XRD物相检索的过程详解
完整版jade65教程xrd物相分析
第一部分物相分析1.打开您的数据。
File—read…打开后的界面如图1:1图很多人说打开数据后要平滑曲线,但是我个人认为还是先不要平滑的好,因为2.平滑曲我更倾向于物相分析完毕后,每一次的平滑曲线操作都会造成数据失真。
线,使得输出的报告更易读。
但是,到底要不要在此平滑曲线取决于您自己。
平滑曲线的操作如下:中箭头所指按钮,可以进行参数设置,左击就是平滑曲线。
2右击图2图轮进行,这样才能把所有的物相找出33.物相分析。
一般的,物相分析要至少分3轮分别命名为大海捞针、单峰分析、指定元素分析。
来。
这首先左击按钮寻峰。
General所示标签。
在箭头所指按钮,物相分析:右击图3出现图4”“1()大海捞针4选项里,首先勾选上左侧的所有的库,去掉右侧所有的对勾,其他设置如图ok。
所示,最后左击3图4图、值、PDF-#化学式、5所示界面。
显示了矿物名称、FOM出现图完成上述步骤,表示存在值越小,FOM矿物的排序是按值由小到大排列的,FOMRIR 等内容。
衍射图X这种矿物的可能性越大(但不绝对)。
当鼠标左击到一个矿物时,在衍射图谱拟合最好的矿物,然后在矿物名谱显示栏会显示蓝色的线,选择与X)。
注意:选择矿物时,要尽量选称前面勾选,表示你认为存在此矿物(如图6 值的矿物,否则后面的定量工作将不能继续。
取有RIR5图6图(2)单峰分析:完成大海捞针后,可能还有峰没有对上,此时要用此法。
在大海捞针的基础上,左击图7方框内的按钮,然后按照图8内标明的步骤操作。
然后重复大海捞针的操作(与大海捞针不同的是,此时系统只选择与你选中的峰对应的物相)。
7图8图)指定元素分析:完成大海捞针、单峰分析后,可能有些矿物还没有分析出3(来,用此法。
所示选项里,在图1010右击图9箭头所指按钮,出现图所示标签。
在General。
回到图。
选择你认为自己样品可能存在的元素,点11ok的地方勾选,出现图。
接下来又是选择物相了,方法同上,不再赘述。
xrd测试原理及操作的基本流程
文章主题:xrd测试原理及操作的基本流程一、引言在材料科学与工程领域中,X射线衍射(XRD)是一种重要的分析技术,可用于对晶体结构、物相分析和晶体质量的表征。
本文将深入探讨XRD测试的原理和操作的基本流程,以便读者能够全面理解XRD 分析的重要性和实验方法。
二、XRD测试原理1. X射线衍射的基本原理X射线衍射是通过照射物质,观察衍射光的方向和强度来了解物质的结构性质。
当入射X射线与晶体的原子排列相互作用时,会出现衍射现象,从而得到关于晶体结构的信息。
2. 布拉格方程布拉格方程是描述X射线衍射条件的基本方程。
它表示为:nλ=2dsinθ,其中n为衍射级别,λ为入射X射线的波长,d为晶格间距,θ为衍射角。
3. 结晶衍射图样通过X射线衍射仪测得的数据可以绘制成结晶衍射图样,从中可以读取出晶面间距、晶格常数等信息。
三、XRD测试操作基本流程1. 样品制备与加载首先需要将待测样品研磨成粉末,并压制成均匀的薄片或圆盘。
然后将样品加载到X射线衍射仪的样品台上。
2. 仪器参数设置在进行XRD测试前,需要设置仪器的参数,包括X射线波长、入射角范围、扫描速度等。
3. 开始测试启动X射线衍射仪,开始进行测试。
X射线穿过样品,与晶体发生相互作用,产生衍射光,再由探测器接收并记录下来。
4. 数据分析与结果解读对从X射线衍射仪得到的数据进行分析与解读,可以得到有关样品晶体结构、晶胞参数等重要信息。
四、个人观点和理解作为X射线衍射技术的一种,XRD分析在材料研究和质量检测中起着关键作用。
通过XRD测试,不仅可以了解样品的晶体结构,还可以分析其中包含的物相。
掌握XRD测试的原理和操作流程对于科研工作者和工程师来说都是非常重要的。
五、总结与回顾通过本文的讨论,我们全面了解了XRD测试的原理及操作的基本流程。
X射线衍射技术的应用范围非常广泛,可以帮助我们更好地理解材料的性质和结构。
希望读者通过本文的介绍,能对XRD分析有更深入、全面和灵活的认识。
利用Jade5数理XRD数据教程
885.8(9)
[hkI]
Crystallite(Å)
d(Å)
CrysHale Waihona Puke allinityStrain
LVP(Al)-800
[121]
374
3.6411
93.04%
0.2803%
[1]S.-C.Yin, H.Grondey, P.Strobel, et al. Electrochemical Property: Structure Relationship inMonoclinic Li3-yV2(PO4)3, J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 10402-10411
五.求每个峰对应的晶面指数和对应的物相:点击Report-Peak ID(Extended)
六:结晶度的计算:物相检索-平滑-拟合,Report-peak profile report获得结晶度
七:微观应变:物相检索-平滑-拟合,Report-size&Strian
八:将XRD数据导入origin中。
利用Jade5分析XRD数据教程
一.物相检索
扣除背底,--直接检索(S/M)/按分类检索/按元素检索
二.求晶格常数:Options-Cell refinement
三.标出晶面指数:点击右下角的h
四.求某个晶面的晶粒大小、层面间距:点击Report-Peak search report(或点击求峰面积图标)
表:求的结果汇总:
Crystalsystem
Space group
a(Å)
b(Å)
c(Å)
β(deg)
V(Å)
LVP[1]
monoclinic
XRD实验物相定性分析报告
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作。
二、实验仪器D8 Advance型X射线衍射仪组成:主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元及附件(高温、低温、织构测定、应力测量、试样旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪(1)测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台;O-测角仪中心轴;S-X射线源;M-刻度盘;图1. 测角仪结构原理图图2. 测角仪的光路图X射线源S是由X射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K ,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K 后,X 射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L 、S2和接受光栏F 后,以线性进入计数管C ,记录X 射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2θ夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
θ角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X 射线的相对强度,从而形成2—相对I 的关系曲线,即X 射线衍射花样。
(2)X 射线发生器图3. X 射线产生装置X 射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X 射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
XRD物相定量分析
XRD物相定量分析X射线衍射(X-Ray Diffraction,XRD)是一种常用的材料物相分析方法,可以确定材料的结晶结构、晶格参数以及物相比例等信息。
通过测量材料对入射X射线的衍射,可以得到衍射谱图,通过对谱图的分析计算,可以得到材料的物相及其定量分析结果。
本文将介绍XRD物相定量分析的基本原理、常用方法和数据处理过程。
X射线衍射的基本原理是由入射的X射线通过晶体与晶体原子或分子发生散射而产生的。
根据布拉格定律,当入射角度满足2dsinθ=nλ时,其中d是晶格面间距,θ是入射和散射光束夹角,n是整数,λ是X射线波长,就会发生衍射。
不同晶体具有不同的晶格参数和晶体结构,因此它们会在不同的衍射角(θ值)出现不同的衍射峰,通过测量衍射角可以获得晶体的结构信息。
XRD物相定量分析的实验步骤主要包括样品的制备、衍射谱图的测量和数据处理等。
首先,样品需要制备成适当的形式,通常是粉末状或薄片状。
对于晶体较大的样品,可以直接进行测量;而对于晶体粒度较小的样品或非晶体样品,需要进一步进行研磨和退火等处理,以提高样品的结晶度。
制备完成后,将样品放置在X射线衍射仪的样品台上,进行衍射谱图的测量。
衍射谱图的测量通常采用旋转或倾斜方式,分别称为旋转衍射和倾斜衍射。
在旋转衍射中,样品台固定,X射线管和检测器绕着样品台进行旋转,测量不同角度下的衍射强度。
在倾斜衍射中,样品台和检测器保持固定,X射线管进行倾斜照射,测量不同角度下的衍射强度。
通过测量一系列角度下的衍射强度,可以得到样品的衍射谱图。
XRD物相定量分析方法有许多种,常用的包括全谱法、内标法、正交试验法、铺峰法等。
全谱法是通过将衍射谱图进行全范围积分来定量分析各个物相的含量,适用于物相含量差异较大的样品。
内标法是通过在样品中加入已知物相作为内标,根据内标峰的强度比值来计算其他物相的含量,适用于物相含量差异不大的样品。
正交试验法是通过设计一系列正交试验样品,根据试样中各物相峰的强度来计算各物相的含量,适用于物相含量差异较大的样品。
XRD物相分析
XRD 物相分析图1是采用NH 4HCO 3作为沉淀剂,制备的前驱体于1000℃下煅烧获得的Nd:YAG 纳米粉体的XRD 图谱。
图1碳酸氢铵法1000℃煅烧获得的Nd:YAG 纳米粉体的XRD 图谱测试条件:采用日本理学公司的UltamⅣ型X 射线衍射仪,对不同温度煅烧后所得粉体进行X 射线衍射(XRD)测试,CuKα1辐射,λ=0.15405nm,X 射线管电压为40kV,管电流为20mA,扫描速率为4o /min,扫描范围(2θ)10o ~80o 。
实验采用Al(NO 3)3·9H 2O、Y 2O 3、Nd 2O 3、HNO 3等为主要原料。
首先用HNO 3溶解Y 2O 3、Nd 2O 3,并配制成一定浓度的硝酸盐溶液,然后按石榴石Nd x :Y 3-x Al 5O 12(x 为Nd 3+的掺杂浓度)的配比将铝盐、钇盐和钕盐溶液混合,采用反向滴定,将混合盐溶液以小于2ml/min 的滴定速度分别滴入NH 4HCO 3溶液中,边滴定边搅拌,滴定完成后继续搅拌、陈化24小时。
将陈化好的悬浊液进行真空吸滤,将吸滤后的沉淀依次进行两次水洗、醇洗。
将得到的前驱体沉淀物放入90℃的烘箱烘干,最后将干燥后的沉淀物于不同温度下热处理。
根据实验采用的原料分析:煅烧后获得的粉体中可能含有立方晶格的石榴石结构的Y 3Al 5O 12(YAG)、单斜晶系的Y 4Al 2O 9(YAM)、具有斜方和六方点阵结构的YAlO 3(称为钇铝钙钛矿或YAP)、Y 2O 3或Al 2O 3等(如图2),采用Jade 5.0软件对XRD 测试数据进行分析,并获得相应的物相分析报告。
Y 3Al 5O 12(YAG)PDF 卡:Y 4Al 2O 9(YAM)PDF 卡:YAlO 3PDF 卡:Y 2O 3PDF 卡:Al 2O 3PDF 卡:图2可能含有的物相的PDF 卡采用Jade 5.0软件进行物相分析,具体操作如下:1.在开始菜单或桌面上找到“MDI Jade”图标,双击,一个简单的启动页面过后,就进入到Jade 5.0的主窗口;2.了解工具栏中按钮及其作用;常用工具栏:手动工具栏:右下角工具栏:3.选择菜单“File|Patterns...”或工具栏中的,打开一个读入文件的对话框。
XRD物相分析实验报告
XRD物相分析实验报告一、引言X射线衍射(XRD)是一种用来研究物质的晶体结构和晶体衍射现象的重要实验方法。
XRD物相分析实验可以通过测定物质的衍射图案,确定样品中的晶体结构以及晶格参数,进而分析物质的组成和性质。
本实验旨在通过XRD物相分析,对实验样品的晶体结构进行研究。
二、实验步骤1.将待测样品研磨成细粉,并用乙醇进行清洗和过滤,使得样品表面平整且无杂质。
2.将样品放置在刚度良好的样品钢环中,并用理石粉填充其余空间,以保持样品的平整性和稳定性。
3.将样品钢环固定在X射线测量装置上的样品架上,确保样品与X射线发射源、接收器和探测器之间的距离合适,并开启仪器。
4.使用仪器提供的程序选择适当的测量参数,如测量范围、步长等,进行XRD测试。
5.测量结束后,根据实验结果进行数据处理和分析,绘制出衍射图案,通过对衍射峰进行配对和标定,确定样品的物相信息。
三、实验结果与分析根据实验测得的衍射图案,可以清晰地观察到一系列衍射峰。
根据布拉格衍射公式d = λ / (2sinθ),其中d是晶面间距,λ是入射X射线波长,θ是衍射角度,我们可以计算出样品的晶面间距。
通过对衍射峰的标定和配对,我们可以确定样品中的物相信息。
根据国际晶体学数据库(ICDD)提供的数据,我们可以进行衍射峰的比对和匹配,确定样品中的晶体结构和晶格参数。
四、讨论与结论通过实验测定和分析,我们可以得出以下结论:1.样品中存在的晶体结构和晶格参数:(列举样品中的物相,以及其晶格参数,如晶格常数a,b,c以及晶胞参数等)2.样品的组成和性质:根据物相信息,可以推断出样品的组成和性质,如化合物的化学组成和晶体的热稳定性等。
3.实验结果的可靠性:对于确定样品物相和晶体结构的可靠性,除了比对和匹配实验结果外,还应考虑并确定实验条件和控制因素的合理性以及实验数据的准确性。
总之,XRD物相分析实验是一种常用的方法,可以研究物质的晶体结构和晶格参数。
通过实验测量和分析,我们可以得出样品中存在的物相信息并推断出样品的组成和性质。
XRD-第三节-物相检索
物相检索及数据处理◆单物相检索标定;◆多物相检索标定;◆利用Origin 软件对衍射图谱进行绘图物相检索及数据处理主要内容什么是物相物相简称相,它是具有某种晶体结构并能用某些化学式表征其化学成分的固体物质。
化学成分不同的是不同的物相,但是化学成分相同,而内部结构不同的也是不同的物相。
面心结构的V 体心结构的V不同结构V 的衍射图谱什么是物相定性分析定性分析就是根据前面我们所测定的X射线衍射图谱,分析试样中存在哪些物相的过程。
标准卡片标准物质的X射线衍射数据是X射线衍射物相鉴定的基础。
目前应用最为广泛的多晶衍射数据库称为PDF卡片(the powder diffraction file,PDF 卡)。
标准卡片的发展历程1969年,由ASTM和英、法、加拿大等国家的有关协会组成国际机构的“粉末衍射标准联合委员会”,负责卡片的搜集、校订和编辑工作。
1978年,为了将这项科学努力扩大至全球联合,粉末衍射标准联合委员会更名为国际衍射数据中心。
C a F 2的p d f 卡片标准卡片的发展历程早期PDF卡片的数量较少,物相的检索通常通过人工由卡片索引工具书来检索后,再查找相应的卡片。
通常的索引有哈纳瓦特索引(Hanawalt),芬克索引(Fink)等。
标准卡片的发展历程随着卡片数据的不断增长,人工检索已经变得困难和费时。
随着计算机的普及和卡片的电子化,现在通过计算机来查找卡片已经变得十分快捷。
PDF卡片的电子版到现在经历了四个版本,分别为pdf-1,pdf-2,pdf-3到pdf-4。
pdf-2是目前最常用的版本,又根据发行的版本又有2002版,2004版等。
单张卡片可以通过PCPDWIN等索引软件检索J a d e 的基本功能Jade分析软件具有x射线衍射分析的一些基本功能如:平滑、Ka分离、去背底、寻峰、分峰拟合、物相检索、结晶度计算、晶粒大小和晶格畸变分析、RIR值快速定量分析、晶格常数计算、图谱指标化、角度校正、衍射谱计算等功能。
关于XRD物相定量分析
关于XRD物相定量分析X射线衍射(X-ray diffraction,XRD)是一种常见的物相分析技术,可以用于准确测定材料中的晶体结构、晶格参数和晶体取向。
它是通过将束缚在一个固定平面的晶体样品,用X射线进行照射,并测量和分析散射的X射线来实现的。
XRD物相定量分析是一种将XRD技术与定量分析方法相结合的技术,旨在确定材料中各种不同晶相的存在量。
这种分析方法在材料科学、地质学、矿物学和结构化学等领域具有重要的应用价值。
XRD物相定量分析主要分为两个步骤:第一步是通过X射线衍射图谱的处理和分析来确定各种晶相的存在和优先方向。
第二步是根据衍射峰的强度和峰面积来定量计算每个晶相的相对含量。
下面将详细介绍这两个步骤。
在XRD物相定量分析的第一步中,需要进行X射线衍射图谱的处理和分析,以确定各种晶相的存在和优先方向。
通常使用的工具是X射线衍射图谱,可以通过它来获得物样品的晶格常数和相位辅助信息。
在这一步中,需要使用的方法包括傅立叶变换、谱分析和红外线色散等。
这些方法可以将衍射峰的波长与晶体结构的特征相结合,以确定晶体中晶格参数和晶相的存在。
在第二步中,根据衍射峰的强度和峰面积来定量计算每个晶相的相对含量。
通常使用的方法是相对强度法和内部标定法。
相对强度法是通过比较不同晶相的强度峰来计算相对含量。
而内部标定法则是将一种已知晶相作为内部标定物质,通过测量其相对峰强来计算其他晶相的相对含量。
这种方法需要准确的内部标定物质来进行校准。
除了这两个步骤外,还需要考虑一些影响XRD物相定量分析的因素。
例如,样品制备和衍射仪的性能等。
样品制备需要保证样品的纯度、颗粒大小和十分的均匀性,以避免峰重叠和多相分析误差。
而衍射仪的性能则涉及到亮度、解析度和角度精确度等因素,对结果的准确性和精度有着重要的影响。
总体来说,XRD物相定量分析是一种重要的材料表征技术,可以准确测定材料中各种晶相的相对含量,并为材料的特性和性能提供重要的信息。
MDI-Jade最完整教程(XRD分析)
►PDF 菜单:
▪ PDF-Setup 命令:这个命令的作用是导入ICDD PDF 卡片索引。在拥有一个MDI Jade 软件的同 时,你必须拥有一套ICDD PDF 卡片库。在Jade 作物相检索前,必须导入ICDD PDF卡片索引。这 个命令打开PDF-Setup 对话框,建立PDF 卡片索 引。
► 注意: (1)该命令保存的是窗口中显示的图谱,如果窗口中显示的是
某一个图谱的一部分,那么,保存的只有那么一部分。保存前注意设置
显示为Full Range(View-Zoom Window菜单)。
►
(2)如果保存前作过平滑处理(smooth),则保存的数据为平
滑后的数据而非原始数据。
基本功能操作
峰形拟合:衍射峰一般都可以用一种“钟罩函数”来表示,拟合的意义就是 把测量的衍射曲线表示为一种函数形式。在作“点阵常数精确测量”、“晶 粒尺寸和微观应变测量”和“残余应力测量”等工作前都要经过“扣背 景”——图形拟合”的步骤。常用工具栏中的拟合命令将全谱拟合,但有时 因为窗口中峰太多,计算受阻而不能进行,此时,需要用到手工拟合按钮。 拟合方法在“拟合”一节作祥细介绍。
► File菜单 :
▪ 在这一菜单中,主要命令包括读入数据文件的两种方式Patterns和 Thumbnail。
▪ 另一个特别有用的命令是Save。这个命令具有下级菜单,其中主要的是: ▪ Save-Primary Pattern as *.txt:将当前窗口中显示的图谱数据以文本格
式(*.txt)保存,以方便用其它作图软件如Origin作图和作其它处理。
►因此,通过实验测量或理论计算,建立一个 “已知物相的卡片库”,将所测样品的图谱 与PDF卡片库中的“标准卡片”一一对照, 就能检索出样品中的全部物相。
XRD实验物相定性分析解析
XRD实验物相定性分析解析X射线衍射(XRD)是一种非常常用的实验技术,用于物相的定性和定量分析。
通过观察材料中X射线的衍射图案,我们可以确定材料的晶体结构、晶体定向和晶格参数等信息。
本文将详细介绍XRD实验物相定性分析的原理和解析过程。
nλ = 2dsinθ其中,n是衍射阶次,λ是入射X射线的波长,d是晶格间距,θ是入射角。
通过测量衍射角θ和计算晶格间距d,我们可以确定材料的晶体结构。
在进行XRD实验时,我们首先需要准备待测物样品,通常是一块固体材料。
然后,我们将样品放置在X射线束下,以使X射线通过样品,发生衍射。
衍射的X射线通过样品后,会被X射线探测器测量,产生衍射谱图。
在解读衍射谱图时,我们需要关注以下两个关键参数:衍射角(2θ)和衍射强度(I)。
衍射角是X射线的入射角度,是由仪器测量得到的,而衍射强度则表示材料中的晶体结构和取向。
通常,衍射强度与晶体的晶格性质、晶体结构以及晶体定向有关。
通过比对样品的衍射谱图与数据库中的标准衍射谱图,我们可以确定材料的物相。
数据库中包含了各种材料的XRD衍射谱图,包括金属、陶瓷、无机晶体等。
对于未知物相的样品,我们可以通过计算其衍射角和衍射强度与数据库中的标准进行比对,从而找到与其相匹配的物相。
此外,我们还可以通过拟合样品的衍射谱图,计算出材料的晶格参数。
常用的拟合方法有布拉格法、勒貌法和整形法等。
这些方法利用了衍射角和衍射强度的信息,通过数学模型计算出最适合样品的晶格参数。
需要注意的是,XRD实验在物相定性分析上具有一定的局限性。
例如,对于非晶态或粘土等无定形材料,XRD无法提供明确的物相信息。
此外,XRD实验还无法确定材料中不同晶体相的相对含量,只能进行物相定性分析。
综上所述,XRD实验是一种常用的物相定性分析技术。
通过观察样品的衍射谱图,并与数据库中的标准进行比对,我们可以确定材料的物相。
此外,通过拟合样品的衍射谱图,我们还可以计算材料的晶格参数。
材料科学实验数据处理xrd-2
MDI jade 中数据的平滑
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Jade中物相检索的步骤
第一轮检索:大海捞针
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Jade中物相检索的步骤
第二轮检索:限定条件的检索
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第三轮:单峰搜索 物相检索结果的输出
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Tips
以上的设置应根据具体情况的不同而加以改变,一 般应先大范围的搜索,然后在逐步的缩小搜索范围, 直到找到你满意的结果。 应当指出,正确地全面地检索物相不但需要熟练地 掌握Jade 物相检索的方法和技巧,而且,更重要的 是需要研究课题方面的专业知识。除此以外,还要 不厌其烦地反复尝试各种可能。在物相检索不能完 成时,不应当责怪软件的无能,应当先去查阅相关 的文献。另外,虽然 PDF 卡片每年都有更新,目前 已超过140000张卡片,但并不是每个物相都一定能 从卡片库中找到。这时应当考虑是否有新的物相产 生,或者是检索中存在错误的确认。
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MDI jade 的可用数据库
一般通常所用的为ICCD提供的电子版 的粉末衍射数据集(PDF) PDF-1 PDF-2* PDF-3 PDF-4 *最新的
1. 2. 3. 4.
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MDI jade 中导入PDF-2
击菜单“PDF ︱ setup”有如下对话框
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本底的测定与扣除
本底:非随机高频振荡就称为本底。如非晶体材料 散射,狭缝、样品及空气的散射等都可造成本底。 第一类:由样品产生的荧光、非相干散射、空气和狭 缝的散射、探测器的噪声等造成的,在2θ范围内呈 平滑变化。 第二类:是热漫散射,这是由晶体中的原子振动造成 的,他使布拉格散射减弱,转变为本底。也随2θ呈 平滑变化。 第三类:由样品中所含的非晶成分造成的。 本底的测量:① Sonneveld和Visser法。 ② BrÜkner法(适用于估计含有较多 非晶物质样品本底的方法)
xrd案例分析中si晶体的物相分析过程
xrd案例分析中si晶体的物相分析过程物相分析是通过X射线衍射技术确定材料的晶体结构和相态的一种方法。
而在物相分析过程中,若是对单晶片进行性质测试,通常首先需要挑选合适的单晶。
所以在物相分析之前,通常需要先进行晶体生长。
对于一些晶体无法获得完整的大尺寸单晶的情况,可以将其研磨成粉末以进行XRD物相分析。
下面,我们具体介绍一下Si晶体的物相分析过程:1.实验仪器和试样准备:a.实验仪器:X射线衍射仪(XRD),用于测量X射线和晶体的衍射图样,并进行物相分析。
b.试样准备:将Si晶体进行机械研磨,以获得粉末试样。
2.实验步骤:a.调整XRD仪器的参数:选择适当的X射线源(通常为CuKα射线),确定衍射角度范围等。
b.放置试样:将研磨好的Si晶体粉末均匀地涂覆在衬底上,并将其放置在XRD仪器中。
c.开始扫描:控制XRD仪器进行衍射角度的扫描,记录X射线与试样的相互作用并得到衍射图样。
d.分析数据:通过对得到的衍射图样进行分析,确定材料的物相。
3.物相分析:a.首先,通过观察衍射图样的峰位和峰形,可以初步判断晶体结构类型,如体心立方、面心立方等。
b.在判断基本晶体结构后,可使用各种晶体结构信息库进行比对和匹配,以确定晶体的物相,即晶体所属的晶胞结构。
c.进一步分析衍射图样中的峰的强度、宽度等信息,可以确定晶体的结晶度、晶格常数等物相信息。
d.若是需要对Si晶体的杂质掺杂情况进行分析,在分析过程中可以通过对衍射图样中出现的额外峰的特点进行分析,以鉴定杂质元素的存在和特征。
通过上述步骤,我们可以对Si晶体进行物相分析,确定其晶体结构和物相信息。
此外,还可以通过调整XRD仪器的参数和衍射角度范围等,获得更多详细的晶体信息,如晶体的晶粒大小、拓扑结构等。
总结起来,物相分析是通过X射线衍射技术对Si晶体进行的一种分析方法,通过对得到的衍射图样进行观察和分析,可以确定晶体的结构类型、晶格常数和杂质掺杂情况。
物相分析在材料科学和研究中非常重要,可以帮助我们深入了解材料的晶体特性和相态行为。
XRD实验物相定性分析解析
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作。
二、实验仪器D8 Advance型X射线衍射仪组成:主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元及附件(高温、低温、织构测定、应力测量、试样旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪(1)测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台;O-测角仪中心轴;S-X射线源;M-刻度盘;图1. 测角仪结构原理图图2. 测角仪的光路图X射线源S是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2θ夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
θ角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成 2—I的关系曲线,即X射线衍射花样。
相对(2)X射线发生器图3. X射线产生装置X 射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
XRD实验物相定性分析解析
XRD实验物相定性分析解析X射线衍射(XRD)是一种常见的物相分析方法,用于确定材料的晶体结构和相组成。
本文将探讨XRD实验的原理、仪器和样品制备,并介绍其在材料科学中的应用和解析方法。
X射线是一种电磁波,具有较短的波长和高频率,可以穿透物质并与其相互作用。
X射线衍射是指X射线通过物质后的散射现象,当X射线与物质的晶体格子相互作用时,射线会发生衍射,形成一系列衍射峰。
这些衍射峰的位置和强度可以提供关于晶体结构和相组成的信息。
XRD仪器:XRD仪器主要由X射线源、样品台、衍射角探测器和数据采集系统等组成。
X射线源通常是钨或铜的X射线管,通过加热和加电产生连续谱的X射线。
样品台用于固定和旋转样品,以便在各个角度下获取衍射数据。
衍射角探测器一般采用闪烁计数器或曲线探测器,用于检测和测量衍射峰的位置和强度。
数据采集系统负责收集和处理衍射数据,生成XRD图样。
样品制备:样品制备是XRD实验中的重要一步,样品的形态和晶体质量直接影响实验结果。
通常,样品可以是固态、薄膜、粉末或液态,根据不同的样品形态选择相应的方法进行制备。
固态样品通常经过机械切割、打磨和抛光来获得平坦的表面。
粉末样品则需通过高速摇床或球磨机将样品粉碎成粉末。
对于液态样品,则需通过制备薄膜或浓缩溶液后,使用特殊的样品夹具测量。
应用和解析方法:XRD在材料科学领域具有广泛的应用,如无机材料、有机材料、金属材料和生物材料等。
通过XRD实验,可以确定样品的晶体结构、晶格常数、晶胞参数和晶体取向等信息。
对于XRD实验的解析方法,首先需要进行物相定性分析。
这一步骤通常通过与标准物相数据库进行比对,确定样品的物相组成。
在比对过程中,可根据衍射峰的位置和强度进行匹配,并利用标准物相的晶胞参数进行校正。
此外,样品的晶体结构也可以借助衍射数据进行解析。
通过在衍射图样中标记峰的位置,可以计算晶胞参数和晶体取向,从而确定样品的晶体结构。
同时,XRD还可以用于研究晶体中的缺陷、畸变和应力等。
XRD数据分析教程(Highscore 和Jade)
选择 晶系
2θ
d
(hkl)
a 显示 结果
b
c
2θ 、d、(hkl) 如何得到?
2、寻峰找2θ和晶面间距d
3、点击“View”,输出寻峰报告,可见2θ、晶面间距d、半高宽FWHM; 点击寻峰报告中峰位,在途中可现实此封位置(图中红线),此处比 Highscore便于观察半个峰的位置
一、Jade软件——物相检索
1、打开文件(ASC格式)
2
2、物相鉴定——选择物相种类及所含元素,选择完毕点击“OK”
3
3、得到可能的物质,此处比对峰位不方便,利用Highscore逐一比对峰位
优点:匹对物质较为准确, 有标准物质晶胞参数
4、双击下列任意物质,会出现此物质标准PDF卡片
二、Jade——晶胞参数
4、寻峰得到2θ和晶面间距d,标准卡片中得到(hkl),输入参数得到样品 晶胞参数
三、Jade——晶粒尺寸
谢乐公式:D=kλ/βcosθ
D:晶粒尺寸;λ:X射线波长;
β:衍射峰值半高宽的宽化程度;
θ:布拉格角;K:Scherrer 常数(已知)
计算晶粒尺寸(方法一)(拟合后size & strain plot 才可以按)
6、拟合完成后,点击“View”中显示拟合报告
7、与标准PDF卡片比对,点击去除手动添加的峰和标准卡片中不存在的峰,即可显示 结晶度
1、平滑,去除噪音干扰引起
6
2、调整基线扣除背底
7
3、点击整体拟合键,若出现以下情况,说明一次拟合峰数太多,可选择区域分开拟合
8
4、拖动鼠标,选择区域(蓝色部分)显示部分衍射峰,点击整体拟合键
XRD物相分析(Jade软件的应用)
第一步:数据的导入、导出处理
选择文件的类型,比
如.txt;.acs文件等,双击所需分析的文
jade软件可打开。
打开后,大家会发现这个是以d值为横坐标的,不是我们常规的2theta角为横坐标。
不能用oringe作图,怎么办?
点开
Primariy
*.txt,就可将原始文件存储为
强度的两列数字保存在txt文件中,导出的文件第一行是文件名称,删除后,即可倒入oringe
第二步:数据的分析
寻峰结果可以帮助后面物相鉴定
最好全选
先确定了主晶相:金红石相TiO
2
确定了第二相:板钛矿相TiO
2
定量分析的计算•采用绝热法进行计算
计算公式有:I
1/I
2
=(R
1
/R
2
)*(w
1
/w
2
)
结晶度计算
结晶度的计算
是不准确的,
这个数字可以
直接获得结晶
度的大小信
息,但是受到
背底扣除的极
大影响。
平均晶粒大小计算
注意,计算时需要对不重叠的峰进行
计算。
如果都是重叠的,则需要进行
分峰再进行计算。
XRD实验物相定性分析上课讲义
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作组成:主要由X 射线发生器、测角 仪、辐射探测器、记录单元及附件(高 温、低温、织构测定、应力测量、试样 旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K 、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台; O-测角仪中心轴;S-X 射线源;M-刻度盘;图1.测角仪结构原理图图2.测角仪的光路图X 射线源S 是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首、实验仪器D8 Advanee 型X 射线衍射仪(1)测角仪先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2B夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
9角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成I相对一的关系曲线,即X射线衍射花样。
(2) X射线发生器X射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
xrd 物相检索原理
XRD物相检索原理X射线衍射(XRD)是一种常用于材料科学、化学、生物学等领域的分析方法,通过测量样品对X射线的衍射角度和强度,可以获得样品的晶体结构和物相信息。
本文将介绍XRD物相检索的原理,主要包含以下几个方面:基于衍射谱特征、衍射谱独特性、多相样品衍射峰是各物相的机械叠加。
1. 基于衍射谱特征XRD物相检索的基本原理是利用样品衍射谱的特征进行物相识别。
衍射谱特征包括衍射峰的位置、强度和形状等。
这些特征可以反映样品的晶体结构和晶格常数,因此可用于区分不同的物相。
在进行物相检索时,首先要选取适当的衍射谱特征,如最强峰、次强峰或某一定角度范围内的衍射强度等。
为了提取衍射谱特征,需要对数据进行预处理和解析。
预处理包括平滑、去噪、背景扣除等步骤,目的是减小数据噪声和异常值对衍射谱特征的影响。
解析则包括峰识别、峰形拟合和强度计算等步骤,旨在精确获取衍射谱的特征信息。
2. 衍射谱独特性不同物相的衍射谱具有独特性,这是由于不同物相的晶体结构和晶格常数不同,导致其对X射线的衍射方式也不同。
因此,通过对比样品的衍射谱与已知物相的衍射谱数据库,可以快速将样品识别为特定物相。
在实际操作中,可以将样品的衍射谱与数据库中已知物相的衍射谱进行比对,寻找最匹配的物相。
如果样品的衍射谱与数据库中所有已知物相的衍射谱都不匹配,则可能需要考虑未知物相或非晶相的存在。
3. 多相样品衍射峰是各物相的机械叠加对于多相样品,其衍射谱是各物相衍射峰的机械叠加。
这意味着每个物相的衍射峰都会在衍射谱上出现,并且每个峰的强度和位置都与该物相在样品中的含量和晶体结构有关。
在实际操作中,可以通过定性分析和定量分析相结合的方式,对多相样品的衍射谱进行分析。
定性分析可以通过比对已知物相的衍射谱,确定样品中存在的物相种类;定量分析则可以通过测量各物相衍射峰的强度,计算出各物相在样品中的含量。
4. 实验结果分析为了验证XRD物相检索原理的正确性,我们选取了实际样品进行了实验。
XRD物相检索的过程详解
XRD物相检索的过程详解1检索的步骤先来说说检索的步骤,这只能是泛泛⽽谈了。
把数据读⼊JADE后,我⼀般不做任何处理就先检索物相,有⼈喜欢先平滑,但是,平滑的数据会失真,如果不是衍射图特别不好,建议不要先做平滑,当然也不要扣背景,扣Ka2了。
这样做的⽬的,只是为了最真实地找出物相来。
在按下S/M后,也会有⼀个提问,也是问要不要扣背景,也是回答N的。
⿏标的右键按下S/M,建议不要⽤左键按。
右键按下后会出现⼀个对话框,这⾥要做的主要是:选择PDF卡⽚数据库,我⼀般只选4个库,即⽆机物,矿物,ICSD⽆机物和ICSD矿物。
当然,如果你做陶瓷,则也应当加上陶瓷库。
第⼆个要选择的是要不要加⼊元素过滤器。
这是随时改变的。
⼀个样品第⼀次检索时,我⼀般懒得加元素限定条件,也就是不选择元素过滤器,让系统⾃动在全部卡⽚上过⼀遍,看看能否找得到所要的物相。
⼀般都能找出⼀个两个物相来,选上它。
返回到初始窗⼝。
右键再次按下S/M,打开条件对话框,加⼊元素限定条件。
加元素绝对不是⼀古脑⼉都加进去,⽽是有意识,有步骤地加⼊。
检索的过程,我经常说是⼀个猜数的过程。
⾃⼰脑⼦⾥先有结果,然后再有意识地去找出来,得到验证。
现在很多⼈做掺杂,做合⾦的喜欢做⼤概有10种元素的合⾦,是否要⼀次性地把这些元素都加进去呢?肯定是不⾏的。
有些元素,加⼊量极微,起⼀些特殊作⽤,也形成新相,但是,这些相只有通过电⼦探针或TEM才能找得出来,⽤XRD是绝对检测不出来的,因此,在加⼊元素时,要考虑会形成什么样的相,才加⼊什么样的元素。
即使会形成量较多的相,但是,也不要全部加⼊,⼀次加⼊的元素原则上不超过4个,否则就起不到“元素限定”的作⽤。
?在的意识地加⼊某些元素后,再检索,可能会找到另外⼀些次要相。
在反复⼏次后,可能还有⼀些峰没有找到对应的物相,这时,先点⼀下“画峰按钮”(即求⾯积的按钮),在⼀个较强剩余峰下⾯划⼀下,即选定这个峰,再S/M,可能会找到与这个峰对应的物相。
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把数据读入JADE后,我一般不做任何处理就先检索物相,有人喜欢先平滑,但是,平滑的数据会失真,如果不是衍射图特别不好,建议不要先做平滑,当然也不要扣背景,扣Ka2了。
这样做的目的,只是为了最真实地找出物相来。
在按下S/M后,也会有一个提问,也是问要不要扣背景,也是回答N的。
鼠标的右键按下S/M,建议不要用左键按。
右键按下后会出现一个对话框,这里要做的主要是:选择PDF卡片数据库,我一般只选4个库,即无机物,矿物,ICSD无机物和ICSD矿物。
当然,如果你做陶瓷,则也应当加上陶瓷库。
第二个要选择的是要不要加入元素过滤器。
这是随时改变的。
一个样品第一次检索时,我一般懒得加元素限定条件,也就是不选择元素过滤器,让系统自动在全部卡片上过一遍,看看能否找得到所要的物相。
一般都能找出一个两个物相来,选上它。
返回到初始窗口。
右键再次按下S/M,打开条件对话框,加入元素限定条件。
加元素绝对不是一古脑儿都加进去,而是有意识,有步骤地加入。
检索的过程,我经常说是一个猜数的过程。
自己脑子里先有结果,然后再有意识地去找出来,得到验证。
现在很多人做掺杂,做合金的喜欢做大概有10种元素的合金,是否要一次性地把这些元素都加进去呢?肯定是不行的。
有些元素,加入量极微,起一些特殊作用,也形成新相,但是,这些相只有通过电子探针或TEM才能找得出来,用XRD是绝对检测不出来的,因此,在加入元素时,要考虑会形成什么样的相,才加入什么样的元素。
即使会形成量较多的相,但是,也不要全部加入,一次加入的元素原则上不超过4个,否则就起不到“元素限定”的作用。
在的意识地加入某些元素后,再检索,可能会找到另外一些次要相。
在反复几次后,可能还有一些峰没有找到对应的物相,这时,先点一下“画峰按钮”(即求面积的按钮),在一个较强剩余峰下面划一下,即选定这个峰,再S/M,可能会找到与这个峰对应的物相。
在这里要注意两个问题,一是,不能光看是否与这个峰对应,还应当考虑是否有其它峰与所找出的物相谱对应。
二是要不要加入元素限定,可以先不加入元素,大范围地找,如果找不出,再加入元素限定再找。
如果找选的峰找不出新物相来,则换个峰试试。
检索的步骤就是这样,需要反复地去S/M,支摸索。
你可以先把可能的相都选上,然后,再一个一个地验证,如果明显矛盾就去掉。
如此反复,以至全部峰都找到相应的物相。
如果我们把样品分类,照我的理解,可以分成三大类:第一类是天然矿物,第二类是人工合成,第三类就是合金。
下面我来说说这些样品的特色。
照我的理解,天然矿物是最好分析的,因为就那么些种类,而且,天然矿物的数据库特别地全,所有已知矿物都能找到相应的卡片,不存在“新相”的问题。
数据库中的数据最成熟。
但是,天然矿物也是最容易出现“错判”的样品,特别是粘土类样品,更是这样。
有些粘土类矿物,大家都长得差不多(峰位重合),很难根据一个谱线来说这个样品一定就有什么什么。
不过,矿物都有自己的一些特性,比如,蒙脱石能吸水、甘油等,遇到这些东西会涨起来,峰位会往左边偏,高岭石在高温下会被烧掉,绿泥石能溶于热盐酸等。
因此,分析一个这样的矿物样品需要做多个实验。
测多次谱线,最后来证明到底有什么,没什么。
当然,对于矿物来说,还有地域的问题,有酸性地与碱性地的问题,有成矿原因,大地构造的问题。
有人非说新疆某地区长出了高岭石,那会闹出笑话来。
这种问题不是XRD本身能解决的,这说明,用XRD来分析物相,专业知识是多么重要!世界上最好分析的样品应当就是人工合成的了。
它们的衍射谱绝对“标准”,甚至不加入任何限定条件就能找出来主要的物相来。
但是,也有点问题。
第一个问题,可能是化学家偷懒了。
合成后的样品没有清洗干净,带有很多原材料在里面。
这时应当考虑会是什么东西没洗干净,有意识地去找这种东西。
第二个问题是,反应没有完全,带有中间产物,这时可能就惨了。
因为很多中间产物在PDF 卡片库中没有数据。
根本找不出是什么东西来。
只知道它是一个中间产物。
第三个问题可能也是第二个问题,产物是非晶、部分非晶、结晶不完整,导致峰宽化特别严重,有些峰根本都看不到。
如果在差一点的仪器上检测,而且扫描速度快一点的话,也许看到的就是一根平线。
这时候只有猜了,猜出多少是多少。
很多人在做化学掺杂,有人就问到,掺杂后是不是有新相出现呢?我个人以为,如果掺进去了,就不会出现新物相,衍射谱是很好的与没掺杂前一样的谱线,这是因为,掺杂只是原子占位的问题,原来的原子位置被“杂质”原子所占有,晶体结构如果发生改变,只是很少的改变,只是峰位的微小变化。
凭眼睛是看不出来的,如果非得要知道变化了多少,需要用到结构精修。
当然,如果没有掺进去,就会有其它相的存在,这些其它相,可能是原料相,也可能是中间相。
做电池的知道,LiMnO2里面掺点Ni,Co进去,还是LiMnO2结构,但精修后,结构有点不同。
如果没有掺得好,会有MnO2,Mn3O4以及其它氧化物存在,如果反应不好,可能会有很宽的衍射峰出现。
这时就真不知道是什么东西了。
再来说一下第三类样品,就是合金。
带首饰要带纯金,做人要做赤子。
但是,做金属材料的就不喜欢做纯金属,这些都有人做过了,没做头了。
因此,大家就一个劲地往某种纯金属里面掺杂。
少的两三种,多的十多种,混在一起一锅煮。
最后生成个什么东西呢?为了知道生成了什么东西,就会想到用XRD。
但是,这就苦坏了做XRD的人。
因为:合金中存在固溶现象,其它金属原子可以进入到其它金属原子的结构中进行置换,形成所谓的固溶体。
因为固溶原子的进入,衍射峰变宽,而且还移位。
有时候会什么相都找不出来。
如果是固溶引起的峰位移,那么,一般情况下峰会往一边移,如果发现PDF线都落在衍射峰的一边,而且还一个个地对应得很好,就算有这种玩意了。
固溶对基体相的影响还好处理,不好处理的是析出相。
这些相的含量本来就很低,加上有固溶的影响,就变得似是而非了。
总体的原则还是这样,我们不管强度对应与否,不管位置误差,只要一一对应就好了。
合金的另一个问题是加工。
铸铁只能用来做锅子炒菜,做水管还只能做下水管。
合金是要经过加工的。
但是,一加工,就有织构,有择优取向了。
这时候的问题就来了。
首先是强度不能匹配。
本来应当高的峰可能变得很低了,而本来低的峰变得很高了。
这一点都不奇怪。
这是择优取向造成的。
更为严重的是,有时候某个峰会低得消失了。
因此,在分析合金样品时,不要去考虑强度的匹配问题。
而且,如果有某条线没有对上,也不要紧。
总之,在分析合金样品时,要灵活一点,要专业强一点。
要懂点相图。
或者看点资料,查查人家怎么说,要不,真的会什么相都找不出来。
一个合金样品中,如果想反所有的相都找出来,是难的,难得不可能。
因此,如果留下一两条很低的线不能辨别出是什么物相,除非你猜得着,否则的话,不标出来也无可厚非。
什么是FOM,有什么用?怎么用它?我们可以说FOM是衍射谱与PDF卡片峰位、强度匹配的好坏。
它是一个计算公式,当然,FOM值小,表示两者匹配得好,可信度高。
因此,在S/M时,总是把FOM小的物相排在最前面。
换句话说,最有可能的物相总是排在最前面。
但是,我们不能光凭一个FOM就定生死,就说一定是它。
FOM是对整个谱的匹配,考虑的是总体的情况,如果某个物相,90%都是完全对得很好,但是,明显的有一条谱线位置没有产生衍射峰,而且样品不存在明显的择优取向或定向生长,那么我们还是要否定的。
最近手机老是收到短信“由于您上月用了XX元话费,因此得到一个获得免费XX的机会”,我一看不是真的一个免费的XX,而只是一个机会,我就知道又有人在骗我了。
机会不是最后的定论,在手机短信里面就真不是了。
因此,FOM只能作为参考。
在分析合金样品时,排在最前面的物相的FOM可能是1或者2,接着第二个物相就是99.99%了。
那么,是不是这个排在最前面的物相就一定是呢?也不是,往往因为固溶和加工的原因,那些99.99%FOM的物相才真的是我们要找的物相。
元素怎样限定?有人从地里面检块石头回来,希望了解里面是不是有金子。
我告诉他,你走错门了,你应当去做化学分析或者去打个能谱。
如果真的里面的金子,我倒可以告诉他怎么样把杂质去掉。
因为我们可以分析这些除金子之外的元素是怎么样的赋存状态,分析这些元素形成了一些什么样的化合物。
但是,我们的前提是知道样品里面有些什么样的元素存在。
为什么一定要知道有什么元素存在呢?我们的目的只有一个,就是缩小搜索范围,增大检索的可信度。
S/M按钮到底干了些什么?是怎么干的呢?打个比方,公安局里存在有每个人的指纹库,抓到一个人以后,(不管他是好人还是坏了),对一下指纹就知道他是张三还是李四或者是王麻子了。
这个事情想起来太简单了。
因为各人的指纹是不一样的。
但是,中国有十亿人,我们的PDF卡片库有多少张卡片呢?现在有26万张。
在这么多卡片里,我们能保证绝对没有两张是完全相同的,但是,我们不能保证的是,没有两张是相似的。
因此,如果我们对样品一无所知,就来做XRD,我们只能告诉你,你的样品中可能存在的物相有“如下XX种”。
一般情况下公安局提到的指纹只是单个人的,而样品中存在的物相一般不只有一种,一个地质样品中含有10种不同的物相是完全不用感到惊奇的事情。
想想如果10个人的指纹叠在一起,让公安局告诉你,他们都是谁,哪个怪才可以?想想,我们做XRD比做公安可难多了。
但是,如果事先知道,这个事情一定是一个女人(男人也可以)干的,搜索范围缩小一半,如果再知道其它的事情,搜索范围会缩小到几个人之间。
多少冤案减少!但是,具体做起来,我们还不能一古脑地把所有可能的元素都输入,这样,你又把范围扩大了。
我的建议是:有目的,有意识地加入元素限定。
比如,你想,这个样品中是不是有TiO2,你就只加入这两种元素。
如果想想,样品中应当还有石英,你就把其它的元素都去掉,只加入Si,O。
不要把一些微量元素加入。
比如Zr只有微量溶入Al中,合金中加入微量0.02%就会形成Al3Zr。
有人在电镜下看到了,文献了报道了,合金中肯定存在这种相。
你又懒得去磨TEM样品,只想看看XRD,又想找出它来,那么你白想了。
甚至有人怀疑,你的仪器是不是不行了,要换新的?或者是你的数据库不全。
这只是外行话,我们不必去理会。
加入元素时,从最多的加起。
但是,少的也要试试。
也许还真能生成一种XRD能看得到的相呢?但是,少于1%的建议不要试图从XRD中找出来。
除非是地质样品,除非是含量很高的相,一次不要加入超过4个元素。
多了,等于没有限定,还是会找不到。
但是,地质样品,比如粘土矿物,每个物相都含有多种元素,这就没办法了。
关于微量相的检出。
样品中的主要相要检出来是很容易的,因为它们的谱是全的,所有该有的线都会出现。
而且峰也强,容易检出。
微量相检不出有三个原因。
一是峰强低,二是谱不全,该有的峰也许根本都没出现,往往检到最后,只剩下两个峰没有检出了。