第九章晶体及岩石矿物学基础知识

调整焦距
• 显微镜的正常工作距离F.W.D：在正常 观察时，显微镜的物镜前端和载物台薄 片平面的距离。
• 在调整焦距时必须注意：用手调粗动调 焦螺旋使镜筒下移，同时必须用眼睛从 左侧面目视物镜头至物镜头与载薄片的 距离最近为止。[]
显微镜准备
• 打开实验台右下面的拉门，用钥匙打开显 微镜木盒；
• 先从木盒上面拿出显微镜镜头盒，并置于 实验台的左上方；
• 1毫微米=10埃=10-3 微米=10-6毫米=10-9米[]
光的性质
• 自然光：由点光源发出的光，光的传播方向 和光的振动方向瞬息变化。
• 偏振光：自然光经偏光片后变成只有一个振 动方向的偏振光。
16.3偏光显微镜
• 一、偏光显微镜的构造 • XPT-07型偏光显微镜（扫描图片） • 镜臂：弓背形，连接作用，可倾斜 • 反光镜：有平、凹两面，可任意转动 • 下偏光镜：PP 由偏光片制成，有刻度可
不完全解理
• 无解理，仅有不规则的断裂面，如石英。
影响解理纹清晰程度的因素
• 1、与矿物本身的性质有关 • 2、与切片方向有关 • 3、与相临两矿物的折射率差值有关，矿物与
树胶比较，差值越大，解理纹越清晰。 • 如辉石和斜长石均具有两组解理，但辉石清
楚而斜长石几乎无。[]
解理角
• 解理纹与解理纹间夹角。 • 特定矿物的解理角为定值。方解石：78、
第十六章 晶体及岩石矿物学 基础知识
• 16.1 晶体概念与晶体性质 • 16.2 光学基础知识 • 16.3 显微镜的调节与校正 • 16.4 显微镜下矿物性质鉴定 • 16.5 岩石、矿物分类及物理性质 • 16.6 常见岩石矿物类型 • 16.7 矿物粒径及百分含量测定 []
16.1 晶体概念与晶体性质
• 晶体：具有格子构造的固体物质。经Xray衍射发现晶体内部指点有规则排列并 且重复出现，如食盐、砂糖，反之为非 晶体。
• 晶体具有四种性质。[]
晶体的性质
• 自形性：晶体自发的生长出规则的几何多面体形 态。
• 均一性：同一晶体各不同部分具有相同的性质。 • 异向性：同一晶体沿不同的方向有不同的物理性
质。
• 对称性：：晶体上相等的晶面、晶棱、角顶经一 定的操作后能重复出现。
• 最小内能：在相同的热力条件下，与同成分的非 晶质、液、气相相比内能最小。
• 稳定性：晶体具有固定的熔点。[]
16.2 光学基础知识
• 光和无限电波一样是一种电磁波，是一种 横波——光的振动方向垂直与传播方向。
• 可见光是电磁波谱中的一部分，其波长范 围390-770mμ，从长至短颜色为红、橙、 黄、绿、兰、青、紫。
• 取出实验记录本； • 用右手拿显微镜弓背，左手托底，取出显
微镜； • 摘掉布罩； • 检查实验设备和镜头盒，填写实验记录本。
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实验中
• 按照实验题目和要求做实验； • 实验过程中认真记录实验结果； • 分析； • 完成实验并填写实验报告。[]
实验后
• 整理实验用显微镜，整理镜头盒； • 检查设备完好情况； • 盖上布罩； • 填写实验记录本； • 经实验教师允许方可离开。[]
影响晶体形态的因素
• 1、不同晶体具有不同的晶体对称型，因此 对称特点不同，外形不同；
•Biblioteka Baidu2、同一对称型的晶体由于构成的单形不同， 外形不同；
• 3、同一晶体在不同的生长环境下生长的晶 形不同。[]
影响晶体生长 环境的因素
• 1、与晶体从熔体中析晶时的温度梯度有关； • 2、晶形与结晶的先后顺序有关，早期析出为自
• 实验报告评分标准 • 实验一 偏光显微镜的构造与调节 • []
16.4 显微镜下矿物性质鉴定
• 重点考察在单偏光系统下矿物性质鉴定 • 一、装置与特点 • 光源---反光镜--平行光束---下偏光镜--具有
PP振动方向的平行光束---晶体--发生折射、 双折射---目镜。 • 二、晶形 • 晶体在单偏光系统下呈现的外部形态，有 晶体自身性质和外界影响因素决定。[]
转动 • 锁光圈：在PP上，可开合，控制进光亮 • （基本不用）[]
• 聚光镜：在载物台下，把平行光束变为锥 形光束。（基本不用）
• 载物台：可转动圆形台面，有刻度，可固 定，有一对弹簧夹和固定螺丝
• 镜筒：连接镜头，其上有粗动、微动调焦 螺旋，上装目镜，中间有勃氏镜、上偏光 镜和试板孔
• 物镜：4×、10×、25×、40×、63× • 目镜：5×、10× • 上偏光镜：AA表示 • 勃氏镜：位于目镜和上偏光镜之间[]
形晶、中期析晶为半自形晶、后期为它形晶； • 3、由于缺陷和杂质的存在，又造成晶体的异常
生长；
• 常见的晶体形态分单体和集合体形态（一向、二 向、三向延长）；
• 4、镜下观察到的晶体形态还与薄片制备过程中 试样的切割和磨制方向有关。[]
三、解理与解理角
• 解理：晶体受力后沿一定方向裂开的性质。 裂开的面称为解理面，解理在垂直于解理 面的切片中表现为解理纹。
102，角闪石：56、124。 • 镜下影响测定的影响因素：切片方向、矿物自
身、相临折射率差值。 • 怎样才能测得真实解理角：切面同时垂直于两
组解理的解理面。[]
矿片的制备方法
• 切割--粗磨--细磨--粘片---恒温干燥---粗 磨---分级细磨---盖薄片。[]
四、矿物的多色性与吸收性
• 颜色： • 手标本颜色：由于色素离子、原子对光
• 二、镜头盒（附件）
• 显微镜镜头盒中除目镜、物镜外还有附件：
• 1、测定颗粒大小及矿物百分含量：物镜微尺 和物台微尺；
• 2、测定矿片的光率体椭圆半径及光程差：石 膏试板、云母试板、石英楔。[]
一台显微镜处于良好工作状态 的条件
• 1、目镜、物镜和载物台的视准轴在一条直 线上。
• 2、上下偏光镜的振动方向为已知并且互相 垂直，并且与目镜的十字丝相平行。[]
• 解理分四个等级： • 极完全解理、完全解理、中等解理、不完
全解理；或完全解理、中等解理、不完全 解理、极不完全解理[]
极完全解理
• 解理纹细密平直，贯穿始终，解理面光 滑，如云母。
完全解理
• 解理纹较粗、清晰，有中断现象，如辉 石、角闪石。
中等解理
• 解理纹较粗、少，沿某一方向断断续续 的排列，如橄榄石。