集成电路封装测试与可靠性课程设计
集成电路制造中的可靠性设计与测试研究
集成电路制造中的可靠性设计与测试研究一、背景介绍随着电子技术的不断发展，集成电路已成为现代电子产品中的核心部件，集成电路的可靠性是保证电子产品正常运行的关键因素之一。
因此，在集成电路制造过程中，可靠性设计与测试是极为重要的工作之一。
二、可靠性设计1、产品设计阶段中的可靠性设计在产品设计阶段，可靠性设计包括确定可靠性指标、进行可靠性分析、制定可靠性设计规范等。
可靠性指标包括寿命、故障率、可靠度等。
通过可靠性分析，可以确定关键部件和系统的故障模式，进而通过设计保证其可靠性。
可靠性设计规范则是保证产品可靠性的重要手段之一，规范包括环境适应性、可靠性测试、可靠性分析等方面。
2、工艺流程中的可靠性设计在工艺流程中，可靠性设计包括选择适合的工艺和材料、制订可靠性工艺规范等。
要确保产品在制造过程中不会出现缺陷，需要采用裂解工艺、新型生长材料等技术，并制定标准的工艺流程，以确保产品可靠性。
三、可靠性测试1、可靠性检测技术集成电路制造中的可靠性测试技术包括环境应力测试、加速试验、可靠性评估等。
其中，环境应力测试是常见的可靠性测试方法，其目的是通过模拟极端条件来评估产品在使用过程中的可靠性。
加速试验则是在限定时间内模拟产品的寿命，以评估产品的可靠性。
可靠性评估则通过不同的数据收集、分析方法来评估产品的可靠性水平。
2、测试流程与系统设计在测试流程中，需要综合考虑各个阶段的测试数据和分析结果，对产品的可靠性水平进行评估。
同时，测试系统的设计也是非常关键的，在设计中需要考虑测试设备的精度、可靠性、稳定性等因素，同时还需要将产品应力状态的监测和数据采集等功能纳入到测试系统中。
四、结论在集成电路制造过程中，可靠性设计与测试是确保产品质量和可靠性的重要手段，可以减少产品故障率，提高产品稳定性和寿命。
因此，随着电子产品市场的不断扩大，集成电路制造中的可靠性设计与测试也会变得越来越重要。
集成电路封装与系统测试
集成电路封装与系统测试课程实验报告电子、集成专业（2014—2015学年第一学期）课程名称集成电路封装与系统测试课程类别□必修□√限选班级学号姓名任课教师考试日期目录一、实验目的.............................................................................................................................. - 2 -二、实验原理.............................................................................................................................. - 2 -2.1 BC3199集成电路测试系统简介.................................................................................. - 2 -2.2测试电路原理图............................................................................................................ - 3 -2.3测试参数分析............................................................................................................... - 3 -2.3.1 测量输出电压Vo............................................................................................. - 3 -2.3.2 测量电源电压调整率...................................................................................... - 4 -2.3.3 测量负载电压调整率...................................................................................... - 4 -三、实验设备.............................................................................................................................. - 4 -四、实验步骤.............................................................................................................................. - 4 -4.1 焊制电路板................................................................................................................... - 4 -4.2 建立LM7805测试程序............................................................................................... - 5 -4.3 测试数据及结果.......................................................................................................... - 5 -五、实验结论.............................................................................................................................. - 6 -六、心得体会................................................................................................. 错误！未定义书签。
半导体集成电路的测试与可靠性分析
半导体集成电路的测试与可靠性分析半导体集成电路(Test and Reliability Analysis of Semiconductor Integrated Circuits)随着信息技术的不断发展，半导体集成电路已经成为了现代化社会中不可或缺的组成部分。
人们无论是在生产、生活还是娱乐，都离不开集成电路的帮助。
尤其是在智能手机、电脑、机器人等产品的生产中，它们的核心技术之一就是半导体集成电路。
而半导体集成电路的测试与可靠性分析更是决定其使用寿命和性能的关键所在。
一、半导体集成电路的测试1.半导体集成电路的测试目的半导体集成电路的测试是指对芯片进行检测和验证，以保证其电气特性符合工程设计的要求。
半导体集成电路需要经过严格的周期测试，以证明其所设计的功能和预期的性能是否均已满足。
半导体集成电路测试需要考虑各种因素，如电气特性测试、高压测试、温度测试和正常工作条件下的测试等，这些测试主要是为了保证半导体集成电路的功耗和正确性。
2.半导体集成电路的测试方法半导体集成电路的测试方法主要有两种，一种是逻辑化测试方法，另一种是电容电离测试方法。
其中逻辑化测试方法主要是在芯片内车墨点测试逻辑电路，进行的是测试程序和模拟技术。
而电容电离测试方法则主要是测试芯片内部电池的电压以及电池放电的电压。
3.半导体集成电路测试的流程半导体集成电路测试的流程主要包括制定测试策略、测试计划和系统测试。
测试计划是一份详细的测试计划，它包括测试的各个阶段、测试的目标、测试时间和计划。
系统测试则是在实验室内或者各个阶段完成后进行的测试，以验证芯片的性能和可靠性。
二、半导体集成电路的可靠性分析1.半导体集成电路的可靠性半导体集成电路的可靠性是指它在使用过程中产生的失败率。
半导体集成电路可靠性的影响因素很多，如制造、使用环境、运输等都可能会对半导体集成电路的可靠性产生影响。
然而，与其它应用领域相比，半导体集成电路需要更高的可靠性，因为它们的生产成本高、使用时间长、使用环境复杂，所以需要更好的可靠性和性能。
集成电路可靠性设计方法与技巧
集成电路可靠性设计方法与技巧随着科技的不断进步，集成电路可靠性设计成为一个备受关注的话题。
集成电路可靠性是指电子元器件工作在设备使用环境下，能够在一定的时间内保持指定的性能指标的能力。
集成电路可靠性设计可以提高电路的寿命和可靠性，降低故障率。
集成电路可靠性设计方法与技巧有很多，下面将逐一进行探讨。
首先，选用合适的工艺是关键。
不同工艺的封装会对电路的使用寿命和可靠性产生很大的影响。
因此，在进行可靠性设计时，需要充分了解不同工艺的特点，选用适合的工艺。
其次，保证电路的制造质量。
良好的制造质量是提高电路可靠性的关键因素之一。
在生产过程中，需要对每一道工序进行严格的控制，做到全流程监控。
在生产完毕后，需要对产品进行全面的测试，确保产品的质量符合要求。
再次，优化电路设计。
电路设计的思路和方法直接影响电路的可靠性和使用寿命。
合理的电路结构能够最大化地降低电路的故障率。
要做到这一点，需要对电路进行全面的分析和优化设计。
在设计过程中，应尽可能考虑电路的可靠性，避免过多的冗余、复杂的设计方案，从而提高电路的稳定性和可靠性。
此外，可靠性测试也是一项重要的工作。
在测试中，需要对电路的各项指标进行全面的检测和评估，如温度、湿度、振动等。
通过建立可靠性模型和进行仿真模拟，可以尽可能地模拟各种极端环境下电路的使用情况，从而提高电路的可靠性和寿命。
最后，及时进行维护和保养。
无论是工业设备还是普通家电，使用过程中难免会出现一些故障，需要及时进行维护和保养。
在进行维护和保养时，需要对电路进行全面的检查和维修，确保电路运行稳定、可靠。
同时，应制定科学合理的保养计划，对电路进行定期维护和检查，延长电路的使用寿命。
在进行集成电路可靠性设计时，需要综合运用各种方法和技巧，从多个方面进行优化，提高电路的可靠性和使用寿命。
需要强调的是，可靠性设计需要贯穿整个开发过程，需要在设计、生产、测试、维护等各个环节加以实施，同时需要注重电路制造质量的控制，确保设计、生产、测试等各个环节的质量达到最佳水平。
集成电路封装和可靠性Chapter2-1-芯片互连技术【半导体封装测试】
UESTC-Ning Ning1Chapter 2Chip Level Interconnection宁宁芯片互连技术集成电路封装测试与可靠性UESTC-Ning Ning2Wafer InWafer Grinding (WG 研磨)Wafer Saw (WS 切割)Die Attach (DA 黏晶)Epoxy Curing (EC 银胶烘烤)Wire Bond (WB 引线键合)Die Coating (DC 晶粒封胶/涂覆)Molding (MD 塑封)Post Mold Cure (PMC 模塑后烘烤)Dejunk/Trim (DT 去胶去纬)Solder Plating (SP 锡铅电镀)Top Mark (TM 正面印码)Forming/Singular (FS 去框/成型)Lead Scan (LS 检测)Packing (PK 包装)典型的IC 封装工艺流程集成电路封装测试与可靠性UESTC-Ning Ning3⏹电子级硅所含的硅的纯度很高，可达99.9999 99999 %⏹中德电子材料公司制作的晶棒(长度达一公尺，重量超过一百公斤)UESTC-Ning Ning4Wafer Back Grinding⏹PurposeThe wafer backgrind process reduces the thickness of the wafer produced by silicon fabrication (FAB) plant. The wash station integrated into the same machine is used to wash away debris left over from the grinding process.⏹Process Methods:1) Coarse grinding by mechanical.(粗磨)2) Fine polishing by mechanical or plasma etching. (细磨抛光)UESTC-Ning Ning5旋转及振荡轴在旋转平盘上之晶圆下压力工作台仅在指示有晶圆期间才旋转Method:The wafer is first mounted on a backgrind tape and is then loaded to the backgrind machine coarse wheel . As the coarse grinding is completed, the wafer is transferred to a fine wheel for polishing .。
集成电路测试技术和可测试性设计
2，功能测试法
– 验证被测电路的功能；
– 适于LSI、VLSI以及微处理器等复杂数字系统 的测试。
三、测试的步骤
分三个重要方面：测试生成、测试验证和测 试设计。 测试生成：产生验证电路的一组测试码，又称为 测试向量； 测试验证：一个给定测试集合的有效性测度； 测试设计：提高前两种工作的效率
全球最大封装 测试厂：台湾日月光
半导体测试设备企业： 安捷伦、泰瑞达、爱德万、科利登
为何封测能够独立？
1、芯片运输成本低 2、芯片封测难度高
一、测试主要目标
◆故障侦查/检测（Fault Detection）
--- 判断被测电路中是否存在故障，或称为合 格/失效测试；
◆故障定位（Fault Location） ---查明故障原因、性质和产生的位置。
10.2 测试基础
10.2.1 内部节点测试方法
测试思想：假设在待测节点存在一个故 障状态，然后反映和传送这个故障到输出 观察点。
测试矢量的作用是控制待测节点的状态， 并将该节点的状态效应传送到输出观察点
失效和故障
◆缺陷---构造特性的改变 ◆故障---缺陷引起的电路异常，缺陷的逻 辑表现。
◆失效---故障引起的电路错误动作 失效的根源是故障，但故障并不等于失效。
X1 X2
1 0
X3 1
X4 1
G1
1A
s-a-1
G2 0C/1
G3
B1 G4 0D/1
0/1 z
假设存在C：s-a-1故障，求测试矢量
第一步 反映故障 C=0，即 X3 =0 第二步 传播故障，敏化C→z的路径 X4=1，B=1 第三步 确定原始输入 X3=1 又A=1，∴X1+X2=1 结论：X1X2X3X4=0111，1011，1111
电子封装专业课程设计
电子封装专业课程设计一、课程目标知识目标：1. 学生能理解电子封装的基本概念，掌握封装材料、封装工艺及封装设计的基本原理。
2. 学生能掌握电子封装过程中的热管理、电磁兼容性、可靠性等关键性能参数的分析方法。
3. 学生了解电子封装领域的发展趋势和前沿技术。
技能目标：1. 学生具备运用CAD等软件进行电子封装设计与模拟的能力。
2. 学生能够根据电子元器件的特点和需求，选择合适的封装材料及工艺。
3. 学生能够对电子封装过程中的问题进行故障分析，并提出相应的解决措施。
情感态度价值观目标：1. 培养学生热爱专业，对电子封装技术产生浓厚兴趣，树立正确的专业观念。
2. 培养学生的团队协作精神，提高沟通与表达能力，为将来从事相关工作打下基础。
3. 增强学生的环保意识，关注封装过程中的节能、减排和可持续发展。
本课程针对电子封装专业学生，结合学科特点、学生年级及教学要求，旨在通过理论教学与实践操作相结合，使学生在掌握基本知识、技能的基础上，培养解决实际问题的能力。
课程目标具体、可衡量，为后续教学设计和评估提供明确方向。
二、教学内容本课程教学内容主要包括以下几部分：1. 电子封装概述：介绍电子封装的定义、分类、发展历程及应用领域，使学生了解封装技术的基本概念。
2. 封装材料：讲解常用封装材料（如塑料、陶瓷、金属等）的性质、特点及应用，为学生选择合适封装材料提供依据。
3. 封装工艺：分析各种封装工艺（如引线键合、倒装芯片、封装测试等）的原理、流程及优缺点，提高学生对封装工艺的理解。
4. 封装设计：阐述封装设计的基本原则、方法和步骤，指导学生运用CAD等软件进行封装设计与模拟。
5. 热管理与电磁兼容性：介绍电子封装过程中的热管理、电磁兼容性原理，分析影响封装性能的因素，提高学生解决实际问题的能力。
6. 可靠性分析：讲解电子封装可靠性的基本概念、评价方法和提高措施，培养学生对封装过程进行故障分析和解决问题的能力。
7. 电子封装新技术与发展趋势：介绍当前电子封装领域的前沿技术和研究动态，激发学生的创新意识。
微电子封装技术中的可靠性设计与分析
微电子封装技术中的可靠性设计与分析第一章：引言随着微电子技术的迅猛发展，封装技术作为微电子技术中至关重要的一环，对于保证芯片的可靠性和稳定性起着关键作用。
本文将对微电子封装技术中的可靠性设计与分析进行探讨和研究。
第二章：微电子封装技术概述微电子封装技术是将芯片与外部环境隔离，并提供保护和连接功能的一种技术。
该技术可以分为无源封装和有源封装两大类，其中无源封装主要用于电子元器件或被动元件，有源封装主要用于集成电路芯片等。
第三章：微电子封装技术中的可靠性设计在微电子封装技术中，可靠性是至关重要的设计指标。
可靠性设计需要从以下几个方面考虑：1. 热管理：合理设计散热结构，保证芯片工作温度的稳定和可控；采用热传导材料和散热装置，有效地降低芯片温度，提高其可靠性。
2. 电磁兼容性：合理设计封装结构，以减少电磁干扰对芯片性能的影响；采用电磁屏蔽措施，提高封装结构对电磁波的屏蔽能力。
3. 机械可靠性：针对不同的应用场景和环境，选择合适的封装材料和结构，以提高封装的机械强度和抗震性能。
4. 寿命预测：通过可靠性测试和模拟，对封装结构进行寿命预测和分析，以预测其在实际使用中的可靠性水平。
第四章：微电子封装技术中的可靠性分析方法对于微电子封装技术中的可靠性分析，可以采用以下几种方法：1. 应力分析：通过应力分析软件模拟封装结构在不同工作状态下的应力分布情况，以评估其结构的强度和稳定性。
2. 可靠性测试：采用加速寿命测试方法，对封装结构进行长时间高负荷的可靠性测试，以评估其在实际使用中的寿命和可靠性水平。
3. 故障分析：对实际使用中出现的封装结构失效进行系统的故障分析，找出导致失效的原因，并采取相应的改进措施。
第五章：案例研究通过对几个典型的微电子封装技术案例进行研究，分析其可靠性设计和分析方法的应用效果，以及相应的问题和改进措施。
第六章：总结与展望本文对微电子封装技术中的可靠性设计与分析进行了系统的探讨和研究。
通过合理的设计和分析方法，可以提高微电子封装技术的可靠性和稳定性，为微电子工程提供更可靠的基础。
《集成电路封装和可靠性》培训课件：芯片互连技术
Lead Scan (LS 检测)
Packing (PK 包装)
集成电路封装测试与可靠性
1 电子级硅所含的硅的纯度很高，可 达 99.9999 99999%
1 中德电子材料公司制作的晶棒(长度 达一公尺，重量超过一百公斤)
集成电路封装测试与可靠性
debris l e f t over from the grinding process.
1 Process Methods:
1)Coarse grinding by mechanical. ( 粗磨)
2)Fine polishing by mechanical or plasma etching. ( 细磨抛光)
14
集成电路封装测试与可靠性
Wire Bonding Technology -- Die Attach Process
Purpose:
The die attach process i s to attach the sawed die in the right orientation accurately onto the substrate with a bonding medium in between to enable the next wire bond f i r s t level interconnection operation .
刀刃
集成电路封装测试与可靠性
切割设备示意图
晶圆 工作台
Dicing Blade
Silicon Wafer Flame
Flame
Blue Tape
两次进刀切割法
Wafer sawing
集成电路封装测试与可靠性
电子工程研究报告之集成电路测试与可靠性评估
电子工程研究报告之集成电路测试与可靠性评估摘要：本研究报告旨在探讨集成电路测试与可靠性评估的相关问题。
首先，介绍了集成电路测试的背景和意义，包括测试的目的、测试方法和测试流程。
然后，讨论了可靠性评估的重要性和评估指标，以及如何进行可靠性评估。
最后，对未来集成电路测试与可靠性评估的发展趋势进行了展望。
1. 引言集成电路是现代电子设备的核心组成部分，其性能和可靠性对整个系统的稳定运行至关重要。
因此，对集成电路进行全面的测试和可靠性评估是不可或缺的。
本节将介绍集成电路测试和可靠性评估的背景和意义。
2. 集成电路测试2.1 测试目的集成电路测试的主要目的是验证电路的功能和性能是否符合设计要求，以及检测潜在的缺陷和故障。
通过测试，可以发现和修复电路中的错误，提高电路的可靠性和稳定性。
2.2 测试方法集成电路测试主要包括功能测试、性能测试和可靠性测试。
功能测试用于验证电路的基本功能是否正常工作，通过输入一系列的测试信号，检测输出是否符合预期。
性能测试则是评估电路的性能指标，如响应时间、功耗等。
可靠性测试用于评估电路在长时间运行中的稳定性和可靠性。
2.3 测试流程集成电路测试的流程包括测试计划制定、测试环境搭建、测试用例设计、测试执行和测试结果分析等步骤。
在测试计划制定阶段，需要明确测试的目标、范围和时间计划。
测试环境搭建包括选择合适的测试设备和工具，并建立相应的测试环境。
测试用例设计是测试的核心，需要根据设计规格和需求制定一系列的测试用例。
测试执行阶段是将测试用例应用于实际测试对象，并记录测试结果。
最后，对测试结果进行分析，找出潜在的问题和改进方案。
3. 可靠性评估3.1 可靠性评估的重要性可靠性评估是对集成电路在特定环境和使用条件下的长期稳定性和可靠性进行评估。
通过可靠性评估，可以预测电路的寿命和故障率，为产品设计和制造提供科学依据，并减少故障和维修成本。
3.2 评估指标可靠性评估的主要指标包括失效率、平均寿命、故障模式和可靠性增长曲线等。
集成电路芯片封装技术第二版课程设计
集成电路芯片封装技术第二版课程设计1. 课程设计背景随着信息技术和电子技术的迅猛发展，集成电路芯片在电子产品中的应用越来越广泛。
而芯片的封装质量直接影响着芯片的可靠性和稳定性，从而影响整个电子产品的质量和性能。
因此，集成电路芯片封装技术成为了电子工程专业必修课程之一。
本次课程设计旨在通过探究集成电路芯片封装技术的实际应用，培养学生分析、解决实际问题的能力，同时提高学生的创造性和设计能力。
2. 课程设计要求本课程设计要求学生将所学的集成电路芯片封装技术应用于实际工程中，完成以下任务：2.1 了解芯片封装技术的基本要求和流程学生应该掌握芯片封装技术的基本概念和分类、封装材料的选择、芯片丝印设计和印刷、焊盘设计和涂焊接剂等基本要求。
同时，了解芯片封装的制作流程和流程控制。
2.2 设计适合自己的芯片封装方案在了解芯片封装技术基本要求的基础上，学生应该结合自己工程实际，设计适合自己的芯片封装方案。
其中，应包括芯片的选型、管脚的设计和焊接方式，封装材料和工艺流程的选择等。
2.3 制作芯片封装实物样品根据自己的设计方案，学生应该制作出实物芯片封装样品，并进行封装质量的检测和分析。
要求样品具有较高的质量和稳定性。
2.4 分析芯片封装质量，并提出改进建议在制作好的芯片封装实物样品基础上，学生应该对芯片封装质量进行实际测试，分析其可能存在的问题和缺陷。
并结合实际，提出改进方案，不断改善芯片封装质量和稳定性。
3. 课程设计时间安排本次课程设计共分为四个阶段，分别为：•阶段一：芯片封装技术基础知识学习，时间为两周；•阶段二：设计适合自己的芯片封装方案，时间为三周；•阶段三：制作芯片封装实物样品，时间为两周；•阶段四：分析芯片封装质量并提出改进建议，时间为两周。
4. 课程设计评价标准本次课程设计的评价标准如下：•对芯片封装技术基础知识掌握程度和理解能力的考察，占比20%；•自主设计芯片封装方案的质量和创造性，占比30%；•芯片封装实物样品的制作和检测，占比30%；•改进方案的合理性和可行性，占比20%。
电子封装课程设计
电子封装课程设计一、课程目标知识目标：1. 让学生掌握电子封装的基本概念，了解不同类型的封装技术及其特点；2. 使学生了解电子封装的材料、工艺及设计原则，并能结合实际应用进行分类和分析；3. 引导学生了解电子封装在电子产品中的重要性，认识到其在性能、可靠性、成本等方面的关键作用。
技能目标：1. 培养学生运用电子封装知识解决实际问题的能力，学会设计简单的电子封装方案；2. 提高学生动手实践能力，通过课程实验，掌握基本的电子封装工艺操作；3. 培养学生团队协作和沟通能力，能够在小组讨论中提出自己的观点，共同完成封装设计任务。
情感态度价值观目标：1. 激发学生对电子封装技术的兴趣，培养其探索精神和创新意识；2. 引导学生关注电子封装领域的发展趋势，增强其社会责任感和使命感；3. 通过课程学习，使学生认识到科技发展对人类生活的影响，培养其正确的价值观。
分析课程性质、学生特点和教学要求，本课程目标旨在让学生在掌握电子封装基本知识的基础上，提高实践操作能力，培养创新意识和团队协作精神。
课程目标分解为具体学习成果，便于后续教学设计和评估，以确保学生能够在课程学习中取得实际成效。
二、教学内容1. 电子封装概述：介绍电子封装的定义、作用、发展历程及分类；教材章节：第一章 电子封装概述2. 电子封装材料：讲解常用电子封装材料的特点、性能及应用；教材章节：第二章 电子封装材料3. 电子封装工艺：分析不同类型的封装工艺及其操作要点；教材章节：第三章 电子封装工艺4. 电子封装设计原则：阐述电子封装设计的基本原则、方法及注意事项；教材章节：第四章 电子封装设计5. 电子封装可靠性分析：探讨影响电子封装可靠性的因素，介绍相关评估方法；教材章节：第五章 电子封装可靠性6. 电子封装新技术与发展趋势：介绍当前电子封装领域的新技术、发展趋势及未来展望；教材章节：第六章 电子封装新技术与发展趋势7. 实践教学：安排学生进行电子封装工艺操作实践，巩固所学知识，提高动手能力；教材章节：实践篇教学内容按照课程目标进行科学性和系统性的组织，制定详细的教学大纲，明确教学进度。
集成电路课程设计(范例)
集成电路课程设计1. 目的与任务本课程设计是《集成电路分析与设计基础》的实践课程，其主要目的是使学生在熟悉集成电路制造技术、半导体器件原理和集成电路分析与设计基础上，训练综合运用已掌握的知识，利用相关软件，初步熟悉和掌握集成电路芯片系统设计→电路设计及模拟→版图设计→版图验证等正向设计方法。
2. 设计题目与要求2.1设计题目及其性能指标要求器件名称：含两个2-4译码器的74HC139芯片 要求电路性能指标：（1） 可驱动10个LSTTL 电路（相当于15pF 电容负载）； （2） 输出高电平时，|I OH |≤20μA ，V OH ，min =4.4V ； （3） 输出底电平时，|I OL |≤4mA ，V OL ，man =0.4V ； （4） 输出级充放电时间t r =t f ，t pd ＜25ns ；（5） 工作电源5V ，常温工作，工作频率f work =30MHz ，总功耗P max ＝150mW 。
2.2设计要求1. 独立完成设计74HC139芯片的全过程；2. 设计时使用的工艺及设计规则： MOSIS:mhp_n12；3. 根据所用的工艺，选取合理的模型库；4. 选用以lambda(λ)为单位的设计规则；5. 全手工、层次化设计版图；6. 达到指导书提出的设计指标要求。
3. 设计方法与计算 3.1 74HC139芯片简介74HC139是包含两个2线-4线译码器的高速CMOS 数字电路集成芯片，能与TTL 集成电路芯片兼容，它的管脚图如图1所示，其逻辑真值表如表1所示：图1 74HC139芯片管脚图 表1 74HC139真值表片选 输入数据输出 C s A 1 A 0 Y 0 Y 1 Y 2 Y 3 0 0 0 0 1 1 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1 1 0 1××1111从图1可以看出74HC139芯片是由两片独立的2—4译码器组成的，因此设计时只需分析其中一个2—4译码器即可，从真值表我们可以得出Cs 为片选端，当其为0时，芯片正常工作，当其为1时，芯片封锁。
IC工艺技术13集成电路可靠性PPT79页课件
产品可靠性取决于设计，工艺和封装 相同设计规则，相同工艺和封装的不同产品应有相同的可靠性水平 可靠性要从源头－设计抓起 可靠性是内在质量，是靠‘做’出来的，不是靠‘测’出来的
可靠性设计
电路设计的可靠性考虑 器件和版图结构设计的可靠性考虑 工艺设计的可靠性考虑
可靠性设计 －电路设计时的考虑
耗损失效期
在曲线的最后区域，失效速率急剧上升，意味着封装器件达到了预期寿命，诸如开裂和过度的应力不可能对该区域有重大影响，因为这些问题造成的失效应更早出现。引起该失效的最典型的原因是较慢锈蚀过程的累积效应。失效速率开始快速上升的时间应该超过系统的预期寿命，以保证消费者的质量要求。
（三）硅片级可靠性设计和测试
可靠性试试验 (1)
可靠性评价不可能等待器件自然失效后再进行测试和分析，而是通过一系列模拟环境和加速试验，使器件在较短的时间内失效，然后再进行失效机理的分析。 加速因子包括潮气、温度、一般的环境应力和剩余应力等。 设计合理的加速试验，可以达到检测器件可靠性的目的。 选择合适的样本数也是可靠性试验的关键参数之一，因为样本数少了，不能真实反映器件的可靠性，样本数太大的话，又会造成资源的浪费，需用数理统计方法，合理选择样本数。
28
MTTF (Years) 125oC 60% UCL
243
MTTF (Years) 90oC 60% UCL
4060
温度循环（T/C）
条件： 500 cycles, -65℃ to +150℃ at a ramp rate of 25℃/min and with 20 min dwell at each temperature extreme 目的：模拟环境温度变化,考核温度交替变化对产品机械/电性能的影响，暴露粘片/键合/塑封等封装工艺/材料缺陷，及金属化/钝化等圆片工艺问题 失效机理：不同材料间热膨胀系数差异造成界面热匹配问题，造成金线断裂、键合脱落致使开路，塑封开裂使密封性失效、界面分层使热阻增大 、钝化层开裂、硅铝接触开路、芯片开裂
集成电路中的可靠性设计与测试
集成电路中的可靠性设计与测试随着科技的不断发展，集成电路已经成为现代智能电子产品中不可或缺的组成部分。
然而，由于电子产品的高度复杂性和高密度的电路设计，集成电路的可靠性设计与测试成为一项至关重要的任务。
本文将探讨在集成电路中的可靠性设计与测试。
一、可靠性设计在集成电路中的重要性集成电路作为现代电子产品的核心技术，它的可靠性成为保障产品正常运行和长期使用的重要因素。
因此，集成电路的设计和测试必须要充分考虑到可靠性问题。
集成电路设计的可靠性包括电路设计的稳定性、噪声、温度和时间等多方面的因素。
对于电路设计的稳定性，可在设计阶段中采用合适的电磁兼容技术和稳定电源等方法，降低电路噪声和抖动等问题。
而对于温度和时间等因素，则需要设计具有较高实验稳定性和可重复性的电路。
另一方面，可靠性测试是集成电路生产过程中的重要环节之一。
通过对集成电路进行可靠性测试可以有效评估电路的稳定性和可靠性，及早发现存在的问题，并对测试数据进行动态分析和优化改进。
因此，在集成电路的设计和生产中，可靠性测试应该被认为是对电路可靠性进行验证和监控的重要手段。
二、集成电路的可靠性测试方法为了测试集成电路的可靠性，需要采用合适的测试方法和技术。
下面介绍几种常见的集成电路可靠性测试方法。
1. 温度加速测试温度加速测试是一种重要的集成电路可靠性测试方法，它通过将被测试芯片置于高温环境下，模拟电路使用寿命，并测量芯片的可靠性和寿命。
此测试方法可以有效发现电路中的潜在问题，对设计进行改进和优化。
温度加速测试也可以结合其他测试方法，如电性能测试和可靠性老化测试，实现综合性能评估。
2. 电性能测试电性能测试是另一种重要的集成电路可靠性测试方法。
它通过测试芯片的电气特性，包括电压、电流、功耗、输入输出电阻和逻辑门延时等指标来评估芯片的可靠性和性能。
此测试方法适用于评估芯片较低层次的性能指标和实现电路测试。
3. 可靠性老化测试可靠性老化测试是一种长时间测试芯片的可靠性的测试方法。
集成电路芯片测试与可靠性分析
集成电路芯片测试与可靠性分析引言测试方法静态测试是通过检查芯片的结构、连接和物理参数等方面来判断芯片是否存在缺陷。
这种测试方法通常使用显微镜、扫描电镜和电子探针等仪器进行。
静态测试可以有效地检测到芯片的制造缺陷，如短路、漏电和误连等问题。
动态测试是通过对芯片施加输入信号，观察芯片输出是否符合预期来判断芯片是否正常工作。
常用的动态测试方法有功能测试、时序测试和环境测试等。
功能测试是测试芯片的功能是否满足设计要求，通常使用模拟电源和信号发生器等仪器进行。
时序测试是测试芯片的时序关系是否满足设计要求，通常使用逻辑分析仪和示波器等仪器进行。
环境测试是测试芯片在不同环境条件下的工作性能，通常使用温度测试箱和湿度测试箱等仪器进行。
测试流程测试计划制定是根据芯片的设计要求和测试需求，确定测试的目标和方法。
测试环境准备是根据测试计划，配置测试所需的仪器设备和软件工具。
测试程序编写是根据芯片的功能和性能要求，编写测试程序，包括输入信号的产生和输出信号的检测。
测试执行是将测试程序加载到测试设备中，对芯片进行测试。
测试结果分析是根据测试结果，判断芯片是否通过测试，并对测试结果进行统计和分析。
失效模式和效应分析是一种定性和定量混合的分析方法，用于确定芯片的失效模式、失效原因和失效效应，并评估失效的可能性和严重性。
失效模式、影响和关键性分析是在失效模式和效应分析的基础上，对失效的关键性进行评估和分析。
可靠性增长分析是通过测量芯片的故障率和寿命数据，确定芯片的可靠性增长趋势，从而预测芯片的可靠性。
结论集成电路芯片测试和可靠性分析是保障芯片质量和可靠性的重要手段。
通过静态测试和动态测试方法，可以全面地检测芯片的制造缺陷和工作性能。
通过失效模式和效应分析、失效模式、影响和关键性分析和可靠性增长分析等方法，可以评估和预测芯片的可靠性。
只有经过充分的测试和可靠性分析，才能保证集成电路芯片的可靠性和稳定性，满足现代电子产品对高质量和长寿命的要求。
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关于Cu互连系统下迁移失效模式研究
张茂林201421030121
摘要
随着电子技术的飞速发展，功能多样、电路结构比较复杂的电子产品得到广泛的应用。
电子产品是由各式各样的集成芯片连接成的，而一块集成电路芯片又由成千上万的乃至于上百万个器件通过金属互连线连接而成。
当器件失效或者互连线失效，都可能会引起整个集成芯片的失效。
如果为了复杂的电子系统能在非常恶劣的环境中长期工作，提高集成芯片的可靠性是非常有必要的。
所以，集成电路金属铜互连系统的可靠性一直以来都是I C设计和制造研究的重点和热点。
[1][2]
1 引言
随着集成电路技术的发展，集成电路发展到纳米技术时代，铜互连技术已经成为决定集成电路可靠性、性能、成本和生产率的重要因素。
一直以来电迁移被认为是铜互连系统可靠性中的一个很大的问题，但是在1987年的《国际可靠性物理论丛》中初次报告一种和电迁移不同的不良失效类型，这种失效类型是在互连线不通电，只在高温下（高于100℃）放置产生断线现象，原因主要是互连线和互连系统中的介质层材料的热膨胀系数（CTE）有很大差别，发生热失配，进而引起铜互连结构系统热应力缺陷，所以称为应力迁移或应力诱生空洞。
目前，应力迁移对集成电路可靠性的影响是人们研究的重要内容之一。
2 铜互连的研究历程
互连（interconnect）是在硅芯片上集成分立的电子元器件，并把这些它们通过金属互连线连接起来形成比较完整的电路的工艺，其中金属互连线可以利用的材料有Al、Au、Ag、Cu 等，各种材料的物理性质如下表2.1所示。
尽管用传统Al材料作为金属互连线的成本低、技术也很成熟、粘附性好、容易刻蚀、与P型半导体和N型半导体容易形成良好的欧姆接触。
但是它容易发生电迁移，当工艺温度达到300℃左右的时候，Al薄膜上形成突起，穿透与之相邻的金属互连线之间的电介质层引起短路。
从表2. 1得知金属Cu是作为集成电路金属互连
线的很不错的材料：第一，铜的电阻率很小，比铝的低37 % ，所以铜互连可以减小40 %的互连延迟；第二，铜的抗失效的能力强，比铝由于电子迁移导致失效的时间要长两个数量级，所以对于金属铜来说，在互连层厚度较小的情况下可以通过的电流密度较高，降低了能耗；第三，相比传统的铝工艺，由于铜工艺采用了双大马士革工艺，可以减少互连金属的层数，从而降低了成本，推动铜工艺走向产业化。
表2-1 金属连线的材料的性能比较
3 主要失效模式
应力诱发的空洞（Stress induced void）形成机理：在中等温度（～200-250℃）退火过程中，由于金属内的张应力作用，钝化的Cu互连内会形成空洞。
金属中的应力有二种机理：热应力，是由于金属和绝缘体间热膨胀失配引起的；生长应力，是由于金属内晶粒生长引起的。
若张应力高于临界应力，则空位在应力梯度的作用下，通过晶界及Cu/SiN 界面，从高应力区低应力区，最终由分散的空位积聚形成较大的空洞而导致电阻增大效应，电路将失效。
3.1 Cu线余量的影响
铜线余量不同的情况下，应力极大值大小不同。
金属线中应力最大值随铜线余量的增大而减小。
铜线余量较大时，通孔两侧分别存在应力梯度极大值，空洞可能在通孔底部两侧分别生成，并逐渐生长直至贯穿通孔底部而导致互连线断路。
而铜线余量较小情况下，仅在通孔一侧存在应力极大值，空洞可能仅在通孔一侧生成。
因此，铜线余量较小情况下空洞生长至临界体积导致互连断路的应力迁移失效时间可能更长。
3.2通孔直径的影响
由于互连张应力的存在引起该处互连金属化学势的变化，从而产生过剩空位，空位在应力梯度的作用下沿主导扩散路径作扩散运动并在应力梯度极大值处成核生长成空洞，空洞生长速率由过剩空位的数量和应力梯度的大小共同决定，而
应力梯度在应力诱生空洞的形成过程中起主导作用。
当互连通孔尺寸增大时，由于应力和应力梯度值增大导致互连应力诱生空洞的生长速率上升。
图3.21 不同通孔尺寸F铜互连VML上的应力梯度分布
3.3线宽的影响
宽下层金属线，线宽为 2.5μm，和窄下层金属线，线宽为0.8μm 的两种互连结构的应力分布情况。
下层金属线较宽时，金属线上应力极大值为655MPa,下层金属线较窄时，金属线上应力极大值为675MPa，对比可得，应力及应力梯度随下层金属线线宽的增大而减小。
因此，采用下层金属线较宽的互连结构可能能够提高Cu 互连系统抗应力迁移能力。
[4]
3.4采用单孔或双孔的影响
双通孔结构是常见的有效提高互连可靠性的方法之一。
当某一通孔因空洞体积达到临界值而断路时，另一个通孔还可维持互连连通，使互连线寿命增长。
[5]与单通孔结构相比，虽然双通孔结构互连线中整体所受应力更大，应力极大值更高，但双通孔结构中应力分布更均匀，应力梯度小于单通孔结构。
因此，采用双通孔结构能够有效提高Cu 互连系统抗应力迁移能力。
3.5 通孔与线条重叠长度的影响
随着通孔与线条重叠长度的减小时，整体应力变大，通孔内部尤为明显；在通孔左端点处的应力和应力梯度也明显增加；通孔内部等效塑性应变也有不同程度的恶化。
正的重叠长度可以改善应力和应变情况，而负的重叠长度则明显恶化了应力和应变情况。
因此，在设计版图时应该实现足够大的正的重叠长度，以补偿可能的工艺致通孔线条偏差。