碳化硅化学分析方法.doc

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碳化硅化学分析方法

1样品的制备

1.1结晶块试样

取具有统计代表性的结晶块,破碎至完全通过2 mm 筛网,混匀,用四分法缩分至50g ~60g 。继续用钢玉研钵研细至全部通过355μm 筛网。用吸力9.8N~14.7N 的磁铁吸出粉碎中带入的铁质。然后混匀,装入试样袋,于105℃~110℃的烘箱中烘干1h ,取出,放入干燥器中,冷却备用。

如果对三氧化二铁的测定有严格要求,则应按下列方法另行制样用以测定三氧化二铁:取具有统计代表性的结晶块,破碎至完全通过2mm 筛网,混匀,用四分法缩分至50g ~60g 。再用刚玉研钵研细至全部通过500μm 筛网,混匀,用四分法缩分至20g ~25g 。继续用刚玉研钵研细至全部通过355μm 筛网,混匀,装入试样袋,置于105℃~110℃的烘箱中烘干1h ,取出,放入干燥器中,冷却备用。 1.2磨料试样

对于F54(P50)及以粗的试样,取样和缩分依照GB/T4676进行,其余操作同1.1。

对于F60(P60)及以细的试样,依照GB/T 4676取样并缩分至50g ~60g ,装入试样袋,置于105℃~110℃的烘箱中烘干1h ,取出,放入干燥器中,冷却备用。

用作测定总碳的试样需研细至全部通过150μm 筛网。

第一节 游离碳的测定

一、 原理

试样在750℃±10℃(650℃±10℃)的温度下,经过灼烧,其表面的游离碳被氧化成二氧化碳损失,失去的重量来计算游离碳的含量。 二、分析步骤

1.F400(P800、W28、JIS #700)及以粗的试样的测定

称取试样1克于已灼烧至恒重的铂皿中,置于炉温为750℃±10℃的马弗炉中,灼烧30分钟,取出冷却后,称重,反复灼烧至恒重。

2.F400(P800、W28、JIS #700)以细的试样的测定

称取试样1克于已灼烧至恒重的铂皿中,置于炉温为650℃±10℃的马弗炉中,灼烧25分钟,取出冷却后,称重,反复灼烧至恒重。 三、 结果计算

游离碳的质量含量W(C F ),数值以%表示,按下列公式计算:

W(C F )=

1003

2

1⨯-m m m ………………………….(1) 式中:

m 1——试样加铂皿灼烧前质量的数值,单位为克(g ); m 2——试样加铂皿灼烧后质量的数值,单位为克(g ); m 3——试样质量的数值,单位为克(g ); 计算结果精确到0.01。 四、 允许误差

允许误差按表1的规定。

第二节 碳化硅的测定

一、 原理

试样经氢氟酸-硝酸-硫酸处理使游离硅及二氧化硅生成挥发性的四氟化硅逸出;F400以细的微粉只用氢氟酸处理,用盐酸浸取使表面杂质溶解,测定残留物量即为碳化硅的含量(F400以细的微粉需减去其中的游离硅的含量),或由测定的总碳及游离碳的量计算而得。 二、试剂

1.硝酸(密度1.42g/cm 3

)。 2.氢氟酸(不小于40%)。 3.盐酸:(1+1)、(5+95)。 4.硫酸:(1+1)。 三、 分析步骤

1.F400(P800、W28、JIS #700) 及以粗的试样的测定

称取试样约1g ,精确至0.0001g ,放入铂皿中,用少量水润湿,加硝酸2mL 、硫酸(1+1)3滴~5滴,氢氟酸15mL,置于砂浴上蒸发至三氧化硫白烟冒尽,取下稍冷,加盐酸(1+1)15mL ,于砂浴上加热10min~15min 使表面杂质溶解,稍冷,用中速定量滤纸过滤,用温热的稀盐酸溶液(5+95)洗涤铂皿及残留物7次~8次,滤纸及洗液收集于250mL 容量瓶中,冷却后稀释至刻度,摇匀,留作测定三氧化二铁。

将残留物及滤纸放入铂皿中,低温灰化后于750℃±10℃灼烧,冷却,称量,反复灼烧至恒重。 2.F400(P800、W28、JIS #700)以细的试样的测定

称取试样约1g ,精确至0.0001g ,放入铂皿中,用少量水润湿,加氢氟酸10mL ,于砂浴上蒸发至干,再加氢氟酸5mL 继续蒸发至干,保持30min ,取下稍冷,加盐酸(1+1)15mL ,于砂浴上加热10min~15min 使表面杂质溶解,稍冷,用中速定量滤纸加少许滤纸浆过滤,用温热的稀盐酸溶液(5+95)洗涤铂皿及残留物7次~8次,滤纸及洗液收集于250mL 容量瓶中,冷却后稀释至刻度,摇匀,留作测定三氧化二铁。

将残留物及滤纸放入铂皿中,低温灰化后于650℃±10℃灼烧,冷却,称量,反复灼烧至恒重。 四、结果计算

1.F400(P800、W28、JIS #700)及以粗的试样的计算

碳化硅的质量含量W(SiC),数值以%表示,按下列公式计算:

W(SiC)=

1001

2

3⨯-m m m (2)

式中:

m 1——试样质量的数值,单位为克(g ); m 2——铂皿质量的数值,单位为克(g );

m 3——残留物加铂皿质量的数值,单位为克(g )。 计算结果精确到0.01。

2.F400(P800、W28、JIS #700)以细的试样的计算

碳化硅的质量含量W(SiC),数值以%表示,按下列公式计算:

W(SiC)=

1001

2

3⨯-m m m - W(Si F ) ……….…………………………(3) 式中:

m 1——试样质量的数值,单位为克(g ); m 2——铂皿质量的数值,单位为克(g );

m 3——残留物加铂皿质量的数值,单位为克(g )。 计算结果精确到0.01。 五、允许误差

允许误差按表2的规定。

表2

第三节 三氧化二铁的测定

一、 原理

在pH8~pH11.5的氨性溶液中,三价铁离子与磺基水杨酸反应生成黄色的磺基水杨酸铁络盐,于波长420nm 处测其吸光度,从而测定三氧化二铁的含量。 二、试剂

1.盐酸:(5+95)。

2.氨水:(1+1)。

3.磺基水杨酸溶液(15%)。

4.三氧化二铁标准溶液:0.1mg/mL 。

称取已烘干的三氧化二铁(光谱纯试剂)0.1000g ,置于250 mL 烧杯中,加入盐酸(1+1)30 mL ,加热溶解,冷却至室温后移入1000 mL 容量瓶中,用水稀释至刻度,摇匀,即为三氧化二铁标准溶液。1mL 此溶液含0.1mg 的三氧化二铁。

5.空白溶液:以盐酸(5+95)代替。 三、仪器及装置

分光光度计。 四、分析步骤

1. 测定

用移液管移取第二节中碳化硅的测定中过滤的滤液25mL 于50mL 容量瓶中,加入磺基水杨酸溶液10 mL ,滴加氨水至溶液呈稳定黄色,再过量3mL ,冷却,用水稀释至刻度,摇匀,以水作参比溶液,用1cm 比色皿,于波长420nm 处比色测定其吸光度。用同样方法做空白试验。减去空白试验的吸光度后,于工作曲线上查得三氧化二铁的质量。

2. 工作曲线的绘制

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