现代材料测试技术作业答案

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1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种电磁辐射。

2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即衍射线的峰位、线形、强度。

3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是稳定、强度大、光谱纯洁。

4、利用吸收限两边质量吸收系数相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。

5、测量X射线衍射线峰位的方法有六种,它们分别是峰巅法、切线法、半高宽中点法、中线峰法、重心法、抛物线拟合法。

6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是哈那瓦特索引、芬克索引、字顺索引。

7、特征X射线产生的根本原因是原子内层电子的跃迁。

8、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。

9、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:连续X射线光谱和特征X射线光谱。

10、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为 X射线的衰减。

11、用于X射线衍射仪的探测器主要有盖革-弥勒计数管、闪烁计数管、正比计

数管、固体计数管,其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。

12、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有 X射线透视技术、 X射线光谱技

术、 X射线衍射技术三个方面

13、当X射线照射到物体上时,一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向,

造成散射线;另一部分光子可能被原子吸收,产生光电效应;再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子,成为热振动能量。

1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,

分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成。

2、电子显微镜可分为:透射电子显微镜、扫描电子显微镜等几类。

3、电镜中,用静电透镜作电子枪,发射电子束;用磁透镜做会聚透镜,起成

像和放大作用。

4、磁透镜和玻璃透镜一样具有很多缺陷,因此会造成像差,像差包括:球差色

差、像散、和畸变。

5、当一束聚焦电子束沿一定方向射入试样时,在原子库仑电场作用下,入射电

子方向改变,称为散射。原子对电子的散射可分为弹性散射和非弹性散射。在弹性散射过程中,电子只改变方向,而能量基本无损失。在非弹性散射过程中,电子不但改变方向,能量也有不同程度的减少,转变为热、光和 X射线和二次电子发射等。

6、电子与固体物质相互作用过程中产生的各种电子信号,包括二次电子、背

散射电子、俄歇电子、_ 透射电子和吸收电子等。

7、块状材料是通过减薄的方法(需要先进行机械或化学方法的预减薄)制备成

对电子束透明的薄膜样品。减薄的方法有超薄切片、电解抛光、化学抛光和离子轰击等。

8、扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像,成像信号可以是二次电

子、背散射电子或吸收电子。

9、透射电子显微镜中高分辨率像有晶格条纹像和原子结构像。

1 光率体的种类有均质体的光率体, 一轴晶的光率体, 二轴晶的光率体; 其形

态分别为球体, 旋转椭球体 ,三轴椭球体。

2.光显微镜的调节与校正的内容主要有对光, 准焦, 确定下偏光镜的振动方向且将其平行东西方向十字丝,中心校正。

3.干涉色级序的测定方法有边缘色带法 ,补偿法(石英楔子法)。

4.晶体在单偏光镜下可以观察和测定的主要内容有形态,解理、多色性、吸收性、突起、颜色等。

5.影响光程差的因素有矿物切片方向, 矿片厚度, 矿物本身性质。

6.锥光镜下研究矿物晶体时,可观察和测定的内容有晶体的轴性, 光性符号,切面位置, 光轴角大小,晶体的光性方位等。

7.一轴晶光率体的主要切面有垂直光轴的切面, 平行光轴的切面, 斜交光轴的切面三种。

8.二轴晶光率体的主要切面有垂直于光轴切面, 平行光轴面切面, 垂直Bxa 的切面,垂直Bxo的切面,任意斜交切面五种。

9.根据薄片中晶体颗粒边棱的规则程度,可将晶体分为自形晶, 半自形晶, 他形晶三类。

10.具有解理的矿物,根据其解理发育的完善程度,可分为极完全解理,完全解理,不完全解理三级。

11.根据薄片中晶体与树胶相对折射率的大小,将晶体的突起分为负高突起, 负低突起, 正低突起,正中突起, 正高突起, 正极高突起六个等级。12.在正交偏光镜下,矿物晶体的消光类型有平行消光, 对称消光, 斜消光三种。

13.干涉色级序的测定方法有目测法, 边缘色带法, 补偿法三种。

1、差热分析法、热重分析法、差示扫描量热分析法和热机械分析法是热分析的

四大支柱。

2、热分析法是所有在高温过程中测量物质热性能技术的总称。

3、热重分析法包括:静态法和动态法两种类型。

4、热膨胀仪按照位移检测方法可分为:差动变压器检测、光电检测、激光干

涉条纹检测三种类型。

1、光谱工作者把红外光分为三个区域:远红外、中红外、近红外。

2、分子的总能量包括:Eo:分子内在的能量,不随分子运动而改变,即零点能。

Et、Er、Ev和Ee分别表示分子的平动、转动、振动和原子运动的能量。3、实际分子以非常复杂的形式振动。但归纳起来,基本上属于两大类振动,即伸

缩振动、弯曲振动

4、弯曲振动细分为形振动、摇摆振动、卷曲振动

5、红外光谱法制备固体样品常用的方法有粉末法、糊状法、压片法、薄膜法、

热裂解法等多种技术。

1、能谱仪主要由探针器、前置放大器、脉冲信号处理单元、模数转换器、多道

分析器、微型计算机及显示记录系统

2、能谱分析有四种基本方法:定点定性分析、线扫描分析、面扫描

分析、和定点定量分析。

3、能谱分析要得到准确的分析结果,需选择适宜的工作条件包括加速电压、计

数率、计数时间和X射线出射角等。

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