超细粉体测试技术
超细粉体的表征方法、技术及其应用进展综述-2012-11-29
超细粉体的表征方法、技术及其应用进展综述冯文超1,2,李军1,21昆明理工大学化工学院2云南瑞升烟草技术(集团)有限公司摘要:本文介绍了超细粉体的制备\其表征方法及应用现状,对其应用前景进行了展望。
关键词:超细粉体;制备;表征;应用Representation methods,process technology and application inprogress of ultrafine powderWenchao Feng1,2,Jun Li1,21 Faculty of Chemical Engineering of KunMing University of Science and Technology2 YunNan Reascend Tobacco technology (group)Co.,LTDAbstract: This paper introduces the process of ultrafine powder and characterization meth-ods.Summarizes the present situation of the application of ultrafine powder from material,b iological medicine,Chinese medicine and chemical industry and so on.And its applicationin future is prospected.Key words: ultrafine powder;characterization;process;application0前言超细粉体(又称超微粉体),一般是指物质粒径在10μm以下,并具有微粉学特征的粉体物质。
通常又分微米粉体、亚微米粉体及纳米粉体。
粒径大于lμm的粉体称为微米粉体,粒径处于0.1-lμm之间的粉体称为亚微米粉体,粒径处于0.001-0.1μm之间的粉体称为纳米粉体。
超细粉体颗粒细度检测方法
超细粉体颗粒细度检测方法超细粉体的细度和形状直接影响粉体的质量用途,在100目内的物料检测较好检测,超过100目的物料检测肉眼无法鉴别,这时就需要设备或者是专业的仪器来检测了。
,颗粒测量在细粒特性方面也很重要,在选矿、超细粉体生产、催化剂、造纸、油漆、颜料和精细化工等工业中,颗粒测量又是过程控制和描述产品特性应用最广的技术之一,因此对粉体颗粒粒度和形状测量日益受到人们重视。
今天河南三星机械给大家总结了物料细度颗粒检测方法汇总。
粉体颗粒检测方法分类:现有的测量方法很多,有直接测量法、间接测量法。
直接测量是根据颗粒的几何尺寸进行的(筛分法和显微镜法),间接测量是先确定与颗粒尺寸有关的性质参数,然后用理论或经验公式计算粒径大小(沉积法等)。
分类测量方法基本原理测量范围(μm)特点筛分法丝网筛用一定大小的筛子,将被测试样分成两部分,留在筛上面的粒径较粗的不通过量(筛余量)和通过筛孔粒径较细的通过量(筛过量)。
37~4000电铸筛5~120沉降法移液管法根据Stokes沉降原理,分散在沉降介质中的样品颗粒,其沉降速度是颗粒大小的函数,利用移液管测定出液体浓度变化,可计算出颗粒大小和粒度分布。
仪器便宜,方法简单,测定所需时间长,分析计算工作量大。
比重计法利用比重计在一定位置所示悬浊液比重随时间变化测定粒度分布1~100仪器便宜,方法简单,测定工作量大。
浊度法利用光透法或X射线透过法测定液体因浓度变化而引起的浊度变化,从而测定样品的粒度和粒度分布。
0.1~100自动测定,数据不需处理便可得到分布曲线,可用于在线粒度分析。
天平法通过测定已沉积下来的颗粒累积重量,测定样品的粒度和粒度分布。
0.1~150自动测定和自动记录,仪器较贵,测定小颗粒误差较大。
离心沉降法在离心力场中,颗粒沉降也服从Stokes定律,利用圆盘离心机使颗粒快速沉降并测出其浓度变化,从而得出料度大小和分布。
0.01~30BT3000A(0.04~45)测定速度快,可测亚微米级颗粒,应用较广泛。
超微粉体的表征与测量
1.2表面积的测量
1.2.1气体吸附法(BET法) BET法是常用的比表面积测量方法。在低温下, 气体分子通过吸附占据颗粒表面,测量气体的吸 附量后即可通过公式计算颗粒的比表面积。 该法依据BET吸附理论,并通过BET计算公式 测得颗粒表面积常用的吸附气体为氮气。对大多 数固态超微粉体颗粒进行测量时,BET公式可简 化为:
Vm=(1-P/P0)/V (1.1) 式中 Vm:单分子层饱和吸附量; P: 吸附平衡时N2的平衡压力; P0:吸附温度下N2的饱和蒸汽压; V: 平衡吸附量。 当P/P0=0.05~0.35时,测定V与P,通过式(1.1) 计算出Vm,再用式(1.2)和(1.3)计算样品的 比表面积:
Sm=VmNσ/Mvm=4.35Vm/m Sv=4.35Vmρ/m
ε ξ E ν= f(κ , R p,K) 6π μ
式中
(2.1)
ε:介质的介电常数 ξ:Zata电位 f:Henry函数
μ:黏度 E:外加电场强度 κ:双电层厚度的倒数
Rp:颗粒半径
K=λp/λ0,λp、λ0分别为颗粒及介质的电导率。 当K=0时,κRp>>1时,f(κ,Rp,K)=1.5 则 ν=εξE/4πμ (2.2)
通常用Ewxy(Z)表示俄歇电子的能量,其中w、 x、y表示电子层,即w层电子激发为光电子,x层 电子回填入w层,再激发y层电子为俄歇电子,Z表 示该原子的电子层数为Z。
可用经验公式: Ewxy(Z)=Ew(Z)-Ex(Z)-Ey(Z+Δ)-Φ 计算出Ewxy(Z),再对照已知的俄歇电子能量图表即可 确定颗粒的表面成分。(俄歇电子能谱)AES法可鉴别除 氢、氦以外的所有元素,是目前超微颗粒表面成分测定中广 泛使用的一种方法。 式中 Ew(Z)-Ex(Z):x层电子回到w空穴时释放出 的能量; Ey(Z+Δ):y电子层得电离能; Φ:功函数。
超细粉体实验报告
一、实验目的1. 了解超细粉体的基本概念和制备方法;2. 掌握球磨法制备超细粉体的工艺参数;3. 分析超细粉体的粒度、比表面积等性能指标;4. 探讨超细粉体在不同领域的应用前景。
二、实验原理超细粉体是指粒径在纳米级(1~100nm)的粉体,具有高比表面积、高活性、易团聚等特点。
球磨法是制备超细粉体的常用方法,通过球磨机对原料进行长时间、高强度的研磨,使原料颗粒发生破碎、细化,最终形成超细粉体。
三、实验材料与仪器1. 实验材料:金属氧化物、非金属氧化物等原料;2. 实验仪器:球磨机、激光粒度分析仪、比表面积分析仪、扫描电镜等。
四、实验步骤1. 原料准备:将金属氧化物、非金属氧化物等原料进行干燥、筛分,确保原料的纯度和粒度均匀。
2. 球磨工艺参数选择:根据实验要求,选择合适的球磨机型号和研磨介质。
通过实验,确定球磨速度、球磨时间、球料比等工艺参数。
3. 球磨实验:将干燥、筛分后的原料放入球磨机中,按照确定的球磨工艺参数进行球磨。
球磨过程中,定期取出样品,进行粒度、比表面积等性能指标检测。
4. 性能指标检测:采用激光粒度分析仪、比表面积分析仪等仪器对球磨后的超细粉体进行粒度、比表面积等性能指标检测。
5. 扫描电镜观察:采用扫描电镜对超细粉体的形貌、结构进行分析。
6. 结果分析:对实验数据进行统计分析,探讨球磨工艺参数对超细粉体性能的影响。
五、实验结果与分析1. 球磨工艺参数对超细粉体粒度的影响:实验结果表明,球磨速度、球磨时间、球料比对超细粉体粒度有显著影响。
球磨速度越高,球磨时间越长,球料比越大,超细粉体粒度越细。
2. 球磨工艺参数对超细粉体比表面积的影响:实验结果表明,球磨速度、球磨时间、球料比对超细粉体比表面积有显著影响。
球磨速度越高,球磨时间越长,球料比越大,超细粉体比表面积越大。
3. 扫描电镜观察结果:球磨后的超细粉体颗粒表面光滑,无明显的团聚现象,说明球磨工艺参数对超细粉体的形貌和结构有显著影响。
超细粉体表征方法及应用进展
1 2 5 0目( 1 0 i n ) 以下 的粉体 , 又可分 为微 米粉体 、 亚微米粉体和纳米粉体 , 当固形物质粉碎至微米甚
至纳米尺寸时 , 该粉体的物理 、 化学特性都 发生极 大的变化 。超细粉体技术起源于二十世纪 7 0 年代 中期 , 自8 0 年代成为各 国研究 的重点 , 国外对超细 粉体技术非常重视 ,并先后建立了粉体研究机构 , 在我国 自上世纪 8 0 、 9 O年代开始才逐步受 到越来 越多研究机构和行业重视【 1 】 。 目前 , 人们已将超细粉 体 的研究成果转化到 电子信息 、 化工 、 轻工 、 冶金 、
e l e c t r o n i c i n f o r ma t i o n ,mi l i t a r y , l i g h t i n d u s t r y ,c h e mi c a l i n d u s t r y ,me d i c i n e ,a g r i c u l t u r e a n d f o o d w e r e i n t od r u c e d a n d t h e d e v e l o p me n t o f t h e u l t r a f i n e p o wd e r ma t e ia r l s wa s p r o s p e c t e d .
化
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2 0 1 4年第 O 3期
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文章编号 : 1 0 o 2 — 1 1 2 4 ( 2 0 1 4} 0 3 — 0 o 3 3 — 0 3 ຫໍສະໝຸດ 超细粉体表征方法及应用进展
超细粉比表面积测试
超细粉比表面积测试
超细粉比表面积测试是一种常用的方法,用于评估粉末颗粒的比表面积,反映粉末表面与体积之比,也可用于评估粉末颗粒的细度和分散性。
常用的超细粉比表面积测试方法包括气体吸附法和液相吸附法。
其中,气体吸附法包括比氮气吸附法(BET)、荧光剂法(CTAB)和化学吸附法(commonligt)等,液相吸附法主要有甲苯溶液
吸附法(BET)等。
在比表面积测试中,首先需要将待测粉末样品在恒定条件下进行处理,如脱除水分、溶解杂质等。
然后,样品会被暴露于吸附剂中,吸附剂会被样品表面的孔洞或裂缝填充,通过测量吸附剂表面积与样品质量之比,从而得到比表面积。
根据测试结果,可以评估粉末的比表面积大小。
通常情况下,超细粉的比表面积较大,这也是其具有良好活性和吸附性的重要原因之一。
比表面积测试结果可用于品质控制、质量评估以及粉末性质研究等方面。
测量超细粉体筏张力的设备及其测量方法的制作流程
本技术公开了一种测量超细粉体筏张力的装置及其测量方法,包括水槽、测量机构及移动机构。
测量机构包括测力臂、压力传感器及依次与其连接的数据传输模块、数据处理模块,测力臂上端固定在压力传感器上,下端插入水槽内。
移动机构包括移动臂、平移台及与其相连接的平移台控制器,移动臂上端固定在平移台上随其移动,下端插入所述水槽内与测力臂相对的一端。
测力臂和移动臂插入水槽的一端均不与所述水槽相接触。
测量时所述测力臂和移动臂之间水面上铺散有分散超细粉体。
本装置不仅可以测量静态超细粉体筏的张力,也可以在超细粉体筏的准静态和动态的面积变化过程中测量张力。
技术要求1.一种测量超细粉体筏张力的装置,其特征在于:包括水槽、测量机构及移动机构,其中所述测量机构包括测力臂、压力传感器及依次与其连接的数据传输模块、数据处理模块,所述测力臂上端固定在压力传感器上,下端插入水槽内;所述移动机构包括移动臂、平移台及与其相连接的平移台控制器,所述移动臂上端固定在平移台上随其移动,下端插入所述水槽内与测力臂相对的一端;所述测力臂和移动臂的下端插入水槽时均不与所述水槽相接触,其与水槽内壁间留有空隙,以使所述测力臂下端两侧张力一致;测量时所述测力臂和移动臂之间水面上铺散有分散超细粉体。
2.根据权利要求1所述的一种测量超细粉体筏张力的装置,其特征在于:所述压力传感器下方设有支架。
3.根据权利要求1所述的一种测量超细粉体筏张力的装置,其特征在于:所述数据处理模块为电脑。
4.根据权利要求1所述的一种测量超细粉体筏张力的装置,其特征在于:所述空隙宽度为0.1mm-0.2mm。
5.根据权利要求1所述的一种测量超细粉体筏张力的装置,其特征在于:所述平移台为电动平移台,所述电动平移台包括移动模块及与其滑动连接的平台基座,所述移动臂上端与移动模块固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种测量超细粉体筏张力的装置,其特征在于:所述测力臂与移动臂均为L型力臂。
7.一种测量超细粉体筏张力的方法,其特征在于,所述方法应用于权利要求1-6任一项所述的测量超细粉体筏张力的装置,其包括以下步骤:步骤S1、将测力臂和移动臂分别插入水槽的两端,并使测力臂及移动臂不与所述水槽相接触;步骤S2、在水槽中装满水,直到液面与水槽上沿水平,此时所述测力臂左右两侧都是水面,处于平衡状态,数据处理模块显示的力值为零;步骤S3、在水槽中的测力臂和移动臂之间铺散分散超细粉体,此时测力臂与水面接触的部分一面是水,一面是超细粉体筏,处于不平衡状态;步骤S4、通过压力传感器,经数据传输模块和数据处理模块读取铺散分散超细粉体前后所述测力臂张力,铺散分散超细粉体之后水的表面张力减去所述数据处理模块显示的张力值为所述超细粉体筏静态的张力。
超细粉体团聚状态的表征
超细粉体团聚状态的表征超细粉体团聚状态是分散颗粒以一定方式组织成聚集体的形式,广泛存在于自然界和工业领域中。
因此,超细粉体团聚状态的表征对于研究和利用超细粉体的特性至关重要。
研究者通过多种理论和实验方法来表征超细粉体团聚状态,目前已有多种表征技术可以用于表征不同类型的超细粉体团聚状态。
表征超细粉体团聚状态的一般方法是建立模型,即用一系列描述超细粉体团聚状态的参数来描述超细粉体团聚状态。
一般来说,常见的模型由一系列参数组成,包括:超细粉体的粒径、动力学和静态构造、结构及其相关的力学特性等。
模型参数的取值可以通过实验测量,通过计算机模拟等方式来获取。
另一种表征超细粉体团聚状态的方法是建立测试标准,即使用一系列定义清楚的客观指标来描述超细粉体团聚状态。
主要指标包括:粒径分布、体积百分比、团聚指数、黏度指数等。
这些指标的取值可以通过实验,包括:孔隙度、表面积、比表面积等来获得。
此外,还可以采用一些近似的表征方法来表征超细粉体团聚状态。
例如,可以使用力学近似的方法来表征超细粉体的动力学和静态性质,包括:自由振动、表面润湿性等。
另外,还可以使用一些无比例近似技术来表征复杂的团聚状态,包括:复杂混合、复杂结构等。
最后,超细粉体团聚状态可以通过对比及比较不同状态来表征。
另外,为了更加准确地表征不同类型的超细粉体,可以利用不可重复性测量和可重复性测量的方法来表征特定的超细粉体系统。
综上所述,通过多种理论和实验方法,可以准确表征超细粉体团聚状态,这对于研究和利用超细粉体的特性至关重要。
超细粉体的表征的正确性和准确性将决定超细粉体的应用和利用方式,以及未来超细粉体发展的方向。
因此,研究者有必要重视超细粉体团聚状态的表征,充分发挥其在研究和利用超细粉体的优势。
超细粉实验步骤
超细粉实验熔制操作步骤1、原料称取本实验需要原料8种,分别为石英砂、石灰石、白云石、纯碱、氧化铝粉、锑粉、芒硝和无水硝酸钠。
将这8种原料以及从尾砂中筛分得到的-150~+200目的超细粉准备好待用。
实验所用坩埚为300ml。
为防止熔制过程中玻璃液逸出,一次所加配合料不能超过坩埚容积的2/3。
为了得到更多的玻璃样品,选择多次加料,第一次加坩埚容积的60%,第二次加容积的30%,第三次视熔化情况而定(按30%计算,可多配少加),因此一个坩埚需配合料:300x(60%+30%+30%)=360ml体积密度按1.3g/cm3计算,一个坩埚需加配合料468g,为称取方便,一个坩埚准备配合料500g。
根据原料工段提供的料单计算出每种原料需要称量的量,如下表所示:本次实验分别提高石英砂中-150~+200目的硅砂超细粉含量至石英砂总量的20%和30%,需称量的硅砂量如下:将计算好的各原料使用电子天平称量好待用。
2、原料混合采用小型混合机进行混合,混合机容积为5L,有效混合容积为2L。
体积密度按1.3g/cm3计算,一次可混合1.3x2=2.6(kg),因此混合时取5份进行混合,为2.5kg。
混合时先将硅砂与超细粉混合30s,再加入白云石和纯碱,混合30s,然后加入其余原料进行混合。
本实验配合料的量较少,因此不考虑加水混合。
在不同混合时间下取样,测试均匀度,选取均匀度最佳的配合料进行熔化试验。
3、配合料熔制(1)检查电源线路,检查熔制设备是否正常,设置好加热程序。
(2)本次实验采用“常温加料法”。
将配合料分别装入四只熔融石英坩埚中,四只坩埚所装配合料分别为:标样配合料一份(原料工段配合料)、含20%超细粉配合料两份、含30%超细粉一份。
第一次加料量为坩埚容积的60%。
为防止坩埚意外破裂造成电炉损坏,在底部耐火砖上薄铺一层石英砂,再将坩埚放到耐火砖上,然后升入升降炉的炉膛。
给电炉通电,设置程序以4℃/min 的升温速度升温到1100℃,保温0.5h 后准备第二次加料。
超细粉体制备实验报告
超细粉体制备实验报告一、实验目的本实验旨在研究超细粉体制备方法,通过实验探索超细粉体的制备过程和影响因素,并得到合适的超细粉体制备方案。
二、实验仪器与材料1. 仪器:超细研磨机2. 材料:矿石试样、溶剂、研磨介质三、实验步骤1. 准备矿石试样,并将试样加工成适当的颗粒大小。
2. 将试样放入超细研磨机中,并加入适量的研磨介质和溶剂。
3. 启动超细研磨机,开始进行研磨过程。
可根据需要调整研磨时间和研磨机参数。
4. 研磨完成后,将混合物离心分离,得到超细粉体。
5. 对得到的超细粉体进行分析测试,包括颗粒大小、形貌、物理性质等。
四、实验结果与分析经过超细磨粉处理后,我们得到了一批具有较小颗粒大小的超细粉体。
通过电子显微镜观察,我们发现超细粉体的颗粒大小在几十纳米至几百纳米之间,明显比原始试样的粒径要小。
同时,超细粉体颗粒呈现出较规则的形状,表面光滑。
我们利用粒度分析仪对超细粉体进行了粒径分布测试,发现绝大部分颗粒分布在100-300纳米之间,粒径分布较为集中。
这说明超细研磨机在一定程度上能实现对试样的研磨均匀性和颗粒大小的控制。
此外,我们对超细粉体进行了物理性质测试,发现其比表面积较大,比原始试样的比表面积增加了近两倍。
这可能与超细粉体颗粒的小尺寸和较大的表面积有关。
超细粉体的比表面积的增加,使得其具有更好的活性和吸附性能,在实际应用中有广泛的应用前景。
五、结论通过超细研磨机进行研磨处理,我们成功制备了一批颗粒较小且比表面积较大的超细粉体。
经过分析和测试,我们发现超细粉体具有较小的颗粒尺寸、规则的形状和较大的比表面积。
超细粉体的制备方法能够在一定程度上实现对颗粒大小和形貌的控制,具有广泛的应用前景。
六、实验心得本次实验通过超细研磨机制备超细粉体的过程,使我对超细粉体制备方法有了更深入的理解。
实验过程中,我学会了使用研磨机进行超细粉体的制备和处理,并且了解了超细粉体的表征方法和测试手段。
在实验过程中,我还发现了超细粉体的颗粒大小和形貌与研磨时间、研磨机参数等因素有关,这对于进一步优化超细粉体制备方法具有指导意义。
超细矿物粉体粒度分布的测定
资 源 环 境 与 工 程
2 0 年 07.
体 的粒 度测 定有 一定 的影 响 。对 于粘 土类 矿 物应 选用
2 3 分散 时 间对测 定 结果 的影 响 .
去离子水或蒸馏水作分散液 , 加人适量六偏磷 酸钠作
分 散剂 。这 是 因为 粘 土类 矿 物具 有 阳离 子 交 换 性 能 , 在水 中分散形 成 粘 土~ 水 分 散 体 系 , 由于 粘 土 表 面 带
收 稿 日期 :20 0 0 6— 9—2 ;改 回 日期 :20 6 0 6—1 —1 1 0
作者简介 :龚关 (9 4一) 16 ,男 ,高级工程师 ,无机非金属材料专业 ,从事非金属矿物性测试及应用研究工作 。E— al o gun27 6.o m i ng a12@13em :g
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耐火材料及精细磨料等工业领域得到了广泛应用。
对于超 细粉 体 矿产 品 , 粒 度 及 粒 度 分 布 是 最 基 其 本 也是 最重要 的 物理 参 数 … 。因此 , 细粉 体 粒 度 分 超 布 的测定 在生 产 企 业 和科 研机 构 中 已 日益 受 到 重视 。
表中分散介 质 A为去 离子水 , B为去离 子水加 六偏 磷酸钠 , c为去离子水 加 乙醇 , D为去离 子水加 T en0 we2 ; d0为 中值 粒 径 。 5 由表 1可 以看 出 , 同的分 散 介 质 对超 细 矿物 粉 不
S ..00型粒度 分析 仪 (日本 清新 )A 14 S型 K 20 C ;B0 - 电子 天平 ( 士梅 特 勒 ) X T- 瑞 ; P 7型偏 光 显 微 镜 ( 声 江
粒度分析仪 测定超 细矿物粉体 的粒度分布 ,通过 不 同分散 介质 类型、分散 时 间、分散初 始 浓度 和 最大粒径 定值
超细粉体制备技术研究的内容及发展现状
超细粉体制备技术研究的内容及发展现状随着科学技术的不断发展,超细粉体制备技术在材料科学、化学工业、医药领域等方面扮演着越来越重要的角色。
超细粉体具有较大的比表面积、高活性和特殊的物理化学性质,因此广泛应用于催化剂、涂料、电子材料等领域。
本文将着重介绍超细粉体制备技术的研究内容以及目前的发展现状。
超细粉体制备技术的研究内容主要包括物理方法和化学方法两大类。
物理方法主要有机械法、凝胶法、气相法等;化学方法主要有溶胶-凝胶法、水热法、沉淀法等。
这些方法各有特点,可以根据需要选择合适的方法进行制备。
物理方法中的机械法是一种常用的制备超细粉体的方法。
通过机械力的作用,将原料粉体不断粉碎,直至达到所需的颗粒尺寸。
常用的机械法有球磨法、高能球磨法等。
机械法制备的超细粉体具有颗粒尺寸均匀、形状规则等特点,但制备过程中能量消耗较大,易产生热量,需要进行冷却。
凝胶法是一种通过凝胶的形成来制备超细粉体的方法。
主要包括溶胶-凝胶法和反应凝胶法。
溶胶-凝胶法是将溶液中的金属离子通过溶胶聚合到凝胶颗粒上,形成胶体颗粒,经过干燥后得到超细粉体。
反应凝胶法是将溶液中的金属离子与还原剂发生反应,生成凝胶颗粒,再经过煅烧得到超细粉体。
凝胶法制备的超细粉体具有颗粒尺寸可调、分散性好等特点,但制备过程中需要控制溶胶的形成和凝胶的稳定性。
气相法是通过气相反应制备超细粉体的方法。
主要有气溶胶法和气相沉积法。
气溶胶法是将溶胶颗粒悬浮在气体中,通过气体的传输和控制,使溶胶颗粒在气相中聚集成为超细粉体。
气相沉积法是将气体中的原料分子在高温条件下反应生成超细粉体,然后通过凝聚机制使其沉积到基底上。
气相法制备的超细粉体具有纯度高、颗粒尺寸可调等特点,但制备过程中需要控制气体流动和温度条件。
在超细粉体制备技术的发展现状方面,近年来,随着纳米科技的兴起,纳米粉体的研究得到了广泛关注。
纳米粉体是指粒径小于100纳米的超细粉体。
纳米粉体具有更大的比表面积和更高的活性,表现出与传统材料不同的物理化学性质。
【精品文章】超细粉体的表征技术简介
超细粉体的表征技术简介
现代材料科学在很大程度上依赖于对材料性能与其成分及显微组织关系的理解。
因此,对材料性能的各种测试技术,对材料组织从宏观到微观不同层次的表征技术构成了材料科学与工程的一个重要部分,也是联系材料设计与制造工艺直到获得具有满意使用性能的材料之间的桥梁。
超细粉体具有小尺寸效应、表面效应、量子尺寸效应和宏观量子隧道效应等特殊性能,以及传统材料不具备的诸多物理化学性能,如高化学活性、强吸附性、特殊催化性等,因而被广泛应用于医学、制造业、材料、通信、生物、环境、能源、食品等领域。
而超细粉体的表征主要包括以下几个方面:超细粉体的粒度分析(粒径、粒度分布),超细粉体的化学成分,形貌/结构分析(形状、表面、晶体结构等)等。
超细粉体的表征技术可以分为以下几种:
(1)定性分析:包括材料是由哪些元素组成、每种元素含量等;
(2)颗粒分析:包括颗粒形状、粒度、粒分布、颗粒结晶结构等;
(3)结构分析:包括晶态结构、物相组成、组分之间的界面、物相形态等;
(4)性能分析:包括物理性能分析(材料的电、磁、声、光和其他新性能的分析等)和化学性能分析(化学反应性、反应能力、在气体和其他介质中的化学性质等)。
1. 超细粉体粒度的表征方法
粉体颗粒的大小称为粒度。
由于颗粒形状通常很复杂难以用一个尺度来表示,所以常用等效粒度的概念,不同原理的粒度仪器依据不同颗粒的特。
粉体粒度测试技术
粉体粒度测试技术“粉体粒度测试技术”是一种衡量粉体物料细度的实验技术。
它可以准确测量粉体物料的粒径分布,为粉体加工和分级过程提供科学依据。
粉体粒度测试技术包括粗筛法、气流筛法、磨碎法、示踪法、视比重法、激光粒度分析法等多种测试方法。
其中,粗筛法是最基本的粒度测量技术,适用于大于2毫米的粒径范围。
它通过使用不同直径的筛网进行粒径分级,来对粉体进行粒度分析,从而获得粒度分布曲线。
气流筛法是一种常用的粒度测量技术,适用于小于2毫米的粒径范围。
它通过在一定压力和流量的情况下,将粉体物料以气流形式喷射到筛网上,利用气流动力学原理,使粉体经过不同筛孔粒径的筛网进行分级,从而获得粒度分布曲线。
磨碎法是一种常用的粒度测量技术,适用于粒径小于2毫米的粉体物料。
它通过磨碎机将粉体物料磨碎成更小的粒子,然后用气流筛法进行粒度分析,从而获得粒度分布曲线。
示踪法是一种测量粒度的快速技术,适用于小于2毫米的粒径范围。
它将一定量的粉体物料混合在某种液体中,然后用投影仪将液体中混合物投射到平面上,用测量技术确定混合物的粒径大小,从而获得粒度分布曲线。
视比重法是一种粒度测量技术,它通过测量粉体的比重,来估算粉体的粒度大小。
它将粉体物料放入水中,然后测量粉体的比重,比重愈小,粒径愈大。
根据不同的比重,即可得出粒径的大小。
激光粒度分析法是一种精确的粒度测量技术,主要应用于粒径小于1毫米的粉体物料。
它通过激光扫描仪,将粉体物料放入筒内,用激光投射粉体,测量每个粒子的大小,从而获得粒度分布曲线。
粉体粒度测试技术在粉体加工和分级过程中具有重要意义,可以为粉体物料的加工和分级提供准确的实验数据。
粉体粒度测试技术可以帮助企业更好地控制粉体物料的细度,提高生产质量,降低成本,增加企业的竞争力。
超细粉体制备-SEM分析
目前扫描电镜的分辨力为6~10nm,人眼能够区别荧光屏上两 个相距0.2mm的光点,则扫描电镜的最大有效放大倍率为 0.2mm/10nm=20000X。 它是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子 轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、 特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可 见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子 -空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。 原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样 品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结 构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根 据上述不同信息产生的机理,采用不同的信息检测器,使选择 检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集,可得到有 关物质微观形貌的信息;对x射线的采集,可得到物质化学成 分的信息。
其他形貌分析方法:透射电镜(TEM)、扫描隧道电子显微镜 (STM)、原子力显微镜(AFM)。 透射电镜具有很高的空间分辩能力,特别适合纳米粉体材 料的分析。其特点是样品使用量少,不仅可以获得样品的形貌, 颗粒大小,分布以还可以获得特定区域的元素组成及物相结构 信息。透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析,但颗粒大 小应小于300nm,否则电子束就不能透过了。对块体样品的分 析,透射电镜一般需要对样品进行减薄处理 扫描隧道显微镜主要针对一些特殊导电固体样品的形貌分 析。可以达到原子量级的分辨率,但仅适合具有导电性的薄膜 材料的形貌分析和表面原子结构分布分析,对纳米粉体材料不 能分析。 扫描原子力显微镜可以对纳米薄膜进行形貌分析,分辨率 可以达到几十纳米,比STM差,但适合导体和非导体样品,不 适合纳米粉体的形貌分析。
超细粉体分析课件
化妆品领域
01
02
03
粉底
超细粉体可以作为粉底的 原料,具有遮盖力强、色 泽自然、透气性好等特点。
散粉
超细粉体可以作为散粉的 原料,具有控油、定妆、 提亮肤色等作用。
眼影
超细粉体可以作为眼影的 原料,具有色彩鲜艳、附 着力强、不易脱妆等特点。
பைடு நூலகம்
食品领域
食品添加剂
超细粉体可以作为食品添 加剂,如增稠剂、乳化剂、 调味剂等,改善食品的口 感和质地。
扫描电子显微镜
总结词
扫描电子显微镜是一种高分辨率的表征技术,能够观察超细 粉体的形貌和粒度。
详细描述
扫描电子显微镜利用电子束扫描样品表面,通过检测样品表 面散射的二次电子或背散射电子来成像。该技术具有高分辨 率和高放大倍数,能够清晰地观察超细粉体的形貌和粒度。
透射电子显微镜
总结词
透射电子显微镜是一种高分辨率的表征技术,能够观察超细粉体的晶体结构和内部结构。
超细粉体分析课件
目 录
• 引言 • 超细粉体的基本特性 • 超细粉体的制备方法 • 超细粉体的表征技术 • 超细粉体的应用 • 超细粉体的发展趋势与挑战
contents
01
引言
主题介绍
定义
超细粉体是指粒径极小的粉末, 通常在纳米至微米范围内。
分类
根据粒径大小,超细粉体可分为 纳米粉体和微米粉体。
详细描述
透射电子显微镜利用高能电子束穿透样品,通过检测透过样品的电子束强度和相位移来 成像。该技术具有高分辨率和高放大倍数,能够观察超细粉体的晶体结构和内部结构。
X射线衍射
总结词
X射线衍射是一种无损的表征技术,能够分析超细粉体的晶体结构和物相组成。
超细稀土氧化物粉体粒度的测定
专辑
张顺利等
超细稀土氧化物粉体粒度测定
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" " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " " [#] 李忠全,李红云 " 费氏法测定粉末的平均粒度[ 7 ] " 粉末冶 间。对于用碳酸氢铵沉淀方法制备的亚微米的氧 化钇粉体,以 ! " #$(%&’()) *溶液为分散剂时,可 以获得高稳定的氧化钇悬浮体系。控制氧化钇的 浓度为 ! " # +, ・ +- . /,超声分散时间为 # 0 ) +12 时 能够准确测定其粒度。 参考文献:
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超细粉体技术概况及发展趋势
超细粉体技术概况及进展趋势1.超细粉体概述1.1定义对于超细粉体的粒度界限,目前尚无完全一致的说法。
各国、各行业由于超细粉体的用途、制备方法和技术水平的差别,对超细粉体的粒度有不同的划分,例如日本将超细粉体的粒度定为0.1m以下。
近来国外有些学者将100m~1m的粒级划分为超细粉体,并依据所用设备不同,分为一级至三级超细粉体。
对于矿物加工来说,我国学者通常将粒径小于10m的粉体物料称为“超细粉体”。
1.2超细粉体的特性目前,对超细粉体的特性还没有完全了解,已经比较清楚的特性可归纳为以下几点:(1)比表面积大。
由于超细粉体的粒度较小,所以其比表面积相应增大,表面能也加添。
比表面积大,使其具有较好的分散性和吸附性能。
(2)活性好。
随着粒度的变小,粒子的表面原子数成倍加添,使其具有较强的表面活性和催化性,可起补强作用,具有良好的化学反应性。
(3)熔点低。
很多讨论表明,物质的粒径越小,其熔点就越低。
(4)磁性强。
超细粉体的体积比强磁性物质的磁畴还小,这种粒子即使不磁化也是一个永久磁体,具有较大的矫顽力,是制造高密度记录磁带的优良原材料。
(5)光汲取性和热导性好。
超细粉体特别是超细金属粉体,当粒度小于100nm以后,大呈黑色,且粒度越细色越黑,这是光完全被金属粉体汲取的原因。
1.3超细粉体的制备方法超细粉体的制备方法有很多,但从其制备的原理上分重要有两种:一种是化学合成法,一种是物理粉碎法。
化学合成法是通过化学反应或物相转换,由离子、原子、分子经过晶核形成和晶体长大而制备得到粉体,由于生产工艺多而杂、成本高、而产量却不高,所以化学合成法在制备超细粉体方面应用不广。
物理粉碎法是通过机械力的作用,使物料粉碎。
物理粉碎法相对于化学合成法,成本较低,工艺相对简单,产量大。
因此,目前制备超细粉体材料的重要方法为物理粉碎法。
常用的超细粉碎设备有气流粉碎机、机械冲击粉碎机、振动磨、搅拌磨、胶体磨以及球磨机等。
2超细粉体的应用超细粉体不仅本身是一种功能材料,而且为新的功能材料的复合与开进呈现了广阔的应用前景。
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超细粉体的表面特征及测试技术钟家湘(北京理工大学)一.超细粉体的表面科学与技术由于固体材料与外界的相互作用是通过表面来实现的,因而材料表面的特征,无论从基础理论或技术应用的角度看,都是至关重要的.随着超细微粒与纳米材料的发展,表面的作用愈显突出,粉体材料表面科学与技术的进步极大地影响和推动着现代粉体工业的发展。
处于固体自由表面上的原子,其键合状态与体内不同,由于键的不饱和性,和近邻原子数的减少,表面的能量显著提高,这就是表面能或表面张力的来源。
为了降低自由能,固体倾向于缩小表面积,因此许多粉体都呈球形,一些处于结构不稳定状态的纳米颗粒也是球形或近球形的形态;对于晶体而言,由于各向异性,不同晶面上的原子密度、配位数、键合角不同,颗粒经常成为多面体的形状,显露在外的晶面一般是表面能低的原子密排面,由于某些原因偏离密排面时,在表面上会出现台阶或扭折;对于非晶或无定形的固体颗粒一般呈多孔的复杂形状。
值得注意的是,表面的结构缺陷大大的影响着表面的特性,例如,表面的催化活性大为提高,此外,表面吸附、表面偏析、表面腐蚀、表面电导、介电击穿、解理断裂等物理、化学、力学行为都将受到重要影响。
近些年来,扫描隧道显微镜和原子力显微镜的成功应用,不但证实了一系列关于表面的物理模型,还直接观察到固体表面的一系列新的构象。
低能电子显微术、高分辨电子显微术的不断完善,通过研究还发现了固体表面结构与内部结构的重要差别,一是表面弛豫,二是表面重构,前者有助于了解更多的表面现象,后者可以发现更多与表面相关的超结构。
对于固体表面的微观结构的观察与研究已经深入到原子的尺度,可以期待未来还会有更多新的惊人的发现。
诚然,科学家对固体表面结构的深入探索十分引人注目,但最吸引人们的还是表面能够被利用的性能,换句话说,研究与挖掘表面状态与性能之间的关系,并加以工程应用。
对于超微粉和纳米微粉来说,表面尤其重要,他涉及一系列的学科领域。
例如,表面吸附科学,吸附是一种重要的界面现象,即界面(包括表面)上一种组分或多种组分的浓度与体相中不同的现象,对于粉体材料而言,他们总是被包围在其他的气体、液体或固体之中,吸附现象即是表面原子与周围物质的一种最重要的交互作用形式,吸附现象的本质、吸附规律、具有特殊吸附能力的材料、以及吸附现象与吸附材料的工业应用等等,早已形成了一个独立的科学体系,吸附科学不仅在理论上意义重大,更重要的是其应用价值,比如利用特种吸附剂吸附分离DNA,分析微量气体和液体成分,用于对物质的定性分析,重要的工业分离和精制技术,吸附科学在环境污染的治理与净化方面的作用,在生物医药与人体健康领域中的应用,在纳米新材料制备及表面改性方面的应用,毫不夸张地说,在与人类生活密切相关的众多领域中都有重要的实际意义。
再如表面的催化效应是与化学吸附密切相关的又一个重要领域,是表面吸附与表面反应的综合结果,多相催化反应广泛应用于无机和有机化学工业、石油工业、制药工业等,催化剂的合理应用在提高工业生产的效率和效益方面有着无可比拟的作用。
随着纳米科学与技术从20世纪80年代开始崛起,纳米粒子的结构,特别是表面结构及其特殊性质引起了科学界极大的关注,当粒子直径小于10纳米时,其表面原子数与总原子数之比已超过20%,因而随着颗粒尺寸的减小,表面的重要性越来越大,所谓的表面效应是纳米材料最重要的特性之一。
实验表明纳米粒子的表面处于受高压压缩的状态,或者说处于高能量状态,加上表面原子有较多的断键,原子的活性大大增加,因此纳米颗粒具有更大的催化能力,吸附能力,而且熔点降低,结构的稳定性大大降低,甚至处于准熔化态。
综上所述,粉体材料表面科学与技术正在成为一门引人注目的新兴的学科,其主要内容可归纳如下:粉体的宏观表面特性:表征及测试方法;粉体表面的微观结构:原子尺度下的观察、分析及物理模型;粉体材料的表面科学:表面张力;表面吸附;表面偏析;表面催化;表面化学反应;表面扩散;表面的物理、力学性能;纳米粒子的表面效应等;粉体表面技术与工程:表面润滑、颗粒分散;表面修饰;表面改性;超细粉体的制备及工程应用。
二.粉体的宏观表面特性及其测量方法超细粉体的宏观特性主要是两个方面:其一是颗粒的尺寸大小及粒度分布;其二是颗粒的比表面积及孔径分布;前者很容易被人们认识,测试方法发展很快,随着粉体尺寸的细化,对超细和纳米颗粒而言,传统的筛分法和沉降法已无能为力,X-光小角度散射法及激光散射法迅速发展,并被广泛应用。
后者,即超细粉体的表面特征(比表面积及孔径分布)则被人们认知较少较晚,随着近代超细粉体特别是纳米粉体工业的发展,人们发现粉体的表面特性是比尺寸特性更为重要的指标,它将直接关系到粉体的许多使用性能,因此超细粉体的表面特征的表征及其测试具有重要的意义。
粉体的宏观表面特性主要是指比表面积和孔容、孔径分布。
比表面:单位重量粉体的总表面积;孔径分布:单位重量粉体表面微孔容积随孔径的变化率;比表面的测定方法很多,如润湿热法、显微镜和电镜法、消光法、流体透过法、溶解度法、气体吸附法、液体吸附法等。
其中氮吸附法是最可靠、最有效、最完善的方法,也是目前应用最为广泛和成熟的方法。
ISO已列入国际测试标准(ISO-9277和ISO-15901),我国也已列为国家标准(GB-119587-2004),近年来年又被列入了纳米粉体材料的检测标准。
下面介绍氮吸附法测量比表面及孔径分布的原理及测量方法。
1.氮吸附法测量比表面(1) 单层吸附理论(Langmuir)基本假设:表面吸附是单分子层的定位吸附,表面是均匀的,吸附层分子间无相互作用;吸附等温方程:基于吸附过程的动力学平衡推导出Langmuir吸附等温方程。
在恒定温度下,在一定氮气压力P下,氮气在粉体表面的实际吸附量V与单层吸附量Vm有如下的关系,b是与吸附热相关的常数。
P/V = 1/Vm.b + P/Vm在不同的氮气压力P下测出氮的实际吸附量V,用P/V对P作图是一条直线,这条直线的斜率的倒数即为单层吸附量Vm 。
当测出粉体的单层吸附量Vm后,粉体的比表面积(Sg)可由下式求出:Sg = NσVm / 22400W式中:Vm:样品表面氮气的单层吸附量(ml)N:阿佛加法罗常数(6.024×1023),1个克分子气体中的分子数σ:每个氮分子所占的横截面积(0.162nm2),W: 粉体样品的重量(g)(注:在标准状态下,一克分子气体的体积为22.4L或22400ml)把N和σ具体数据代入上式,得到氮吸附比表面积的基本计算公式:Sg = 4.36Vm / W(2) 多层吸附理论(BET方程)在公式(2)中已知,计算比表面时,必须知道粉体表面对氮气的单层吸附量Vm ,而多数情况下,实际的吸附量V 并非是单层吸附,因此必须对单层吸附理论进行修正。
假设:吸附是多分子层的,第一层吸附热为定值,以上各层的吸附热为另一定值。
在这种条件下,通过对气体吸附过程的热力学与动力学分析,发现了实际的吸附量V 与单层吸附量Vm 之间的关系符合著名的BET 方程:)(11)(00P P C Vm C C Vm P P V P ⋅⋅−+⋅=−其中 V 单位重量样品表面氮气的实际吸附量Vm 单位重量样品的单分子层氮气吸附量P 氮分压Po 液氮温度下,氮气的饱和蒸气压BET 方程适用于(P /Po )在0.05 ~ 0.35 的范围中,在这个范围中用P/V(Po-P) 对 (P/Po)作图是一条直线,而且1 /(斜率+截距)= Vm ,因此,在0.05 ~ 0.35 的范围中选择4~5个不同的(P/Po),测出每一个氮分压下的氮气吸附量V , 并用P/V(Po-P) 对 (P/Po)作图,由图中直线的斜率和截距求出Vm ,再由式(3)求出比表面 。
在BET 方程中,C 是与吸附热相关的常数,反映材料的吸附特性,C 越大吸附能力越强。
把BET 方程改写,可得到如下公式:V/Vm = [P/(Po-P)] / {(1/C)[1-(P/Po)]+(P/Po)}V/Vm 即表示氮气在样品表面吸附的平均层数,它是由C 和(P /Po)决定的,C 值越大,吸附层数越大。
用BET 比表面的测定方法,不仅可以测出比表面,而且可以得到C 值,了解材料的吸附特性, 具有重要的意义。
2.氮吸附法测定孔容、孔径分布原理用氮吸附法测定孔容和孔径分布是比较成熟而广泛采用的方法,它是用氮吸附法测定BET 比表面的一种延伸,都是利用氮气的等温吸附特性曲线:在液氮温度下,氮气在固体表面的吸附量取决于氮气的相对压力(P/P 0),当P/P 0在0.05∼0.35范围内时,吸附量与(P/P 0)符合BET 方程,这是测定比表面积的依据;当P/P 0≥0.4时,由于产生毛细凝聚现象,即氮气开始在微孔中凝聚,通过一定的实验和理论分析,可以测定孔容、孔径分布。
所谓毛细凝聚现象是指,在一个毛细孔中,若能因吸附作用形成一个凹形的液面,与该液面成平衡的蒸汽压力P 必小于同一温度下平液面的饱和蒸汽压力P 0,当毛细孔直径越小时,凹液面的曲率半径越小,与其相平衡的蒸汽压力越低,换句话说,当毛细孔直径越小时,可在较低的P/P 0压力下,在孔中形成凝聚液,但随着孔尺寸增加,只有在高一些的P/P 0压力下才能形成凝聚液,显而易见,由于毛细凝聚现象的发生,将使得样品表面的吸附量急剧增加,因为有一部分气体被吸附进入微孔中并凝聚成液态,当固体表面全部孔中都被液态吸附质充满时,吸附量达到最大,而且相对压力P/P 0也达到最大值1。
相反的过程也是一样的,当吸附量达到最大(饱和)的固体样品,降低其相对压力时,首先大孔中的凝聚液被脱附出来,随着压力的逐渐降低,由大到小的孔中的凝聚液分别被脱附出来。
设定粉体表面的毛细孔是圆柱形管状,把所有微孔按直径大小分为若干孔区,这些孔区按大到小的顺序排列,不同直径的孔产生毛细凝聚的压力条件不同,在脱附过程中相对压力从最高值(P 0)向下降低时,先是大孔后再是小孔中的凝聚液逐一脱附出来,显然可以产生凝聚现象或从凝聚态脱附出来的孔的尺寸和吸附质的压力有一定的对应关系,凯尔文方程给出了这个关系:r k = —0.414 / log(P/P 0)r K 叫凯尔文半径,它完全取决于相对压力P/P 0,即在某一P/P 0下,开始产生凝聚现象的孔的半径,同时可以理解为当压力低于这一值时,半径为r K 的孔中的凝聚液将气化并脱附出来。
进一步的分析表明,在发生凝聚现象之前,在毛细管臂上已经有了一层氮的吸附膜,其厚度(t )也与相对压力(P/P 0)相关,赫尔赛方程给出了这种关系:t = 0.354[-5/ln(P/P 0)]1/3与P/P 0相对应的开始产生凝聚现象的孔的实际尺寸(r p )应为:r p = r k+ t 显然,由凯尔文半径决定的凝聚液的体积是不包括原表面t 厚度吸附层的孔心的体积,r K 是不包括t 的孔心的半径。