XPS峰拟合步骤及规则
Xps分峰拟合操作
Xps分峰拟合操作Xps数据avantage软件分峰拟合操作1.打开软件，选择⽬标⽂件，打开2.选中C 1s图谱，点击放⼤。
3.点击，弹出窗⼝4.选择Shirley，变为下图。
5.选取图谱中主峰两侧较为平滑的区域，分别将横坐标输⼊Start（⼤）和End（⼩），并可通过上下箭头进⾏微调。
确定合理后，点击Add，主峰下⽅会出现如图绿线。
⼯具栏下⽅会出现C1s相关信息表格，Peak BE即为C1s峰值。
与标准峰值284.8eV⽐较即可得出所得实验谱的偏差，本例为+3.2eV。
6.选择⽬标实验谱本例中为Mn2p，放⼤。
点击，弹出窗⼝，会观察到实验谱横坐标减⼩相应值，点击Close。
即完成能量校正。
8.点击，类似C1s校正，选择主峰对Mn2p3/2加峰9.选择Peak Fit，点击，弹出窗⼝，选择Add Fitted Peak，如图，并排三个书写框，PeakCentre即为某元素某化学态对应峰值，⾸先输⼊，FWHM Start其次输⼊，⼤⼩为峰值+0.5，FWHM End最后输⼊，为峰值-0.5，⽆误后点击Add Peak完成加峰。
10.对各状态对应峰值依次添加，加完之后，点击OK，如图。
11.对上图图谱下拉，对信息表格进⾏编辑。
删除主峰（本例为Mn2p）对应信息，点击左侧任意字母后，右键，取消Show Constraints对勾。
将Name改为易识别以区分的名字，然后将FWHM fit para全部改为1.25，并全选，点右键，锁定。
并将Peak BE也全部锁定。
峰，并将图谱中对应谱线下拉⾄底部。
13.根据操作者对样品的理解，先向上拖动主要状态对应谱线，最后拖动最少量状态对应谱线。
直⾄实验谱与拟合谱最⼤程度重合。
14.点击，再依次点击accep→tOK。
点击peaks，信息表中即出现各状态含量信息。
将C1s和Mn2p最后⼀栏取消勾选。
则倒数第⼆栏即为各状态的百分含量。
15.点击file→save as即可保存⼯程⽂件。
【做计算 找华算】【干货】XPS Peak软件拟合教程,仅需7步!
XPS干货丨XPS Peak软件拟合教程，仅需7步！1.XPS Peak41中导入数据打开xps peak 41分峰软件,在XPS Peak Fit窗口中,从Data菜单中选择Import (ASCII),即可将转换好的txt文本导入,出现谱线2.扣背底在打开的Region 1窗口中，点击 Backgrond，选择Boundary的默认值，即不改变High BE和Low BE的位置，Type一般选择Shirley类型扣背底3.加峰选择Add Peak，选择合适的Peak Type(如s,p,d,f),在Position处选择希望的峰位，需固定时点fix前的小方框,同时还可选半峰宽（FWHM）、峰面积等。
各项中和的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系。
如W4f中同一价态的W4f7/2W4f的峰位间距可固定为2.15eV，峰面积比可固定为4:3等，对于% 5/2Lorentzian-Gaussian选项中的fix先去掉对勾，点击Accept完成对该峰的设置。
点Delete Peak可去掉此峰。
再选择Add Peak可以增加新的峰，如此重复。
注意：% Lorentzian-Gaussian值最后固定为20%左右。
加峰界面举例：对峰的限制constraints，峰1的峰位=峰0峰位+1.54.拟合选好所需拟合峰的个数及大致参数后，点XPS Peak Processing中的OptimiseAll进行拟合，观察拟合后总峰与原始峰的重合情况，如不好，可多次点Optimise All合适图谱5.参数查看拟合完成后，分别点XPS Peak Processing窗口总的Region Peaks下方的0、1、2等，可查看每个峰的参数，此时XPS峰中变红的曲线为被选中的峰。
如对拟合结果不满意，可改变这些峰的参数，然后再点击Optimise All6.XPS存图点Save XPS可将谱图存为.xps格式的图，下回要打开时点Open XPS可以打开这副图，并可对图进行编辑7. XPS图的数据输出a.点击Data中的Export（spetrum），可将拟合好的数据存为.dat格式的ASCII 文件（该文件可用记事本打开），然后再Origin中导入该ASCII文件，可得到一个包含多列的数据表，这里需要注意的是每列的抬头名称出错（如.dat文件中的Raw Intensity分开到两列中作为两列的抬头，即Raw、Intensity），这时需要根据做出的图与.xps原始谱图比较，更改每列的名称，即可得到正确的谱图b.点击Data中的Export（Peak Parameters），即将各峰参数导出为.par格式的文件（也可用记事本打开），通过峰面积可计算某元素在不同峰位的化学态的含量比c.点击Data中的Export to clipboard，即将图和数据都复制到剪贴板上，打开文档（如Word），点粘贴，即把图和数据粘贴过去，不过该图很不清晰d.点击Data中的Print with peak parameters，即可打印带各峰参数的谱图峰拟合中的一些基本原则及参考资料1.元素结合能数据可参考/xps/selEnergyType.aspx2.谱峰的曲线拟合应考虑：合理的化学与物理意义；合理的半高宽（一般不大于2.7eV，氧化物的半高宽应大于单质的半高宽）；合理的L/G比（XPS Peak 41分峰软件中的% Lorentzian-Gaussian）为20%左右；对双峰还应考虑两个峰的合理间距、强度比等（详见下面的3，4项）。
xpsc1s标准xps分峰拟合c1s结合能标准
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xps峰拟合步骤及规则
XPS峰拟合步骤及规则1.原始数据的处理:Ａ，与C1s比较标准化数据:将excel表格中的C1s数据的最高点对应的结合能与标准C1s结合能（一般为284.6）比较，算差值+（-）α；将需拟合元素（如Ir）的结合能-（+）α，得标准化数据。
注：若得到的C1s不平滑，先怀疑是否测试过程出现问题。
若无测试问题，数据可信，将C1s进行拟合得到一个最高点（可用XPSPEAK, origin等）。
拟合元素结合能-（+）α最好拷贝到另个excel中处理，得标准化数据。
Ｂ，转化成TXT:将标准化数据拷贝到TXT文本中（两列就足够了）2.下载安装XPS拟合处理软件.hk/%7Esurface/XPSPEAK/3.数据输入:运行XPSPEAK41，点data>Import(ASCII)>*.txt (转换好的标准化数据)，得谱线。
4.背景扣除:点Background，调high 和low BE的值，一般用Shirley背景扣除。
注：基线不能高于需拟合的曲线。
5.加峰:A,查需拟合元素标准结合能值/xps/；Search Menu＞Retrieve Data for a Selected Element＞Binding Energy ＞元素；查需拟合元素分裂能Doublet Separation ＞元素；B,加峰选Add Peak，选合适的Peak Type(如s,p,d,f),Position处选希望的峰位（参考所查标准结合能值），需固定时点fix前的小方框，否则所有Fix选项都不要选。
各项中的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系，如Ir4f中同一价态的Ir4f7/2和Ir4f5/2的峰位间距可固定为2.98eV，峰面积比可固定为4:3等。
点击Optimise Peak对峰进行优化,最后点击Accept完成对该峰的设置。
点Delete Peak可去掉此峰。
再选择Add Peak可以增加新的峰，如此重复。
高分辨XPS谱的拟合过程
常用第一种平滑方法，尤其是多点移动平滑。
最常用的卷积程序是三次/四次函数—SavitzkyGolay，其次可采用高斯函数。
C (1s) BE of Hydrocarbons 自然氧化物 离子刻蚀金属
285.1
284.9
285.4
284.9
285.6
285.2
285.3
284.2
284.5
285.0
284.6
284.0*
285.0
284.4
285.9
286.8*
284.3*
284.2
285.7
284.9
285.2
284.8
参考元谱来自于标准数据：
如果存在纯组分谱，即可定义其为参考元谱 如已有相同实验条件的纯金属和纯氧化物标准参考谱 使用此法时应注意，数据采集参数（通能等实验条件）
应相同，以保证好的拟合结果。
参考元谱亦可来自于生成的数据
NLLSF 使用参考谱
如果已有相同实验条件的纯金属和纯氧化物标准 参考谱，可以直接添加到NLLSF对话框中。
285.4
285.4
286.5
284.4
284.8
286.3
284.8
285.2
BE差 0.8 1.2 -0.1 -0.6 1.2 0.6 1 1.1 0.2 ±0.0 0.8 0.5 1.2 0.1 0.5 ±0.0 2.1 -1.5 -0.4
[FO]
元素 Nb Ni Pb Pd Re Rh Sb Sc Se Si Sn Ta Te Tl V W Y Zn Zr
XPS谱峰拟合注意事项
XPS谱峰拟合注意事项XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种常用的表面分析技术，通过测量材料中的光电子能谱来获取元素的化学状态和表面化学组成信息。
在进行XPS谱峰拟合时，需要注意以下几个方面：1.谱峰选择：首先需要选择合适的XPS谱峰进行拟合。
对于元素的3d谱峰，一般选用高分辨率谱进行拟合；而对于元素的2p谱峰，通常选用低分辨率谱拟合。
此外，还需要根据样品的化学组成选择合适的XPS谱峰。
2.光电子能谱线宽：在进行谱峰拟合之前，需要确定光电子能谱的线宽。
光电子能谱的线宽包括仪器效应和样品表面等原因引起的线宽。
通常情况下，可以通过测量标准物质的XPS谱线来确定仪器效应的线宽。
如果样品表面存在不均匀性，还需要考虑表面扩散等因素。
3. 谱峰形状：在进行XPS谱峰拟合时，需要选择合适的谱峰形状函数。
常用的谱峰形状函数有高斯函数、洛伦兹函数和Voigt函数等。
对于复杂的谱峰，可以采用多个形状函数的组合进行拟合。
4.背景拟合：在XPS谱峰拟合中，背景信号会对谱峰的拟合结果产生影响。
背景信号包括激光连续谱、底部散射等引起的背景。
一般情况下，可以采用多项式函数进行背景拟合。
而对于特殊样品，可能需要使用更复杂的数学函数进行背景拟合。
5.谱线强度校正：XPS谱线的强度受到多种因素的影响，如分析深度、探针电强度、距离等。
在进行谱峰拟合时，需要对谱线的强度进行校正，以获得准确的表面化学组成信息。
6.谱峰重叠处理：在一些情况下，不同元素的谱峰可能会发生重叠。
为了准确区分不同元素的贡献，需要进行谱峰重叠处理。
常见的处理方法包括利用化学键能的差异、XPS波长的差异等。
7.数据处理与误差分析：在进行XPS谱峰拟合之后，还需要对数据进行处理和误差分析。
可以计算每个元素的相对百分含量、角分辨率、信噪比等指标。
此外，还需要对拟合结果进行误差分析，以评估数据的可靠性和拟合的准确性。
总之，进行XPS谱峰拟合需要综合考虑实验条件、谱峰形状、背景拟合等多种因素。
XPS峰拟合规则
XPS峰拟合规则XPS( X-ray photoelectron spectroscopy ) 峰拟合是一种用于分析材料表面化学组成的方法。
通过将X射线照射到材料表面，并测量被材料表面发射出的光子的能量，可以确定材料表面元素的化学状态。
峰拟合是将实际测量到的XPS光谱曲线与已知的标准峰形进行拟合，从而确定材料表面元素的化学状态以及元素的相对含量。
峰拟合方法有很多种，这里我们介绍一种常用的高斯-洛伦兹拟合方法。
这种方法是基于高斯函数和洛伦兹函数的线性组合，使用非线性最小二乘拟合算法进行优化。
首先，我们需要确定峰的数目。
通常情况下，一个元素的XPS峰包含了几个子峰，每个子峰代表了不同化学状态下的该元素。
因此，我们需要根据实际情况确定峰的数目。
其次，我们需要选择标准峰形。
标准峰形是已知的，通过实验事先测量并记录下来的具有特定化学状态的元素的XPS峰形。
选择与实际测量到的峰形最接近的标准峰形可以提高拟合的准确性。
接下来是拟合的实际步骤。
首先，我们需要确定拟合的起始点和终止点，即确定实际测量到的峰的范围。
然后，选择一个初始拟合参数，包括峰的中心位置、高度、宽度等。
根据这些初始参数，我们可以计算得到拟合曲线。
之后，通过调整这些参数，使得拟合曲线与实际测量到的曲线最为接近。
通常情况下，我们使用非线性最小二乘拟合算法进行这一步的参数优化。
最后，我们可以根据得到的拟合参数，计算得到材料表面元素的化学状态和相对含量。
拟合参数中的中心位置可以确定元素的化学状态，高度可以确定元素的相对含量。
通过对不同元素的拟合结果进行比较，我们可以进一步确定材料表面的化学组成。
在实际应用中，XPS峰拟合具有广泛的应用范围。
它可以用于分析材料表面的污染物、薄膜厚度和界面结构等。
但是需要注意的是，XPS峰拟合只能提供表面信息，不能对材料内部做出准确的分析。
此外，在进行XPS峰拟合时需要注意峰的重叠情况，对于重叠的峰需要进行进一步的分析和修正。
碳的xps分峰拟合
碳的xps分峰拟合碳的XPS分峰拟合是一种常用于表征材料表面成分和化学状态的方法。
通过X射线光电子能谱（XPS）测定，可以获得样品表面元素的电子能级分布情况及其化学键的信息。
在实际应用中，XPS谱峰的分析和拟合是对所得数据进行处理和解释的关键步骤之一。
本文将结合实验数据，探讨碳的XPS 分峰拟合的方法及其应用。
首先，对于碳的XPS谱图，一般可以观察到多个碳元素的XPS谱峰，如C1s、C2s等。
其中，C1s是最常见的碳元素XPS谱峰，通常用于分析样品表面的碳含量及其化学环境。
在进行XPS分峰拟合时，可以采用高斯函数或洛伦兹函数等数学模型对谱峰进行拟合，以得到谱峰的峰位、半峰宽和强度等信息。
对于复杂的XPS谱图，可能需要引入多个峰进行拟合，以解析不同碳化合物的存在及其相对含量。
在进行碳的XPS分峰拟合时，需要考虑到样品的表面状态、化学反应和X射线光束的作用等因素。
一般情况下，样品表面存在氧化、污染或与周围环境反应形成化合物等现象，都会对XPS谱峰的形状和位置产生影响。
因此，在进行分峰拟合时，需要综合考虑各种可能的因素，并通过调整拟合参数来提高拟合的准确性和可靠性。
在实际应用中，碳的XPS分峰拟合常用于分析各种碳材料的化学组成和表面性质。
以石墨烯为例，通过XPS技术可以对其表面氧化物含量、功能化基团及杂质物质等进行定量分析。
此外，对于金属氧化物表面的碳污染问题，XPS分峰拟合也可以帮助研究人员了解污染源及其对催化性能的影响，为材料表面处理和改性提供参考。
在实验中，碳的XPS分峰拟合的关键在于拟合算法的选择和参数的优化。
一般来说，高斯函数适用于对称的XPS谱峰拟合，而洛伦兹函数适用于不对称的谱峰。
在选择拟合算法时，需要根据实际情况灵活应用，并通过比较分析拟合结果的质量来确定最佳的拟合方案。
此外，对于谱峰的重叠和背景信号的消除也是XPS分峰拟合的挑战之一，需要结合实验经验和专业知识来解决。
总之，碳的XPS分峰拟合是一项重要的表征技术，对于材料科学和表面物理领域具有广泛的应用前景。
xps拟合峰标准
XPS拟合峰的标准包括以下步骤：
1. 峰形选择：根据实际谱图的特点选择合适的峰形函数，如高斯函数、洛伦兹函数和泊松函数等。
2. 背景拟合：在进行峰拟合之前，需要进行背景拟合，将谱图中的背景信号剔除，以提高峰拟合的准确性。
背景拟合可以选择线性函数、二次函数或指数函数等进行拟合，具体选择应根据实验数据的特点而定。
3. 峰位选择：根据实验谱图中峰的形状和位置合理选择。
一般情况下，峰位应选择在实验峰的中间位置，避免选择在峰的边缘位置，以减小拟合误差。
4. 拟合范围：拟合范围应包括峰的整个轮廓，但避免包含其他峰的信息。
5. 拟合参数：拟合参数需要根据实验数据的特点进行调整，以保证拟合的准确性。
6. 峰的重叠问题：当样品中存在多个元素时，它们的的光电子峰可能会重叠在一起，导致峰的形状复杂。
这时可以采用多峰拟合的方法，将重叠的峰分解为多个峰，从而得到更准确的峰参数。
请注意，以上步骤只是一种常用的数据处理方法，具体操作时可能需要根据实际情况进行调整。
如果想要深入了解，可以请教物理或化学领域专业人士。
XPS谱峰拟合注意事项
XPS谱峰拟合注意事项XPS谱峰拟合注意事项（⼀）X光电⼦能谱分析的基本原理X光电⼦能谱分析的基本原理：⼀定能量的X光照射到样品表⾯，和待测物质发⽣作⽤，可以使待测物质原⼦中的电⼦脱离原⼦成为⾃由电⼦。
该过程可⽤下式表⽰:h n=E k+E b+E r （1）其中:h n：X光⼦的能量；E k：光电⼦的能量；E b：电⼦的结合能；E r：原⼦的反冲能量。
其中Er很⼩，可以忽略。
对于固体样品，计算结合能的参考点不是选真空中的静⽌电⼦，⽽是选⽤费⽶能级，由内层电⼦跃迁到费⽶能级消耗的能量为结合能E b，由费⽶能级进⼊真空成为⾃由电⼦所需的能量为功函数Φ，剩余的能量成为⾃由电⼦的动能E k，式（1）⼜可表⽰为：hn=Ek+Eb+Φ（2）Eb=hn-Ek-Φ（3）仪器材料的功函数Φ是⼀个定值，约为4eV，⼊射X光⼦能量已知，这样，如果测出电⼦的动能Ek，便可得到固体样品电⼦的结合能。
各种原⼦，分⼦的轨道电⼦结合能是⼀定的。
因此，通过对样品产⽣的光⼦能量的测定，就可以了解样品中元素的组成。
元素所处的化学环境不同，其结合能会有微⼩的差别，这种由化学环境不同引起的结合能的微⼩差别叫化学位移，由化学位移的⼤⼩可以确定元素所处的状态。
例如某元素失去电⼦成为正离⼦后，其结合能会增加，如果得到电⼦成为负离⼦，则结合能会降低。
因此，利⽤化学位移值可以分析元素的化合价和存在形式。
（⼆）电⼦能谱法的特点（1）可以分析除H和He以外的所有元素；可以直接测定来⾃样品单个能级光电发射电⼦的能量分布，且直接得到电⼦能级结构的信息。
（2）从能量范围看，如果把红外光谱提供的信息称之为“分⼦指纹”，那么电⼦能谱提供的信息可称作“原⼦指纹”。
它提供有关化学键⽅⾯的信息，即直接测量价层电⼦及内层电⼦轨道能级。
⽽相邻元素的同种能级的谱线相隔较远，相互⼲扰少，元素定性的标识性强。
（3）是⼀种⽆损分析。
（4）是⼀种⾼灵敏超微量表⾯分析技术。
分析所需试样约10-8g即可，绝对灵敏度⾼达10-18g，样品分析深度约2nm。
XPS数据拟合教程
PeakFit 简明教程1、双击Pekfit软件图标，出现图1，点击continue将会出现图2。
图1图22、由图2可以看出PeakFit 菜单栏及工具栏图3图3从左到右数第八个为Xi和Xf的横坐标范围选择，即你所要选择拟合数据；第十三个为添加基线；第十四个为拟合界面。
3、点击File →Import导入数据如图4和图5，选中所要拟合数据图6点击打开，将出现图7。
点击OK，将会出现图8。
图4图5图6 图7图84、添加基线点击Peakfit 菜单栏与工具栏中的（前面有提到），将会出现图9，点击绿色对勾将会出现图10。
图9图105、选取要拟合谱峰的X轴区间点击Peakfit 菜单栏与工具栏中的，将会出现图11；输入适当的Xi 和Xf 值，点击Apply New将出现图12，合适后点击OK，将出现图13。
注意如果所选择的不合适重复以上步骤，直到要拟合的谱峰两边均留出一定的水平距离，并让谱峰尽量居中。
图11图12图136、XPS数据拟合点击Peakfit菜单栏与工具栏中的，将会出现图14，图中左侧面板各参数可以参照图14的设定；删掉多余的拟合谱峰：例如，图14中的谱峰我们可以拟合成三个峰，要删除其他峰可以通过双击多余峰顶的小方格，注意要对准否则会加峰；另一种删除多余峰方法单击如图14红框所圈出的蓝峰，鼠标右键蓝色峰将出现图15对话框，点击倒数第2 个按钮删掉蓝色峰；还可以或者点击图14左侧黄色灯泡自动减少谱峰数目。
删好后将出现图16。
点击图16 左侧面板最后一排工具栏的第1 个按钮，将会出现图17中的对话框，点击Addl Adjust 应用拟合。
重复此步骤，直到如图18中的Iteration 不变为止（一般为7），拟合度r2达到0.99左右。
注意：点击图16左侧面板最后一排工具栏的第2 个按钮同样可以进行拟合；这种拟合可以直观的看到谱峰图形的拟合过程，但与上述步骤中的拟合相比速度较慢。
这两种拟合的最后结果完全一致。
xps中碳的分峰拟合,c=o
xps中碳的分峰拟合，c=o
在处理X射线光电子能谱（XPS）数据时，分峰拟合是一个常见的步骤，它用于解析复杂的峰形，并将它们分解成更基本的组成部分。
在XPS分析中，当碳（C）与其他元素形成化学键时，其结合能会发生变化，导致在谱图上出现多个峰。
对于C=O键，通常在XPS谱图上会出现一个对应于C 1s 电子的结合能峰。
这个峰的位置可能会受到分子中其他元素和键的影响，但通常位于约287-289 eV的范围内。
为了准确地确定C=O键的结合能，可以使用分峰拟合的方法。
分峰拟合的过程包括以下步骤：
1.选择合适的背景：首先，选择一个合适的背景扣除方法，以消除背景信号对峰形的影响。
2.选择峰形函数：选择一个或多个峰形函数（如高斯函数、洛伦兹函数或它们的组合）来拟合数据。
这些函数应该能够描述C=O键以及其他可能存在的化学键的峰形。
3.调整峰参数：调整每个峰的位置、宽度和高度，以便最好地拟合实验数据。
这通常是通过最小化拟合残差来实现的。
4.评估拟合质量：检查拟合结果的质量，确保它们与实验数据相符，并且没有引入不必要的复杂性。
5.解释结果：根据拟合得到的参数（如结合能、峰宽等），解释C=O键的化学环境和可能的相互作用。
请注意，分峰拟合是一个技术性和解释性都很强的过程，它可能受到多种因素的影响，包括仪器的分辨率、样品的复杂性以及分析者的经验。
因此，在进行分峰拟合时，建议参考相关文献和标准方法，以确保结果的准确性和可靠性。
(最新整理)xps峰拟合规则及测试条件
xps峰拟合规则及测试条件编辑整理：尊敬的读者朋友们：这里是精品文档编辑中心，本文档内容是由我和我的同事精心编辑整理后发布的，发布之前我们对文中内容进行仔细校对，但是难免会有疏漏的地方，但是任然希望（xps峰拟合规则及测试条件）的内容能够给您的工作和学习带来便利。
同时也真诚的希望收到您的建议和反馈，这将是我们进步的源泉，前进的动力。
本文可编辑可修改，如果觉得对您有帮助请收藏以便随时查阅，最后祝您生活愉快业绩进步，以下为xps峰拟合规则及测试条件的全部内容。
XPS Peak软件拟合数据的简单步骤：用excel调入外部数据打开数据文件。
1。
Excel中的数据转换成TXT格式从Excel中的数据只选择要进行拟合的数据点，copy至txt文本中,即BD两列数据，另存为＊.txt文件.2。
XPS Peak41中导入数据打开xps peak 41分峰软件，在XPS Peak Fit窗口中,从Data菜单中选择Import （ASCII），即可将转换好的txt文本导入，出现谱线3.扣背底在打开的Region 1窗口中，点击 Backgrond，选择Boundary的默认值，即不改变High BE和Low BE的位置，Type一般选择Shirley类型扣背底4.加峰选择Add Peak,选择合适的Peak Type(如s,p，d，f)，在Position处选择希望的峰位，需固定时点fix前的小方框,同时还可选半峰宽(FWHM）、峰面积等。
各项中的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系。
如W4f中同一价态的W4f7/2和W4f5/2的峰位间距可固定为2。
15eV，峰面积比可固定为4：3等，对于% Lorentzian-Gaussian选项中的fix先去掉对勾，点击Accept完成对该峰的设置。
点Delete Peak可去掉此峰。
再选择Add Peak可以增加新的峰，如此重复。
注意：% Lorentzian—Gaussian值最后固定为20％左右.加峰界面举例：对峰的限制constraints,峰1的峰位=峰0峰位+1。
碳的xps分峰拟合
碳的xps分峰拟合碳的XPS分峰拟合是一种常用的表面分析技术，通过对样品表面碳元素的X射线光电子能谱（X-ray photoelectron spectroscopy, XPS）进行分析，可以得到其化学状态和化学键信息。
碳元素是普遍存在于自然界中的元素，具有丰富的化学性质和应用价值。
因此，对碳元素进行XPS分析有着广泛的应用领域，包括材料科学、化学工程、生物科学等。
在进行碳的XPS分峰拟合时，首先需要准备好样品，并将其放入XPS仪器中进行实验。
在实验过程中，X射线将与样品表面相互作用，进而激发出光电子。
这些光电子的动能与碳元素的化学状态和化学键有关，通过分析光电子的动能谱线，可以获取碳元素的XPS光谱图。
然后，就可以进行XPS分峰拟合的过程，将不同化学状态的碳元素分离出来，从而得到具体的化学状态和含量信息。
在碳的XPS分峰拟合过程中，通常会出现一些挑战和困难。
首先，由于碳元素可能存在多种化学状态和化学键，导致XPS光谱中会出现多个峰值，需要准确地将这些峰值分离和拟合。
其次，样品表面可能存在各种杂质和干扰物，会对XPS分析结果产生影响，需要进行严格的数据处理和背景修正。
此外，XPS仪器的性能和参数设置也会对分峰拟合的结果产生影响，需要进行合理的优化和调整。
为了解决这些问题，研究者们开展了大量的实验和理论研究。
他们通过改进XPS仪器的性能和技术，优化样品处理和实验操作流程，提高了碳的XPS分峰拟合的准确性和可靠性。
同时，利用先进的数据处理和计算方法，可以更好地分析和解释XPS光谱数据，揭示碳元素的化学状态和化学键信息。
此外，还可以结合其他表面分析技术，如扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）等，对样品进行多方位、多尺度的表征，提高研究深度和广度。
在应用方面，碳的XPS分峰拟合在材料科学领域有着广泛的应用。
例如，研究人员可以通过XPS分析碳纳米材料的表面化学状态，了解其电子结构和催化性能，从而设计和优化新型催化剂。
XPS原始数据处理含分峰拟合
XPS 原始数据处理（含分峰拟合）1. XPS 高分辨谱可以拿到什么数据?般而言，大家在做高分辨谱的时候，是期望看到表面某些元素的电子结构信息,判断该元素的化学态以及所处的化学环境等等，进而说明样品的表面结构或其变化。
故此，XPS 的高分辨一定是有针对性的，所要测的元素也是大家很明了的。
在上一期我们说过，对于绝缘体或者半导体而言，具有荷电效应，因此除了大家 想要测的元素之外，一般测试的时候还需要测一个 C 的高分辨谱，用于荷电校正。
国内像XPS 这样的大型仪器一般都有专人进行测试，因此我们所得到的原始数据 般为xls 文件。
下图所示为PbQ 的XPS 原始数据，除了 Pb 0之外，还有C 的高 分辨谱以及各元素的半定量分析结果。
2. 荷电校正如何进行校正呢？上一期分享中我们已经说过，荷电校正一般将外来污染碳（284.8eV ）作为基准。
具体如何操作呢? 1）.计算荷电校正值。
45 67AxisEnergyEleaents-2016S C:\traLning\l iufu\ltLsc\E3peri*cnt\KonQ 650Um\Polnt <005\01s Scan. ¥GD131415 Einding Energy (£) 16 17 13药27J8293031毎一页代叢無一种元索的高分耕谱” peak table 给出的是半定量蜻果数扌亳•表*Counts / s545,oe55483. 7544.9855736.日 544. SE 55247.2 544,78 54363. 6 544,68 54709. 8 544, 58 55383.2 吕g 46 5431&. 3544, 38 54745.6 544.2054309. S 544.1855118.1 544. OB54741.7 543, 58544&3. 8 543. 88 53956.6 543. 7853763.4 543. ABj5R丘4曲7拿到XPS 高分辨谱，第步是要进行荷电校正，得到准确的结合能数据。
XPS拟合步骤
1.数据保存为txt格式，双击全谱图，即，然后点一下工具栏中的，即可。
2.校正：C峰的结合能是284.6ev，若样品和此数值相差太远的话，需要校正。
双击每个样品的C峰，在谱图上点一下，上部的工具栏就会变亮。
点击这个图标，就会出现如图所示的栏目，然后点击，就会显示出C的具体数据，然后看到，和284.6ev相差0.3ev，需要校正。
也可以通过直接将鼠标点在谱图中C峰的顶点，但此方法会有所偏差，这时出现一个数字，此值为测量值，出现在谱图的右上角，是284.89，如图所示。
这里我们以测量值284.9，标准值284.6为基准校准。
校准时，在谱图上点一下，上部的工具栏就会变亮。
点击这个图标，就会出现如图所示图标，这时点一下，会出现，在Measured里输入284.9，在True里输入284.6，然后点击。
C峰校准完成。
因为每一个元素都是从全谱里分出来的，所以C峰结合能移动多少值，其他元素也得移动多少值。
C峰中是在测量值的基础上减去0.3ev，那每一个元素也得在测量值的基础上减去0.3ev。
比如说同一个样品中的O峰，测量值是532.65ev（），这时真实值就是532.65-0.3ev=532.35ev，这时在校准表里直接输入测量值和真实值，点击即可。
3.数据的拟合：比如C峰：点击，，这时创建是C峰区域，可以拉动谱图两边的灰色区域来调整基线，如图左边，拉动后变成右边。
然后点击，再点击，点击一次，拟合一条曲线，在点击一次，拟合一条曲线。
拟合完成后，点击，，就可以啦。
如果您不需要的拟合线，可以选中B栏或者C栏，，点击，就把拟合线删除了。
4.元素含量的定量：双击，在谱图上点一下，上部的工具栏就会变亮。
点击这个图标，就会出现如图所示图标，点击，然后点击所需元素，点击，就会出现C、O含量比。
这时特别注意要调整每一个元素的基线以及灵敏度因子（R.S.F），（上网查），我常用的灵敏度因子，C（0.25），O（0.66），S（0.54），N（0.42），Br（0.83）。
XPS峰拟合规则
XPS Peak软件拟合数据的简单步骤:1.XPS Peak41中导入数据打开xps peak 41分峰软件,在XPS Peak Fit窗口中,从Data菜单中选择Import (ASCII),即可将转换好的txt文本导入,出现谱线2.扣背底在打开的Region 1窗口中，点击 Backgrond，选择Boundary的默认值，即不改变High BE和Low BE的位置，Type一般选择Shirley类型扣背底3.加峰选择Add Peak，选择合适的Peak Type(如s,p,d,f),在Position处选择希望的峰位，需固定时点fix前的小方框,同时还可选半峰宽（FWHM）、峰面积等。
各项中的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系。
如W4f中同一价态的W4f7/2和W4f5/2的峰位间距可固定为2.15eV，峰面积比可固定为4:3等，对于% Lorentzian-Gaussian选项中的fix先去掉对勾，点击Accept完成对该峰的设置。
点Delete Peak可去掉此峰。
再选择Add Peak可以增加新的峰，如此重复。
注意：% Lorentzian-Gaussian值最后固定为20%左右。
加峰界面举例：对峰的限制constraints，峰1的峰位=峰0峰位+1.54.拟合选好所需拟合峰的个数及大致参数后，点XPS Peak Processing中的Optimise All进行拟合，观察拟合后总峰与原始峰的重合情况，如不好，可多次点Optimise All合适图谱5.参数查看拟合完成后，分别点XPS Peak Processing窗口总的Region Peaks下方的0、1、2等，可查看每个峰的参数，此时XPS峰中变红的曲线为被选中的峰。
如对拟合结果不满意，可改变这些峰的参数，然后再点击Optimise All6.XPS存图点Save XPS可将谱图存为.xps格式的图，下回要打开时点Open XPS可以打开这副图，并可对图进行编辑7.XPS图的数据输出a.点击Data中的Export（spetrum），可将拟合好的数据存为.dat格式的ASCII 文件（该文件可用记事本打开），然后再Origin中导入该ASCII文件，可得到一个包含多列的数据表，这里需要注意的是每列的抬头名称出错（如.dat文件中的Raw Intensity分开到两列中作为两列的抬头，即Raw、Intensity），这时需要根据做出的图与.xps原始谱图比较，更改每列的名称，即可得到正确的谱图b.点击Data中的Export（Peak Parameters），即将各峰参数导出为.par格式的文件（也可用记事本打开），通过峰面积可计算某元素在不同峰位的化学态的含量比c.点击Data中的Export to clipboard，即将图和数据都复制到剪贴板上，打开文档（如Word），点粘贴，即把图和数据粘贴过去，不过该图很不清晰d.点击Data中的Print with peak parameters，即可打印带各峰参数的谱图峰拟合中的一些基本原则及参考资料:1.元素结合能数据可参考/xps/selEnergyType.aspx2.谱峰的曲线拟合应考虑：合理的化学与物理意义；合理的半高宽（一般不大于2.7eV，氧化物的半高宽应大于单质的半高宽）；合理的L/G比（XPSPeak 41分峰软件中的% Lorentzian-Gaussian）为20%左右；对双峰还应考虑两个峰的合理间距、强度比等（详见下面的3，4项）。
xps拟合原则
xps拟合原则摘要：1.XPS 拟合原则的定义2.XPS 拟合原则的目的3.XPS 拟合原则的步骤4.XPS 拟合原则的应用实例5.XPS 拟合原则的优点和局限性正文：XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy，X 射线光电子能谱）拟合原则是一种用于分析材料表面化学组成和电子状态的分析方法。
通过测量从材料表面发射出的光电子能谱，可以获得有关材料表面的详细信息，这对于材料科学、化学和电子技术等领域的研究具有重要意义。
XPS 拟合原则的主要目的是确定材料表面的化学组成和电子状态，以便更好地理解材料的性能和行为。
为了实现这一目标，XPS 拟合原则需要经历以下几个步骤：首先，进行X 射线光电子能谱的测量。
这一步骤通常使用XPS 光谱仪完成，通过扫描X 射线束照射材料表面，测量从材料表面发射出的光电子能谱。
接下来，进行数据处理。
根据测量得到的光电子能谱，需要进行一系列的数据处理，例如峰值寻找、峰形拟合等，以便提取有关材料表面的有用信息。
然后，进行化学组成和电子状态的分析。
根据数据处理的结果，可以推断出材料表面的化学组成和电子状态。
这一分析过程通常涉及对拟合结果进行解析，以便获得有关材料表面的准确信息。
最后，进行结果报告。
在完成化学组成和电子状态的分析后，需要将分析结果整理成报告，以便向其他研究人员传达分析结果。
XPS 拟合原则在许多领域都有广泛的应用，例如材料科学、化学、电子技术等。
通过使用XPS 拟合原则，研究人员可以更好地理解材料的性能和行为，从而为材料的设计、制备和应用提供重要指导。
尽管XPS 拟合原则具有许多优点，例如高精度、高灵敏度等，但它仍然存在一些局限性。
例如，对于某些具有复杂化学组成和电子状态的材料，XPS 拟合原则可能无法提供准确的分析结果。
XPS谱高斯峰拟合
软件具体的使用步骤就不说了，这个在里都有，这里主要是对如何进行反复的拟合得到所要的曲线进行说明（仅个人经验哦），
首先添加两个峰，分别输入峰值并固定后拟合，软件自动得上图，图中蓝色为原始曲线，较粗的黑线是拟合后的结果，并且它是有两条细曲线叠加而成的，下面就是要通过设置软件反复使用高斯峰进行拟合，知道得到满意结果。
进行设置时，峰值一定要选固定，这个一定记住，然后设置别的选项，具体如下：
反复拟合时，要不断的变化其他三个选项（这个用过软件的人都知道的），设置的时候要记住一点，不能全部固定也不能全部不固定，比如你要是想面积变化，那么方法是先设置好你要的面积然后选上面积固定选项，同时半峰宽不要固定也不要改动，接着进行拟合，根据拟合的结果在按照这个原多次后就可以得到想要的结果，不过确实需要点耐心。
关于XPS谱的分峰网上有一些讲解，主要的软件是XPSpesk41，当时在网上看了一些教程，大体差不多，主要是告诉你基本的软件使用步骤，但是具体如何利用软件拟合出满意的结果却没有提到，只是说反复的拟合，那么如何反复呢，软件如何设置才可以呢。因为要写一个关于PU表面湿润性的论文，不得不进行分峰拟合，在分峰N次后逐渐发现规律，原来反复分峰是这么分的啊。首先看下C1s和O1s的分峰结果
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XPS峰拟合步骤及规则
(2010-05-26 10:47:46)
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分类：穿越博士
杂谈
1.原始数据的处理:Ａ，与C1s比较标准化数据:将excel表格中的C1s数据的最高点对应的结合能与标准C1s结合能（一般为284.6）比较，算差值+（-）α；将需拟合元素（如Ir）的结合能-（+）α，得标准化数据。
注：若得到的C1s不平滑，先怀疑是否测试过程出现问题。
若无测试问题，数据可信，将C1s进行拟合得到一个最高点（可用XPSPEAK, origin等）。
拟合元素结合能-（+）α最好拷贝到另个excel中处理，得标准化数据。
Ｂ，转化成TXT:将标准化数据拷贝到TXT文本中（两列就足够了）
2.下载安装XPS拟合处理软件.hk/%7Esurface/XPSPEAK/
3.数据输入:运行XPSPEAK41，点data>Import(ASCII)>*.txt (转换好的标准化数据)，得谱线。
4.背景扣除:点Background，调high和low BE的值，一般用Shirley背景扣除。
注：基线不能高于需拟合的曲线。
5.加峰:A,查需拟合元素标准结合能值/xps/；Search Menu＞Retrieve Data for a Selected Element＞Binding Energy＞元素；查需拟合元素分裂能Doublet Separation＞元素；B,加峰选Add Peak，选合适的Peak Type(如s,p,d,f),Position处选希望的峰位（参考所查标准结合能值），需固定时点fix前的小方框，否则所有Fix选项都不要选。
各项中的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系，如Ir4f中同一价态的Ir4f7/2和Ir4f5/2的峰位间距可固定为2.98eV，峰面积比可固定为4:3等。
点击Optimise Peak对峰进行优化,最后点击Accept完成对该峰的设置。
点Delete Peak可去掉此峰。
再选择Add Peak可以增加新的峰，如此重复。
注：1)对p、d、f的次能级强度比是一定的，p3/2:p1/2=2:1；d5/2:d3/2=3:2，f7/2:f5/2=4:3；2)对有能级分裂的能级（p、d、f），分裂的两个轨道间的距离也基本上是固定的，如同一价态的Ir4f7/2和Ir4f5/2之间的距离为2.98eV左右。
6.优化:分别点Peak Processing窗口总的Region Peaks下方的0、1、2等，可查看每个峰的参数，此时XPS峰中变红的曲线为被选中的峰；观察拟合后总峰与原始峰的重合情况，如对拟合不满，可重新改变参数，再Optimise All。
7.保存和输出:A,点Save XPS可存为.xps的图，点Open XPS可打开这副图，并可编辑;B,点
Data>Export（spetrum），可将拟合好的数据存为.dat（可用记事本打开），在Excel里把*.dat 打开，在文本向导里，把空格√选中，点下一步，完成，即可复制到Origin，处理;C,点Export （Peak Parameters），即将各峰参数存为.par格式的文件，通过峰面积可计算某元素在不同峰位的化学态的含量比。