原子力显微镜操作规程及注意事项
原子力显微镜操作指南说明书
原子力显微镜操作指南说明书一、引言原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种常用的纳米级表面形貌分析仪器，可以帮助研究人员观察和测量材料表面的原子尺度形貌和力学性质。
本操作指南旨在为用户提供一份详细的操作说明，以确保正确高效地使用原子力显微镜。
二、仪器准备1. 确保原子力显微镜在使用前已经安装并固定好，且所需元器件已经连接好。
2. 将显微镜放置在平稳的工作台上，并使用水平仪进行调平。
3. 确保显微镜及其附件的电源已连接，并确保电源的稳定供应。
三、样品制备1. 选择适当的样品进行测试，并确保样品表面光洁、干净。
2. 若样品表面有杂质或污染物，可使用丙酮或乙醇等有机溶剂进行清洗，并在清洗后使用氮气吹干样品。
3. 使用相应工具将样品固定在样品台上，并确保样品尽量水平。
四、仪器校准1. 打开计算机，启动原子力显微镜控制软件。
2. 点击校准选项，进行谐振频率的校准，校准完成后点击保存。
3. 在校准选项中，进行扫描范围的设定和校正，确保扫描范围符合实际需求。
4. 根据实际需求选择扫描速率，并进行相应的校准。
五、观察模式选择1. 根据实验目的和样品类型，选择适当的观察模式，如接触式、非接触式或是磁力场模式等。
2. 在控制软件中进行相应模式的选择和设定，并进行相关参数的校准。
六、样品加载1. 将样品台上的样品放置在显微镜的扫描区域内，并确保样品与扫描探针之间有适当的距离。
2. 使用显微镜控制软件调整样品位置，使样品处于扫描范围的中心位置。
七、扫描设置1. 在控制软件中进行扫描参数的设定，如扫描速度、扫描区域和像素等。
2. 根据实际需要进行微调，以获得更清晰、准确的扫描图像。
八、开始扫描1. 点击显微镜控制软件中的开始扫描按钮，观察并记录扫描过程中的图像。
2. 如果需要连续扫描多个区域，可设定好相应参数后连续进行扫描。
九、数据处理1. 扫描完成后，将数据从控制软件中导出，并进行必要的数据处理和分析。
原子力显微镜的使用与维护
原子力显微镜的使用与维护简介：原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种使用原子力来测量物体表面形态和力的高分辨率显微镜。
它的应用涉及到许多领域，如材料科学、纳米技术和生物医学等。
在本文中，我们将着重介绍原子力显微镜的使用和维护。
一、原子力显微镜的使用1. 样品准备在使用原子力显微镜之前，首先需要准备样品。
样品表面应该光洁、干净，并且符合实验要求。
对于生物医学领域的样品，还需要进行特殊的处理，以保持样品的生物活性。
2. 定位与扫描将样品放置在显微镜的扫描台上，并使用显微镜的定位功能找到感兴趣的区域。
然后，设置扫描参数，例如扫描速度和扫描距离，以便获取高质量的扫描图像。
3. 图像获取与分析通过控制扫描的针尖来测量样品表面的拓扑特征。
原子力显微镜使用一个非接触的探针来扫描样品表面，通过测量探针与样品之间的相互作用力，可以获得样品表面的形态信息。
收集到的数据可以通过图像处理软件进行图像修复和分析，以获得更详细的信息。
二、原子力显微镜的维护1. 保持清洁保持原子力显微镜的干净是保持其正常运行的关键。
使用前要注意清洁装置的内部和外部部件，尤其是探针和扫描台。
定期清洁探针和扫描台以去除灰尘或其他杂质，并确保使用清洁的溶剂和工具进行清洁。
2. 定期校准定期校准原子力显微镜是确保其准确性和稳定性的重要步骤。
校准包括校准扫描台的运动和探针的敏感度。
通过定期校准，可以保证获得准确可靠的扫描结果。
3. 控制环境条件原子力显微镜对环境条件非常敏感，尤其是温度和湿度。
确保显微镜工作的环境温度和湿度在合理范围内，并避免温度和湿度的突然变化，以免影响结果的准确性和重复性。
4. 定期维护定期维护原子力显微镜是确保其长期稳定性和可靠性的必要步骤。
维护包括检查和更换易损件，如探针和扫描台，并进行润滑和调整。
同时，还要定期对显微镜进行全面检查，以确保其正常工作和延长使用寿命。
结论：原子力显微镜是一种非常强大的工具，可以提供高分辨率的表面形态和力的信息。
原子力显微镜维修张安全操作及保养规程
原子力显微镜维修张安全操作及保养规程1. 引言原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种高分辨率的显微镜，其主要原理是通过探针扫描样品表面，测量出样品表面的微观拓扑结构。
为了保证原子力显微镜的稳定性和寿命，需要正确地进行操作和定期进行保养。
本文档将介绍原子力显微镜的维修张安全操作及保养规程。
2. 安全操作规程为了保证操作人员的安全和设备的正常运行，需遵守以下安全操作规程：2.1 穿戴个人防护装备在操作原子力显微镜时，操作人员应穿戴适当的个人防护装备，包括实验室衣物、手套和护目镜。
这些防护装备能有效减少安全事故的发生。
2.2 禁止触摸探针在操作过程中，严禁触摸原子力显微镜的探针，因为探针很容易受到损坏。
操作人员在更换探针时，应采取谨慎且准确的动作，避免对设备造成任何损害。
2.3 注意设备平衡在移动原子力显微镜时，要保持设备的平衡，并注意避免与设备碰撞或挤压。
不当的操作可能导致设备的损坏，甚至对操作人员造成安全隐患。
2.4 避免超负荷使用原子力显微镜在工作时需要耗费大量能量，过度使用设备可能造成设备过热以及其他不良后果。
操作人员应遵守设备的使用寿命和负荷限制，避免超负荷使用。
2.5 维修操作由专业人员进行如果原子力显微镜发生故障或需要进行维修，应该由专业人员进行维修操作。
未经授权的人员对设备进行维修可能导致设备损坏，且可能对操作人员的安全构成威胁。
3. 保养规程定期进行设备保养可以延长原子力显微镜的使用寿命，并保障其稳定性和性能：3.1 清洁设备表面定期清洁原子力显微镜的设备表面，可以有效去除灰尘和污垢，保持设备的正常运行。
使用软布轻轻擦拭设备表面，注意避免使用带有酸性或碱性的清洁剂，以免对设备表面造成损害。
3.2 定期校准设备定期校准原子力显微镜的参数是保障设备精度和准确性的重要步骤。
校准设备可通过专业团队或仪器生产商进行，确保设备的性能始终处于最佳状态。
3.3 保持恰当的环境条件原子力显微镜对环境条件非常敏感，因此要保持适宜的温度和湿度。
原子力显微镜操作详细流程
原子力显微镜操作简要说明一、设备开机1、打开原子力显微镜主机电源（在光学平台下方）。
2、开启电脑、运行软件（软件10，如有问题可换9重新运行）。
3、在软件界面点击 SPM init 进行设备初始化，如显示SPM OK可继续操作，如不显示SPM OK重启软件。
4、点open door开操作门，点灯泡按钮照亮。
二、样品准备1、将表面洁净样品使用专用双面胶粘贴至设备配备的圆形载物片上（最好两个台子一起使用，以便旋转样品）。
2、通过检测组件上的按钮或者软件点open door开启样品室舱门，点灯泡按钮照亮，点击软件界面上的AFM-STM退针钮使显微镜探头缩回。
3、使用专用镊子将样品连同载物片放入磁性样品台上，小心调整样品区域之中间。
小心不要碰触探头、激光源等。
4、点击软件界面的AFM-STM使探头移回。
关闭舱门。
三、操作程序1、运行软件的camera功能，点击绿色的play键。
运行approach，点击蓝色step move，将样品降低到安全距离。
2、运行软件的aiming功能，点击tools-motors-video calibration-右下角specify laser step 1-Alt+左键-确定-手动Alt+左键点击红十字中心，使激光与十字匹配。
3、运行AFM钮，使针头伸出。
点击Shift+左键点击针悬臂梁的中间或偏上三分之一处，点击move laser使激光移动到点击位置，然后用Laser X和Y将Laser 调到最大，点击Aiming，使DFL、LF为0。
4、运行软件的Resonance功能，选择semicontact模式，在probes里选择对应针尖，点击Auto，调节探针悬臂的共振频率。
如产生共振，调节Gain和lockgain 的大小（保证其乘积大小不变），确定setpoint为典型值Mag的一半，Gain0.5-1之间。
5、运行landing，观察way值变化。
6、运行软件的Approach功能，自动完成下针。
原子力显微镜使用方法说明书
原子力显微镜使用方法说明书1. 简介原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种高分辨率的显微镜，能够对样品的表面进行原子级别的观测和测量。
本使用方法说明书旨在介绍如何正确操作和使用原子力显微镜。
2. 仪器准备2.1 检查设备在开始使用前，确保原子力显微镜设备完好无损，各个零部件安装正确。
检查扫描头、探针和样品台是否干净，并进行清洁和调整。
2.2 加载样品将需要观测的样品谨慎地加载到样品台上，并确保样品与扫描头之间的距离足够近，但不会产生碰撞。
确保样品安全固定在样品台上，以避免移动或震动。
3. 系统设置3.1 探针选择根据要观察的样品特性和实验需求选择合适的探针。
考虑到扫描精度和高度检测的要求，选择合适的探针材料和形状。
3.2 环境条件在使用原子力显微镜前，确保实验室环境稳定，并且温度、湿度等参数调整到适宜范围。
避免有干扰源或电磁辐射干扰的情况下进行观测。
4. 扫描模式选择根据实验需求选择合适的扫描模式。
一般常用的模式包括接触模式、非接触模式、谐振模式以及磁力模式等。
根据样品表面的性质和实验目的选择最合适的模式。
5. 参数设置5.1 扫描速度根据实验要求确定扫描速度，较高的扫描速度可节省观测时间，但可能会降低图像质量，较低的扫描速度则可提高图像清晰度。
5.2 扫描范围设置扫描范围以确保所需观测区域能够完整显示于图像中。
根据样品的尺寸和形状合理设置扫描区域，以获取全貌和细节。
5.3 扫描力/力常数探测器与样品之间的相互作用力是通过扫描力的设置来控制的。
根据样品的硬度和表面特性选择适当的扫描力或力常数，以确保扫描过程中不会损坏样品。
6. 调整和校准在正式观测前，进行系统的调整和校准是必要的。
对扫描头进行纵向和横向的校准，以确保扫描结果的准确性和可靠性。
7. 开始扫描完成上述准备工作后，可以开始进行实际的扫描。
根据实验目的和方法设置合适的扫描参数，并开始扫描。
8. 数据分析和图像处理获取到的原子力显微镜图像可能需要进行后续的数据分析和图像处理。
原子力显微镜的使用教程
原子力显微镜的使用教程引言：原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种重要的纳米级三维表面成像工具，它利用原子尺度的力相互作用实现高分辨率成像。
本篇文章将为大家介绍原子力显微镜的使用教程，帮助读者快速了解原子力显微镜的操作和常见问题解决方法。
一、仪器准备在使用原子力显微镜之前，需要确保所有必要的仪器和材料准备就绪。
主要包括原子力显微镜主机、扫描探针、样品架、样品夹以及晶圆培养皿等。
二、仪器设置1. 将原子力显微镜主机连接到电源，并确认所有电源和信号线连接正确。
2. 将样品架安装到仪器上，并将样品夹固定在样品架上。
3. 设置探针的扫描参数，包括扫描范围、扫描速度和预设扫描力等。
这些参数应根据具体实验要求来确定。
三、样品处理与装载在进行显微镜观察之前，需要对样品进行适当的处理和装载。
1. 清洁样品：使用气体轻轻吹扫样品表面，去除尘埃和杂质。
2. 固定样品：将样品夹放在样品架上，轻轻夹紧，确保样品稳定。
四、获取显微图像1. 打开显微镜软件，并进行初始化操作。
2. 调整扫描参数：根据样品的特性和观察需求，选择合适的扫描范围、扫描速度和预设扫描力。
3. 放下探针：使用显微镜软件控制系统将探针放下，与样品表面接触。
4. 开始扫描：点击软件界面上的“开始扫描”按钮，仪器将开始进行扫描操作。
5. 观察图像：实时监视软件界面上的图像变化，同时可以调整放大倍率来获取更详细的图像。
五、数据分析与后处理获取到原子力显微镜图像后，可以对图像进行进一步的分析和处理。
1. 表面形貌分析：使用相关软件进行表面形貌分析，包括表面粗糙度、颗粒分布和物理特性等。
2. 线性测量：对有关物体的特定线性距离或物理参数进行测量和分析。
3. 三维重建：根据图像数据进行三维重建，获取更全面的样品形貌信息。
六、常见问题解决方法1. 探针断裂：重新更换探针并校准扫描参数。
2. 仪器无法启动：检查电源和连接是否正常，并重新启动仪器。
原子力显微镜使用手册
原子力显微镜使用手册原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM）是一种先进的显微镜技术，它利用扫描探针从样本表面获取原子级别的拓扑及力学性质信息。
本文将为您提供AFM的使用手册，以便您了解如何正确操作和维护这种仪器。
一、仪器介绍1.仪器结构：AFM主要组成部分包括扫描探针、扫描系统、光学系统、力学反馈控制系统和数据处理系统。
2.工作原理：AFM利用探针在样本表面扫描，通过检测探针和样本之间的相互作用力变化，绘制出样本表面的拓扑图像。
二、仪器操作1.准备工作：打开实验室门窗，确保仪器处于稳定的环境温度和湿度。
2.打开电源：根据仪器型号，打开相应的电源供应器并根据标示连接仪器主机和扫描系统。
3.样本准备：将需要观察的样本固定在样品台上，并调整样品台的位置，使其与扫描探针平行。
4.定位扫描探针：使用显微镜确定扫描探针的位置，然后将其缓慢靠近样本表面，避免碰撞。
5.扫描参数设置：在控制软件中设置扫描参数，包括扫描速度、扫描范围、扫描线数等。
根据样本特点，选择合适的参数。
6.进行扫描：点击控制软件上的扫描按钮，开始进行扫描。
观察实时的拓扑图像，并根据需要进行调整。
7.数据分析：获取扫描数据后，可以使用分析软件对数据进行处理和分析，例如提取高度和力学信息等。
三、仪器维护1.样品台清洁：使用干净的纯净水擦拭样品台，注意不要弄脏或刮伤样品台表面。
2.探针更换：当扫描质量降低或者扫描出现异常时，建议更换探针。
更换探针时要小心，避免碰撞和损坏。
3.扫描系统校准：定期进行扫描系统的校准，保证扫描信号的准确性和可靠性。
4.清洁光学系统：使用专用的镜头纸和清洁剂轻轻擦拭光学系统，注意不要碰到镜头表面。
5.定期维护：根据仪器的维护手册，进行定期的维护和保养，保证仪器的正常运行。
四、安全注意事项1.仪器运行时，不要将手指或其他物体靠近样品台或探针，以免发生意外伤害。
2.严禁在没有操作经验或无监督的情况下使用AFM。
物理实验技术中的原子力显微镜的使用方法及数据处理技巧
物理实验技术中的原子力显微镜的使用方法及数据处理技巧原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM）是一种基于力的显微镜。
它通过扫描样品表面，利用一根非常细的探针来测量表面的力变化，从而得到样品的表面形貌和物理性质。
原子力显微镜是现代物理实验技术中的一项重要工具，具有高分辨率、非破坏性、可在不同环境下工作等优点。
本文将介绍原子力显微镜的使用方法及一些常用的数据处理技巧。
首先，使用原子力显微镜需要注意一些基本操作步骤。
首先，将样品固定在一个样品台上，并放置在显微镜的扫描范围内。
然后，调整探针的位置，使其与样品表面接近但不接触。
在扫描过程中，可以通过监控仪器上的图像来调整探针的高度，以保持适当的力作用于样品表面。
同时，还需根据样品的性质和实验需求，选择适当的扫描模式（例如接触模式、非接触模式等）和参数（如扫描速度、力常数等）。
在实际使用中，需要注意一些常见的影响因素。
首先是热漂移问题，即由于温度变化引起的样品或仪器的位置漂移。
为了解决这个问题，可以在实验前预热样品和仪器，并在实验过程中定期检查样品和探针的位置。
其次是机械振动影响，在扫描过程中，外界的机械振动如空调、水流等都会对测量结果产生干扰。
为了减小振动干扰，可以在实验室环境中采取一些隔振措施，如使用光学隔离台或减小扫描速度等。
在得到原子力显微镜的扫描图像后，我们需要对数据进行处理和分析。
其中最基本的就是对扫描图像进行平均滤波。
由于实验过程中可能存在噪声的干扰，对原始图像进行平均滤波可以降低噪声的影响，得到更平滑的图像。
此外，还可以使用像素修复技术来提高图像的质量，如空间滤波和频域滤波等方法。
对于得到的表面形貌数据，我们可以进行一些更进一步的分析。
常用的方法包括原子分辨率的计算、表面粗糙度的评估以及表面形貌的线性和非线性拟合等。
原子分辨率是指在扫描图像中能够分辨出的最小特征的大小，通过测量相邻特征的间距来计算。
表面粗糙度是指样品表面的不均匀性程度，可以利用均方根（Root Mean Square, RMS）计算。
原子力显微镜安全操作及保养规程
原子力显微镜安全操作及保养规程安全操作规程1.在操作原子力显微镜前，请先按照使用手册的说明进行检查和校对。
2.在进行样品测试和处理时，请着实检查和确认样品是否适合在本仪器中使用。
对于不合适的样品，请不要试图强行进行处理。
3.操作时请遵守本仪器的使用规定和安全操作要求。
特别是当使用原子力显微镜观察样品时，应保持下列规定：–避免任何刮擦、撞击或其它样品的损坏行为；–避免任何液体或高温、高压等有害物质被迅速添加到样品中；–避免任何对样品的机械作用；–避免任何对样品进行强力磨擦。
4.使用时请注意观察样品是否有变化，及时检查和维护仪器。
5.为避免护罩损坏，请避免使用强光源。
6.使用完毕后请关闭仪器电源，妥善保管。
保养规程1.请在使用仪器前检查和校准设备。
2.请勿使用任何有害、腐蚀性或刺激性物品，以免影响仪器使用寿命。
3.请按照使用说明进行维护和保障，例如设备保养、清理、校正和检查等。
4.如果您未正确使用仪器并造成了损坏，请及时进行修理。
错误使用会导致设备过早损坏，延长设备维护时间。
5.注意仪器存储情况。
设备的正常工作温度应在19°C至25°C之间，相对湿度应保持30%至70%。
6.如果您有开发和使用新技术的需求，请勿随意拆卸仪器部件及更换设备零配件。
请与专家或厂家联系进行维护。
总结以上就是原子力显微镜的安全操作及保养规程。
在使用原子力显微镜时，我们应该注意保护设备和样品的安全。
本文对其进行了详细说明，以帮助用户更好地使用仪器，减少设备损坏和使用不当带来的风险。
如有任何操作和保养上的疑问，请及时联系专业技术支持人员或设备厂家。
原子力显微镜操作规程及注意事项
原子力显微镜操作规程及注意事项※※原子力显微镜属于精密且贵重大型实验仪器，操作需倍加小心※※一．开机及实验主要操作步骤：1. 打开总电源开关。
2. 打开计算机主机以及显示器电源开关。
3. 打开控制机箱电源开关，见右图。
4. 打开HEB（Head Electronics Box）的激光开光，见下图。
5. 打开MAC Mode或AC Mode Controller电源开关，见下图。
6. 打开PicoView或者Picoscan控制软件。
7. 根据样品需要，从控制软件界面中选择合适的成像模式，mode→STM、AFM、AC AFM、MAC 和TopMac。
8. 根据样品需要，从控制软件界面中scanner选择合适的扫描头型号（100 m和10 m）。
9. 取出扫描头，放置于扫描头基座上进行安装（注意：轻拿轻放！！！）。
10. 根据成像模式需要选择合适的nose。
11. 将nose安装在scanner上，需要双手同时垂直用力，以O型圈没入扫描头为准。
12. 用一个手将弹簧钥匙（Spring Key）放入弹簧一侧可以把弹簧翘起，另一只手利用镊子夹起针尖安装到nose上，弹簧一般压在针尖的1/3-1/2处。
13. 安装扫描头，连接插线，并拧紧右下方紧固螺栓，此时扫描头下方出现红色激光，建议用户放一白纸。
14. 利用扫描头上的两个螺栓上下左右调整激光的位置，使激光对在针尖背面（详见激光调整过程）。
15. 安装样品时，确保针尖和样品之间有足够的距离，防止样品撞坏针尖。
利用Close键初步逼近样品，可以缩短针尖逼近时间。
16. 安装探测器，调整螺丝，使deflection和LFM参数满足该模式的要求。
14．软件参数设定：设置I、P、setpoint、scan speed、scan size、stop at、datapoints per等。
15. 点击Approach，针尖开始逼近（如果deflection在针尖逼近过程中数值发生突变，说明针尖已经真正逼近样品）。
教学用原子力显微镜安全操作及保养规程
教学用原子力显微镜安全操作及保养规程一、安全操作规程1.1 前期准备1.确认实验室内的温度、湿度、电力等各项条件是否符合原子力显微镜正常工作要求。
2.确认工作人员是否已经接受相关的操作培训，并取得相关操作证书。
3.确认仪器是否处于正常工作状态（比如：是否正常通电、是否处于启动状态等等）。
4.确认仪器的周边安全区域是否已经设定。
1.2 操作指南1.操作人员必须遵守仪器、设备和标准操作程序的使用细节。
2.操作人员必须仔细阅读原子力显微镜的使用说明书，了解其结构、性能、使用方法和维护方法。
3.在操作之前，必须戴上手套、口罩和护目镜等相关防护用品。
4.在操作原子力显微镜时，应该尽可能避免操作过程中激光照射到自己的眼睛里面。
5.医疗禁忌者不允许使用原子力显微镜，此外请注意对孕妇的影响。
6.使用完毕后，必须将原子力显微镜关机，并将电源线拔掉，避免造成意外安全事故。
1.3 废弃物及风险处理卸下标本时，应先关闭扫描头，切断扫描器和反馈控制回路，确保扫描头内的静电荷已消散至合适程度，采用安全梯和两人合作的方式进行处理。
二、保养规程2.1 机身保养1.确保开机前检测到各个部件无异常，包括电缆、管道、格栅、杂质分离器、排气阀、等离子体点火器等。
2.使用时应拆卸除氧器，与PEI、亲水基底直接接触的金属部分用不锈钢刷清洗，另一侧轻轻擦拭。
3.各种零部件的使用，应在保护性润滑剂的基础上用热饱和的无水酒精或石油干洗后。
2.2 电子设备保养1.在保持原子力显微镜安装环境清洁干燥的前提下，保持设备的良好散热状况。
2.定期使用压缩空气对设备进行吹扫和除尘，注意不直接使用吸尘器清洁。
3.定期使用除湿机保持仪器电子设备处于良好的湿度状态。
2.3 基板保养由于基板是原子力显微镜观测的重要部分，因此要对它进行特别注意。
1.在操作之前要把基板表面清理干净，清除表面上的杂物和污垢，最好用无粉尘的石英纸或者清洁布进行擦拭。
2.在使用过程中要注意避免人为划伤基板，尽量减少操作失误的可能性。
原子力显微镜操作说明
原子力显微镜操作说明一、仪器结构及主要技术指标1. 仪器结构AFM-Ⅲ型原子力显微镜硬件组成如图1所示，该机集成了应用面最广泛的扫描隧道显微镜、接触模式原子力、轻敲模式原子力和磁力显微镜等多种工作模式。
图1 AFM-Ⅲ型原子力显微镜1. 主机2. 电子学控制箱3. CCD系统4. X-Y移动调5. 设定点调节6. 反馈调节2．主要技术参数(1) 配备高精度样品定位功能模块，高精度自适应扫描器的最大扫描范围50μm×50μm。
(2) 扫描隧道显微镜STM：X-Y向0.1nm；Z向0.01nm；HOPG原子定标。
(3) 接触模式AFM：X-Y向0.2nm；Z向0.03nm；云母晶格定标。
(4) 轻敲模式AFM：X-Y向0.2nm，Z向0.1nm；DNA样品验证。
(5) 电流检测灵敏度≤10pA。
(6) 力检测灵敏度≤1pN。
(7) 预置隧道电流：1pA～50nA。
(8) 偏置电压：-10～+10V。
二、仪器主要功能可实现对薄膜、粉体、块状、纤维、生物样品等各种材质样品的表面形貌观察和对磁性样品的磁畴结构表征，并可对样品的粗糙度、颗粒度、剖面、膜厚等作出分析。
三、操作步骤1．扫描隧道显微镜（STM）操作步骤(1) 清洗剪刀、镊子、探针；剪针尖。
(2) 放针尖，把针尖架插入探头。
(3) 放样品到载物台（用镊子操作，注意不要让镊子碰到样品表面）。
(4) 打开电脑，开启控制箱电源。
(5) 打开软件，切换到在线工作模式。
(6) 调节机箱旋钮，设定初始值（设定点、针尖偏压在硬件状态栏中读数，反馈直接在旋钮上读数）：设定点（电流）1.5—2.0；偏压-0.15—0.25；反馈1.0—1.5。
(7) 手动粗调使样品靠近针尖。
注意门板上的警示字样！！！手动调节样品底座高度，用放大镜观察，针尖与样品距离为0.2-0.3mm最佳，注意不要有回调动作，观察“Z偏置”的指示条是否过头（过头则表明针尖撞上样品了）。
为保证结构刚性请上升完样品后锁住蝴蝶螺母。
SPM(原子力显微镜)设备安全操作规程
扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)设备安全操作规程前言扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscopy, SPM）是一种能够在原子、分子尺度上进行检测和表征的分析仪器。
此类显微镜利用扫描探针在样品表面上扫描，通过所获得的信号进一步得到样品表面的拓扑、结构和力学性质等信息。
因其高分辨率和单原子敏感性，尤其在纳米结构材料的表征上有着广泛的应用，而且已经成为了纳米科学与技术中不可或缺的工具之一。
然而，SPM技术操作需要注意许多安全事项，不当操作会引入样品污染、设备故障、人身安全等问题。
因此，本文将总结一些应该注意的安全操作规程，以提高SPM技术人员的意识和实验操作品质。
总则1.所有使用SPM的人员，应该经过专业培训并具有相应的操作证书。
2.只有在清洁、无异议的实验室内进行SPM操作，不得在人流、高分贝、高湿、高温等环境下进行。
3.严格按照使用手册和SPM设备厂商的安全规范进行操作。
4.禁止将SPM设备移动离开实验室。
5.禁止人为添乱或者胡乱修改设备参数。
操作规程1.仪器开启前，检查样品盒是否正确安装，确认样品及其密封是否符合IP67标准，检查SPM控制器是否处于正确运行状态。
2.操作人员应该穿戴适当的防护手套、口罩和实验服装，避免样品误触和发尘，注意个人卫生。
3.开机前，根据已运行实验数据的导向，设定扫描范围和参数，避免一次性盲目调整。
4.仪器工作期间，严禁同时使用或连接其它电子设备，以免与SPM的信号产生干扰。
5.操作人员应降低操作声音、保持微风不扰设备和样品，避免防尘屏幕上产生氧化物颗粒物。
6.对样品进行工作前的准备操作过程中，需要保留稳定的温度和一定的卧室气体环境，注意尽量避免冷带电流短时间过小或者样品污染。
7.实验完成后，必须先将压载台缓慢降低，保证样品表面与探针离开，再关闭样品盒和实验台，推出样品盒进行清洗。
操作误区1.停电后，不要直接关机或重新插拔SPM控制器电源连接线（DC12V/24V）和其他数据线，以免直接接触硬盘。
原子力显微镜操作规程
原子力显微镜操作规程DI NS4扫描探针显微镜操作规程接触模式原子力显微镜的操作规程:1．把接触模式的探针安装在悬臂夹中。
2．把样品粘在样品碟上，放在扫描管的上面。
3．取下激光头，把装有探针的悬臂夹放入激光头中，用激光头后面的锁紧螺丝把悬臂夹锁紧。
4．调整激光点到探针尖端的背面。
5．把激光头放回扫描管上。
注意探针与样品表面之间的距离，不要让探针碰到样品。
6．调整激光头后面的反射镜调整螺丝，使得Base底部椭圆区域的SUM值达到最大。
对于接触模式的氮化硅探针，它一般在5—9之间。
7．调整光电检测器调整螺丝，使得Base底部的Horizontal difference值为0，vertical difference值在-1~-2之间。
8．用CCD Camera的粗调螺丝上下移动CCD Camera，在监视器上找到样品的表面，用Base上的Up,Down扳手把探针慢慢往下降，直到在监视器上可看到模糊的探针。
如果样品是透明的，在监视器上将看不到样品的表面，这时我们以监视器上探针与探针的像将近重合为标准来确定探针在样品正上方的高度。
9．从菜单中选择显微镜，DI/microscope select, 从对话框中选择Quadrex multimode, 点OK。
10. 选择microscope/profile, 从对话框中选择contact AFM, 点OK。
11. 选择microscope/scanner, 从对话框中选择你所用的Scanner 类型。
12. 设置扫描参数，Scan size, scan rate(在接触模式中一般为1~3Hz), Integral gain,proportional gain, Deflection setpoint等。
在开始的时候可如下图设置这些参数。
13. 然后点击engage按钮，计算机开始自动下针。
当针接触到样品并且弯曲量达到预先设定的setpoint值时，扫描管开始扫描。
原子力显微镜使用说明书
原子力显微镜使用说明书1. 简介原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种高分辨率的显微镜，广泛应用于材料科学、纳米技术等领域。
本使用说明书将详细介绍AFM的操作步骤和注意事项。
2. 准备工作在操作之前，请确保以下准备工作已完成：- 确保AFM设备已正确连接并接通电源。
- 检查样品台的清洁度，并确保样品已固定在样品台上。
- 打开AFM软件，并建立起与设备的连接。
3. 扫描模式选择AFM支持多种扫描模式，包括接触模式、非接触模式和磁力模式等。
根据实际需求选择合适的扫描模式，并进行相应设置。
4. 扫描参数设置扫描参数的设置对于获得高质量的扫描图像至关重要。
以下是常用的扫描参数及其设置建议：- 扫描速度：根据样品的特性和对扫描速度的要求，选择适当的数值。
- 扫描范围：根据需要观察的区域大小，设置扫描范围。
- 采样点数：增加采样点数可以提高图像的分辨率，但也会增加扫描时间。
5. 调整探针探针的调整是AFM操作中的关键步骤。
请按照以下步骤进行调整：- 将探针插入探针头，并确保固定牢固。
- 使用AFM软件中的调整功能，使探针与样品表面轻轻接触。
- 调整探针位置，使扫描范围内的区域清晰可见。
6. 开始扫描在确认准备工作和参数设置无误后，可以开始进行扫描操作：- 在AFM软件中点击“开始扫描”按钮。
- 观察扫描图像，确保图像清晰、无明显噪音和畸变。
7. 数据分析与处理扫描完成后，可以进行数据的进一步分析和处理：- 使用AFM软件提供的分析工具，对图像进行放大、平滑或滤波等处理。
- 导出数据或保存图像，以便后续的数据分析和报告撰写。
8. 注意事项- 操作时要轻拿轻放，避免对设备和样品造成损坏。
- 注意维护样品台的清洁，避免杂质对扫描结果的影响。
- 避免操作环境中的振动和电磁干扰，以确保扫描质量。
- 遵守使用原子力显微镜的标准操作规程和安全准则。
9. 故障排除在使用 AFM 过程中，可能会遇到一些常见的故障，请参考以下建议进行排除：- 如果扫描图像出现严重噪音或畸变，检查探针的固定情况，并重新调整探针。
原子力显微镜工作站安全操作及保养规程
原子力显微镜工作站安全操作及保养规程1. 引言原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称 AFM）是一种常用的纳米级别表面形貌和性能测量仪器，广泛应用于材料科学、生物学、纳米科学等领域。
为保证实验室人员的安全以及仪器的正常运行，本文将介绍原子力显微镜工作站的安全操作和保养规程。
2. 安全操作规程2.1 实验室准备工作在使用原子力显微镜之前，需要进行以下准备工作： - 检查仪器是否处于工作状态。
检查供电线是否连接稳定，仪器是否通电。
- 确保仪器的工作环境符合要求，包括温度、湿度等。
- 检查样品架上是否已经安装了合适的样品。
2.2 个人防护措施在操作原子力显微镜时，应注意以下个人防护措施： - 穿戴防护服和手套，防止样品和化学试剂对皮肤的直接接触。
- 戴上护目镜和口罩，防止样品溅射物进入眼睛和呼吸道。
- 遵守实验室安全操作规程，包括禁止饮食、吸烟或者使用手机等。
2.3 仪器操作规程在进行原子力显微镜操作时，应注意以下事项： - 使用前请先阅读仪器操作手册，并熟悉仪器的操作界面。
- 严禁非授权人员操作仪器，以免造成损坏或事故。
- 使用前请检查探针是否损坏，确认其工作状态正常。
- 小心操作，避免碰撞探针，以免影响测量结果或损坏探针。
- 操作过程中要保持仪器周围的清洁，避免灰尘和杂质进入仪器。
2.4 任务完成后的操作在完成原子力显微镜操作后，应进行以下步骤： - 关闭仪器前，请先将所有操作参数恢复到默认状态。
- 拔掉仪器的电源线，并切断电源。
- 将仪器周围的清洁工作做好，清除掉样品残留物等。
3. 保养规程3.1 定期清洁为保证原子力显微镜的正常运行，需要定期进行清洁工作： - 切勿使用任何酸性、碱性或腐蚀性溶液清洗仪器，以免对仪器造成损坏。
- 使用干净的棉布轻轻擦拭仪器表面和探针。
- 清洁时要轻柔，避免用力过大，以免损坏仪器或探针。
3.2 保持环境整洁保持仪器周围的环境整洁对于仪器的正常运行非常重要： - 定期清理工作台和仪器周围的地面，防止灰尘和杂质进入仪器。
SPM(原子力显微镜)设备安全操作规定
扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)设备安全操作规定本文档旨在规范扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）设备的安全使用，减少工作中的安全风险，为设备操作者提供保障和指导。
设备注意事项1. 设备的电源1.1 使用交流电源110~220V，输出电压为24V。
1.2 电源插头请确保安装稳固，不得使用破损或导线暴露的电源线。
1.3 禁止使用明显损坏的电源线或插头。
1.4 请勿在操作过程中拔掉电源线，应该先关闭设备电源，再进行电源拔插操作。
2. 设备的控制面板2.1 使用者应事先了解仪器的各种操作控制按钮、选项和指示灯的作用。
2.2 禁止在功率开关关闭时对装置进行操作调试。
2.3 系统操作过程中切勿指意外操作控制面板。
2.4 操作结束后请务必关闭操作面板的所有按钮和操作控制，关闭电源后离开设备。
3. 设备的扫描针3.1 禁止对设备进行恶性敲打、碰撞和其他人为损伤行为。
3.2 请勿在完全未扫描完成的情况下停止设备，并在拔下探头前使扫描部分下降到低位。
3.3 镜头不能直接碰触被测试样的表面或其他硬物，不能使用润滑油或其它油滴在探针刻面上。
3.4 工作结束后应将探头放在安全的地方。
对于不再使用的探头应分类存放。
4. 设备的使用环境4.1 在使用设备时不得吸烟、饮食和饮料等非实验品。
4.2 禁止在潮湿、易腐蚀、易燃或其他安全隐患环境下使用设备。
4.3 禁止在没有足够安全防护措施的情况下，将设备放在震动或移动频繁的地方。
4.4 使用结束后请对设备进行清洁和消毒。
设备使用注意事项1. 上机前的准备工作1.1 操作者需要检查测试设备是否有损坏或不完整的部分，如有发现，需及时上报负责人员。
1.2 操作者必须熟悉设备使用操作手册，按照要求进行操作。
1.3 操作前应将任何杂物和药品放置在固定位置。
2. 设备测试操作2.1 操作时应控制良好工作台和设备的退出器件，确保操作者的安全。
2.2 测试样品应根据操作指引按照规定方法放置到测试位置上。
型原子力显微镜安全操作及保养规程
型原子力显微镜安全操作及保养规程前言原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM）是一种高分辨力的显微镜，可以在原子尺度范围内观测样品表面的形态和性质，是材料科学、物理学、地球化学、生物学等领域的重要工具。
而为了保证AFM的正常工作，必须遵守一系列安全操作和保养规程。
本文主要介绍型原子力显微镜（Dimension Icon, DI）的操作及保养规程，以保证设备的安全、稳定使用。
安全操作规程1. 操作前的准备工作1.1 保证操作环境稳定、整洁，无粉尘、振动、光线等干扰因素。
1.2 检查DI电源和计算机的连接是否良好，确保DI仪器的正常通电。
1.3 空气中的灰尘和水分会对DI显微镜表面产生负面影响，需打开DI显微镜保护罩，并通过使用干燥剂降低环境湿度。
1.4 启动DI之前需审查样品，确保样品与DI的相互作用不会影响DI和样品的安全和稳定性。
2. 操作DI显微镜2.1 操作DI前，需对DI进行自检和校准，确保其正常工作。
2.2 操作DI时，需按照DI技术人员的指导手册，依次操作。
在操作过程中，不得随意拆卸或安装的DI的任何部件。
2.3 定位样品时，需关闭样品自动退避功能，确保样品的安全。
2.4 操作结束后，关闭DI电源，关掉DI电脑并在来宾登记本上留下个人信息，以便管理人员统计使用情况。
3. 安全注意事项3.1 操作DI时，戴上手套，以避免样品污染。
3.2 操作过程中，不得把手放在DI平台和扫描探针之间的区域，以免发生意外。
3.3 禁止在DI内使用任何液体，以避免损坏设备和影响样品扫描质量。
3.4 禁止在DI内吃东西、吸烟，防止引起火灾和空气污染。
保养规程1. 定期清洁1.1 定期拆下样品夹，用无尘纸巾擦拭DI平台和夹子表面，以保证扫描质量。
1.2 定期处理平台污垢，可使用清洁剂或木棒轻轻擦拭。
1.3 对于扫描探针，不可以用手直接触碰针尖，需要使用专业的探针清洁棒进行清洁。
2. 交替使用2.1 长时间持续使用DI并不利于其寿命，需在操作过程中适当休息，以便保护设备。
原子力显微镜探针安全操作及保养规程
原子力显微镜探针安全操作及保养规程前言原子力显微镜 (Atomic Force Microscope, AFM) 已经成为材料科学、纳米科学及生物科学等领域研究的常用工具。
然而，这种高灵敏度的仪器也存在一些安全操作与保养问题，如不当使用会导致仪器的性能下降，甚至可能会损坏仪器。
本文旨在介绍AFM探针的安全操作及保养规程，以便用户在使用AFM时做到谨慎、安全和高效。
安全操作在使用AFM的过程中，需要遵循下面的操作流程来保证实验的安全。
1. 熟悉仪器在使用前必须熟悉仪器的基本结构，功能和操作指南，必要时可以参考产品说明书或从有经验的使用者处获取辅导。
2. 应先进行样品与探针的选择根据测试的目的、研究的问题及样品的形态、尺寸等特点选择合适的样品台及探针，并进行探针夹持、校准等操作。
3. 使用前仔细检查使用前应仔细检查探针是否损坏、畸变或过度使用等现象，如果有异常应立即更换探针，并进行对应的探针校准。
4. 关注样品台的水平使用时，应保持样品台的水平状态，切忌在移动过程中突然遇到障碍物或者突然停顿，以免引起样品及探针的损伤。
5. 正确安装探头在进行探测之前，应确保探头正常安装并夹紧，避免意外脱落，若探头不适合当前测量要求，需要更换探头。
6. 正确设置环境在使用过程中，避免重金属或电磁干扰，并保持实验室的适宜环境（如温度、湿度、灰尘及噪音等），以维持实验的稳定性和可重复性。
7. 观察样品变化在进行观测实验时，应随时关注样品及仪器运行状态，及时记录实验数据，避免出现误操作。
8. 离开前的检查离开前，应检查实验室的仪器和设备是否已关闭并正确存放，总结实验过程及结果，并在实验记录上进行标注说明。
保养规程正确的保养及清洁对于保障仪器的性能和寿命具有重要作用。
因此，仪器的保养及清洁应该是全方位的，包括探针接口、扫描器等部件。
1. 扫描器扫描器是AFM的核心部件之一，因而其光滑度应达到极致。
操作时应尽量避免碰撞，禁止操作台前进或后退同时提示仪器不在扫描状态。
原子力显微镜使用注意事项
原子力显微镜使用注意事项
1. 在使用原子力显微镜之前，必须经过相关的培训和指导，熟悉操作步骤和安全注意事项。
2. 在操作原子力显微镜时，注意保持实验室的环境整洁和安静，避免产生干扰。
3. 在操作过程中要轻柔地操作，避免突然的震动和碰撞。
4. 使用原子力显微镜时要佩戴合适的个人防护设备，如实验手套、眼镜等。
5. 在更换或安装样品时，要注意避免直接接触样品，使用专门的工具进行操作。
6. 在操作过程中避免将手指或其他物体接触到扫描探针，以免损坏设备。
7. 在进行操作之前，要确保设备处于合适的工作环境中，避免水分、灰尘等因素对设备的影响。
8. 在清洁设备时要遵循相关的清洁步骤和方法，避免使用化学物质直接接触设备。
9. 在操作设备时要遵循设备的使用说明书和标准，避免使用超出设备能力范围的参数或方法。
10. 在操作过程中要及时记录和保存实验数据，以备后续分析和研究使用。
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原子力显微镜操作规程及注意事项
※※原子力显微镜属于精密且贵重大型实验仪器，操作需倍加小心※※一．开机及实验主要操作步骤：
1. 打开总电源开关。
2. 打开计算机主机以及显示器电源开关。
3. 打开控制机箱电源开关，见右图。
4. 打开HEB（Head Electronics Box）的激光开光，见下图。
5. 打开MAC Mode或AC Mode Controller电源开关，见下图。
6. 打开PicoView或者Picoscan控制软件。
7. 根据样品需要，从控制软件界面中选择合适的成像模式，mode→STM、AFM、
AC AFM、MAC 和TopMac。
8. 根据样品需要，从控制软件界面中scanner选择合适的扫描头型号（100 m和10 m）。
9. 取出扫描头，放置于扫描头基座上进行安装（注意：轻拿轻放！！！）。
10. 根据成像模式需要选择合适的nose。
11. 将nose安装在scanner上，需要双手同时垂直用力，以O型圈没入扫描头为准。
12. 用一个手将弹簧钥匙（Spring Key）放入弹簧一侧可以把弹簧翘起，另一只手
利用镊子夹起针尖安装到nose上，弹簧一般压在针尖的1/3-1/2处。
13. 安装扫描头，连接插线，并拧紧右下方紧固螺栓，此时扫描头下方出现红色激
光，建议用户放一白纸。
14. 利用扫描头上的两个螺栓上下左右调整激光的位置，使激光对在针尖背面（详
见激光调整过程）。
15. 安装样品时，确保针尖和样品之间有足够的距离，防止样品撞坏针尖。
利用Close
键初步逼近样品，可以缩短针尖逼近时间。
16. 安装探测器，调整螺丝，使deflection和LFM参数满足该模式的要求。
14．软件参数设定：设置I、P、setpoint、scan speed、scan size、stop at、datapoints per等。
15. 点击Approach，针尖开始逼近（如果deflection在针尖逼近过程中数值发生突变，
说明针尖已经真正逼近样品）。
17. 点击scan，开始扫描成像，同时在扫描过程中根据图像实时调整Rotate、I、P、
speed等，从而获得高质量的图像。
二. 关机主要操作步骤
1. 点击Stop，停止扫描
2. 点击withdraw数步（一般2-3步），实现退针。
同时手动Open，手动退针。
3. 关闭PicoScan或者Picoview软件，MAC Mode或者AC mode Controller电源，控
制机箱电源，计算机主机，总电源
4. 取下样品台并收好样品
5. 取下探测器，放入干燥器皿。
6. 取下扫描头，取下针尖放回盒中（注意：轻拿轻放！！！）。
扫描头、针尖放回干燥
皿。
7. 整理实验室并把实验仪器及物品放回原处
附录：
如果需要更换nose，为保护Scanner，要求使用下面工具，按下图所示更换nose。
首先把该工具平推，恰好卡住nose，然后食指和中指向上用力，拇指向下压，缓缓用力，可以顺利安全拔出nose。
切忌直接用镊子或者手指直接拔出，见下图。