在高压电气试验中一些容易被忽略问题

浅析在高压电气试验中一些容易被忽略的问题摘要：高压电气试验的结果往往会受到一些不为人们所注意的因素所干扰，造成试验结果与实际情况不符合，甚至得出错误的结论。笔者对多年来在高压试验中所碰到的一些问题进行归纳、分类和分析，并对如何避免和解决这些问题进行了探讨，提出了相应的措施。

关键词：高压电气；试验；绝缘

1引言

高压电气试验是考核电气设备主绝缘或电气参数是否满足安全运行的一个重要手段。然而，高压电气试验的结果往往会受到一些不为人们所注意的因素所干扰，造成试验结果与实际情况不符合，甚至得出错误的结论。比如，被试设备的缺陷没有被反映出来，造成设备带病运行；也可能把合格的设备判断为不合格，从而造成不必要的损失。在对多年来在高压试验中所碰到的一些问题，进行归纳、分类和分析，并对如何避免和解决这些问题，提出了相应的措施，供有关人员参考。

2试验设备和被试设备的接地问题

2.1高压tv及ta二次回路不接地造成测量数据错误

在测量高电压和大电流时，必须使用tv和ta进行变换。理论上，tv或ta的变比应遵循电磁感应定律，即它们的变比决定于一次绕组的匝数和二次绕组的匝数。然而，在实际应用中，如果高电压下的tv或ta的二次绕组没有将一端接地时，实际上反映出来的

变比就会偏离铭牌值，所测量出的数据也是错误的。例如，对1台300 mw变压器进行交流耐压试验时，采用1台35 kv/100 v的tv 和1块150 v的交流电压表测量电压，在第1次试验时发现电容电流比往年小得多，显然是试验电压没有达到预定值，所测量的电压是一个虚假的数据。经检查发现tv二次没有接地。将tv二次绕组一端接地后，数据恢复正常。试验数据见表1。

如果按照电流与电压成正比的关系反过来计算第1次试验电压，应为：(21/38)×23.8=13.15(kv)，这一电压与预定试验电压相差甚远。对于高压ta，我们在实验室也做过同样的试验，当高压ta 二次绕组不接地时，电流的变比同样会产生严重的偏差。

无独有偶，在做1台电力变压器的空载试验时(试验电压10 kv)，第1次试验所测量的空载电流和空载损耗与出厂试验数据不吻合，经检查也是tv和ta二次绕组没有接地所造成。

由于高压tv，ta的一次绕组和二次绕组与大地之间存在着分布电容，如果二次绕组不接地，二次绕组上的感应电压就会通过表计与大地之间产生杂散电流，从而产生错误的指示值。

通过对这一问题的分析，我认为以下两件事情在高压试验中必须重视：

①高压tv和ta的二次绕组，不论是从安全的角度还是从测量的准确度来考虑，都必须将其中的一个端子可靠接地；

②在进行交流耐压试验时，应同时测量试品的电容电流，因为

可以从电流的大小来判断试验电压是否正常。

2.2被试设备接地不良造成介质损耗增加

这种问题主要发生在电容量较大的设备上，比如耦合电容器或cvt(电容式电压互感器)。在变电站里，线路cvt或耦合电容器通常都与线路直接连接，在检修时为了保证线路检修人员的安全必须将cvt或耦合电容器的顶端接地，通常是将线路的接地开关合上或挂上临时接地线。如果接地开关或临时挂接的地线接触不良，相当于在电容器上串联了一个附加的电阻。如果电容量为c，电容器的介质损耗因数tgδ与等值串联电阻r有如下关系：

tgδ=ωcr

从上式可知，当电容器串联的电阻一定时，电容器的电容量越大所产生的损耗越大。在实际试验中，已经多次发生因接地开关或接地线接触不良而造成被试品介质损耗超标的问题。表2是一个220kv中继站耦合电容器的测量实例。

当怀疑接地开关或接地线接触不良时，可以在被试品上直接挂上另外的接地线，并保证接触良好。

2.3滤波器接地开关没合上造成测量数据异常

这种情况发生在测量耦合电容器(或带通信端子的cvt)上，如图1所示。由于耦合电容器顶部接地，所以在测量c1的介质损耗时通常采用反接屏蔽法，也就是将测量装置的屏蔽端子接于c2的下端，这种接法似乎是把c2以下的元件全部屏蔽掉了，而事实上并非如

此。表3是一个测量实例，从表3数据来看，当接地开关打开时，不同的测量仪器所呈现的异常情况不尽相同，只有当接地开关合上后，才能测出正确的数据。这种情况说明异常现象还与仪器的测量原理有密切的关系。

因此，在测量耦合电容器的介质损耗时，应首先将结合滤波器的接地开关合上。

3试验电压不同所引起的问题

3.1对介质损耗因数测量的影响

在一次220 kv中继站的耦合电容器预防性试验中，由于耦合电容器电容量较大，为了避免仪器过载，采取降低试验电压的方法进行测量。在36台耦合电容器中其中有1台测量结果不合格，见表4序号1。为了查找试验不合格的原因，试验人员采取了各种各样的方法，如改变试验接线、擦拭外套等等，但测量结果仍不合格。第二天用另一型号的测量仪进行测量时，发现在0.5 kv的电压下测量结果仍然不合格，但随着试验电压的提高，介质损耗却越来越小。然后再用回原来的仪器复测，在同样的试验电压下测量结果也已经正常，测量结果见表4中序号2~7。这种现象显然与绝缘材料中存在杂质有关。之所以出现这种现象，我们分析原因可能是：多元件串联的耦合电容器中存在连接线氧化接触不良的问题，在低电压下氧化层未击穿，呈现较大的接触电阻，所以介损变大；当试验电压提高后，氧化膜击穿，接触电阻下降，介损变小，这时即使降低试

验电压，氧化膜仍保持导通状态，介质损耗不再增大。

3.2对测量直流电阻的影响

某厂1台变压器在进行预防性试验时，用双臂电桥测量绕组的直流电阻，测量结果与历年数据相比显著增加。为了慎重起见改用外加直流电压电流法，测量结果却与历年试验数据接近，然后改用不同的仪器测量，数据变化很大。根据对测量方法和结果的分析，我们判定变压器绕组已经存在导线断裂的问题。导体断裂后，在断裂面形成一层导电性较差的氧化膜，当用双臂电桥测量时，由于电桥输出电压较低，氧化膜不击穿，所以呈现较大的电阻；而采用外加电压电流法时，由于输出电压较高，所以氧化膜击穿导电，测量的直流电阻就变小。经解环检查，该变压器绕组端部存在3处断裂的缺陷。

以上例子说明，对于与直流电阻有关的试验，采用输出电压低的仪器更容易暴露设备存在的缺陷。

3.3对测量直流泄漏电流的影响

导体表面所产生的电晕电流在导体的形状、电压极性、导体间的距离确定以后，就与电场强度的大小有关。当外施电压小于一定的数值时，电晕电流很小，对泄漏电流的测量影响可以忽略，而当试验电压超过一定的数值后，电晕电流要比绝缘的电导电流大得多，这时就要采取措施减小电晕电流的影响。

①实例1：某变电所300 mw变压器交接试验时，在20 kv电压