晶粒度评级图(新)
实验一钢的奥氏体晶粒度的测定及评级方法
实验一钢的奥氏体晶粒度的测定及评级方法(总4页)--本页仅作为文档封面，使用时请直接删除即可----内页可以根据需求调整合适字体及大小--实验一钢的奥氏体晶粒度的显示与测定一.实验目的1.熟悉钢的奥氏体晶粒度的显示与测定的基本方法。
学习利用物镜测微尺标定目镜测微尺和毛玻璃投影屏刻度格值。
通过它们间的关系到确定显微镜物镜和显微镜的线放大倍数。
2.熟悉钢在加热时，加热温度和保温时间对奥氏体晶粒大小的影响。
3.测定钢的实际晶粒度。
用直接计算法和弦计算法测量晶粒大小。
用比较法评定晶粒度级别。
二.实验原理金属及合金的晶粒大小与金属材料的机械性能、工艺性能及物理性能有密切的关系。
细晶粒金属的材料的机械性能、工艺性能均比较好，它的冲击韧性和强度都较高，在热处理和淬火时不易变形和开裂。
粒晶粒金属材料的机械性能和工艺性能都比较差，然而粗晶粒金属材料在某些特殊需要的情况下也被加以使用，如永磁合金铸件和燃汽轮机叶片希望得到按一定方向生长的粗大柱状晶，以改善其磁性能和耐热性能。
硅钢片也希望具有一定位向的粗晶，以便在某一方向获得高导磁率。
金属材料的晶粒大小与浇铸工艺、冷热加工变形程度和退火温度等有关。
晶粒尺寸的测定可用直测计算法。
掌握了这种方法也可对其它组织单元长度进行测定，如铸铁中石墨颗粒的直径；脱碳层深度的测定等。
某些具有晶粒度评定标准的材料，可通过与标准图片对比进行评定。
这种方法称为比较法。
1.奥氏体晶粒度的显示钢在临界温度以上直接测量奥氏体晶粒大小比较困难的，而奥氏体在冷却过程中将发生相变。
一般采用间接的方法显示其原奥氏体晶界,以测定奥氏体晶粒大小。
根据GB6394-86（4）网状渗碳体法适用于含碳量大于%的过共析钢的奥氏体晶粒度。
方法是:将试样在930±10℃（或特定的温度）下加热保温40min以上（或特定的时间）后以缓慢的速度冷却冷却到600℃,在过共析钢的奥氏体晶界上析出网状渗碳体，以此来显示奥氏体晶粒形貌与大小。
晶粒度评级图
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×00级0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×0.5级 1.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×1.5级 2.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×2.5级 3.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×3.5级 4.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×
4.5级
5.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×5.5级 6.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×
6.5级
7.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×7.5级8.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×
8.5级9.0级
金属平均晶粒度评级图—系列图片I无孪晶晶粒100×9.5级10.0级。
YS∕T347-2020铜及铜合金平均晶粒度测定方法（报批稿）
铜及铜合金平均晶粒度测定方法1范围本标准规定了铜及铜合金平均晶粒度的表示及测定方法，包含有比较法、面积法和截距法。
本标准适用于测定单相或以单相为主的铜及铜合金的晶粒度。
2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件，仅注明日期的版本适用于本文件。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T30067金相学术语YS/T449铜及铜合金铸造和加工制品显微组织检验方法3术语和定义GB/T30067界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1晶界grain boundary对于多晶材料，从一个结晶方向至另一个结晶方向过渡的很窄的区域，从而将相邻的晶粒分离。
3.2晶粒grain晶界所包围的整个区域。
即是二维面上所观察到的原始晶界范围内的面积，或是三维物体上原始晶界面内所包围的体积。
对于有孪晶界面材料，孪晶界面不予考虑。
3.3孪晶Twin grains两个晶体（或一个晶体的两部分）沿一个公共晶面（即特定取向关系）构成镜面对称的位向关系，这两个晶体就称为"孪晶"，此公共晶面就称孪晶面。
3.4晶粒度grain size）”来表示“晶粒平均直径”。
晶粒大小的量度。
铜及铜合金晶粒度通常采用“公称直径（dn3.5晶粒级别指数grain degree class index numberG在100倍放大倍率下，645.16mm2面积所包含的晶粒数n与G有如下关系：n=2G-1 (1)注:G值可在表3中查出。
4符号和说明本标准采用的符号和说明见表1。
表1符号和说明符号名称及说明单位G晶粒级别指数-n测量面积为645.16mm2时所包含的晶粒数个ng测量面积为5000mm2时所包含的晶粒数个n1测量圆内晶粒数个n2被圆切割的晶粒数个nA单位面积内的晶粒数个/mm2 L所有测量线段的总长度mmM放大倍率-N所有测量线段上的总截点数个S晶粒平均截距mmdn平均直径mmdf弗里特直径mm a平均晶粒截面面积mm25试样5.1试样应直接从产品上截取。
ASTME112中文修订版
金属平均晶粒度测定方法引言本标准规定了金属材料平均晶粒度的基本方法。
由于纯粹以晶粒几何图形为基础，与金属和合金本身无关。
因此，这些基本方法也可以用来测量非金属材料中晶粒、晶体和晶胞的平均尺寸。
如果材料的组织形貌非常接近某一个标准系列评级图，可以使用比较法。
测定平均晶粒度常用比较法，也可以用截点法和面积法。
但是，比较法不能用来测量单个晶粒。
1范围1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定的三种方法——比较法、面积法和截点法。
这些方法也适用于晶粒组织形貌与标准系列评级图相似的非金属材料。
这些方法主要适用于单相晶粒组织，但也适用于多相或多组元试样中特定类型组织的晶粒平均尺寸的测量。
1.2 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定式样的平均晶粒度。
这些分布近似正态分布。
本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。
双峰分布的晶粒度参见标准E1181。
测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E 930。
1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度；不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。
1.4 试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。
利用半自动计数仪或自动图象分析仪测定晶粒尺寸的方法参见E 1382。
1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。
1.6 测量数值应用S I单位表示。
等同的英寸－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值.1.7 本标准没有列出所有的安全事项，只是一些使用的注意事项。
本标准的使用者在使用前应掌握较合适的安全健康的操作规范和使用时限制的规章制度。
晶粒度图片
45H-200X-11 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点Ｌ: 测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距一栏）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) –3.28845H-200X-21 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ: 测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H-200X1 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H-200X-41 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H-200X-51 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H-200X-61 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.28845H -200X-71 截点法公式：Ｌ= Ｌ /M.PＬ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:1测量线段终点不是截点不予计算;2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288。
金相晶粒度评价标准
金相晶粒度评价标准一、晶粒度概述晶粒度表示晶粒尺寸大小的尺度。
金属的晶粒大小对金属的许多性能有很大的影响。
晶粒度的影响，实质是晶界面积大小的影响。
晶粒越细小则晶界面积越大，对性能的影响也越大。
对金属的常温力学性能来说，一般是晶粒越细小，则强度和硬度越高，同时塑性和韧性也越好。
二、测定平均晶粒度的基本方法一般情况下测定平均晶粒度有三种基本方法：比较法、面积法、截点法。
具体如下：1、比较法：比较法不需要计算晶粒、截距。
与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度一般存在一定的偏差（±0.5级）。
评估值的重现性与再现性通常为±1级。
2、面积法：面积法是计算已知面积内的晶粒个数，利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。
该方法的精确度在于计算晶粒度的函数，通过合理计数可实现±0.25级的精确度。
面积法的测定结果是无偏差的，重现性小于±0.5级。
面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数3、截点法：截点数是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的截点数，利用单位长度截点数来确定晶粒度级别数。
截点法的精确度在于计算截点数和截距的函数，通过有效的统计结果可达到±0.25级的精确度。
截点法的测量结果是无偏差的，重现性和再现性小于±0.5级。
对于同一精度水平，截点法由于不需要精确标记截点和截距数，因而较面积法测量快。
三、金相图具体案例分析以上只是大致的测定方法太过笼统，如果真的拿到一个具体的微观照片，我们改怎么做呢？下面我们来看一下具体操作与计算方法。
1、确定照片的放大率先测量微观照片的尺寸，长度或宽度选择其一，然后测量出试样的实际长度或者宽度，放大率=图片距离/实际距离。
2、找出晶粒度级别数计算出放大率之后就可以确定晶粒度级别数。
首先要计算出试样中的晶粒数。
晶粒数=完整的晶粒数 0.5倍的部分晶粒数。
完整晶粒的晶界都是可观察到的。
其次是计算出实际面积，实际面积=图片长/放大率×宽/放大率。
GBT6394-2002《金属平均晶粒度测定方法》介绍
GB/T6394-2002《金属平均晶粒度测定方法》介绍丹东五一八内燃机配件厂□王开远1 前言金属的晶粒度大小对金属工件力学性能影响较大。
因此,根据供需双方协议,应按相应标准对金属的平均晶粒度级别数进行测定。
我国于1977年首次发布了YB27-1977《钢的平均晶粒度测定方法》。
后于1986年修改采用ANSI/ASTME112-1981《测定金属平均晶粒度的标准试验方法》,制定发布了GB/T6394-1986《金属平均晶粒度测定方法》。
标准化法颁布实施后,我国曾对国家标准和行业标准进行了清理整顿。
在此次清理整顿中,GB/T6394-1986被调整为行业标准YB/T5148-1993(简称旧标准)。
调整后的该标准只是改变了标准编号,标准的内容没有任何变化。
由于该标准所采用的国外标准已有新的版本,于是我国于2002年对该标准进行了第三次修订,并恢复为国家标准,标准号和标准名称为GB/T6394-2002《金属平均晶粒度测定方法》(简称新标准)。
新标准的技术内容与编写结构等均有改变。
新标准由抚顺钢厂和冶金标准研究院共同起草,于2002年12月31日发布,并于2003年6月1日开始实施。
自实施之日起原YB/T5148-1993作废。
经过2002年的修订,标准内容变化较大,适用范围变宽。
新标准即可用于测定单相、等轴晶组织,也可用于测定非等轴晶组织及多相、多组元组织。
同时,通过改进标准结构与叙述方法,删去了一些不必要的图表、公式及文字等,使标准更加精炼,主题更加突出,更加便于标准的理解与使用。
2 标准结构对比新标准共分九章和四个附录。
与旧标准相比,主要增加了第6章“非等轴晶试样的晶粒度”和第7章“含两相或多相及组元试样的晶粒度”两章。
并将旧标准附录A中“关于晶粒度测量结果的置信限”这部分内容分离出来作为新标准的附录B单独给出。
新标准附录C与旧标准312条“晶粒显示方法”是对应的,两者内容上也基本相同。
只是增加了“相关法”和“模拟渗碳法”。
晶粒度的测定及评级方法
晶粒度的测定及评级方法一、实验目的1、学习金相组织中晶粒大小的测定方法；2、了解晶粒度的评级方法。
二、实验原理材料的晶粒的大小叫晶粒度。
它与材料的有关性能有密切关系，因此测量材料的晶粒度有十分重要的实际意义。
材料的晶粒度一般是以单位测试面积上的晶粒的个数来表示的。
目前，世界上统一使用的是美国的ASTM推出的计算晶粒度的公式：N A=2G-1G=lg N A /lg2+1式中：G——为晶粒度级别，N A———为显微放大100倍下6.45cm2（1平方吋）的面积上晶粒的个数。
晶粒大小的测量方法有以下几种：1、比较法实际工作中常采用在100倍的显微镜下与标准评级图对比来评定晶粒度。
2、面积法通过计算给定面积内晶粒数来测定晶粒度。
3、截线法（也称线分析法）截线法是在给定长度测试线上测出与晶界相交的点数来测定晶粒度大小的，是应用最广泛的方法，它速度快，精度高，一般经过五次测量即可得到满意的结果。
三、图像分析仪自动图像分析仪是利用计算机处理图像信息，包括几何信息（尺寸、数量、形貌、位置）和色彩信息的装置，并能自动完成数据的统计处理。
图像分析仪测量速度快，能快速进行多次测量，同时还避免了人为误差（如漏数或重数），提高了测量精度。
图像分析仪信息处理的流程如下：光学成像→光电转换→信号预处理→检测→图像变换→分析→分析识别→数据处理图像分析经常进行的测定工作有：1、第二相的体积分数的测量，如珠光体、碳化物、磷共晶等。
2、各类夹杂物的数量、形状、平均尺寸及分布。
3、碳化物的平均尺寸及平均间距。
4、晶粒度及晶界总长度、总面积。
5、高合金工具钢中碳化物的带状偏析。
图像分析仪对试样的制备要求很高，因为它是依靠灰度或边界辨认组织的，故残留磨痕、抛光粉等异物的嵌入、浸蚀程度过浅或过深、某些组织的剥落都会引起测量误差，尽管软件中已考虑到这些影响因素，但误差仍不可避免，有时还相当严重。
因此为了提高图像分析仪的测量精度，除了配备分辨率高的显微镜外，必须保证良好的制样质量，各种组织的衬度要分明，轮廓线要尽可能细而清晰、均匀。
晶粒度评级标准
晶粒度评级标准晶粒度是材料科学中一个非常重要的参数，它对材料的性能和微观结构有着重要的影响。
因此，对晶粒度进行准确的评级是非常必要的。
本文将介绍晶粒度评级的标准，希望能够帮助大家更好地理解和应用晶粒度参数。
首先，晶粒度的评级标准通常是根据晶粒尺寸的大小来进行划分的。
一般来说，晶粒尺寸在1微米以下的材料被称为纳米晶体，1-100微米之间的被称为微晶体，而大于100微米的则为晶粒。
因此，我们可以将晶粒度的评级标准分为纳米晶体、微晶体和晶粒三个级别。
其次，对于纳米晶体材料，其晶粒尺寸在纳米级别，通常在1-100纳米之间。
这种材料具有很高的强度和硬度，同时具有优异的塑性和韧性。
由于其晶粒尺寸小，因此晶界和位错在其中的运动受到了限制，从而导致了这些优异的性能。
对于纳米晶体材料的评级，通常是根据其晶粒尺寸的分布和平均尺寸来进行的，同时还需要考虑其结晶度和晶粒形貌等因素。
其次，微晶体材料的晶粒尺寸在1-100微米之间，这种材料通常具有较高的强度和硬度，同时也具有一定的塑性和韧性。
对于微晶体材料的评级，同样需要考虑其晶粒尺寸的分布和平均尺寸，以及晶界的特征和晶粒形貌等因素。
最后，晶粒材料的晶粒尺寸大于100微米，这种材料通常具有较低的强度和硬度，但具有较高的塑性和韧性。
对于晶粒材料的评级，同样需要考虑其晶粒尺寸的分布和平均尺寸，以及晶界的特征和晶粒形貌等因素。
总之，晶粒度评级标准是根据晶粒尺寸的大小和分布来进行的，同时还需要考虑晶界特征和晶粒形貌等因素。
通过对晶粒度的准确评级，可以更好地指导材料的制备和应用，为材料科学的发展提供有力的支持。
希望本文的介绍能够对大家有所帮助，谢谢！。
钢实际晶粒度的显示和评定方法
钢实际晶粒度的显示和评定方法 cyh(2010-07-27 18:25:01) 杨桂珠(中国工程物理研究院机械制造工艺研究所,绵阳621900)摘要:对不同热处理状态下的60Si2MnA钢和0Cr17Ni14Cu4Nb钢试样进行了试验和摸索,获得了这两种材料在常规热处理状态下的实际晶粒度的显示方法,即60Si2MnA钢用饱和苦味酸+3%～5%洗涤剂+新洁尔灭水溶液侵蚀0Cr17Ni14CuNb钢用高锰酸钾(0.5～1g)+硫酸(8～12ml)+水(90～115ml)热蚀。
晶粒显现清晰,解决了60Si2MnA钢和0Cr17Ni14Cu4Nb 钢晶界显示和晶粒度评定的难题。
关键词:0Cr17Ni14Cu4Nb钢60Si2MnA钢晶粒度评定方法1 引言许多钢材的晶界难以侵蚀,随着热处理状态的不同,侵蚀晶界的条件也多变。
因此,迅速腐蚀和清晰显示晶界,找出影响侵蚀条件的因素及规律为人们所关注。
在对60Si2MnA钢和0Cr17Ni14Cu4Nb钢反复试验的基础上,根据钢材热处理状态变化对金相侵蚀条件的影响和国家相关标准,从试验方法入手,并进行了粗略的理论分析,找到了显示60Si2MnA钢和0Cr17Ni14Cu4Nb 钢晶粒度的方法。
2 试验方法显示晶粒度应采用比显示显微组织弱得多的侵蚀剂。
显示实际晶粒度时,应尽量降低试剂的电化学腐蚀能力。
试样经过磨制抛光后侵蚀,抛光织物必须用丝绒,抛光剂用水或油剂金刚石研磨膏(粒度为W2.5～3.5)。
根据0Cr17Ni14Cu4Nb和60Si2MnA钢的特性,经过优化,选用的侵蚀剂见表1。
组织和晶界观测在德国MM6大视场显微镜上进行。
3试验结果3.1 0Cr17Ni14Cu4Nb钢不锈钢侵蚀一般均可采用草酸电解,但该种钢电解十几分钟或更长时间晶界都不受腐蚀,显微镜下只能观察到一些腐蚀坑。
用试剂1对固溶时效状态下的0Cr17Ni14Cu4Nb钢进行试验,室温下擦拭试样表面2s,组织先显示出来,随之部分晶界也显示出来,因组织干扰大,无法评定晶粒度,见图1a。
中文E112平均晶粒度标准讲解
中⽂E112平均晶粒度标准讲解⾦属平均晶粒度测定⽅法1 范围1.1 本标准规定了⾦属组织的平均晶粒度表⽰及评定⽅法。
这些⽅法也适⽤晶粒形状与标准系列评级图相似的⾮⾦属材料。
这些⽅法主要适⽤于单相晶粒组织，但经具体规定后也适⽤于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺⼨的测量1.2 本标准使⽤晶粒⾯积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定式样的平均晶粒度。
这些分布近似正态分布。
本标准的测定⽅法不适⽤于双峰分布的晶粒度。
双峰分布的晶粒度参见标准E1181。
测定分布在细⼩晶粒基体上个别⾮常粗⼤的晶粒的⽅法参见E930。
1.3本标准的测量⽅法仅适⽤平⾯晶粒度的测量，也就是试样截⾯显⽰出的⼆维晶度，不适⽤于试样三维晶粒，即⽴体晶粒尺⼨的测量。
1.4 试验可采⽤与⼀系列标准晶粒度图谱进⾏对⽐的⽅法或者在简单模板上进⾏计数的⽅法。
利⽤半⾃动计数仪或者⾃动分析晶粒尺⼨的软件的⽅法参见E1382。
1.5本标准仅作为推荐性试验⽅法，它不能确定受检材料是否接收或适合使⽤的范围。
1.6 测量数值应⽤SI单位表⽰。
等同的英⼨－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值.1.7 本标准没有列出所有的安全事项。
本标准的使⽤者英建⽴适合的安全健康的操作规范和使⽤局限性。
1.8 章节的顺序如下：2、参考⽂献2.1ASTM标准E3 ⾦相试样的准备E7 ⾦相学有关术语E407 微蚀⾦属和合⾦的操作E562计数法计算体积分数的⽅法E691 通过多个实验室⽐较决定测试⽅法的精确度的⽅法E883 反射光显微照相指南E930 截⾯上最⼤晶粒的评估⽅法（ALA晶粒尺⼨）E1181双峰分布的晶粒度测试⽅法E1382 半⾃动或全⾃动图像分析平均晶粒度⽅法2.2 ASTM附件2.2.1 参见附录X23 术语3.1 定义－参照E73.2 本标准中特定术语的定义：3.2.1 ASTM晶粒度——G,通常定义为公式（1）N AE为100倍下⼀平⽅英⼨（645.16mm2）⾯积内包含的晶粒个数，也等于1倍下⼀平⽅毫⽶⾯积内包含的晶粒个数，乘以15.5倍。
晶粒度评级
Ⅱ Ⅲ Ⅳ
晶粒度的评定：
1）放大倍数与标准评级兔相同时，直接比较。 2）当用其他放大倍数评级时，可对照表格： （ 基准放大倍数有75倍的、100倍的） 3）若用表格中亦无的放大倍数测量时，应按下式换 算： G = G´+ 6.643 9lgM/Mb
式中： G—晶粒度级别
G´—评出的晶粒度级别
M —测评时的放大倍数 Mb —基准放大倍数
晶粒度显示:用15%盐酸酒精溶液
3 铁 素 体 网 法
适用范围：含碳量为0.25%-0.60%的碳素钢和合金钢。
具体步骤： • 对于（w(C)≤0.35%时，加热温度900℃±10℃ , w(C)＞0.35%时，加热温度为860℃±10℃）至少保 温30min，然后空冷或水冷。
• 经磨制和侵蚀，显示出沿原奥氏体晶界分布的铁素 体网。
晶粒度显示:
• 碳量较高的碳素钢和超过0.40%的合金钢，需 调整冷却方式。建议将试样在淬火温度下保持 至少30min后使温度降至730℃±10℃ ，保温 10min，然后淬油或淬水。 • 试样再经磨制和侵蚀，显示出沿原奥氏体晶界 分布的铁素体网。 • 腐蚀剂：1）3%-4%硝酸酒精溶液 2）5%苦味酸酒精溶液。
4 渗碳体网法
适用范围：过共析钢（碳含量大于1%）。 处理步骤：
• 试样一般在820℃ ±10℃下加热，并至少保温30min后 随炉缓冷，便在奥氏体晶界上析出渗碳体网。 • 试样磨制、侵蚀后，显示沿晶界析出渗碳体网的原始 奥氏体晶粒形貌。
晶粒度显示: 3%-4%硝酸酒精溶液
5%苦味酸酒精溶液。
处理步骤：
• 适当的棒状样进行局部淬火，形成一不完全淬硬的小区域。
• 磨制、侵蚀后，此区域内原奥氏体晶界将有少量的细珠光 体呈网络，显示出原始奥氏体晶粒形貌。