自动控制原理实验系统超前校正实验报告

实验五系统超前校正（4学时）

本实验为设计性实验

一、实验目的

1 • 了解和观测校正装置对系统稳定性尺动态特性的影响。

2.学习校正装置的设计和实现方法。

二、实验原理

工程上常用的校正方法通常是把一个髙阶系统近似地简化成低阶系统，并从中找出少数典型系统作为工程设计的基础，通常选用二阶、三阶典型系统作为预期典型系统。只要掌握典型系统与性能之间的关系，根据设计要求，就可以设计系统参数，进而把工程实践确认的参数推荐为“工程最佳参数”，相应的性能确定为典型系统的性能指标。根据典型系统选择控制器形式和工程最佳参数，据此进行系统电路参数计算。

在工程设计中，经常采用二阶典型系统来代替高阶系统（如采用主导极点、偶极于等槪念分析问题）其

动态结构图如图7-1所示。同时还经常采用“最优”的综合校正方法。

图7-1二阶典型系统动态结构图

二阶典型系统的开环传递函数为如=為=

闭环传递函数①G）= ----------- 二——r

式中© =

2/KT 或者K逡

R(s)十 ----- A

二阶系统的最优模型

(1)最优模型的条件

根据控制理论，当§ = 0.707 =寻时，其闭环频带最宽，动态品质最奸。把防宁

乙厶代心鳩得到’或“》这就是进行校正的条件。

(2)最优模型的动态指标为

O-% = X100% = 43% , G = — ^ 4.3T

5

三、实验仪器及耗材

1・EL—AT3自动控制原理实验箱一台;

2 . PC机一台；

3.数字万用表一块

4 •配真实验软件一宾。

四.实验内容及要求

未校正系统的方框图如图7-2所示，图7-3是它的模拟电路。

图7・2未校正系统的方框图

未调整电路图

图7・3未校正系统的模拟电路

设计串联校正装賣使系统满足下述性能指标

U3

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1 -

U1

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loakn :

200KQ

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12V

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VCC

12V VCC ...

U2

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加:…

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二 1；V0 V

5- sec 10

矫正后 R3

20QkQ VCC

—

12V VCC

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Q …vcc

R3 1O0KQ R4- 200kO

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VCC

—1

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500 kQ

TF- 1uF

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12V • VE€

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Circuit 1

OPAMP

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5T VIRTUAt

R2 -V'/v ：25DkQ :

5T VIRTUAt

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VCC 12V

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O ・OO3D ^.0000 -T25.69SS-

1.0576 0.0000 O ・0000

(1 )超调量

(3)

静态速度误差系数K y >20 1/秒

1. 测量未校正系统的性能指标 (1) 按图7-3接线；

(2) 加入单位阶跃电压，观察阶跃响应曲线，并测出超调量b%和调节时间I 。 2. 根据系统性能要求设计校正网络 (1) 根据最优系统设计校正网络传递函数； (2) 根据传递函数设计校正网络元件参数。

3. 将设计好的校正网络加入到原系统中去，测畳校正后系统的性能指标 (1) 国出校正后系统的模拟电路，并正确接线；

(2) 加入单位阶跃电压，观察阶跃响应曲线，并测出超调量b%和调节时间丄。 五、系统分析与设计 1. 未校正系统性能分析

原系统开环传递函数为：久(沪巫时

原系统开环增益K ：=20,惯性环节时间常数T 产()・5

对照二阶系统标准式：咔)

、+2必+石

得：验 f 莎=6.32®。为系统的无阻尼自然振荡频率) 又2^0% =2,所以阻尼比:氨=1/%=()」58

未校正系统的超调量b%为：a% = 汐河x 100%〜60%

20

原系统的闭环传递函数为：吋沪时E

40 52 +25 + 40