通信双频波分复用原理
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实验一通信双频波分复用原理
一、实验目的
1、熟悉WDM器件的使用。
2、掌握WDM器件的插入损耗及串扰的测试。
3、掌握经过同一光纤信道的多机通信。
二、实验原理
波分复用(WDM)通信的基本原理
波分复用是指一条光纤中同时传输具有不同波长的几个载波,而每个载波又各自载荷一群数字信号,因此波分复用又称为多群复用。如图1所示。具有不同波长、各自载有信息信号的若干个载波经由CH1、CH2、…….CHn等进入合波器,被耦合到同一条光纤中去,再经此光纤长距离传输,到终端进入合波器,由其按波长将各载波分离,分别进入各自通道CH1’、CH2’、…….CHn’,分别解调,从而使各自载荷信息重现。同样过程可沿与上述相反的方向进行,如图1中的虚线所示,这样的复用称为双向复用,显然,双向复用的复用量将增大一倍,如一个通道传输的信息为B,单向复用传输的则为NB,双向复用传输的则为2NB。
波分复用器
波分复用器的工作原理来源于物理光学,如利用介质薄膜的干涉滤光作用、利用棱镜和光栅的色散分光作用等。
图1 波分复用原理图
(1)干涉滤光片型波分复用器由薄膜光学原理得知,具有高折射率nH、低折射率nL的两种材料交替组成的膜系呈现出滤光效应,如图2所示。在λ0处吸收最小,即透过率最大,因此起到了滤光作用。不过,比较来说,由于Δλ难以作到很窄,故复用的路数是有限的,而且要求被分割的两路波长之间不能靠的太近,以防止串扰。这些都属于干涉滤光片型波分复用器的缺点。
图2 干涉滤波WDM原理
(2)光栅型波分复用器光栅是一种等间隔分割光波波面的光学装置,它具有明显的角色散作用,因此可以用来做分光和合光器件,如下图所示,光源S发出的光通过光栅G,在其后焦面的P点上得到光强可以写成如下形式:
其中u,v是与光栅常数(a,b)有关的系数,显然,当V=kл时可获得最大光强,或者说,在满足下列方程(即光栅方程)的方向(θ角)上,会出现亮线:
这样,当入射光为多种波长组成的复合光时,则由上两式确定出,不同的波长将沿不同的方向出射,从而达到分光的目的;如沿反方向传播,则作用相反,即起到合光作用,光栅靠的是角色散作用分光合光的,角色散的大小可由下式求出,即
由此可以得出:为获得较大的角色散,应取较高的级次(k),如果再考虑高级次有足够的能量,因此使用闪烁型光栅最为适宜,如图3所示,目前使用或研制的光栅型复用器几乎均采用此类型光栅。与滤光片型比较,光栅型复用器的最大优点是:分路(合路)的路数多;缺点是:插入损耗大,制作工艺相对复杂些。
图3 光栅型波分复用器
(3)棱镜型波分复用器和光栅一样,棱镜也是一种熟知的角色散器件,因此也具有显著的分光作用,棱镜的角色散为
其中n是折射率,a是棱镜的折射角,(dn/dλ)是色散率,由此可见,为了实现较多路数的分波和合波,即要求较大的角色散,则应选择大的折射角和高色散率的棱镜。
由于棱镜型复用器件的工艺复杂,制作较难,因此单独使用的较少,一般多将它与其它类型的复用器件结合使用,构成复合型的复用器件。
(4)光纤耦合型波分复用器上述几种复用器件虽各有优点,但他们有一个共同的缺点,即
插入损耗比较大。光纤耦合型波分复用器的插入损耗可以做的非常低,因此很有竞争力。其工作原理是,将若干条光纤拉成锥型并熔融一起,或者采用去除包层研磨、抛光、粘接的方法,促使光纤中的光场间发生耦合,从而达到分波和合波的目的。本实验系统所使用的WDM 既为此种原理,原理图如下所示。
图4 光纤耦合型波分复用器
需要指出的是,随着光复用技术的迅速发展,近年来又先后发展出全光型和集成光学型复用器,不过从原理上看,它们仍源于上述四种基本形式的复用器件。
三、实验步骤
1、WDM器件与实验板的连接
将WDM器件如图5所示和实验板连接。接上电话机,打开电源。弹起自锁开关PA401,切换到数字传输。把各个跳线跳到数字传输。
图5 实验装置图
2、测试WDM器件的步骤
双向耦合器如上图所接。弹起PA401选择数字传输方式。测1310nm的插入损耗:先把耦合器从系统中分离出来,直接使用光纤跳线测量1310nm光源的输出功率P1,然后把1310nm 对应的光纤臂接到1310nm光源,然后测另一耦合器的1310nm输出端输出功率为P2。耦合器的插入损耗即为:
通过调节W406改变LD输出功率,并记录每次实验的数据填入下表,并求平均的插入损耗。
四、实验数据及处理
可求得平均值L0=0.30604
可知这损耗值还是挺大的,原因有:
1.在连接耦合器时每一次旋紧度不同,导致功率有相差
2.光纤接口表面脏了,导致功率变大。
五、思考题
1、测试WDM器件的重要指标的方法。
答:a以白光源作为测试光源,再用光谱仪扫描
b 以1550 nm LED光源作为测试光源,再用光谱仪扫描
c 以可调谐激光器作为测试光源,再用光功率计检测
d以S+C+L宽带光源作为测试光源,再用光谱仪扫描
e以ASE-C+L宽带光源作为测试光源,再用光谱仪扫描
2、测试WDM器件的插入损耗的实验步骤。
答:用差模测试方法。