时间 tr MOSFET 门极电压 VGS
5.3-1 High side MOSFET 损耗
A)导通损耗 导通损耗指在 MOSFET 完全开启后负载电流(即漏源电流) IDS(on) 在导通电阻 RDS(on) 上 产生之压降造成的损耗
3. 电路
3.1 同步整流
3.2 非同步整流
2
4. 参数定义
1) 输入电压 VIN 2) 输出电压 VO 3)输出电流 Io_design 4)纹波电流ΔIonormal=0.3*Io_design 5)工作频率 f 6) 二极管的正向导通压降 Vd 7) 电感的等效电阻 RDC 8)温度系数 KTH 9)占空比 d
BБайду номын сангаас 二极管损耗 二极管在承载正向电流时因正向压降造成的损耗
Irms = (1− d ) *[Io2 + ∆I 2 *1/12] Pshottky = Vd * Irms
6.非连续工作模式损耗计算
备注:由于同步整流变换器一直工作在电流连续模式,所以在计算非连续工作模式损耗时不
考虑同步整流部分。
6.1 占空比及电感计算
5. 连续工作模式损耗计算
5.1 占空比及电感计算
5.1-1 占空比计算 A) 同步整流占空比 d1 = Vout /Vin B) 非同步整流占空比 d 2 = (Vo +Vd ) /(Vin +Vd ) 5.1-2 电感计算
A. 同步整流
当 Q1 Turn off 对 电 感有 Lo_theoretical = Vo * (1 − d1) 取 电 感 值 Lo_theoretical=Lo f * ∆Ionormal
6.1-1 非同步整流占空比 假设:非连续工作模式电感电流从零上升到电感电流最大 ILMAX 的时间为 dT, 电感电流从最 大值 ILMAX 下降到零的时间为 d’T
7
当 Q1 Turn on 对电感有 Lo = (Vin − Vo) * d f * I LMAX
I LMAX
=
(Vin − Vo) * d f * Lo
电感电流 iL(t)的分段函数:
电感电流波形
iL
(t
)
=
⎧ ⎪ ⎨ ⎪ ⎩
ILMAX * dT − ILMAX d'T
t, *
t
+
I
LMAX
,
t
t ∈[0,t1] ∈[t1, t2]
Irms =
∫ ∫ t1
(
I LMAX
⋅ t)2 dt
+
0 dT
t2
(−
t1
I LMAX d'T
⋅t
+
ILMAX )2 dt
2.1 同步整流………………………………………………………………………………….2 2.2 非同步整流……………………………………………………………………………….2 4. 参数定义………………………………………………………………………………………3 5. 连续工作模式损耗计算 5.1 占空比及电感计算………………………………………………………………………..3 5.2 电感损耗……………………………………………………………………………..…....4 5.3 MOFET,Schottky 损耗 4.3-1 High side MOSFET 损耗……………………………………………………………….5 5.3-2 Low side MOSFET 或 Schottky 损耗…………………………………………………..7 6. 非连续工作模式损耗计算 6.1 占空比及电感计算………………………………………………………………………..7 6.2 电感损耗…………………………………………………………………………………..8 6.3 MOFET,Schottky 损耗…………………………………………………………………...8 6.3-1 High side MOSFET 损耗……………………………………………………………….8 6.3-2 Schottky 损耗………………………………………………………………………..….8 7. 总损耗 7.1 连续工作模式……………………………………………………………………………..9 7.2 非连续工作模式…………………………………………………………………………..9 8. 典型应用………………………………………………………………………………………9
=
6
T
3
(Vin − Vo) * Io* Vo f * Lo
(Irms)2 = 2 * (Vin − Vo)* Io* Vo
3
f * Lo
Pinductor = (Irms)2 * R DC * KTH
8
6.3 MOFET,Schottky 损耗 6.3-1 High side MOSFET 损耗 6.3-2 Schottky 损耗
t
∫ Psw
_
on
=
tr
[(
− Vin
*t
+
Vin)
*
Id
t]dt
=
1
*Vin *(Io
+
1
∆Io) *tr
*
f
0 tr
tr
6
2
○2 Turn off loss 关断过程损耗。指在 MOSFET 关断过程中逐渐上升的漏源电压 VDS 与逐渐下降的漏源电流 IDS 的交叉重叠部分造成的损耗
6
Psw _ off = 1 *Vin * (Io + 1 ∆Io) * tf * f
Buck 功率损耗分析
ZhangJiuSheng—system engineer 1. 目录................................................................................................... ........................................1 2. 概述................................................................................................... ........................................2 3. 电路
6
2
5.3-2 Low side MOSFE 或 Schottky 损耗
A) Low side MOSFET 损耗 Low side MOSFET loss 计算类似与 high side MOSFET loss, 只是计算 conduction loss 时注意
(Irms)2 = (Io2 + ∆Io2 /12) * (1− d) ,其余部分损耗请参考上面的计算方法。
∫ ∫ Irms =
t1
0 (IO
− ∆Io + ∆Io ⋅t)2 dt + 2 t1
T
t1 ( I O
+ ∆Io − ∆Io ⋅t)2 dt 2 T − t1
=
T
∆Io2 12
+
IO2
(Irms)2 = Io2 + ∆Io2 /12
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