UV-Vis DRS光谱及其在催化剂表征中的应用PPT精选文档
紫外可见光光谱PPT课件
reaction) 溶质和溶剂之间作用的稳定性 (no
variable associations between solute and solvent)
Instruments and Measuring Methods
仪器和测量方法
仪器(1)
仪器(2)
Double beam in time
Double beam in space
但通常在实际工作中,多以被测物质的总浓度 计算,这样计算出的ε值称为表观吸光系数。 文献中所报道的ε值就是表观吸光系数值。
标准曲线
分光光法
以物质对光的选择性吸收为基础的分析 方法。根据物质所吸收光的波长范围不 同,分光光度分析法又有紫外、可见及 红外分光光度。
Based on the characteristic absorption to light for different materials.
Ce(IV)离子的吸收光谱 A:使用玻璃比色皿 B:使用石英比色皿 虚假峰的出现(虚假吸收)
LB定律应用的要求
单色光 (monochromatic) 低浓度 (low concentration) 无荧光发生 (not fluorescent) 溶液均一 (homogeneous) 光照下稳定 (no photochemical
生物防晒
通过某些可以深入渗透至肌肤细胞核,保 护细胞DNA的原理
化学防晒霜成分
对氨基苯甲酸 Para Amino Benzoic Acid PABA: 吸收 UVB
Phenylbenzimi dazole sulfonic acid苯基苯并咪 唑磺酸 吸收UVB
Oxybenzone: 羟苯并唑 吸收UVB and short UVA
UVVisDRS光谱及其在催化剂表征中的应用
积分球用于测定反射光谱的方法(2种):
代替法:其基本原理如
右图5所示,从外部过来的 辐射通过小孔1进入球内, 落在样品表面2上,用外部 光度计通过小孔3测量球壁 辐射强度,然后用标准物 代替样品进行重复测量, 强度的相对值用来量度以 标准物为基准的样品反射 能力。
图5 代替法
• 比较法:样品和标准物在整个测
2R
注:K 为吸收系数,S 为散射系数,
R∞ 表示无限厚样品的反射系数R 的极限值。
F (R∞ ) 称为减免函数或Kubelka—Munk函数。
● 实际测定的是R′∞, 不是绝对反射率 R∞,即相对
一 个标准样品的相对反射率。
● 其值依赖于波长 F(R′∞)—波长
● 对应于透射光谱的消光系数
● 在一个稀释的物种的情况下正比于物种的浓度
(相似于 Lambert-Beer law)。
1.5 漫反射光谱的表达 朗伯比尔定律描述入射光和吸收光之间的关系。 漫反射定律描述一束单色光入射到一种既能吸 收光,又能反射光的物体上的光学关系。
A=-㏑T
LogF (R
)
LogK
LogS
Log
1 R
2R
2
图4 吸收光谱曲线与漫反射光谱曲线
比色分析法:比较有色溶液深浅来确定物质含量 的方法,属于可见吸收光度法的范畴。
分光光度法:使用分光光度计进行吸收光谱分析 的方法。
紫外可见波长范围:
远紫外光区:10-200 nm; 近紫外光区:200-400 nm; 可见光区:400-780 nm。
注:由于O2、N2、CO2、H2O等在真空紫外区(60-200 nm)均有
1.1 固体中金属离子的电荷跃迁
最新第5章UV光谱ppt课件
2.谱带分类: (略)
(1)R带: (Radikalartin德文:基团型的)。
(2) K带:(Konjugierte德文,共轭的),由π→π* 跃迁引起 的吸收带,产生该吸收带的发色团是分子中共轭系统。 (3)B带(Benzenoid band,苯型谱带)和E带(Ethylenic band,乙烯型谱带)。均为芳香化合物的π→π*吸收带,苯 环有三个π→π* 跃迁的吸收峰。 (4)E带:
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紫外光谱仪
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5.2.2溶剂:
一般紫外光谱的测定都是在稀溶液中进行。用特殊附 件(积分球)可做固体样品。
溶剂应能溶解测定的化合物,并在测定的全波长区透 明。
根据测定的波长范围选溶剂,溶剂的透明范围的下限 应小于测定波长范围。
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表2-3 紫外光谱用溶剂
溶剂
透 明 下限(nm) 溶 剂
透 明下限 (nm)
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α-水芹烯中可以写出5种可能结构式A、B、C、D、E。
A
B
C
D
E
紫外光谱λmax 263nm( ε2500)指出两个双键是共轭的,D、 E可以否定。
其余3个共轭双烯结构中(A)有4个取代烃基,(B)(C)都含 三个取代烃基。
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含3个取代烃基的λmax计算值为: 253十3 × 5 = 268nm。 与实测值263nm接近。如按4个取代基计算相差更远。所 以,α-水芹烯结构可能为(B)或(c)。
远紫外区170-180nm附近。
吸收波长为150-250nm的区域,只有一部分在紫外区域内,同时
吸收系数ε小,所以也不易在紫外区观察到 。
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c、 π → π * 跃迁:
含孤立双键 的π → π *跃迁的吸收谱带,一般<200nm。 如有孤立双键的乙烯吸收光谱约在165nm。
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反射峰通常很弱,同时,它与吸收峰基本重合,仅仅使吸收
峰稍有减弱而不至于引起明显的位移。对固体粉末样品的镜面 反射光及漫反射光同时进行检测可得到其漫反射光谱。
图3 漫反射光示意图
1.4 漫反射定律(Kubelka—Munk 方程式)[5,13]
F (R )K /S1 2 R R 2
比色分析法:比较有色溶液深浅来确定物质含量 的方法,属于可见吸收光度法的范畴。
分光光度法:使用分光光度计进行吸收光谱分析 的方法。
紫外可见波长范围:
远紫外光区:10-200 nm; 近紫外光区:200-400 nm; 可见光区:400-780 nm。
注:由于O2、N2、CO2、H2O等在真空紫外区(60-200 nm)均有
在可见光区或近红外区的吸收光谱。
收集这些光谱信息,即获得一个漫反射光谱,基于此可 以确定过渡金属离子的电子结构(价态、配位对称性)。
1.2 紫外-可见吸收光谱(UV-Vis)
定义:根据溶液中物质的分子或离子对紫外和可 见光谱区辐射能的吸收来研究物质的组成和结构的方 法[4]。包括比色分析法和分光光度法。
吸收,测定这一范围光谱时须将光学系统抽真空并充入惰性
气体。所以真空紫外分光光度计非常昂贵,在实际应用中受
到一定的限制。
故通常所说的紫外-可见分光光度法,实际上是指近紫 外-可见分光光度法(200-780 nm) 。
1.3 漫反射光谱(DRS)
当光照射到固体表面时,发生反射和散射(如图1、2)
镜面反射:
注:K 为吸收系数,S 为散射系数,
R∞ 表示无限厚样品的反射系数R 的极限值。
F (R∞ ) 称为减免函数或Kubelka—Munk函数。
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4.检测器
• 将辐射能转变成电信号
光电池 光电管 光电倍增管 光电二极管阵列检测器
光电管
阴极(光敏)
阳极
R
指示器 放 大 器
紫敏光电管 200 ~ 625nm
红敏
625 ~ 1000nm
光电倍增管
挡板 阴极 阳极
共9个倍增极
光二极管阵列检测器
二
光源
样 品
极
光 栅
准直镜
• 将进入单色器的发散光变成平行光,又 作聚光镜,将色散后的平行单色光聚集 于出口狭缝。
光 栅
狭缝
• 入射狭缝—使光线成为一细长条照射到 准直镜
• 出射狭缝— 使需要的单色光投射到溶液中
过宽,单色光不纯,可使A改变 过窄,光通量小,灵敏度降低
3.吸收池
• 盛放试液 可见光区玻璃 紫外区石英
• 吸收池的校正(配对)
1. a 样品 b 参比
2. a 参比 b 样品
A1 = A样 - A参 A2 = A样 - A参
要求:A = A1 - A2 < 1%
第三节、紫外可见分光光度分析方法
一、定性鉴别
①对比吸收光谱特征数据 ②对比吸收度或吸收系数的比值 ③对比吸收光谱的一致性
①对比吸收光谱特征数据
例:VB12样品25.0mg用水溶成1000ml后, 盛于1cm吸收池中,在361nm处测得吸收度 为0.507,已知E值是207,计算其百分含量。
解:C测=A/El=0.507/207=0.00245 C样 = 25.0mg/ml = 0.0025g/100ml
VB12(%)=C测/C样100% = 0.00245/0.0025100% = 98.00%
UV-Vis原理及应用概述 ppt课件
特点:① n→π*跃迁的能量最小,处于长波方
向,一般λmax>270nm
② 跃迁的几率小,吸收强度弱,ε<100
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(CH3 )2 -C=O λmax=280nm ε max=16
CH3NO2
λmax=280nm ε max=22
CH3(CH2)7CNO λmax=370nm ε max=55
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电子跃迁类型不同,实际跃迁需要的能量不同, 吸收能量的次序为:
σ→σ*>n→σ*≥π→π*>n→π* σ→σ* ~150nm n→σ* ~200nm π→π* ~200nm n→π* ~300nm
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常见电子跃迁所处的波长范围及强度
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实例
下列结构中所需能量最低和最高的跃迁类 型? CH2=CHCH= CH2 CH3-CH=CH-CHO
Lambert:λ、c一定时:A∝l
Beer: λ、 l一定时:A∝c 合并两式:A ∝ l ·c
(c为吸光物质浓度,l为透光液层厚度)
Lambert-Beer定律的物理意义:当一束平行单
色光通过含有吸光物质的稀溶液时,溶液的吸光
度与吸光物质浓度、液层厚度乘积成正比。
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朗伯 Lambert
溶剂 正庚烷 正庚烷 乙醇 水 正己烷 乙醇 异辛酯204 214 186 339,665 280 300,665 270
max
13000 10000 41 60 1000 150000 22 100 12
跃迁类型
* * n* n*
n*,n*
n*, n* n* n*
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漫反射光谱(DRS) PPT
光谱
光谱解析
图3给出了不同温度下烧结的TiO2样品的DRS 谱图,由图可见,所有样品都有明显的吸收带边(光 吸收阈值),光谱吸收带边位置可由吸收带边上升的 拐点来确定,而拐点则通过其导数谱来确定。
TiO2样品的吸收带边与烧结温度的关系示于图4曲 线(1),虽然在400℃附近出现最大的吸收带边,但从 总体上看,样品的吸收带边随烧结温度的升高和晶粒 尺寸的增大,发生了光谱吸收带边的红移。
反射峰通常很弱,同时,它与吸收峰基本重合,仅 仅使吸收峰稍有减弱而不至于引起明显的位移。对固 体粉末样品的镜面反射光及漫反射光同时进行检测可 得到其漫反射光谱。
● Kubelka—Munk 方程式(漫反射定律)
F (R )K/S1 2R R 2
K 为吸收系数,S 为散射系数,
R∞ 表示无限厚样品的反射系数R 的极限值。
漫反射光谱(DRS)
一、基本原理
1、固体中金属离子的电荷跃迁。
在过渡金属离子-配位体体系中,一方是电子给予体 ,另一方为电子接受体。在光激发下,发生电荷转移, 电 子吸收某能量光子从给予体转移到接受体,在紫外区 产生吸收光谱。
当过渡金属离子本身吸收光子激发发生内部d轨道内 的跃迁(d-d)跃迁,引起配位场吸收带,需要能量较低, 表现为在可见光区或近红外区的吸收光谱。
收集这些光谱信息,即获得一个漫反射光谱, 基于此可以确定过渡金属离子的电子结构(价 态,配位对称性)。
2、漫反射光谱
当光照射到固体表面时,发生反射和散射。
● 镜面反射: 反射角=入射角 光不被吸收!
● 漫 反 射:
当光束入射至粉末状的晶面层时,一部分光在表 层各晶粒面产生镜面反射;另一部分光则折射入表层 晶粒的内部,经部分吸收后射至内部晶粒界面,再发 生反射、折射吸收。如此多次重复,最后由粉末表层 朝各个方向反射出来,这种辐射称为漫反射光。
物化实验课件-固体样品的紫外-可见漫反射光谱(uv-vis drs)测定
固体样品的紫外-可见漫反射光谱(UV-Vis DRS)测定一、实验目的1.掌握紫外-可见漫反射原理;2.了解紫外-可见分光光度计的类型和结构;3.数据处理及分析。
二、实验原理1.紫外-可见漫反射光谱与紫外一可见吸收光谱相比,所测样品的局限性要小很多。
吸收光谱符合朗伯-比尔定律,溶液必须是稀溶液才能测量。
而漫反射光谱,所测样品可以是浑浊溶液、悬浊溶液、固体和固体粉末等,试样产生的漫反射符合Kublka-Munk方程式:()2-=R R K S12//∞∞式中:K——吸收系数S——散射系数R∞——表示无限厚样品的反射系数R的极限值,其数值为一个常数。
实际上,一般不测定样品的绝对反射率,而是以白色标准物质为参比(本实验采用BaSO4,其反射系数在紫外-可见区高达98%左右)比较测量得到的相对反射率R∞(样品)/R∞(参比),将此比值对波长作图,构成一定波长范围内该物质的反射光谱。
积分球是漫反射测量中的常用附件之一,其内表面的漫反射物质反射系数高达98%,使得光在积分球内部的损失接近零。
漫反射光是指从光源发出的的光进入样品内部,经过多次反射、折射、散射及吸收后返回样品表面的光。
这些光在积分球内经过多次漫反射后到达检测器。
2.固体漫反射吸收光谱漫反射光谱是一种不同于一般吸收光谱的在紫外、可见和近红外区的光谱,是一种反射光谱,与物质的电子结构有关。
D:漫反射S:镜面反射固体漫反射示意图当光照射固体样品时,固体样品的外层电子产生跃迁。
νλE=h=h*C/式中:E为禁带能h=6.626⨯10-34J⋅S(普朗克常数)C=8⨯108m⋅S-1λ为截止波长,待测本实验测试仪器为岛津公司生产的UV-3600(大附件MPC-3100)分光光度计。
三、实验过程1.打开分光光度计预热20-30min;2.通过UVProbe软件设置相应参数;3.样品漫反射光谱测试;4.数据处理及分析。
四、实验报告及要求1.掌握实验原理以及相关知识;2.参数设置时的技巧;3.计算所测半导体材料的带隙,附图谱。
紫外可见光光谱分析PPT课件
只能被真空紫外分光光度计检测到;
*
作为溶剂使用;
*
E K
R
n
E,B
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b. n →σ*跃迁:
含非键电子(n电子)的饱和烃衍生物(含N、O、S和卤素等杂原子) ,它们除了 有σ→σ*跃迁外,还有n→σ*跃迁。跃迁能量较低,一般在200nm左右。
原子半径较大的硫或碘的衍生物n电子的能级较高,
第32页/共58页
一般来说,溶剂对于产生* 跃迁谱带的影响 表现为:溶剂的极性越强,谱带越向长波长方向位移。 这是由于大多数能发生* 跃迁的分子,激发态的极性 总是比基态极性大,因而激发态与极性溶剂之间发生相 互作用而导致的能量降低的程度就要比极性小的基态与 极性溶剂发生作用而降低的能量大,因此要实现这一跃 迁的能量也就小了。
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一、紫外-可见光光谱的基本原理
分子可以吸收紫外-可见光区200-800nm的电磁波而产生的吸收光谱称紫外-可见 吸收光谱(Ultraviolet-Visible Absorption Spectra), 简称紫外光谱(UV)。
紫外可见光可分为3个区域: 远紫外区 10 - 190nm; 紫外区 190 - 400nm; 可见区 400 - 800nm;
机物分子中含有不饱和基团。这类含有π键的不饱和基团称为生色团。简单的生色团 由双键或叁键体系组成,如乙烯基、羰基、乙炔基、亚硝基、偶氮基—N=N—等
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b. 助色基(团): 有一些含有n电子的基团(如-OH、-OR、-NH2等),它们本身没有生色功能
(不能吸收λ>200nm的光),但当它们与生色团相连时,就会发生n—π共轭作用 ,增强生色团的生色能力(吸收波长向长波方向移动,且吸收强度增加),这样 的基团称为助色团。
紫外光谱分析PPT课件
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H 3CO
例1 基本值:
246
邻位环残基
+3
对位—OCH3
+25
O
274 nm (276nm )
例2 基本值:
246
邻位环残基 + 3
CI CO O C2H 5
邻位—OH取代 + 7
间位CI取代 + 0
256nm (257nm)
OH O
例3 基本值:
246
OCH3
邻位环残基
+3
H 3C O
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图2.25 苯的紫外吸收光谱(异辛烷)
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2.3.3 分子结构与紫外吸收光谱
1 有机化合物的紫外吸收光谱
(1) 饱和烃化合物
饱和烃类化合物只含有单键(σ键),只能产生 σ→σ* 跃迁,由于电子由σ被跃迁至σ*反键所
需的能量高,吸收带位于真空紫外区,如甲烷和乙 烷的吸收带分别在125nm和135nm。
(λmin),有时在曲线中还可看到肩峰(sh)。
图2.23 紫外—可见吸收曲线
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2.3.2 紫外吸收光谱的基本原理
1 电子跃迁类型
(1)σ→σ* 跃迁 指处于成键轨道上的σ电子吸收
光子后被激发跃迁到σ*反键轨道
(2)n→σ* 跃迁 指分子中处于非键轨道上的n电
子吸收能量后向σ*反键轨道的跃迁
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(4) α,β-不饱和羰基化合物
α,β-不饱和醛、酮紫外吸收计算值
计算举例
(i)六元环α,β—不饱和酮基本值 215
2个β取代
+12×2
O
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2. UV-Vis DRS的研究方法
2.1 仪器:
紫外—可见分光光度计(附带漫反射测定装置— 积分球)
基本组成:
光源
单色器
样品室
检测器
显示器
可见光区:钨灯。其辐射波长范围在320~2500 nm 紫外区:氢、氘灯。发射180~375 nm的连续光谱
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• 紫外可见与紫外可见漫反射分光光度计的区别:
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图10 不同焙烧温度下,NiO-WO3/Al2O3催化 剂样品的UV-Vis DRS光谱图
注:曲线1、2、3、4、5分别为S-1-2、S-1-3、
S-1-4、S-1-5、S-1-6催化剂,焙烧温度分别为
500、550、600、650、700℃
由图10可知,500℃焙 烧时,在630毫微米处尖晶 石NiAl2O4中的四面配位体 Ni2+的微弱特征谱带[8], 随着焙烧温度的升高, 580-630毫微米处的四面体 Ni2+特征谱带越来越明显, 强度也随之增大。原因: 在浸渍过程中,Ni2+沉积 在氧化铝-钨酸盐体系表面, 故焙烧温度升高,Ni2+进 入到氧化铝晶格,生成表 面或体相尖晶石。
图9中纯WO3光谱(曲线3)在 330毫微米处出现强吸收峰,240 毫微米处有一弱吸收峰;r-Al2O3 在230、300、 370毫微米处出现 吸收峰;WO3/Al2O3催化剂(曲线2) 在220—280毫微米有一较宽的吸 收峰;Al2(WO4)3 (曲线1)在240 毫微米处有一吸收峰,280毫微米 处有一肩峰;S-1-3催化剂(曲线 4)除在580-630毫微米处出现尖 晶石NiAl2O4 特征谱带和在420毫 微米有游离的NiO的弱吸收峰之外, 还在240毫微米处出现一个较宽的 吸收带,280毫微米处隐约有一个 肩峰,因此可以推测在S-1-3催化 剂表面上还存在有Al2(WO4)3或少 量的WO3。
紫外可见漫反射光谱及其在催化剂表 征中的应用
主讲人:冯芳
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概论
随着光谱技术的迅速发展, 光学测量在表面表征 中已占有非常重要的位置[1]。由测量染料、颜料而发 展起来的紫外—可见漫反射光谱(可以用UV-Vis DRS或 DRUVS表示)是检测非单晶材料的一种有效方法。近几 年,紫外—可见漫反射光谱在多相催化剂研究中,用于 研究过渡金属离子及其化合物结构、氧化还原状态、 配位对称性和金属离子的价态等,尤其是研究活性组分 与载体间的相互作用[ 2,3],日益受到重视。该方法具有 很高的分辨率,灵敏度高,设备简便,是测试物质表面结 构的快速方法之一。
比色分析法:比较有色溶液深浅来确定物质含量 的方法,属于可见吸收光度法的范畴。
分光光度法:使用分光光度计进行吸收光谱分析 的方法。
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紫外可见波长范围:
远紫外光区:10-200 nm; 近紫外光区:200-400 nm; 可见光区:400-780 nm。
注:由于O2、N2、CO2、H2O等在真空紫外区(60-200 nm)均有
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1.1 固体中金属离子的电荷跃迁
在过渡金属离子-配位体体系中,一方是电子给予体,另 一方为电子接受体。在光激发下,发生电荷转移,电子吸收
某能量光子从给予体转移到接受体,在紫外区产生吸收光谱。
当过渡金属离子本身吸收光子激发发生内部d轨道内的跃 迁(d-d)跃迁,引起配位场吸收带,需要能量较低,表现为
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目录
1. 紫外可见漫反射光谱基本原理 2. 紫外可见漫反射光谱研究方法 3. 紫外可见漫反射在催化剂表征中的应用 4. 结语
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1.UV-Vis DRS 基本原理
漫反射光谱是一种不同于一般吸收光谱的在紫 外、可见和近红外区的光谱,是一种反射光谱,与 物质的电子结构有关。
漫反射光谱不仅可以用于研究催化剂表面过渡 金属离子及其配合物的结构、氧化状态、配位状态、 配位对称性,而且在光催化研究中还可用于催化剂 的光吸收性能的测定;可用于色差的测定等等。
图6 比较法
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2.2 样品处理
• 将固体样品研磨成一定的颗粒度,保持重现 性,压成片状,干燥。
• 参比压成白板[6,15]。 • 粉末样品不用压片,用专用样品池测定。 • 样品也可用稀释剂稀释测定,稀释剂可用MgO、
BaSO4、NaCl、SiO2等。
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2.3 影响减免函数F(R∞)的因素
粒度效应
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图8中纯NiO(曲线1) 的UV-Vis DRS光谱在720、 640、420、380、350、230 毫微米分别出现吸收峰, 460毫微米出现一个肩峰。 催化剂S-1-3和S-1-7在420 毫微米也出现一个弱吸收 峰,由此推测在S-1-3和S1-7催化剂上仍存在有游离 的NiO。
图8 UV-Vis DRS光谱图
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3. UV-Vis DRS光谱在催化剂表征中的应用
3.1 NiO-WO3-Al2O3加氢精制催化剂的研究[7,16] 加氢精制催化剂是由活性组分(过渡金属元素如W、Mo、
Ni、Co等)及载体Al2O3组成。它们之间相互作用可以生成 各种盐类,导致表面尖晶石Mo2+Al2O4和过渡金属稳定的氧 化物( WO3、MoO3、NiO、Co3O4等)生成。这是由催化剂本 身结构所决定的一种竞争过程,但是催化剂本身结构又与 制备条件有很大关系,而制备条件又将影响催化性能。
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表1
从UV-Vis DRS光谱得到的信息中,通过16000cm-1和 20000cm-1的反射率求出活性比[9],与吡啶加氢活性及焙烧 温度(见表1)进行关联。由表1看出,焙烧温度在500700℃范围内,温度越高,活性比增大,吡啶加氢活性减 小;反之亦然。
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3.2 评价催化剂活性
反射强度与活性的关系 为了加速催化剂的研究和发展,人们对筛选催化剂的 物理方法和化学方法产生极大兴趣,例如通过测定NiOWO3-Al2O3和NiO-MoO3-Al2O3和NiO-WO3-MoO3-Al2O3催化剂活 性[15,16]。
从左图7可以看出纯尖 晶石NiAl2O4 (曲线1)在 580-630毫微米范围内出现 特征吸收谱带,与文献[2] 中报道的数据一致,而 550℃焙烧的N-1和S-1-3催 化剂的谱图中,在相同的 波长也出现相同的谱带, 说明这两个催化剂中至少 有部分Ni2+生成了尖晶石 NiAl2O4 ,但对450℃焙烧 的NiO-WO3/Al2O3催化剂,未 观察到有尖晶石生成。
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RS与颗粒大小的依赖关系,在研究工作中将采用弱吸收体 和小颗粒样品进行实验,以便降低RS。但是太低的吸收, 由于既降低F(R∞),又降低信号和噪声比,使工作难于进行, 因此对不同样品应选择适当地粒度。
样品厚度 样品表面光洁度 压力和水分的影响
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2.4 定性分析
由于固体催化剂表面结构的复杂性,所以大部分物化 测试方法难于进行定量分析,多从事于定性研究或做半定 量分析。定性分析可分为两种情况:结构分析和化合物鉴 定。对后者来说,仅需将未知样的光谱图与已知结构化合 物的光谱图进行比较。如果两者的峰位及各细节相同,则 可判断存在某种化合物,纯化合物的光谱图可来自文献中 的谱图,也可用自己合成纯样品得到的谱图。
在可见光区或近红外区的吸收光谱。
收集这些光谱信息,即获得一个漫反射光谱,基于此可 以确定过渡金属离子的电子结构(价态、配位对称性)。
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1.2 紫外-可见吸收光谱(UV-Vis)
定义:根据溶液中物质的分子或离子对紫外和可 见光谱区辐射能的吸收来研究物质的组成和结构的方 法[4]。包括比色分析法和分光光度法。
R∞ 表示无限厚样品的反射系数R 的极限值。
F (R∞ ) 称为减免函数或Kubelka—Munk函数。
● 实际测定的是R′∞, 不是绝对反射率 R∞,即相对
一 个标准样品的相对反射率。
● 其值依赖于波长 F(R′∞)—波长
● 对应于透射光谱的消光系数 ● 在一个稀释的物种的情况下正比于物种的浓度
(相似于 Lambert-Beer law)。
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积分球用于测定反射光谱的方法(2种):
代替法:其基本原理如
右图5所示,从外部过来的 辐射通过小孔1进入球内, 落在样品表面2上,用外部 光度计通过小孔3测量球壁 辐射强度,然后用标准物 代替样品进行重复测量, 强度的相对值用来量度以 标准物为基准的样品反射 能力。
图5 代替法
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• 比较法:样品和标准物在整个测
前者:采用透射方式 ,所测样品为溶液。 后者:采用漫反射的方式(积分球),所测样品为固
体、粉末、乳浊液和悬浊液。
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பைடு நூலகம்
漫反射光和积分球:
• 漫反射光:指从光源发出的光进入样品内部,经过
多次反射、折射、散射及吸收后返回样品表面的光。
• 积分球:它可以把样品和标准物中反射回来的辐射
通量收集起来,通过辐射在球上的检测器测量。积分 球内部是一种具有反射能力很强的涂料做涂层,这种 涂料要满足标准物那样的要求。历来,这种涂料是采 用MgO,但由于近来广泛使用BaSO4做标准物,所以 BaSO4用作积分球涂料已成为发展趋势。最近有一种多 氟烃也用作涂料使用,它在化学和机械上的稳定性优 于MgO和BaSO4,使积分球在DRUVS光谱能量范围内更有 效。
漫反射光。
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反射峰通常很弱,同时,它与吸收峰基本重合,仅仅使吸收
峰稍有减弱而不至于引起明显的位移。对固体粉末样品的镜面反 射光及漫反射光同时进行检测可得到其漫反射光谱。
图3 漫反射光示意图
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1.4 漫反射定律(Kubelka—Munk 方程式)[5,13]
F(R )K/S1 2R R 2
注:K 为吸收系数,S 为散射系数,
注:S-1-3:NiO-WO3/Al2O3(550℃焙烧)
S-1-7:NiO-WO3/Al2O3(450℃焙烧)
1:NiO
2:Al2O3