可控硅的检测方法.doc
单向可控硅与双向可控硅结构电原理图及测试方法
单向可控硅与双向可控硅结构电原理图及测试方法可控硅的检测1.单向可控硅的检测万用表选用电阻R×1档，用红黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑笔接的引脚为控制极G，红笔接的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
此时将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。
此时万用表指针应不动。
用短接线瞬间短接阳极A和控制极G，此时万用表指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
2.双向可控硅的检测用万用表电阻R×1档，用红黑两表笔分别测任意两引脚正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。
若一组为数十欧姆时，该组红黑表笔所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。
确定A、G极后，再仔细测量A1、G极间正反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。
将黑表笔接已确定了的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约为10欧姆左右。
随后断开A2、G极短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。
互换红黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。
同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负向的触发电压，A1、A2间阻值也是10欧姆左右。
随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持10欧姆左右。
符合以上规律，说明被测双向可控硅管未损坏且三个引脚极性判断正确。
检测较大功率可控硅管是地，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
双向可控硅（TRIAC）在控制交流电源控制领域的运用非常广泛，如我们的日光灯调光电路、交流电机转速控制电路等都主要是利用双向可控硅可以双向触发导通的特点来控制交流供电电源的导通相位角，从而达到控制供电电流的大小[1]。
双向可控硅检测
双向可控硅检测用万用表即可判断双向可控硅的好坏，但具体参数测不出来。
用万用表测量的方法如下。
T2极的确定:用万用表R*1档或R*100档，分别测量各管脚的反向电阻，其中若测得两管脚的正反向电阻都很小(约100欧姆左右)，即为T1和G极，而剩下的一脚为T2极。
T1和G极的区分:将这两极其中任意一极假设为T1极而另一极假设为G极，万用表设置为R*1档，用两表笔(不分正负极)分别接触已确定的T2极和假设的T1极，并将接触T1的表笔同时接触假设的G极，在保证不断开假设的T1极的情况下，断开假设的G极，万用表仍显示导通状态。
将表笔对换，用同样的方法进行测量，如果万用表仍然显示同样的结果，那么所假设的T1极和G极是正确的。
如果在保证不断开假设的T1极的情况下，断开假设的G极，万用表显示断开状态，说明假设的T1和G极相反了，从新假设再进行测量，结果一定正确。
如果测量不出上述结果，说明该双向可控硅是坏的。
这种方法虽然不能测出具体参数，但判断是否可用还是可行的。
双向触发二极管是与双向晶闸管同时问世的，常用来触发双向晶闸管。
双向触发二极管的结构、符号、等效电路及伏安特性如图1所示。
它是三层、对称性质的二端半导体器件，等效于基极开路、发射极与集电极对称的NPN晶体管。
其正、反向伏安特性完全对称。
当器件两端的电压小于正向转折电Ubo时，呈高阻态;当 U>Ubo 时进入负阻区。
同样，当|U|超过反向转折电压|Ubr| 时，管子也能进入负阻区。
转折电压的对称性用?Ub表示Ub=Ubo-|Ubr|一般要求 ?Ub<2U。
双向触发二极管的耐压值 Ubo 大致分三个等级:20——60V，100——150 V，200——250 V 。
在实际应用中，除根据电路的要求选取适当的转折电压 Ubo 外，还应选择转折电流 Ibo 小、转折电压偏差?Ub小的双向触发二极管。
双向触发二极管除用来触发双向晶闸管外，还常用在过压保护、定时、移相等电路，图2就是由双向触发二极管和双向晶闸管组成的过压保护电路。
晶闸管(可控硅)检测方法大全
晶闸管(可控硅)检测方法大全可控硅（SCR）国际通用名称为Thyyistoy，中文简称晶闸管。
它能在高电压、大电流条件下工作，具有耐压高、容量大、体积小等优点。
它是大功率开关型半导体器件，广泛应用在电力、电子线路中。
可控硅的特性。
可控硅分单向可控硅、双向可控硅。
单向可控硅有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚。
双向可控硅有第一阳极A1（T1），第二阳极A2（T2）、控制极G三个引出脚。
单向可控硅的检测。
万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
此时将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。
此时万用表指针应不动。
用短线瞬间短接阳极A和控制极G，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
双向可控硅的检测。
用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。
若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。
确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。
将黑表笔接已确定的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时立创商城万用表指针不应发生偏转，阻值为无穷大。
再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约10欧姆左右。
随后断开A2、G间短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。
互换红、黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。
同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负的触发电压，A1、A2间的阻值也是10欧姆左右。
随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持在10欧姆左右。
各种晶闸管(可控硅)的检测方法
各种晶闸管(可控硅)的检测方法1．单向晶闸管的检测(1)判别各电极：根据普通晶闸管的构造可知，其门极G与阴极K极之间为一个PN结，具有单向导电特性，而阳极A 与门极之间有两个反极性串联的PN结。
因此，通过用万用表的R×100或R×1 k Q档测量普通晶闸管各引脚之间的电阻值，即能确定三个电极。
具体方法是：将万用表黑表笔任接晶闸管某一极，红表笔依次去触碰另外两个电极。
假设测量结果有一次阻值为几千欧姆(kΩ)，而另一次阻值为几百欧姆(Ω)，那么可判定黑表笔接的是门极G。
在阻值为几百欧姆的测量中，红表笔接的是阴极K，而在阻值为几千欧姆的那次测量中，红表笔接的是阳极A，假设两次测出的阻值均很大，那么说明黑表笔接的不是门极G，应用同样方法改测其他电极，直到找出三个电极为止。
也可以测任两脚之间的正、反向电阻，假设正、反向电阻均接近无穷大，那么两极即为阳极A和阴极K，而另一脚即为门极G。
普通晶闸管也可以根据其封装形式来判断出各电极。
例如：螺栓形普通晶闸管的螺栓一端为阳极A，较细的引线端为门极G，较粗的引线端为阴极K。
平板形普通晶闸管的引出线端为门极G，平面端为阳极A，另一端为阴极K。
金属壳封装(T0—3)的普通晶闸管，其外壳为阳极A。
塑封(T0—220)的普通晶闸管的中间引脚为阳极A，且多与自带散热片相连。
图1为几种普通晶闸管的引脚排列。
(2)判断其好坏：用万用表R×1 kΩ档测量普通晶闸管阳极A与阴极K之间的正、反向电阻，正常时均应为无穷大(∞)；假设测得A、K之间的正、反向电阻值为零或阻值均较小，那么说明晶闸管内部击穿短路或漏电。
测量门极G与阴极K之间的正、反向电阻值，正常时应有类似二极管的正、反向电阻值(实际测量结果要较普通二极管的正、反向电阻值小一些)，即正向电阻值较小(小于2 kΩ)，反向电阻值较大(大于80 kΩ)。
假设两次测量的电阻值均很大或均很小，那么说明该晶闸管G、K极之间开路或短路。
可控硅好坏如何测量
可控硅好坏如何测量 Pleasure Group Office【T985AB-B866SYT-B182C-BS682T-STT18】一、可控硅的特性可控硅分单向可控硅、双向可控硅。
单向可控硅有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚。
双向可控硅有第一阳极A1（T1），第二阳极A2（T2）、控制极G三个引出脚。
只有当单向可控硅阳极A与阴极K之间加有正向电压，同时控制极G与阴极间加上所需的正向触发电压时，方可被触发导通。
此时A、K间呈低阻导通状态，阳极 A与阴极K间压降约1V。
单向可控硅导通后，控制器G即使失去触发电压，只要阳极A和阴极K之间仍保持正向电压，单向可控硅继续处于低阻导通状态。
只有把阳极A电压拆除或阳极A、阴极K间电压极性发生改变（交流过零）时，单向可控硅才由低阻导通状态转换为高阻截止状态。
单向可控硅一旦截止，即使阳极A和阴极K间又重新加上正向电压，仍需在控制极G 和阴极K间有重新加上正向触发电压方可导通。
单向可控硅的导通与截止状态相当于开关的闭合与断开状态，用它可制成无触点开关。
双向可控硅第一阳极A1与第二阳极A2间，无论所加电压极性是正向还是反向，只要控制极G和第一阳极 A1间加有正负极性不同的触发电压，就可触发导通呈低阻状态。
此时A1、A2间压降也约为1V。
双向可控硅一旦导通，即使失去触发电压，也能继续保持导通状态。
只有当第一阳极A1、第二阳极A2电流减小，小于维持电流或A1、A2间当电压极性改变且没有触发电压时，双向可控硅才截断，此时只有重新加触发电压方可导通。
二、可控硅的管脚判别晶闸管管脚的判别可用下述方法：先用万用表R*1K挡测量三脚之间的阻值，阻值小的两脚分别为控制极和阴极，所剩的一脚为阳极。
再将万用表置于R*10K挡，用手指捏住阳极和另一脚，且不让两脚接触，黑表笔接阳极，红表笔接剩下的一脚，如表针向右摆动，说明红表笔所接为阴极，不摆动则为控制极。
三、单向可控硅的检测万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
单双向可控硅的检测方法大全
单双向可控硅的检测方法大全单双向可控硅（SCR）是一种重要的电子器件，广泛应用于电力电子、电机控制、照明设备等领域。
为了保证SCR的正常工作和高可靠性，需要对其进行可靠性检测和性能评估。
下面是一些常用的单双向可控硅的检测方法的详细介绍。
1.静态参数测试静态参数测试是最常用的SCR可靠性检测方法之一、它主要通过测量器件在不同电压、电流条件下的静态特性来评估SCR的性能和可靠性。
包括测试器件的最大耐压、最大耐流、静态压降和开启电流等参数。
通过这些参数的测量，可以确定SCR的额定工作电压和电流。
2.动态参数测试动态参数测试是另一种常用的SCR检测方法，通过对器件进行脉冲电流和脉冲电压的测试，可以评估SCR的开启和关断性能。
这些测试可以检测SCR的触发特性、触发电流和触发电压等参数。
另外，还可以通过测量SCR的开启时间和关断时间来评估其响应速度和可靠性。
3.温度测试温度是影响SCR性能和可靠性的重要因素之一、温度测试可以通过使用热敏电阻或红外热像仪等设备对SCR进行非接触式测量，也可以使用热电偶或热冲击试验仪等设备进行接触式测量。
通过测量器件在高温和低温条件下的温度特性变化，可以评估SCR的温度稳定性和性能可靠性。
4.电磁干扰测试电磁干扰是SCR正常工作和可靠性的重要影响因素之一、电磁干扰测试可以通过使用相应的测试设备，如电磁干扰发生器、频谱分析仪等对SCR进行测量，评估其受电磁干扰的抗能力和抗干扰能力。
这些测试可以提供SCR在电磁环境下的工作可靠性和稳定性信息。
5.绝缘性能测试绝缘性能是SCR的重要指标之一，直接关系到器件的安全性和可靠性。
绝缘性能测试可以通过使用绝缘测试仪、绝缘电阻计等设备进行。
测试时将SCR的芯片与外界做绝缘处理，利用高电压施加在芯片上，通过测量绝缘电阻来评估SCR的绝缘性能。
6.寿命测试寿命测试是评估SCR可靠性的重要手段之一、通过对SCR进行长时间和大电流的负载测试，可以评估器件的使用寿命和可靠性。
单向可控硅的检测方法
单向可控硅的检测方法1. 什么是单向可控硅？说到单向可控硅，哎呀，这个名字听上去就有点高大上，实际上它就是一个电子元件，主要用来控制电流流动的。
就像我们日常生活中的水龙头，开了水就流，关了水就停。
单向可控硅可以让电流“听话”，在需要的时候让它流动，不需要的时候就给它关掉。
嘿，听起来是不是有点像调戏电流？不过它可不是随便调戏，得靠一些检测方法来确保它的健康状况。
1.1 检测的重要性别小看这个检测，假如单向可控硅出了问题，那可是会影响到整个电路的工作。
就像你家冰箱坏了，夏天冰淇淋要化了，那可真是“悲剧”了。
所以定期检查一下，让它保持“身体健康”，是非常重要的。
1.2 检测工具为了检测单向可控硅，我们需要一些工具。
最基本的就是万用表。
就像你去看医生，医生得有听诊器，我们的“医生”就是万用表了。
它能测量电压、电流和电阻，帮我们判断单向可控硅是不是在“罢工”。
另外，还可以用示波器，嘿，这玩意儿就像一位艺术家，能让我们看到电流的波动形状，非常神奇！2. 检测步骤好啦，现在咱们来说说具体的检测步骤。
别担心，步骤不复杂，就像做饭一样，跟着流程来就好。
2.1 断电首先，最最重要的一点，就是得确保设备断电。
想象一下，如果你在厨房炒菜，结果开着煤气，那可真是个大麻烦。
咱们可不想让电流像疯了一样乱窜。
断电后，等一会儿，确保所有的电量都消散了，再动手。
2.2 外观检查然后，得先观察一下单向可控硅的外观。
有没有烧焦的痕迹？有没有裂纹？就像看一件艺术品，表面光滑，才是好货。
记得用手轻轻摸摸，如果觉得温度有点高，那就有问题了，快查查原因。
2.3 测试导通性接下来，拿起万用表，调到二极管测试档。
把红表笔接在阳极，黑表笔接在阴极，看看显示的数值。
正常情况下，应该会有一个小的正向压降，大概在0.6到0.7伏之间。
如果万用表上什么都不显示，那就有点问题了，可能是“失业”状态，得赶紧换掉。
2.4 检查门极别忘了门极的检测！同样用万用表，看看门极和阳极之间的电阻值。
单向可控硅检测方法
单向可控硅检测方法嘿，咱今儿个就来聊聊单向可控硅检测方法。
这单向可控硅啊，就像是电路里的一个小精灵，要是它出了啥问题，那可就麻烦啦！检测单向可控硅，首先咱得有个万用表吧。
把万用表打到电阻档，就可以开始和这个小精灵打交道啦。
先用表笔去测它的阳极和阴极，这时候电阻应该是无穷大。
你想想看，要是电阻不大，那岂不是乱套啦！就好像门没关好，啥都能随便进进出出一样。
然后呢，再用表笔去触碰控制极和阴极。
嘿，这时候你会发现电阻一下子变小了。
哇塞，这就像是打开了一道神奇的门，让电流可以顺畅地通过啦。
不过，这还没完呢！接下来咱还得检测它的触发能力。
把单向可控硅接入电路中，给阳极加上正向电压，再给控制极一个合适的触发信号。
要是这时候单向可控硅能正常导通，那就说明它的触发能力没问题呀。
你说这单向可控硅检测是不是挺有意思的？就跟咱平时检查东西一样，得仔细，得认真。
要是稍微马虎一点，说不定就放过了一个小毛病，那以后可就有大麻烦啦！咱再想想啊，要是没有这些检测方法，那电器出了问题都不知道咋回事，那不就抓瞎啦？所以说啊，学会这些检测方法，就像是有了一把万能钥匙，能打开电路故障的大门呢！检测单向可控硅，就像是医生给病人看病一样。
医生得通过各种检查来判断病人的病情，咱也得通过这些方法来判断单向可控硅是不是健康的呀。
你说是不是这个理儿？而且哦，这检测的时候可不能着急，得一步一步慢慢来。
就像走楼梯一样，得一阶一阶地走，不然可容易摔跟头呢！咱生活中好多电器都离不开单向可控硅呢，电视、电脑、空调……要是它出了问题，那这些电器可就没法好好工作啦。
所以啊，学会检测它，那可真是太重要啦！你可别小看这些检测方法，虽然看起来简单，但是作用可大着呢！就像一把小小的钥匙，能打开大大的锁一样。
好啦，关于单向可控硅检测方法就说到这儿啦。
希望大家都能掌握这些方法，让咱的电器都能好好工作，给咱的生活带来便利呀！。
可控硅的检测方法
可控硅的检测方法可控硅（SCR）的检测方法可以根据不同的应用场景和目标参数进行选择和设计。
下面我将介绍几种常见的可控硅检测方法。
1. 直流参数检测：可控硅通常应用于直流应用中，因此直流参数的检测是一种常见的方法。
直流参数检测主要包括静态特性和动态特性两方面。
静态特性检测主要包括元件的电压电流特性和阻抗特性。
可以通过连接合适的电压源和电流源，分别测量可控硅的电压和电流特性，并根据测量结果绘制出特性曲线。
阻抗特性可以通过测量电压和电流的相位差来得到。
动态特性检测主要包括可控硅的关断时间和导通时间等参数的测量。
可以通过输入一个方波信号来观察可控硅的导通和关断的时间，从而得到可控硅的动态特性。
2. 交流参数检测：有些应用场景下，可控硅用于控制交流电路中的功率。
这时候可以采用交流参数检测的方法来测试可控硅的性能。
交流参数检测主要包括可控硅的整流效率、导通角和关断角等参数的测量。
可以采用有源功率因数表等仪器，通过测量可控硅工作时的功率和电流，计算得到可控硅的整流效率。
导通角和关断角可以通过在可控硅上施加一个交流电压，然后测量可控硅导通和关断的时间来获得。
3. 温度检测：可控硅通常工作在高功率环境下，因此温度的检测非常重要。
过高的温度可能导致可控硅的性能下降或损坏。
温度检测可以采用非接触式温度传感器或接触式温度传感器。
非接触式温度传感器可以通过红外线或激光等方式测量可控硅的表面温度。
接触式温度传感器可以通过与可控硅直接接触来测量温度。
4. 故障检测：可控硅的故障检测主要包括断线、短路和漏电等问题的检测。
断线和短路的检测可以通过测量可控硅的电阻来得到。
电阻值过大或过小都可能意味着有问题。
漏电的检测可以通过测量输入和输出之间的电压差来得到。
如果有电压差存在，则说明可能存在漏电问题。
总结起来，可控硅的检测方法主要包括直流参数检测、交流参数检测、温度检测和故障检测等。
根据不同的应用场景和目标参数，可以选择适合的检测方法来评估可控硅的性能和可靠性。
可控硅的测量方法
1. 可控硅的特性。
可控硅分单向可控硅、双向可控硅。
单向可控硅有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚。
双向可控硅有第一阳极A1（T1），第二阳极A2（T2）、控制极G三个引出脚。
只有当单向可控硅阳极A与阴极K之间加有正向电压，同时控制极G与阴极间加上所需的正向触发电压时，方可被触发导通。
此时A、K间呈低阻导通状态，阳极A与阴极K间压降约1V。
单向可控硅导通后，控制器G即使失去触发电压，只要阳极A和阴极K之间仍保持正向电压，单向可控硅继续处于低阻导通状态。
只有把阳极A电压拆除或阳极A、阴极K间电压极性发生改变（交流过零）时，单向可控硅才由低阻导通状态转换为高阻截止状态。
单向可控硅一旦截止，即使阳极A和阴极K间又重新加上正向电压，仍需在控制极G和阴极K间有重新加上正向触发电压方可导通。
单向可控硅的导通与截止状态相当于开关的闭合与断开状态，用它可制成无触点开关。
双向可控硅第一阳极A1与第二阳极A2间，无论所加电压极性是正向还是反向，只要控制极G和第一阳极A1间加有正负极性不同的触发电压，就可触发导通呈低阻状态。
此时A1、A2间压降也约为1V。
双向可控硅一旦导通，即使失去触发电压，也能继续保持导通状态。
只有当第一阳极A1、第二阳极A2电流减小，小于维持电流或A1、A2间当电压极性改变且没有触发电压时，双向可控硅才截断，此时只有重新加触发电压方可导通。
2. 单向可控硅的检测。
万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
此时将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。
此时万用表指针应不动。
用短线瞬间短接阳极A和控制极G，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
3. 双向可控硅的检测。
用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。
可控硅的阴极与阳极和触发极检测详细介绍
可控硅的阴极与阳极和触发极检测详细介绍可控硅（SCR）是一种半导体器件，也称为双向晶闸管。
它可用于控制交流电流的导通和截止，同时具有双向导电能力。
一个SCR由三个极，即阴极、阳极和触发极组成。
在正常的操作中，阴极为负极，阳极为正极，而触发极则用于控制SCR的导通和截止。
阴极是可控硅的负极，椭圆形或圆形的区域通常位于可控硅的上方。
阴极主要用于控制电流的流动，当控制电压施加在触发极上时，使阴极电压从负向正偏转，可以激活可控硅，使其导通。
当控制电压去除时，阴极回到负向偏置，可控硅截止。
阳极是可控硅的正极，在正常操作中，阳极持续接收正向电流。
当可控硅通过触发极激活时，正向电流通过可控硅从阳极流向阴极。
触发极是可控硅的第三极。
当触发极施加一个电压脉冲时，它控制可控硅的导通。
触发极的电压脉冲通常由外部电路提供。
触发极的电压脉冲的幅值和宽度可以根据需要进行调整，以控制可控硅的导通和截止。
为了检测和确定可控硅的阴极、阳极和触发极，可以使用以下方法：1.静态测试：通过使用万用表或数字电压表等工具，可以测量阴极、阳极和触发极之间的电压。
在正常操作中，阴极和阳极之间应该有一个正向电压，通常为几个伏特。
然而，在触发极未激活的情况下，阴极和阳极之间的电压应该是反向的。
这种测试可以用于检查可控硅是否正常。
2.动态测试：通过将触发极连接到外部电路中，可以进行动态测试，以触发可控硅的导通和截止。
在这种测试中，使用示波器监测触发极的电压脉冲，并观察可控硅是否按预期进行导通和截止。
这种测试可以帮助检测触发极是否正常工作。
3.替换测试：如果静态和动态测试均无法确定问题所在，可以尝试将可控硅替换为另一个已知正常的可控硅。
通过这种测试方法，可以确认是否存在故障的可控硅问题。
总之，可控硅的阴极、阳极和触发极是器件的核心部分。
通过静态测试、动态测试和替换测试，可以检测和确定这些极是否正常工作，从而确保可控硅器件的正常操作。
可控硅好坏简易判断方法
可控硅好坏简易判断方法可控硅是一种具有开关功能的半导体器件，广泛应用于电子电路中。
它的好坏直接影响到电路的性能和稳定性。
那么，如何判断可控硅的好坏呢？本文将介绍一些简易的判断方法。
我们可以通过外观来初步判断可控硅的好坏。
正常的可控硅外观应该无明显的损坏、变形或烧焦现象。
若外观存在明显的损坏，如裂缝、破损等，很可能已经失效，需要更换。
可以使用万用表来测试可控硅的导通性。
首先，将万用表的测试笔分别连接到可控硅的控制极和主极上，然后将测试笔的选择档位调到电阻档位。
如果万用表显示的电阻值为无穷大，即开路状态，那么可控硅很可能已经损坏。
而如果显示的电阻值接近于零，即短路状态，也说明可控硅存在问题。
可以通过观察可控硅的发热情况来初步判断其好坏。
正常工作的可控硅在通电过程中会有一定的发热现象，但不应过热。
如果可控硅在工作过程中过热，可能是由于负载过大、环境温度过高或可控硅本身存在问题等原因。
这时需要进行进一步检查和调试。
可以通过可控硅的正常工作状态来判断其好坏。
可控硅在正常工作时应能够准确地控制电路的导通与断开。
可以通过输入控制信号来观察可控硅的工作情况。
如果可控硅无法正常地开启或关闭，或者控制信号无法准确地控制可控硅的导通与断开，很可能是可控硅出现了问题。
可以使用专业的测试设备来进一步判断可控硅的好坏。
例如，使用特定的测试仪器可以对可控硅进行静态和动态特性测试，来检测其各项参数是否符合规格要求。
这种方法需要一定的专业知识和设备，适用于对可控硅的详细评估和性能分析。
通过外观检查、导通性测试、发热情况观察、工作状态检查以及专业测试等方法，我们可以初步判断可控硅的好坏。
当然，对于一些特殊场合和要求更高的应用，可能需要更加专业的检测手段和设备，以确保可控硅的性能和可靠性。
因此，在实际应用中，我们应根据具体情况选择合适的方法和工具来判断可控硅的好坏，以保证电路的正常运行和稳定性。
97a6可控硅测量方法
97a6可控硅测量方法摘要：一、可控硅概述二、可控硅测量方法1.静态参数测量2.动态特性测量3.温度特性测量4.故障诊断与保护三、测量注意事项四、应用案例解析正文：一、可控硅概述可控硅（Silicon Controlled Rectifier，简称SCR）是一种四层三端的半导体器件，具有电压控制的开关特性。
它主要用于交流电路中的整流、交直流转换、逆变等，是电力电子设备的核心元件。
可控硅的开通需要在一定的电压条件下，这个电压称为触发电压。
可控硅的开通和关断是通过控制触发电路的延时来实现的。
二、可控硅测量方法1.静态参数测量静态参数测量主要包括可控硅的额定电压、额定电流、通态电阻、漏电流等。
测量方法如下：a.接通电路，使可控硅工作在静态状态下；b.使用万用表或示波器测量相关参数。
2.动态特性测量动态特性测量主要包括可控硅的开通、关断时间，以及电压、电流之间的相位差。
测量方法如下：a.接通电路，使可控硅工作在动态状态下；b.使用示波器、信号发生器等仪器测量相关参数。
3.温度特性测量温度特性测量主要是检测可控硅在不同温度下的性能变化。
测量方法如下：a.将可控硅放置在不同的温度环境中；b.使用万用表或示波器测量相关参数；c.分析数据，得出温度与性能之间的关系。
4.故障诊断与保护a.观察可控硅表面是否有损伤、变色等现象；b.检测可控硅的静态和动态参数，判断是否存在异常；c.如有异常，采取相应的保护措施，如降额使用、更换可控硅等。
三、测量注意事项1.在测量过程中，确保可控硅工作在正常状态下；2.测量仪器应具有良好的准确度和稳定性；3.注意测量环境的温度、湿度等因素，以免影响测量结果；4.测量结束后，对可控硅进行绝缘处理，防止意外损坏。
四、应用案例解析本文暂不详细介绍应用案例，后续将针对具体应用场景，如电源系统、电机控制等领域，进行分析与解析。
总结：可控硅测量方法涵盖了静态参数、动态特性、温度特性和故障诊断等方面。
单向可控硅与双向可控硅结构电原理图及测试方法
单向可控硅与双向可控硅结构电原理图及测试方法可控硅的检测1.单向可控硅的检测万用表选用电阻R×1档，用红黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑笔接的引脚为控制极G，红笔接的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
此时将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。
此时万用表指针应不动。
用短接线瞬间短接阳极A和控制极G，此时万用表指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
2.双向可控硅的检测用万用表电阻R×1档，用红黑两表笔分别测任意两引脚正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。
若一组为数十欧姆时，该组红黑表笔所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。
确定A、G极后，再仔细测量A1、G极间正反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。
将黑表笔接已确定了的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约为10欧姆左右。
随后断开A2、G极短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。
互换红黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。
同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负向的触发电压，A1、A2间阻值也是10欧姆左右。
随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持10欧姆左右。
符合以上规律，说明被测双向可控硅管未损坏且三个引脚极性判断正确。
检测较大功率可控硅管是地，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
双向可控硅（TRIAC）在控制交流电源控制领域的运用非常广泛，如我们的日光灯调光电路、交流电机转速控制电路等都主要是利用双向可控硅可以双向触发导通的特点来控制交流供电电源的导通相位角，从而达到控制供电电流的大小[1]。
如何测量可控硅的好坏
其他回答
一、若为单向可控硅：1、用万用表的两只表笔分别连接可控硅的任意两脚，当交换前后均无指示的情况下，稍微扭动与第三只管脚相邻的表笔，使其与第三脚有轻微的接触后迅速断离，若此时连接的两脚间有指示，断定此可控硅可用；若仍保持断路状态，可断定此可控硅报废。2、若不论连接任何两脚，都处于导通状态也可断定报废。二、若为双向可控硅：1、进行一、1、步骤后，交换一下表笔，重复触碰第三只管脚，按一、1、作出判断。2、同一、2、。3、双·1···向可控硅一般双向同时损坏，偶有单向损坏者，但已不能用在双向开关电路中了。
2. 双向可控硅的检测。
用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。将黑表笔接已确定的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时万用表指针不应发生偏转，阻值为无穷大。再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约10欧姆左右。随后断开A2、G间短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。互换红、黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负的触发电压，A1、A2间的阻值也是10欧姆左右。随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持在10欧姆左右。符合以上规律，说明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极性判断正确。
检测较大功率可控硅时，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
用数字万用表测可控硅的好坏
用数字万用表测可控硅的好坏一、单向可控硅的引脚区分对可控硅的引脚区分，有的可从外形封装加以判别，如外壳就为阳极，阴极引线比控制极引线长。
从外形无法判断的可控硅，可用万用表R×100或R×1K挡，测量可控硅任意两管脚间的正反向电阻，当万用表指示低阻值（几百欧至几千欧的范围）时，黑表笔所接的是控制极G，红表笔所接的是阴极C，余下的一只管脚为阳极A。
二、单向可控硅的性能检测可控硅质量好坏的判别可以从四个方面进行。
第一是三个PN结应完好；第二是当阴极与阳极间电压反向连接时能够阻断，不导通；第三是当控制极开路时，阳极与阴极间的电压正向连接时也不导通；第四是给控制极加上正向电流，给阴极与阳极加正向电压时，可控硅应当导通，把控制极电流去掉，仍处于导通状态。
用万用表的欧姆挡测量可控硅的极间电阻，就可对前三个方面的好坏进行判断。
具体方法是：用R×1k或R×10k挡测阴极与阳极之间的正反向电阻（控制极不接电压），此两个阻值均应很大。
电阻值越大，表明正反向漏电电流愈小。
如果测得的阻值很低，或近于无穷大，说明可控硅已经击穿短路或已经开路，此可控硅不能使用了。
用R×1k或R×10k挡测阳极与控制极之间的电阻，正反向测量阻值均应几百千欧以上,若电阻值很小表明可控硅击穿短路。
用R×1k或R×100挡，测控制极和阴极之间的PN结的正反向电阻在几千欧左右，如出现正向阻值接近于零值或为无穷大，表明控制极与阴极之间的PN 结已经损坏。
反向阻值应很大，但不能为无穷大。
正常情况是反向阻值明显大于正向阻值。
万用表选电阻R×1挡，将黑表笔接阳极，红表笔仍接阴极，此时万用表指针应不动。
红表笔接阴极不动，黑表笔在不脱开阳极的同时用表笔尖去瞬间短接控制极，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极接黑表笔，阴极接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
可控硅的检测方法
可控硅的检测方法
可控硅（或称为双向可控硅、双向晶闸管）是一种电子元件，用于控制交流电流的流动。
为了确保可控硅的正常工作和可靠性，常需要进行以下几种常用的检测方法：
1. 静态电压检测：使用数字万用表或示波器测量可控硅上的正向和反向电压，以确保其在正常工作范围内。
正向电压通常应小于可控硅的额定电压。
2. 静态电流检测：使用数字电流表或示波器检测可控硅的正向和反向电流，以确保其在正常工作范围内。
正向电流应小于可控硅的额定电流。
3. 触发电流检测：通过施加一个正向触发电流来测试可控硅是否能正常触发。
触发电流应小于可控硅的额定触发电流。
4. 动态特性检测：使用示波器观察可控硅在不同触发角和负载条件下的电压和电流波形，以确定其动态响应和工作状态。
5. 温度测试：通过红外测温仪或接触式温度计测量可控硅的温度，以确保其不会过热并影响性能。
这些检测方法可以帮助判断可控硅的工作状态和健康程度，以便于及时进行维修或更换。
然而，在进行任何检测之前，应确保在实验室、车间或其他适当的环境
条件下进行，以避免可能的危险或损坏。
用万用表检测双向可控硅
用万用表检测双向可控硅双向可控硅是一种使用较广泛的硅晶体闸流管。
利用双向可控硅可以实现交流无触点控制，具有无火花、动作快、寿命长、可靠性高等优点，较多的使用在电机调速、调光、调温、调压及各种电器过载自动保护电路中。
双向可控硅由五层半导体材料、三个电极构成，三个电极分别为第一阳极（又称主电极）T1、第二阳极（又称主端子）T2和门极G，其特点是触发后可双向导通。
目前双向可控硅的型号、规格繁多，其外型及引脚排列随生产厂家的不同而不同，一般情况下不易直接判断出其管脚及好坏，我们可用万用表对双向可控硅进行简单检测。
一、电极的确定首先，把万用表置于R×10Ω档，测双向可控硅能相互导通的两个电极，这两个电极对第三个电极都不导通，则第三个电极为第一阳极T1。
其次，把万用表置于R×1Ω档，测余下两个电极的正反向电阻，取其中电阻小的一次，黑表笔所接的是第二阳极T2，红表笔所接的是门极G。
二、触发性能的检测双向可控硅有四种触发方式，即T1+G+、T1+G-、T1-G+、T1-G-，其中T1-G+触发方式灵敏度较低，所需门极触发功率较大，实际使用时只选其余三种组合。
而T1+G+、T1-G-触发形式的可靠性较高，较常使用，检测触发性能时可只检测这两种形式。
用万用表检测双向可控硅的触发性能，可按下列步骤进行：把万用表置于R×1Ω档，先检查T1+G+形式的触发能力。
用万用表黑表棒与T1极接触，红表棒与T2极接触，万用表指针应停在无穷大处。
保持黑表棒与T1极接触、红表棒与T2极接触，用万用表黑表棒同时接触门极，则指针应有较大幅度的偏转；再松开黑表棒与门极的接触，指针读数不变，说明T1+G+触发性能良好。
然后检查T1-G-形式的触发能力：黑表棒与T2极接触，红表棒与T1极接触，万用表指针应停在无穷大处。
保持黑表棒与T2极接触、红表棒与T1极接触，用红表棒接触门极，指针应有较大幅度的偏转，再松开红表棒与门极的接触，指针读数不变，说明T1-G-触发性能良好。
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可控硅(晶闸管)的检测方法2009-04-22 10:28:47 作者：佚名来源：电子之都浏览次数：77 网友评论1 条可控硅（SCR）国际通用名称为Thyyistoy，中文简称晶闸管。
它能在高电压、大电流条件下工作，具有耐压高、容量大、体积小等优点，它是大功率开关型半导体器件，广泛应用在电力、电子线路中。
1. 可控硅的特性。
可控硅分单向可控硅、双向可控硅。
单向可控硅有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚。
双向可控硅有第一阳极A1（T1），第二阳极A2（T2）、控制极G三个引出脚。
只有当单向可控硅阳极A与阴极K之间加有正向电压，同时控制极G与阴极间加上所需的正向触发电压时，方可被触发导通。
此时A、K间呈低阻导通状态，阳极A与阴极K间压降约1V。
单向可控硅导通后，控制器G即使失去触发电压，只要阳极A和阴极K之间仍保持正向电压，单向可控硅继续处于低阻导通状态。
只有把阳极A电压拆除或阳极A、阴极K 间电压极性发生改变（交流过零）时，单向可控硅才由低阻导通状态转换为高阻截止状态。
单向可控硅一旦截止，即使阳极A和阴极K间又重新加上正向电压，仍需在控制极G和阴极K间有重新加上正向触发电压方可导通。
单向可控硅的导通与截止状态相当于开关的闭合与断开状态，用它可制成无触点开关。
双向可控硅第一阳极A1与第二阳极A2间，无论所加电压极性是正向还是反向，只要控制极G和第一阳极A1间加有正负极性不同的触发电压，就可触发导通呈低阻状态。
此时A1、A2间压降也约为1V。
双向可控硅一旦导通，即使失去触发电压，也能继续保持导通状态。
只有当第一阳极A1、第二阳极A2电流减小，小于维持电流或A1、A2间当电压极性改变且没有触发电压时，双向可控硅才截断，此时只有重新加触发电压方可导通。
2. 单向可控硅的检测。
万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
此时将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。
此时万用表指针应不动。
用短线瞬间短接阳极A和控制极G，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
3. 双向可控硅的检测。
用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。
若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。
确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。
将黑表笔接已确定的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时万用表指针不应发生偏转，阻值为无穷大。
再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约10欧姆左右。
随后断开A2、G间短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。
互换红、黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。
同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负的触发电压，A1、A 2间的阻值也是10欧姆左右。
随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持在10欧姆左右。
符合以上规律，说明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极性判断正确。
检测较大功率可控硅时，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
晶闸管(可控硅)的管脚判别晶闸管管脚的判别可用下述方法：先用万用表R*1K挡测量三脚之间的阻值，阻值小的两脚分别为控制极和阴极，所剩的一脚为阳极。
再将万用表置于R*10K挡，用手指捏住阳极和另一脚，且不让两脚接触，黑表笔接阳极，红表笔接剩下的一脚，如表针向右摆动，说明红表笔所接为阴极，不摆动则为控制极。
NTC热敏电阻的测量方法一)测量标称电阻值Rt用万用表测量NTC热敏电阻的方法与测量普通固定电阻的方法相同，即按NTC热敏电阻的标称阻值选择合适的电阻挡可直接测出Rt的实际值。
但因NTC热敏电阻对温度很敏感，故测试时应注意以下几点：(1)由标称阻值Rt的定义可知，此值是生产厂家在环境温度为25℃时所测得的。
所以用万用表测量Rt时，亦应在环境温度接近25℃时进行，以保证测试的可信度。
(2)测量功率不得超过规定值，以免电流热效应引起测量误差。
例如，MF12-1型NTC热敏电阻，其额定功率为1W，测量功率P1＝0.2mW。
假定标称电阻值Rt为1kΩ，则测试电流：显然使用R×lk挡比较合适，该挡满度电流Im通常为几十至一百几十微安。
例如多用的500型万用表R×1k挡的Im＝150uA，与141uA很接近。
(3)注意正确操作。
测试时，不要用于捏住热敏电阻体，以防止人体温度对测试产生影响。
(二)估测温度系数αt先在室温t1下测得电阻值Rt1；再用电烙铁作热源，靠近热敏电阻Rt1，测出电阻值Rt 2，同时用温度计测出此时热敏电阻RT表面的平均温度t2。
将所测得的结果输入下式：αt≈(Rt2-Rt1)/[Rt1(t2-t1)]NTC热敏电阻的αt＜0。
注意事项：1、给热敏电阻加热时，宜用20W左右的小功率电烙铁，且烙铁头不要直接去接触热敏电阻或靠的太近，以防损坏热敏电阻。
2、若测得的αt＞0，则表明该热敏电阻不是NTC而是FTC。
二)美的空调故障代码三)Ｅ０参数错误Ｅ１室内外机通信故障Ｅ２过零检测出错Ｅ３风机速度失控Ｅ４温度保险丝断保护Ｅ５室外温度传感器故障Ｅ６室内温度传感器故障Ｐ０模块保护Ｐ１电压过高或过低保护Ｐ２压缩机顶部温度保护KFR-26GW/I1BPY KFR-32GW/I1BPY运行时LED的显示㈠、正常1、工作灯正常开机时（工作灯）LED4 亮正常关机时（工作灯）LED4 灭2、化霜灯化霜或防冷风功能有效时（化霜灯）LED1 亮化霜或防冷风功能无效时（化霜灯）LED1 灭3、定时灯定时功能有效时（定时灯）LED2 亮定时功能无效时（定时灯）LED2 灭4、换气灯连续换气运行时（连续换气灯）LED3、LED5 亮连续换气停止时（连续换气灯）LED3、LED5 灭自动换气运行时（自动换气灯）LED6、LED7 亮自动换气停止时（自动换气灯）LED6、LED7 灭㈡室内机故障显示功能LED4 工作灯LED2 化霜灯LED1 定时灯LED3、LED5 连续换气灯LED2化霜LED1定时LED3、5、6、7连续、自动换气LED4工作LED 状态X X O ☆模块保护(PRMOD PRMOD1)O X X ☆压缩机顶部温度保护（PRCOM）X O X ☆室外温度传感器开路或短路（PROUTD）X O O ☆电压过高或过低保护（PRV AC）O O O ☆室内房间温度、蒸发器温度传感器开路或短路（PREVP 、PRROM）O O ☆☆风机速度失控（SPABF）☆X O ☆过零检测出错（ACBAD）X X ☆☆EEPROM参数错误指示☆O X ☆温度保险丝断保护（FUSED）☆O ☆☆机型不匹配（TYPER）☆☆☆☆室内机和室外机通信保护（PRTRN）O （亮）X （熄）☆（闪）(三)、室外机故障自我诊断显示只设L4故障指示灯：L4 运行/待机指示灯运行：长亮待机：0.5HZ闪烁故障：1HZ闪烁16.2对于KFR-26(32)GW/I1BPY，室内设置4个LED。
分别为工作灯(LED1)、化霜灯(LED5)、定时灯(LED6)、自动灯（LED3）。
㈠、正常运行时LED的显示1、工作灯正常开机时（工作灯）LED1 亮正常关机时（工作灯）LED1 灭2、化霜灯化霜或防冷风功能有效时（化霜灯）LED5 亮化霜或防冷风功能无效时（化霜灯）LED5 灭3、定时灯定时功能有效时（定时灯）LED6 亮定时功能无效时（定时灯）LED6 灭4、自动灯自动功能有效时（自动灯）LED3 亮自动功能无效时（自动灯）LED3 灭（二）：室内机故障显示功能LED4 工作灯LED2 化霜灯LED1 定时灯LED3、LED5 连续换气灯LED2化霜LED1定时LED3自动LED4工作LED 状态X X O ☆模块保护(PRMOD PRMOD1)O X X ☆压缩机顶部温度保护（PRCOM）X O X ☆室外温度传感器开路或短路（PROUTD）X O O ☆电压过高或过低保护（PRV AC）O O O ☆室内房间温度、蒸发器温度传感器开路或短路（PREVP 、PRROM）O O ☆☆风机速度失控（SPABF）☆X O ☆过零检测出错（ACBAD）☆O X ☆温度保险丝断保护（FUSED）X X ☆☆EEPROM参数错误指示☆O ☆☆机型不匹配（TYPER）☆☆☆☆室内机和室外机通信保护（PRTRN）O （亮）X （熄）☆（闪）（三）、室外机故障自我诊断显示只设L4故障指示灯：L4 运行/待机指示灯运行：长亮待机：0.5HZ闪烁故障：1HZ闪烁机型的系统参数:1、工作频率：F0、F1、F2、F3、F4、F5、F6、F7、F8、F9、F102、室内风机转速：高风档的转速参数SPEEDH 。
中风档的转速参数SPEEDM 。
低风档的转速参数SPEEDL 。
微风档的转速参数SPEEDS 。
3、欠压、过压保护值准入电压V1准出电压限频F1电压V2《电压<V3限频F2电压V3《电压<V4限频F4电压V4《电压<V14、符号表示（1）：上电时步进马达的回转角度参数ANGLOFF 。
（2）：制热模式下步进马达的打开角度参数ANGLHEAT 。
（3）：其他模式下步进马达的打开角度参数ANGLCOOL 。
（4）：持续3秒钟关压缩机的电流保护参数I3SEC 。
（5）：持续5分钟关压缩机的电流保护参数I5MIN 。
（6）：室外风机关或室内风机转为低风挡的电流保护参数IFAN。
（7）：电流保护恢复参数IRESTORE 。
（8）：化霜时的电流恢复参数IDEFROST 。
（9）制热模式高风档的转速参数HSPEEDH 。
（10）：制热模式中风档的转速参数HSPEEDM 。
（11）：制热模式低风档的转速参数HSPEEDL 。
（12）：制热模式微风档的转速参数HSPEEDS 。
（13）：制冷模式高风档的转速参数CSPEEDH（14）：制冷模式中风档的转速参数CSPEEDM（15）：制冷模式低风档的转速参数CSPEEDL（16）：制冷模式微风档的转速参数CSPEEDS（17）：防冷风的风机关转微风的温度参数（TE1）。
（18）：防冷风的微风转设定转速的温度参数（TE2）。
（19）：防冷风的设定转速转微风的温度参数（TE3）。
（20）：防冷风的微风转为风机关的温度参数（TE4）。