ICT,ATE测试原理

Chisel
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Pyramidal blade
blade
测试机台
• 测试机台是通过电脑来控制机台自动进行测 试。
• 各个公司的测试机台虽然软件操作平台可能 不一样，但测试原理基本相同。
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泰瑞达Z18Hale Waihona Puke Baidux
测试机台
泰瑞达 Spectrum8800
ICT,ATE测试原理
Prepared by: Rocky.wang
Update date: 2005/12/12
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主要内容
• 概述
– 什么叫ICT – 为什么要ICT
• ICT相关知识
– 测试点 – 测试治具（双，单面） – 探针 – 测试机台
• 测试原理
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探针
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• 通常情况针对不同的测点探针选择如下：
DIP testpad
four claws crown
Three claws Tulip
Four claws Crown
Serrated
Tulip
Use for common test pad and via hole
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双面治具
测试治具
探针 测试机台
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探针（probe）
• 探针就像是万用表的表笔，用来接触 PCB测试点。
• 探针的头有各种形状的，根据不同的 测试点要选择相应的探针。
• 我司通常用的探针弹力是7.2OZ。弹 力越大，探针与测点的接触越好，但 过大的弹力容易损坏PCB。
ICT
• ICT的英文全称是In Circuit Test，中文意思 是再线测试，即元件在线路中进行测试。
• ICT属于电气测试，用来检测电子产品焊接 后各元器件是否良好，各线路连通是否良 好。
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ICT,ATE 位置
印刷
AOI1
贴片
AOI2
回流焊
AOI3
ATE
T/U
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测试原理
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测电阻
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测电容
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小电容测量
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电感
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Delta Scan
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插件孔
测试点
VIA过线孔
小PAD
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方形
测试治具
• 根据产品测试点的安排状况分为
– 单面测试治具 – 双面测试治具
• 测试治具的探针分布与PCB上的测试点是完 全对应的。
• 通常一个治具只能测与之相对应的一个机种。
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测试治具
单面治具
波峰焊
插件
5D ICT
x-Ray
BFT
包装
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ICT测试
• ICT测试要具备以下相关设备和条件
– PCB上要有测试点 – 要有对应的测试治具 – 测试机台
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测试点
• 通常的测试点有3种
– VIA（过线孔） – 小PAD（小焊垫） – PTH pin（插件脚）
• 通常的小PAD测试点形状有2种
– 圆形（20-30mil直径的圆） – 方形（30×30mil的方形）
VIA测试点中心的过线孔直径约10mil。
• 比较简单的产品通常测试点都设计在 一面（bottom），比 较复杂产品会考虑测试点安排在2面（top，bottom)。
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GenRad TSC128
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德律TR8100
测试治具
测试治具与测试机台的连接界面
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测试原理
• 通过测试设备（硬体）和程序（软体），对 产品进行在线路中测试，及时拦截不良品。 并反馈不良信息作为维修依据。
• ICT可以检测因制程或来料造成的短路，开 路，错件，漏件，反件，坏件等问题。
Delta Scan
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Frame Scan
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Boundary Scan
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• 不能测试的pin
– 多个pin连接在一起。比如GND，VCC等
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飞针测试
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