ICT测试原理培训
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6(A) * 2 * 103(Ω) = 1(V)
• 此時D已導通, 將Rx兩端限 壓至約0.7V.
• 那么RM = 0.7(V) / (500 * 10-6(A)) = 1.4 * 103(Ω) = 1.4kΩ ≠ Rx .
• 此時, 要改以低一檔電流源測 試. 在TR-518F系列测试仪中 為MODE1.
.
CURRENT 5mA 500uA 50uA 5uA 0.5uA 0.1uA
GUARDING原理
（隔離點的選擇,通過按F7或ALT+F7,或者加適當 延時等修改後再按F7或ALT+F7由系統自動完成, 絕大多數可達到效果. 經驗表明,隔離點太多,測量 值可能不穩定. 一般選擇0~2個隔離點可以滿足要 求,並且隔離點的選擇一般僅隔離一面. 如果按F7 或ALT+F7後,系統選擇的隔離點太多,則要重新作 自動隔離,以找到一種隔離點較少且測量效果最好 的方案.）
∵ ( jωVCSX/)I∣X ==
XC 1/
=∣1 ( 2πf
/ CX
)
• ∴量回IX 的振幅, 即可求 得CX .
2020/11/24 .
DC法 (3μF以上)
• 對于大電容, 若使用上述AC電壓源模式測 試時, 將需要較低頻率來測試,從而增加 ICT的測試時間. 另外,大電容交流阻抗很 小, 如此無法判斷電容內部是否有短路發 生.
•
2020/11/24 .
• 考慮到電容的分流, 要先對其充電, 經過 T2以后, Ic→0. 此時 可量回准確的阻值. 故遇到R//C的情形, 釆用定電流源測試時, 須加DELAY TIME.且 電容越大,延遲要更久, 才能得到准確值.
當C較大(μ級以上)時,
• 當C較大(μ級以上)時, 若 仍釆用定電流源方式, 則 電容會將電流源分流,直至 電容充飽時才成斷路, 這 樣會消耗太久測量時間. 此時改以電壓源(0.2VDC) 對電容充電, 迅速將電容 加至0.2VDC (斷路), 再量 回電流Ix值, 即可求得 Rx,( RX = 0.2VDC/IX )
2020/11/24 .
RX // R
• 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) ≠ Rx .
• 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) ≠ Rx .
2020/11/24 .
Rx // C
2020/11/24 .
Rx // C
• 測試順序是: [放電], 充電和電壓測試. 如 FIGURE 4示 .
電阻測試
系统依标准值（STD_V）选取相应大小的电流 源。被測電阻愈大, 測試電流須更小, 以確保 量回被測電阻兩端的電壓VO在規定的範圍 (0.15~1.5V)之內.
Fra Baidu bibliotek
2020/11/24
RANGE 1Ω—299.99Ω 300Ω—2.99KΩ 3KΩ—29.99KΩ 30KΩ—299.9KΩ 300KΩ—2.99MΩ 3MΩ—40MΩ
2020/11/24
结论：釆用低一檔電流源,可避免D的“限壓”.
.
另外,互換高低點(HI-PIN←→LO-PIN). 即IS從DIODE的陰極注入, 亦可 避免D的“限壓”. 互換高低點不可行的情況可能出現在以下連接電路.
2020/11/24 .
RX//D//C
• 而對于RX//D//C, 見 FIGURE 7 .在TR-518F 系列测试仪中,選擇 MODE2: HIGH SPEED FOR R//C ,因電壓源 為0.2VDC, 故D仍處于 截止狀態, 亦可避開D 的“限壓”.
2020/11/24 .
此時須以DC測量, 見FIGURE 17 . 測試順序 (FIGURE 18 ):
在被測電容上加載定電流, 然后通過測量其積 分電壓, 2020/11/24 計算其電容值.
2020/11/24 .
四點測量
• 適用于小電阻的精確 測量.
• ( 如為兩點測量,則 RM = RAB > RX )
2020/11/24 .
電容測試
• 由OSC分別產生1kHZ /
10kHZ / 100kHZ / 1MHZ 的AC輸出信號, 其振幅均 為固定(40mVrms) (FIGURE 16 )
在线测试仪应用原理篇
应用教程（二）
Http://www.tri.com.cn E-Mail:winchl@163.net
2020/11/24 .
版权所有, 2000 (c) TRI 德律泰电子（苏州）有限公司.
制作
Winchl Cheng Training(R)
for TR-518F Series Date:12/01/2000
2020/11/24 .
RX // L ( FIGURE 13 )
2020/11/24 .
RX // L
• 若仍以電流源量測Rx. 由于L的暫態為由 “OPEN”至“SHORT”,其暫態時間不易控 制, 而穩態時電感相當于“SHORT”,將電流 源完全分流, 致Vx→0, 此時, 須以AC來測 量, 使得L呈現一阻抗值(愈大愈好). 再利 用相位差即可計算出Rx, 見 FIGURE 14 .
2020/11/24 .
Comparation：
2020/11/24 .
RX // D ( FIGURE 6 )
• 推而廣之,電阻與帶PN 結的零件并聯.( 包括D, ZEN, TR, FET, IC , etc ).
2020/11/24 .
MODE 0 → MODE 1
• 假設 RX = 2kΩ • 若 IS = 500μA • 則 VR = IS * R = 500 * 10-
2020/11/24
.
• 在TR-518F系列测试 仪中,選擇MODE2:
HIGH SPEED FOR R//C , 再加适量延時 即可。
EXAMPLE：
• ◎ 如果在被測電 阻RX的相關電路中有 電容存在 , 如FIGURE 10示 .
• 通過設置虛地隔離點, 可以提高測試速度, 見FIGURE 11, 12 .
• 若 IS = 50μA
• 則 VR = IS * R = 50 * 10-6(A) * 2 * 103(Ω) =0.1(V)
• 此時D仍處于截止狀態, 故可 量得正確的Rx值.
• 即 R M = 0.1(V) / (50 * 10-6(A)) = 2 * 103(Ω) = 2(KΩ) = Rx .
• 此時D已導通, 將Rx兩端限 壓至約0.7V.
• 那么RM = 0.7(V) / (500 * 10-6(A)) = 1.4 * 103(Ω) = 1.4kΩ ≠ Rx .
• 此時, 要改以低一檔電流源測 試. 在TR-518F系列测试仪中 為MODE1.
.
CURRENT 5mA 500uA 50uA 5uA 0.5uA 0.1uA
GUARDING原理
（隔離點的選擇,通過按F7或ALT+F7,或者加適當 延時等修改後再按F7或ALT+F7由系統自動完成, 絕大多數可達到效果. 經驗表明,隔離點太多,測量 值可能不穩定. 一般選擇0~2個隔離點可以滿足要 求,並且隔離點的選擇一般僅隔離一面. 如果按F7 或ALT+F7後,系統選擇的隔離點太多,則要重新作 自動隔離,以找到一種隔離點較少且測量效果最好 的方案.）
∵ ( jωVCSX/)I∣X ==
XC 1/
=∣1 ( 2πf
/ CX
)
• ∴量回IX 的振幅, 即可求 得CX .
2020/11/24 .
DC法 (3μF以上)
• 對于大電容, 若使用上述AC電壓源模式測 試時, 將需要較低頻率來測試,從而增加 ICT的測試時間. 另外,大電容交流阻抗很 小, 如此無法判斷電容內部是否有短路發 生.
•
2020/11/24 .
• 考慮到電容的分流, 要先對其充電, 經過 T2以后, Ic→0. 此時 可量回准確的阻值. 故遇到R//C的情形, 釆用定電流源測試時, 須加DELAY TIME.且 電容越大,延遲要更久, 才能得到准確值.
當C較大(μ級以上)時,
• 當C較大(μ級以上)時, 若 仍釆用定電流源方式, 則 電容會將電流源分流,直至 電容充飽時才成斷路, 這 樣會消耗太久測量時間. 此時改以電壓源(0.2VDC) 對電容充電, 迅速將電容 加至0.2VDC (斷路), 再量 回電流Ix值, 即可求得 Rx,( RX = 0.2VDC/IX )
2020/11/24 .
RX // R
• 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) ≠ Rx .
• 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) ≠ Rx .
2020/11/24 .
Rx // C
2020/11/24 .
Rx // C
• 測試順序是: [放電], 充電和電壓測試. 如 FIGURE 4示 .
電阻測試
系统依标准值（STD_V）选取相应大小的电流 源。被測電阻愈大, 測試電流須更小, 以確保 量回被測電阻兩端的電壓VO在規定的範圍 (0.15~1.5V)之內.
Fra Baidu bibliotek
2020/11/24
RANGE 1Ω—299.99Ω 300Ω—2.99KΩ 3KΩ—29.99KΩ 30KΩ—299.9KΩ 300KΩ—2.99MΩ 3MΩ—40MΩ
2020/11/24
结论：釆用低一檔電流源,可避免D的“限壓”.
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另外,互換高低點(HI-PIN←→LO-PIN). 即IS從DIODE的陰極注入, 亦可 避免D的“限壓”. 互換高低點不可行的情況可能出現在以下連接電路.
2020/11/24 .
RX//D//C
• 而對于RX//D//C, 見 FIGURE 7 .在TR-518F 系列测试仪中,選擇 MODE2: HIGH SPEED FOR R//C ,因電壓源 為0.2VDC, 故D仍處于 截止狀態, 亦可避開D 的“限壓”.
2020/11/24 .
此時須以DC測量, 見FIGURE 17 . 測試順序 (FIGURE 18 ):
在被測電容上加載定電流, 然后通過測量其積 分電壓, 2020/11/24 計算其電容值.
2020/11/24 .
四點測量
• 適用于小電阻的精確 測量.
• ( 如為兩點測量,則 RM = RAB > RX )
2020/11/24 .
電容測試
• 由OSC分別產生1kHZ /
10kHZ / 100kHZ / 1MHZ 的AC輸出信號, 其振幅均 為固定(40mVrms) (FIGURE 16 )
在线测试仪应用原理篇
应用教程（二）
Http://www.tri.com.cn E-Mail:winchl@163.net
2020/11/24 .
版权所有, 2000 (c) TRI 德律泰电子（苏州）有限公司.
制作
Winchl Cheng Training(R)
for TR-518F Series Date:12/01/2000
2020/11/24 .
RX // L ( FIGURE 13 )
2020/11/24 .
RX // L
• 若仍以電流源量測Rx. 由于L的暫態為由 “OPEN”至“SHORT”,其暫態時間不易控 制, 而穩態時電感相當于“SHORT”,將電流 源完全分流, 致Vx→0, 此時, 須以AC來測 量, 使得L呈現一阻抗值(愈大愈好). 再利 用相位差即可計算出Rx, 見 FIGURE 14 .
2020/11/24 .
Comparation：
2020/11/24 .
RX // D ( FIGURE 6 )
• 推而廣之,電阻與帶PN 結的零件并聯.( 包括D, ZEN, TR, FET, IC , etc ).
2020/11/24 .
MODE 0 → MODE 1
• 假設 RX = 2kΩ • 若 IS = 500μA • 則 VR = IS * R = 500 * 10-
2020/11/24
.
• 在TR-518F系列测试 仪中,選擇MODE2:
HIGH SPEED FOR R//C , 再加适量延時 即可。
EXAMPLE：
• ◎ 如果在被測電 阻RX的相關電路中有 電容存在 , 如FIGURE 10示 .
• 通過設置虛地隔離點, 可以提高測試速度, 見FIGURE 11, 12 .
• 若 IS = 50μA
• 則 VR = IS * R = 50 * 10-6(A) * 2 * 103(Ω) =0.1(V)
• 此時D仍處于截止狀態, 故可 量得正確的Rx值.
• 即 R M = 0.1(V) / (50 * 10-6(A)) = 2 * 103(Ω) = 2(KΩ) = Rx .