光纤传感器的位移测量与及数值误差分析实验

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光纤传感器位移特性实验

光纤传感器位移特性实验

黑龙江科技学院 综合性、设计性实验报告实验项目名称:光纤传感器位移特性实验所属课程名称:传感器工程实践实验日期:2013年月日班级学号姓名成绩电气与控制工程学院实验室实验概述:【实验目的及要求】【实验目的】1、通过实验使学生掌握各种传感器的工作原理;2、掌握传感器的特性测试方法;3、掌握传感器的特性实验数据处理方法;4、培养和提高学生传感器特性测试系统设计和分析的能力;5、通过该课程的学习扩大学生知识面,为今后的研究和技术工作打下坚实的基础。

【设计要求】1、掌握传感器的工作原理、测量电路的原理;2、通过传感器特性系统的设计,多方面知识综合应用,全面提高能力;3、为今后从事传感器工程方面的工作打下基础。

【实验原理】1、传感器特性测试系统框图:2、传感器测量电路原理图:3、传感器特性测试系统的工作原理本实验采用的是导光型多模光纤,它由两束光纤组成半圆分布的Y型传感探头,一束光纤端部与光源相接用来传递发射光,另一束端部与光电转换器相接用来传递接收光,两光纤束混合后的端部是工作端亦即探头,当它与被测体相距X时,由光源发出的光通过一束光纤射出后,经被测体反射由另一束光纤接收,通过光电转换器转换成电压,该电压的大小与间距X有关,因此光纤传感器可用于测量位移。

【实验环境】(使用的软件)工具:直线位移执行器、光纤传感器、光纤传感器测量系统、数字电压表、测微头软件:特性软件SET2003实验内容:【实验方案设计】设计要点:光纤传感器是一种把被测量的状态转变为可测的光信号的装置。

由光发送器发出的光经源光纤引导至敏感元件。

这时,光的某一性质受到被测量的调制,已调光经接收光纤耦合到光接收器,使光信号变为电信号,最后经信号处理得到所期待的被测量。

在光纤传感器特性测试实验中应注意以下几点:1)光纤位移传感器具有前坡(0→最大),后坡(最大→最小)的原始输出特性。

2)外界光对测量具有一定影响,操作时应避免人员走动产生的光干扰。

光纤传感器的位移测量与及数值误差分析实验

光纤传感器的位移测量与及数值误差分析实验

光纤传感器的位移测量与及数值误差分析实验一、实验原理1.光纤传感器工作原理2.实验仪器和材料(1)光纤传感器:包括光源、探头和电子控制单元。

(2)被测物体:选择一个具有一定位移范围的物体,如斜坡或弹簧。

(3)信号处理器:用于采集和处理光纤传感器的输出信号。

3.实验步骤(1)将光纤传感器的探头安装在被测物体上,并将光源和电子控制单元连接好。

(2)调整光纤传感器的位置和方向,使其能够正确地检测到被测物体的位移。

(3)通过信号处理器采集光纤传感器的输出信号,并进行相应的数据处理。

(4)对被测物体进行一系列的位移变化,记录光纤传感器的输出信号,并计算位移值。

(5)分析和比较测量结果,评估光纤传感器的测量精度和可靠性。

二、数值误差分析1.线性度误差线性度误差是指光纤传感器在测量范围内的输出与被测物体实际位移之间的偏差。

通过在不同位移范围内进行测量,可以绘制出光纤传感器的输入输出曲线,并通过拟合得到线性度误差。

2.灵敏度误差灵敏度误差是指光纤传感器输出信号的增益与被测物体位移之间的偏差。

通过改变被测物体的位移步长,可以测量得到不同位移值下的输出信号,并计算灵敏度误差。

3.常数误差常数误差是指光纤传感器输出信号在零位移点上的固有偏移。

可以通过将被测物体置于零位移点附近,记录测量结果,并计算常数误差。

4.稳定性误差稳定性误差是指光纤传感器在长时间测量过程中输出信号的波动。

通过对输出信号进行连续测量,并统计其标准差,可以评估光纤传感器的稳定性。

5.总误差估计将上述各项误差进行合并,可以得到光纤传感器的总体误差估计。

同时,也可以根据具体的应用需求,确定误差允许范围,评估光纤传感器的适用性。

通过以上实验步骤和数值误差分析,可以深入了解光纤传感器的位移测量原理,并评估其测量精度和可靠性。

同时,针对实验结果中的误差,可以进一步优化光纤传感器的设计和应用。

光纤位移压力传感特性的研究实验报告

光纤位移压力传感特性的研究实验报告

光纤位移压力传感特性的研究实验报告一、实验目的通过对光纤位移压力传感器的实验研究,掌握其基本工作原理、测量范围及精度等参数,并探究其在实际应用中的优越性。

二、实验原理光纤位移压力传感器的工作原理是利用光纤的受力柔顺性,将光纤上的光束引到探头中,并通过探头感应光纤的受力变化,从而获得被测物体的位移及压力等动态信息。

光纤位移压力传感器主要包括探头、光源和检测器等部分,其中光源产生光波,光束在光纤中传输,光纤上部分受力变形,产生较大的力致光纤光路长度的微小变化,这一微小变化将会对传输的光波偏移一定的角度,经过探头捕获到的信号经过能量变换后传递到检测器,从而实现对光纤位移压力的测量。

三、实验器材光纤位移压力传感器、电源、光源、光电检测器、滑块导轨等。

四、实验流程1.按照实验器材使用说明书将光纤位移压力传感器安装在滑块导轨上;2.将电源连接至光源和光电检测器;3.调整光源和光电检测器的位置,使得光束能够形成一个封闭的光路;4.测量光纤位移压力传感器的初始状态;5.将较大的物体作用在光纤位移压力传感器上,测量其变形后的状态;6.根据读数计算出物体的位移及压力等数据,并进行分析。

五、实验结果本次实验的光纤位移压力传感器的测量范围为0至1000牛,精度可达0.1%。

实验结果表明,在受到外来压力影响时,光纤位移压力传感器能够产生一定的光路长度变化,通过对这种变化的测量,能够较为准确地对外来压力进行测量。

此外,在位移测量方面,本次实验中的光纤位移压力传感器也表现出了较为优越的性能,能够实现对微小变形的高精度测量。

本次光纤位移压力传感器的实验研究表明,该传感器具有较高灵敏度,能够实现高精度的位移、压力测量,适用于需要实时监控、远距离测量等多种应用场景。

通过对其功耗、精度等方面的分析,进一步优化传感器的性能,可以提升其在实际应用中的可靠性和适用性。

实验07(光纤传感器的位移测量及数值误差分析实验)实验报告

实验07(光纤传感器的位移测量及数值误差分析实验)实验报告

实验报告:实验07(光纤传感器的位移测量及数值误差分析实验)实验一:光纤传感器位移特性实验一、实验目的:了解光纤位移传感器的工作原理和性能,测量其静态特性实验数据。

学会对实验测量数据进行误差分析。

二、基本原理:本实验采用的是传光型光纤,它由两束光纤混合后,组成Y 型光纤,半园分布即双D 分布,一束光纤端部与光源相接发射光束,另一束端部与光电转换器相接接收光束。

两光束混合后的端部是工作端亦称探头,它与被测体相距X,由光源发出的光纤传到端部出射后再经被测体反射回来,另一束光纤接收光信号由光电转换器转换成电量,而光电转换器转换的电量大小与间距X 有关,因此可用于测量位移。

三、器件与单元:主机箱、光纤传感器、光纤传感器实验模板、测微头、反射面。

四、实验数据:实验数据记录如下所示:表1光纤位移传感器输出电压与位移数据实验二:随机误差的概率分布与数据处理1.利用Matlab语句(或C语言),计算算术平均值和标准差(用贝塞尔公式)clc; clear;l=[20.42 20.43 20.40 20.43 20.42 20.43 20.39 20.30 20.40 20.43 20.42 20.41 20.39 20.39 20.40];%例2-22数据v0=l-mean(l)%残差列M1=mean(l)%算术平均值M2=std(l)%标准差计算结果数据分布2.利用Matlab语句(或C语言),用残余误差校核法判断测量列是否存在线性和周期性系统误差%残余误差校核法校核线性系统误差N=length(l)%原数组长度if(mod(N,2))%求数组半长K=(N+1)/2elseK=(N)/2endA1=0;delta=0;%delta=A1-A2for i=1:K;%计算前半部分残差和A1=A1+v0(i);endA2=0;for j=K+1:N;%计算后半部分残差和A2=A2+v0(j);endA1;A2;fprintf('Delta校核结果\n');delta=A1-A2%校核结果%阿贝-赫梅特准则校核周期性系统误差u=0for i=1:N-1;u=u+v0(i)*v0(i+1);endu=abs(u)if((u-sqrt(N-1)*M30)>0)fprintf('存在周期性系统误差\n');elsefprintf('未发现周期性系统误差\n');end运行结果可见delta近似于0,由马利克夫准则可知,此案例中应用的残余误差校核法无法确定是否存在系统误差。

光纤位移传感器实验报告

光纤位移传感器实验报告

光纤位移传感器实验报告光纤位移传感器实验报告引言光纤位移传感器是一种基于光纤传输原理的高精度测量设备,广泛应用于机械、航空航天、电子等领域。

本实验旨在通过搭建光纤位移传感器实验装置,探究其原理和性能,并对其进行实际应用测试。

一、实验装置搭建实验装置主要由光源、光纤传输线、光纤接收器和信号处理器组成。

首先,将光源连接到光纤传输线的一端,然后将另一端连接到光纤接收器。

在实验过程中,需要保证光纤传输线的稳定性和光源的亮度。

信号处理器用于接收光纤传输线传输过来的信号,并将其转化为位移数值。

二、原理分析光纤位移传感器的工作原理基于光的传输特性。

光纤传感器通过测量光纤中的光信号的强度变化来确定位移的大小。

当物体发生位移时,光纤中的光信号会受到干扰,从而导致光强度的变化。

通过测量光强度的变化,可以计算出位移的数值。

三、性能测试1. 精度测试为了测试光纤位移传感器的精度,我们将其与一个标准测量仪器进行对比。

首先,我们将标准测量仪器测量得到的位移数值作为参考值,然后使用光纤位移传感器进行测量。

通过对比两者的测量结果,可以评估光纤位移传感器的精度。

2. 灵敏度测试光纤位移传感器的灵敏度是指其对位移变化的响应能力。

我们可以通过改变物体的位移大小,然后观察光纤位移传感器的输出值来测试其灵敏度。

在实验中,我们可以逐渐增加物体的位移,然后记录下光纤位移传感器的输出值。

通过分析数据,可以得出光纤位移传感器的灵敏度。

3. 稳定性测试光纤位移传感器的稳定性是指其在长时间使用过程中的性能表现。

为了测试稳定性,我们可以将光纤位移传感器连接到一个振动平台上,然后进行长时间的振动测试。

通过观察光纤位移传感器的输出值,可以评估其在振动环境下的稳定性。

四、实际应用光纤位移传感器在实际应用中具有广泛的用途。

例如,在机械领域,光纤位移传感器可以用于测量机械零件的位移,以确保其工作正常。

在航空航天领域,光纤位移传感器可以用于测量飞机结构的变形,以确保飞机的安全性。

反射式光纤位移传感器测距原理实验

反射式光纤位移传感器测距原理实验

反射式光纤位移传感器测距原理实验一.实验目的1.了解光纤传输的基本原理2.了解反射式光纤传感器的一般原理结构、性能3.利用反射式光纤位移传感器测量出光强随位移变化的函数关系。

二.实验原理1.光导纤维与光纤传感器的一般原理图1光纤的基本结构光导纤维是利用光的完全内反射原理传输光波的一种介质。

如图1所示,它是由高折射率的纤芯和包层所组成。

包层的折射率小于纤芯的折射率,直径大致为0.1mm~0.2mm。

当光线通过端面透入纤芯,在到达与包层的交界面时,由于光线的完全内反射,光线反射回纤芯层。

这样经过不断的反射,光线就能沿着纤芯向前传播。

由于外界因素(如温度、压力、电场、磁场、振动等)对光纤的作用,引起光波特性参量(如振幅、相位、偏振态等)发生变化。

因此人们只要测出这些参量随外界因素的变化关系,就可以通过光特性参量的变化来检测外界因素的变化,这就是光纤传感器的基本工作原理。

2.反射式位移传感器的结构原理反射式光纤位移传感器是一种传输型光纤传感器。

其原理如图2所示:光纤采用Y型结构,两束多模光纤,一端合并组成光纤探头,另一端分为两支,分别作为光源光纤和接收光纤。

光从光源耦合到光源光纤,通过光纤传输,射向反射片,再被反射到接收光纤,最后由光电转换器接收,转换器接受到的光源与反射体表面性质、反射体到光纤探头距离有关。

当反射表面位置确定后,接收到的反射光光强随光纤探头到反射体的距离的变化而变化。

显然,当光纤探头紧贴反射片时,接收器接收到的光强为零。

随着光纤探头离反射面距离的增加,接收到的光强逐渐增加,到达最大值点后又随两者的距离增加而减小。

图3所示就是反射式光纤位移传感器的输出特性曲线,利用这条特性曲线可以通过对光强的检测得到位移量。

反射式光纤位移传感器是一种非接触式测量,具有探头小,响应速度快,测量线性化(在小位移范围内)等优点,可在小位移范围内进行高速位移检测。

图2反射式位移传感器原理图3反射式光纤位移传感器的输出特性实验仪器:SET-QX型光纤位移传感器实验箱。

实验五 光纤传感器位移测量

实验五 光纤传感器位移测量

实验五光纤传感器位移测量一、目的1 .熟悉反射式强度外调制光纤位移传感器的工作原理。

2 .掌握光纤位移传感器测量位移的方法。

二、实验设备光纤(光电转换器〉、光纤光电传感器实验模块、电压表、示波器、螺旋微仪、反射镜片三、实验原理1 .光纤导光的基本原理。

光是一种电磁波,一般采用波动理论来分析导光的基本原理。

然而根据光学理论:当所研究对象的几何尺寸(指光纤的芯径)远大于所用光波的波长,而光波又处在折射率变化缓慢的空间时可用“光线”即几何光学这一直观又容易理解的方法来分析光波的传播现象。

根据折射定律:光由光密媒质n0 射向光疏媒质n1时,折射角大于入射角,当入射角增至某一临界角ϕc时,出射光线沿两媒质的分界面传播,当入射角继续增大,ϕ0 >ϕc时,入射光线将不能穿过分界面而被完全反射回光密媒质中,这就是全反射。

光纤是由折射率较高(光密介质)的纤芯和折射率较低(光疏介质)的包层构成的双层同心圆柱结构。

能在光纤中传输的光线是满足全反射条件的子午光线(过光纤的轴心线,传播路径始终在一个平面内。

)和斜光线(不经过光纤轴心,不在一个平面内,它是一空间曲线)这两种光线称为受导光线。

在此只简要说明子午光线入射光纤的情况。

当光线与光纤光轴成θ角入射时,在纤芯内部将以ϕ0入射到纤芯的侧壁。

由于ϕ0>ϕc和n0> n1 ,则光在侧壁上产生连续向前的全反射,光在纤芯内成“之”字形传导,直至由终端射出。

如果入射角θ过大致使ϕ0角不能满足全反射的临界要求,即ϕ0< ϕc,光线会穿过纤芯的侧壁而逸出,产生漏光。

因此,最大入射角θ不能超过下式所要求的值式中,n为光纤所在环境的折射率(若为空气,则n=1),n sin 定义为数值孔径,记作NA,它是衡量光纤集光性能的主要参数。

它表示,无论光源发射功率多大,只有2θ张角内的光才能被光纤接收、传播(全反射),NA愈大,光纤的集光能力愈强。

2.光纤中光波的调制和相关的反射机制。

光纤传感器在位移测量中的应用

光纤传感器在位移测量中的应用

光纤传感器在位移测量中的应用一、实验目的:了解光纤传感器在位移测量中的应用。

二、实验内容:光纤传感器是利用光纤对光的传播作用,即由光纤信息传输回路与光检测元件组成测量系统的CSY系列传感器系统综合实验仪,该仪器光纤采用Y型结构,如图4所示。

图4 光纤位移传感器工作原理图5 光纤位移传感器X-V关系曲线通过光源光纤的传输,光射到被测物体时,由于入射光的散射作用被反射体反射进入接收光纤的光强减弱了,输出的光强与反射体(即被测物体)与光纤探头的距离ΔX有关,光电转换器将接收到的光能转换为电压信号在一定范围内,其输出电压与位移是线性关系,曲线如图5所示(ΔX<2时)。

这种传感器已被用于非接触式微小位移量和表面粗糙度测量等方面。

三、实验要求:1.光纤传感器接线要牢靠。

2.光纤勿折成锐角曲折。

3.光纤不可互换,光纤传感器与综合试验仪相互对号配合使用。

四、实验装置:同实验一。

五、实验步骤:1.取下原来安装在传感器支架上的电涡流激励线圈,在该支架上装好光纤探头,探头对准镀铬反射片(即电涡流传感器试验中使用过的圆形金属片)。

2.建立振动台与测微头的磁性联结,光电变换器Vo与电压表IN相接,开启电源。

转动测微头,使光纤探头端面紧贴反射镜面,此时Vo输出为最小(由于仪器精度问题不一定为零)。

然后旋动测微头,使光纤探头向离开反射镜面的方向移动,每移动0.25mm读取光电变换器的输出Vo电压值填入表内。

六、实验数据及处理:1.使用实验仪实时采集实验数据并绘制光纤位移传感器的X-V关系曲线2.分析光纤位移测量系统的X—V曲线,选择该曲线的适宜区域作为位移检测的工作曲线,并计算出本光纤位移测量系统的灵敏度解:在区间(0,1)内线性度较好,适合作为位移检测工作曲线在区间(0,1)内,灵敏度S=0.630V/mmV=0.63X+2.2873.给出本光纤位移测量系统的推荐量程解:因为曲线在区间(0,1)内线性度较好,且灵敏度高所以推荐量成为(0,1)单位:mm七、思考题:该位移测量系统中使用的光纤传感器属于功能型光纤传感器吗?为什么?答:不是,因为功能型光纤传感器是利用光纤本身的特性把光纤作为敏感元件, 被测量对光纤内传输的光进行调制, 使传输的光的强度、相位、频率或偏振态等特性发生变化, 再通过对被调制过的信号进行解调, 从而得出被测信号。

传感器的位移测量实验

传感器的位移测量实验

位移测量实验报告专业班级姓名实验仪器编号实验日期一、实验目的掌握常用的位移传感器的测量原理、特点及使用,并进行静态标定。

二、实验仪器CSY10B型传感器系统实验仪。

三、实验内容(一)电涡流传感器测位移实验·1、测量原理扁平线圈中通以交变电流,与其平行的金属片中产生电涡流。

电涡流的大小影响线圈的阻抗Z。

Z = f(ρ,μ,ω,x)。

不同的金属材料有不同的ρ、μ,线圈接入相应的电路中,用铁、铝两种不同的金属材料片分别标定出测量电路的输出电压U与距离x的关系曲线。

2、测试系统组建电涡流线圈、电涡流变换器(包括振荡器、测量电路及低通滤波输出电路)、测微头、电压表、金属片。

3、试验步骤4、数据分析与讨论画出输入输出关系曲线,确定量程,非线性误差,在测量范围内计算灵敏度,进行误差分析。

(二)光纤传感器测位移实验1、测量原理反射式光纤传感器属于结构型, 工作原理如图。

反射式位移传感器原理当发光二极管发射红外光线经光纤照射至反射体,被反射的光经接收光纤至光电元件。

经光电元件转换为电信号。

经相应的测量电路测出照射至光电元件的光强的变化。

2、组建测试系统光纤、光电元件、发光二级管、光电变换测量电路、数字电压表、反射体(片)、测微头。

3、实验步骤4、数据分析与讨论画出输入输出关系曲线,确定量程,非线性误差,在测量范围内计算灵敏度,进行误差分析。

(三)电容式传感器测位移实验1、测量原理电容式传感器是将被测物理量转换成电容量的变化来实现测量的。

本实验采用的电容式传感器为二组固定极片与一组动极片组成二个差动变化的变面积型平行极板电容式传感器。

电容式位移传感器测量系统方框图:2、组建测试系统需用器件与单元:机头中的振动台、测微头、电容传感器;显示面板中的电压表;调理电路面板传感器输出单元中的电容;调理电路单元中的电容变换器(包括了振荡电路、测量电路和低通滤波电路在内)、差动放大器。

3、实验步骤1)、接线。

调节测微头的微分筒使测微头的测杆端部与振动台吸合,再逆时针调节测微头的微分筒(振动台带动电容传感器的动片阻上升),直到电容传感器的动片组与静片组上沿基本平齐为止(测微头的读数大约为20mm左右)作为位移的起始点。

《传感器及检测技术》实验5 光纤传感器位移特性及测速实验

《传感器及检测技术》实验5 光纤传感器位移特性及测速实验

实验五光纤传感器位移特性及测速实验一、实验目的了解反射式光纤位移传感器的原理与应用。

了解光纤位移传感器用于测转速的方法。

二、实验仪器Y 型光纤传感器、测微头、反射面、差动放大器、电压放大器、数显电压表、频率/转速表、转动源、示波器、直流稳压电源。

三、实验原理反射式光纤位移传感器是一种传输型光纤传感器。

其原理如图5-1 所示, 光纤采用Y型结构, 两束光纤一端合并在一起组成光纤探头, 另一端分为两支, 分别作为光源光纤和接收光纤。

光从光源耦合到光源光纤, 通过光纤传输, 射向反射面, 再被反射到接收光纤, 最后由光电转换器接收, 转换器接收到的光源与反射体表面的性质及反射体到光纤探头距离有关。

当反射表面位置确定后, 接收到的反射光光强随光纤探头到反射体的距离的变化而变化。

显然, 当光纤探头紧贴反射面时, 接收器接收到的光强为零。

随着光纤探头离反射面距离的增加, 接收到的光强逐渐增加, 到达最大值点后又随两者的距离增加而减小。

反射式光纤位移传感器是一种非接触式测量, 具有探头小, 响应速度快, 测量线性化(在小位移范围内)等优点,可在小位移范围内进行高速位移检测。

图5-1 反射式光纤位移传感器原理图5-2 光纤位移传感器安装示意图在测速时, 需利用光纤位移传感器探头对旋转被测物反射光的明显变化产生电脉冲, 经电路处理即可测量转速。

四、实验内容与步骤(1)光纤传感器位移特性实验1. 光纤传感器的安装如图5-2 所示, 将Y 型光纤结合处安装在传感器固定支架上, 光纤分叉两端插入“光纤插座”中。

探头对准镀铬反射板(铁质材料圆盘), 固定在测微头上。

按图5-3接线, 电压放大器的输出接直流电压表。

2.将测微头起始位置调到10cm处, 手动使反射面与光纤探头端面紧密接触, 固定测微头。

3. 将“差动变压器”与“电压放大器”的增益调节旋钮调到中间位置。

打开直流电源开关。

4.将“电压放大器”输出端接到直流电压表(20V档), 仔细调节调零电位器使电压表显示为零。

光纤传感器的位移特性实验报告

光纤传感器的位移特性实验报告

光纤传感器的位移特性实验报告
本文将分析光纤传感器的位移特性实验,介绍器件本身的特性、参数设置、实验方法,测试数据以及实验结果。

光纤传感器是一种新兴的技术,它主要利用光纤的光学特性和检测技术来检测运动物体的物理位移,以及其他物理变化。

它具有小尺寸、低功耗、设备安装方便、非接触式等优点,可用于检测、控制和监视过程中的各种参数,在机器人技术、航空航天技术、发动机控制系统、安全监测、绿色能源等领域中有广泛的应用。

本实验使用的特定型号的光纤传感器器件是由XXX公司生产的,采用高精度表面贴装工艺,结构小巧,反应迅速,适合作为精密机械设备中的传感器使用。

此款器件采用单模光纤非接触式测量,最大位移量可达到±100mm,分辨率为1m以下,误差低于1%。

为了测试光纤传感器的位移特性,设计了一个由钢丝和支架组成的测试装置,将光纤传感器的光路安装在测试装置的两个固定点上,模拟了实际工作环境中的物理位移,测试装置还具有一定的可调性,可以满足不同的测试要求。

根据实验设计,将光纤传感器安装在协调测试装置上,通过实验室校验系统调节设备参数,如增益和温度,以保证测量结果的准确性,将器件设置为双轴平行模式,然后选择不同增益,模拟不同物理位移。

在每组测试中,模拟的位移值为10mm,20mm,30mm,40mm,50mm,60mm,70mm,80mm,90mm,100mm;每组测试都重复进行了三次,以获得有效的测量结果。

根据测量结果,绘制出光纤传感器的位移特性
图,将量测到的位移值与模拟的位移值进行比较,以确定光纤传感器的准确度。

实验结果表明,在测量范围内,光纤传感器的实测位移与模拟位移之间的误差在1μm以内,无论是在纵轴还是横轴方向,测量精度均达到了预期的要求。

光纤传感器位移特性实验.doc

光纤传感器位移特性实验.doc

光纤传感器位移特性实验.doc
实验目的:
1.了解光纤传感器的工作原理
2.学习光纤传感器在位移测量中的应用
实验原理:
光纤传感器是利用光的特性来实现测量的一种传感器。

它利用光纤中光的传输特性,通过改变光路长度来测量被测量体的位移,具有高灵敏度、线性范围宽等优点。

在位移测量中,光纤传感器通过测量出光纤的长度变化来实现位移的测量。

由于光纤的长度变化与被测量体的位移量成正比,因此可以通过测量光纤的长度变化来得出被测量体的位移量。

实验器材:
2.控制器
3.被测物体
实验步骤:
1.将光纤传感器连接至控制器
2.将被测物体固定在平面上
3.通过手动移动被测物体,记录下不同位置时传感器的输出值
4.根据记录数据,计算出被测物体的位移量
实验注意事项:
1.实验过程中,应按照说明书正确使用光纤传感器
2.实验中应注意安全,避免触电等事故的发生
3.在记录数据时,应注意保证数据精确性
实验结果:
通过实验,我们得到了不同位置下光纤传感器的输出数据,根据数据计算得出被测物体的位移量。

实验结果表明,光纤传感器可以准确地测量物体的位移量,并且具有高灵敏度、线性范围宽等优点。

结论:
光纤传感器是一种高精度、高灵敏度的传感器,在位移测量中有着广泛的应用。

通过本次实验,我们了解了光纤传感器的工作原理,学习了其在位移测量中的应用,并且掌握了其在位移测量中的特性。

光纤位移传感器实验报告

光纤位移传感器实验报告

一、实验目的1. 理解光纤位移传感器的工作原理和结构。

2. 掌握光纤位移传感器的测量方法及其在位移检测中的应用。

3. 验证光纤位移传感器的准确性和可靠性。

二、实验原理光纤位移传感器是利用光纤的传输特性,通过测量光纤内传输光的变化来检测位移的一种传感器。

反射式光纤位移传感器是其中一种常见类型,其工作原理如下:1. 光源发射的光经光纤探头照射到被测物体表面。

2. 被测物体反射的光经接收光纤传输至光电转换元件。

3. 光电转换元件将光信号转换为电信号输出。

4. 根据电信号的强弱变化,计算被测物体的位移。

三、实验仪器与设备1. 光纤位移传感器2. 激光光源3. 光功率检测器4. 测微头5. 反射面6. 差动放大器7. 电压放大器8. 数显电压表9. 实验台四、实验步骤1. 搭建实验装置:将激光光源、光路系统、待测物体、光功率检测器等连接好。

2. 调节激光光源的位置和光路系统,使激光能够正常发出。

3. 将光纤位移传感器连接到光功率检测器,并调整其位置,使其与待测物体表面保持一定距离。

4. 旋转测微头,使光纤探头与待测物体表面接触,记录初始位移值。

5. 逐渐增加待测物体的位移,记录每个位移值对应的输出光功率。

6. 分析实验数据,绘制位移-光功率曲线,计算位移与光功率之间的关系。

五、实验结果与分析1. 通过实验,验证了光纤位移传感器在位移检测中的应用。

2. 实验结果表明,光纤位移传感器具有以下特点:- 高灵敏度:位移变化对光功率的影响较大,可以精确测量微小位移。

- 高稳定性:光纤传感器受外界环境干扰较小,具有较好的稳定性。

- 抗干扰能力强:光纤传感器对电磁干扰、温度变化等具有较强的抗干扰能力。

3. 实验数据表明,光纤位移传感器的输出光功率与位移之间存在线性关系,可以用于精确测量位移。

六、实验总结1. 通过本次实验,我们了解了光纤位移传感器的工作原理和结构。

2. 掌握了光纤位移传感器的测量方法及其在位移检测中的应用。

传感器实验报告

传感器实验报告

一、实验目的:了解光纤位移传感器动态特性。

二、基本原理:利用光纤位移传感器的位移特性,配以合适的测量电路即可测量振动。

三、需用器件与单元:光纤位移传感器、光纤位移传感器实验模板、振动梁(2000型)或振动测量控制仪(9000型)、检波/滤波/低通实验模板、数显频率/转速表。

四、实验步骤:1、将光纤传感器按图3-5安装在振动台上,并用手按压振动台,不能使差动变压器的活动杆有卡死的现象,否则必须调整安装位置,光纤探头对准振动台的反射面。

2、根据实验三十的结果,找出前坡或后坡的线性段中点,通过调节安装支架高度将光纤探头与振动台台面的距离调整在线性段中点(大致目测)。

3、在图9-2中V01与低通滤波器模板VI相接,低通输出V0接到示波器。

4、在振动源上接入低频振动信号(2000型),将频率选择在6-10HZ左右,逐步增大输出幅度,注意不能使振动台面碰到传感器,观察示波器的信号波形。

保持振动幅度不变,改变振动频率观察示波器的信号波形。

答:示波器的信号波形是正弦波,当逐步增大输出幅度时,示波器的信号波形的幅度也是逐渐的增大,与输出幅度成正比。

当保持振动的幅度不变时,改变振动频率发现示波器的信号波形频率逐渐的变小。

5、根据实验三十的数据,计算出梁的振动幅度有多大?答:由前波的位移特性图可以知道,梁的振动幅度满足正弦波,其电压幅度ΔV=6.68-0.03v=6.65v,由前波的拟合直线y=3.1022x-12.934可得,梁的振动幅度:ΔX=(ΔV+12.934)/3.1022=6.313mm.。

五、思考题:试分析电容式、电涡流、光纤三种传器测量振动时的特点?答:电容式测量振动时实际上是变极距差动电容式位移传感器,通过改变电容值来表征振幅的变化,其可以测量微位移。

电涡流测量振动频率高于固有频率的振动,他是通过在振动过程中产生的感应电流即涡流,在涡流里产生的交变磁场中产生的感应电压,其灵敏度低。

光纤传感器测量振动时,光纤本身只起到传光的作用。

光纤位移传感器实验报告

光纤位移传感器实验报告

光纤位移传感器实验报告篇一:光纤位移传感器测位移特性实验实验二十六光纤位移传感器测位移特性实验一、实验目的:了解光纤位移传感器的工作原理和性能。

二、基本原理:光纤传感器是利用光纤的特性研制而成的传感器。

三、器件与单元:主机箱中的?15V直流稳压电源、电压表;,型光纤传感器、光纤传感器实验模板、测微头、反射面(抛光铁圆片)。

四、实验步骤:1、观察光纤结构:二根多模光纤组成Y形位移传感器。

将二根光纤尾部端面(包铁端部)对住自然光照射,观察探头端面现象,当其中一根光纤的尾部端面用不透光纸挡住时,在探头端观察面为半圆双D形结构。

2、按图安装、接线。

?安装光纤:安装光纤时,要用手抓捏两根光纤尾部的包铁部分轻轻插入光电座中,绝对不能用手抓捏光纤的黑色包皮部分进行插拔,插入时不要过分用力,以免损坏光纤座组件中光电管。

?测微头、被测体安装:调节测微头的微分筒到5mm处(测微头微分筒的0刻度与轴套5mm刻度对准)。

将测微头的安装套插入支架座安装孔内并在测微头的测杆上套上被测体(铁圆片抛光反射面),移动测微头安装套使被测体的反射面紧贴住光纤探头并拧紧安装孔的紧固螺钉。

3、将主机箱电压表的量程切换开关切换到20V档,检查接线无误后合上主机箱电源开关。

调节实验模板上的RW、使主机箱中的电压表显示为0V。

4、逆时针调动测微头的微分筒,每隔0.1mm(微分筒刻度0,10、10,20……)读取电压表显示值线性度最好区域:5、根据表26数据画出实验曲线并找出线性区域较好的范围计算灵敏度和非线性误差。

实验完毕,关闭电源。

实验二十七光电传感器测转速实验一、实验目的:了解光电转速传感器测量转速的原理及方法。

二、基本原理:光电式转速传感器有反射型和透射型二种,本实验装置是透射型的(光电断续器也称光耦),传感器端部二内侧分别装有发光管和光电管,发光管发出的光源透过转盘上通孔后由光电管接收转换成电信号,由于转盘上有均匀间隔的6个孔,转动时将获得与转速有关的脉冲数,脉冲经处理由频率表显示,,即可得到转速,=10f。

实验二光纤传感器的位移测量

实验二光纤传感器的位移测量

实验二光纤传感器的位移测量一、实验目的1,了解光纤传感器的结构和工作原理。

1、掌握反射式光纤传感器的工作原理;2、了解反射光的强弱与反射物与光纤探头的距离关系二、实验原理反射式光纤传感器工作原理如下图所示,光纤采用Y型结构,两束多模光纤合并于一端组成光纤探头,一束作为接受,另一束为光源发射,近红外二极管发出的近红外光经光源光纤照射至被测物,由被测物反射的光信号经接受光纤传输至光电转换器转换为电信号,反射光的强弱与反射物与光纤探头的距离成一定的比例关系,通过对光强的检测就可得知位置量的变化。

三、实验设备与器件1、光纤(光电转换器)2,光电变换器3,支架4,电压表5,示波器6,螺旋测微仪7,反射镜片。

四、实验内容1、观察光纤结构:本实验仪所配的光纤探头为半圆型结构,由数百根导光纤维组成,一半为光源光纤,一半为接受光纤。

2,连接主机与实验模块电源及光纤变换器探头接口,光纤探头装上探头支架,探头垂直对准反射片中央(镀鉻圆铁片),螺旋测微仪装上支架,以带动反射镜片位移。

3,开启主机电源,光电变换器V0端接电压表,首先旋动测微仪使探头紧贴反射镜片(如果表面不平行可稍许扳动光纤探头角度使两平面吻合),此时V0输出=0,然后旋动测微仪,使反射镜片离开探头,每隔2mm记录一数值并记录下表:4,位移距离如再加大,就可观察到光纤传感器输出特性曲线的前坡与后坡波形,作出V-X曲线,通常测量用的是线性较好的前坡范围。

五、实验注意事项1、光纤请勿成锐角曲折,以免造成内部断裂,端面尤要注意保护,否则会使光通量衰耗加大造成灵敏度下降。

2,每台仪器的光电转换器(包括光纤)与转换电路都是单独调配的,请注意与仪器编号配对使用。

3,实验时注意增益调节,输出量最大信号以3V左右为宜,避免过强的背景光照射。

大学物理光纤传感器实验报告

大学物理光纤传感器实验报告

大学物理光纤传感器实验报告一、实验目的1、了解光纤传感器的工作原理和基本结构。

2、掌握光纤传感器测量位移、温度等物理量的方法。

3、学会使用相关仪器对光纤传感器的性能进行测试和分析。

二、实验原理光纤传感器是一种将被测对象的状态转变为可测的光信号的传感器。

它基于光在光纤中传输时的特性,如光的强度、波长、相位等会受到外界因素的影响而发生变化。

在位移测量中,通常利用光纤的微弯损耗原理。

当光纤发生弯曲时,光在纤芯和包层界面的全反射条件被破坏,从而导致光的传输损耗增加。

通过测量光强的变化,可以得到光纤的弯曲程度,进而推算出位移量。

在温度测量中,常采用光纤的热光效应或热膨胀效应。

热光效应指的是光纤材料的折射率随温度变化而改变,从而影响光的传输特性;热膨胀效应则是光纤的长度随温度变化而伸长或缩短,导致光程发生改变。

三、实验仪器1、光纤传感器实验仪:包括光源、光纤探头、光电探测器、信号处理电路等。

2、位移台:用于精确控制位移量。

3、温控箱:提供稳定的温度环境。

4、数字示波器:用于观测和记录电信号。

5、计算机:用于数据采集和处理。

四、实验步骤1、位移测量实验连接好实验仪器,打开光源和信号处理电路。

将光纤探头固定在位移台上,调整探头与被测物体的初始距离。

缓慢移动位移台,改变探头与被测物体的距离,同时观察数字示波器上输出信号的变化。

记录不同位移量对应的输出电压值,并绘制位移电压曲线。

2、温度测量实验将光纤探头放入温控箱中,设置不同的温度值。

等待温度稳定后,记录数字示波器上的输出电压值。

绘制温度电压曲线。

五、实验数据及处理1、位移测量实验数据|位移(mm)|输出电压(V)|||||00|05||05|12||10|18||15|23||20|28|以位移为横坐标,输出电压为纵坐标,绘制位移电压曲线。

通过对曲线进行拟合,可以得到位移与输出电压之间的线性关系。

2、温度测量实验数据|温度(℃)|输出电压(V)|||||200|08||300|15||400|21||500|28||600|35|同样以温度为横坐标,输出电压为纵坐标,绘制温度电压曲线。

光纤传感器的位移特性实验

光纤传感器的位移特性实验

实验二十五光纤传感器的位移特性实验一、实验目的了解光纤位移传感器的工作原理和性能.二、实验内容用传光型光纤测位移.三、实验仪器光纤传感器、光纤传感器实验模板、数显单元、测微头、直流源、反射面(用电涡流传感器的铁测片做反射面)。

四、实验原理本实验采用的是传光型光纤,它由两束光纤混合后,组成Y型光纤,半园分布即双D型一束光纤端部与光源相接发射光束,另一束端部与光电转换器相接接收光束.两光束混合后的端部是工作端亦称探头,它与被测体相距X,由光源发出的光纤传到端部出射后再经被测体反射回来,另一束光纤接收光信号由光电转换器转换成电量,而光电转换器转换的电量大小与间距X有关,因此可用于测量位移。

五、实验注意事项1、实验时注意光纤探头与反射面保持平行,调整光纤探头使其位于反射面的圆心上。

2、实验前应用纸巾擦拭反射面,以保证反射效果。

六、实验步骤1、根据图9-1安装光纤位移传感器,二束光纤插入实验板上的座孔上。

其内部已和发光管D及光电转换管T 相接。

图9-1 光纤传感器安装示意图2、将光纤实验模板输出端VO1与数显单元相连,见图9-2。

图9-2光纤传感器位移实验接线图3、调节测微头,使探头与反射面圆平板接触。

4、实验模板接入±15V电源,合上主控台电源开关,调RW使数显表显示值最小,然后微调测微头使数显表显示为0。

000(电压选择置2V档)。

5、旋转测微头,被测体离开探头,每隔0.05mm读出数显表值,将其填入下表:(实验结论:1、本实验每隔0.05mm是相对位置,起始值看做0。

05mm即可,无需从测微头上读绝对位置值。

每旋转0.05mm,输出的电压的增量应该大致相等.2、由于学生做实验可能不能正确的找到起始点,导致采集的数据不在线性范围内,从而影响数据采集的线性度,可以让学生从选取的起始点开始计数,多计几组数据,然后选取线性度较好的十组数据,填入下表。

3、如果只看本实验的线性情况,可选取十组较好的数据填入下表,若要看到光纤传感器的整个变化趋势,则至少应该记录25组数据,其V—X曲线见思考题答案)X(mm)V(v)6、根据上表数据,作光纤位移传感器的位移——输出曲线图。

光纤传感器的位移测量与及数值误差分析实验

光纤传感器的位移测量与及数值误差分析实验

实验报告:实验07(光纤传感器的位移测量与及数值误差分析实验)实验一:光纤传感器位移特性实验一、实验目的:了解光纤位移传感器的工作原理和性能,测量其静态特性实验数据。

学会对实验测量数据进行误差分析。

二、基本原理:本实验采用的是传光型光纤,它由两束光纤混合后,组成Y 型光纤,半园分布即双D 分布,一束光纤端部与光源相接发射光束,另一束端部与光电转换器相接接收光束。

两光束混合后的端部是工作端亦称探头,它与被测体相距X,由光源发出的光纤传到端部出射后再经被测体反射回来,另一束光纤接收光信号由光电转换器转换成电量,而光电转换器转换的电量大小与间距X 有关,因此可用于测量位移。

三、器件与单元:主机箱、光纤传感器、光纤传感器实验模板、测微头、反射面。

四、实验数据:实验数据记录如下所示:表1光纤位移传感器输出电压与位移数据实验二:随机误差的概率分布与数据处理1.利用Matlab语句(或C语言),计算算术平均值和标准差(用贝塞尔公式)clc; clear;l=[20.42 20.43 20.40 20.43 20.42 20.43 20.39 20.30 20.40 20.43 20.42 20.41 20.39 20.39 20.40];%例2-22数据v0=l-mean(l)%残差列M1=mean(l)%算术平均值M2=std(l)%标准差计算结果数据分布2.利用Matlab语句(或C语言),用残余误差校核法判断测量列是否存在线性和周期性系统误差%残余误差校核法校核线性系统误差N=length(l)%原数组长度if(mod(N,2))%求数组半长K=(N+1)/2elseK=(N)/2endA1=0;delta=0;%delta=A1-A2for i=1:K;%计算前半部分残差和A1=A1+v0(i);endA2=0;for j=K+1:N;%计算后半部分残差和A2=A2+v0(j);endA1;A2;fprintf('Delta校核结果\n');delta=A1-A2%校核结果%阿贝-赫梅特准则校核周期性系统误差u=0for i=1:N-1;u=u+v0(i)*v0(i+1);endu=abs(u)if((u-sqrt(N-1)*M30)>0)fprintf('存在周期性系统误差\n');elsefprintf('未发现周期性系统误差\n');end运行结果可见delta近似于0,由马利克夫准则可知,此案例中应用的残余误差校核法无法确定是否存在系统误差。

光纤位移实验实验报告

光纤位移实验实验报告

光纤位移实验实验报告实验报告:光纤位移实验一、实验目的:1. 掌握光纤位移测量原理和方法。

2. 熟悉光纤位移测量仪器的使用。

3. 观察并分析光纤位移实验现象。

4. 进一步了解光纤在位移测量中的应用。

二、实验原理:光纤位移测量是利用光纤的光学特性实现的一种非接触式位移测量方法。

光纤位移传感器由光纤传感头、光纤连接线、光纤光源和光纤检测器等组成。

当被测物体发生位移时,传感器通过测量光纤传感头上表面的光强变化来计算物体的位移。

实验中通常使用的原理是利用微小的位移引起光纤端面的反射光强变化。

光纤传感头的端面经过特殊处理,可以使光纤端面处于全反射状态。

当物体位移时,光纤端面受到微小的变形,导致反射光的入射角发生改变,进而改变了反射光的强度。

通过测量光纤端面反射光的强度变化,可以计算出被测物体的位移。

三、实验步骤:1. 将光纤位移传感器连接到光纤测量仪器上。

2. 将光纤传感头固定在实验台上,确保其对准待测物体。

3. 调整光纤传感头的位置,使其与待测物体接触。

4. 通过光纤测量仪器进行校准,调整其工作参数使其适应当前实验环境。

5. 在光纤测量仪器上设置起始位移值。

6. 手动移动待测物体,观察光纤测量仪器显示的位移数值。

7. 记录测量结果,并计算位移的精度和稳定性。

四、实验结果与分析:在实验进行中,我们观察到光纤测量仪器能够实时显示被测物体的位移数值,并且具有较高的精度和稳定性。

在实验过程中,我们改变了待测物体的位移范围和速度,发现光纤测量仪器都能够准确地测量出位移数值,并且与实际值基本一致。

通过对实验结果的分析,我们发现光纤位移测量具有以下特点:1. 非接触式测量:由于光纤传感头与被测物体不直接接触,因此不会对被测物体产生影响。

2. 高精度:光纤测量仪器能够实时测量微小的位移,并且具有较高的测量精度。

3. 快速响应:光纤位移传感器能够实时监测位移的变化,并且反应速度较快。

4. 长距离传输:光纤传感器可以通过光纤连接线与光纤测量仪器进行远距离传输,适用于一些需要远程监测位移的场合。

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实验报告:实验07
(光纤传感器的位移测量与及数值误差分析实验)
实验一:光纤传感器位移特性实验
一、实验目的:了解光纤位移传感器的工作原理和性能,
测量其静态特性实验数据。

学会对实验测量数据进行误差分析。

二、基本原理:本实验采用的是传光型光纤,它由两束光
纤混合后,组成Y 型光纤,半园分布即双D 分布,一束光纤端部与光源相接发射光束,另一束端部与光电转换器相接接收光束。

两光束混合后的端部是工作端亦称探头,它与被测体相距X,由光源发出的光纤传到端部出射后再经被测体反射回来,另一束光纤接收光信号由光电转换器转换成电量,而光电转换器转换的电量大小与间距X 有关,因此可用于测量位移。

三、器件与单元:主机箱、光纤传感器、光纤传感器实验
模板、测微头、反射面。

四、实验数据:
实验数据记录如下所示:
表1光纤位移传感器输出电压与位移数据
实验二:随机误差的概率分布与数据处理
1.利用Matlab语句(或C语言),计算算术平均值和标准
差(用贝塞尔公式)
clc; clear;
l=[20.42 20.43 20.40 20.43 20.42 20.43 20.39 20.30 20.40 20.43 20.42 20.41 20.39 20.39 20.40];%例2-22数据
v0=l-mean(l)%残差列
M1=mean(l)%算术平均值
M2=std(l)%标准差
计算结果
数据分布
2.利用Matlab语句(或C语言),用残余误差校核法判断
测量列是否存在线性和周期性系统误差
%残余误差校核法校核线性系统误差
N=length(l)%原数组长度
if(mod(N,2))%求数组半长
K=(N+1)/2
else
K=(N)/2
end
A1=0;
delta=0;%delta=A1-A2
for i=1:K;%计算前半部分残差和
A1=A1+v0(i);
end
A2=0;
for j=K+1:N;%计算后半部分残差和
A2=A2+v0(j);
end
A1;
A2;
fprintf('Delta校核结果\n');
delta=A1-A2%校核结果
%阿贝-赫梅特准则校核周期性系统误差
u=0
for i=1:N-1;
u=u+v0(i)*v0(i+1);
end
u=abs(u)
if((u-sqrt(N-1)*M30)>0)
fprintf('存在周期性系统误差\n');
else
fprintf('未发现周期性系统误差\n');
end
运行结果
可见delta近似于0,由马利克夫准则可知,此案例中应
用的残余误差校核法无法确定是否存在系统误差。

3.用不同公式计算标准差后通过比较判断测量数据有无系
统误差
%不同公式计算标准差比较法
sigema1=0;
sigema2=0;
u=0;
for i=1:N %贝塞尔公式
sigema1=sigema1+v0(i)^2;
end
sigema1=sqrt(sigema1/(N-1))
for i=1:N %别捷尔斯公式
sigema2=sigema2+abs(v0(i));
end
sigema2=1.253*sigema2/sqrt(N*(N-1))
u=sigema2/sigema1-1
if(abs(u)>=(2/sqrt(N-1)))
fprintf('怀疑测量列中存在系统误差\n');
else
fprintf('不确定测量列中是否存在系统误差\n');
end
运行结果
4.利用Matlab语句(或C语言),用罗曼诺夫斯基准则和
格罗布斯准则判别有无粗大误差
%罗曼诺夫斯基法则判断是否存在粗大误差
j=1;%以下开始去除粗大误差
for i=1:N
if(i==8)
i=i+1;
continue
else
l1(j)=l(i);
j=j+1;
end
end
N1=length(l1);
v1=l-mean(l1);%去除粗大误差数据后的残差列
Averagae_lmnfsj=mean(l1);%去除粗大误差数据后的算术平均值
Standard_lmnfsj=0;
for i=1:N1
Standard_lmnfsj=Standard_lmnfsj+v1(i)^2;
end
Standard_lmnfsj=sqrt(Standard_lmnfsj/(N1-1));%去除粗大误差数据后的标准差
if((abs(l(8)-Averagae_lmnfsj)-2.24*Standard_lmnfsj)>0) fprintf('测量列中存在粗大误差,第8项数据存在粗大误差\n');
else
fprintf('测量列中不存在粗大误差\n');
end
运行结果
%格布罗斯法则判断是否存在粗大误差
l1=sort(l);
N=length(l);
Average_gbls=mean(l);
Standard_gbls=0;
for i=1:N
Standard_gbls=Standard_gbls+v0(i)^2;
end
Standard_gbls=sqrt(Standard_gbls/(N-1));%未去除粗大误差数据的标准差
%检查g1
g1=(Average_gbls-l1(1))/Standard_gbls;%g(1)
%检查gn
gn=(l1(N)-Average_gbls)/Standard_gbls;%g(n)
if(g1>=2.41)
fprintf('第一项测量值含有粗大误差\n');
fprintf('现在去除该项,重新计算\n');
else
if(gn>=2.41)
fprintf('最后一项测量值含有粗大误差\n');
fprintf('现在去除该项,重新计算\n');
else
fprintf('测量值不含有粗大误差\n');
end
end
%去除含有粗大误差的数据后重新计算
l20=sort(l);
j=1;%以下开始去除粗大误差
for i=2:N
l2(j)=l20(i);
j=j+1;
end
v2=l2-mean(l2);
N2=length(l2);
Average_gbls=mean(l2);
Standard_gbls=0;
for i=1:N2
Standard_gbls=Standard_gbls+v0(i)^2;
end
Standard_gbls=sqrt(Standard_gbls/(N2-1));%去除粗大误差数据的标准差
%检查g1
g1=(Average_gbls-l2(1))/Standard_gbls;%g(1)
%检查gn
gn=(l2(N2)-Average_gbls)/Standard_gbls;%g(n)
if(g1>=2.37)
fprintf('第一项测量值含有粗大误差\n');
fprintf('现在去除该项,重新计算\n');
else
if(gn>=2.37)
fprintf('最后一项测量值含有粗大误差\n');
fprintf('现在去除该项,重新计算\n');
else
fprintf('测量值不含有粗大误差\n');
end
end
运行结果:
5.利用Matlab语句(或C语言),计算算术平均值的标准
差和极限误差
%计算算术平均值的标准差和极限误差
M1=mean(l);%算术平均值
M2=std(l);%标准差
N=length(l);
sigema_std=M2/sqrt(N)
S_lim=2.14*sigema_std
fprintf('算术平均值的标准差为%d\n',sigema_std);
fprintf('算术平均值的极限误差为(-%d,
+%d\n)',S_lim,S_lim);
运行结果:。

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