手机最新可靠性测试标准

文件名称 可靠性测试标准

文件编号 QZ/LCT-ZC09-2007 版本 V6.3 正气 进取 专业

发布日期 2011-05-05 主控部门 综合测试部

意见签名/日期

拟制：综合测试部 同意李强斌 2011.05.03

审核：质量管理部 同意 姚凤贤 2011.05.03

审核：质量策划部 同意 沈 平 2011.05.03

审核：第一产品事业部 同意 黄承梁 2011.05.03

审核：第二产品事业部 同意 常玉柱 2011.05.03

审核：三旗通信 同意 李志虎 2011.05.03

审核：国际业务事业部 同意 朱明里 2011.05.03

批准：产品质量总监 同意 王一昌 2011.05.03

文件说明

质量中心-综合测试部可靠性实验室负责实施。

版本号 修改时间 修改人 修改原因 修改主要内容

V1.0 2005.09.05 刘利 新建

V2.0 2006.01.17 刘利 更新 软压由50kg改为40kg；

滑盖测试后拆机测试FPC电阻

V3.0 2006.04.04 刘利 更新 增加高频振动、沙尘、滚筒跌落、酒精摩擦、铅笔硬度、胶塞拉力、和存储卡拆装等测试

V4.0 2006.05.30 吴小弟 更新 触摸屏划线次数由100000次（反复一个来回记为一次）改为100000次（反复一个来回记为2次）

V4.1 2006.06.26 吴小弟 更新 1.需测RF参数的测试项取消，综测仪设备不要

2.中试阶段测试，由工程部提出申请改为由中试部提出申请

3.增加包装振动测试和包装跌落测试项目

V4.2 2006.08.30 吴小弟 更新

增加触感键寿命测试项目

V5.0 2006.09.10 吴小弟 更新 1. 增加高低温运行中、恒温恒湿，跌落、高频振动、温度冲击、软压、滚筒跌落、重复跌落、扭曲测试前后进行RF参数测试；

2. 增加扭曲和冲击测试项目，增加5.2.4微动开关的寿命测试；

3. 5.3.2.6中增加橡胶漆塑胶件和钢片材料的摩擦条件；

4. 环境测试（与温度及湿度相关的测试）后，手机在常温下 统一放置1~2小时后进行外观、结构、功能的检验；

5.增加7不良等级分类细则；

V6.0 2007.03.29 吴小弟 更新 1． 低温储存：5.1.1.2测试条件中的持续时间由48hrs改为24hrs；温度由-30℃改为-40℃；2. 高温储存：5.1.5.2测试条件中的持续时间由48hrs改为24hrs；3. 冲击：5.1.3.2 测试条件：脉冲持续时间6ms改为18ms ；5. 砂尘试验：5.1.14.2测试条件中的持续时间3hrs改为8hrs；6. 充电器插拔：5.2.7.2测试条件：充电器、耳机和数据线插拔各为2000次；

7. 耳机插拔：5.2.5.2测试条件：5000次改为2000次；8.SIM 卡插拔： 5.2.9.2测试条件：2500次改为1000次；9.储存卡拆装：5.2.10.2测试条件：3000次改为2000次；

V6.1 2008.11.18 陈贯中 更新 高低温储存：时间由24h，改为16h

冲击：条件改为加速度25g，脉冲6ms，每个轴的冲击次数改为1000次

冲击/恒温恒湿/温度冲击/自由跌落的测试 样机数目：改为8pcs

自由跌落：高度统一为1.2m，跌落面为混凝土板面

盐雾的试验条件变更为：共三个喷雾周期，每次喷雾2h，每次喷雾后有一个为期22h的湿热储存周期。储存条件为(40±2)℃,相对湿度为90％～95％

翻盖标准：由5W次更新为8W次

滑盖标准：由5W次更新为8W次

按键寿命：由10W次改为20W次

微动开关（hold键）寿命：由1W次改为2W次

充电器插拔测试条件改为：3合一的充电器，充电器插拔2000次，数据线和耳机各1500次，共5000次

电池盖拆装：由1000次改为500次

存储卡拆装：由2000次改为500次

SIM 卡拆装：由1000次改为500次

触摸屏点击测试：测试速率由2次/S，改为1次/S

五向键寿命：由3W次改为5W次

重复跌落：跌落高度统一为8cm，跌落次数由20000次改为10000次

摩擦测试：棱摩擦标准由150圈改为100圈；橡胶漆测试标准由140圈改为70圈

百格：胶带的粘贴次数由2次改为3次

铅笔硬度：载荷由1Kg改为0.5Kg

滚筒：测试次数由1000次改为500次

软压：测试标准由3000次改为2000次

扭曲：测试标准由1000次改为500次

增加人工汗液测试项

V6.2 2010.06.07 程雷 更新 1. 增加包装重量和跌落高度的对应关系表

2. 增加包装跌落测试手法,包括跌落棱/角/面的规定

盐雾实验的样机测试后干燥条件改为:用吹风机吹干表面残留液体后放置与通风干燥处干燥48H

修正笔误：

4.1温度冲击测试（P10）: 一处写12cycles，一处写循环4次，前后不一致

4.2滑盖寿命测试（P15）： 以40～45次/分的速率滑盖5万次 ＝> 应该是8万次

4.3五向键寿命测试（P23）: 40000万次、50000万次 两处笔误

4.4 冲击测试（P7）：脉冲持续时间18ms＝> 应该是6ms

X,Y,Z六个轴向＝> 应该是X,Y,Z三个轴向

4.5 人工汗测试（P14）：PH值=8.5＝> 应该是PH值=10.8电池/电池盖拆装：由500次改为2000次

增加低频振动测试：位移参数量：5mm

取消5.4其它测试（电池充放电测试和电池内阻测试）

8.壳体可靠性项目(5.3.2 5.3.3和5.3.7)取消测试条件及方法，增添指向壳体可靠性测试规范（QZ/LCT-ZC16-2009）