统计过程控制
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雙邊規格:同時存在上下規格界限（USL,LSL): 雙邊規格:同時存在上下規格界限（USL,LSL):
Spec.Center → SC
Upper USL Spec. Limit → Lower LSL
單邊規格只有規格上限(USL)或只有規格下限 單邊規格只有規格上限(USL)或只有規格下限 (LSL)時 (LSL)時
2.SPC闡釋 2.SPC闡釋
Statistical: （统计）以概率统计学 为基础，用科学的方法分析数据、得出 结论； ——使用数据分析 ——使用数据分析 Process： 过程）有输入Process： （过程）有输入-输出的一 系列的活动；——分析研究过程 系列的活动；——分析研究过程 Control： Control： （控制）事物的发展和变 化是可预测的；——作出调节和行动 化是可预测的；——作出调节和行动
6σ
注 :6σ 就是2*(3σ ),亦即是3σ 制程為分界點,以評估制 就是2*(3σ ),亦即是3σ 制程為分界點, 程能力的好壞. 程能力的好壞. 3σ 制程:公差內可以放入6個變異數(σ )的制程 制程:公差內可以放入6個變異數(σ )的制程 6σ 制程:公差內可以放入12個變異數(σ )的制程 制程:公差內可以放入12個變異數(σ )的制程
4.影響過程變異的因素 4.影響過程變異的因素
普通原因： 是過程中固有的一種屬性，難以剔除，但對質 量影響很小。 特殊原因： 是過程中非固有的屬性，不可以去預測的， 對 質量的影響較大，但是可以去克服的。
5.變異的來源 5.變異的來源
主要來源：5M1E 主要來源：5M1E 人(Man) 機 (Machine) 料 (Material) 法 (Method) 測 (Measurement) 環 (Environment)
6.SPC工具 6.SPC工具
控制圖(SPC中主要的工具) 控制圖(SPC中主要的工具) 對過程質量特性值進行測定、記錄、評 估和監察過程是否處於統計控制狀態的一 種用統計方法設計圖
7.控制圖示 7.控制圖示
控制線 CL：Central Line(中心線) CL： Line(中心線) UCL： UCL：Upper Control Line(上控制限) Line(上控制限) LCL： LCL：Lower Control Line(下控制限) Line(下控制限)
樣 本 統 計 數 值
UCL CL LCL
時間或樣本號
源自文库
7.1 控制圖示
規格上限(Usl)
樣 本 統 計 數 值
UCL CL LCL
時間或樣本號
規格上/下限與管制上 下限的關係 規格上 下限與管制上/下限的關係？ 下限與管制上 下限的關係？
8.規格描述: 8.規格描述:
規格中心(SC),規格界限(USL,LSL) 規格中心(SC),規格界限(USL,LSL) 規格界限分類：
1.SPC的定義 1.SPC的定義
定義： Statistical Process Control簡稱 Control簡稱 SPC即統計過程管制 SPC即統計過程管制 用統計方法對過程中的各個階段進行 評估、監控，建立並保持過程處於可接 評估、監控，建立並保持過程處於可接 受的並且穩定的水平，從而保證產品與 的並且穩定的水平，從而保證產品與 服務符合要求的一種質量管理方法
10.制程能力(Cp): 10.制程能力(Cp):
制程精密度,其值越高,表示制程穩定變異小(離散程度, 制程精密度,其值越高,表示制程穩定變異小(離散程度,與 σ 有關). 有關). 比較公差與制程分布的比值, 比較公差與制程分布的比值,當公差范圍內能納入愈多的 σ個數,則此制程表現愈好.基為制程固有的(已決定的)特 個數,則此制程表現愈好.基為制程固有的(已決定的) 性值,代表一種潛在的能力.(我們應該可以做到多好？) 性值,代表一種潛在的能力.(我們應該可以做到多好？) 其公式為: 其公式為: USL-LSL Cp=
Ca=
USL-LSL
其中SC=USL+LSL
Ca為正值，則代表制程中心偏規格上限，其值越大， Ca為正值，則代表制程中心偏規格上限，其值越大， 則越接近規格上限 Ca為負值，則代表制程中心偏規格下限，其值越小， 越 Ca為負值，則代表制程中心偏規格下限，其值越小， 接近規格下限。 注：單邊規格沒有Ca 注：單邊規格沒有Ca
9.制程准確度(Ca): 9.制程准確度(Ca):
制程准確度，代表制程平均值偏離規格中心值之程度。 其值越小，制程平均值越接近規格中心值，亦即品質越接近規 格要求之水准( 格要求之水准(集中趨勢，與X有關)，制程平均值愈偏離規格 有關) 中心值，所造成的不良率將愈大) 中心值，所造成的不良率將愈大) 公式為： X-sc
3.SPC功能與作用 3.SPC功能與作用
功能 ： 對過程進行管控，起到一種預防的作用( 對過程進行管控，起到一種預防的作用(判斷過 程中的異常並及時的發出異常警告)，現代SPC己 程中的異常並及時的發出異常警告)，現代SPC己 包含SPD(統計過程診斷) 包含SPD(統計過程診斷)功能 作用： 1.确保制程持续稳定、可预测。 1.确保制程持续稳定、可预测。 2. 提高产品质量、生产能力、降低成本。 3.为制程分析提供依据。 3.为制程分析提供依据。 4.区分变差的偶然因素和異常因素，作为采取局 4.区分变差的偶然因素和異常因素，作为采取局 部措施或对系统采取措施的指南。
11.綜合制程能力指數(Cpk): 11.綜合制程能力指數(Cpk):
理想的制程應同時要求較高的精密與准確度, 理想的制程應同時要求較高的精密與准確度,其計算公式 有兩種: (我們實際做到多好？) 有兩種: (我們實際做到多好？) 公式: 公式: 1)雙邊公差時:Cpk=Cp*(1-Ca). 1)雙邊公差時:Cpk=Cp*(1其中: 其中: 當Ca=0(不偏時),Cpk=Cp(有最大值) Ca=0(不偏時),Cpk=Cp(有最大值) 當Ca=1(制程平均值=規格上限或規格下限 Ca=1(制程平均值= 時),Cpk=0(其值最小) ),Cpk=0(其值最小) 當Ca>1(制程平均值超出規格上限或規格下限 Ca>1(制程平均值超出規格上限或規格下限 時)Cpk已經變得沒有意義了. )Cpk已經變得沒有意義了. 2)單邊公差時:由於沒有規格中心值,故Ca=N/A，故定 2)單邊公差時:由於沒有規格中心值, Ca=N/A，故定 義Cpk=Cp
Spec.Center → SC
Upper USL Spec. Limit → Lower LSL
單邊規格只有規格上限(USL)或只有規格下限 單邊規格只有規格上限(USL)或只有規格下限 (LSL)時 (LSL)時
2.SPC闡釋 2.SPC闡釋
Statistical: （统计）以概率统计学 为基础，用科学的方法分析数据、得出 结论； ——使用数据分析 ——使用数据分析 Process： 过程）有输入Process： （过程）有输入-输出的一 系列的活动；——分析研究过程 系列的活动；——分析研究过程 Control： Control： （控制）事物的发展和变 化是可预测的；——作出调节和行动 化是可预测的；——作出调节和行动
6σ
注 :6σ 就是2*(3σ ),亦即是3σ 制程為分界點,以評估制 就是2*(3σ ),亦即是3σ 制程為分界點, 程能力的好壞. 程能力的好壞. 3σ 制程:公差內可以放入6個變異數(σ )的制程 制程:公差內可以放入6個變異數(σ )的制程 6σ 制程:公差內可以放入12個變異數(σ )的制程 制程:公差內可以放入12個變異數(σ )的制程
4.影響過程變異的因素 4.影響過程變異的因素
普通原因： 是過程中固有的一種屬性，難以剔除，但對質 量影響很小。 特殊原因： 是過程中非固有的屬性，不可以去預測的， 對 質量的影響較大，但是可以去克服的。
5.變異的來源 5.變異的來源
主要來源：5M1E 主要來源：5M1E 人(Man) 機 (Machine) 料 (Material) 法 (Method) 測 (Measurement) 環 (Environment)
6.SPC工具 6.SPC工具
控制圖(SPC中主要的工具) 控制圖(SPC中主要的工具) 對過程質量特性值進行測定、記錄、評 估和監察過程是否處於統計控制狀態的一 種用統計方法設計圖
7.控制圖示 7.控制圖示
控制線 CL：Central Line(中心線) CL： Line(中心線) UCL： UCL：Upper Control Line(上控制限) Line(上控制限) LCL： LCL：Lower Control Line(下控制限) Line(下控制限)
樣 本 統 計 數 值
UCL CL LCL
時間或樣本號
源自文库
7.1 控制圖示
規格上限(Usl)
樣 本 統 計 數 值
UCL CL LCL
時間或樣本號
規格上/下限與管制上 下限的關係 規格上 下限與管制上/下限的關係？ 下限與管制上 下限的關係？
8.規格描述: 8.規格描述:
規格中心(SC),規格界限(USL,LSL) 規格中心(SC),規格界限(USL,LSL) 規格界限分類：
1.SPC的定義 1.SPC的定義
定義： Statistical Process Control簡稱 Control簡稱 SPC即統計過程管制 SPC即統計過程管制 用統計方法對過程中的各個階段進行 評估、監控，建立並保持過程處於可接 評估、監控，建立並保持過程處於可接 受的並且穩定的水平，從而保證產品與 的並且穩定的水平，從而保證產品與 服務符合要求的一種質量管理方法
10.制程能力(Cp): 10.制程能力(Cp):
制程精密度,其值越高,表示制程穩定變異小(離散程度, 制程精密度,其值越高,表示制程穩定變異小(離散程度,與 σ 有關). 有關). 比較公差與制程分布的比值, 比較公差與制程分布的比值,當公差范圍內能納入愈多的 σ個數,則此制程表現愈好.基為制程固有的(已決定的)特 個數,則此制程表現愈好.基為制程固有的(已決定的) 性值,代表一種潛在的能力.(我們應該可以做到多好？) 性值,代表一種潛在的能力.(我們應該可以做到多好？) 其公式為: 其公式為: USL-LSL Cp=
Ca=
USL-LSL
其中SC=USL+LSL
Ca為正值，則代表制程中心偏規格上限，其值越大， Ca為正值，則代表制程中心偏規格上限，其值越大， 則越接近規格上限 Ca為負值，則代表制程中心偏規格下限，其值越小， 越 Ca為負值，則代表制程中心偏規格下限，其值越小， 接近規格下限。 注：單邊規格沒有Ca 注：單邊規格沒有Ca
9.制程准確度(Ca): 9.制程准確度(Ca):
制程准確度，代表制程平均值偏離規格中心值之程度。 其值越小，制程平均值越接近規格中心值，亦即品質越接近規 格要求之水准( 格要求之水准(集中趨勢，與X有關)，制程平均值愈偏離規格 有關) 中心值，所造成的不良率將愈大) 中心值，所造成的不良率將愈大) 公式為： X-sc
3.SPC功能與作用 3.SPC功能與作用
功能 ： 對過程進行管控，起到一種預防的作用( 對過程進行管控，起到一種預防的作用(判斷過 程中的異常並及時的發出異常警告)，現代SPC己 程中的異常並及時的發出異常警告)，現代SPC己 包含SPD(統計過程診斷) 包含SPD(統計過程診斷)功能 作用： 1.确保制程持续稳定、可预测。 1.确保制程持续稳定、可预测。 2. 提高产品质量、生产能力、降低成本。 3.为制程分析提供依据。 3.为制程分析提供依据。 4.区分变差的偶然因素和異常因素，作为采取局 4.区分变差的偶然因素和異常因素，作为采取局 部措施或对系统采取措施的指南。
11.綜合制程能力指數(Cpk): 11.綜合制程能力指數(Cpk):
理想的制程應同時要求較高的精密與准確度, 理想的制程應同時要求較高的精密與准確度,其計算公式 有兩種: (我們實際做到多好？) 有兩種: (我們實際做到多好？) 公式: 公式: 1)雙邊公差時:Cpk=Cp*(1-Ca). 1)雙邊公差時:Cpk=Cp*(1其中: 其中: 當Ca=0(不偏時),Cpk=Cp(有最大值) Ca=0(不偏時),Cpk=Cp(有最大值) 當Ca=1(制程平均值=規格上限或規格下限 Ca=1(制程平均值= 時),Cpk=0(其值最小) ),Cpk=0(其值最小) 當Ca>1(制程平均值超出規格上限或規格下限 Ca>1(制程平均值超出規格上限或規格下限 時)Cpk已經變得沒有意義了. )Cpk已經變得沒有意義了. 2)單邊公差時:由於沒有規格中心值,故Ca=N/A，故定 2)單邊公差時:由於沒有規格中心值, Ca=N/A，故定 義Cpk=Cp