【CN109872315A】一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法【专利】

(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910127310.2
(22)申请日 2019.02.20
(71)申请人 中国科学院国家天文台
地址 100101 北京市朝阳区大屯路甲20号A
座A521室
(72)发明人 李陶然　田健峰　王建峰　兀颖　
葛亮　张晓明　邱鹏　赵勇　
李曼迪　曾显群　
(74)专利代理机构 北京金智普华知识产权代理
有限公司 11401
代理人 巴晓艳
(51)Int.Cl.
G06T 7/00(2017.01)
G06T 11/20(2006.01)
(54)发明名称
一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检
测方法
(57)摘要
本发明提供一种杂散光均匀性实时检测方
法，包括如下步骤：1）目标图像本底和平场的预
处理；2)绘制直方图，以ADU大小和频率为自动判
断依据进行星像扣除；3)绘制背景杂散光等高线
图，计算杂散光均匀性等相关参数。

本发明通过
实时检测杂散光均匀性，提供CCD像面背景分布
和统计数据，可以辅助较差测光中比较参考星的
选择，
提高测光精度。

权利要求书1页 说明书5页 附图6页CN 109872315 A 2019.06.11
C N 109872315
A
权　利　要　求　书1/1页CN 109872315 A
1.一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法，其特征在于，所述方法在对目标图像本底和平场的预处理后，绘制直方图，并以ADU大小和频率为自动判断依据进行星像扣除，最后绘制背景杂散光等高线图，完成计算杂散光均匀性相关参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：
S1、目标图像预处理：对望远镜拍摄目标星进行减本底和除平场处理，提高测光精度；
S2、扣除星像影响：消除星像与背景亮度差值较大对等高线图的影响；
S3、绘制背景杂散光等高线图，计算杂散光均匀性：辅助较差测光中比较参考星的选择，减少背景亮度不同对较差测光精度的影响，提高测光精度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S3绘制背景杂散光等高线图包括：
S31：划分图像区域；
S32：给出图像上不同区域的杂散光统计数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S31划分图像区域的方法包括：
方法一：将图像划分为四个象限；
方法二：将图像划分为多个矩形。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S32中不同区域的杂散光统计数据包括杂散光的均匀性、平均值、能量百分比、和背景值上限，所述杂散光的均匀性以背景值标准差表示。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S1具体包括：
S11：望远镜预先拍摄多幅本底图像和平场图像，用于对目标图像的处理；
S12：用本底图像消除CCD本身的偏置电压，平场图像改正CCD各像元的响应不均匀性；
S13：将目标图像减去本底图像，并除平场图像，完成目标图像的预处理。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S2具体为：
S21：找出星像ADU值最小值，在整个CCD像面上，背景所占比例大，星像ADU值比背景ADU 值大；
S22：以ADU大小和频率为自动判断依据，计算每个区间占总数的百分比，并将百分比小于1％的ADU区间内的所有点看作星像；
S23：从ADU最小值开始依次将每个区间所占总数百分比累加；
S24：当累加值大于99％时，记录此时区间的位置，以此区间的ADU值下限作为图像背景ADU最大值或星像ADU最小值；
S25：将图像ADU值高的像素点剔除或改变其大小，达到扣除星像影响的目的。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，对于分辨率为2kx2k及以上的CCD，通过2x2bin或其他binning的方法来提高处理速度。

2。