发射光谱分析

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原子发射光谱分析法

原子发射光谱分析法
原子发射光谱仪通常由三部分构成: 光源、分光、检测
二、火焰光度计
利用火焰作为激发光源,仪器装置简单,稳定性高。该仪器通常采用滤光片、光电池检测器等元件,价格低廉,又称火焰光度计。
常用于碱金属、钙等谱线简单的几种元素的测定,在硅酸盐、血浆等样品的分析中应用较多。对钠、钾测定困难,仪器的选择性差。
缺点: 弧光不稳,再现性差; 不适合定量分析。
2. 低压交流电弧
工作电压:110~220 V。 采用高频引燃装置点燃电弧,在每一交流半周时引燃一次,保持电弧不灭;
工作原理
(1)接通电源,由变压器B1升压至2.5~3kV,电容器C1充电;达到一定值时,放电盘G1击穿;G1-C1-L1构成振荡回路,产生高频振荡; (2)振荡电压经B2的次级线圈升压到10kV,通过电容器C2将电极间隙G的空气击穿,产生高频振荡放电;
二、原子发射光谱的产生
在正常状态下,元素处于基态,元素在受到热(火焰)或电(电火花)激发时,由基态跃迁到激发态,返回到基态时,发射出特征光谱(线状光谱);
特征辐射
基态元素M
激发态M*
热能、电能
E
原子的共振线与离子的电离线
原子由第一激发态到基态的跃迁: 第一共振线,最易发生,能量最小; 原子获得足够的能量(电离能)产生电离,失去一个电子,一次电离。(二次电离) 离子外层电子跃迁时发射的谱线称为离子线,每条离子线都具有相应的激发电位,其大小与电离电位大小无关。 原子谱线表:I 表示原子发射的谱线; II 表示一次电离离子发射的谱线; III表示二次电离离子发射的谱线; Mg:I 285.21 nm ;II 280.27 nm;
1. 直流电弧 直流电作为激发能源,电压150 ~380V,电流5~ 30A; 两支石墨电极,试样放置在一支电极(下电极)的凹槽内; 使分析间隙的两电极接触或用导体接触两电极,通电,电极尖端被烧热,点燃电弧,再使电极相距4 ~ 6mm

原子发射光谱分析基本原理

原子发射光谱分析基本原理

组成
• 光源 • 样品室 • 分光器 • 检测器
工作原理
光源激发样品,样品产生特定光谱线,经过分光器 分离并检测到光强度,然后分析得到样品组成。
光源的选择和调节
1 选择
根据需要的波长范围和光强度选择适合的光源类型,如灯丝和镧系灯。
2 调节
根据样品的需求和分析要求,调节光源的电流和功率,以及光源和样品的距离。
原子发射光谱分析基本原 理
原子发射光谱分析是一种基于原子的能级跃迁和光谱特征的分析方法。本文 将介绍其原理、仪器、样品处理方法、应用范围以及未来的改进方向。
什么是原子发射光谱分析
原子发射光谱分析是一种通过检测原子激发态和基态之间的能级跃迁所产生 的特定光谱线来分析样品组成的方法。
原子的能级和电子结构简介
原子的能级是电子在原子内的特定能量状态,电子结构是描述电子在不同能 级上分布的方式。
原子光谱的种类及区别
原子发射光谱
分析样品中出射的光的波长和强度,用于定性和定量分析。
原子吸收光谱
测量样品吸收入射光的波长和强度,用于定量分析。
原子荧光光谱
测量样品返回的荧光光的波长和强度,用于元素分析。
光谱仪的组成和工作原理
标准品的制备和选择
标准品的制备要求纯度高且与待测样品相似,制备方法包括化学纯化、物理 纯化和稀释。选择标准品要考虑其适用范围和可信度。
样品的处理方法
1 前处理
2 样品溶解
去除样品中的杂质和干扰物。
将样品溶解在适当的溶剂中进行测量和分析,得出样品中各元素的含量和相对比例。

原子发射光谱分析基本原理

原子发射光谱分析基本原理

原子发射光谱分析基本原理原子发射光谱分析是一种常用的分析技术,用于确定物质中不同元素的存在和浓度。

基本原理是通过激发原子使其跃迁到高能级,然后原子从高能级退回到低能级时会发射出一系列特定的频率光线,这些光线就被称为发射光谱。

本文将详细介绍原子发射光谱分析的基本原理。

当原子处于高能级时,由于能量不稳定,原子会自发地退回到低能级。

在这个过程中,原子会发射出一定频率的光线。

这是因为原子的能级结构是离散的,每个能级对应不同的能量差和光频率。

各元素拥有独特的能级结构,因此每个元素会发射出特定的频率光线,形成一种独特的光谱指纹。

发射光谱的特点是谱线的亮度与元素浓度成正比。

因此,通过测量谱线的强度可以确定样品中该元素的浓度。

发射光谱分析可以在可见光、紫外光和红外光范围内进行。

原子发射光谱分析有两种主要的测量方式:线源测量和离散源测量。

线源测量是指使用等离子体火焰或火花放电等产生连续谱的激发源。

这种方法适用于多元素分析和测量大样品数量。

离散源测量是指使用电弧放电或激光脉冲等产生谱线的激发源。

这种方法适用于单元素测量和对样品数量要求不高的分析。

然而,原子发射光谱分析也存在一些局限性。

由于发射光谱需要样品激发和发射,对样品形式和形状要求较高。

此外,元素之间的相互作用和基体效应也会对分析结果产生影响,需要进行校正和修正。

总结起来,原子发射光谱分析是一种常用的化学分析技术,适用于多元素同时分析和不同浓度的测量。

通过测量发射光谱的强度可以确定元素的浓度。

然而,这项技术也有一定的局限性,需要对样品的形态和基体进行处理和修正。

尽管如此,原子发射光谱分析仍然是一种重要的化学分析方法,广泛应用于环境监测、食品检测和地质勘探等领域。

原子发射光谱分析

原子发射光谱分析
01
02
01
半定量
01
I = KNX
02
其中:
03
I:光谱强度
04
K:常数
05
N:原子浓度
06
X:接近1的指数
定量分析基础
全谱直读电感耦合等离子发射光谱仪
工作模式: 通过一次测定,同时记录样品中待测元素的所有发射谱线,不管这些谱线是在紫外区,还是在可见区,也不论这些待测元素是高浓度或是低浓度,多能同时完成测定。 性能特点: 1、由于具有同时记录待测元素的所有发射谱线的功能,所以,可以通过选择合适的谱线,有效避免光谱干扰; 2、同一元素,具有很多分析谱线,不同元素具有不同的灵敏度,高灵敏度谱线检测低含量的样品,低灵敏度谱线检测高浓度样品,所以有效地拓宽了分析的浓度范围; 3、分析速度极快; 4、同时记录样品的背景信号,有效扣除背景影响,大大改善分析精度。
当蠕动泵管变得松弛,无须拉长就可挂在两边的卡槽中时,就需要更换蠕动泵管了
8
清洁冷锥接口/石英帽
9
ICP-AES维护
注意:
C
当分析有机样品时,应经常检查中间层和注射管上是否有积碳。
F
随着炬管使用时间的增加,炬管最终会破碎 这时必须更换之 为保证分析性能,必须保持炬管清洁,经常检查和清洗炬管。
B
炬管上所形成的沉积物可能影响仪器的正常操作
一种半定量的方法是对许多元素进行一次曲线校正,并将标准曲线储存起来。然后在需要进行半定量时,直接采用原来的曲线对样品进行测试。结果会因仪器的飘移而产生误差或因样品基体的不同而产生误差,但对于半定量来说,可以接受。
半定量是对样品中一些元素的浓度进行大致估算。与定量分析相比较,半定量希望通过较少地努力来大致得到许多元素的浓度。

原子发射光谱分析法

原子发射光谱分析法
原子发射光谱分析法
2023-11-06
目录
• 原子发射光谱分析法概述 • 原子发射光谱仪 • 分析方法与样品处理 • 原子发射光谱法的应用 • 原子发射光谱法的优缺点 • 研究成果与应用实例
01
原子发射光谱分析法概述
定义与原理
定义
原子发射光谱分析法是一种基于原子发射光谱学的方法,通过对样品中原子 或离子的特征光谱进行分析,实现对其成分和含量的测定。
原理
当样品被加热或受到能量激发时,原子会从基态跃迁到激发态,并释放出特 征光谱。通过对这些光谱进行分析,可以确定样品中元素的种类和含量。
发展历程与重要性
发展历程
原子发射光谱分析法自19世纪末发展至今,经历了从经典光谱分析到现代光谱仪 器分析的演进过程。
重要性
原子发射光谱分析法在科学研究和工业生产中具有广泛的应用价值,为材料科学 、环境科学、生命科学等领域提供了重要的分析手段。
03
该方法广泛应用于地质、环保、生物医学等领域,用于研究复杂样品中元素的 含量、分布和化学形态。
05
原子发射光谱法的优缺点
优点
高灵敏度
原子发射光谱法可以检测到低浓度的元素 ,具有很高的灵敏度。
无需样品处理
原子发射光谱法不需要对样品进行复杂的 处理,可以直接进行分析。
快速分析
该方法可以实现多元素同时分析,大大缩 短了分析时间。
发和激发。
光谱仪的构造
包括入射狭缝、准直镜、光栅 、聚焦镜和ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ射狭缝。
光谱仪工作原理
样品被激发后,原子会产生不 同波长的光谱,通过光栅分光 后形成光谱,再经过聚焦镜聚 焦到出射狭缝,最后由检测器
进行检测。
光谱仪的分类与特点

光谱分析方法的分类

光谱分析方法的分类

光谱分析方法的分类光谱分析是一种通过测量物质在不同波长或频率下的光的能量强度分布来获取物质组成和性质信息的分析方法。

根据测量光谱的方式和光源的特点,光谱分析方法可以分为许多不同的分类。

以下是几种常见的光谱分析方法分类。

一、根据测量方式的分类1.发射光谱分析:通过测量物质在激发状态下发射的光谱来研究物质的组成和性质。

常见的方法有火焰光谱法、原子发射光谱法和荧光光谱法等。

2.吸收光谱分析:通过测量物质在一些特定波长或频率下吸收光的能量来研究物质的组成和浓度等参数。

常见的方法有紫外-可见吸收光谱法、红外吸收光谱法和拉曼光谱法等。

3.散射光谱分析:通过测量物质对入射光的散射来研究物质的组成和粒径分布等。

常见的方法有动态光散射法、静态光散射法和拉曼散射光谱法等。

4.荧光光谱分析:通过测量物质在受激发光照射下产生的荧光光谱来研究物质的组成和性质。

常用的方法有荧光光谱法、磷光光谱法和激光诱导荧光光谱法等。

5.旋光光谱分析:通过测量物质对具有旋光性质的圆偏振入射光的旋光角度变化来研究物质的旋光性质和构型等。

常见的方法有圆二色谱法和倍频法等。

二、根据光源的特点的分类1.连续光谱分析:使用连续光源(如白炽灯、卤素灯等)产生的连续谱进行分析。

此类光源能够提供从紫外到红外的较宽波长范围的光谱信息。

2.离散光谱分析:使用离散光源(如氢灯、氘灯等)产生的离散谱进行分析。

这些光源能够提供特定波长的光,适用于特定的分析要求。

3.激光光谱分析:使用激光光源进行分析。

激光光谱具有方向性、单色性、相干性等特点,适用于高精度和高灵敏度的分析。

三、根据定性和定量分析的分类1.定性分析:通过测量物质的光谱特征来确定物质的成分和特性,但不能得到精确的浓度信息。

常用的方法有比色法、比较法和判别分析法等。

2.定量分析:通过测量物质光谱的强度和浓度之间的定量关系来获取物质浓度的信息。

常用的方法有比浊法、标准曲线法和内标法等。

总结起来,光谱分析方法根据测量方式、光源特点和定性定量分析的要求等方面进行分类。

发射光谱分析

发射光谱分析

发射光谱分析班级:物理112 :白新源学号:1112110228一.光谱定性分析【实验背景】光谱〔spectrum〕是复色光经过色散系统〔如棱镜、光栅〕分光后,被色散开的单色光按波长〔或频率〕大小而依次排列的图案,全称为光学频谱。

光谱的发现可追溯至牛顿时期,1666年,牛顿通过棱镜将太阳光分解为红、橙、黄、绿、蓝、靛、紫七种颜色,并把这种现象叫做光谱。

1802年,英国科学家握拉斯顿( Wollaston ) 改良了实验条件,重做了牛顿实验,发现太阳光不是一道完美无缺的彩虹,而是被一些黑线所割裂。

继而1814年, 德国光学专家, 物理学家夫琅和费( Fruahnofer ),光栅的发明者,他继续研究了太阳光谱,他发现了太阳光谱中有700多条黑线, 并对这些黑线的相对位置进行了排列。

后人为了纪念他,把太阳光谱的黑线叫做夫琅和费线。

而后展开了对光谱的研究。

需要特别注意的是,光谱历史上发生的最重要事件之一,1859年10月, 克希霍夫〔Kirchhoff〕自和本生〔Bunsen〕,首先将分光镜用于化学分析,他们细致研究了金属在蒸发到火焰中或放电中就会发出同样的光谱。

他们指出在某矿水中的光谱中发现两条不知来源的蓝线,他们宣布发现了新的碱金属元素,这就是铯。

一年以后,他们又研究了锂云母矿,根据出现了两根红色谱线而发现了新元素铷。

光谱分析法自此被开创。

这一时期,通过光谱分析, 相继发现了许多新元素。

【实验目的】1.学习摄谱所使用的仪器2. 了解光谱定性分析的一般方法【实验仪器】低压交流电弧发生器, NCⅡ-28中型石英梭镜摄谱仪【实验原理】原子通常处于基态,但当受到外部激励时,可从基态跃迁到能量较高的激发态。

激发态十分不稳定,在非常短的时间内便会向低能级跃迁,同时辐射光子,由于各元素原子都有其特定的能级结构,故辐射出的光子包含不同频率,这些光经光谱仪分光形成按波长排列的光谱,通过识别这些特征光谱,可确定样品中所含元素。

光学分析-原子发射光谱

光学分析-原子发射光谱

特别介绍 光电直读光谱仪:包括多道固定狭缝式(光量计)和单道扫描式两种。
多元素同时检测
01
ICP 光电直读光谱仪示意图
全谱直读光谱仪
中阶梯光栅 + 棱镜
二维光谱图
定性定量分析方法 一、基本概念 1. 灵敏线:激发电位较低的谱线,常为原子线(电弧线),或离子线(火花线)。与实验条件有关。 2. 共振线:从激发态到基态的跃迁所产生的谱线。由最低能级的激发态到基态的跃迁称为第一共振线。一般也是最灵敏线。与元素的激发程度难易有关。 3. 最后线:或称持久线。当待测物含量逐渐减小时,谱线数目亦相应减少,当c接近0时所观察到的谱线,是理论上的灵敏线或第一共振线。 4. 分析线:在进行元素的定性或定量分析时,根据测定的含量范围的实验条件,对每一元素可选一条或几条最后线作为测量的分析线。
四、干扰来源及其消除方法 1. 背景干扰 由连续光谱或分子带光谱等所产生的谱线强度(或黑度)叠加于线状光谱上所引起的干扰。 也是噪音干扰的一种。 背景来源: a)分子辐射:在光源中,试样本身或试样与空气作用产生的分子氧化物或氮化物等分子发射的带状光谱,如CN,SiO2,AlO等。 b)连续辐射:光源中炽热的固体物质发射的光谱,如电极头、弧焰中的颗粒物等。 c)谱线扩散:分析线周围有其它元素的强扩散线(宽谱线),如高含量的Zn、Sb、Pb、Bi、Mg 和 Al 等。 d)轫致辐射:电子通过荷电粒子库仑场时被加速或减速引起的连续辐射。 e)复合辐射:电子与离子复合引起能量的变化所产生的连续辐射。 f)杂散光:仪器光学系统对一些辐射的散射,并通过非预定途径直接进入检测器的辐射。
二、定性分析 由于各元素的原子结构不同,在光源激发下,试样中各元素都发射各自的特征光谱(谱线有多有少),通过识别元素的一条或数条特征谱线的波长,可以进行元素定性分析。 光谱定性分析常采用摄谱法(相板为检测器)和光电直读光谱法。现以摄谱法为例。 1. 铁光谱比较法

原子发射光谱的分析基本原理

原子发射光谱的分析基本原理

应用案例和实验结果
元素分析
使用原子发射光谱技术对不同 样品中的元素进行分析,例如 水、土壤和金属合金。
环境监测
质量控制
检测大气中的重金属和污染物, 以实时监测环境质量。
在制药和食品行业中使用原子 发射光谱技术进行产品质量控 制和合规性检查。
选择合适的光源和谱线
1 光源选择
2 谱线选择
3 光谱范围
根据要分析的元素选择 适合的光标元素的能级结 构,选择具有明确且强 度适中的谱线。
确定测量的光谱范围, 以确保目标元素的谱线 能够完全包含在内。
标定和校准
为了获得准确的分析结果,必须进行标定和校准。标定使用已知浓度的标准溶液,而校准使用一系列浓 度不同的标准溶液,以建立浓度和信号强度之间的关系。
光源和谱线选择
2
选择合适的光源和谱线,以使目标元
素能够发射明确的光谱线。
3
数据分析
4
对测量得到的光谱数据进行分析和解 释,以得出样品中元素的含量和分布。
样品制备
准备样品并将其转化为气态、溶液或 固态形式,以便于进一步的处理和测 量。
光谱测量
使用光谱仪器测量样品发射的光谱, 并记录光谱线的波长和强度。
检测大气、水体和土壤中的污染物,以保护环境和人类健康。
食品安全
检测食品中的重金属和其他有害物质,确保食品的安全和质量。
原子发射光谱的基本原理
1 激发和跃迁
通过能量输入将原子激发到高能级,然后跃迁回基态时会发射特定频率的光。
2 能级结构
每个元素都有独特的能级结构,导致它们发射特定的光谱线。
3 谱线特征
原子发射光谱的分析基本 原理
原子发射光谱是一种重要的光谱分析技术,它通过观察物质发射的光谱来获 取元素的信息。了解这个基本原理可以帮助我们在许多领域中应用它,例如 化学、材料科学和环境监测。

ICP发射光谱分析

ICP发射光谱分析

ICP发射光谱分析ICP (Inductively Coupled Plasma)发射光谱分析是一种常用的无机分析技术,用于确定不同元素在样品中的浓度和存在形式。

它结合了无机分析的灵敏度和选择性,以及光谱分析的高分辨率和多元素分析能力,被广泛应用于环境监测、地质矿产、冶金、农业、生物医学等领域。

ICP发射光谱分析的基本原理是将待测样品通过高温等离子体体系中,将样品中的元素原子激发成电离态,并从高温等离子体中发射出特定波长的光线。

这些光线经过光学装置,分散成谱线,并通过光电探测器测量其强度。

根据样品中元素原子电离态的浓度和发射谱线的强度,可以计算出样品中元素的浓度。

ICP发射光谱分析的优点之一是其高分辨率。

由于谱线分散性能好,ICP能够同时测量多个元素的发射光谱,从而实现对多个元素的分析,极大地提高了分析效率。

此外,ICP发射光谱分析还具有灵敏度高、线性范围广、准确度高等特点。

它可以检测到微gram到nanogram级别的元素含量,且能够进行定量分析。

ICP发射光谱分析的应用非常广泛。

在环境监测领域,可以用于分析水、土壤、空气等样品中的有毒金属、重金属等元素含量,以进行环境污染的评估与监测。

在地质矿产领域,可以用于矿石、土壤、矿砂等样品中不同金属元素的测定,以指导矿产资源的开发利用。

同时,在冶金、农业、生物医学等领域也有广泛的应用,如矿石熔炼过程中的元素控制、土壤中营养元素的含量测定、医学检验中血清中元素的分析等。

然而,ICP发射光谱分析也存在一些限制。

首先,样品制备过程对分析结果有很大影响,样品的前处理工作需要严格控制,以保证分析结果的准确性。

此外,由于ICP发射光谱分析的仪器设备复杂,操作难度较大,需要经验丰富的专业人员进行操作和解读结果。

另外,ICP发射光谱分析的仪器设备和耗材成本较高,对于一些实验室和企业来说可能存在经济压力。

总之,ICP发射光谱分析是一种重要的无机分析技术,在各领域具有广泛的应用前景。

发射光谱定性分析和定量分析

发射光谱定性分析和定量分析

发射光谱定性分析和定量分析一、实验原理1、掌握光谱定性分析的一般原理和方法;2、掌握光谱定量分析的一般原理和方法;3、了解电感耦合等离子体原子发射光谱仪的使用方法。

二、实验原理当物质被热能或电能激发到不稳定状态时,会辐射能量并产生发射光谱。

被激发的分子产生带状光谱,被激发的原子或离子产生线状光谱,线状光谱是发射光谱分子的基础。

线状光谱中的各条谱线是元素的原子或离子的外层电子在两个能级间跃迁时产生的。

根据辐射的量子理论△E=E2-E1=hν谱线的波长:λ=c/ν由于各种元素的原子结构不同,故其发射的谱线波长各不相同,根据各元素的特征谱线,可判别相应元素存在与否。

一个元素可以有很多条谱线,其中最容易激发的谱线称为该元素的“灵敏线”或“最后线”。

如为确定试样中某元素存在与否,不必检查该元素所有的谱线,只需根据几条灵敏线的出现与否即可做出判断。

光谱分析就是根据元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析),而谱线的强度与试样中该元素的含量有关,因此也可利用谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。

当温度一定时,谱线强度与元素浓度之间的关系符合下列经验公式:I=ac blgI=lgc+lga此式称为赛伯-罗马金公式,是定量分析的基本关系式。

三、仪器与试剂(1)仪器IRIS Intrepid ⅡXSP原子发射光谱仪(Thermo公司)(2)试剂氩气,未知样品,钙、镁标准贮备液(1mg/mL),优级纯硝酸,水(二次蒸馏水)。

四、实验内容与步骤1、定性分析定性分析包括准确分析元素和分析谱线,通常通过全谱谱图对样品中的元素进行更详细的了解,全谱谱图包括样品中所有元素的所有谱线。

样品的所有信息都包括在两张全谱谱图中(UV和Vis,以345nm为分界线),通过全谱谱图可以对未知样品进行定性分析,或证明某些元素的存在。

对于未知样品,首先点击“Run”选择“FullFrame”命令,获得样品的UV 和Vis全谱,然后点击观测到的某条强谱线,用谱线库对其进行鉴别,同时寻找该元素的其他二级谱线进行辅助证明。

光谱分析仪简介及发射光谱分析的过程

光谱分析仪简介及发射光谱分析的过程

光谱分析仪简介及发射光谱分析的过程光谱分析仪简介光谱分析是通过对光进行分析,从而确定样品或物质的成分和结构的方法。

光谱分析技术已经被广泛应用于各种领域,包括科学研究、医学、生物学、矿业、环境监测等。

光谱分析通过分析样品吸收、发射或散射的光谱信息,可以获得样品的组成和结构信息。

光谱分析仪是一种重要的光谱分析工具。

随着科技的不断发展,光谱分析仪的种类越来越多,可以分为紫外-可见光谱仪、红外光谱仪、拉曼光谱仪等多种类型。

每种光谱分析仪都有自己独特的优点和适用范围。

发射光谱分析的过程发射光谱分析是一种通过分析样品发射的光谱信息来确定样品成分和结构的方法。

发射光谱分析可以用于金属材料、陶瓷、玻璃等材料的化学分析和显微成像,广泛应用于冶金、材料科学、环境监测等领域。

发射光谱分析的主要步骤包括样品制备、样品激发、光谱仪测量和数据处理。

样品制备样品制备是进行发射光谱分析的重要步骤。

样品必须是均匀的、杂质少的、尺寸适合的。

样品的制备包括样品的取样、研磨、压片等步骤。

样品激发样品激发是使样品发射光谱信息的步骤。

激发样品的方法包括电弧激发、火花激发、激光激发等。

激发样品时,样品会发射出一系列特定波长的光谱信息。

光谱仪测量测量样品发射光谱信息的仪器称为光谱仪。

光谱仪可以分为单色仪和多通道光谱仪。

在测量过程中,光谱仪会通过光电倍增管等探测器转换出样品发射的光谱信息。

数据处理对于测量到的光谱信息,需要进行数据处理。

数据处理包括背景校正、峰位校正、积分、分析等步骤。

数据处理的目的是获得高精度、高质量的分析结果。

总结通过分析光谱信息,光谱分析仪可以获得样品的组成和结构信息。

在发射光谱分析的过程中,样品制备、样品激发、光谱仪测量和数据处理是非常重要的环节。

发射光谱分析的应用范围广泛,可以应用于金属材料、陶瓷、玻璃等材料的化学分析和显微成像,并且广泛应用于冶金、材料科学、环境监测等领域。

仪器分析第三章发射光谱

仪器分析第三章发射光谱
试样蒸发、激发产生辐射→色散分光形成 光谱→检测、记录光谱→根据光谱进行定性 或定量分析
发射光谱的分析基础:
定性分析:特征谱线的波长 定量分析:特征谱线的强度(黑度),主要的
26
二、原子发射光谱的分析仪器
光源 分光系统 检测器 信号显示系统
27
光源
作用:提供稳定,重现性好的能量,使试样中的被 测元素蒸发、解离、原子化和激发,产生电子跃迁, 发生光辐射
19
4、原子发射光谱图
元素标准光谱图
20
21
5、谱线的自吸和自蚀
自吸和自蚀
影响自吸和自蚀的因素 谱线的固有强度 弧层厚度 溶液浓度
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自吸和自蚀
发射光谱是通过物质的蒸发、激发、 迁移和射出弧层而得到的。在一般光 源中,是在弧焰中产生的,弧焰具有 一定的厚度,如下图:
a b
23
a
自吸和自蚀
发射光谱的分析过程 发射线的波长 发射谱线的强度 原子发射光谱图 谱线的自吸和自蚀
3
1、发射光谱的分析过程
激发态原子
外 层 电 子 跃 迁
基态原子
光电法 摄谱法
原子化
热或电
光电倍增管 感光板
气态分子
气 化
样品分子
4
原子发射光谱示意图
5
一般情况下,原子处于基态, 在激发光源作用下,原子获得能 量,外层电子从基态跃迁到较高 能态变为激发态 ,约经10-8 s,外 层电子就从高能级向较低能级或 基态跃迁,多余的能量的发射可 得到一条光谱线。
第三章 原子发射光谱法
Atomic Emission Spectrometry,AES
1
特点: 优点——灵敏度高、简便快速、可靠性高、

原子发射光谱分析

原子发射光谱分析

原子发射光谱分析原子发射光谱分析的基本原理是基于原子吸收和发射光谱的原理。

当原子被加热到高温或者通过电子束轰击时,原子的外层电子将被激发到高能级。

这些激发态的电子会通过自发辐射返回基态,同时发射特定波长的光子。

因为不同元素的电子构型不同,所以它们在激发和发射过程中产生的光谱也是具有特定标志的。

通过测量元素发射光谱的波长和强度,就可以确定样品中所含元素的种类和浓度。

原子发射光谱分析主要的仪器设备包括光源、光谱仪和探测器。

光源用于激发样品中的原子,常用的激发方式有火焰、电弧和电感耦合等。

光源的选择取决于要分析的元素和样品的特性。

光谱仪用于分离不同波长的光,常见的光谱仪有光栅光谱仪、单色仪和干涉仪等。

探测器用于测量光谱的强度,常用的探测器有光电倍增管、CCD和光二极管等。

通过合理选择仪器设备和优化实验条件,可以获得准确可靠的结果。

原子发射光谱分析在许多领域都有广泛的应用。

在环境监测方面,原子发射光谱分析可以用于检测土壤、水体和大气中的重金属和有害元素,例如铅、汞和镉等。

在食品安全方面,原子发射光谱分析可以用于检测食品中的微量元素,例如铁、锌、镁和钙等。

在药物研发和品质控制方面,原子发射光谱分析可以用于测定药品中的微量元素和重金属残留。

此外,原子发射光谱分析还可以用于矿石的矿物鉴定和地质样品的元素分析等。

总之,原子发射光谱分析是一种重要的化学分析方法,通过测量元素发射光谱的波长和强度,可以确定样品中所含元素的种类和浓度。

它具有分析快速、灵敏度高和选择性好等优点,广泛应用于环境监测、食品安全、药物研发和地质矿产等领域。

随着仪器设备不断发展和完善,原子发射光谱分析的应用前景将会更加广阔。

发射光谱定性分析

发射光谱定性分析

实验一发射光谱定性分析1.2.原子发射光谱分析法是根据受激发的物质所发射的光谱来判断其组成的一门技术。

在室温下,物质中的原子处于基态(E0),当受外能(热能、电能等)作用时,核外电子跃迁至较高的能级(E n),即处于激发态,激发态原子是十分不稳定的,其寿命大约为10-8s。

当原子从高能级跃迁至低能级或基态时,多余的能量以辐射形式释放出来。

其辐射能量与辐射波长之间的关系用爱因斯坦——普朗克公式△E=E n-E i=hc/λ(1)式中,E n、E i为高能级和低能级的能量,h为普朗克常数,c为光速,λ为波当外加的能量足够大时,可以把原子中的外层电子从基态激发到无限远,使原子成为离子,这种过程称为电离。

当外加能量更大时,原子可以失去二个或三个外层电子成为二级离子或三级离子,离子的外层电子受激发后产生的跃迁,辐不同,受激后只能辐射出特征光谱。

这种特征光谱仅由该元素的原子结构而定,与该元素的化合物形式和物理状态无关,这就是发射光谱定性分析的依据。

定性分析就是根据试样光谱中某元素的特征光谱是否出现,来判断试样中元素是否存都找出来,一般只要找出2-3条灵敏线,所谓灵敏线也叫最后线,即随着试样中该元素的含量不断降低而最后消失的谱线,它具有较低的激发电位,因而常常是用发射光谱进行定性分析,是在同一块感光板上并列摄取试样光谱和铁光谱,然后在光谱投影仪上将谱片放大20倍,使感光板上的铁光谱与“元素光谱图”上的铁光谱重合。

此时,若感光板上的谱线与“元素光谱图”上的某元素的灵敏线相重合,即表示该元素存在。

还可以根据元素所出现的谱线,找出其谱线强度的最小级次,按表估计该元素的大概含量。

仪器:31WIA平面光栅摄谱仪,ADE-20型交直流电弧发生器,WTY型光谱投影仪,1.(1)31WIA电极用金属夹固定在电极架上,电极的位置可以上下、左右、前后移动。

在燃弧前,利用照光灯调节好电极的位置,使其光影间隙充满中间光阑,使分析隙(即电极间的放电区)其作用是使光源发出的光较多地进入狭缝,使狭缝各点上照度均匀,靠近电极架是第一透镜,它将电极成象(倒象)在第二透镜架上的遮光板上,第二透镜架上装有一遮光板称“中间光阑”,板上有六个不同高度的长方形孔,孔的高度由数字标出,中间光阑的作用一是用以调节电极间的距离,使每次测定总是截取光源同一部分,可保证弧光沿着光轴进入摄谱仪,二是起弧时,红热的电极辐射出连续背景,由遮光板遮去,仅使弧光通过遮光板上的孔而进入摄谱仪,第一、二透镜起聚光作用,第三透镜贴近狭缝,其作用是保证入射光束充满准直透镜,三只透狭缝是一个精密部件,由两片锋利刀片组成,谱线是狭缝单色像,狭缝的任何缺损和沾污会直接影响谱线轮廓和强度的均匀性,使用时要防止碰伤刀口,狭缝宽度最小不能低于2μm调焦目的是调节狭缝处于反光镜焦平面上,使狭缝成象清晰,由狭缝后面调节调节狭缝的倾斜角,使谱线平行于板移方向,以免两行光哈特曼光阑位于第三镜和狭缝之间,用于控制狭缝使在光谱板上得到不同高度、不同位置的光谱。

发射光谱分析法的广泛应用

发射光谱分析法的广泛应用

发射光谱分析法的广泛应用发射光谱分析法是一种广泛应用于材料、化学、生物等领域的分析手段,它基于样品激发后产生的辐射光谱,通过分析这些光谱特征来确定样品的化学组成和结构。

本文将详细介绍发射光谱分析法的基本原理、常见应用以及未来发展方向。

一、基本原理发射光谱分析法是基于样品被激发后自发发射出的辐射光谱来确定其化学组成和结构的一种分析方法。

在激发过程中,样品中的原子或分子吸收了一定量的能量,进入激发态,然后由于外光场的作用,会从激发态返回基态,释放出一些能量,包括光能和热能。

当释放出的能量为光能时,被称为发射光谱,它所包含的波长和强度取决于样品中存在的元素种类和化学络合情况。

发射光谱分析法有两种主要的实现方式:原子发射光谱(atomic emission spectroscopy, AES)和分子发射光谱(molecular emission spectroscopy, MES)。

原子发射光谱是一种基于原子能级跃迁的分析方法,它可用于分析单质、金属和合金等样品中的金属元素及其含量。

而分子发射光谱则是一种基于分子能级跃迁的方法,用于分析大分子或含有官能团的复杂有机物样品。

这两种方法都可通过火焰、等离子体或激光等方式来激发样品,从而产生发射光谱。

二、常见应用发射光谱分析法具有很多优点,如快速、灵敏、准确、非破坏性等,因此被广泛应用于材料、化学、生物等领域。

以下是几种常见应用:1. 金属材料分析发射光谱分析法最常见的应用是用于金属材料的分析,如钢铁、铜、铝、锡等合金材料。

通过发射光谱分析法,可以快速准确地测定金属材料中的元素含量及其化学状态,评估材料的质量和性能。

同时,这种方法还可用于监测金属材料中的不良元素,如铅、汞、镉等,以及通过加入微量元素来改善金属材料性能的效果。

2. 土壤污染检测随着人类活动的增加,地球环境中的土壤污染问题逐渐凸显。

发射光谱分析法可用于检测土壤中的污染物,如重金属、有机化合物、农药残留等。

发射光谱法

发射光谱法

发射光谱法发射光谱法,是一种常见的光谱分析方法,它主要是基于样品在光激发下,在一定温度、压力等条件下,产生的特征光谱信号进行光谱分析。

这种分析方法被广泛应用于材料的组成分析、化学反应过程的研究、矿物质分析、地质样品分析等领域。

本文将介绍发射光谱法的原理、实验装置以及其在实际应用中的一些注意事项。

一、原理发射光谱法基于的原理是样品在激发光作用下,处于激发状态的原子或分子会产生自发辐射或诱发辐射,从而发射出特定波长的光线。

这些发射光线的波长、强度等特征,与原子或分子的能级结构、电子跃迁等相关。

通过对这些光谱信号的检测和分析,可以得到样品的组成分析结果。

特别是在分析金属材料时,发射光谱法具有高灵敏度、高分辨率、宽测量范围等优点,因此被广泛应用于不同行业的材料分析。

二、实验装置发射光谱法的实验装置主要包括样品来源、光源、光谱仪和检测系统等。

样品来源可以是固体、液体或气体,针对不同的样品状态会有不同的样品处理方法。

光源可以是等离子体火焰、放电等,其中等离子体火焰常常被用于金属材料的分析。

光谱仪是最核心的组成部分,它可以将特定波长的光信号进行分辨、放大,并通过检测系统进行数字化处理。

发射光谱法采用的光谱仪主要包括摆动晶片光谱仪、CCD光谱仪、ICP光谱仪等,这些光谱仪在光谱分辨率、信噪比、灵敏度等方面都有不同的特性。

三、注意事项在进行发射光谱法分析时,需要注意以下几点:1. 样品的制备。

不同的样品状态需要不同的制备方法,固体样品需要研磨成粉末形式,在分析前还需要进行高温熔融等处理方法;液体样品需要在特定的温度条件下进行调制;气态样品需要在压力下进行样品收集和处理。

2. 光源的选择。

不同的样品需要不同的光源激发,且光源激发的强度、频率等参数也会影响到分析结果。

3. 光谱仪的选择。

不同的光谱仪在信噪比、光谱分辨率、灵敏度等方面都有不同的特点,需要根据具体情况进行选择。

4. 样品的存储和处理。

样品在光激发下会产生大量的热量,因此需要采用特殊的装置对样品进行冷却和保护。

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表(1)
工 光谱激 发光源 红外 及 可见 9000-6500 Li 乙炔焰 Cs Cs Ga Mn K Rb Å
作 可见 及
光 紫外 Å Rb Ba Cr Co
域 紫 外 Å Ni
3000-3550 Li K Ca In Fe Na Sr Tl
3550-2470 Ag Ng Cu Cr
Rb 电
Cs
(1) 铜棒中是否含铁。 (2) 黄铜、紫铜中有何不同元素存在。 【实验仪器】 中型石英摄谱仪 发生器 【实验原理】 光谱分析是利用原子和分子的发射(或吸收)光谱,进行物质的化学组成及含量分析 的物理方法。发射光谱分析是将少量的试样放在火焰、电弧或电火花等光源中进行激 发。从而发射出代表每个元素的辐射,经射谱仪展开成光谱,用光谱投影仪去观察拍 摄出的光谱谱线,查找某些元素所产生的特征线,来识别该元素的有无。这就是光谱 定性分析。根据该元素的谱线强度与含量之间的关系来测定试样中该元素的含量。这 就是光谱定量分析。定性分析一般可分为两类:一类是检查样品中是否含有某一种或 某几种元素的分析,叫指定分析;另一类是检查全部所有组成元素的分析,叫全分析。 本实验只做指定分析 1. 发射光谱分析的特点: 光谱图 映谱仪 阿贝比长仪 光谱线波长表 交流电弧
图 1 元素标准光谱图
【实验步骤】 1.选择交流电弧作为光源,定性分析方法可选择光谱图片比较法或测定波长法(视实 验时间而定)。狭缝宽度为 8 。 2. 用对光灯调节电极、 三聚光镜系统与狭缝等高共轴, 分析电极间隙为 2~3mm 或 4~5mm (视电弧发生器电流大小而定)。 3.启动电弧发生器,利用毛玻璃从谱窗处观察光谱,观察到后熄灭电弧,将装有干板 的暗盒装入谱窗前,抽出暗盒后的挡板,选取合适的哈特曼光阑(见下表),准备摄谱; 注意在拍摄的过程中切不可随意抽拉干板盒的挡板,以免干板发生错位。 4.电弧发生器,摄谱(曝光时间可参照下表,换电极时用钳子将电极取下),拍摄铁谱 的谱线时,应注意光的稳定。 分析试样 哈特曼光阑的选取 曝光时间 铁 1 黄铜 2 根据干板情况而定 紫铜 3 5.光谱拍摄完毕后到暗室对干板进行处理(显影、定影);显影、定影的时间视环境 温度及药品的使用次数而定。 6.干板冲洗好后,用吹风机吹干待用。 7.在映谱仪上进行分析,找到距杂质谱线最近的铁谱线用标准图谱读出其波长;并注 意其位置特征。 8.在阿贝比长仪上读出各谱线的相对位置,算出各谱线间的距离。 9.将步骤 7、8 中的数据代入线性内插法公式中进行计算,测定出杂质谱线的波长, 在光谱线波长表中找到对应元素,并求出波长误差,分析误差产生的原因。 【注意事项】
(1) 灵敏度高 (2) 分析速度快 (3) 光谱定量分析是采用的比较法。只能用已知元素的标准样品去确定未知样 品的元素含量。这种标准样品就必然依靠化学化学结果。 (4) 测定高含量元素的样品,其准确度不如 X 光,荧光分析方法。在痕量分析 中,对某些元素,发射光谱分析的灵敏度不如原子吸收光谱分析。 2. 原子的激发与吸收 要使原子辐射出能量(发光) ,必须首先激发原子,给处于正常态 E0 (基态)的原子 以足够的能量,使它激发到较高的能态 En(激发态) 。当原子在激发态停留一段时
使用摄谱仪做光谱实验时必须注意以下事项: 1.摄谱仪为精密仪器,使用时要注意爱护。尤其是狭缝,非经教师允许不可随意调节 各旋钮,手柄均应轻调慢调,旋到头时不能再继续用力,不要触及仪器的各光学表面; 2.燃电弧时注意操作安全。电弧有强紫外线辐射使用时要加挡板或戴防护眼镜。 3.铁弧电极上不能有氧化物,应经常磨光,呈圆锥形;调节两电极头间的距离,注意 电极头成像不要进入中间光阑,只允许电极中间发出的光通过,以避免连续光谱造成 的背景。 4.由于透镜要满足一定的成像关系,所以,使用时注意调整,不能随意便调改动。 5.在更换电极时,应确注意关上开关,以防止意外曝光。 【思考题】 1.用于识谱的仪器是什么? 2.为在谱片上得到不同高度的谱线,采用哪种方法? 3.对拍摄好的谱片进行识谱后,用哪种仪器进行测定,从而求出各条谱线的波长? 4.为进行谱线波长的比较和测定,需要并排摄下什么物质的像? 5.物质的发射光谱有几种?各是如何产生的? 6.光谱定性分析有哪几种方法,并简述之。 7.光谱分析的基本特点有哪些? 8.简述哈特曼光阑的作用。 【参考资料】 [苏联]Л·C·罗蒙诺索娃 出版社 1965.2 北京 О·Б·法尔科娃 著 唐光海 唐光裕 译 中国工业
Ca 稀土
Sr
Ba

Li Ca Ti Ta Rn Pd Cu Cd B Tl Si P As I S
Na Sr Zr Cr Fe Ir Ag Al Ge Sb
K Be Hg Ba Sc Y Hf V Nb Mo W Mn Co Ni Rh Os Pt Au Zn Ga Pb Bi Se In Sn
电火花
F
Cl
Br
在表(1)中元素为红色的在电弧中产生复杂光谱。用中型摄谱仪去拍摄,其谱线过密 很难识别。必须大型摄谱仪。 原则上,元素周期表中的 90 余种元素都能利用其特有的光谱来进行定性分析,但 实际上,有些气体元素的原子很难激发,故一般能分析的元素有 70 几种。碱金属和碱 土金属等一些激发势能较低的元素,用火焰光源便能激发,多数元素可用直流电弧、 交流电弧及高压火花等光源进行激发。一般采用交流电弧光源的定性分析最为方便, 而且它具有与直流电弧相近的灵敏度。光谱定性分析的关键在于认识元素的光谱线, 每一种元素都有很多光谱线,在进行定性分析时要选择所谓“灵敏线”,这些线也就 是“最后线”,即当样品中某元素的含量逐渐减少而最后消失的几条谱线(灵敏线不 一定是这个元素的最强线)。在这里“灵敏线”的概念只具有理论意义,在本实验中 没有具体的意义,因为我们不可能减少样品中某元素的含量。因此,必须指出在本实 验中如何理解“灵敏线”这一特定的概念。定性分析就是利用灵敏线来进行分析的。 仅在底片上找几条灵敏线,还不能肯定该元素的存在,因为可能在灵敏线位置上(或 附近)有其他元素的谱线发生重叠干扰,故选择分析线时,要注意两个原则:灵敏; 不重叠。利用摄谱仪拍摄的谱片进行光谱定性分析有三种方法,依据分析任务和具体 的实验条件而定。分析的工具: (1)光谱线波长表 (2)光谱图线表或光谱定性标准 图。图(1)
间后(约 10 为
-7
~10
-8
秒) ,即向低能态(如 EK )跃迁,这时原子就辐射出其值
h E n E k
的能量。
激发原子的能源种类很多。激发的形式也不一样。 3、激发原子的能源种类形式: 一般在低压气体中,原子的激发大部分靠在电场力的作用下获得加速能量的电子 与原子碰撞而发生。这时电子的运动能在碰撞过程中传递给原子而转换原子的内能, 使原子激发。这种激发形式为电激发。 当气体的气压增高,蒸气密度增大。放电间隙中的气体分子、原子、离子碰撞的 机会增大,频繁的碰撞有可能只是使原子获得能量,并未改变原子的内能。这时原子 表现为运动速度增大,使整个气体系统温度上升。而原子未被激发,仍处在基态。另 一种可能,高速运动的粒子相互碰撞,致使粒子运动能量转换成原子的内能,使原子 内能改变而被激发。这种激发形式为热激发。 原子吸收其他原子辐射出来的较大能量而被激发称为光激发。 在光谱分析的实际工作中,使用到的每一种光源,其主要激发形式各有不同:在 低气压中的放电(如放电管) ,电激发形式为主;大气中的放电(电弧及火花放电等) , 热激发是主要的也交杂有电激发和光激发。光源的职能:一是提供足够的能量,使试 样转化为蒸气状态,二是提供高速运动的粒子,用以碰撞蒸发出来的原子受激。实际 蒸发和激发这两过程是不能截然分开的。 【发射光谱分析所用光源】 常用的光源有火焰、电弧、电火花、等离子喷焰和激光等。
三、乳剂特性曲线,内标法基本关系式
摄谱法是用照相的方法把光谱记录在感光板上,再经过显影、定影等过程后,制 得光谱底片,其上有许多黑度不同的光谱线。用摄谱法进行光谱定性分析时,用测微 光度计测得的是谱线的黑度 S,故必须知道黑度与被测元素含量的关系。
S 与曝光量有关,黑度 S 与曝光量 H 之间的关系极为复杂。通常用图解法表示。若
将 c1 改写为 c,并取对数:
lg R lg I1 b1 lg c lg A I2
(2)
此式为内标法的基本公式。以 lgR 对 lgc 所作的曲线即为相应的工作曲线,其形状与 图 7 相同。 只要测出谱线的相对强度 R, 便可从相应的工作曲线上求得试样中欲测元素 的含量。 此法可在很大程度上消除光源放电不稳定等因素带来的影响,因为尽管光源变化 对分析线的绝对强度有较大的影响,但对分析线和内标线的影响基本是一致的,所以 对其相对影响不大。这就是内标法的优点。 对内标元素和分析线对的选择应考虑以下几点: ①. 原来试样内应不含或仅含有极少量所加内标元素。亦可选用此基体元素作为 内标元素。 ②. 要选择激发电位相同或接近的分析线对。 ③. 两条谱线的波长应尽可能接近。 ④. 所选线对的强度不应相差过大。 ⑤. ⑥. 所选用的谱线应不受其它元素谱线的干扰,也应不是自吸收严重的谱线。 内标元素与分析元素的挥发率应相近。
附 :
光谱定量分析
光谱定量分析
一、光谱定量分析的关系式 光谱定量分析主要是根据谱线强度与被测元素浓度的关系来进行的。赛伯和罗 马金先后独立提出,当温度一定时,谱线强度与元素浓度之间的关系符合下列经验公 式:
I ac b I = ac
b

log Iபைடு நூலகம் b lg c lg a
(1)
此式称为赛伯-罗马金公式,是光谱定量分析的基本关系式。式中 b 为自吸系数,与谱 线的自吸收现象有关。b 随浓度 c 增加而减小,当浓度较高时,b∠1,当浓度很小无自 吸时, b=1,因此,在定量分析中,选择合适的分析线是十分重要的。 a 是与试样蒸发、激发过程以及试样组成有关的一个参数。 假若 a、b 能保持不变,为常数,以 lgI 对 lgc 作图,所得曲线在一定浓度范围 内为一直线,如图 1 所示: 但实际上,a 很难保持常数,因为 a 是与试样蒸发、 激发过程以及试样组 成有关的一个参数,试样蒸发、激发 条件以及试样组成任何变化, 均使参 数 a 发生变化,直接影响 I。这种变 化在光谱分析中往往是难以避免的。 因此, 要根据谱线的绝对强度进行定 量分析,往往得不到准确的结果。所 以,实际光谱分析中,常采用一种相 对的方法,即内标法,来消除工作条件的变化对测定的影响。
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