机理计算公式
fmea风险评估三要素及计算公式
fmea风险评估三要素及计算公式
fmea的三要素：风险量化评估、列出原因/机理、寻找预防/改
善措施。
风险量化评估是指，在风险事件发生之前或之后（但还没有结束），该事件给人们的生活、生命、财产等各个方面造成的影响和损失的可能性进行量化评估的工作。
即，风险评估就是量化测评某一事件或事物带来的影响或损失的可能程度。
严重度（S）、频度（O）、不易探测度（D）;因为这三个参数决定最终的RPN值。
如果想有效管理fmea，最好上线专业fmea软件，有消息称：上海通用已经明确要求，DFMEA需要专业系统管理FMEA风险系数，RPN Risk Priority Number.是严重度，发生率，探测度的乘积。
RPN=S×O×DS ---严重度1-10，数字越大，严重度
级别越高；O---频度1-10数字越大，越容易发生；D--探测度1-10
数字越大，越容易探测；RPN分值越高，风险系数越大，RPN的高低
并不是唯一判断FMEA的风险大小、实施相应对策的评价标准。
需要综合考虑S、O、D的先后顺序，以及对此三种影响着风险大小的理解与评估。
机理计算公式
贮存失效机理模型研究1.1 贮存失效机理模型贮存失效机理模型4.2 贮存寿命模型分析 4.2.1 单应力模型（1）阿伦尼斯模型19世纪阿伦尼斯研究了温度应力激发类化学过程，在大量数据的基础上提出了阿伦尼斯加速模型。
该模型适用于加速应力为单一温度应力的产品，导弹在贮存期内遭受的最主要的应力是温度应力，所以阿伦尼斯模型在电子产品的加速贮存寿命试验中得到了广泛的应用。
如在美军导弹研究和发展报告《小型/中型数字和无偏集成电路分析》（ADA053415）中运用阿伦尼斯模型来估计非工作状态下的集成电路的寿命。
阿伦尼斯模型的形式如下：（4-1）为产品贮存寿命；为激活能；为温度应力（单位：开尔文）； 为波耳兹曼常数；为常数。
阿伦尼斯模型是基于激活能的模型，激活能是一个量子物理学概念，表征了在微观上启动某种粒子间的重新结合或重组所需要克服的能量障碍，所以阿伦尼斯模型的物理基础是化学反应速率，因此，它主要用来描述电子产品中非机械（非材料疲劳）的、取决于化学反应、腐蚀、物质扩散或迁移等过程的失效机理。
（2）艾林模型Eyring 于1935年提出了艾林模型。
单应力的艾林模型是根据量子力学原理*aE kTL t C eL t a E TkC推导出的，它表示某些产品的寿命特性是绝对温度的函数。
当绝对温度在较小范围内变化时，单应力艾林模型近似于阿伦尼斯模型，在很多应用场合可以用这两个模型去拟合数据，根据拟合好坏来决定选用哪一个加速模型。
所以，艾林模型也常常用于电子产品的加速贮存寿命试验。
Glasstene 、Laidler 、Eyring 在1941年提出一个加速模型，该模型被称为广义艾林模型，该模型适用于产品同时遭受温度应力与另一其他环境应力的情况，但需要假设温度应力与另一环境应力互不干涉。
导弹在贮存期内的运输、装卸和定期检测等环境情况下，弹上产品会同时遭受温度和其他应力，此时就可以使用广义艾林模型。
单应力艾林模型的形式如下：（4-2）为产品贮存寿命；为激活能；为温度应力（单位：开尔文）； 为波耳兹曼常数；为常数。
大学无机化学所有公式(一)2024
大学无机化学所有公式（一）引言概述：无机化学是化学的一个重要分支，主要研究无机物质的性质、结构和反应。
在大学无机化学的学习中，掌握相关的公式是非常重要的。
本文将给出大学无机化学所有公式（一），并按照五个大点对其进行详细阐述。
一、物质的量计算公式：1. 摩尔质量公式2. 物质的量计算公式3. 有效摩尔质量公式4. 摩尔浓度计算公式5. 摩尔分数计算公式6. 形成常数计算公式7. 离子产率计算公式8. 计算化学反应过程中的物质的量变化公式9. 摩尔比计算公式二、配位化学公式：1. 配合物的化学式表示2. 配合物的离解平衡常数计算公式3. 配位键长计算公式4. 配合物的形成常数计算公式5. 配位反应的速率计算公式6. 配位反应的平衡常数计算公式7. 配位反应的过渡态理论计算公式8. 配位数计算公式9. 配位反应的活化能计算公式三、结构和键相关公式：1. 倍键键长计算公式2. 动力学和热力学条件下键强度计算公式3. 键的电荷分布计算公式4. 键的离子极性计算公式5. 键的共价极性计算公式6. 核磁共振化学位移计算公式7. 键能计算公式8. 分子轨道理论计算公式9. 键的键解离能计算公式四、溶液和酸碱公式：1. 酸碱中和计算公式2. 酸碱平衡常数计算公式3. 氧化还原反应电势计算公式4. 溶解度积计算公式5. 溶液浓度计算公式6. 电动势计算公式7. 膜电位计算公式8. 应用平衡常数计算酸碱溶液酸碱稳定性的公式9. 离子活度计算公式五、化学反应速率及反应机理公式：1. 反应速率计算公式2. 反应级数计算公式3. 反应速率常数计算公式4. 反应活化能计算公式5. 反应机理相关公式6. 温度对反应速率的影响公式7. 浓度对反应速率的影响公式8. 温度对反应平衡常数的影响公式9. 浓度对反应平衡常数的影响公式总结：本文详细介绍了大学无机化学的公式，涵盖了物质的量计算、配位化学、结构和键的计算、溶液和酸碱计算以及化学反应速率和反应机理的计算等方面。
升华热=汽化热+熔化热
升华热=汽化热+熔化热升华热，指物质在固态直接变为气态时所吸收的热量。
它是一种能量转化形式，与熔化热和汽化热一样，在物质相变过程中起着至关重要的作用。
本文将从升华热的含义、计算公式、作用机理等方面进行介绍。
一、升华热的含义升华热是指物质从固态转化为气态的过程中，吸收的单位质量热量。
如果将一定量的固态物质暴露在一定的温度和压力下，它会通过升华过程直接转化为气态，吸收的热量就是升华热。
升华热的大小取决于各种因素，例如物质的性质、温度和压力等，不同的物质有不同的升华热值。
二、升华热的计算公式升华热的计算公式是通过物质的质量和温度差来计算的。
具体公式如下：Q = m × ΔHsub其中，Q表示吸收的升华热（单位：焦耳J），m表示物质的质量（单位：克g），ΔHsub 表示物质的升华热（单位：焦耳/克J/g）。
例如，将5克的冰柱暴露在0°C下，直接转变为水蒸气，计算其吸收的升华热：Q = 5g × 2.83J/g = 14.15J因此，该冰柱吸收的升华热为14.15焦耳。
三、升华热的作用机理升华过程是一种较为特殊的相变过程，与熔化和汽化不同，它是从固态到气态的直接转变。
在升华过程中，固态物质在受热下分子开始振动，逐渐脱离晶格结构并进入气态。
这一过程中需要吸收相应的热量，这就是升华热的来源。
升华过程可以发生在很多物质中，例如干冰、碳酸钙等。
其中比较典型的例子就是干冰的升华过程，干冰是二氧化碳的固态，其升华温度为-78.5°C，略高于干冰的熔点。
当干冰暴露在室温下时，其表面开始释放气体，逐渐升华为二氧化碳气态，同时吸收相应的热量。
这一过程可以应用到制冷、干燥、保鲜等领域。
升华热的应用非常广泛，以下介绍几个比较典型的应用场景。
1. 干燥剂干燥剂是一种吸湿性物质，能够吸收周围环境中的水分。
其中比较常见的干燥剂就是硅胶、活性炭等。
这些物质本身不具备流体性，但是它们可以通过升华过程释放吸收的水分，完成干燥的任务。
诱导阻力形成的机理
诱导阻力形成的机理引言：诱导阻力是指在运动物体中存在的一种阻碍其运动的力量。
诱导阻力的形成机理涉及到电磁学、流体力学等多个学科领域。
本文将从电磁诱导阻力和流体动力学阻力两个方面探讨诱导阻力形成的机理。
一、电磁诱导阻力的机理1. 法拉第电磁感应定律法拉第电磁感应定律是电磁诱导阻力形成的基础。
根据法拉第电磁感应定律，当一个导体在磁场中运动时，会在导体中产生感应电动势和感应电流。
感应电流在导体中形成闭合回路，产生电磁力，阻碍导体的运动。
这就是电磁诱导阻力形成的基本原理。
2. 电磁诱导阻力的大小电磁诱导阻力的大小与导体的运动速度、磁场强度和导体形状等因素有关。
当导体的运动速度增大时，感应电流和电磁力也增大，导致电磁诱导阻力增大。
磁场强度越大，导体受到的电磁力越大，电磁诱导阻力也越大。
导体的形状对电磁诱导阻力的大小也有影响，形状复杂的导体受到的电磁力较大，电磁诱导阻力也较大。
二、流体动力学阻力的机理1. 流体动力学基本原理流体动力学阻力是指物体在流体中运动时受到的阻碍力量。
根据流体动力学原理，当物体在流体中运动时，流体分子会围绕物体流动，与物体表面发生摩擦，产生阻力。
流体动力学阻力的大小与物体的形状、流体密度和运动速度等因素有关。
2. 流体动力学阻力的计算公式流体动力学阻力可以通过计算公式来估算。
最常用的流体动力学阻力计算公式是斯托克斯公式和伯努利方程。
斯托克斯公式适用于小物体在粘性流体中的运动，伯努利方程适用于大型物体在非粘性流体中的运动。
这些公式通过考虑物体形状、流体密度和速度等因素，计算出流体动力学阻力的大小。
三、诱导阻力的应用与意义1. 应用于交通工具设计诱导阻力是交通工具设计中不可忽视的因素。
通过合理设计车身形状和减小车辆表面积，可以减小空气对车辆运动的阻碍，提高车辆行驶的稳定性和燃油利用率。
2. 应用于电磁制动电磁诱导阻力也被应用于电磁制动系统中。
通过在运动物体附近产生磁场，利用电磁感应原理产生诱导阻力，可以实现对物体的减速和停止，提高制动效果和安全性。
脉冲当量计算公式
脉冲当量计算公式
脉冲当量是指一段特定时期内所产生的脉冲次数，它通常用于衡量一
段特定时期内放入电能所得到的(电)量性。
脉冲当量公式如下：
P（脉冲当量）= U（电压）× I（电流）× T（时间）
其中，P表示脉冲当量，U表示电压，I表示电流，T表示时间。
脉冲
当量是对电能矩形脉冲的特性分析得出的，其中U为脉冲输出的电压，I为脉冲输出的电流，T为脉冲发生的时间，T的单位由具体的技术要
求而定，通常采用微秒(μs)。
脉冲当量P在无脉冲电发电机机理经济学家矩形脉冲中表示一个脉冲
的能量，其由电压U乘以电流I乘以时间T组成，亦即：P＝UIT。
其
中P就是一个股票按市价交易在一段时间内购买的所有共有股票数量，即脉冲当量。
由此可见，脉冲当量是指一段特定时期内所产生的脉冲次数，它可以
换算为一段特定时期内放入电能所得到的（电）量性。
它与电压、电流、时间有关，其计算公式为：P＝UIT，其中P代表脉冲当量，U、I、T分别代表电压、电流和时间。
化学结构理论计算公式
化学结构理论计算公式化学结构理论计算是一种重要的理论方法，它可以用来预测分子的结构、性质和反应。
在化学研究中，理论计算可以帮助化学家理解分子的行为，并为实验设计提供指导。
本文将介绍一些常用的化学结构理论计算公式，并探讨它们在化学研究中的应用。
1. 分子轨道理论。
分子轨道理论是一种描述分子电子结构的理论方法。
它通过求解分子的薛定谔方程来得到分子的轨道能级和轨道波函数。
分子轨道理论的基本公式可以用哈密顿算符表示：HΨ = EΨ。
其中，H是分子的哈密顿算符，Ψ是分子的波函数，E是分子的能量。
通过求解这个方程，可以得到分子的轨道能级和轨道波函数，从而揭示分子的电子结构和性质。
分子轨道理论在化学研究中有着广泛的应用。
它可以用来解释分子的光谱性质、化学键的形成和断裂过程，以及分子的反应机理。
此外，分子轨道理论还可以用来设计新的分子材料，预测分子的性质和反应活性。
2. 密度泛函理论。
密度泛函理论是一种用来描述分子电子结构的理论方法。
它通过求解分子的电子密度来得到分子的能量和性质。
密度泛函理论的基本公式可以用密度泛函表示：E[ρ] = T[ρ] + V[ρ] + Eee[ρ] + Exc[ρ]其中，E[ρ]是分子的总能量，T[ρ]是分子的动能，V[ρ]是分子的外势能，Eee[ρ]是分子的电子-电子相互作用能，Exc[ρ]是分子的交换-相关能。
通过求解这个方程，可以得到分子的能量和电子密度，从而揭示分子的结构和性质。
密度泛函理论在化学研究中有着广泛的应用。
它可以用来预测分子的结构、光谱性质和反应活性，解释分子的化学键和反应机理，设计新的分子材料。
此外，密度泛函理论还可以用来模拟分子的动力学过程，预测分子的稳定性和反应速率。
3. 分子力场理论。
分子力场理论是一种用来描述分子结构和振动的理论方法。
它通过求解分子的势能函数来得到分子的力场和振动频率。
分子力场理论的基本公式可以用势能函数表示：V(r) = Σi<j Vi,j(r)。
流水动能计算公式
流水动能计算公式
在自然界“水往低处流”是一个亘古不变的现象。
从物理学角度考证，它在流动的过程中，包含了由势能转化为动能的机理。
即地面流水在重力作用下，由高处往低处流，最终汇入湖泊、海洋，达到势能最低的相对稳定状态。
在流动的进程中，不断地将势能转化成为动能，并形成各种地质作用(侵蚀、搬运、沉积)。
地面流水的动能可用下式表达：
XXX·XXX在1726年提出了“伯努利原理”。
这是在流体力学的连续介质理论方程建立之前，水力学所采用的基本原理，其实质是流体的机械能守恒。
即：动能+重力势能+压力势能=流水动能。
其最为著名的推论为：等高流动时，流速大，压力就小。
XXX原理往往被表述为p+1/2ρv2+ρgh=C，这个式子被称为XXX 方程。
式中p为流体中某点的压强，v为流体该点的流速，ρ为流体密度，g为重力加速度，h为该点所在高度，C是一个常量。
它也可以被表述为p1+1/2ρv12+ρgh1=p2+1/2ρv22+ρgh2。
需要注意的是，由于XXX方程是由机械能守恒推导出的，所以它仅适用于粘度可以忽略、不可被压缩的理想流体。
初中化学酸碱中pH值的计算与酸碱中和反应的机理
初中化学酸碱中pH值的计算与酸碱中和反应的机理pH值是描述溶液酸碱性强弱的指标。
在初中化学学习中，学生需要了解如何计算pH值，以及酸碱中和反应的机理。
本文将介绍初中化学中关于这两个方面的知识。
一、pH值的计算在初中化学中，学生学习了溶液中的氢离子浓度（[H+]）与pH值之间的关系。
计算pH值的公式为：pH = -log[H+]。
要计算pH值，首先需要测量溶液中的氢离子浓度。
1. pH计的使用pH计是一种常用的测量溶液酸碱性的工具。
它通过测量溶液中的氢离子浓度来计算pH值。
使用pH计时，首先需要将电极放入待测液体中，待pH计示数稳定后，即可读取pH值。
2. 指示剂的使用指示剂是一种根据酸碱性变化而改变颜色的物质。
它可以帮助我们判断溶液的酸碱性。
在初中化学实验中，酸碱滴定通常会使用指示剂来判断滴定终点。
常用的指示剂有酚酞、溴酚蓝等。
二、酸碱中和反应的机理酸碱中和反应是指酸与碱反应生成盐和水的化学反应。
在初中化学中，学生需要了解酸碱中和反应的基本机理。
1. 酸和碱的特性酸是指能够释放氢离子（H+）的物质，碱是指能够释放氢氧根离子（OH-）的物质。
酸的特性包括酸味、导电性和酸性物质与金属反应产生氢气等。
碱的特性包括苦味、导电性和与酸发生中和反应等。
2. 酸碱中和反应的机理酸碱中和反应是通过酸中的氢离子与碱中的氢氧根离子结合生成水和盐来实现中和的过程。
反应的化学方程式通常表现为：酸 + 碱→ 盐+ 水。
其中，酸中的氢离子和碱中的氢氧根离子组成了水分子，形成的盐则是由酸和碱中相应的阳离子和阴离子组成。
举例来说，当盐酸（HCl）与氢氧化钠（NaOH）反应时，氢离子与氢氧根离子结合生成水，盐酸的氯离子与氢氧化钠的钠离子组成盐。
反应的化学方程式为：HCl + NaOH → NaCl + H2O。
3. 酸碱中和反应的应用酸碱中和反应具有广泛的应用。
例如，胃酸过多会引起胃痛和消化不良，可以通过服用抗酸药物（如氢氧化镁）来中和胃酸；另外，若污水中含有过量的酸性物质，可以通过添加碱性物质（如氢氧化钠）来中和污水，以保护环境等。
化学反应动力学的基本原理和计算方法
化学反应动力学的基本原理和计算方法化学反应动力学是研究反应速率和反应机理的一个分支学科，对于化学反应的研究和应用具有重要意义。
本文将围绕化学反应动力学的基本原理和计算方法展开探讨。
一、反应速率常数反应速率常数是化学反应动力学的一个重要参数，是描述反应速率的数量指标。
在众多化学反应中，反应速率一般是反应物浓度的某个函数，简单化学反应可以表示为：A +B → C反应速率可以通过反应物A和B的浓度来表示：速率= k·[A]·[B]，其中k就是反应速率常数。
反应速率常数受到温度等因素的影响，其中最重要的是温度。
一般情况下，反应速率常数会随着温度的升高而增加，符合阿累尼乌斯方程：ln k2/k1 = Ea/R(1/T1-1/T2)，其中k1和k2分别表示温度下的反应速率常数，Ea是反应活化能，R是气体常数，T1和T2分别是两个温度。
二、反应级数反应级数是指反应物对于反应速率的影响程度，可以通过实验数据来确定。
对于多元反应，反应级数可以通过推导反应速率常数的表达式来确定。
下面举一个例子：2 NO + Cl2 → 2 NOCl通过实验数据可以确定，反应速率与[NO]和[Cl2]的浓度之积有关，因此速率表达式可以写成：速率 = k·[NO]²[Cl2]。
可以看出，这是一个三级反应，NO和Cl2的浓度的平方的乘积为3级。
该反应也可以用降解增加法求解，可以求得反应分子为4。
三、反应机理化学反应机理是指化学反应的分子层面的过程描述，可以通过实验数据来确定。
通常情况下，通过测量不同反应物浓度下的反应速率，来确定反应机理。
对于复杂反应，可以通过推导反应机理的分子层面过程来分析。
例如，对于二元反应，可以通过分步反应分析来推导反应机理。
分步反应分析方法主要是通过推算反应的每一个步骤，并确定每一个步骤的速率表达式来确定反应机理。
四、计算方法对于反应速率常数的计算，通常是在实验室中进行测量和计算。
电路原理公式
电路原理公式
电路原理公式（不包括标题）：
1. 电流计算公式：I = V / R，其中I表示电流，V表示电压，R 表示电阻。
2. 电阻计算公式：R = V / I，其中R表示电阻，V表示电压，I 表示电流。
3. 电压计算公式：V = I * R，其中V表示电压，I表示电流，R表示电阻。
4. 电功率计算公式：P = V * I，其中P表示电功率，V表示电压，I表示电流。
5. 并联电阻计算公式：1/R总 = 1/R1 + 1/R2 + 1/R3 + ...，其中R总表示并联电阻，R1、R2、R3等表示各个并联电阻。
6. 串联电阻计算公式：R总 = R1 + R2 + R3 + ...，其中R总表示串联电阻，R1、R2、R3等表示各个串联电阻。
7. 电容器充放电时间公式：t = RC，其中t表示时间，R表示电阻，C表示电容。
8. 电感器充放电时间公式：t = L / R，其中t表示时间，L表示电感，R表示电阻。
9. 电路功率公式：P = VI cosθ，其中P表示功率，V表示电压，I表示电流，θ表示电路相位差。
10. 焦耳定律（电能守恒定律）公式：ΔE = PΔt，其中ΔE表示电能的变化，P表示功率，Δt表示时间。
以上公式只是电路原理中的一部分，希望对你有帮助。
空气动力简答题
一、简述飞机升力产生的机理及升力的计算公式和物理意义答：气流以一定的正迎角流经机翼，机翼上便面流管变细，气流速度增大，压力下降;机翼下表面流管变粗，气流速度减小，压力升高。
机翼上表面负压，下表面正压，机翼总气动力在竖直方向的分量形成升力，在水平方向的分量形成阻力。
升力计算公式：L = CL﹒1/2ρV^2﹒S其中: CL—升力系数1/2ρV^2—飞机的飞行压力S—机翼的面积二、说明气体的伯努利方程的物理意义和使用条件？答：P+1/2ρV^2 = P0 =常数方程的物理意义:空气在低速一维定常流中，同一流管的各个截面上，静压与动压之和（总压）相等。
在同一流管中，流速快的地方，压力小；流速慢的地方压力大。
方程使用条件：1. 气流式连续的，稳定的气流（定常流）2. 没有粘性（理想气体）3. 空气的密度变化可以忽略不计（不可压流）三、简述升力系数曲线，阻力系数曲线，升阻比曲线的意义。
1. 升力系数曲线：升力系数和迎角之间的关系曲线阻力系数曲线：阻力系数和迎角之间的关系曲线随着迎角的增加，升力系数和阻力系数都增加，在一定迎角范围内，升力系数呈线性增大，而阻力系数按抛物线的规律增大。
阻力系数在小迎角范围内增加较慢，随后增大速度加快，比升力系数增大的速度更快。
在升力系数达到最大值之后，升力曲线由上升转为下降，升力系数开始减小，而阻力系数增加得更快。
2. 升阻比曲线：升阻比随迎角的变化曲线当升力系数等于0时，升阻比也等于0，升阻比随迎角的增大而增大。
由负值增大到0再增大到最大值，然后，随着迎角的增加而逐渐减少。
四、简述高速飞机的气动外形的特点。
1. 采用薄翼型：翼型的相对的厚度越小，上翼面的气流加速就越缓慢，速度增量就越小，可以有效地提高的临界马赫数和飞机的最大平飞速度。
2. 后掠机翼：可以提高飞机临界马赫数，并可以减小波阻。
3. 小翼弦比的机翼：提高飞机的临界马赫数，减少诱导阻力。
4. 涡流发生器和翼刀：①涡流发生器：防止或减弱激波诱导的附面层分离，推迟波阻的急剧增加和减缓波阻增加得趋势，改善飞机的跨音速空气动力特性。
反应机理计算
反应机理计算
反应机理计算是指根据化学反应过程中离子、分子、反应物和生成物之间的化学键和能量变化，推导出反应机理的过程。
具体地说，反应机理计算分为以下几个步骤：
1. 确定反应物和生成物：首先需要确定化学反应的反应物和生成物，可以根据反应条件和反应方程式来确定。
2. 确定反应物的电子结构：反应物的电子结构是指包括化学键、非共价键和孤对电子在内的反应物分子的所有电子状态。
可以通过分子轨道理论或者密度泛函理论等计算手段，对反应物的电子结构进行计算与分析。
3. 找到反应物之间可能发生的反应路径：根据反应物的电子结构，可以找到反应物之间可能发生的反应路径。
这些反应路径可以通过过渡态、活化能和反应物与生成物的自由能差来描述。
4. 确定反应物之间的反应机理：根据反应路径，可以推导出反应物之间的反应机理。
反应路径越少，反应机理越简单，反之，反应机理越复杂。
5. 验证反应机理的正确性：最后要对反应机理进行验证，包括计算反应物吸附能、离子解离能、电子亲和能、反应物间的距离等参数的计算，以及与实验数据的比较等。
通过反应机理计算，可以深入了解反应的过程和机理，在材料科学、工业制造等领域具有广泛应用。
oled irc计算公式
oled irc计算公式OLED IRC计算公式一、引言OLED（Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管）是一种新型显示技术，其具有自发光、高对比度、快速响应等特点，被广泛应用于各类电子设备中。
其中，IRC（Internal Quantum Efficiency）是评估OLED显示器亮度效率的重要指标。
本文将介绍OLED IRC计算公式的原理和应用。
二、OLED IRC计算公式的原理OLED IRC计算公式是用来评估OLED显示器内部量子效率的一种数学模型。
它基于OLED发光机理和光电转换原理，将输入的电流转化为发光亮度。
公式的具体形式如下：IRC = IEL / (ηE × ηP × ηT)其中，IRC代表OLED的内部量子效率；IEL表示发光电流；ηE是电荷注入效率；ηP是电子与空穴再组合的效率；ηT是光子辐射转换的效率。
三、OLED IRC计算公式的应用1. 优化OLED亮度效率通过使用OLED IRC计算公式，可以对OLED显示器的内部量子效率进行评估和优化。
通过提高电荷注入效率、电子与空穴再组合的效率以及光子辐射转换的效率，可以增加OLED显示器的亮度，提高显示效果。
2. 设计高效能OLED显示器利用OLED IRC计算公式，可以指导OLED显示器的设计过程。
通过调整电流输入、优化材料选择和结构设计，可以提高OLED的内部量子效率，从而设计出更加高效能的OLED显示器。
3. 评估OLED显示器性能OLED IRC计算公式还可以作为评估OLED显示器性能的指标之一。
通过实际测量发光电流和亮度，可以计算出OLED的内部量子效率，从而评估其性能是否达到预期要求。
四、OLED IRC计算公式的局限性尽管OLED IRC计算公式在评估OLED显示器亮度效率方面具有一定的优势，但仍存在一些局限性。
首先，公式中涉及的参数需要通过实验或模拟方法获取，对于不同的OLED材料和结构，参数的确定可能存在一定的误差。
机理计算公式
贮存失效机理模型研究贮存失效机理模型贮存失效机理模型贮存寿命模型分析 单应力模型（1）阿伦尼斯模型19世纪阿伦尼斯研究了温度应力激发类化学过程，在大量数据的基础上提出了阿伦尼斯加速模型。
该模型适用于加速应力为单一温度应力的产品，导弹在贮存期内遭受的最主要的应力是温度应力，所以阿伦尼斯模型在电子产品的加速贮存寿命试验中得到了广泛的应用。
如在美军导弹研究和发展报告《小型/中型数字和无偏集成电路分析》（ADA053415）中运用阿伦尼斯模型来估计非工作状态下的集成电路的寿命。
阿伦尼斯模型的形式如下：*aE kTL t C e（4-1）L t 为产品贮存寿命；a E 为激活能；T为温度应力（单位：开尔文）； k为波耳兹曼常数；C 为常数。
阿伦尼斯模型是基于激活能的模型，激活能是一个量子物理学概念，表征了在微观上启动某种粒子间的重新结合或重组所需要克服的能量障碍，所以阿伦尼斯模型的物理基础是化学反应速率，因此，它主要用来描述电子产品中非机械（非材料疲劳）的、取决于化学反应、腐蚀、物质扩散或迁移等过程的失效机理。
（2）艾林模型Eyring 于1935年提出了艾林模型。
单应力的艾林模型是根据量子力学原理推导出的，它表示某些产品的寿命特性是绝对温度的函数。
当绝对温度在较小范围内变化时，单应力艾林模型近似于阿伦尼斯模型，在很多应用场合可以用这两个模型去拟合数据，根据拟合好坏来决定选用哪一个加速模型。
所以，艾林模型也常常用于电子产品的加速贮存寿命试验。
Glasstene 、Laidler 、Eyring 在1941年提出一个加速模型，该模型被称为广义艾林模型，该模型适用于产品同时遭受温度应力与另一其他环境应力的情况，但需要假设温度应力与另一环境应力互不干涉。
导弹在贮存期内的运输、装卸和定期检测等环境情况下，弹上产品会同时遭受温度和其他应力，此时就可以使用广义艾林模型。
单应力艾林模型的形式如下：*aE kTL t CT eα= （4-2）L t 为产品贮存寿命；a E 为激活能；T为温度应力（单位：开尔文）； k为波耳兹曼常数； C α、为常数。
反应速率常数k的计算公式
反应速率常数k的计算公式在化学世界里，反应速率常数 k 可是个相当重要的家伙。
它就像化学反应中的“秘密密码”，能告诉我们反应进行的快慢程度。
咱们先来说说反应速率常数 k 的定义。
简单来讲，它反映了在给定条件下，反应物转化为生成物的速度。
那它的计算公式是咋来的呢？这就得从化学反应的机理说起啦。
比如说，有个简单的化学反应A + B → C 。
假设这个反应是一级反应，也就是说反应速率只和一种反应物的浓度有关。
那反应速率 v 就可以表示为 v = k[A] 。
这里的 [A] 表示反应物 A 的浓度。
如果是二级反应，像2A → B ，反应速率 v 就变成了 v = k[A]²。
这就好比我们跑步，速度的快慢取决于很多因素，比如体力、路况。
而反应速率的快慢就取决于反应物的浓度、温度、催化剂这些“条件”。
我记得有一次在实验室里，我们做一个关于化学反应速率的实验。
那是一个阳光明媚的上午，实验室里弥漫着各种化学试剂的味道。
我们小组要研究的是过氧化氢在二氧化锰催化下分解产生氧气的反应。
我们小心翼翼地量取一定体积和浓度的过氧化氢溶液，加入少量的二氧化锰粉末，然后通过排水法收集产生的氧气，并记录不同时间收集到的氧气体积。
一开始，反应进行得很快，产生的气泡咕噜咕噜地往上冒，就像一群欢快的小鱼在水中嬉戏。
随着时间的推移，气泡产生的速度逐渐变慢。
通过测量和计算，我们尝试着用不同的公式去拟合实验数据，最终得出了这个反应的速率常数 k 。
在这个过程中，我深刻地体会到了反应速率常数 k 的重要性。
它不是一个抽象的数字，而是实实在在能够描述反应快慢的指标。
回到反应速率常数 k 的计算公式，不同的反应级数，计算公式会有所不同。
但总的来说，都是通过实验数据的测量和分析，再结合数学方法推导出来的。
对于复杂的反应，可能还需要考虑多个步骤和中间产物，这时候计算反应速率常数k 就更加复杂啦，需要运用更高级的化学动力学知识。
总之，反应速率常数 k 的计算公式是化学动力学中的重要内容，它帮助我们理解和预测化学反应的进程，就像给化学反应装上了一个“速度表”。
脱硫分析计算公式
经济性分析计算公式
1、基本概念
（1）煤中硫的氧化反应机理：S + O2=SO2
（2）二氧化硫排放量： D1=B×S×
其中：
D1……SO2产生量（kg/h）
S……燃煤全硫份含量（%）
B……耗煤量（kg/h）
……可燃硫转化二氧化硫的转换系数。
2、脱硫效率
以耗煤量15t/h、烟气量100000Nm3/h、燃煤全硫份含量为%计算：
脱硫前二氧化硫排放量=
D1=B×S× =15t/h×%×=153kg/h
标准状况下的烟气量为100000Nm3/h（压强近似为标准大气压），则转换成工况烟气量为：
（200℃+273K）×100000Nm3/h/273K=173260m3/h
脱硫前每立方米烟气中的二氧化硫含量=
153kg/h×106÷173260m3/h=m3
满足脱硫后SO2排放浓度≤300 mg/m3要求，则最低脱硫效率
η= 1-（ 300/）=67%
3、计算氨消耗量（费用）
计算依据
NH3·H2O +SO2→N H4H SO3
根据SO2原始排放量为153kg/h，脱硫效率67%计算得每小时消耗纯氨（100%浓度）h。
折合浓度为5%氨水
a、需5%浓度的氨水÷5%=544kg/h
b、需加水=h
c、折合成20%浓度的氨水质量136kg。
配成5%浓度加水408 kg(每小时流量)
d、按市场价20%浓度氨水元/吨、自来水元/吨计算：
（1）*136*10-3=元/h
（2）*408*10-3=元/h。
机理计算公式讲解学习
贮存失效机理模型研究1.1 贮存失效机理模型贮存失效机理模型4.2 贮存寿命模型分析 4.2.1 单应力模型（1）阿伦尼斯模型19世纪阿伦尼斯研究了温度应力激发类化学过程，在大量数据的基础上提出了阿伦尼斯加速模型。
该模型适用于加速应力为单一温度应力的产品，导弹在贮存期内遭受的最主要的应力是温度应力，所以阿伦尼斯模型在电子产品的加速贮存寿命试验中得到了广泛的应用。
如在美军导弹研究和发展报告《小型/中型数字和无偏集成电路分析》（ADA053415）中运用阿伦尼斯模型来估计非工作状态下的集成电路的寿命。
阿伦尼斯模型的形式如下：*aE kTL t C e（4-1）L t 为产品贮存寿命；a E 为激活能；T为温度应力（单位：开尔文）； k为波耳兹曼常数；C 为常数。
阿伦尼斯模型是基于激活能的模型，激活能是一个量子物理学概念，表征了在微观上启动某种粒子间的重新结合或重组所需要克服的能量障碍，所以阿伦尼斯模型的物理基础是化学反应速率，因此，它主要用来描述电子产品中非机械（非材料疲劳）的、取决于化学反应、腐蚀、物质扩散或迁移等过程的失效机理。
（2）艾林模型Eyring 于1935年提出了艾林模型。
单应力的艾林模型是根据量子力学原理推导出的，它表示某些产品的寿命特性是绝对温度的函数。
当绝对温度在较小范围内变化时，单应力艾林模型近似于阿伦尼斯模型，在很多应用场合可以用这两个模型去拟合数据，根据拟合好坏来决定选用哪一个加速模型。
所以，艾林模型也常常用于电子产品的加速贮存寿命试验。
Glasstene 、Laidler 、Eyring 在1941年提出一个加速模型，该模型被称为广义艾林模型，该模型适用于产品同时遭受温度应力与另一其他环境应力的情况，但需要假设温度应力与另一环境应力互不干涉。
导弹在贮存期内的运输、装卸和定期检测等环境情况下，弹上产品会同时遭受温度和其他应力，此时就可以使用广义艾林模型。
单应力艾林模型的形式如下：*aE kTL t CT eα= （4-2）L t 为产品贮存寿命；a E 为激活能；T为温度应力（单位：开尔文）； k为波耳兹曼常数； C α、为常数。
化学反应的反应速率和反应机理
化学反应的反应速率和反应机理化学反应是物质发生变化的过程，其中的一个重要特征就是反应速率。
反应速率指的是反应物转化为生成物的速度，在化学反应中起着重要的作用。
同时，反应速率也取决于反应的机理，即反应路径和步骤。
本文将探讨化学反应的反应速率和反应机理的相关内容。
一、反应速率反应速率描述的是反应物浓度变化随时间变化的快慢程度。
通常用以下公式来计算反应速率：反应速率 = (反应物的浓度变化量) / (反应时间)例如，对于简单的一级反应A → 产物，反应速率可以表示为：反应速率 = -(Δ[A]) /Δt其中，Δ[A]表示反应物A的浓度变化量，Δt表示反应时间的变化量。
反应速率通常用mol/(L·s)或M/s来表示。
反应速率与反应物浓度的关系可以通过速率方程来描述。
速率方程表明了反应速率与反应物浓度之间的关系。
例如，对于简单的一级反应，速率方程可以写为：速率 = k[A]其中，k为速率常数，[A]为反应物A的浓度。
二、影响反应速率的因素反应速率受多种因素的影响，包括温度、浓度、催化剂和表面积等。
这些因素对反应速率的影响可以通过反应速率方程来描述。
1. 温度：温度的升高会导致反应物分子的平均动能增加，分子的碰撞频率和能量也相应增加，从而加快反应速率。
根据阿伦尼乌斯方程，反应速率与温度之间呈指数关系：速率 = A·e^(-Ea/RT)其中，A为指前因子，Ea为活化能，R为气体常数，T为温度。
可以看出，温度对反应速率具有显著影响。
2. 浓度：反应物浓度的增加会增加反应物分子之间的碰撞频率，从而提高反应速率。
对于简单的一级反应，反应速率与反应物浓度呈线性关系。
3. 催化剂：催化剂是一种可以加速化学反应的物质，它通过降低反应活化能来促进反应速率。
催化剂不参与反应本身，因此在反应结束后可重新利用。
4. 表面积：反应物的表面积增大时，反应速率也会增加。
这是因为反应物分子在表面上的接触面积增大，提高了碰撞频率。
化学反应机理和反应速率的计算
化学反应机理和反应速率的计算化学反应是指化学物质间的相互作用过程，其中原子、分子或离子间的键被断裂或者生成新的键。
化学反应过程通常包含两个方面，一是化学物质间的作用和变化，二是反应的速率。
本文介绍了化学反应机理和反应速率的计算方法。
一、化学反应机理化学反应的机理是指一系列原子、分子或离子间的反应步骤，这些步骤以及相应的中间体、转化物和反应生成物的生成与消失关系共同构成了反应的机理。
例如，下面的化学反应式：2NO + O2 →2NO2在该反应中，中间体NO3的生成和消失可以分别由以下反应式描述：NO + O2 →NO3NO3 + NO → 2NO2化学反应的机理研究对于了解反应动力学行为及分子结构解析具有重要意义。
二、反应速率化学反应的速率指反应物转化成反应生成物的速度。
而反应速率的大小有很多因素的影响，包括摩尔浓度、温度和催化剂等。
在反应达到动态平衡状态下，反应速率等于反应生成物被消耗的速率。
反应速率是一个关于反应物摩尔浓度的函数。
温度的变化可以对反应速率造成很大的影响，如果反应温度升高，则反应速率会增加；如果温度降低，则反应速率会降低。
三、反应速率的计算反应速率的计算就是要确定一个化学反应的摩尔数随时间的变化关系，从而得到反应速率。
主要有以下方法：1、初始速率法：在化学反应开始时，如何确定反应速率？这就需要使用初始速率法。
当化学反应开始时，反应物的浓度随时间的变化极小，因此反应速率可以近似认为是随时间线性增加的。
可以通过初始时的浓度差异来计算反应速率。
2、积分法：可以先将反应物及生成物的摩尔数差分方程转化为只含一个变量的常微分方程，进而加以解决。
这是通过积分的方法来计算反应速率。
3、动力学法：动力学是研究化学反应速率与反应物浓度关系的科学。
通常采用浓度变化或发光法来测定反应速率，其数学表达式是由速率常数和反应物浓度组成的。
总之，化学反应机理和反应速率的计算方法可以有多种选择，主要取决于具体的研究和应用目的。
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贮存失效机理模型研究1.1 贮存失效机理模型贮存失效机理模型4.2 贮存寿命模型分析 4.2.1 单应力模型（1）阿伦尼斯模型19世纪阿伦尼斯研究了温度应力激发类化学过程，在大量数据的基础上提出了阿伦尼斯加速模型。
该模型适用于加速应力为单一温度应力的产品，导弹在贮存期内遭受的最主要的应力是温度应力，所以阿伦尼斯模型在电子产品的加速贮存寿命试验中得到了广泛的应用。
如在美军导弹研究和发展报告《小型/中型数字和无偏集成电路分析》（ADA053415）中运用阿伦尼斯模型来估计非工作状态下的集成电路的寿命。
阿伦尼斯模型的形式如下：（4-1）为产品贮存寿命；为激活能；为温度应力（单位：开尔文）； 为波耳兹曼常数；为常数。
阿伦尼斯模型是基于激活能的模型，激活能是一个量子物理学概念，表征了在微观上启动某种粒子间的重新结合或重组所需要克服的能量障碍，所以阿伦尼斯模型的物理基础是化学反应速率，因此，它主要用来描述电子产品中非机械（非材料疲劳）的、取决于化学反应、腐蚀、物质扩散或迁移等过程的失效机理。
（2）艾林模型Eyring 于1935年提出了艾林模型。
单应力的艾林模型是根据量子力学原理推导出的，它表示某些产品的寿命特性是绝对温度的函数。
当绝对温度在较小范*aE kTL t C eL t a E TkC围内变化时，单应力艾林模型近似于阿伦尼斯模型，在很多应用场合可以用这两个模型去拟合数据，根据拟合好坏来决定选用哪一个加速模型。
所以，艾林模型也常常用于电子产品的加速贮存寿命试验。
Glasstene 、Laidler 、Eyring 在1941年提出一个加速模型，该模型被称为广义艾林模型，该模型适用于产品同时遭受温度应力与另一其他环境应力的情况，但需要假设温度应力与另一环境应力互不干涉。
导弹在贮存期内的运输、装卸和定期检测等环境情况下，弹上产品会同时遭受温度和其他应力，此时就可以使用广义艾林模型。
单应力艾林模型的形式如下：（4-2）为产品贮存寿命；为激活能；为温度应力（单位：开尔文）； 为波耳兹曼常数；为常数。
广义艾林模型的模型形式如下：（4-3）为产品贮存寿命；为激活能；为温度应力（单位：开尔文）；为除温度应力外的其他应力；为波耳兹曼常数；为常数。
不管是单应力艾林模型还是广义艾林模型，它们都与阿伦尼斯模型一样是基于激活能的模型，同样，它们主要用来描述电子产品中非机械（非材料疲劳）的、取决于化学反应、腐蚀、物质扩散或迁移等过程的失效机理。
*aE kTL t CT eα=L t a E TkC α、*ai i i iE A B S kTT L t CT eα⎛⎫++ ⎪⎝⎭∑=L t a E Ti S kC α、但是它们与阿伦尼斯模型的主要不同点反应在两个方面：1、阿伦尼斯模型是一个基于实验结果的经验公式，而艾林模型则是一个基于化学和量子力学的理论结果；2、阿伦尼斯模型只描述了失效与温度之间的关系，而艾林模型则认为失效与其他类型应力间的关系也可以在模型中通过类似的数学形式给出。
（3）逆幂率模型该模型描述了电压或压力等应力和产品寿命的关系，模型形式如下：（4-4）为产品贮存寿命；为电压或压力应力；为常数。
逆幂率模型适用于电应力及机械应力等单一应力，在导弹贮存中，许多产品都要经历运输、装卸、定期检测。
这些任务阶段产品会遭受电应力或机械应力，此时可以考虑使用逆幂率模型。
建议在可能由电应力或机械应力引发的失效上使用该模型。
（4）Coffin-Manson 模型Coffin-Manson （CM ）模型描述的是温度循环与产品寿命的关系，成功应用于焊料的裂纹生长失效机理上，模型形式如下：（4-5）为产品贮存寿命；为最高温度应力的阿伦尼斯激活能；为最高温度与最低温度之间的温差（单位：开尔文）；为循环频率（单位：赫兹）为常数。
CM 模型用于由热疲劳引起的材料疲劳、变形及裂缝等失效机理，建议使用于焊料及金属材料的器件。
()1nL V KV =()L V VK ()max f N Af T G T αβ--=∆f N ()max G T T∆fA αβ、、1.2.2 多应力模型（1）温度-湿度模型在实际的电子产品的贮存寿命问题中，影响非密封器件，即塑封器件贮存寿命的一个重要因素就是环境湿度，环境中得水分可以透过塑封材料造成芯片的腐蚀和失效。
但是单应力模型均无法给出环境湿度影响器件贮存寿命的具体表达形式。
➢ Peck 模型20世纪70年代，研究人员开始在阿伦尼斯模型的基础上通过引入湿度来构建新的寿命模型，Peck 模型是稳态条件下的温湿度模型。
Peck 汇总了众多稳态实验的结果，并以85℃/85%RH 的结果为基准进行了比较和分析，在1986年给出如下形式塑封器件的寿命表达式：（4-6）为产品贮存寿命；为激活能；为温度应力（单位：开尔文）；为相对湿度（单位：%RH ）为波耳兹曼常数；为常数，为大于0的无单位常数。
Peck 模型适用于由温度、湿度两种应力引起的产品失效。
建议使用在失效由温度、湿度两种应力引发的非密封性电子或机电器件。
➢ Shirley 模型这一模型重点是在Peck 模型的基础上，考虑了器件在实际的工作过程中电源经常开启和关断对于空气中的水分进出塑封器件过程的非稳态影响。
模型形式如下：（4-7） 各参数含义详见《THB Reliability Models And Life Prediction For Intermittently-powered Non-hermetic Components 》*aE nkTL t C He-=L t a E TH kC n ()()()*{}exp()()m sat a asat j iP T QAF steady state a bV H P T kT --=+该模型适用于在定期检测或战备值班阶段经常需要电源开启和关断的非密封器件，且器件失效由温度与湿度两种应力共同作用引起。
（2）温度-电应力模型在导弹贮存期内要经历定期检测、战备值班等，部分器件需要同时遭遇温度与电应力两种应力。
如产品失效由这两种应力引起可选用温度-电应力模型。
由温度和电应力共同引起的失效机理主要有两种，一种是电迁移；一种是电介质击穿。
在电流流过金属线时，金属离子会在电流及其他因素的相互作用下移动并在金属层内形成孔隙或裂纹，这种失效机理被称为电迁移。
电介质击穿是指在电场作用下，电介质丧失绝缘能力的现象。
电场强弱对电介质击穿的影响很大，使用的失效物理模型也不一致。
➢电迁移模型电迁移是由于金属离子的扩散所引起的，这种扩散有三种基本的形式，即表面扩散、晶格扩散、晶界扩散。
不同的金属材料所涉及的扩散形式可能不同，例如，凸点中的扩散主要是晶格扩散；Al 互连线的扩散主要是晶界扩散；而Cu 互连线的扩散主要是表面扩散等。
影响电迁移的因素主要可以归纳为如下的三类：1、导致扩散的外力。
这些外力包括了由电子与金属离子动量交换和外电场产生的综合力、非平衡态离子浓度产生的扩散力、由纵向压力梯度产生的机械应力以及温度梯度产生的热应力。
这些应力的存在会导致金属的离子流密度不连续从而产生电迁移。
2、几何因素。
转角、台阶、接触孔的存在都会加大局部的应力梯度从而加速电迁移现象的发生。
此外，当线宽变得可以和晶粒大小相比拟甚至更小时，晶界扩散会减少且向晶格扩散和表面扩散转化。
3、金属材料本身。
通常合金可有效地抑制电迁移，正如前面所提到的那样，掺一点铜能大大提高铝金属层的寿命，加入少量硅也可提高可靠性，因为铜原子沿晶粒界面的吸收使可扩散的部位减少。
电迁移失效物理模型建立了元器件的电迁移与流过金属的电流密度以及金属的几何尺寸、材料性能和温度分布的关系。
流过金属的电流可以是直流或交流，交流条件下的电迁移研究是建立在直流物理模型基础上的，通常采用平均电流密度并对电迁移寿命作近似评估。
● 直流模型直流条件下的，电迁移失效物理模型如下式：（4-8） 为产品的平均故障前时间；为激活能；为温度； 为电流密度；为金属的几何尺寸参数；为波耳兹曼常数；为常数，低电流情况下，高电流情况下。
电子、机电、光电设备发生失效，如失效原因是由于战备值班或定期检测时，直流电应力引起的电迁移失效机理，建议使用该模型。
● 交流模型在交流条件下，大致说来电迁移失效寿命比直流条件下都要长，对这一现象的物理解释为：在正半周期内产生的离子流扩散在负半周期内发生了部分回扩散，根据这一解释，在交流条件下的电迁移可以认为是一种平均电流密度的结果，交流情况下的电迁移失效物理模型如下式：，其中 （4-9） 为产品的平均故障前时间；为激活能；为温度； 为电流密度；为金属的几何尺寸参数；为波耳兹曼常数；为常数，为通电时间。
aEm kTnwdT MTTF e Cj=MTTFa E Tjw d、k C m=n=1m=n=3aEm kT nwdT MTTF e Cj =01()j j t dt ττ=⎰MTTFa E Tjw d、k C τ电子、机电、光电设备发生失效，如失效原因是由于战备值班或定期检测时，交流电应力引起的电迁移失效机理，建议使用该模型。
➢ 介质击穿模型 ● E 模型E 模型是一种随时间退化的电介质击穿模型，建立在偶极子与电场作用基础上的，认为氧化层的退化与击穿实际上是电场作用的结果，由缺陷的产生和积累决定。
其方程形式如下：（4-10） 为产品贮存寿命；为激活能；为温度；为波耳兹曼常数；为电场加速因子；为常数。
电子、机电、光电设备发生失效，如失效原因是由于战备值班或定期检测时，电应力引起的介质击穿失效机理，建议使用该模型。
特别是在低电场范围内该模型更为适用。
● 1/E 模型1/E 模型是一种随时间退化的电介质击穿模型，是建立在电子隧穿注入基础上的，认为氧化层击穿是由空间电荷积累造成的，并认为击穿所需的总俘获空穴电荷量一定，其方程形式如下：（4-11）为产品贮存寿命；为激活能；为温度；为波耳兹曼常数；1ln()ox Q TF E kTγ∝-TF1Q Tk ox E γ2ln()(1/)ox Q TF G E kT∝-TF2Q Tk为电场加速因子。
电子、机电、光电设备发生失效，如失效原因是由于战备值班或定期检测时，电应力引起的介质击穿失效机理，建议使用该模型。
特别是在高电场范围内该模型更为适用。
（3）温度-振动模型1991年Donald B. Barker 等人经过对印制电路板焊点的研究，提出了温度与振动应力共同加载时对产品寿命影响的加速模型，其公式描述如下：（4-12）为产品贮存寿命；如果芯片载体使用无铅焊料，反之；为疲劳延性系数；为焊点高度；为等价温度范围； 为器件焊点间最大距离；为部件和衬底间TCE 绝对误差。
电子、机电、光电设备发生失效，如失效原因是由于运输或装卸时，振动及温度应力引起的焊点疲劳或脱落等失效机理，建议使用该模型。