材料研究方法复习题
材料研究方法复习题
1.Ｘ射线的波长范围大致为多少？Ｘ射线产生的基本原理及X射线管的基本结构（1）0。
0１-1０ｎm(２）高速运动的自由电子被突然减速便产生X射线；(3)X射线管的基本结构：使用最广泛的是封闭式热阴极X射线管，包括一个热阴极(绕成螺线形的钨丝）和一个阳极(靶），窗口，管内高真空（１０—7Ｔorr）2.X射线谱的基本类型及其特点X射线强度 I 随波长λ的变化曲线称为X射线谱，可分为连续X射线(由连续的各种波长组成,其波长与工作条件V、I有关）和特征X射线（又称标识X射线,不随工作条件而变，只取决于阳极靶的物质）。
3.描述X射线于物质的相互作用（俄歇效应和光电效应）课本图3.8补充俄歇效应：当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。
4.X射线衍射的几何条件(布拉格方程或定律)Ｘ射线通过物质（晶体)后衍射线特征包括方向和强度，其中衍射线的方向与晶体的点阵参数（晶胞大小和形状）、入射线的方位及X射线波长有关,具体表现为:劳厄方程式、布拉格定律和倒易空间衍射公式.5.X射线衍射分析的方法主要有哪些？各自的特点是什么？(注意λ和Θ的变化）单晶：劳厄法（λ变，θ不变)；转晶法（λ不变，θ部分变化）粉末：粉末照相法（粉末法或粉晶法) (λ不变,θ变)；粉末衍射仪法(λ不变，θ变化）6.Ｘ射线衍射物相分析的基本原理（Ｉ/Ｉ0、2Θ)X射线衍射线的位置决定于晶胞的形状和大小，即决定于各晶面的晶面间距,而衍射线的强度决定于晶胞内原子种类、数目及排列方式,每种结晶物质具有独特的衍射花样，且试样中不同物质的衍射花样同时出现互不干涉，某物相的衍射强度取决于它在试样中的相对含量，当试样的衍射图谱中d值和I/I0与已知物质的数值一致时，即可判定试样中含有该已知物质.7.说明Ｘ射线衍射仪法定性分析物相组成的基本过程,注意事项及ＰＤＦ卡片的检索方法（1）X射线衍射定性分析是将试样的衍射谱与标准衍射谱进行比较鉴别,确定某种物相的存在以及确定该物相的结晶状态。
材料研究方法复习题库
材料研究方法1.均质体与非均质体介质的折射率不因光波在介质中的振动方向的不同而发生改变，其折射率值只有一个，此类介质属于光性均质体，简称均质体。
介质的折射率因光波在介质中的振动方向的不同而发生改变，其折射率值不止一个，此类介质属于光性非均质体，简称非均质体。
光波入射非均质体时，除特殊方向外，都要发生双折射现象，分解为振动方向垂直、传播速度不同、折射率不等的两种偏光，两者之差为双折射率。
2.正交偏光下晶体的消光现象和四次消光现象。
3.光学显微镜提高分辨能力的方式。
分辨率：d = 1.22λ/2n·sinα所以可以从三个方面提高：①、选用波长较短的光波，如紫外、X射线、电子束等。
②、采用折射率较大的材料，如油浸显微镜。
③、增大显微镜的孔径角，如采用复式透镜4.X射线管的结构、X射线产生原理工作原理X射线管由主要由电子枪阴极和金属靶阳极组成。
高速运动的电子或其他高能辐射流与物体发生碰撞时被突然减速，并与物质内层电子发生作用而产生X-ray。
在X射线管中，在通电时阴极被加热释放自由电子，这些电子在阴阳极的高压下被加速成高能电子束，高速射向阳极靶发生碰撞，由阳极靶产生X射线，经铍窗口射出。
由于高能电子撞击阳极靶后一部分能量转化为X射线，大部分的转化为热能，使得阳极靶温度剧增，因此必须对阳极靶进行冷却，一般采用循环水冷却，也可采用旋转靶材的方法。
5、X射线的线吸收系数和质量吸收系数与波长和原子序数的关系。
μl=μm·ρμm=aλ3+bλ4；μm≈Cλ3Z3μl：当x射线穿过单位长度为1cm物质时强度衰减的程度。
μl越大衰减越大μm：当x射线穿过单位质量物质（单位截面的1g物质时的强度衰减程度，其值与X射线照射的物质的原子序数和X射线波长有关。
波长一定时，其关系表达式为：μm∝Z36、X射线与物质作用后为什么会出现规则斑点、圆环、晕圈？多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环，单晶衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点所组成，而非晶体物质的衍射花样只有一个漫散的中心斑点（晕圈）。
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1.根据下图，试推导Bragg方稈，并对方稈屮主要参数范围的确定进行讨论。
答：1） Bragg方程推导：根据题图，有：相邻两个原子面上的原了散射波光程差6 = AE + AF = ABsin B + ABsin B =2 ABsin B = 2dsin B干涉加强条件是，晶体屮任意相邻两个原了面上的原了散射波在原子面反射方向的相位差为2H 的整数倍，光程差等于波长的整数倍。
因此，干涉加强的条件为：2dsin（）= n 入即Bragg方程。
2）方稈屮主要参数范围的讨论：a.根据布拉格方稈，sin 0不能大于1,因此：n A. /2d =sin B < 1,对衍射而言，n的最小值为1,所以在任何可观测的衍射角下，产生衍射的条件为X<2d, 这也就是说，能够被晶体衍射的电磁波的波长必须小于参加反射的晶面屮最大血间距的二倍，否则不能产生衍射现彖。
b.当x射线波长一定时，晶体屮存在可能参加反射的晶面族也是有限的，它们必须满足d> X /2,即只有那些晶面间距大于入射x射线波长一半的晶面才能发生衍射2.什么是X射线谱，连续X射线谱的产生机理是什么？答：1） X射线谱：x射线的强度随波长而变化的|11|线称为X射线谱。
2）具有连续波长的X射线，构成连续X射线谱，其产生机理为：能量为讯的电了与阳极靶的原子碰撞时，电子失去白己的能量，其屮部分以光子的形式辐射，碰撞一次产生一个能量为hv 的光了，这样的光了流即为X射线。
单位时间内到达阳极靶面的电了数忖是极大量的, 绝大多数电了要经历多次碰撞，产生能量各不相同的辐射，因此出现连续X射线谱。
3.写出标识X射线谱的波长与阳极物质原子序数间的对应关系（莫塞莱定律），说明莫塞莱定律的意义。
答：1）莫塞莱定律：标识X射线谱的波长入与原了序数Z关系为：7/ A =K/（Z Y）22）莫塞莱定律的意义：莫塞莱定律指出了标识X射线谱的波长入与阳极物质原子序数Z的关系，莫塞莱定律是X射线光谱分析屮的重要理论基础。
材料研究与测试方法复习资料 (含答案)
填空题(每空1分)1.当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱X 射线和 特征谱 X 射线。
2. 点阵常数测定过程中需要确定峰位，确定峰位的常用方法有峰顶法 、 切线法 、半高宽法，和抛物线拟合法 。
3. 经过厚度为H 的物质后，X 射线的强度为 H H m e I I ρμ-=0 。
4. X 射线扫描仪中的常规测量中的实验参数包括狭缝宽度、扫描速度和 时间常数 。
5. 磁透镜的物距L 1，相距L 2和焦距f 三者之间的关系为 。
6. 透射电镜样品制备各方法主要有复型法、和薄膜法，其中复型样品制备中塑料-碳二的复型优于碳一的 复型是由于 其制备过程不损坏金相试样表面，重复性好，供观察的第二级复型一碳膜导电导热性好， 在电子束照射下较为稳定 。
7. 差热分析曲线总的峰高表示 试样和 参比物 之间的最大温差，即从封顶到该峰所在基线碱的垂直距离。
8. 第一类应力导致X 射线衍射线位移，第二类应力导致X 射线衍射线线形变化，第三类应力导致X 射线衍射线 强度降低。
9. 红外光谱法定量分析的具体方法主要有 标准法 、吸光度比法 和 补偿法 共同组成。
10.单晶体电子衍射花样是规则的衍射斑点组成。
11. 大量实验证明，X 射线具有波动性和微粒性 的双重性，即波粒二象性。
12. 布拉格方程式衍射分析中最基本的公式，其应用主要集中在 结构分析 和成分分析两个方面。
13.由于X 射线的发展，相继产生了X 射线透射学 、 X 射线衍射学 和 X 射线光谱学 等三个学科。
14.提高透镜分辨率的本领 波长 ， 介质 和 孔径半角 。
15. 电磁透镜的几何像差包括 球差和 像散，而电子束波长的稳定性决定的像差为色差 。
16. 透射电镜主要有电子光学系统、电源控制系统和 真空系统构成。
17. 非弹性散射机制主要有 单电子激发 、 等离子激发 、和 声子激发 。
18. 透射电镜的主要性能指标分辨本领、 放大倍数 、和 加速电压 。
材料研发考试试题答案
材料研发考试试题答案一、选择题1. 在材料研发中，以下哪种方法不常用于材料性能的测试？A. 光谱分析B. 电子显微镜观察C. 热重分析D. 光合作用测试答案：D2. 金属材料的硬度测试通常采用哪种方法？A. 拉伸测试B. 布氏硬度测试C. 夏比冲击测试D. 疲劳测试答案：B3. 聚合物材料的玻璃化转变温度（Tg）是指：A. 聚合物从固态到液态的温度B. 聚合物从液态到气态的温度C. 聚合物硬度发生显著变化的温度D. 聚合物从弹性状态变为塑性状态的温度答案：D4. 纳米材料的研发中，以下哪种技术不用于纳米粒子的制备？A. 溶胶-凝胶法B. 物理气相沉积C. 化学气相沉积D. 电化学合成答案：B5. 材料的疲劳性能是指材料在：A. 长期静载荷作用下不发生破坏的能力B. 反复应力作用下不发生破坏的能力C. 短期高载荷作用下不发生破坏的能力D. 高温环境下保持稳定性的能力答案：B二、填空题1. 材料的_________是指材料在受到外力作用时，单位面积上所能承受的最大拉伸力。
答案：抗拉强度2. 在进行材料的热分析时，差示扫描量热法（DSC）主要用于测定材料的_________和相变温度。
答案：热容3. 材料的耐腐蚀性能通常通过_________测试来评估，该测试可以模拟材料在特定环境下的耐蚀性。
答案：盐雾4. 为了提高材料的强度和韧性，常常采用_________处理的方法，以获得更好的力学性能。
答案：热处理5. 材料的微观结构可以通过_________来观察，该技术可以提供材料内部结构的详细信息。
答案：扫描电子显微镜（SEM）三、简答题1. 简述材料研发中聚合物材料的主要用途及其性能特点。
答：聚合物材料广泛应用于包装、汽车、电子、医疗等领域。
其性能特点包括轻质、耐腐蚀、可塑性强、绝缘性好、耐冲击等。
此外，通过改变聚合物的分子结构和配方，可以设计出具有特定性能的聚合物，如耐高温、高强度、高韧性等。
2. 说明材料研发中纳米材料的潜在应用及其带来的挑战。
材料研究方法试卷A答案
材料研究方法试卷A答案The document was finally revised on 2021一、名词解释（每题5分，共20分）1、短波限各种管电压下的连续X射线谱都具有一个最短的波长值，该波长值称为短波限。
2、光电效应光电效应是入射X射线的光量子与物质原子中电子相互碰撞时产生的物理效应。
当入射光量子的能量足够大时，可以从被照射物质的原子内部（例如K壳层）击出一个电子，同时外层高能态电子要向内层的K空位跃迁，辐射出波长一定的特征X射线。
这种以光子激发原子所发生的激发和辐射过程称为光电效应。
3、相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射电磁波，这些散射波之间符合波长相等、频率相同、位相差相同的光的干涉条件，故称相干散射。
4、球差球差即球面像差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差。
二、简答题（每题10分，共40分）1、实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？答：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。
选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉Kβ线。
滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。
分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，它们的分别相应选择Fe和Mn为滤波片。
2、比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法、直接比较法和全谱拟合法的优缺点？答：外标法就是待测物相的纯物质作为标样以不同的质量比例另外进行标定，并作曲线图。
外标法适合于特定两相混合物的定量分析，尤其是同质多相（同素异构体）混合物的定量分析。
内标法是在待测试样中掺入一定量试样中没有的纯物质作为标准进行定量分析，其目的是为了消除基体效应。
材料研究方法考试
1、相比于纯铜而言，青铜具有哪些明显的优点？答：更坚韧，更耐磨。
2、请分别画出传统材料与环境材料的材料-环境系统示意图。
3、请画出材料科学与工程学科的四要素（四面体）。
请用该四面体来分析不锈钢和普通碳钢这两种材料。
答：性能：不锈钢密度略低于普通碳钢，而电阻率高于普通碳钢，不锈钢的线膨胀系数较大，而热导率较低。
不锈钢具有焊接性，耐腐蚀性，抛光性。
结构成分：普通碳钢的质量分数小于2.11%而不含有特意加入的合金元素，即以铁，碳，锰为主要元素的合金，所以机械性能通常不如合金钢；不锈钢隶属于合金钢范畴，一种高合金钢，含有大量的铬，还有的含有大量的镍和一定量的钛。
铬的作用就是让钢具有耐腐蚀性，镍的作用是降低不锈钢的奥氏体化温度。
合金元素的总含量可达到10~28%，所以它是高合金钢。
制备加工：普通碳钢：的冶炼通常在转炉、平炉中进行。
转炉一般冶炼普通碳素钢，而平炉可以冶炼各种优质钢。
近年来氧气顶吹转炉炼钢技术发展很快，有趋势可代替平炉炼钢。
不锈钢：在钢的冶炼是加入适当的铬、镍、钛等元素，这些元素的含量决定了不锈钢的牌号及防锈性能，冶炼好浇铸或连铸成毛坯，再经过轧机轧成各种规格的钢板及型材，轧好的钢板及型材还可以在表面进行拉丝和抛光处理，改善外观效果。
4、什么是纳米材料？材料的纳米效应有哪些？请举例说明其中的“量子效应”。
答：纳米材料是指在三维空间中至少有一维处于纳米尺寸(0.1-100 nm)或由它们作为基本单元构成的材料，这大约相当于10~100个原子紧密排列在一起的尺度。
纳米效应：尺寸、晶界、量子→纳米结构表征。
美国1995年提出麻雀卫星，重量不足10千克，用纳米材料制造，采用微机电体化集成技术整合。
若在太阳同步轨道. 上布置648颗纳米卫星，就可以全面监视地球。
5、材料科学有哪些共性规律？答：1、晶体学结构规律；2、材料缺陷与强度；3、材料的相变原理；4、材料的形变与断裂；5、材料的强韧化原理6、材料设计的主要途径有哪些？答：根据服役条件确定性能要求→依据知识选择材料→设计相应工艺确定工艺参数→检测组织测试性能→达到设计要求进行实际试验→根据失效分析改进技术方案7、什么是纳米材料？材料的纳米效应有哪些？请举例说明其中的“小尺寸效应”。
材料研究方法复习题2011
一、名词解释：1）短波限连续X 射线谱的X 射线波长从一最小值向长波方向伸展，该波长最小值称为短波限。
P7。
2）质量吸收系数指X 射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X 射线吸收性质的物理量。
P12。
3）吸收限吸收限是指对一定的吸收体，X 射线的波长越短，穿透能力越强，表现为质量吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。
每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。
P12。
4）X 射线标识谱当加于X 射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值k U 时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为X 射线标识谱。
P9。
5）连续X 射线谱线强度随波长连续变化的X 射线谱线称连续X 射线谱线。
P7。
6）相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X 射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X 射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。
P14。
7）闪烁计数器闪烁计数器利用X 射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进行测量。
P54。
8）标准投影图对具有一定点阵结构的单晶体，选择某一个低指数的重要晶面作为投影面，将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。
P99。
9）结构因数在X 射线衍射工作中可测量到的衍射强度HKL I 与结构振幅2HKL F 的平方成正比，结构振幅的平方2HKL F 称为结构因数。
P34。
10）晶带面（共带面）晶带轴我们说这些相交于平行直线的一组晶面属于同一晶带，称晶带面或共带面，其交线即为晶带轴。
P99。
11）选择反射镜面可以任意角度反射可见光，但X 射线只有在满足布拉格方程的θ角上才能发生反射，因此，这种反射亦称选择反射。
材料研究方法知识题库及答案
材料研究方法知识题库及答案1、【单选题】由于近轴光线和远轴光线的折射程度不同,导致平面物体经透镜后形成曲面状的像称为( )A、像差B、球差C、像场弯曲D、色差答案：像场弯曲--------------------------------2、【单选题】由于透镜的中心区域和边缘区域对光的折射能力不符合预定规律而造成的图像模糊现象称为( )。
A、像差B、球差C、像散D、色差答案：球差--------------------------------3、【单选题】因光源的( )而导致图像模糊不清的现象称为色差。
A、波长长B、波长短C、波长有差异答案：波长有差异--------------------------------4、【单选题】光学显微镜具有( )放大功能。
A、一级B、二级C、三级答案：二级--------------------------------5、【单选题】成像物体上能分辨出来的两物点间的最小距离称为( )A、分辨率B、有效放大倍数C、景深答案：分辨率--------------------------------6、【单选题】光学显微镜的极限分辨能力为( )。
A.400nmB.400μmC.200nmD.200μm答案：C--------------------------------7、【单选题】金相显微镜的物镜放大倍数为100倍时,其景深有可能是( )A、1nmB、1μmC、1cmD、1dm答案：1μm--------------------------------8、【单选题】硬度最高的磨料是( )。
A、氧化铝B、氧化镁C、氧化锆D、碳化硅答案：碳化硅--------------------------------9、【单选题】取样后,对金相磨面方向没有要求的材料是( )。
A、轧制钢板B、渗碳小工件C、薄壁铸件D、经均匀化退火后的大型工件答案：经均匀化退火后的大型工件--------------------------------10、【多选题】会导致景深变小的因素有( )。
《材料现代研究方法》复习题及答案
10．在选择滤波片时，当靶材原子序数Z靶＜40时，Z滤波片=（Z靶-1）；
Z靶≥40时，Z滤波片=（Z靶-2）
11．德拜相机底片的安装方法包括（正装法）、（反装法）、（不对称安装），其中（不对称安装）比较常用。
12．X-Ray衍射仪的结构主要包括（X-Ray发生装置）、（测角仪）、（X-Ray探测器）、（记录系统）。
七试推导内标法的基本公式并说明其意义。
设n个相的质量分别为W1 W2 W3…..Wn，总质量为W= W1+W2+W3…..+Wn，试样中加入的标准物质为S，其质量为Ws。第j相质量为Wj。 为第j相在为加入标准物质时的质量分数， ，为加入标准物质之后的质量分数， 为s相在新式样中的质量分数。
，
则 ，
4．什么是热分析参比物？选用原则是什么？经常用的参比物有哪些？
参比物是在测定条件下不产生任何热效应的惰性物质，应选择整个测温范围无热反应、比热与导热性及粒度与试样相近的作为参比物，如α－Al2O3（经1270K煅烧的高纯氧化铝粉，α－Al2O3晶型）
5.什么是磁透镜的像差？有哪些种类？其形成原因和减少的措施是什么？
名词解释有错的地方说一下啊
x-ray强度：单位时间内通过垂直于X-ray传播方向的单位截面的X-ray的能量
吸收限:物质的质量吸收系数随波长 变化发生突变时的临界波长
结构消光：由两个以上等同点构成的复杂晶体，除了遵守各自所属的点阵消光外还会附加的消光
景深：成像时像平面不动，在满足成像清晰的前提下，物平面沿轴线前后可移动的距离
像差是指从物平面上一点散射出来的电子束不一定全部汇聚一点，或物平面上各点并不是按比例成像于同一像平面而导致图像模糊不清或与原物几何形状不成比例的现象。包括几何相差和色差。几何相差主要包括球差和像散。球差是由于电磁透镜磁场对近轴电子和远轴电子的会聚能力不同引起的，可通过减小电磁透镜孔径角来改善。像散是由于透镜的磁场不是旋转对称磁场引起的，可加装消像散器来改善。色差是由于入射电子的波长不单一引起的，可通过稳定电压与电流、减小试样厚度来改善。
材料研究方法重点习题
《材料研究方法》课后习题答案第1章1、材料是如何分类的？材料的结构层次有哪些？答：材料按化学组成和结构分为：金属材料、无机非金属材料、高分子材料、复合材料；按性能特征分为：结构材料、功能材料；按用途分为：建筑材料、航空材料、电子材料、半导体材料、生物材料、医用材料。
材料的结构层次有：微观结构、亚微观结构、显微结构、宏观结构。
2、材料研究的主要任务和对象是什么，有哪些相应的研究方法？答：任务：材料研究应着重于探索制备过程前后和使用过程中的物质变化规律，也就是在此基础上探明材料的组成(结构)、合成(工艺过程)、性能和效能及其之间的相互关系，或者说找出经一定工艺流程获得的材料的组成(结构)对于材料性能与用途的影响规律，以达到对材料优化设计的目的，从而将经验性工艺逐步纳入材料科学与工程的轨道.研究对象和相应方法见书第三页表格。
3、材料研究方法是如何分类的？如何理解现代研究方法的重要性？答：按研究仪器测试的信息形式分为图像分析法和非图像分析法；按工作原理，前者为显微术，后者为衍射法和成分谱分析。
§1-3.材料研究方法是如何分类的？如何理解现代研究方法的重要性？答：（ 1）现代材料研究方法主要采用仪器分析的手段，它们按信息形式可分为图象分析法和非图象分析法。
图像研究法是材料结构分析的重要研究手段，主要分为形态学和体视学研究。
形态学是研究材料中组成相的几何形状及其变化，进一步探究它们与生产工艺及材料性能间关系的科学。
体视学是研究材料中组成相的二维形貌特征，通过结构参数的测量，确定各物相三维空间的颗粒的形态和大小以及各相百分含量。
非图像分析法分为衍射法和成分谱分析，前者主要用来研究材料的结晶相及其晶格常数，后者主要测定材料的化学成分。
衍射法包括 X 射线衍射、电子衍射和中子衍射等三种分析方法。
成分谱用于材料的化学成分分析，成分谱种类很多，有光谱，包括紫外光谱、红外光谱、荧光光谱、激光拉曼光谱等，色谱，包括气相色谱、液相色谱、凝胶色谱等，热谱，包括差热分析仪、热重分析仪、示差扫描量热计等；此外，还有原子吸收光谱，质谱等。
材料研究与测试方法复习题答案版
材料研究与测试方法复习题答案版材料研究与测试方法复习题答案版复习题一、名词解释1、系统消光: 把由于F HKL=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。
2、X射线衍射方向: 是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。
3、Moseley定律：对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。
4、相对强度：同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。
5、积分强度：扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。
6、明场像暗场像：用物镜光栏挡去衍射束，让透射束成像，有衍射的为暗像，无衍射的为明像，这样形成的为明场像；用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束，让一束强衍射束成像，则无衍射的为暗像，有衍射的为明像，这样形成的为暗场像。
7、透射电镜点分辨率、线分辨率：点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离；线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。
8、厚度衬度:由于试样各部分的密度(或原子序数)和厚度不同形成的透射强度的差异；9、衍射衬度：由于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同形成的衍射强度的差异；10相位衬度：入射电子收到试样原子散射，得到透射波和散射波，两者振幅接近，强度差很小，两者之间引入相位差，使得透射波和合成波振幅产生较大差异，从而产生衬度。
11像差：从物面上一点散射出的电子束，不一定全部聚焦在一点，或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面，结果图像模糊不清，或者原物的几何形状不完全相似，这种现象称为像差球差：由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的汇聚能力不同造成的像散：由于透镜磁场不是理想的旋转对称磁场而引起的像差色差：由于成像电子的波长（或能量）不同而引起的一种像差12、透镜景深：在不影响透镜成像分辨本领的前提下，物平面可沿透镜轴移动的距离13、透镜焦深：在不影响透镜成像分辨本领的前提下，像平面可沿透镜轴移动的距离14、电子衍射：电子衍射是指当一定能量的电子束落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电子波之间产生互相干涉现象。
2016年材料研究方法期末复习
2016年材料研究方法期末复习试题类型名词解释（2分*8个=16分）填空题（1分*30个=30分）简答题（6分*5个=30分）谱图解析（7分*2个=14分）综合分析题（10分*1个=10分）第1章绪论1. 聚合物结晶度测定的方法有哪些？X射线衍射法，电子衍射法，核磁共振，红外吸收，密度法，热分析法等2. 高分子分子量测定方法包含哪些？溶液光散射法，凝胶渗透色谱法，粘度法，扩散法，渗透压法，沸点升高法，端基滴定法等3. 哪种方法能够同时测定聚合物的分子量和分子量分布？凝胶渗透色谱4. 测定聚合物转变和运动方法的类型有哪些？●体积变化的测定：膨胀计，折射率测定。
●热学性质的测定：差热分析(DTA)，差示扫描量热法(DSC)●力学性质的测定：热机械法，应力松弛法。
●动态测量法：动态模量和内耗。
5. 高分子分离的三种基本方法。
三种：溶解-沉淀分离法、索氏提取法、真空蒸馏法。
✧作业5. 高分子分离的三种基本方法。
6.设计一种简单的方法测定丙烯酰胺溶液聚合过程中转化率？醋酸乙烯酯的乳液聚合过程中如何测定转化率？第2章化学分析1. 名词解释酸值：是指中和1g试样所消耗的KOH的mg数，它表征了试样中的游离酸的含量皂化值：1g试样中的酯基(包括游离酸)反应所需要的KOH的毫克数。
羰值：肟化1g试样所需的羟胺相当于KOH的毫克数。
羟值：1g试样所含羟基相当于KOH的毫克数。
碘值：指与100g试样反应所消耗的碘的克数。
是高分子材料不饱和程度的量度。
环氧值：100g环氧树脂中所含有的环氧基团的摩尔数。
2. 如何测定聚乙烯醇溶液的含量和残留醋酸乙烯酯含量？（如何测定PVA的醇解度？）1）定量分析①聚乙烯醇含量比色分析取2mL中性或弱酸性的PVA溶液，在20℃加入80mL 0.003M碘和0.32M硼酸的混合溶液，混合后测量在670nm 的光密度。
同时配制已知浓度的溶液作为参比，此法误差对于浓度不小于60 μg/mL 的PVA 为±3.4%。
材料科学研究方法复习题
复习题（2015）1、归纳与演绎法、分析与综合法、类比与移植法、系统与优化法、假说与理论法，特别注意各研究方法的特点、分类及事例应用等。
归纳与演绎法：归纳是从特殊到一般；演绎是从一般到特殊。
（1）归纳法：通过简单枚举某类事物中的一部分对象都具有某种属性，而又没有观察到相反的事例，由此推及全体,概括出该类事物的所有对象都具有此种属性。
分类：（Ⅰ）完全归纳法（Ⅱ）不完全归纳法：①简单枚举法②科学归纳法：Ⅰ求异法Ⅱ求同法Ⅲ同异并用法Ⅳ剩余法Ⅴ共变法。
（2）演绎法：从已知的一般原理、定理、法则、公理或科学概念出发，推论出某些事物或现象具有某种属性或规律的新结论的一种科学研究方法。
1.归纳与演绎之间是一个辩证的关系，是一个对立统一的关系。
2.两者相互联系，相互依赖，相互补充和相互渗透。
3.归纳和演绎在一定条件下会互相转化。
分析与综合法：（1）分析的作用与特点：分析就是把研究对象分解成几个组成部分，然后分别加以研究，从而认识事物的基础或本质的一种科学研究方法。
分析方法是以客观事物的整体与部分的关系为客观基础的。
在于它从事物的整体深入到它的各个组成部分，通过深的认识事物的各个组成部分来认识事物的内在本质或整体规律。
（2）综合的作用与特点：综合方法：把研究对象的各个部分联系起来加以研究，从而在整体上把握事物的本质和规律的一种科学研究方法。
综合方法在思维方式上的特点:它把事物的各个部分连接为整体时，力求通过全面掌握事物各部分、各方面的特点以及它们之间的内在联系，然后加以概括和上升，从事物各部分及其属性、关系的真实联结和本来面目，复现事物的整体，综合为多样性的统一体。
类比与移植法：（1）类比法：通过两个或两类事物或现象进行比较，根据相似点或相同点推论出它们的其他属性或规律，也可能有相似点或相同点的结论。
这是以比较为基础，既包含从特殊到特殊，又包含从一般到一般的逻辑思维方法。
分类：①数学相似类比法：根据对象的属性之间具有某种确定的函数变化关系来进行推理。
材料研究方法试题库
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）射线透射学；射线衍射学；射线光谱学；D.其它2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）A.Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）A．Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A.光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。
（）2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。
（）3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
（）4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
（）三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 X射线和 X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。
3. 经过厚度为H的物质后，X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是，具有性。
5. 短波长的X射线称，常用于；长波长的X射线称，常用于。
习题1.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？2.分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”？4.X射线的本质是什么？它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在？用哪些物理量描述它？5.产生X射线需具备什么条件？6.Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？7.计算当管电压为50 kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
材料研究方法_试卷A
试题纸（A）课程名称：材料研究方法（二）专业年级：考生学号：考生姓名：………………………………………………………………………………………………………一．填空：（每空2分，共20分）1、透射电子显微镜有三种光阑，依次为聚光镜光阑，物镜光阑和选区光阑。
透射电镜的成像系统包括三个电磁透镜依次为物镜，中间镜和投影镜。
2、由于试样的厚度以及成分不同导致电子散射不同，从而产生强度差异，形成的衬度，称为质厚衬度。
由于试样各部分满足布拉格条件的程度不同，在成像过程中，电子衍射起主导作用，引起的强度差异所形成的衬度称衍射衬度。
3、扫描电镜的主要优点在于它有高分辨率和高放大倍数，除此之外，扫描电镜还有大的景深，可以观察凸凹不平表面的细微结构。
二、选择题（30分，每题3分）1、体心立方的消光条件是_c_____a) h+k+l 为偶数， b)h、k、l同奇或同偶， c) h+k+l 为奇数，d)都不是2、在面心立方中，当___d_____时，对应晶面的衍射斑点不出现。
a) h+k+l 为偶数， b)h、k、l同奇或同偶， c) h+k+l 为奇数，d) h、k、l有奇有偶3、支持膜或复型薄膜不应该显示出__d____.a) 导电性， b)一定的机械强度， c)化学稳定性，d)自身组织结构4、对第二相的形状、大小以及分布进行分析的复型方法是____c______a)碳一级复型， b)塑料一级复型， c)萃取复型，d) 塑料-碳二级复型5、扫描电镜中，背散射电子像与吸收电子像的衬度____d________a)相同， b)可能相同也可能不同， c)没有关系，d) 互补6、单晶体材料衍射花样特点（b）a）半径不同衍射圆环，b)衍射斑点, c)漫散中心斑点 d)几个同心晕圆1）分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系，并画出光路图。
样品物镜中间镜投影镜成像操作需要把中间镜的物平面与物镜的像平面重合，而衍射操作则是中间镜的物平面与物镜的背焦面重合2）画出中心暗场像形成的光路图，并加以文字说明其形成原理。
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第一章一、选择题１、用来进行晶体结构分析得Ｘ射线学分支就是( ）A、X射线透射学；B、X射线衍射学;C、X射线光谱学；D、其它2、Ｍ层电子回迁到K层后,多余得能量放出得特征X射线称（）A.Kα；B、Ｋβ;C、Kγ；D、Lα.3、当X射线发生装置就是Cｕ靶，滤波片应选（)A．Cu；B、Ｆe;C、Ni;D、Mo.4、当电子把所有能量都转换为X射线时,该Ｘ射线波长称( )A.短波限λ0;Ｂ、激发限λk;C、吸收限;D、特征X射线5、当X射线将某物质原子得K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（)(多选题)A.光电子;B、二次荧光；C、俄歇电子;Ｄ、（A+Ｃ）二、正误题1、随X射线管得电压升高，λ０与λk都随之减小。
（)２、激发限与吸收限就是一回事，只就是从不同角度瞧问题。
( )3、经滤波后得Ｘ射线就是相对得单色光.（）４、产生特征X射线得前提就是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5、选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
( )三、填空题１、当X射线管电压超过临界电压就可以产生Ｘ射线与X射线。
2、X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、.3、经过厚度为H得物质后，X射线得强度为。
4、X射线得本质既就是也就是,具有性。
5、短波长得X射线称，常用于；长波长得X射线称，常用于.习题1.X射线学有几个分支？每个分支得研究对象就是什么？2.分析下列荧光辐射产生得可能性，为什么？（1）用CuＫαＸ射线激发CｕＫα荧光辐射；(２)用CuＫβＸ射线激发CｕKα荧光辐射；(3)用CuKαＸ射线激发CuＬα荧光辐射。
3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”？4.X射线得本质就是什么？它与可见光、紫外线等电磁波得主要区别何在？用哪些物理量描述它?5.产生X射线需具备什么条件？6.Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性与波动性分别表现在哪些现象中？7.计算当管电压为50 kv时,电子在与靶碰撞时得速度与动能以及所发射得连续谱得短波限与光子得最大动能.8.特征X射线与荧光X射线得产生机理有何异同？某物质得Ｋ系荧光X射线波长就是否等于它得K系特征Ｘ射线波长？9.连续谱就是怎样产生得?其短波限与某物质得吸收限有何不同(V与V K以kv为单位）？10.Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何？对x射线分析有何影响？反冲电子、光电子与俄歇电子有何不同？11.试计算当管压为50kv时,Ⅹ射线管中电子击靶时得速度与动能,以及所发射得连续谱得短波限与光子得最大能量就是多少？12.为什么会出现吸收限?K吸收限为什么只有一个而Ｌ吸收限有三个?当激发X系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L系？当L系激发时能否伴生K系？13.已知钼得λKα=０、71Å,铁得λKα＝1、93Å及钴得λＫα=1、79Å，试求光子得频率与能量。
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1.X射线的波长范围大致为多少？X射线产生的基本原理及X射线管的基本结构（1）0.01-10nm（2）高速运动的自由电子被突然减速便产生X射线；（3）X射线管的基本结构：使用最广泛的是封闭式热阴极X射线管，包括一个热阴极（绕成螺线形的钨丝）和一个阳极（靶），窗口，管内高真空（10-7Torr）2.X射线谱的基本类型及其特点X射线强度 I 随波长λ的变化曲线称为X射线谱，可分为连续X射线(由连续的各种波长组成，其波长与工作条件V、I有关)和特征X射线(又称标识X射线，不随工作条件而变，只取决于阳极靶的物质)。
3.描述X射线于物质的相互作用（俄歇效应和光电效应）课本图3.8补充俄歇效应：当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。
4.X射线衍射的几何条件（布拉格方程或定律）X射线通过物质（晶体）后衍射线特征包括方向和强度，其中衍射线的方向与晶体的点阵参数（晶胞大小和形状）、入射线的方位及X射线波长有关，具体表现为：劳厄方程式、布拉格定律和倒易空间衍射公式.5.X射线衍射分析的方法主要有哪些？各自的特点是什么？（注意λ和Θ的变化）单晶：劳厄法（λ变，θ不变）；转晶法（λ不变，θ部分变化）粉末：粉末照相法（粉末法或粉晶法） (λ不变，θ变)；粉末衍射仪法（λ不变，θ变化）6.X射线衍射物相分析的基本原理（I/I0、2Θ）X射线衍射线的位置决定于晶胞的形状和大小，即决定于各晶面的晶面间距，而衍射线的强度决定于晶胞内原子种类、数目及排列方式，每种结晶物质具有独特的衍射花样，且试样中不同物质的衍射花样同时出现互不干涉，某物相的衍射强度取决于它在试样中的相对含量，当试样的衍射图谱中d值和I/I0与已知物质的数值一致时，即可判定试样中含有该已知物质。
7.说明X射线衍射仪法定性分析物相组成的基本过程，注意事项及PDF卡片的检索方法（1）X射线衍射定性分析是将试样的衍射谱与标准衍射谱进行比较鉴别，确定某种物相的存在以及确定该物相的结晶状态。
其过程为：获得试样的衍射图谱——求d值和I/I0值——查索引——核对卡片。
（2）注意事项：1）d值的数据比相对强度的数据重要，d值一般要到小数点后第二位才允许有误差；2）低角度区域的数据比高角度区域的数据重要；3）了解试样的来源、化学成分和物理特性对作出正确结论十分有帮助；4）进行多样混合试样分析时要多次核对，若某些物质含量少，只出现一两条衍射线，以致无法鉴定；5）尽量与其它方法结合起来使用，如偏光显微镜、电子显微镜等；6）从目前所应用的粉末衍射仪看，绝大部分仪器均是由计算机进行自动物相检索过程，需结合专业人员的丰富专业知识，判断物相，给出正确的结论。
（3）检索方法：字母索引：对已知物质，按物质英文名称的字母顺序排列；哈那瓦特法（Hanawalt method）：未知矿物，三强线或数值索引；芬克索引（Fink method）8.何为X射线和荧光X射线？（1）X射线的产生见第一题（2）当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生荧光X射线，其能量等于两能级之间的能量差。
9.X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途（1）荧光X射线的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。
测出荧光X射线的波长或能量,就可以知道元素的种类(定性分析基础)。
此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系(定量分析基础)。
（2）定性分析：根据荧光X射线的波长或能量可以确定元素的组成。
定量分析：定量分析的依据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Wi成正比。
10.X射线分析的主要用途（物相分析、晶体结构分析）11.电子和固体物质相互作用可以产生哪些物理信号？各有何特点？（1）二次电子；对试样状态非常敏感，显示表面微小的形貌结构非常有效，所成的电子像分辨率高，是扫描电镜中的主要手段。
（2）背散射电子：能量较高，但背散射电子像的分辨率较低。
（3）透射电子：能量损失情况视试样厚薄而定，较薄时大部分为弹性散射电子，成像比较清晰，电子衍射斑点比较明锐；试样较厚时，成像清晰度降低。
（4）吸收电子：入射电子经多次非弹性散射后能量损失殆尽，被试样吸收，这种电子称为吸收电子。
（5）特征能量损失电子：入射电子激发等离子后就要损失能量，损失能量后的电子称为特征能量损失电子。
（6）特征X射线：当电子轰击试样原子核内层电子时，原子处于激发状态，高能级的电子跃迁到低能级，释放特征X射线等。
12.电子显微镜的原理（放大及分辨率）和主要类型电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号分析试样的微区形貌、晶体结构和化学组成，主要有透射电镜TEM、扫描电镜SEM、电子探针EPMA等。
13.TEM的原理和方法（1）TEM使用电子束作为照射源，透射电子为成像电子信号。
（2）入射电子束（照明束）有两种主要形式：平行束：透射电镜成像及衍射；会聚束：扫描透射电镜成像、微分析及微衍射。
14.TEM的样品制备及主要类型经悬浮分散的超细粉末颗粒(支持膜法)——直接样品；材料薄膜(晶体薄膜法和超薄切片法) ——直接样品；复型膜：将材料表面或断口形貌复制下来——间接样品15.图像衬度的概念图像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。
由于图像上不同区域间存在明暗程度的差别即衬度的存在，才使得我们能观察到各种具体的图像。
包括厚度衬度、衍射衬度、相位差衬度16.TEM的主要图像衬度（质厚衬度和衍射衬度）17.TEM的特点及主要用途（1）TEM是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜，是观察和分析形貌组织结构的有效工具，利用附件也可以进行微区成分分析。
（2）分析固体颗粒的的形状、大小及粒度分布等；研究由表面起伏现象表现的微观结构；研究试样中各部分对电子散射能力有差异的微观结构；研究金属薄膜及其它晶态物质薄膜中各种对电子衍射敏感的结构。
18.SEM的基本原理SEM是利用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像，试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子等，其中二次电子是最主要的成像信号。
19.SEM的结构和特点（与TEM对比）（1）由电子光学系统（镜筒）、偏转系统（扫描系统）、信号探测放大系统、图像显示记录系统、真空系统和电源系统等。
作用：使电子束产生横向偏转，包括用于形成光栅状扫描的扫描系统，以及使样品上的电子束间断性消隐或截断的偏转系统。
偏转系统可以采用横向静电场，也可采用横向磁场。
（2）可直接观察直径10-30mm大块试样，制样方法简单；场深大（景深大），适用于粗糙表面和断口形貌分析观察，图像富有立体感、真实感、易于识别和解释；放大倍数变化范围大，一般为15-20万倍，最大可达30万倍，对于多相、多组成的非均质体材料，便于低倍下的普查和高倍观察分析；具有相当的分辨率，一般为3-6nm，最高可达2nm，但对样品苛求；可以通过电子学方法，有效地控制和改善图像的质量；可进行多种功能的分析：配X射线谱仪进行微区成分分析；配光学显微镜和单色仪进行阴极发光研究等；可使用加热、冷却和拉伸等对样品进行动态试验，观察样品各种环境条件的相变和形态变化。
20.SEM图像衬度的产生原因、类型及主要特点（1）SEM像衬度的形成主要基于样品微区如表面形貌、原子序数、晶体结构、表面电场和磁场等方面存在着差异。
入射电子与之相互作用，产生各种特征信号，其强度就存在着差异，最后反映到显像管荧光屏上的图像就有一定的衬度。
（2）表面形貌衬度；映试样表面形貌特点，分辨率高，无明显阴影效应，场深大，立体感强，适用于粗糙表面及断口的形貌观察。
（主要为二次电子扫描图像）原子序数衬度：原子序数大，亮度高。
（主要为背散射电子、吸收电子图像）21.SEM在材料研究的主要用途（1）形貌相研究：适用于微细矿物材料的形态、解理、晶面花纹、生长纹、断口及裂理纹等表面特征和矿物颗粒的空间关系等。
（2）成分相的研究——WDS或EDS附件：通过点扫描、线扫描和面扫描等方式分析具有色差、色带材料的成分差异。
22.电子探针分析的基本原理电子探针仪是一种微区成分分析仪器，它利用被聚焦成小于1μm的高速电子束轰击样品表面，由X射线波谱仪或能谱仪检测从试样表面有限深度和侧向扩展的微区体积内产生的特征X射线的波长和强度，得到1μm3微区的定性或定量的化学成分。
23.电子探针的主要分析方法（1）电子探针的点分析：利用电子探针可以对试样某一点（微区）进行定性或半定量成分分析，以确定该点存在的元素及其大致含量。
（2）电子探针线分析：使聚焦电子束在试样观察区内沿一选定直线（穿越粒子或界面）进行慢扫描。
（3）电子探针面分析：聚焦电子束在试样上作二维光栅扫描，X射线谱仪处于能探测某一元素特征X射线状态，用谱仪输出的脉冲信号调制同步扫描的显象管亮度，在荧光屏上得到由许多亮点组成的图象，根据图象上亮点的疏密和分布，可确定元素在试样中的分布情况。
24.能谱分析和波谱分析的异同（1）同：检测特征X射线的波长和强度是由X射线谱仪(波谱仪或能谱仪)来完成的。
（2）异：1）波长分散谱仪入射电子束激发样品产生的特征X射线是多波长的。
波谱仪利用某些晶体对X射线的衍射作用来达到使不同波长分散的目的。
X射线光子能量展谱的。
2）探测效率：EDS远远大于WDS；3）分辨率：EDS谱峰易重叠，谱峰宽，数据处理方法复杂；4）分析速度：EDS快，WDS慢；5）分析能力：WDS分析元素范围广，Be-U，探测极限小，EDS可分析Na-U，探测极限不如WDS。
25.电子探针对材料的成分分析与EDXRF成分分析有何异同？（1）异：EDXRF检测的是由X射线激发产生的荧光X射线，EPMA检测的是由电子束激发产生的特征X射线。
（2）同：检测激发的荧光X射线或特征X射线的强度和波长就可以定量分析成分和含量；同样用到了WDS和EDS进行分析。
26.质谱分析的基本原理质谱分析法是通过对被测样品离子质荷比的测定来进行分析的一种分析方法。
被分析的样品首先要离子化，然后利用不同离子在电场或磁场的运动行为的不同，把离子按质荷比（m/z）分开而得到质谱，通过样品的质谱和相关信息，可以得到样品的定性定量结果。
27.质谱仪的种类（1）按照应用分类：有机质谱仪：气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）、液相色谱-质谱联用仪（LC-MS）、基质辅助激光解吸飞行时间质谱仪（MALDI-TOFMS）、傅立叶变换质谱仪（FT-MS）；无机质谱仪：火花源双聚焦质谱仪（SSMS）、感应耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）、辉光放电质谱（GDMS）、二次离子质谱仪（SIMS）；同位素质谱仪；气体分析质谱仪。